CN1367873A - 便携式产品鉴定装置 - Google Patents
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Abstract
一种用来分析产品中的关键成分和关键成分的相对数量继而使鉴定和监视产品的真实性、欺诈和质量控制成为可能的便携式产品鉴定装置和方法被揭示出来。特定的发光化合物可以被用来识别和定量分析产品中的关键成分的相对水平。这项发明包括提供光源照射试样产品的探针组件、检测从受照射的产品发出的光线的光学探测器以及通过发出的光线与标准进行比较确定试样产品的真实性或质量的控制器。待鉴定的产品的小样在现场进行检验(例如,在制造地点或分销地点),借此给出关于其真实性或质量的直接反馈。试样可以与发光化合物一起放在芯片上。芯片和少量的试样一起放在探针组件中。
Description
本发明的现有技术
这项发明处在用来鉴定试样组成的装置和方法的一般领域。
为了区分非常相似的复杂的混合物对产品进行鉴定和监视由于各种理由都是有用的。例如,为了保护品牌的完整性,应当对假冒伪劣物质(例如来自竞争者的冒牌材料或来自有执照者/特许经营者的误调配的材料)的使用进行检测。再者,为了适当的提高产品质量,低质量的物质(例如,稀释的或误调配的产品)应当便捷地被检测。
共同转让的美国专利第5,753,511号(在此通过引证将其全部内容完整地并入)揭示一种自动开发数据库的方法,以便储存信息用于产品(甚至就产品批号和每批容量而论)的“图谱”型分析。自动化分析是评价和区别竞争产品及其它(例如建立产品的可靠性或原点)的方法,甚至在狭窄的领域或产业范围内。在这方面本发明涉及利用发光化合物自动识别产品中的关键成分和/或关键成分的相对数量的方法。
511号专利中提及的用于鉴定试样的实验室装备不容易低成本地运输。因此,现场确定产品的真实性不论是在制造点还是在分销点都不现实。就伪造物质的分销或来自有执照者和/或特许经营者的误调配材料的生产而论,品牌拥有者不可能称心如意地自发地现场检验产品的真实性。
此外,加工厂(例如)在任何给定的时刻可能有为数众多的正在完成的连续处理过程。当产品正在生产时检验产品的纯度或质量(例如)可能是符合要求的。采用比较大而且价格昂贵的实验室装备,这是不可能的。因此,加工必须中断,试样产品必须送到远程站点进行检验,而且在完成试样检验之前加工不能重新开始。
本发明的概述
按照本发明的一个方面,提供一种便携式产品鉴定装置。该装包括具有软导管的底座单元和与软导管耦合的探针组件。探针组件具有用预定波长的光线照射待鉴定试样的光源。这个装置进一步包括用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线的光学探测器。控制器配置在底座单元内并且与探针组件通信以便接收试样特征并且将试样特征与图谱进行比较。在一个实施方案中,控制器定位在远离探针组件的站点上并且可以包括储存图谱的数据库。在一个实施方案中,光源是发光二极管。在另一个实施方案中,光源是可操作地接在发光二级管上的光缆。在又一个实施方案中,光缆配置在探针组件之内并且可操作地接在光学的探测器上,以便接收试样产生的发射光并且传送给给光学探测器。作为替代,光学探测器配置在探针组件之内。
在重要的实施方案中,装置包括用来可更换地接纳众多光源之一的插座。每个光源都是为了发射波长符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的。
在另一个实施方案中,该装置还可以包括用来从试样对照射波长的光线作出响应时产生的发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线的发射滤光片和/或用来滤除光源产生的波长不符合要求的光线的光源滤光片。在又一个实施方案中,探针组件适合可更换地接纳众多发射滤光片之一和/或众多光源滤光片之一。每个发射滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的,而每个光源滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据选定的光源选定的。
在另一个实施方案中,光学探测器检测试样产生的至少一种发射波长的光线的数量。作为替代,光学探测器检测试样产生的至少一种发射波长的光线的数量的超时变化。光学探测器检测真实试样的特征以便提供图谱,并且可以在一个待鉴定试样上完成众多检测任务。图谱可以包括一系列可接受的图谱。
在又一个实施方案中,探针组件进一步包括适合容纳试样的夹持器。探针组件可以包括把光源发射的光线朝试样反射的反射器。
在本发明的另一个方面中,提供用来检测被鉴定的试样的特征的探针组件。该探针组件包括手持式探针壳体和配置在所述壳体内用预定波长的光线照射试样的光源。光学探测器配置在壳体中用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线。
在一个实施方案中,光源是发光二级管。在另一个实施方案中,探针组件包括在壳体上形成的用来可更换地接纳众多发光二极管之一的发光二级管插座。每个发光二极管都是为了发射波长符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的。
在另一个实施方案中,发射滤光片配置在壳体中以便从试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线。光源滤光片可以配置在壳体中以便滤除光源产生的波长不符合要求的光线。在重要的实施方案中,探针组件包括在壳体中形成的用来可更换地接纳众多发射滤光片之一的发射滤光片插座和/或在壳体中形成的用来可更换地接纳众多光源滤光片之一的光源滤光片插座。每个发射滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据想要鉴定的试样选定的,而每个源滤光片都是为了滤除波长不符合要求的光线根据选定的光源选定的。
在又一个实施方案中,探针组件包括适合接纳试样的夹持器。探针组件可以包括把光源了发出的光线朝试样反射的反射器。
在本发明的又一个方面中,提供用来检测带鉴定试样的特征的配套器材。这种配套器材包括包括具有众多插座和至少一个用预定波长的光线照射试样的发光二级管的手持式探针壳体。每个发光二极管都适合插入所述插座之一并且是根据待发射的光线的预期波长选定的。每个预期波长都是根据想要鉴定的试样确定的。另外,可以提供用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线的光学探测器。另外,探针壳体可以包括把光源发出的光朝试样反射的反射器。在一个实施方案中,这种配套器材进一步包括至少一个从试样对照射波长的光学作出响应时产生的至少一种发射波长的光线中滤除波长不符合要求的光线的发射滤光片和/或至少一个滤除光源产生的波长不符合要求的光线的光源滤光片。每个滤光片都适合插入所述插座之一。配套器材可以进一步包括至少一种发光化合物。每种发光化合物都适合与被选定的待鉴定试样反应。
配套器材可以进一步包括适合插入探针壳体的夹持器。夹持器适合夹持发光化合物和试样。配套器材还可以配备一个手提箱。
在本发明的又一个方面中,揭示一种用便携式鉴定装置检测待鉴定试样的特征的方法。该装置具有包括用预定波长的光线照射试样的光源和用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线的光学探测器的探针组件。该方法包括下述步骤:用光学探测器检测背景光;把发光化合物添加到真实产品的试样中形成真实试样混合物;用照射波长的光线照射真实试样混合物;检测真实试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线的数量或数量的超时变化以便提供图谱;把发光化合物添加到试验产品试样中形成试验试样混合物;用照射波长的光线照射试验试样混合物;检测试验试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线的数量或数量的超时变化,以便提供试验试样的特征,将试验试样的特征与图谱进行比较,以确定该试验试样的真伪。
在重要的实施方案中,用于真实试样混合物和试验试样混合物两者的照射步骤和检测步骤发生在非常接近时空中。在另一个实施方案中,当试验试样不真实时,该方法进一步包括与远程计算机通信并且读取储存的图谱,以便确定该试验试样的身份。
在另一个实施方案中,真实试样混合物产生的光线的数量和数量的超时变化可能都被检测。
在另一个实施方案中,该方法进一步包括与具有众多图谱的数据库的控制器通信的步骤。通信发生在根据比较确定该试验试样不真实之后,而且该通信步骤包括将试验试样的特征与图谱数据库进行比较的步骤。
在另一个实施方案中,众多检测是在真实试样和试验试样之一上完成的。
按照本发明的另一个方面,提供一种芯片。芯片是基材,而且众多不同的发光化合物附着在基材表面上。这些化合物是以某种方式附着的,凭借这种附着方式它们能够与其相互作用伙伴相互作用,这种相互作用将使来自发光化合物的光辐射相对没有这种相互作用时来自该发光化合物的光辐射发生变化。每种不同的发光化合物附着在独立于所有其它不同的发光化合物的附着位置上。不论是否有相互作用存在,基材都不干扰来自发光化合物的光辐射。
在一个实施方案中,众多化合物选自三种不同的发光化合物、四种不同的发光化合物、五种不同的发光化合物、六种不同的发光化合物、七种不同的发光化合物、八种不同的发光化合物和九种不同的发光化合物。在一个实施方案中,发光化合物是染料。芯片可以定义众多微围墙。每种不同的发光化合物独立的附着位置可以被限制在一个微围墙或几个微围墙范围内。在优选的实施方案中,芯片具有用来确定每种发光化合物在芯片上的位置和/或用来识别哪些不同的发光化合物在芯片上的一个或多个标记。发光化合物可以通过共价键或非共价键附着在芯片上。
在重要的实施方案中,芯片中不同的发光化合物是预先选定的而且处于预先选定的浓度,以便在该表面与以已知的标准为特征的已知的标准物接触时与已知的标准物相互作用并且形成预先选定的光辐射图。在这个实例中,芯片上的标记可以把芯片标识成已知标准的专用芯片。
按照本发明的另一个方面,提供一种用来确定试样与标准的相关关系的方法。这种方法包括提供包含被施于上述的任何芯片的表面的试样的试样混合物。然后,用众多照射波长的光线照射该试样混合物。为了建立试样发射分布型,监视至少一种发射波长的光线,但更典型的是监视众多这样的波长。标准混合物的标准图谱特征被提供,该标准化合物包括施于芯片表面的标准物,而标准图谱是这样产生的,即用照射波长照射标准化合物并且监视对此作出响应的至少一种发射波长。然后,将试样发射分布型与标准图谱进行比较,以确定试样对标准物的相关关系。试样可以作为微斑点施于芯片表面。在重要的实施方案中,芯片包括其中包含发光化合物的微围墙,而试样可以作为微斑点施于芯片表面。在这个实施方案中,微滴可以给被允许在芯片表面上展开以占据一些微围墙,优选以某种方式展开,凭借这种方式试样一旦被展开就被包含在离散的微围墙中而且没有搭接。在这个实施方案中,表面可润湿的微芯片是特别符合要求的。
按照本发明的其它方面,提供配套器材。配套器材是一个包含众多离散基材的包,每种基材包含或具有附着其上的完全相同的一套3-9种发光化合物。这套发光化合物是为了在有相互作用存在的情况下用至少一种波长的光线照射时与已知的标准物相互作用并且产生预先选定的光辐射图而选定的。这个包还包括指出在打算确定试样与标准物的相关关系时哪些基材适合与已知的标准物或试样一起使用的指令。基材可以为了与本发明的便携式产品鉴定装置一起试样而构成和安排。
在本发明的另一个方面中,提供用来检测待鉴定试样的特征的探针组件。该探针组件包括手持式探针壳体、配置在壳体中用来以预定波长的光线照射试样的光源以及配置在壳体中并且与至少一个光学探测器通信的众多光缆。光缆适合并且被安排接收从置于芯片上的相应的试样发出的光线。
本发明的各种实施方案提供某些优点并且克服了传统技术的某些缺点。并非本发明所有的实施方案都共同拥有同样的优点和那些不可能在任何情况下都共同拥有的优点。这就是说本发明提供为数众多的优点,其中包括著名的现场检验的优点。
本发明的进一步的特征和优点以及本发明的各种实施方案的结构和操作下面将参照附图予以详细地阐述。
附图简要说明
图1是依据本发明的便携式产品鉴定装置的一个实施方案的图形表达;
图2是沿着图1的2-2线剖开的探针组件剖面图;
图3是沿着图1的3-3线剖开的控制器的剖面图;
图4是便携式产品鉴定装置的另一个实施方案的图形表达;
图5是便携式产品鉴定装置的又一个实施方案的图形表达;
图6是沿着图5的6-6线剖开的探针组件的剖面图;
图7是便携式产品鉴定装置的另一个实施方案的图形表达;
图8是依据本发明用来检测产品的真实性的配套器材的图形表达;
图9是依据本发明上面有发光化合物的芯片的图形表达;
图10是依据本发明的探针组件的又一个实施方案的图形表达。
本发明的详细叙述
本发明的特色是便携式产品鉴定装置和用来分析产品中的关键成分和关键成分的相对数量的方法,这种装置和方法本身又使鉴定和监视产品的真实性、欺诈和质量控制成为可能。特定的发光化合物可以被用来识别和定量分析产品中的关键成分的相对水平。本发明包括提供光源照射试样产品的探针组件、检测来自受照射产品的发射光线的光学探测器和通过把发射光线与标准进行比较确定试样产品的真伪或质量的控制器。待鉴定的产品小样被现场检验(例如,在制造点或分销点),借此给出关于其真实性或质量的直接反馈。人们应当领会词汇“真实”或其任何派生词汇意味着识别结果表明它是真的或没有掺假,并且在这层意义上还可以意味着落在某个可接受的质量范围内。
发光化合物被包括在对用不同波长的光线照射作出响应的光辐射中。有意义的光辐射可能是磷光、化学发光或更优选的荧光的结果。具体地说,在本文中使用的词汇“发光化合物”意味着化合物具有下述的一种或多种性质:1)它们是荧光的、磷光的或者发光的;2)与试样或标准物的成分反应或相互作用得到至少一种荧光、磷光或发光的化合物;或者3)与试样、标准物或两者中的至少一种荧光、磷光或发光的化合物反应或相互作用改变在该发射波长的发射。“图谱”指的是在与标准(例如真实)的产品相结合时来自一种或多种发光化合物的光辐射强度和/或强度衰减。因此,每种产品都可以有特定的图谱。“图谱发射分布型”是产品的液体试样在与一系列(分布型)的不同的发光化合物相结合时的图谱的汇编。
词汇“试样特征”指的是在与试样产品相结合时来自一种或多种发光化合物的光辐射强度和/或强度衰减。
在本文中使用的词汇“关键成分”意味着包括在产品的组成中在识别特定的产品时起重要作用的成分。
如在本文中使用的词汇“示踪化合物”意味着在产品中以低浓度存在又与某种(举例说)关键成分相关的化合物。示踪化合物可以在关键成分的源头或在产品制造期间被引入。
在一个实施方案中,如图1所示,便携式产品鉴定装置是被可操作地接在手持式探针上的桌面设备。装置20包括具有底面23的底座单元22,并且可以包括手柄25以便于搬运。底座单元22借助软导管26与手持式探针组件24耦合。软导管考虑到探针组件24的操作简便和铰接到任何想要的定向。底座单元22包括显示器27和至少一个,优选四个控制开关28a-28d。给装置20的电力可以通过适当的动力线30提供,或者以另一种方式,可以用电池(例如充电电池)供电。另外,为了有选择地允许或禁止使用该装置可以提供锁定装置。在此介绍的实例中,锁定装置包括钥匙锁开关32。作为替代,可以使用口令。在这个实例中,口令可以按预定的顺序切换开关28a-28d。用来容纳待检验的试样的试样夹持器29(即比色杯)可以插入探针组件。
手持式探针组件24(用图2的剖面图最好地展示)直接与待鉴定的试样相互作用。在这个实施方案中,探针组件24包括探针壳体40,该壳体可以是一体的壳体,也可以是用众多离散的壳体零件形成的。探针壳体包括配置在其中的光源。在优选的实施方案中,光源包括发光二级管42,该发光二极管可以是也可以不是红外发光二级管。不论在哪一种情况下,选定的发光二级管都是与发光化合物激发波长相匹配的。发光二极管的引线44通过导管接到底座单元22上,以便接收用于激发的电力。探针组件进一步包括光源滤光片46(例如,带通滤光片或截止滤光片),以便孤立来自发光二级管的光线波长。透镜48(例如,焦距10mm、直径10的对称的凸透镜)把发光二级管发出的光线聚焦到直角棱镜50上。在一个特定的实施方案中,直角棱镜是8mm×8mm×8mm的棱镜。
探针组件24进一步包括可以类似于第一透镜48的第二透镜52,以便把光线聚焦到光学探测器(在图2中未示出)上。发射滤光片54(例如,带通滤光片或截止滤光片)被用来孤立由于来自的光辐射来自发射光谱的激发波长。滤光片54靠近透镜52定位,但是只要使某些不符合要求的激发波长与光学探测器隔离,滤光片可以放在任何位置。光缆56配置在探针组件24和导管26范围内,以便可操作地与底座单元22内的光学探测器连接。探针壳体24进一步包括凹面镜反射器57,以便使光线指向试样。在这个特定的实施方案中,反射器是直径9mm的镀铝的凹面镜。探针组件可以按适当的尺寸制造使之适合直接插入待检验的试样。口58是在探针组件中形成的,以便允许来自发光二极管的光线照射试样,而口59也是在探针组件中形成的,以便允许检测由试样发出的光线。在优选的实施方案中,探针组件24可以包括适合接纳夹持器29(在图2中未示出)的孔61。
现在翻到图3,这是沿着图1的3-3线剖开的底座单元22的剖面表示,底座单元22包括可操作地与光缆56耦合的光学探测器60。光学探测器60本身又与适当的电子电路板62耦合,该电路板接收来光学探测器60的电信号。
在一个实施方案中,电路板可以包括控制器63(例如TriangleDigital Services,LTD,London,England制造的TDS 2020数据自动记录仪3)和用于与定位在遥远的位置上的数据库通信的调制解调器64。作为替代,电路板可以包括存储器器件,例如储存图谱数据的只读存储器芯片66,或者可以与CD-ROM通信,例如储存图谱数据的CD-ROM。虽然在此展示和介绍的探针组件被可操作地接在底座单元22上,但是所有对于检验试样的真实性必不可少的零部件都可以被直接包括在底座单元22之内。在这样的实施方案中,底座单元22包括光源、适当的透镜和滤光片以及光学探测器。孔也可以在底座单元中形成,以便接纳待检验的试样。
在操作中,钥匙锁开关被打开以便给装置20上电。开关28a被激活,它使发光二级管42被激发并且发射光线,该光线最终被光学探测器60接收。然后,装置20计算在探针组件24周围的背景光的数量。
利用美国专利第5,753,511号中介绍的技术制作试样混合物,其中发光化合物与试样混合成试样混合物。一般地说,产品的试样和发光化合物混合。让发光化合物和产品中的关键成分在适当的温度下反应一段时间,其中反应温度和反应时间对于每种产品和发光化合物来说是特定的,例如,直到来自混合物的光辐射不再随着时间变化为止。然后,用发光二级管发出的照射波长的光线照射试样。具体地说,该光线利用光源滤光片滤光之后获得波长符合要求的光线,然后通过透镜聚焦。然后,光线通过棱镜反射和折射最终聚焦到试样混合物上。然后,受照射的试样发射根据从发光二极管发出的光线的波长以及在该混合物中所用的化合物和关键成分预先确定的波长的光线。由于产品中存在关键成分引起的光辐射的变化可以通过公式[(Fd-Fp)/Fd]×100确定,其中发光化合物在不存在产品时的光辐射是Fp,在使发光化合物暴露在产品中之后光辐射是Fd。光辐射由于发光化合物与产品中的关键成分相互作用而发生变化。然后,发射滤光片将试样发射的波长不符合要求的光线滤除。然后,将光线引导到光缆中,再由光缆把光传送到底座单元中的光学探测器。然后,光学探测器产生表示从试样发出的光的波长的电平,并且把该信号转换成试样特征。然后,将该试样特征与标准物的图谱进行比较,以确定试样的真实性。这可以通过直接把标准图谱数据储存在底座单元的存储器内来完成。
在装置的另一个说明性的操作范例中,完成了现场确定真实试样混合物的图谱。同样的或类似的发光化合物被添加到真实试样中形成真实试样混合物。以与照射试验试样混合物相同的方式照射这个真实试样混合物。然后,用光学探测器检测真实试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线,以便提供图谱。
按照本发明,装置20是对背景光、温度和其它条件是自动校准的。此外,该装置可以补偿诸如发光二级管、电子电路或光学探测器之类元器件的退化。业已发现,发光化合物可以在两种不同的波长下发光。人们还发现当波长的值可能由于上述因素发生变化时,两种波长之间的比率仍然保持相对恒定。因此,在现场测量期间,可以使用这个比率,而不是使用实际值来确定涉嫌试样是否真实。因此,任何由于现场数据与储存数据比较带来的易变性都被消除。如果使用发射波长的实际值,那么有可能产生错误的决定,因为现场的试样特征或许不同于图谱,但是该试样又确实可能是真实的。如上所述,如果试样被证明是非真实的,那么利用这个比率通过扫描与主计算机通信的数据库可以确定试样的身份。
人们应当意识到试样混合物所产生的光线的数量是被检测的。但是,按照本发明,被发射的光线在数量上的超时变化可以被用来提供试样特征。作为替代,数量和数量的变化两者都用来提供试样的特征。
在装置的另一个操作实施方案中,检测真实试样混合物和试验试样混合物发生在非常接近的时空里。这为消除在不同的时间或不同的地点对试样进行检验时可能发生的许多变化提供基础。这只有在使用便携式鉴定装置的情况下才能实现。
人们还应当意识到采样率可能这样变化,以致众多试样读数出自某个典型试样。在优选的实施方案中,取大约10,000读数。因此,在提供试样特征方面获得非常高的置信度。再者,人们应当意识到图谱对于给定的产品可以包括一个一可接受的图谱范围。因此,可以提供质量保证。
现在翻到图4,这是本发明的替代实施方案,底座单元22通过象调制解调器64那样的东西经数据电缆72与主计算机70通信。
当然,熟悉这项技术的人鉴于这种揭示将考虑到可以使用其它的通信链路,例如直接的数据链路、卫星传输、同轴电缆传输、光纤传输或者移动通信或数字通信。通信链路可以是直接线路或通过互联网。主计算机70还与储存众多图谱的数据库74通信。在这个实施方案中,当试验试样被确定为不真实时,底座单元22与主机70通信,以便确定已被检验的试样的身份。换言之,假定被鉴定的试样在与图谱进行比较时被判定是不真实的,那么底座单元22将与主计算机通信,以便根据众多储存的图谱识别试样的特征。储存在数据库中的图谱可以类似于也可以不类似于现场检验的真实试样的图谱。
给现在翻到图5,它展示本发明的替代实施方案。在这个实例中,底座单元是手提电脑80或类似的设备,例如台式电脑或工作站。探针组件24’直接与手提电脑80耦合。在这个实例中,电脑80接收来自探针组件24’的电信号以及把电信号传送给探针组件24’,并且可以根据需要与主计算机70通信,也可以不与主计算机通信。前面参照图1讨论的每种功能都可以编成程序输入电脑80,以致键盘、鼠标或其它输入设备都可以被用来控制探针组件。
正象在作为探针组件24’剖面图的图6中最清楚地展示的那样,探针组件24’包括配置在其中用来把试样发出的光转换成电信号的光学探测器。然后,电信号通过适当的电缆84输送到手提电脑80。因此,与其说有独立的底座单元,不如说检验受手提电脑80控制。此外,如上所述,手提电脑可以包括它自己的数据库,以便确定被检验的试样究竟是不是真实的,或者作为替代,可以借助调制解调器与主计算机70通信,以便扫描图谱数据库。
继续参照图6,探针组件包括前面介绍过要素,具体地说包括发光二级管、光源滤光片,第一透镜、棱镜、反射器、第二透镜和发射滤光片。在这个特定的实例中,光缆56被包含在探针组件内并且把来自发射滤光片的光线输送给光学探测器82。但是,光学探测器82在需要时可以直接放在靠近发射滤光片54的位置。再者,在这个实例中,如图5和图6所示,探针组件适合容纳放置试样混合物的比色杯86(见图5)。比色杯通常是具有空心容器截面的石英材料。
探针组件24’包括壳体89,该壳体可以包括适合可更换地接纳众多发光二级管之一的插座90。同样,该探针组件可以包括适合可更换地分别接纳众多光源滤光片之一和众多发射滤光片之一的其它插座92、94。人们应当意识到发光二极管必须发出与被添加到试样中的发光化合物相对应的波长的光线。因此,所需要的发光二极管的类型取决于被选定与试样一起使用的发光化合物。同样,滤光片(光源滤光片和发射滤光片)必须对应于专门选定的发光二极管。
因此,在图8所示的本发明的一个特定的实施方案中,提供了用来检测试样的真实性和/或质量的配套器材108。配套器材可以被装在有探针壳体89的适当的手提箱110中,以致情况110中象众多发光二极管112分别与相应的光源滤光片114和发射滤光片116一起提供。再者,发光化合物118的选择也可以被提供。卡片、数据库、电子数据表、指令或其它的信息来源120可以提供,从而指出作为受检试样的函数相对应的发光二极管、滤光片和发光化合物。
虽然发光二极管、光源滤光片和发射滤光片是可更换地插入探针组件,但是应当意识到可以提供具有离散的元器件(发光二级管、光源滤光片、发射滤光片)的完整的探针组件。因此,可以提供具有发光二级管、光源滤光片和发射滤光片的不同组合的众多不同的探针组件。
参照图6讨论的探针组件也可以用来在不利用比色杯之类的夹持器的情况下直接检测真实试样的存在或试样的质量。在这种情况下,探针组件的尖端可以直接放进试样混合物。此外,在连续处理时,材料流可以通过探针组件上的孔流动,以致在生产过程发生的同时可以进行鉴定或提供质量保证。但是,在这个实例中,发光化合物必须在探针组件的上游添加,并且应当在比较小批处理中进行,以致经受检验的试样不被分销。
人们应当进一步意识到被检验的试样可以是液体也可以干燥的粉末材料。
在图7所示的又一个实施方案中,底座单元是手持式微处理器设备100(例如,PALM PILOT或其它的数据记录仪),它接收来自指出试样特征的光学探测器的信号。探针组件24’直接与PALM PILOT通信,而PALM PILOT本身又可以借助任何适当的手段(例如调制解调器或访问互联网)与主计算机70和数据库72通信。正象前面参照图5讨论的那样,每种输入或控制功能都可以编成程序输入PALM PILOT,以致键盘、“光笔”或其它输入设备都可以用来控制探针组件。与其用探针组件在夹持器中提供用于检测的试样混合物,不如在芯片上可以形成发光化合物(即染料)和把待鉴定的试样放到芯片上。芯片和少量试样一起被放进探针组件。按照本发明有用的芯片可以在本发明的装置中使用,也可以在固定的非便携式装置中使用。芯片具有小巧、只需要一点点发光化合物和只需要一点点待测试样(例如,一微滴)的优点。芯片还可以用来按预先选定的阵列以预先选定的浓度储存预先选定的染料。芯片还使依据本发明使用的这些染料的运输变得非常容易。
在参照图9介绍的实施方案中,每个芯片200本质上都是尺寸非常小的扁平的制品,优选小于1厘米、小于5毫米、甚至小于1毫米。芯片是由基材210形成的,该基材实际上可以是任何材料,只要该材料不干扰改变发光化合物与被测量的标准物或试样之间的相互作用的光辐射。有用的材料实例是聚碳酸酯、硅氧烷二极管、金属、delron塑料、聚苯乙烯和聚乙烯。发光化合物212可以通过任何物理和/或化学手段(包括共价键和非共价键)附着到芯片上。例如,染料可以溶解在溶剂中,然后以预先选定的浓度施于芯片表面。溶剂蒸发掉之后,留下染料通过非共价键附着在芯片表面。溶剂可以具有蚀刻芯片表面的能力。在另一个实施方案中,染料可以通过共价键附着到芯片的表面上。一些发光化合物具有在适当的条件之下与芯片表面上的基团反应的基团,其中芯片表明上的基团可以是芯片本身的活性基团,或可以是附着在芯片表面上的键合剂分子。系在材料表面上的均双官能团和杂双官能团的键合剂对于熟悉这项技术的人是已知的。正象在下面的实例中介绍的那样,酯键可以被用来使染料附着到芯片上。特别优选的是使用远离染料与标准物相互作用的部分的染料的活性基团,借此染料通过共价键附着到芯片之后仍然自由地与标准物或试样发生适当的相互作用。在特别优选的实施方案中,芯片有微围墙214。某些市场上买得到的预先加工过的材料备有这样的微围墙。这样,特定的染料可以被局限在特定的微围墙之内。芯片还可以备有该芯片特有的点刻标记216,凭借这个标记可以识别芯片携带的特定的染料以及参照这些标记使染料在芯片上被定位与某个特定的位置。因此,在优选实施方案中,芯片具有的染料在3至9种之间,每种不同的染料被定位、集中和通过共价键附着在芯片表面的一个微围墙范围之内。染料优选荧光最强的,例如荧光素或Bodipy。染料可以具有预先选定的浓度,以便允许鉴定预先选定的材料。
图8所示的配套器材108还可以包括众多离散的基材220,每种基材包含或具有附着其上视为同一的一套3-9种发光化合物。这套发光化合物是为了在有一种相互作用存在的情况下用至少一种波长的光线照射时与已知的标准物相互作用并且形成预先选定的光辐射图而选定的。指令120指出在打算确定试样与已知的标准物的相关关系时哪种基材适合与已知的标准物或试样一起使用。
为了准备微芯片,硼硅玻璃片首先用酸清洗,再用二次蒸馏水淋洗(3次),然后用3-aminopropyl-l-trethoxysilane(Sigma,StLouis,Mo.)硅烷化,最后在25至80℃下加热3至5小时。就使发光化合物附着的交叉反应而言有机硅烷提供胺官能团。胺在芯片上的密度应当是10 pmol/cm2。
为了把发光化合物放到微芯片上,按下述程序使用6-羧基荧光素琥珀酰亚胺酯10毫克(来自Molecular Probes,Eugene,OR)。硼硅玻璃片用缓冲液(0.1 M碳酸氢钠,pH8.3-9.0)进行预处理。把6-羧基荧光素用DMSO(二甲基亚砜)制成10 mg/ml的稀释液。100μl被放到硼硅玻璃片上并且任其在4℃下反应1至3小时。这个反应应该在水饱和的环境中进行。反应可以通过添加100μl 1.5M的羟胺(pH8.5)被停止。然后用500μl蒸馏水洗涤,优选洗涤3次,以便除去未反应的发光化合物。
然后,把1滴即500ul产品滴到微芯片上。在芯片上的产品干燥之前把该芯片放进探针组件并且立即读数。
正象在图10的实施方案中展示的那样,探针组件24”可以包括众多光缆230。芯片200插在孔61中。光缆被安排接收相应的试样从相应的微围墙中发出的光线。实例1:检测真实的Guinness啤酒
在这个实例中,产品是Guinness、Beamish和Murphy的烈性黑麦酒。产品用水稀释到1/20。利用美国专利第5,753,511号中介绍的用于产品鉴定的自动化系统,识别发光化合物的组合。就Guinness而言,鉴定发光化合物33(在二甲基亚砜(DMSO)中的10 mM原料)与发光化合物17(在DMSO中原料浓度是10 mM)混合。工作浓度是30微升发光化合物33和10微升发光化合物17被放到10毫升水中。然后,把340微升工作浓度的发光化合物添加到3,000微升稀释产品中。
发光二级管波长和滤光片被简单地置于探针组件中,以便使激发和发射最大值与产品/发光化合物的混合物相匹配。正象前面讨论的那样,其它产品将需要与每种产品相匹配的发光二极管和滤光片。就这个实例而言,激发最大值是490纳米,而发射最大值是530纳米。
然后,该装置对环境背景光进行校准(在参照图1介绍的实例中按压开关28a,而在参照图5和图7介绍的实例中按压其它适当的键)。光学探测器仅仅读出被检测的杂散光的量。
真实试样加发光化合物(500微升)被放到试样夹持器中。真实试样的最初读数是在即将进行检验的确切位置上进行的。这将减少与不同的温度、光线和发光化合物浓度相关的不精确性。在参照图1介绍的实例中,这次读数是通过按开关28b进行的。此刻,光学探测器正在读来自试样/发光化合物的混合物的荧光的量。
涉嫌试样加发光化合物(500微升)被放在洁净的或不同的试样夹持器中。读数是以与真实试样完全相同的方式进行的。在参照图1介绍的实例中,这次读数是通过按压开关28c进行的。此刻,光学探测器正在读来自试样/发光化合物的混合物的荧光的量。
然后,将涉嫌试样的荧光读数与真实试样的荧光读数进行比较。利用下述算法确定真实性:
范围C=[F1+%F1ni至F1-%F1ax]±Ω
其中:
范围C是在试验位置用于真实产品的滤光片的宽度,考虑到真实生产的变化加或减Ω(在99%置信水平下的统计测量结果);
+%F1ni=就真实试样的标准生产而言确定的最高的荧光值;以及
-%F1ax=就真实试样的标准生产而言确定的最低的荧光值。
如果涉嫌试样在范围C之外,那么该试样被确定为不真实。在图1的实例中按压开关28d进行这个范围C的计算并且把涉嫌试样与这个范围进行比较。
便携式鉴定装置的读数:试样 序列号 读数Guinness,Dublin 21D8 G4 17:17 145RFUBeamish,Stout Cork 283820 13:10 118RFUMurphy’Stout Cork L8124C826 23:31 165RFU
范围C就Guinness而言是±2.00
RFU=相对的荧光单位实例2:检测真实的可口可乐
就大型软饮料公司而言,重要的是证实用来制作他们的制成品的是真实的浓缩物。在这个实例中,产品是可口可乐和RC可乐。产品用水稀释到1/20。利用美国专利第5,753,511号中介绍的用于产品鉴定的自动化系统,识别发光化合物的组合。就可口可乐的鉴定而言,发光化合物33(在二甲基亚砜(DMSO)中的10mM原料)。工作浓度是40微升发光化合物33放在10毫升水中。然后,把300微升工作浓度的发光化合物添加到3,000微升稀释产品中。就这个实例而言,激发最大值是490纳米,而发射最大值是530纳米。
然后,完全象前面在实例1中介绍的那样,校准装置,读真实试样混合物的读数、读涉嫌试样混合物的读数。
便携式鉴定装置的读数:试样 序列号 读数可口可乐,Classic Jun1499KHB50710O 29RFU
ctl57RC可乐 Worcester,MA. 55RFU可口可乐,Namibia Namibia 69RFURC可乐 Middle East 76RFU可口可乐,Lahore Middle East 56RFU实例3:药物的鉴定
就制药公司而言,检测侵犯专利权的化合物可能是合乎需要的。此外,专利制药公司的劣质复制品严重损害健康。一种情况是化合物的比较高(200mg剂量)的剂量被分割或者被稀释。然后,把稀释后的胶囊当作两个或多个胶囊出售。
下列议定书已经按照本发明被制定出来,以便在顾客检查站和制造现场直接对进入市场的化合物进行检验。
非甾族消炎化合物是按两种浓度配制的,100mg和200mg的两种胶囊。胶囊首先用水稀释(2.5克用50毫升水稀释),然后用便携式注射器滤膜即0.45微米滤膜过滤。在这个实例中,把丁醇添加到溶液中以防止产品发泡(19毫升试样对1毫升丁醇)。
利用美国专利第5,753,511号中介绍的用于产品鉴定的自动化系统,识别一种发光化合物和发光化合物的组合。在这个实例中,发光化合物16是在28微升/10毫升水的稀释条件下使用的。发光化合物16相当于cat#D2375(Molecular Probes,Eugene,OR.)。发光化合物63是在50微升/10毫升水的稀释条件下使用的。发光化合物63相当于cat#F3272(Sigma Chemical,St.Louis,Mo.)。
200mg试样作为真实试样被检验,而100mg试样作为涉嫌试样被检验。
便携式鉴定装置的读数:试样 化合物63 化合物161.200mg试样批号1 20.47 RFU 33.28 RFU2.200mg试样批号2 20.86 RFU 32.69 RFU3.200mg试样批号3 19.93 RFU 32.21 RFU4.100mg试样批号4 14.27 RFU 29.00 RFU5.100mg试样批号5 17.98 RFU 30.56 RFU6.600mg试样批号6 16.73 RFU 30.38 RFUΩ值 1.78 1.66
尽管已经详细地介绍了实现本发明的最佳模式,但是熟悉本发明所涉及的技术的人应当承认各种各样的替代实施方案包括前面介绍的那些内容,并且落在权利要求书定义的范围内。
Claims (68)
1.一种便携式产品鉴定装置,其中包括:
底座单元;
探针组件,所述的探针组件与所述的底座单元耦合并且具有用来照射待鉴定的试样的光源,该光源的光线波长是预定的;
光学探测器,它检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种波长将提供试样特征的发射光;以及
控制器,所述的控制器配置在所述的底座单元内并且与所述的探针组件通信,以便接收所述的试样特征并且将所述的试样特征与图谱进行比较。
2.根据权利要求1的装置,其中所述的光源是可操作地连接到发光二极管上的光缆。
3.根据权利要求1的装置,其中所述的光源是发光二极管。
4.根据权利要求1的装置,其中所述的光学探测器配置在所述的探针组件内。
5.根据权利要求1的装置,其中光缆配置在所述的探针组件内并且被可操作地连接到所述的光学探测器上以便接收试样产生的发射光并且传送给所述的光学探测器。
6.根据权利要求1的装置,进一步包括一个插座,该插座适合可更换地容纳众多光源之一,其中每个所述的光源都是为了发射想要的光线根据想要鉴定的试样选定的。
7.根据权利要求1的装置,其中所述的探针组件包括一个发射滤光片,以便从试样对照射波长的光线作出响应时产生的所述的至少一种波长的发射光中滤除不想要的波长的光线。
8.根据权利要求7的装置,其中所述的探针组件适合可更换地容纳众多发射滤光片之一,其中每个发射滤光片都是为了滤除不想要的波长的光线根据想要鉴定的试样选定的。
9.根据权利要求1的装置,其中所述的探针组件包括光源滤光片,以便滤除所述的光源产生的不想要的波长的光线。
10.根据权利要求9的装置,进一步包括一个插座,该插座适合可更换地容纳众多光源滤光片之一,其中每个所述的光源滤光片都是为了滤除不想要的波长的光线根据选定的光源选定的。
11.根据权利要求1的装置,其中所述的光学探测器检测由试样产生的所述的至少一种波长的发射光的数量。
12.根据权利要求1的装置,其中所述的光学探测器检测由试样产生的所述的至少一种波长的发射光的数量的超时变化。
13.根据权利要求1的装置,其中所述的控制器被定位在远离所述的探针组件的站点。
14.根据权利要求1的装置,其中所述的控制器包括储存图谱的数据库。
15.根据权利要求1的装置,其中所述的光学探测器检测提供所述图谱的真实样品的特征。
16.根据权利要求1的装置,其中所述的光学探测器在一个待鉴定的试样上完成许多检测任务。
17.根据权利要求1的装置,进一步包括适合接纳所述试样的夹持器。
18.根据权利要求1的装置,其中所述的探针组件包括把所述光源发射的光线朝所述试样反射的反射器。
19.根据权利要求1的装置,其中所述的图谱包括可接受的图谱范围。
20.一种用来检测待鉴定的试样的特征的手持式探针组件,其中所述的探针组件包括:
探针壳体;
光源,该光源配置在所述的探针壳体中以预定波长的光线照射试样;以及
光学探测器,该光学探测器配置在所述的探针壳体内用来检测试样在对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的波长的发射光。
21.根据权利要求19的探针组件,其中所述的光源是发光二极管。
22.根据权利要求20的探针组件,进一步包括在所述的壳体中形成的用来可更换地接纳众多发光二极管之一的插座,其中每个所述的发光二级管都是为了发射想要的波长的光线根据想要鉴定的试样选定的。
23.根据权利要求20的探针组件,进一步包括发射滤光片,该滤光片配置在所述的壳体内用来从试样在对照射波长的光线作出响应时产生的所述的至少一种发射波长的光线中滤除不想要的波长的光线。
24.根据权利要求23的探针组件,进一步包括在所述的壳体中形成用来可更换地接纳众多发射滤光片之一的发射滤光片插座,其中每个发射滤光片都是为了滤除不想要的波长的光线根据想要鉴定的试样选定的。
25.根据权利要求20的探针组件,进一步包括配置在所述的壳体内用来滤除所述光源产生的不想要的波长的光线的光源滤光片。
26.根据权利要求25的探针组件,进一步包括在所述的壳体中形成的用来可更换地接纳众多光源滤光片之一的光源滤光片插座,其中每个光源滤光片都是为了滤除不想要的波长的光线根据选定的光源选定的。
27.根据权利要求20的探针组件,其中所述的探针壳体包括适合接纳夹持所述试样的夹持器的插座。
28.根据权利要求20的探针组件,进一步包括配置在所述的壳体中用来把所述光源发射的光线朝所述试样反射的反射器。
29.一种用来检测待鉴定试样的特征的配套器材,其中包括:
具有至少一个插座的探针壳体;以及
至少一个用来以预定波长的光线照射试样的发光二极管,每个发光二极管都适合插入所述的至少一个插座。
30.根据权利要求29的配套器材,进一步包括用来滤除所述的发光二级管产生的不想要的波长的光线的光源滤光片,所述的至少一个插座具有众多插座,每个光源滤光片都适合插入所述插座之一。
31.根据权利要求29的配套器材,进一步包括用来从试样在对照射波长的光线作出响应时产生的所述的至少一种发射波长的光线中滤除不想要的波长的光线的至少一个发射滤光片,所述的至少一个插座具有众多插座,每个发射滤光片都适合插入所述插座之一。
32.根据权利要求29的配套器材,进一步包括至少一种发光化合物,每种发光化合物都适合与选定的待鉴定试样反应。
33.根据权利要求29的配套器材,进一步包括适合插入所述探针壳体的夹持器,每个所述的夹持器都适合夹持所述的发光化合物和所述的试样。
34.根据权利要求29的配套器材,其中所述的至少一个发光二极管之一是根据想要它发射的光线波长选定的,而所述的想要它发射的波长是根据想要鉴定的试样确定的。
35.根据权利要求29的配套器材,其中所述的探针壳体包括用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线的光学探测器。
36.根据权利要求29的配套器材,其中所述的探针壳体包括用来把所述光源发射的光线朝所述试样反射的反射器。
37.根据权利要求29的配套器材,进一步包括手提箱。
38.一种使用便携式鉴定装置检测待鉴定的试样的特征的方法,所述装置具有探针组件,该探针组件具有以预定波长的光线照射待鉴定试样的光源;以及用来检测试样在对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种发射波长的光线的光学探测器,其中所述方法包括下述步骤:
用所述的光学探测器检测背景光;
把发光化合物添加到真实产品的试样中形成真实试样混合物;
用照射波长的光线照射真实试样混合物;
检测真实试样混合物对照射波长的光线作出响应时所产生的光线的特征以便提供图谱;
把发光化合物添加到试验产品的试样中以形成试样混合物;
用照射波长的光线照射试验试样混合物;
检测该试验试样混合物对照射波长的光线作出响应时产生的光线的特征,以便提供试验试样特征;以及
把所述的试验试样的特征与所述的图谱进行比较以便确定该试验试样是否是真实的。
39.根据权利要求38的方法,其中对所述的真实试样混合物和所述的试验试样混合物两者进行的所述的照射步骤和所述的检测步骤发生在非常接近的时空间隔里。
40.根据权利要求38的方法,其中进一步包括当所述的试验试样不真实的时候与远程计算机通信并且读出储存的特征以确定试验试样的身份的步骤。
41.根据权利要求38的方法,其中所述的用来提供图谱的检测步骤包括检测真实试样混合物产生的至少一种光线的数量和数量超时变化的步骤。
42.根据权利要求38的方法,其中所述的用来提供试验试样特征的检测步骤包括检测试验试样混合物产生的至少一种光线的数量和数量超时变化的步骤。
43.根据权利要求38的方法,其中所述的比较步骤进一步包括与具有众多图谱的数据库的控制器通信的步骤。
44.根据权利要求40的方法,其中所述的通信步骤发生在根据所述的比较确定试验试样不真实之后,并且所述通信步骤包括包括将所述试验试样的特征与所述的图谱数据库进行比较的步骤。
45.根据权利要求38的方法,其中进一步包括在一个所述的真实试样和所述的试验试样上完成多种检测的步骤。
46.一种芯片,该芯片包括:
基材,以及
以某种方式附着在基材表面上的众多种不同的发光化合物,凭借这种附着方式发光化合物与相互作用伙伴相互作用,这种相互作用将使来自发光化合物的光辐射区别于没有所述的相互作用时来自发光化合物的光辐射,
其中每种不同的发光化合物都附着在独立于所有其它不同的发光化合物的附着位置上,以及
其中基材在有所述的相互作用和没有所述的相互作用时都不与来自发光化合物的光辐射相互作用。
47.根据权利要求46的芯片,其中众多种不同的发光化合物选自三种不同的发光化合物、四种不同的发光化合物、五种不同的发光化合物、六种不同的发光化合物、七种不同的发光化合物、八种不同的发光化合物和九种不同的发光化合物。
48.根据权利要求47的芯片,其中发光化合物是染料。
49.根据权利要求47的芯片,其中该芯片定义众多微围墙,而且每种不同的发光化合物独立的附着位置在某个微围墙之内。
50.根据权利要求47的芯片,其中进一步包括在芯片上用来确定每种不同的发光化合物在芯片上的位置的一个或多个标记。
51.根据权利要求49的芯片,其中进一步包括在芯片上用来确定每种不同的发光化合物的芯片位置的一个或多个标记。
52.根据权利要求47的芯片,其中进一步包括在芯片上用来识别哪些不同的发光化合物在该芯片上的一个或多个标记。
53.根据权利要求47的芯片,其中发光化合物是借助共价键附着在基材上的。
54.根据权利要求46的芯片,其中芯片上的不同的发光化合物是预先选定的并且处在预先选定的浓度下,以便在该表面接触以已知标准为特征的已知标准物时与已知标准物相互作用并且产生预先选定的光辐射图。
55.根据权利要求54的芯片,其中进一步包括在该芯片上用来把该芯片标识成已知标准的专用芯片的标记。
56.一种用来确定试样与标准物的相关关系的方法,该方法包括:
提供包含试样的试样混合物,该试样混合物被施于选自根据权利要求46、47、48、49、50、51、52、53、54和55的芯片的芯片表面;
用众多照射波长的光线照射试样混合物;
监视至少一种发射波长的光线,以便建立试样发射分布型;
提供描述标准混合物特征的标准图谱,用照射波长照射该标准混合物并且监视对此照射作出响应时的至少一种发射波长;以及
将试样发射分布型与标准图谱进行比较,以便确定试样与标准物的相关关系。
57.根据权利要求56的方法,其中试样作为微滴施于芯片表面。
58.根据权利要求56的方法,其中芯片包括容纳发光化合物的微围墙,试样作为微滴被施于芯片表面,并且进一步包括允许微滴在芯片表面上展开以占据诸微围墙。
59.一种配套器材,其中包括:
包含众多离散的基材的包,每种基材包含或有附着其上的完全一样的一套3至9种发光化合物,这套化合物是为了在用至少一种波长的光线照射时与已知的标准物相互作用并且在这种相互作用的压力上建立预先选定的光辐射图而选定的;以及
包中的指令,这些指令指出在打算确定试样与标准物的相关关系时哪些基材适合与已知标准物或试样一起使用。
60.根据权利要求59的配套器材,其中基材是为了与根据权利要求1的便携式产品鉴定装置一起使用而构成和安排的。
61.一种用来检测待鉴定试样的特征的探针组件。所述的探针组件包括:
手持式探针壳体;
配置在所述壳体中用预定波长的光线照射试样的光源;以及
众多配置在所述壳体中与至少一个光学探测器通信的光缆,其中所述光缆适合并被安排接收置于芯片上的相应的试样发射的光线。
62.根据权利要求17的装置,其中所述夹持器包括容器和芯片之一。
63.根据权利要求17的装置,其中所述的探针组件进一步包括适合接纳所述夹持器的插座。
64.一种用来鉴定试样产品的便携式产品鉴定装置,该装置包括:
底座单元;
用来检测待鉴定试样的特征的探针组件,所述的探针组件被包括在所述底座单元之内,所述的探针组件包括:
用预定波长的光线照射试样的光源;以及
用来检测试样对照射波长的光线作出响应时产生的至少一种提供试样特征的发射波长的光线的光学探测器;以及
包含在所述的底座单元之内的控制器,该控制器与所述的探针组件通信以便接收所述的试样特征并且将所述的试样特征与图谱进行比较。
65.根据权利要求64的装置,其中进一步包括适合接纳试样的夹持器。
66.根据权利要求65的装置,其中所述的夹持器包括芯片。
67.根据权利要求65的装置,其中所述的探针组件进一步包括适合接纳所述的夹持器的插座。
68.根据权利要求66的装置,其中所述控制器完成与所述芯片有关的众多试样读数任务。
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