JP2002534696A - 可搬型製品鑑定装置 - Google Patents
可搬型製品鑑定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
鑑定と、製品が本物であること、不正および品質管理のための製品のモニタとを可能にする、製品中の主要成分および主要成分の相対的な量を分析するための可搬型製品鑑定装置および方法が開示される。特定の発光化合物を用いて製品中の主要成分の相対レベルを識別しかつ定量することができる。この発明は、サンプル製品を照射する光源、照射された製品からの発光を検出するための光検出器および、発光を標準と比較することによりサンプル製品が本物かどうかまたはその品質を判定するコントローラを提供するためのプローブアセンブリを含む。鑑定すべき製品の少量のサンプルを現場（たとえば製造点または流通点）でテストし、それによりそれが本物かどうかまたはその品質に関する即時のフィードバックを与える。サンプルは、発光化合物とともにチップ上に置かれてもよい。チップは、少量のサンプルとともにプローブアセンブリに置かれる。
Description
【０００１】
この発明は、サンプルの組成を鑑定するための装置および方法の一般的な分野
にある。
にある。
【０００２】 非常によく似た複雑な混合物間の区別をするための、製品の鑑定およびモニタ
はさまざまな理由により有用である。たとえば、ブランドの品位を守るため、偽
の物質（たとえば、競合他社の偽ブランド材料または免許／フランチャイズ権取
得者の配合を誤った材料）の使用を検出しなければならない。また、適切な修正
のため、低品質の物質（たとえば、希釈されたまたは配合を誤った製品）を迅速
にかつ好都合に検出しなければならない。
はさまざまな理由により有用である。たとえば、ブランドの品位を守るため、偽
の物質（たとえば、競合他社の偽ブランド材料または免許／フランチャイズ権取
得者の配合を誤った材料）の使用を検出しなければならない。また、適切な修正
のため、低品質の物質（たとえば、希釈されたまたは配合を誤った製品）を迅速
にかつ好都合に検出しなければならない。
【０００３】 共通に譲渡された米国特許第５，７５３，５１１号は、その全体がここに引用
により援用されるが、製品の「フィンガープリント」型分析のための情報（製品
のロット番号およびバッチに関してまでも）を記憶するデータベースを発展させ
る自動化された方法を開示している。自動化された分析は、たとえば、製品が本
物であることまたは製品の原点を立証しようと競うなどしている狭い分野または
業界内においてすら、製品を評価しかつ区別する方法である。その発明は、発光
化合物を用いて製品中の主要成分および／または主要成分の相対的な量を識別す
るための自動化された方法に関する。
により援用されるが、製品の「フィンガープリント」型分析のための情報（製品
のロット番号およびバッチに関してまでも）を記憶するデータベースを発展させ
る自動化された方法を開示している。自動化された分析は、たとえば、製品が本
物であることまたは製品の原点を立証しようと競うなどしている狭い分野または
業界内においてすら、製品を評価しかつ区別する方法である。その発明は、発光
化合物を用いて製品中の主要成分および／または主要成分の相対的な量を識別す
るための自動化された方法に関する。
【０００４】 ’５１１において参照されるサンプルを鑑定するのに用いられる実験装置は容
易にかつ経済的に運搬されない。したがって、製造点または流通点のいずれかの
現場で製品が本物であるかを判定することは実際的ではない。免許／フランチャ
イズ元からの、偽の物質の流通または配合を誤った材料の生産に関しては、ブラ
ンド主が、望ましくは自発的に、現場で製品が本物であるかをチェックすること
はないであろう。
易にかつ経済的に運搬されない。したがって、製造点または流通点のいずれかの
現場で製品が本物であるかを判定することは実際的ではない。免許／フランチャ
イズ元からの、偽の物質の流通または配合を誤った材料の生産に関しては、ブラ
ンド主が、望ましくは自発的に、現場で製品が本物であるかをチェックすること
はないであろう。
【０００５】 さらに、加工プラントは、たとえば、どの所与の時間にも行なわれている数多
くの連続プロセスを有することがある。たとえば、製品が生産されるに従って製
品の純正さまたは品質をテストすることが望ましいであろう。比較的大きく高価
な実験装置に関しては、これは不可能である。結果として、プロセスを止めたり
、テストのためにサンプル製品を遠隔の場所に送ったりしなければならず、サン
プルをテストするまでプロセスを再開できなくなることがある。
くの連続プロセスを有することがある。たとえば、製品が生産されるに従って製
品の純正さまたは品質をテストすることが望ましいであろう。比較的大きく高価
な実験装置に関しては、これは不可能である。結果として、プロセスを止めたり
、テストのためにサンプル製品を遠隔の場所に送ったりしなければならず、サン
プルをテストするまでプロセスを再開できなくなることがある。
【０００６】
この発明の１つの局面に従うと、可搬型製品鑑定装置が提供される。この装置
は、可撓性の導管を有するベースユニットおよび可撓性の導管に結合されたプロ
ーブアセンブリを含む。プローブアセンブリは、所定の波長の光で、鑑定すべき
サンプルを照射するための光源を有する。装置は、光の照射波長に応答してサン
プルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を検出してサンプル特徴を提供す
るための光検出器をさらに含む。ベースユニット内にコントローラが配置され、
これは、サンプル特徴を受取りかつサンプル特徴をフィンガープリントと比較す
るためにプローブアセンブリと通信する。１つの実施例では、コントローラはプ
ローブアセンブリから遠隔の場所に設けられ、記憶されたフィンガープリントの
データベースを含んでもよい。１つの実施例では、光源は発光ダイオードである
。別の実施例では、光源は、動作するように発光ダイオードに接続された光ファ
イバケーブルである。さらに別の実施例では、光ファイバケーブルはプローブア
センブリ内に配置され、サンプルが生成した発光を受取りかつ光検出器に伝える
ために、動作するように光検出器に接続される。代替的には、プローブアセンブ
リ内に光検出器が配置される。
は、可撓性の導管を有するベースユニットおよび可撓性の導管に結合されたプロ
ーブアセンブリを含む。プローブアセンブリは、所定の波長の光で、鑑定すべき
サンプルを照射するための光源を有する。装置は、光の照射波長に応答してサン
プルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を検出してサンプル特徴を提供す
るための光検出器をさらに含む。ベースユニット内にコントローラが配置され、
これは、サンプル特徴を受取りかつサンプル特徴をフィンガープリントと比較す
るためにプローブアセンブリと通信する。１つの実施例では、コントローラはプ
ローブアセンブリから遠隔の場所に設けられ、記憶されたフィンガープリントの
データベースを含んでもよい。１つの実施例では、光源は発光ダイオードである
。別の実施例では、光源は、動作するように発光ダイオードに接続された光ファ
イバケーブルである。さらに別の実施例では、光ファイバケーブルはプローブア
センブリ内に配置され、サンプルが生成した発光を受取りかつ光検出器に伝える
ために、動作するように光検出器に接続される。代替的には、プローブアセンブ
リ内に光検出器が配置される。
【０００７】 重要な実施例では、装置は、複数の光源の１つを交換可能に受けるためのレセ
プタクルを含む。光源の各々は、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて、所望の
波長の光を発するように選択される。
プタクルを含む。光源の各々は、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて、所望の
波長の光を発するように選択される。
【０００８】 別の実施例では、装置は、光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少
なくとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするための発光フィ
ルタおよび／または光源から生成された光の不所望の波長をフィルタするための
光源フィルタも含んでもよい。さらに別の実施例では、プローブアセンブリは、
複数の発光フィルタの１つおよび／または複数の光源フィルタの１つを交換可能
に受けるように適合される。各発光フィルタは、鑑定すべき所望のサンプルに基
づいて、光の不所望の波長をフィルタするように選択され、各光源フィルタは、
選択された光源に基づいて、光の不所望の波長をフィルタするように選択される
。
なくとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするための発光フィ
ルタおよび／または光源から生成された光の不所望の波長をフィルタするための
光源フィルタも含んでもよい。さらに別の実施例では、プローブアセンブリは、
複数の発光フィルタの１つおよび／または複数の光源フィルタの１つを交換可能
に受けるように適合される。各発光フィルタは、鑑定すべき所望のサンプルに基
づいて、光の不所望の波長をフィルタするように選択され、各光源フィルタは、
選択された光源に基づいて、光の不所望の波長をフィルタするように選択される
。
【０００９】 別の実施例では、光検出器は、サンプルが生成する光の少なくとも１つの発光
波長の量を検出する。これに代えて、光検出器は、サンプルが生成する光の少な
くとも１つの発光波長の経時的な量の変化を検出する。光検出器は、本物のサン
プルの特徴を検出してフィンガープリントを提供し、鑑定すべき単一のサンプル
に対して複数の検出を行なってもよい。フィンガープリントは許容可能なフィン
ガープリントの範囲を含んでもよい。
波長の量を検出する。これに代えて、光検出器は、サンプルが生成する光の少な
くとも１つの発光波長の経時的な量の変化を検出する。光検出器は、本物のサン
プルの特徴を検出してフィンガープリントを提供し、鑑定すべき単一のサンプル
に対して複数の検出を行なってもよい。フィンガープリントは許容可能なフィン
ガープリントの範囲を含んでもよい。
【００１０】 さらに別の実施例では、プローブアセンブリは、サンプルを受けるように適合
されたホルダをさらに含む。プローブアセンブリは、光源からサンプルに向けて
発せられた光を反射する反射器を含んでもよい。
されたホルダをさらに含む。プローブアセンブリは、光源からサンプルに向けて
発せられた光を反射する反射器を含んでもよい。
【００１１】 この発明の別の局面では、鑑定すべきサンプルの特徴を検出するためのプロー
ブアセンブリが提供される。プローブアセンブリは、手持ちプローブ本体と、所
定の波長の光でサンプルを照射するために本体の中に配置される光源とを含む。
光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を検
出してサンプル特徴を提供するための光検出器が本体の中に配置される。
ブアセンブリが提供される。プローブアセンブリは、手持ちプローブ本体と、所
定の波長の光でサンプルを照射するために本体の中に配置される光源とを含む。
光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を検
出してサンプル特徴を提供するための光検出器が本体の中に配置される。
【００１２】 １つの実施例では、光源は発光ダイオードである。別の実施例では、プローブ
アセンブリは、複数の発光ダイオードの１つを交換可能に受けるために本体の中
に形成された発光ダイオードレセプタクルを含む。発光ダイオードの各々は、鑑
定すべき所望のサンプルに基づいて、所望の波長の光を発するように選択される
。
アセンブリは、複数の発光ダイオードの１つを交換可能に受けるために本体の中
に形成された発光ダイオードレセプタクルを含む。発光ダイオードの各々は、鑑
定すべき所望のサンプルに基づいて、所望の波長の光を発するように選択される
。
【００１３】 別の実施例では、光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも
１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするため、発光フィルタが本
体内に配置される。光源から生成された光の不所望の波長をフィルタするため、
光源フィルタが本体の中に配置されてもよい。重要な実施例では、プローブアセ
ンブリは、複数の発光フィルタの１つを交換可能に受けるために本体の中に形成
される発光フィルタレセプタクルおよび／または複数の光源フィルタの１つを交
換可能に受けるために本体の中に形成される光源フィルタレセプタクルを含む。
各発光フィルタは、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて光の不所望の波長をフ
ィルタするように選択され、各光源フィルタは、選択された光源に基づいて光の
不所望の波長をフィルタするように選択される。
１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするため、発光フィルタが本
体内に配置される。光源から生成された光の不所望の波長をフィルタするため、
光源フィルタが本体の中に配置されてもよい。重要な実施例では、プローブアセ
ンブリは、複数の発光フィルタの１つを交換可能に受けるために本体の中に形成
される発光フィルタレセプタクルおよび／または複数の光源フィルタの１つを交
換可能に受けるために本体の中に形成される光源フィルタレセプタクルを含む。
各発光フィルタは、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて光の不所望の波長をフ
ィルタするように選択され、各光源フィルタは、選択された光源に基づいて光の
不所望の波長をフィルタするように選択される。
【００１４】 さらに別の実施例では、プローブアセンブリは、サンプルを受けるように適合
されたホルダをさらに含む。プローブアセンブリは、光源からサンプルに向けて
発せられた光を反射する反射器を含んでもよい。
されたホルダをさらに含む。プローブアセンブリは、光源からサンプルに向けて
発せられた光を反射する反射器を含んでもよい。
【００１５】 この発明のさらに別の局面では、鑑定すべきサンプルの特徴を検出するための
キットが提供される。キットは、複数のレセプタクルを有する手持ちプローブ本
体および所定の波長の光でサンプルを照射するための少なくとも１つの発光ダイ
オードを含む。各発光ダイオードはレセプタクルの１つへの挿入に適合され、発
せられる光の所望の波長に基づいて選択される。各々の所望の波長は、鑑定すべ
き所望のサンプルに基づいている。光の照射波長に応答してサンプルが生成する
光の少なくとも１つの発光波長を検出するための光検出器も設けられる。プロー
ブ本体は、光源からサンプルに向けて発せられた光を反射するための反射器も含
んでもよい。１つの実施例では、キットは、光の照射波長に応答してサンプルが
生成する光の少なくとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタする
ための少なくとも１つの発光フィルタおよび／または発光ダイオードから生成さ
れた光の不所望の波長をフィルタするための少なくとも１つの光源フィルタをさ
らに含む。各フィルタはレセプタクルの１つへの挿入に適合される。キットは、
少なくとも１つの発光化合物をさらに含んでもよい。各々の発光化合物は、鑑定
すべき選択されたサンプルとの反応に適合される。
キットが提供される。キットは、複数のレセプタクルを有する手持ちプローブ本
体および所定の波長の光でサンプルを照射するための少なくとも１つの発光ダイ
オードを含む。各発光ダイオードはレセプタクルの１つへの挿入に適合され、発
せられる光の所望の波長に基づいて選択される。各々の所望の波長は、鑑定すべ
き所望のサンプルに基づいている。光の照射波長に応答してサンプルが生成する
光の少なくとも１つの発光波長を検出するための光検出器も設けられる。プロー
ブ本体は、光源からサンプルに向けて発せられた光を反射するための反射器も含
んでもよい。１つの実施例では、キットは、光の照射波長に応答してサンプルが
生成する光の少なくとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタする
ための少なくとも１つの発光フィルタおよび／または発光ダイオードから生成さ
れた光の不所望の波長をフィルタするための少なくとも１つの光源フィルタをさ
らに含む。各フィルタはレセプタクルの１つへの挿入に適合される。キットは、
少なくとも１つの発光化合物をさらに含んでもよい。各々の発光化合物は、鑑定
すべき選択されたサンプルとの反応に適合される。
【００１６】 キットはプローブ本体への挿入に適合されたホルダをさらに含んでもよい。ホ
ルダは発光化合物およびサンプルの保持に適合される。また、キットに持ち運び
ケースを備えてもよい。
ルダは発光化合物およびサンプルの保持に適合される。また、キットに持ち運び
ケースを備えてもよい。
【００１７】 この発明のさらに別の局面では、可搬型鑑定装置を用いて、鑑定すべきサンプ
ルの特徴を検出するための方法が開示される。装置は、所定の波長の光で、鑑定
すべきサンプルを照射するための光源と、光の照射波長に応答してサンプルが生
成する光の少なくとも１つの発光波長を検出してサンプル特徴を提供するための
光検出器とを有するプローブアセンブリを有する。この方法は、光検出器でバッ
クグラウンド光を検出するステップと、本物の製品サンプルに発光化合物を加え
て本物のサンプル混合物を形成するステップと、照射波長光で本物のサンプル混
合物を照射するステップと、光の照射波長に応答して本物のサンプル混合物が生
成する光の量および経時的な量の変化のうち１つを検出してフィンガープリント
を提供するステップと、テスト製品サンプルに発光化合物を加えてテストサンプ
ル混合物を形成するステップと、照射波長光でテストサンプル混合物を照射する
ステップと、光の照射波長に応答してテストサンプル混合物が生成する光の量お
よび経時的な量の変化のうち１つを検出してテストサンプル特徴を提供するステ
ップと、テストサンプル特徴をフィンガープリントと比較してテストサンプルが
本物か否かを判定するステップとを含む。
ルの特徴を検出するための方法が開示される。装置は、所定の波長の光で、鑑定
すべきサンプルを照射するための光源と、光の照射波長に応答してサンプルが生
成する光の少なくとも１つの発光波長を検出してサンプル特徴を提供するための
光検出器とを有するプローブアセンブリを有する。この方法は、光検出器でバッ
クグラウンド光を検出するステップと、本物の製品サンプルに発光化合物を加え
て本物のサンプル混合物を形成するステップと、照射波長光で本物のサンプル混
合物を照射するステップと、光の照射波長に応答して本物のサンプル混合物が生
成する光の量および経時的な量の変化のうち１つを検出してフィンガープリント
を提供するステップと、テスト製品サンプルに発光化合物を加えてテストサンプ
ル混合物を形成するステップと、照射波長光でテストサンプル混合物を照射する
ステップと、光の照射波長に応答してテストサンプル混合物が生成する光の量お
よび経時的な量の変化のうち１つを検出してテストサンプル特徴を提供するステ
ップと、テストサンプル特徴をフィンガープリントと比較してテストサンプルが
本物か否かを判定するステップとを含む。
【００１８】 重要な実施例では、本物のサンプル混合物とテストサンプル混合物との両者に
対する照射のステップおよび検出のステップは、空間的および時間的に非常に近
接して起こる。別の実施例では、テストサンプルが本物でないとき、この方法は
、リモートコンピュータと通信するステップと、記憶されたフィンガープリント
を読出してテストサンプルの実態を判定するステップとをさらに含む。
対する照射のステップおよび検出のステップは、空間的および時間的に非常に近
接して起こる。別の実施例では、テストサンプルが本物でないとき、この方法は
、リモートコンピュータと通信するステップと、記憶されたフィンガープリント
を読出してテストサンプルの実態を判定するステップとをさらに含む。
【００１９】 別の実施例では、本物のサンプル混合物が生成する光の量と経時的な量の変化
との両者が検出され得る。
との両者が検出され得る。
【００２０】 別の実施例では、この方法は、複数のフィンガープリントのデータベースを有
するコントローラと通信するステップをさらに含む。通信は、比較に基づく、テ
ストサンプルが本物でないとの判定の後に起こり、通信のステップは、テストサ
ンプル特徴をフィンガープリントのデータベースと比較するステップを含む。
するコントローラと通信するステップをさらに含む。通信は、比較に基づく、テ
ストサンプルが本物でないとの判定の後に起こり、通信のステップは、テストサ
ンプル特徴をフィンガープリントのデータベースと比較するステップを含む。
【００２１】 さらに別の実施例では、本物のサンプルおよびテストサンプルの１つに対する
複数の検出が行なわれる。
複数の検出が行なわれる。
【００２２】 この発明の別の局面に従うと、チップが提供される。チップは基板であり、複
数の異なる発光化合物が基板の表面に付着される。化合物は、それらが相互作用
相手と相互作用できるような態様で付着され、そのような相互作用は、相互作用
のない発光化合物からの発光に対する発光化合物からの発光を変化させる。異な
る発光化合物の各々は、他のすべての異なる発光化合物の付着部とは別個の場所
に付着される。基板は、相互作用のあるところおよび相互作用のないところの発
光化合物からの発光との干渉とは無縁である。１つの実施例では、複数の化合物
は、３つの異なる発光化合物、４つの異なる発光化合物、５つの異なる発光化合
物、６つの異なる発光化合物、７つの異なる発光化合物、８つの異なる発光化合
物および９つの異なる発光化合物からなる群から選択される。１つの重要な実施
例では、発光化合物は染料である。チップは複数のマイクロウェルを規定するこ
とができる。異なる発光化合物の各々の付着の別個の場所は、１つのマイクロウ
ェルまたはいくつかのマイクロウェルに限ることができる。好ましい実施例では
、チップは、チップ上の発光化合物の各々の位置を特定するためおよび／または
どの異なる発光化合物がチップ上にあるかを識別するための１つまたはそれ以上
のマーキングを有する。共有にまたは非共有に発光化合物をチップに付着するこ
とができる。
数の異なる発光化合物が基板の表面に付着される。化合物は、それらが相互作用
相手と相互作用できるような態様で付着され、そのような相互作用は、相互作用
のない発光化合物からの発光に対する発光化合物からの発光を変化させる。異な
る発光化合物の各々は、他のすべての異なる発光化合物の付着部とは別個の場所
に付着される。基板は、相互作用のあるところおよび相互作用のないところの発
光化合物からの発光との干渉とは無縁である。１つの実施例では、複数の化合物
は、３つの異なる発光化合物、４つの異なる発光化合物、５つの異なる発光化合
物、６つの異なる発光化合物、７つの異なる発光化合物、８つの異なる発光化合
物および９つの異なる発光化合物からなる群から選択される。１つの重要な実施
例では、発光化合物は染料である。チップは複数のマイクロウェルを規定するこ
とができる。異なる発光化合物の各々の付着の別個の場所は、１つのマイクロウ
ェルまたはいくつかのマイクロウェルに限ることができる。好ましい実施例では
、チップは、チップ上の発光化合物の各々の位置を特定するためおよび／または
どの異なる発光化合物がチップ上にあるかを識別するための１つまたはそれ以上
のマーキングを有する。共有にまたは非共有に発光化合物をチップに付着するこ
とができる。
【００２３】 重要な実施例では、チップの異なる発光化合物は、公知の標準と相互作用しか
つ、表面が公知の標準の公知の標準特徴と接触するときに予め選択されたパター
ンの発光を生じるように、予め選択されかつ予め選択された濃度にある。この例
では、チップ中のマーキングは、公知の標準に特定のものとしてチップを識別可
能である。
つ、表面が公知の標準の公知の標準特徴と接触するときに予め選択されたパター
ンの発光を生じるように、予め選択されかつ予め選択された濃度にある。この例
では、チップ中のマーキングは、公知の標準に特定のものとしてチップを識別可
能である。
【００２４】 この発明の別の局面に従うと、標準に対するサンプルの関連性を判定するため
の方法が提供される。この方法は、上述のどのチップの表面にも塗布されるサン
プルを含むサンプル混合物を提供するステップを含む。このときサンプル混合物
は光の複数の照射波長で照射される。光の少なくとも１つの発光波長、しかしよ
り典型的には複数のそのような波長がモニタされてサンプルの発光プロファイル
を確立する。標準混合物の標準フィンガープリント特徴が提供され、標準混合物
はチップの表面に塗布された標準を含み、標準フィンガープリントは、照射波長
で標準混合物を照射することおよびそれに応答する少なくとも１つの発光波長を
モニタすることによって生成される。次にサンプル発光プロファイルが標準フィ
ンガープリントと比較され、標準に対するサンプルの関連性を判定する。マイク
ロドットとしてサンプルをチップの表面に塗布することができる。重要な実施例
では、チップは、発光化合物を収容するマイクロウェルを含み、サンプルはマイ
クロドットとしてチップの表面に塗布される。この実施例では、マイクロドロッ
プはチップの表面にわたって広がり、好ましくは、一旦それが広がるとサンプル
が別個のマイクロウェルに重ならずに収容される態様で、マイクロウェルを占め
ることが可能である。この実施例には、濡らしてもよい表面を備えるマイクロチ
ップが特に望ましい。
の方法が提供される。この方法は、上述のどのチップの表面にも塗布されるサン
プルを含むサンプル混合物を提供するステップを含む。このときサンプル混合物
は光の複数の照射波長で照射される。光の少なくとも１つの発光波長、しかしよ
り典型的には複数のそのような波長がモニタされてサンプルの発光プロファイル
を確立する。標準混合物の標準フィンガープリント特徴が提供され、標準混合物
はチップの表面に塗布された標準を含み、標準フィンガープリントは、照射波長
で標準混合物を照射することおよびそれに応答する少なくとも１つの発光波長を
モニタすることによって生成される。次にサンプル発光プロファイルが標準フィ
ンガープリントと比較され、標準に対するサンプルの関連性を判定する。マイク
ロドットとしてサンプルをチップの表面に塗布することができる。重要な実施例
では、チップは、発光化合物を収容するマイクロウェルを含み、サンプルはマイ
クロドットとしてチップの表面に塗布される。この実施例では、マイクロドロッ
プはチップの表面にわたって広がり、好ましくは、一旦それが広がるとサンプル
が別個のマイクロウェルに重ならずに収容される態様で、マイクロウェルを占め
ることが可能である。この実施例には、濡らしてもよい表面を備えるマイクロチ
ップが特に望ましい。
【００２５】 この発明の他の局面に従うと、キットが提供される。キットは複数の別個の基
板を収容するパッケージであり、基板の各々は、同一のセットの３つから９つの
発光化合物を収容するかまたはそれを基板に付着する。このセットは、公知の標
準と相互作用しかつ、１つの相互作用が存在するところで少なくとも１つの波長
の光で照射されるときに予め選択されたパターンの発光を生じるように、選択さ
れる。パッケージは、基板が、公知の標準または、公知の標準に対するサンプル
の関連性が判定されるべきサンプルとともに用いるためのものであることを示す
指示も収容する。この発明の可搬型製品鑑定装置とともに用いるために基板を作
りかつ配置することができる。
板を収容するパッケージであり、基板の各々は、同一のセットの３つから９つの
発光化合物を収容するかまたはそれを基板に付着する。このセットは、公知の標
準と相互作用しかつ、１つの相互作用が存在するところで少なくとも１つの波長
の光で照射されるときに予め選択されたパターンの発光を生じるように、選択さ
れる。パッケージは、基板が、公知の標準または、公知の標準に対するサンプル
の関連性が判定されるべきサンプルとともに用いるためのものであることを示す
指示も収容する。この発明の可搬型製品鑑定装置とともに用いるために基板を作
りかつ配置することができる。
【００２６】 この発明の別の局面では、鑑定すべきサンプルの特徴を検出するためのプロー
ブアセンブリが提供される。プローブアセンブリは、手持ちプローブ本体、所定
の波長の光でサンプルを照射するために本体の中に配置された光源および本体の
中に配置されかつ少なくとも１つの光検出器と通信する複数の光ファイバケーブ
ルを含む。光ファイバケーブルは、チップ上に置かれた対応するサンプルから発
せられた光を受けるように適合されかつ配置される。
ブアセンブリが提供される。プローブアセンブリは、手持ちプローブ本体、所定
の波長の光でサンプルを照射するために本体の中に配置された光源および本体の
中に配置されかつ少なくとも１つの光検出器と通信する複数の光ファイバケーブ
ルを含む。光ファイバケーブルは、チップ上に置かれた対応するサンプルから発
せられた光を受けるように適合されかつ配置される。
【００２７】 この発明のさまざまな実施例がある利点を提供しかつ従来の技術のある欠点を
克服する。この発明のすべての実施例が同じ利点を共有するわけではなく、共有
しているものがすべての状況下でそれらを共有しているわけではないであろう。
すなわち、この発明は、現場でのテストの顕著な利点を含む、数多くの利点を提
供する。
克服する。この発明のすべての実施例が同じ利点を共有するわけではなく、共有
しているものがすべての状況下でそれらを共有しているわけではないであろう。
すなわち、この発明は、現場でのテストの顕著な利点を含む、数多くの利点を提
供する。
【００２８】 この発明のさらなる特徴および利点に加え、この発明のさまざまな実施例の構
成および動作が、添付の図面を参照して以下に詳細に説明される。
成および動作が、添付の図面を参照して以下に詳細に説明される。
【００２９】
この発明は、鑑定と、製品が本物であること、不正および品質管理のモニタと
を可能にする、製品中の主要成分および主要成分の相対的な量を分析するための
可搬型製品鑑定装置および方法を特徴とする。特定の発光化合物を用いて、製品
中の主要成分の相対レベルを識別しかつ定量することができる。この発明は、サ
ンプル製品を照射する光源と、照射された製品からの発光を検出する光検出器と
、発光を標準と比較することによりサンプル製品が本物かまたはその品質を判定
するコントローラとを提供するプローブアセンブリを含む。鑑定すべき製品の少
量のサンプルを現場（たとえば製造点または流通点）でテストし、それによりそ
れが本物であるかまたはその品質に関する即時のフィードバックを与える。「本
物」という用語またはそのいずれの派生語も、純正なものまたは混ぜ物がないも
のとしての識別を意味し、またある文脈では、許容できる品質の範囲内に入るこ
とも意味し得ることを認められたい。
を可能にする、製品中の主要成分および主要成分の相対的な量を分析するための
可搬型製品鑑定装置および方法を特徴とする。特定の発光化合物を用いて、製品
中の主要成分の相対レベルを識別しかつ定量することができる。この発明は、サ
ンプル製品を照射する光源と、照射された製品からの発光を検出する光検出器と
、発光を標準と比較することによりサンプル製品が本物かまたはその品質を判定
するコントローラとを提供するプローブアセンブリを含む。鑑定すべき製品の少
量のサンプルを現場（たとえば製造点または流通点）でテストし、それによりそ
れが本物であるかまたはその品質に関する即時のフィードバックを与える。「本
物」という用語またはそのいずれの派生語も、純正なものまたは混ぜ物がないも
のとしての識別を意味し、またある文脈では、許容できる品質の範囲内に入るこ
とも意味し得ることを認められたい。
【００３０】 発光化合物は、異なる波長の光による照射に応答して発光に関わる。関心のあ
る発光は、燐光、化学ルミネセンスまたは、より好ましくは、蛍光の結果である
可能性がある。特定的には、本明細書中で用いられるような「発光化合物」とい
う用語は、以下の特性の１つまたはそれ以上を有する化合物を意味する。すなわ
ち、１）それらは蛍光、燐光もしくはルミネセンスを発する、２）サンプルもし
くは標準もしくはその両者の成分と反応もしくは相互作用して少なくとも１つの
蛍光、燐光もしくはルミネセンス化合物を生じる、または３）サンプル、標準も
しくはその両者の中の少なくとも１つの蛍光、燐光またはルミネセンス化合物と
反応もしくは相互作用して発光波長で発光を変化させる。「フィンガープリント
」は、標準（たとえば本物の）製品と組合せた１つまたはそれ以上の発光化合物
からの発光強度および／または強度の衰えを指す。したがって、各製品は特定の
フィンガープリントを有することができる。「フィンガープリント発光プロファ
イル」は、一連の異なる発光化合物（またはそのプロファイル）と組合せた製品
の液体サンプルのフィンガープリントの集合である。
る発光は、燐光、化学ルミネセンスまたは、より好ましくは、蛍光の結果である
可能性がある。特定的には、本明細書中で用いられるような「発光化合物」とい
う用語は、以下の特性の１つまたはそれ以上を有する化合物を意味する。すなわ
ち、１）それらは蛍光、燐光もしくはルミネセンスを発する、２）サンプルもし
くは標準もしくはその両者の成分と反応もしくは相互作用して少なくとも１つの
蛍光、燐光もしくはルミネセンス化合物を生じる、または３）サンプル、標準も
しくはその両者の中の少なくとも１つの蛍光、燐光またはルミネセンス化合物と
反応もしくは相互作用して発光波長で発光を変化させる。「フィンガープリント
」は、標準（たとえば本物の）製品と組合せた１つまたはそれ以上の発光化合物
からの発光強度および／または強度の衰えを指す。したがって、各製品は特定の
フィンガープリントを有することができる。「フィンガープリント発光プロファ
イル」は、一連の異なる発光化合物（またはそのプロファイル）と組合せた製品
の液体サンプルのフィンガープリントの集合である。
【００３１】 「サンプル特徴」という用語は、サンプル製品と組合せた１つまたはそれ以上
の発光化合物からの発光強度および／または強度の衰えを指す。
の発光化合物からの発光強度および／または強度の衰えを指す。
【００３２】 本明細書中で用いられるような「主要成分」という用語は、特定の製品を識別
する際に重要な製品の組成中に含まれる成分を意味する。
する際に重要な製品の組成中に含まれる成分を意味する。
【００３３】 本明細書中で用いられるような「微量化合物」という用語は、たとえば、特定
の主要成分に関連する製品中に低濃度（たとえばｐｐｍまたはｐｐｂレベル）で
存在する化合物を意味する。微量化合物は、主要成分の源にまたは製品の製造の
間に導入することができる。
の主要成分に関連する製品中に低濃度（たとえばｐｐｍまたはｐｐｂレベル）で
存在する化合物を意味する。微量化合物は、主要成分の源にまたは製品の製造の
間に導入することができる。
【００３４】 １つの実施例では、図１に示されたように、可搬型製品鑑定装置は、動作する
ように手持ちプローブに接続された卓上の装置である。装置２０は、ベース面２
３を有するベースユニット２２を含み、容易な持ち運びのためにハンドル２５を
含んでもよい。ベースユニット２２は可撓性の導管２６を介して手持ちプローブ
アセンブリ２４に結合される。可撓性の導管により、プローブアセンブリ２４の
容易な操作および接合（articulation）はどのような所望の向きにも可能になる
。ベースユニット２２は、ディスプレイ２７と、少なくとも１つ、好ましくは４
つのコントロールスイッチ２８ａ−２８ｄとを含む。装置２０への電力は好適な
電力コード３０を通して供給されてもよく、またはこれに代えて、再充電可能な
電池などの電池で給電されてもよい。装置の使用を選択的に許したりまたは拒否
したりするためにロックアウト装置も設けてもよい。本明細書中に記載の例では
、ロックアウト装置はキーロックスイッチ３２を含む。これに代えて、パスワー
ドを用いてもよい。この例では、パスワードは、所定のシーケンスでのスイッチ
２８ａ−２８ｄの切換えであってもよい。テストすべきサンプルを受けるための
サンプルホルダ２９またはキュベットはプローブアセンブリに挿入可能である。
ように手持ちプローブに接続された卓上の装置である。装置２０は、ベース面２
３を有するベースユニット２２を含み、容易な持ち運びのためにハンドル２５を
含んでもよい。ベースユニット２２は可撓性の導管２６を介して手持ちプローブ
アセンブリ２４に結合される。可撓性の導管により、プローブアセンブリ２４の
容易な操作および接合（articulation）はどのような所望の向きにも可能になる
。ベースユニット２２は、ディスプレイ２７と、少なくとも１つ、好ましくは４
つのコントロールスイッチ２８ａ−２８ｄとを含む。装置２０への電力は好適な
電力コード３０を通して供給されてもよく、またはこれに代えて、再充電可能な
電池などの電池で給電されてもよい。装置の使用を選択的に許したりまたは拒否
したりするためにロックアウト装置も設けてもよい。本明細書中に記載の例では
、ロックアウト装置はキーロックスイッチ３２を含む。これに代えて、パスワー
ドを用いてもよい。この例では、パスワードは、所定のシーケンスでのスイッチ
２８ａ−２８ｄの切換えであってもよい。テストすべきサンプルを受けるための
サンプルホルダ２９またはキュベットはプローブアセンブリに挿入可能である。
【００３５】 図２の断面図に最もよく示される手持ちプローブアセンブリ２４は、鑑定すべ
きサンプルと直接的に相互作用する。この実施例では、プローブアセンブリ２４
はプローブ本体４０を含み、これは一体型の本体であってもまたは複数の別個の
本体部品で形成されてもよい。プローブ本体はその中に配置される光源を含む。
好ましい実施例では、光源は発光ダイオード４２を含み、これは赤外発光ダイオ
ードであってもまたはそうでなくてもよい。いずれの場合でも、選択された発光
ダイオードは発光化合物の励起波長に一致される。発光ダイオードのリード線４
４は導管を介してベースユニット２２に接続され、励起のための電力を受ける。
プローブアセンブリはバンドパスまたはカットオフフィルタなどの光源フィルタ
４６をさらに含み、発光ダイオードからの光の波長を分離する。１０ｍｍの直径
を備え１０ｍｍの焦点距離を有する対称凸レンズなどのレンズ４８は、発光ダイ
オードから発せられた光を直角プリズム５０上に焦点合せする。１つの特定の実
施例では、直角プリズムは、８ｍｍ×８ｍｍ×８ｍｍのプリズムである。
きサンプルと直接的に相互作用する。この実施例では、プローブアセンブリ２４
はプローブ本体４０を含み、これは一体型の本体であってもまたは複数の別個の
本体部品で形成されてもよい。プローブ本体はその中に配置される光源を含む。
好ましい実施例では、光源は発光ダイオード４２を含み、これは赤外発光ダイオ
ードであってもまたはそうでなくてもよい。いずれの場合でも、選択された発光
ダイオードは発光化合物の励起波長に一致される。発光ダイオードのリード線４
４は導管を介してベースユニット２２に接続され、励起のための電力を受ける。
プローブアセンブリはバンドパスまたはカットオフフィルタなどの光源フィルタ
４６をさらに含み、発光ダイオードからの光の波長を分離する。１０ｍｍの直径
を備え１０ｍｍの焦点距離を有する対称凸レンズなどのレンズ４８は、発光ダイ
オードから発せられた光を直角プリズム５０上に焦点合せする。１つの特定の実
施例では、直角プリズムは、８ｍｍ×８ｍｍ×８ｍｍのプリズムである。
【００３６】 プローブアセンブリ２４は、光を光検出器（図２には図示せず）上に焦点合せ
するための、第１のレンズ４８と同様であり得る第２のレンズ５２をさらに含む
。バンドパスまたはカットオフフィルタなどの発光フィルタ５４を用いて、サン
プルからの発光による発光スペクトルから励起波長を分離する。フィルタ５４は
レンズ５２に隣接して位置決めされるが、ある不所望の励起波長が光検出器から
分離されるならば、どの場所にあってもよい。光ファイバケーブル５６は、プロ
ーブアセンブリ２４内に配置され、導管２６内に嵌合し、ベースユニット２２内
で、動作するように光検出器に接続する。プローブ本体２４は、光をサンプルの
方に向ける凹面鏡反射器５７をさらに含む。この特定の実施例では、反射器は、
９ｍｍの直径を有する、アルミニウムで被覆された凹面鏡である。プローブアセ
ンブリは、テストすべきサンプルの中への直接的な挿入のために適合されかつ寸
法決めされてもよい。発光ダイオードからの光がサンプルを照射するように、ポ
ート５８をプローブアセンブリの中に形成し、サンプルからの発光の検出ができ
るように、別のポート５９をプローブアセンブリの中に形成する。好ましい実施
例では、プローブアセンブリ２４は、ホルダ２９（図２には図示せず）を受ける
ように適合された開口６１を含んでもよい。
するための、第１のレンズ４８と同様であり得る第２のレンズ５２をさらに含む
。バンドパスまたはカットオフフィルタなどの発光フィルタ５４を用いて、サン
プルからの発光による発光スペクトルから励起波長を分離する。フィルタ５４は
レンズ５２に隣接して位置決めされるが、ある不所望の励起波長が光検出器から
分離されるならば、どの場所にあってもよい。光ファイバケーブル５６は、プロ
ーブアセンブリ２４内に配置され、導管２６内に嵌合し、ベースユニット２２内
で、動作するように光検出器に接続する。プローブ本体２４は、光をサンプルの
方に向ける凹面鏡反射器５７をさらに含む。この特定の実施例では、反射器は、
９ｍｍの直径を有する、アルミニウムで被覆された凹面鏡である。プローブアセ
ンブリは、テストすべきサンプルの中への直接的な挿入のために適合されかつ寸
法決めされてもよい。発光ダイオードからの光がサンプルを照射するように、ポ
ート５８をプローブアセンブリの中に形成し、サンプルからの発光の検出ができ
るように、別のポート５９をプローブアセンブリの中に形成する。好ましい実施
例では、プローブアセンブリ２４は、ホルダ２９（図２には図示せず）を受ける
ように適合された開口６１を含んでもよい。
【００３７】 図１の線３−３に沿ってとられたベースユニット２２の断面図である図３を参
照すると、ベースユニット２２は、動作するように光ファイバケーブル５６に結
合された光検出器６０を含む。次に光検出器６０は好適な電子回路基板６２に結
合され、これは光検出器６０から電気信号を受取る。
照すると、ベースユニット２２は、動作するように光ファイバケーブル５６に結
合された光検出器６０を含む。次に光検出器６０は好適な電子回路基板６２に結
合され、これは光検出器６０から電気信号を受取る。
【００３８】 １つの実施例では、回路基板は、英国ロンドンのトライアングルデジタルサー
ビセズリミテッド（Triangle Digital Services LTD）が製造する、ＴＤＳ２０
２０データロガーなどのコントローラ６３および遠隔の場所に設けられるデータ
ベースと通信するモデム６４を含んでもよい。これに代えて、回路基板は、読出
専用メモリチップ６６などのメモリデバイスを含んでもよくまたは、フィンガー
プリントデータを記憶する、たとえばＣＤ−ＲＯＭと通信してもよい。
ビセズリミテッド（Triangle Digital Services LTD）が製造する、ＴＤＳ２０
２０データロガーなどのコントローラ６３および遠隔の場所に設けられるデータ
ベースと通信するモデム６４を含んでもよい。これに代えて、回路基板は、読出
専用メモリチップ６６などのメモリデバイスを含んでもよくまたは、フィンガー
プリントデータを記憶する、たとえばＣＤ−ＲＯＭと通信してもよい。
【００３９】 本明細書中に示されおよび説明されたプローブアセンブリは、動作するように
ベースユニット２２に接続されるが、本物であるかサンプルをテストするのに必
要なすべての構成要素をベースユニット内に直接的に収容してもよい。そのよう
な実施例では、ベースユニット２２は、光源、好適なレンズおよびフィルタなら
びに光検出器を含む。テストすべきサンプルを受けるため、ベースユニット内に
開口も形成される。
ベースユニット２２に接続されるが、本物であるかサンプルをテストするのに必
要なすべての構成要素をベースユニット内に直接的に収容してもよい。そのよう
な実施例では、ベースユニット２２は、光源、好適なレンズおよびフィルタなら
びに光検出器を含む。テストすべきサンプルを受けるため、ベースユニット内に
開口も形成される。
【００４０】 動作においては、キーロックスイッチがオンに回されて装置２０を起動する。
スイッチ２８ａが作動され、これは発光ダイオード４２を励起しかつ発光させ、
次に最終的に光検出器６０が光を受ける。このとき装置２０は、プローブアセン
ブリ２４を取囲むバックグラウンド光の量を計算する。
スイッチ２８ａが作動され、これは発光ダイオード４２を励起しかつ発光させ、
次に最終的に光検出器６０が光を受ける。このとき装置２０は、プローブアセン
ブリ２４を取囲むバックグラウンド光の量を計算する。
【００４１】 サンプル混合物は、発光化合物をサンプルと混合してサンプル混合物を形成す
る、米国特許第５，７５３，５１１号に記載された技術を用いて作られる。一般
的に、製品のサンプルと発光化合物とが混合される。製品中の発光化合物および
主要成分は、たとえば、混合物からの発光がもはや時間とともに変化しなくなる
まで、各々の製品および発光化合物ごとに特定的な温度でおよび一定の時間の間
反応される。次にサンプルは、発光ダイオードから発する光の照射波長で照射さ
れる。具体的には、光は光源フィルタを用いてフィルタされて所望の光の波長を
得て、レンズを通過しかつレンズにより焦点合せされる。次に光はプリズムを通
して反射されかつ屈折され、サンプル混合物の上に焦点合せされる。次に照射さ
れたサンプルは、発光ダイオードだけでなく用いられた化合物および混合物中の
主要成分から発せられている光の波長に基づいて、所定の波長の光を発する。製
品中の主要成分の存在による発光の変化は、式［（Ｆｄ−Ｆｐ）／Ｆｄ］×１０
０から定めることができ、式中、製品を含まない発光化合物の発光はＦｐであり
、発光化合物を製品に露出した後の発光はＦｄである。発光は、製品中の主要成
分との、発光化合物の相互作用の結果に従って変化する。次に発光フィルタは、
サンプルから発する光の不所望の波長をフィルタする。次に光は光ファイバケー
ブルに向けられ、これは光をベースユニット中の光検出器に伝える。次に光検出
器はサンプルから発せられた光の波長を示す電圧レベルを生成し、信号をサンプ
ル特徴に変換する。次にサンプル特徴は標準のフィンガープリントと比較され、
サンプルが本物かを判定する。これは、ベースユニットのメモリ内に標準フィン
ガープリントデータを直接的に記憶することにより達成されるであろう。
る、米国特許第５，７５３，５１１号に記載された技術を用いて作られる。一般
的に、製品のサンプルと発光化合物とが混合される。製品中の発光化合物および
主要成分は、たとえば、混合物からの発光がもはや時間とともに変化しなくなる
まで、各々の製品および発光化合物ごとに特定的な温度でおよび一定の時間の間
反応される。次にサンプルは、発光ダイオードから発する光の照射波長で照射さ
れる。具体的には、光は光源フィルタを用いてフィルタされて所望の光の波長を
得て、レンズを通過しかつレンズにより焦点合せされる。次に光はプリズムを通
して反射されかつ屈折され、サンプル混合物の上に焦点合せされる。次に照射さ
れたサンプルは、発光ダイオードだけでなく用いられた化合物および混合物中の
主要成分から発せられている光の波長に基づいて、所定の波長の光を発する。製
品中の主要成分の存在による発光の変化は、式［（Ｆｄ−Ｆｐ）／Ｆｄ］×１０
０から定めることができ、式中、製品を含まない発光化合物の発光はＦｐであり
、発光化合物を製品に露出した後の発光はＦｄである。発光は、製品中の主要成
分との、発光化合物の相互作用の結果に従って変化する。次に発光フィルタは、
サンプルから発する光の不所望の波長をフィルタする。次に光は光ファイバケー
ブルに向けられ、これは光をベースユニット中の光検出器に伝える。次に光検出
器はサンプルから発せられた光の波長を示す電圧レベルを生成し、信号をサンプ
ル特徴に変換する。次にサンプル特徴は標準のフィンガープリントと比較され、
サンプルが本物かを判定する。これは、ベースユニットのメモリ内に標準フィン
ガープリントデータを直接的に記憶することにより達成されるであろう。
【００４２】 装置の動作の別の例示的な例では、本物のサンプル混合物のフィンガープリン
トの現場での判定が行なわれる。同じまたは類似の発光化合物が本物のサンプル
に加えられ、本物のサンプル混合物を形成する。この本物のサンプル混合物は、
テストサンプル混合物が照射されるのと同様に照射される。光の照射波長に応答
して本物のサンプル混合物が生成する光は次に光検出器によって検出され、フィ
ンガープリントを提供する。
トの現場での判定が行なわれる。同じまたは類似の発光化合物が本物のサンプル
に加えられ、本物のサンプル混合物を形成する。この本物のサンプル混合物は、
テストサンプル混合物が照射されるのと同様に照射される。光の照射波長に応答
して本物のサンプル混合物が生成する光は次に光検出器によって検出され、フィ
ンガープリントを提供する。
【００４３】 この発明に従うと、装置２０は、周囲の光、温度および他の状況に対して自己
較正する。さらに、装置は、たとえば発光ダイオード、エレクトロニクスまたは
光検出器の劣化を補うこともある。発光化合物が２つの異なる波長で光を発し得
ることがわかった。波長の値は上述の要因により変化することがあるが、２つの
波長の間の比は比較的一定なままであることがわかった。したがって、現場での
測定の間に、疑わしいサンプルが本物か否かを判定するのに、実際の値よりもむ
しろこの比を用いてもよい。したがって、現場でのデータと記憶されたデータと
の比較による一切の変動性が排除される。発せられた波長の実際の値が用いられ
れば、現場のサンプル特徴がフィンガープリントと同じでなくてもサンプルが実
際には本物ということもあり得るため、誤った判定が生じる可能性がある。前述
のように、サンプルが本物でないと判明すれば、比を用いて、サンプルの実態に
関する判定を、ホストコンピュータと通信するデータベースをスキャンすること
によって行なってもよい。
較正する。さらに、装置は、たとえば発光ダイオード、エレクトロニクスまたは
光検出器の劣化を補うこともある。発光化合物が２つの異なる波長で光を発し得
ることがわかった。波長の値は上述の要因により変化することがあるが、２つの
波長の間の比は比較的一定なままであることがわかった。したがって、現場での
測定の間に、疑わしいサンプルが本物か否かを判定するのに、実際の値よりもむ
しろこの比を用いてもよい。したがって、現場でのデータと記憶されたデータと
の比較による一切の変動性が排除される。発せられた波長の実際の値が用いられ
れば、現場のサンプル特徴がフィンガープリントと同じでなくてもサンプルが実
際には本物ということもあり得るため、誤った判定が生じる可能性がある。前述
のように、サンプルが本物でないと判明すれば、比を用いて、サンプルの実態に
関する判定を、ホストコンピュータと通信するデータベースをスキャンすること
によって行なってもよい。
【００４４】 サンプル混合物が生成する光の量が検出されることを認められたい。しかしな
がら、この発明に従うと、サンプル特徴を提供するのに、発せられた光の量の経
時的な変化を用いてもよい。これに代えて、量および量の変化の両者を用いてサ
ンプル特徴を提供してもよい。
がら、この発明に従うと、サンプル特徴を提供するのに、発せられた光の量の経
時的な変化を用いてもよい。これに代えて、量および量の変化の両者を用いてサ
ンプル特徴を提供してもよい。
【００４５】 装置の動作の別の実施例では、本物のサンプル混合物とテストサンプル混合物
との両者の検出は、空間的および時間的に非常に近接して起こる。これは、サン
プルが異なる時間にまたは異なる場所でテストされれば起こり得る多くの変動を
排除するための基礎となる。これは、可搬型鑑定装置の使用によってのみ達成可
能である。
との両者の検出は、空間的および時間的に非常に近接して起こる。これは、サン
プルが異なる時間にまたは異なる場所でテストされれば起こり得る多くの変動を
排除するための基礎となる。これは、可搬型鑑定装置の使用によってのみ達成可
能である。
【００４６】 複数のサンプル読取が特定のサンプル上で行なわれるようにサンプリング速度
を変更してもよいことも認められたい。好ましい実施例では、約１０，０００の
読取が行なわれる。したがって、サンプル特徴を提供する際に高い信頼度が得ら
れる。さらに、フィンガープリントは、所与の製品に対する許容可能なフィンガ
ープリントの範囲を含んでもよいことを認められたい。こうして、品質保証をも
たらすことができる。
を変更してもよいことも認められたい。好ましい実施例では、約１０，０００の
読取が行なわれる。したがって、サンプル特徴を提供する際に高い信頼度が得ら
れる。さらに、フィンガープリントは、所与の製品に対する許容可能なフィンガ
ープリントの範囲を含んでもよいことを認められたい。こうして、品質保証をも
たらすことができる。
【００４７】 この発明の代替的な実施例である図４を参照すると、ベースユニット２２は、
データケーブル７２を介して、たとえばモデム６４を通してホストコンピュータ
７０と通信する。この開示を鑑みると、直接データリンク、衛星伝送、同軸ケー
ブル伝送、光ファイバ伝送またはセルラーもしくはデジタル通信などの他の通信
リンクを用いてもよいことが当業者には当然認められるであろう。通信リンクは
直通回線であってもまたはインターネットを通してであってもよい。ホストコン
ピュータ７０は、複数のフィンガープリントを記憶するデータベース７４とも通
信する。この実施例では、テストサンプルが本物でないと判定されると、ベース
ユニット２２はホストコンピュータ７０と通信して、テストされたサンプルの実
態を判定する。すなわち、鑑定すべきサンプルが、フィンガープリントと比較し
て本物でないと判明したと仮定すると、ベースユニットはホストコンピュータと
通信し、複数の記憶されたフィンガープリントに基づいてサンプル特徴を識別す
る。データベースに記憶されたフィンガープリントは、現場でテストされた本物
のサンプルのフィンガープリントと同じであることもまたは同じでないこともあ
る。
データケーブル７２を介して、たとえばモデム６４を通してホストコンピュータ
７０と通信する。この開示を鑑みると、直接データリンク、衛星伝送、同軸ケー
ブル伝送、光ファイバ伝送またはセルラーもしくはデジタル通信などの他の通信
リンクを用いてもよいことが当業者には当然認められるであろう。通信リンクは
直通回線であってもまたはインターネットを通してであってもよい。ホストコン
ピュータ７０は、複数のフィンガープリントを記憶するデータベース７４とも通
信する。この実施例では、テストサンプルが本物でないと判定されると、ベース
ユニット２２はホストコンピュータ７０と通信して、テストされたサンプルの実
態を判定する。すなわち、鑑定すべきサンプルが、フィンガープリントと比較し
て本物でないと判明したと仮定すると、ベースユニットはホストコンピュータと
通信し、複数の記憶されたフィンガープリントに基づいてサンプル特徴を識別す
る。データベースに記憶されたフィンガープリントは、現場でテストされた本物
のサンプルのフィンガープリントと同じであることもまたは同じでないこともあ
る。
【００４８】 図５を参照すると、この発明の代替的な実施例が示される。この例では、ベー
スユニットはラップトップコンピュータ８０または、デスクトップコンピュータ
もしくはワークステーションなどの同様の装置である。プローブアセンブリ２４
′はラップトップコンピュータ８０に直接的に結合される。この例では、コンピ
ュータ８０はプローブアセンブリ２４′から電気信号を受取るのに加え、電気信
号をプローブアセンブリ２４′に伝送し、所望によりホストコンピュータ７０と
通信したりまたはしなかったりする。図１を参照して上述された機能の各々をコ
ンピュータ８０にプログラムできるため、キーボード、マウスまたは他の入力装
置を用いてプローブアセンブリをコントロールできる。
スユニットはラップトップコンピュータ８０または、デスクトップコンピュータ
もしくはワークステーションなどの同様の装置である。プローブアセンブリ２４
′はラップトップコンピュータ８０に直接的に結合される。この例では、コンピ
ュータ８０はプローブアセンブリ２４′から電気信号を受取るのに加え、電気信
号をプローブアセンブリ２４′に伝送し、所望によりホストコンピュータ７０と
通信したりまたはしなかったりする。図１を参照して上述された機能の各々をコ
ンピュータ８０にプログラムできるため、キーボード、マウスまたは他の入力装
置を用いてプローブアセンブリをコントロールできる。
【００４９】 プローブアセンブリ２４′の断面図である図６に最もよく示されるように、プ
ローブアセンブリ２４′は、サンプルから発せられた光を電気信号に変換するた
めに、その中に配置された光検出器８２を含む。電気信号は好適なケーブル８４
を通ってラップトップコンピュータ８０に伝えられる。したがって、別々のベー
スユニットを有するよりはむしろ、テストはラップトップコンピュータ８０でコ
ントロールされる。さらに、前述のように、ラップトップコンピュータは、テス
ト中のサンプルが本物か否かを判定するためにそれ自体のデータベースを含んで
もよく、またはこれに代えて、モデムを介してホストコンピュータ７０と通信し
、フィンガープリントを求めてデータベース７４をスキャンしてもよい。
ローブアセンブリ２４′は、サンプルから発せられた光を電気信号に変換するた
めに、その中に配置された光検出器８２を含む。電気信号は好適なケーブル８４
を通ってラップトップコンピュータ８０に伝えられる。したがって、別々のベー
スユニットを有するよりはむしろ、テストはラップトップコンピュータ８０でコ
ントロールされる。さらに、前述のように、ラップトップコンピュータは、テス
ト中のサンプルが本物か否かを判定するためにそれ自体のデータベースを含んで
もよく、またはこれに代えて、モデムを介してホストコンピュータ７０と通信し
、フィンガープリントを求めてデータベース７４をスキャンしてもよい。
【００５０】 続いて図６を参照すると、プローブアセンブリは、前述の要素、特に発光ダイ
オード、光源フィルタ、第１のレンズ、プリズム、反射器、第２のレンズおよび
発光フィルタを含む。この特定の例では、光ファイバケーブル５６がプローブア
センブリ内に収容され、光を発光フィルタから光検出器８２へ伝える。しかしな
がら、所望により発光フィルタ５４にすぐ隣接して光検出器８２を位置決めして
もよい。さらに、この例では、図５および図６に示されたように、プローブアセ
ンブリは、サンプル混合物が置かれるキュベット８６（図５を参照）を受けるよ
うに適合される。キュベットは、中空にされた容器セクションを有する、典型的
には石英材料である。
オード、光源フィルタ、第１のレンズ、プリズム、反射器、第２のレンズおよび
発光フィルタを含む。この特定の例では、光ファイバケーブル５６がプローブア
センブリ内に収容され、光を発光フィルタから光検出器８２へ伝える。しかしな
がら、所望により発光フィルタ５４にすぐ隣接して光検出器８２を位置決めして
もよい。さらに、この例では、図５および図６に示されたように、プローブアセ
ンブリは、サンプル混合物が置かれるキュベット８６（図５を参照）を受けるよ
うに適合される。キュベットは、中空にされた容器セクションを有する、典型的
には石英材料である。
【００５１】 プローブアセンブリ２４′は、複数の発光ダイオードの１つを交換可能に受け
るように適合されたレセプタクル９０を含み得る本体８９を含む。同様に、プロ
ーブアセンブリは、複数の光源フィルタの１つだけでなく複数の発光フィルタの
１つをそれぞれ交換可能に受けるように適合された他のレセプタクル９２、９４
を含んでもよい。発光ダイオードは、サンプルに加えられる発光化合物に対応す
る光の波長を発しなければならないことを認められたい。したがって、求められ
る発光ダイオードのタイプは、サンプルとともに用いるために選択された発光化
合物に依存する。同様に、フィルタ（光源フィルタおよび発光フィルタ）は、選
択された特定の発光ダイオードに対応しなければならない。
るように適合されたレセプタクル９０を含み得る本体８９を含む。同様に、プロ
ーブアセンブリは、複数の光源フィルタの１つだけでなく複数の発光フィルタの
１つをそれぞれ交換可能に受けるように適合された他のレセプタクル９２、９４
を含んでもよい。発光ダイオードは、サンプルに加えられる発光化合物に対応す
る光の波長を発しなければならないことを認められたい。したがって、求められ
る発光ダイオードのタイプは、サンプルとともに用いるために選択された発光化
合物に依存する。同様に、フィルタ（光源フィルタおよび発光フィルタ）は、選
択された特定の発光ダイオードに対応しなければならない。
【００５２】 したがって、この発明の１つの特定の実施例では、図８に示されたように、サ
ンプルが本物かおよび／またはその品質を検出するためのキット１０８が提供さ
れる。キットは、プローブ本体８９を有する好適な持ち運びケース１１０の中に
パッケージされてもよいため、対応する光源フィルタ１１４および発光フィルタ
１１６それぞれとともに複数の発光ダイオード１１２が備えられる。さらに、取
り揃えた発光化合物１１８も備えることができる。表、データベース、スプレッ
ドシート、指示または他の情報源１２０が提供されて、テストされるサンプルに
従って、対応する発光ダイオード、フィルタおよび発光化合物を示してもよい。
ンプルが本物かおよび／またはその品質を検出するためのキット１０８が提供さ
れる。キットは、プローブ本体８９を有する好適な持ち運びケース１１０の中に
パッケージされてもよいため、対応する光源フィルタ１１４および発光フィルタ
１１６それぞれとともに複数の発光ダイオード１１２が備えられる。さらに、取
り揃えた発光化合物１１８も備えることができる。表、データベース、スプレッ
ドシート、指示または他の情報源１２０が提供されて、テストされるサンプルに
従って、対応する発光ダイオード、フィルタおよび発光化合物を示してもよい。
【００５３】 発光ダイオード、光源フィルタおよび発光フィルタはプローブアセンブリの中
で交換可能であるが、別個の構成要素（発光ダイオード、光源フィルタ、発光フ
ィルタ）を有するプローブアセンブリ全体が提供されてもよいことを認められた
い。したがって、異なる組合せの発光ダイオード、光源フィルタおよび発光フィ
ルタを有する複数の異なるプローブアセンブリを備えてもよい。
で交換可能であるが、別個の構成要素（発光ダイオード、光源フィルタ、発光フ
ィルタ）を有するプローブアセンブリ全体が提供されてもよいことを認められた
い。したがって、異なる組合せの発光ダイオード、光源フィルタおよび発光フィ
ルタを有する複数の異なるプローブアセンブリを備えてもよい。
【００５４】 図６を参照して説明されたプローブアセンブリはまた、本物のサンプルの存在
またはサンプルの品質を、キュベットなどのホルダを用いずに直接的に検出する
のに用いてもよい。この場合、プローブアセンブリの先端はサンプル混合物の直
接的に中に入れられる。さらに、連続的なプロセスでは、材料の流れがプローブ
アセンブリの開口を通って流れてもよく、そのため生産プロセスが行なわれてい
る間に鑑定または品質保証の判定を行なえる。しかしながら、この例では、プロ
ーブアセンブリの上流で発光化合物を加えなければならず、テストを経るサンプ
ルが分散しないように、比較的小さなバッチプロセスで行なわなければならない
。
またはサンプルの品質を、キュベットなどのホルダを用いずに直接的に検出する
のに用いてもよい。この場合、プローブアセンブリの先端はサンプル混合物の直
接的に中に入れられる。さらに、連続的なプロセスでは、材料の流れがプローブ
アセンブリの開口を通って流れてもよく、そのため生産プロセスが行なわれてい
る間に鑑定または品質保証の判定を行なえる。しかしながら、この例では、プロ
ーブアセンブリの上流で発光化合物を加えなければならず、テストを経るサンプ
ルが分散しないように、比較的小さなバッチプロセスで行なわなければならない
。
【００５５】 さらに、テストすべきサンプルは、たとえば液体または乾燥粉末材料のいずれ
かであってもよいことを認められたい。
かであってもよいことを認められたい。
【００５６】 図７に示されたようなさらに別の実施例では、ベースユニットは、パームパイ
ロット（PALM PILOT）（登録商標）または他のデータロガーなどの手持ちのマイ
クロプロセッサデバイス１００であり、これは、サンプル特徴を示す、光検出器
からの信号を受取る。プローブアセンブリ２４′はパームパイロット（登録商標
）と直接的に通信し、これは次に、たとえばモデムまたはインターネットアクセ
スなどのどのような好適な手段も介して、ホストコンピュータ７０およびデータ
ベース７２と通信してもよい。図５を参照して上述されたように、入力またはコ
ントロール機能の各々をパームパイロット（登録商標）の中にプログラムできる
ため、キーボード、「ペン」または他の入力装置を用いてプローブアセンブリを
コントロールしてもよい。プローブアセンブリによる検出のためにホルダの中に
サンプル混合物を提供するよりもむしろ、チップ上に発光化合物（または染料）
を形成してもよく、鑑定すべきサンプルをチップ上に置いてもよい。チップは、
少量のサンプルとともに、プローブアセンブリの中に置かれる。この発明に従う
有用なチップは、この発明の装置の中で用いてもまたは、据置の可搬型でない装
置の中で用いてもよい。チップは、小さいこと、発光化合物をほとんど必要とし
ないことおよび測定すべきサンプルをほとんど（たとえばマイクロドロップ）必
要としないという利点を有する。チップはまた、予め選択された濃度で予め選択
されたアレイに予め選択された染料を収納するのに用いることもできる。チップ
により、この発明に従う使用向けのそのような染料の運搬も非常に容易になる。
ロット（PALM PILOT）（登録商標）または他のデータロガーなどの手持ちのマイ
クロプロセッサデバイス１００であり、これは、サンプル特徴を示す、光検出器
からの信号を受取る。プローブアセンブリ２４′はパームパイロット（登録商標
）と直接的に通信し、これは次に、たとえばモデムまたはインターネットアクセ
スなどのどのような好適な手段も介して、ホストコンピュータ７０およびデータ
ベース７２と通信してもよい。図５を参照して上述されたように、入力またはコ
ントロール機能の各々をパームパイロット（登録商標）の中にプログラムできる
ため、キーボード、「ペン」または他の入力装置を用いてプローブアセンブリを
コントロールしてもよい。プローブアセンブリによる検出のためにホルダの中に
サンプル混合物を提供するよりもむしろ、チップ上に発光化合物（または染料）
を形成してもよく、鑑定すべきサンプルをチップ上に置いてもよい。チップは、
少量のサンプルとともに、プローブアセンブリの中に置かれる。この発明に従う
有用なチップは、この発明の装置の中で用いてもまたは、据置の可搬型でない装
置の中で用いてもよい。チップは、小さいこと、発光化合物をほとんど必要とし
ないことおよび測定すべきサンプルをほとんど（たとえばマイクロドロップ）必
要としないという利点を有する。チップはまた、予め選択された濃度で予め選択
されたアレイに予め選択された染料を収納するのに用いることもできる。チップ
により、この発明に従う使用向けのそのような染料の運搬も非常に容易になる。
【００５７】 図９を参照して説明された実施例では、各チップ２００は、好ましくは１ｃｍ
未満、５ｍｍ未満、およびさらには１ｍｍよりも小さい、非常に小さな寸法の実
質的に平らなものである。材料が、発光化合物と標準または測定すべきサンプル
との間の相互作用を変化させる発光と干渉しなければ、チップは、事実上どのよ
うな材料であることも可能な基板２１０から形成される。有用な材料の例は、ポ
リカーボネート、シリコンダイオード、金属、デルロンプラスチック（delron p
lastics）、ポリスチレンおよびポリエチレンである。発光化合物２１２は、共
有および非共有結合を含む、いずれの物理的／化学的手段によってもチップに付
着されてもよい。たとえば、染料が溶媒中に溶解され、次に予め選択された濃度
でチップの表面に塗布されてもよい。次に溶媒を蒸発させ、染料をチップの表面
に非共有に付着したままにする。溶媒が、チップの表面をエッチングする能力を
有することも可能であり、それによりチップの表面への染料の付着をよくする。
別の実施例では、染料をチップの表面に共有に付着することが可能である。いく
つかの発光化合物は、適切な状況下でチップの表面上の基と反応する基を有する
が、それらはチップ自体の反応基であるか、またはチップの表面に付着されたリ
ンカー分子であろう。材料の表面に繋ぐためのホモ二官能性およびヘテロ二官能
性リンカーは当業者には周知である。以下の例に説明されるように、たとえば、
チップに染料を付着するのにエステル結合を用いてもよい。標準と相互作用する
染料の部分から遠隔の染料の反応基を用いることは特に好ましく、それにより、
染料は、一旦チップに共有に付着されると、標準またはサンプルと適切に自由に
相互作用する。特に好ましい実施例では、チップはマイクロウェル２１４を有す
る。市販の、ある予め作製された材料にはそのようなマイクロウェルが設けられ
ている。この態様では、特定の染料を特定のマイクロウェルに閉じ込めることが
できる。チップには、チップに特定的な斑点またはマーキング２１６を設けるこ
ともでき、それによりチップは特定の染料を保持するものとして識別することが
できかつ、マーキングを参照してチップ上で染料を特定の場所に場所特定するこ
とができる。したがって、好ましい実施例では、チップは３つから９つの間の染
料を有し、各々の異なる染料はチップの表面上の単一のマイクロウェル内に位置
されかつ集中され、それに共有に付着される。染料は好ましくは、フルオレセイ
ンまたはボディパイ（Bodipy）などの最も高い蛍光のものである。染料は、予め
選択された材料の鑑定を可能にするため、予め選択された濃度のものである。
未満、５ｍｍ未満、およびさらには１ｍｍよりも小さい、非常に小さな寸法の実
質的に平らなものである。材料が、発光化合物と標準または測定すべきサンプル
との間の相互作用を変化させる発光と干渉しなければ、チップは、事実上どのよ
うな材料であることも可能な基板２１０から形成される。有用な材料の例は、ポ
リカーボネート、シリコンダイオード、金属、デルロンプラスチック（delron p
lastics）、ポリスチレンおよびポリエチレンである。発光化合物２１２は、共
有および非共有結合を含む、いずれの物理的／化学的手段によってもチップに付
着されてもよい。たとえば、染料が溶媒中に溶解され、次に予め選択された濃度
でチップの表面に塗布されてもよい。次に溶媒を蒸発させ、染料をチップの表面
に非共有に付着したままにする。溶媒が、チップの表面をエッチングする能力を
有することも可能であり、それによりチップの表面への染料の付着をよくする。
別の実施例では、染料をチップの表面に共有に付着することが可能である。いく
つかの発光化合物は、適切な状況下でチップの表面上の基と反応する基を有する
が、それらはチップ自体の反応基であるか、またはチップの表面に付着されたリ
ンカー分子であろう。材料の表面に繋ぐためのホモ二官能性およびヘテロ二官能
性リンカーは当業者には周知である。以下の例に説明されるように、たとえば、
チップに染料を付着するのにエステル結合を用いてもよい。標準と相互作用する
染料の部分から遠隔の染料の反応基を用いることは特に好ましく、それにより、
染料は、一旦チップに共有に付着されると、標準またはサンプルと適切に自由に
相互作用する。特に好ましい実施例では、チップはマイクロウェル２１４を有す
る。市販の、ある予め作製された材料にはそのようなマイクロウェルが設けられ
ている。この態様では、特定の染料を特定のマイクロウェルに閉じ込めることが
できる。チップには、チップに特定的な斑点またはマーキング２１６を設けるこ
ともでき、それによりチップは特定の染料を保持するものとして識別することが
できかつ、マーキングを参照してチップ上で染料を特定の場所に場所特定するこ
とができる。したがって、好ましい実施例では、チップは３つから９つの間の染
料を有し、各々の異なる染料はチップの表面上の単一のマイクロウェル内に位置
されかつ集中され、それに共有に付着される。染料は好ましくは、フルオレセイ
ンまたはボディパイ（Bodipy）などの最も高い蛍光のものである。染料は、予め
選択された材料の鑑定を可能にするため、予め選択された濃度のものである。
【００５８】 図８に示されたキット１０８は、複数の別個の基板２２０も収容してもよく、
基板の各々は、同一のセットの３つから９つの発光化合物を収容するかまたはそ
れを基板に付着される。このセットは、公知の標準と相互作用しかつ、１つの相
互作用の存在するところで少なくとも１つの波長の光で照射されるときに予め選
択されたパターンの発光を生じるように、選択される。指示１２０は、基板が、
公知の標準または公知の標準に対するサンプルの関連性が判定されるべきサンプ
ルとともに用いるためのものであることを示す。
基板の各々は、同一のセットの３つから９つの発光化合物を収容するかまたはそ
れを基板に付着される。このセットは、公知の標準と相互作用しかつ、１つの相
互作用の存在するところで少なくとも１つの波長の光で照射されるときに予め選
択されたパターンの発光を生じるように、選択される。指示１２０は、基板が、
公知の標準または公知の標準に対するサンプルの関連性が判定されるべきサンプ
ルとともに用いるためのものであることを示す。
【００５９】 マイクロチップを準備するには、ホウケイ酸ガラスウェハはまず酸で清浄され
、２倍の蒸留水で濯がれ（３回）、３−アミノプロピル−１−トリエトキシシラ
ン（シグマ（Sigma）社、ミズーリ州セントルイス）でシラン化され、次に２５
−８０℃で３−５時間加熱される。有機シランは、発光化合物を付着するために
、交差反応性のためのアミン官能基をもたらす。アミンは、チップ上で１０ｐｍ
ｏｌのアミン／ｃｍ2の密度でなければならない。
、２倍の蒸留水で濯がれ（３回）、３−アミノプロピル−１−トリエトキシシラ
ン（シグマ（Sigma）社、ミズーリ州セントルイス）でシラン化され、次に２５
−８０℃で３−５時間加熱される。有機シランは、発光化合物を付着するために
、交差反応性のためのアミン官能基をもたらす。アミンは、チップ上で１０ｐｍ
ｏｌのアミン／ｃｍ2の密度でなければならない。
【００６０】 発光化合物をマイクロチップ上に置くには、（モレキュラープローブズ（Mole
cular Probes）社、オレゴン州ユージーン）の６−カルボキシフルオレセイン、
スクシンイミジルエステル１０ｍｇが以下の手順で用いられた。ホウケイ酸チッ
プを緩衝液（０．１Ｍの重炭酸ナトリウム、ｐＨ８．３−９．０）で前処理する
。６−カルボキシフルオレセインをＤＭＳＯ（ジメチルスルホキシド）中１０ｍ
ｇ／ｍｌの希釈溶液に作る。１００ｕｌがホウケイ酸ガラスウェハの上に置かれ
、４℃で１−３時間の間、反応するようにセットされる。この反応は水飽和環境
で起こらなければならない。１００ｕｌの１．５Ｍヒドロシキルアミン、ｐＨ８
．５を加えることにより反応を止めてもよい。次にチップは、好ましくは３回、
５００ｕｌの蒸留水で洗浄され、未反応の発光化合物を取除く。
cular Probes）社、オレゴン州ユージーン）の６−カルボキシフルオレセイン、
スクシンイミジルエステル１０ｍｇが以下の手順で用いられた。ホウケイ酸チッ
プを緩衝液（０．１Ｍの重炭酸ナトリウム、ｐＨ８．３−９．０）で前処理する
。６−カルボキシフルオレセインをＤＭＳＯ（ジメチルスルホキシド）中１０ｍ
ｇ／ｍｌの希釈溶液に作る。１００ｕｌがホウケイ酸ガラスウェハの上に置かれ
、４℃で１−３時間の間、反応するようにセットされる。この反応は水飽和環境
で起こらなければならない。１００ｕｌの１．５Ｍヒドロシキルアミン、ｐＨ８
．５を加えることにより反応を止めてもよい。次にチップは、好ましくは３回、
５００ｕｌの蒸留水で洗浄され、未反応の発光化合物を取除く。
【００６１】 次に１滴または５００ｕｌの製品をマイクロチップに加える。チップをプロー
ブアセンブリの中に置き、製品がチップ上で乾燥しないうちに即時に読取る。
ブアセンブリの中に置き、製品がチップ上で乾燥しないうちに即時に読取る。
【００６２】 図１０の実施例に示されたように、プローブアセンブリ２４"は複数の光ファ
イバケーブル２３０を含んでもよい。チップ２００は開口６１の中に挿入される
。光ファイバケーブルは、対応するマイクロウェルの中の対応するサンプルから
発せられた光を受けるように配置される。
イバケーブル２３０を含んでもよい。チップ２００は開口６１の中に挿入される
。光ファイバケーブルは、対応するマイクロウェルの中の対応するサンプルから
発せられた光を受けるように配置される。
【００６３】 例１） 本物のギネスビールの検出 この例では、製品は、ギネス（Guinness）、ビーミッシュ（Beamish）および
マーフィーズスタウト（Murphy's Stout）である。製品は水で１／２０に希釈さ
れる。米国特許第５，７５３，５１１号に記載された製品識別の自動化システム
を用いて、発光化合物の組合せを識別する。ギネスについては、鑑定発光化合物
３３（ジメチルスルホキシドＤＭＳＯ中、ストック１０ｍＭ）が発光化合物１７
（ストック濃度はＤＭＳＯ中１０ｍＭである）と混合される。作用濃度は、３０
マイクロリットルの発光化合物３３および１０ｍｌの水の中に入れられた１０マ
イクロリットルの発光化合物１７である。次に３４０マイクロリットルの作用発
光化合物の濃縮を３，０００マイクロリットルの希釈された製品に加える。
マーフィーズスタウト（Murphy's Stout）である。製品は水で１／２０に希釈さ
れる。米国特許第５，７５３，５１１号に記載された製品識別の自動化システム
を用いて、発光化合物の組合せを識別する。ギネスについては、鑑定発光化合物
３３（ジメチルスルホキシドＤＭＳＯ中、ストック１０ｍＭ）が発光化合物１７
（ストック濃度はＤＭＳＯ中１０ｍＭである）と混合される。作用濃度は、３０
マイクロリットルの発光化合物３３および１０ｍｌの水の中に入れられた１０マ
イクロリットルの発光化合物１７である。次に３４０マイクロリットルの作用発
光化合物の濃縮を３，０００マイクロリットルの希釈された製品に加える。
【００６４】 製品／発光化合物混合物に対する最大励起および発光に一致させるために、発
光ダイオード波長およびフィルタをプローブアセンブリの中に配置することは容
易である。上述のように、他の製品は、各製品ごとに発光ダイオードおよびフィ
ルタを一致させる必要がある。この例については、最大励起は４９０ｎｍであり
、最大発光は５３０ｎｍである。
光ダイオード波長およびフィルタをプローブアセンブリの中に配置することは容
易である。上述のように、他の製品は、各製品ごとに発光ダイオードおよびフィ
ルタを一致させる必要がある。この例については、最大励起は４９０ｎｍであり
、最大発光は５３０ｎｍである。
【００６５】 次に装置は、（図１を参照して説明された例ではスイッチ２８ａまたは図５お
よび図７を参照して説明されたように他の好適なキーを押すことにより）周辺バ
ックグラウンド光に対して較正される。光検出器は、検出された迷光の量を読取
るだけである。
よび図７を参照して説明されたように他の好適なキーを押すことにより）周辺バ
ックグラウンド光に対して較正される。光検出器は、検出された迷光の量を読取
るだけである。
【００６６】 本物のサンプルに発光化合物（５００マイクロリットル）を加えたものがサン
プルホルダの中に入れられる。本物のサンプルの初期読取はテストを行なうまさ
にその場所で行なわれる。これは、異なる温度、光、または発光化合物の濃度に
関連する一切の不正確さを排除する。図１を参照して説明された例では、この読
取はスイッチ２８ｂを押すことにより行なわれる。また、光検出器は、サンプル
／発光化合物混合物からの蛍光の量を読取る。
プルホルダの中に入れられる。本物のサンプルの初期読取はテストを行なうまさ
にその場所で行なわれる。これは、異なる温度、光、または発光化合物の濃度に
関連する一切の不正確さを排除する。図１を参照して説明された例では、この読
取はスイッチ２８ｂを押すことにより行なわれる。また、光検出器は、サンプル
／発光化合物混合物からの蛍光の量を読取る。
【００６７】 疑わしいサンプルに発光化合物（５００マイクロリットル）を加えたものが清
浄なまたは異なるサンプルホルダの中に入れられる。読取は、本物のサンプルと
全く同じ態様で行なわれる。図１を参照して説明された例では、この読取はスイ
ッチ２８ｃを押すことによって行なわれる。ここでも、光検出器はサンプル／発
光化合物混合物からの蛍光の量を読取る。
浄なまたは異なるサンプルホルダの中に入れられる。読取は、本物のサンプルと
全く同じ態様で行なわれる。図１を参照して説明された例では、この読取はスイ
ッチ２８ｃを押すことによって行なわれる。ここでも、光検出器はサンプル／発
光化合物混合物からの蛍光の量を読取る。
【００６８】 次に疑わしいサンプルの蛍光の読取値を本物のサンプルの蛍光の読取値と比較
する。本物であるかは、以下のアルゴリズムを用いて判定される。すなわち、 範囲Ｃ＝［Ｆ１＋％Ｆ１niからＦ１−％Ｆ１nx］＋／−オメガ 式中、範囲Ｃは、＋または−オメガ（９９％の信頼基準の統計的測定値）分の本
物の製品の偏差を考慮した、テスト場所の本物の製品に対するフィルタ幅であり
、 ＋％Ｆ１niは、本物のサンプルの標準生産物に対して定められた最も高い蛍光の
値であり、 −％Ｆ１nxは、本物のサンプルの標準生産物に対して定められた最も低い蛍光の
値である。
する。本物であるかは、以下のアルゴリズムを用いて判定される。すなわち、 範囲Ｃ＝［Ｆ１＋％Ｆ１niからＦ１−％Ｆ１nx］＋／−オメガ 式中、範囲Ｃは、＋または−オメガ（９９％の信頼基準の統計的測定値）分の本
物の製品の偏差を考慮した、テスト場所の本物の製品に対するフィルタ幅であり
、 ＋％Ｆ１niは、本物のサンプルの標準生産物に対して定められた最も高い蛍光の
値であり、 −％Ｆ１nxは、本物のサンプルの標準生産物に対して定められた最も低い蛍光の
値である。
【００６９】 疑わしいサンプルが範囲Ｃの外にあれば、サンプルは本物ではないと判定され
る。図１の例のスイッチ２８ｄを押すことにより、この範囲の計算Ｃが行なわれ
、疑わしいサンプルをこの範囲と比較する。 可搬型鑑定装置読取値：サンプル シリアル番号 読取値 ギネス、ダブリン 21D8 G4 17:07 １４５ＲＦＵ ビーミッシュスタウト、コーク 28 3 8 20 13:10 １１８ＲＦＵ マーフィーズスタウト、コーク L8124C 826 23:31 １６５ＲＦＵ ギネスに対する範囲Ｃは＋／−２．００であり、 ＲＦＵは相対蛍光単位である。
る。図１の例のスイッチ２８ｄを押すことにより、この範囲の計算Ｃが行なわれ
、疑わしいサンプルをこの範囲と比較する。 可搬型鑑定装置読取値：サンプル シリアル番号 読取値 ギネス、ダブリン 21D8 G4 17:07 １４５ＲＦＵ ビーミッシュスタウト、コーク 28 3 8 20 13:10 １１８ＲＦＵ マーフィーズスタウト、コーク L8124C 826 23:31 １６５ＲＦＵ ギネスに対する範囲Ｃは＋／−２．００であり、 ＲＦＵは相対蛍光単位である。
【００７０】 例２） 本物のコカコーラの検出 ソフトドリンクの大手企業にとっては、その完成製品を作るのに本物の濃縮液
が用いられていることを証明するのは重要である。この例では、製品はコカコー
ラおよびＲＣコーラである。製品は水で１／２０に希釈される。米国特許第５，
７５３，５１１号に記載された製品識別の自動化システムを用いて、発光化合物
の組合せを識別する。コカコーラの鑑定には、発光化合物３３（ジメチルスルホ
キシドＤＭＳＯ中、ストック１０ｍＭ）である。作用濃度は、１０ｍｌの水の中
に入れられる４０マイクロリットルの発光化合物３３である。次に３００マイク
ロリットルの作用発光化合物３３濃縮を３，０００マイクロリットルの希釈され
た製品に加える。この例については、最大励起は４９０ｎｍであり、最大発光は
５３０ｎｍである。
が用いられていることを証明するのは重要である。この例では、製品はコカコー
ラおよびＲＣコーラである。製品は水で１／２０に希釈される。米国特許第５，
７５３，５１１号に記載された製品識別の自動化システムを用いて、発光化合物
の組合せを識別する。コカコーラの鑑定には、発光化合物３３（ジメチルスルホ
キシドＤＭＳＯ中、ストック１０ｍＭ）である。作用濃度は、１０ｍｌの水の中
に入れられる４０マイクロリットルの発光化合物３３である。次に３００マイク
ロリットルの作用発光化合物３３濃縮を３，０００マイクロリットルの希釈され
た製品に加える。この例については、最大励起は４９０ｎｍであり、最大発光は
５３０ｎｍである。
【００７１】 すべて例１に上述されたように、装置は次に較正され、本物のサンプル混合物
が読取られ、疑わしいサンプル混合物が読取られる。 可搬型鑑定装置読取値： サンプル シリアル番号 読取値 コカコーラクラシック Jul1499KHB 50710Oct157 ２９ＲＦＵ ＲＣコーラ ウスター、マサチューセッツ州 ５５ＲＦＵ コカコーラ、ナミビア ナミビア ６９ＲＦＵ ＲＣコーラ 中東 ７６ＲＦＵ コカコーラ、ラホール 中東 ５６ＲＦＵ 例３） 薬品の鑑定 たとえば、製薬会社にとっては、特許を侵害する化合物を検出することは望ま
しいであろう。さらに、特許を取得した製薬会社の低品質の複製品は重大な保健
医療上の問題の典型である。より高用量の化合物（２００ｍｇ用量）がカットさ
れるかまたは希釈されるのが１つの筋書きである。次に希釈されたカプセルが２
つまたはそれ以上のカプセルとして販売される。以下のプロトコルは、商取引、
税関チェックポイントおよび製造点で化合物を直接的にテストするため、この発
明に従って開発された。
が読取られ、疑わしいサンプル混合物が読取られる。 可搬型鑑定装置読取値： サンプル シリアル番号 読取値 コカコーラクラシック Jul1499KHB 50710Oct157 ２９ＲＦＵ ＲＣコーラ ウスター、マサチューセッツ州 ５５ＲＦＵ コカコーラ、ナミビア ナミビア ６９ＲＦＵ ＲＣコーラ 中東 ７６ＲＦＵ コカコーラ、ラホール 中東 ５６ＲＦＵ 例３） 薬品の鑑定 たとえば、製薬会社にとっては、特許を侵害する化合物を検出することは望ま
しいであろう。さらに、特許を取得した製薬会社の低品質の複製品は重大な保健
医療上の問題の典型である。より高用量の化合物（２００ｍｇ用量）がカットさ
れるかまたは希釈されるのが１つの筋書きである。次に希釈されたカプセルが２
つまたはそれ以上のカプセルとして販売される。以下のプロトコルは、商取引、
税関チェックポイントおよび製造点で化合物を直接的にテストするため、この発
明に従って開発された。
【００７２】 非ステロイド系抗炎症化合物は、２つの濃度、すなわち１００ｍｇおよび２０
０ｍｇのカプセルに調合される。カプセルはまず水で希釈され（５０ｍｌの水中
２．５ｇ）、次に可搬型シリンジフィルタ０．４５ｕＭのフィルタでろ過される
。この例では、製品の泡立ちを防ぐため、溶液にブタノールが加えられる（１９
ｍｌのサンプルに１ｍｌのブタノール）。
０ｍｇのカプセルに調合される。カプセルはまず水で希釈され（５０ｍｌの水中
２．５ｇ）、次に可搬型シリンジフィルタ０．４５ｕＭのフィルタでろ過される
。この例では、製品の泡立ちを防ぐため、溶液にブタノールが加えられる（１９
ｍｌのサンプルに１ｍｌのブタノール）。
【００７３】 米国特許第５，７５３，５１１号に記載された製品識別の自動化システムを用
いて、発光化合物の１つまたはその組合せを識別する。この例では、発光化合物
１６は、２８マイクロリットル／１０ｍｌの水の希釈度で用いられる。発光化合
物１６は、ｃａｔ♯Ｄ２３７５（モレキュラープローブズ社、オレゴン州ユージ
ーン）と等価である。発光化合物６３は、５０マイクロリットル／１０ｍｌの水
の希釈度で用いられる。発光化合物６３は、ｃａｔ♯Ｆ３２７２（シグマケミカ
ル（Sigma Chemical）社、ミズーリ州セントルイス）と等価である。
いて、発光化合物の１つまたはその組合せを識別する。この例では、発光化合物
１６は、２８マイクロリットル／１０ｍｌの水の希釈度で用いられる。発光化合
物１６は、ｃａｔ♯Ｄ２３７５（モレキュラープローブズ社、オレゴン州ユージ
ーン）と等価である。発光化合物６３は、５０マイクロリットル／１０ｍｌの水
の希釈度で用いられる。発光化合物６３は、ｃａｔ♯Ｆ３２７２（シグマケミカ
ル（Sigma Chemical）社、ミズーリ州セントルイス）と等価である。
【００７４】 ２００ｍｇのサンプルが本物のサンプルとしてテストされ、１００ｍｇのサン
プルが疑わしいサンプルとしてテストされる。 可搬型鑑定装置読取値：サンプル 化合物６３ 化合物１６ １． 200mg サンプルロット♯１ ２０．４７ＲＦＵ ３３．２８ＲＦＵ ２． 200mg サンプルロット♯２ ２０．８６ＲＦＵ ３２．６９ＲＦＵ ３． 200mg サンプルロット♯３ １９．９３ＲＦＵ ３２．２１ＲＦＵ ４． 100mg サンプルロット♯４ １４．２７ＲＦＵ ２９．００ＲＦＵ ５． 100mg サンプルロット♯５ １７．９８ＲＦＵ ３０．５６ＲＦＵ ６． 100mg サンプルロット♯６ １６．７３ＲＦＵ ３０．３８ＲＦＵ オメガ値 １．７８ １．６６ この発明を実行するための最良のモードを詳細に説明したが、この発明が関連
する技術分野の当業者には、添付の請求項によって規定されるような上述のもの
を含むさまざまな代替的な実施例が認められるであろう。
プルが疑わしいサンプルとしてテストされる。 可搬型鑑定装置読取値：サンプル 化合物６３ 化合物１６ １． 200mg サンプルロット♯１ ２０．４７ＲＦＵ ３３．２８ＲＦＵ ２． 200mg サンプルロット♯２ ２０．８６ＲＦＵ ３２．６９ＲＦＵ ３． 200mg サンプルロット♯３ １９．９３ＲＦＵ ３２．２１ＲＦＵ ４． 100mg サンプルロット♯４ １４．２７ＲＦＵ ２９．００ＲＦＵ ５． 100mg サンプルロット♯５ １７．９８ＲＦＵ ３０．５６ＲＦＵ ６． 100mg サンプルロット♯６ １６．７３ＲＦＵ ３０．３８ＲＦＵ オメガ値 １．７８ １．６６ この発明を実行するための最良のモードを詳細に説明したが、この発明が関連
する技術分野の当業者には、添付の請求項によって規定されるような上述のもの
を含むさまざまな代替的な実施例が認められるであろう。
【図１】 この発明に従う可搬型製品鑑定装置の１つの実施例を表わす概略
図である。
図である。
【図２】 図１の線２−２に沿ったプローブアセンブリの断面図である。
【図３】 図１の線３−３に沿ったコントローラの断面図である。
【図４】 可搬型製品鑑定装置の別の実施例を表わす概略図である。
【図５】 可搬型製品鑑定装置のさらに別の実施例を表わす概略図である。
【図６】 図５の線６−６に沿ったプローブアセンブリの断面図である。
【図７】 可搬型製品鑑定装置のさらに別の実施例を表わす概略図である。
【図８】 この発明に従う、製品が本物かを検出するためのキットを表わす
概略図である。
概略図である。
【図９】 この発明に従う、チップ上に発光化合物を有するチップを表わす
概略図である。
概略図である。
【図１０】 この発明に従うプローブアセンブリのさらに別の実施例を表わ
す概略図である。
す概略図である。
【手続補正書】特許協力条約第３４条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成１３年４月６日（２００１．４．６）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＴＺ，ＵＧ，ＺＷ )，ＥＡ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ， ＴＪ，ＴＭ)，ＡＥ，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ， ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，Ｃ Ｕ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ， ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，Ｌ Ｋ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ， ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，Ｔ Ｍ，ＴＲ，ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ ，ＺＷ (72)発明者 ビッグ，ラケシュ アメリカ合衆国、06422 コネティカット 州、ダラム、パーク・プレイス、15 (72)発明者 フィリップス，ジェイ・クリストファー アメリカ合衆国、02813 ロード・アイラ ンド州、チャールズタウン、サーフサイ ド・アベニュ、15 (72)発明者 ベーリンガー，フレッド アメリカ合衆国、06371 コネティカット 州、オールド・ライム、ストーンウッド・ ドライブ、11・エイ Ｆターム(参考） 2G043 AA01 AA04 BA14 CA03 DA02 EA01 EA02 GA07 GB07 GB21 HA01 HA02 HA05 JA03 LA01 MA11 NA01 NA06 NA11
Claims (68)
- 【請求項１】 可搬型製品鑑定装置であって、 ベースユニットと、 前記ベースユニットに結合されたプローブアセンブリとを含み、前記プローブ
アセンブリは、所定の波長の光で、鑑定すべきサンプルを照射するための光源を
有し、さらに 光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を
検出してサンプル特徴を提供するための光検出器と、 前記ベースユニット内に配置されかつ、前記サンプル特徴を受取りかつ前記サ
ンプル特徴をフィンガープリントと比較するために前記プローブアセンブリと通
信するコントローラとを含む、可搬型製品鑑定装置。 - 【請求項２】 前記光源は、動作するように発光ダイオードに接続された光
ファイバケーブルである、請求項１に記載の装置。 - 【請求項３】 前記光源は発光ダイオードである、請求項１に記載の装置。
- 【請求項４】 前記光検出器は前記プローブアセンブリ内に配置される、請
求項１に記載の装置。 - 【請求項５】 光ファイバケーブルは前記プローブアセンブリ内に配置され
かつ、サンプルが生成する発光を受取りかつ前記光検出器に伝送するために、動
作するように前記光検出器に接続される、請求項１に記載の装置。 - 【請求項６】 複数の光源の１つを交換可能に受けるためのレセプタクルを
さらに含み、各々の前記光源は、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて所望の波
長の光を発するように選択される、請求項１に記載の装置。 - 【請求項７】 前記プローブアセンブリは、光の照射波長に応答してサンプ
ルが生成する光の前記少なくとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィ
ルタするための発光フィルタを含む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項８】 前記プローブアセンブリは、複数の発光フィルタの１つを交
換可能に受けるように適合され、各々の前記発光フィルタは、鑑定すべき所望の
サンプルに基づいて光の不所望の波長をフィルタするように選択される、請求項
７に記載の装置。 - 【請求項９】 前記プローブアセンブリは、前記光源から生成された光の不
所望の波長をフィルタするための光源フィルタを含む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１０】 複数の光源フィルタの１つを交換可能に受けるためのレセ
プタクルをさらに含み、各々の前記光源フィルタは、選択された光源に基づいて
光の不所望の波長をフィルタするように選択される、請求項９に記載の装置。 - 【請求項１１】 前記光検出器は、サンプルが生成する光の前記少なくとも
１つの発光波長の量を検出する、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１２】 前記光検出器は、サンプルが生成する光の前記少なくとも
１つの発光波長の経時的な量の変化を検出する、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１３】 前記コントローラは前記プローブアセンブリから遠隔な場
所に設けられる、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１４】 前記コントローラは、記憶されたフィンガープリントのデ
ータベースを含む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１５】 前記光検出器は、本物のサンプルの特徴を検出して前記フ
ィンガープリントを提供する、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１６】 前記光検出器は、鑑定すべき単一のサンプルに対して複数
の検出を行なう、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１７】 前記サンプルを受けるように適合されたホルダをさらに含
む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１８】 前記プローブアセンブリは、前記光源から前記サンプルに
向けて発せられた光を反射するための反射器を含む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１９】 前記フィンガープリントは、許容可能なフィンガープリン
トの範囲を含む、請求項１に記載の装置。 - 【請求項２０】 鑑定すべきサンプルの特徴を検出するための手持ちプロー
ブアセンブリであって、 プローブ本体と、 所定の波長の光でサンプルを照射するために前記本体の中に配置される光源と
、 光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を
検出してサンプル特徴を提供するために前記本体の中に配置される光検出器とを
含む、プローブアセンブリ。 - 【請求項２１】 前記光源は発光ダイオードである、請求項１９に記載のプ
ローブアセンブリ。 - 【請求項２２】 複数の発光ダイオードの１つを交換可能に受けるために前
記本体の中に形成される発光ダイオードレセプタクルをさらに含み、各々の前記
発光ダイオードは、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて所望の波長の光を発す
るように選択される、請求項２０に記載のプローブアセンブリ。 - 【請求項２３】 光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の前記少な
くとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするために前記本体の
中に配置される発光フィルタをさらに含む、請求項２０に記載のプローブアセン
ブリ。 - 【請求項２４】 複数の発光フィルタの１つを交換可能に受けるために前記
本体の中に形成される発光フィルタレセプタクルをさらに含み、各々の前記発光
フィルタは、鑑定すべき所望のサンプルに基づいて光の不所望の波長をフィルタ
するように選択される、請求項２３に記載のプローブアセンブリ。 - 【請求項２５】 前記光源から生成される光の不所望の波長をフィルタする
ために前記本体の中に配置される光源フィルタをさらに含む、請求項２０に記載
のプローブアセンブリ。 - 【請求項２６】 複数の光源フィルタの１つを交換可能に受けるために前記
本体の中に形成された光源フィルタレセプタクルをさらに含み、各々の前記光源
フィルタは、選択された光源に基づいて光の不所望の波長をフィルタするように
選択される、請求項２５に記載のプローブアセンブリ。 - 【請求項２７】 前記プローブ本体は、前記サンプルを保持するホルダを受
けるように適合されたレセプタクルを含む、請求項２０に記載のプローブアセン
ブリ。 - 【請求項２８】 前記光源から前記サンプルに向けて発せられた光を反射す
るために前記本体の中に配置される反射器をさらに含む、請求項２０に記載のプ
ローブアセンブリ。 - 【請求項２９】 鑑定すべきサンプルの特徴を検出するためのキットであっ
て、 少なくとも１つのレセプタクルを有するプローブ本体と、 所定の波長の光でサンプルを照射するための少なくとも１つの発光ダイオード
とを含み、各々は前記少なくとも１つのレセプタクルへの挿入に適合される、キ
ット。 - 【請求項３０】 前記発光ダイオードから生成される光の不所望の波長をフ
ィルタするための少なくとも１つの光源フィルタをさらに含み、前記少なくとも
１つのレセプタクルは複数のレセプタクルを有し、各光源フィルタは前記レセプ
タクルの１つへの挿入に適合される、請求項２９に記載のキット。 - 【請求項３１】 光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の前記少な
くとも１つの発光波長からの光の不所望の波長をフィルタするための少なくとも
１つの発光フィルタをさらに含み、前記少なくとも１つのレセプタクルは複数の
レセプタクルを有し、各発光フィルタは前記レセプタクルの１つへの挿入に適合
される、請求項２９に記載のキット。 - 【請求項３２】 少なくとも１つの発光化合物をさらに含み、各々は鑑定す
べき選択されたサンプルとの反応に適合される、請求項２９に記載のキット。 - 【請求項３３】 前記プローブ本体への挿入に適合されたホルダをさらに含
み、前記ホルダは前記発光化合物および前記サンプルの保持に適合される、請求
項２９に記載のキット。 - 【請求項３４】 前記少なくとも１つの発光ダイオードの１つは、発せられ
るべき光の所望の波長に基づいて選択され、前記所望の波長は、鑑定すべき所望
のサンプルに基づく、請求項２９に記載のキット。 - 【請求項３５】 前記プローブ本体は、光の照射波長に応答してサンプルが
生成する光の少なくとも１つの発光波長を検出するための光検出器を含む、請求
項２９に記載のキット。 - 【請求項３６】 前記プローブ本体は、前記光源から前記サンプルに向けて
発せられた光を反射するための反射器を含む、請求項２９に記載のキット。 - 【請求項３７】 持ち運びケースをさらに含む、請求項２９に記載のキット
。 - 【請求項３８】 可搬型鑑定装置を用いて、鑑定すべきサンプルの特徴を検
出するための方法であって、装置は、所定の波長の光で、鑑定すべきサンプルを
照射するための光源と、光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なく
とも１つの発光波長を検出してサンプル特徴を提供するための光検出器とを有す
るプローブアセンブリを有し、前記方法は、 前記光検出器でバックグラウンド光を検出するステップと、 本物の製品サンプルに発光化合物を加えて本物のサンプル混合物を形成するス
テップと、 本物のサンプル混合物を光の照射波長で照射するステップと、 フィンガープリントを提供するため、光の照射波長に応答して本物のサンプル
混合物が生成する光の特徴を検出するステップと、 テスト製品サンプルに発光化合物を加えてテストサンプル混合物を形成するス
テップと、 テストサンプル混合物を光の照射波長で照射するステップと、 テストサンプル特徴を提供するため、光の照射波長に応答してテストサンプル
混合物が生成する光の特徴を検出するステップと、 テストサンプルが本物か否かを判定するため、前記テストサンプル特徴を前記
フィンガープリントと比較するステップとを含む、方法。 - 【請求項３９】 前記本物のサンプル混合物と前記テストサンプル混合物と
の両者に対する前記照射のステップおよび前記検出のステップは、空間的および
時間的に非常に近接して起こる、請求項３８に記載の方法。 - 【請求項４０】 前記テストサンプルが本物ではないときに、リモートコン
ピュータと通信するステップと、記憶された特徴を読出してテストサンプルの実
態を判定するステップとをさらに含む、請求項３８に記載の方法。 - 【請求項４１】 フィンガープリントを提供するための検出の前記ステップ
は、本物のサンプル混合物が生成する光の量および経時的な量の変化のうち少な
くとも１つを検出するステップを含む、請求項３８に記載の方法。 - 【請求項４２】 テストサンプル特徴を提供するための検出の前記ステップ
は、テストサンプル混合物が生成する光の量および経時的な量の変化のうち少な
くとも１つを検出するステップを含む、請求項３８に記載の方法。 - 【請求項４３】 比較する前記ステップは、複数のフィンガープリントのデ
ータベースを有するコントローラと通信するステップをさらに含む、請求項３８
に記載の方法。 - 【請求項４４】 通信する前記ステップは、前記比較に基づく、テストサン
プルが本物でないという判定の後に起こり、通信する前記ステップは、前記テス
トサンプル特徴をフィンガープリントの前記データベースと比較するステップを
含む、請求項４０に記載の方法。 - 【請求項４５】 前記本物のサンプルおよび前記テストサンプルの１つに対
して複数の検出を行なうステップをさらに含む、請求項３８に記載の方法。 - 【請求項４６】 チップであって、 基板と、 発光化合物が相互作用相手と相互作用するような態様で基板の表面に付着され
る複数の異なる発光化合物とを含み、そのような相互作用は、前記相互作用のな
い発光化合物からの発光に対する発光化合物からの発光を変更し、 異なる発光化合物の各々は、他のすべての異なる発光化合物の付着とは別個の
場所に付着され、 基板は、前記相互作用のあるところおよび前記相互作用のないところで、発光
化合物からの発光との干渉とは無縁である、チップ。 - 【請求項４７】 複数は、３つの異なる発光化合物、４つの異なる発光化合
物、５つの異なる発光化合物、６つの異なる発光化合物、７つの異なる発光化合
物、８つの異なる発光化合物および９つの異なる発光化合物からなる群から選択
される、請求項４６に記載のチップ。 - 【請求項４８】 発光化合物は染料である、請求項４７に記載のチップ。
- 【請求項４９】 チップは複数のマイクロウェルを規定し、異なる発光化合
物の各々の付着の別個の場所はマイクロウェル内にある、請求項４７に記載のチ
ップ。 - 【請求項５０】 チップ上の異なる発光化合物の各々の位置を特定するため
の、チップ上の１つまたはそれ以上のマーキングをさらに含む、請求項４７に記
載のチップ。 - 【請求項５１】 チップの異なる発光化合物の各々の位置を特定するための
、チップ上の１つまたはそれ以上のマーキングをさらに含む、請求項４９に記載
のチップ。 - 【請求項５２】 どの異なる発光化合物がチップ上にあるかを識別するため
の、チップ上の１つまたはそれ以上のマーキングをさらに含む、請求項４７に記
載のチップ。 - 【請求項５３】 発光化合物は基板に共有に付着される、請求項４７に記載
のチップ。 - 【請求項５４】 チップ上の異なる発光化合物は、公知の標準と相互作用し
かつ、表面が公知の標準の公知の標準特徴と接触するときに予め選択されたパタ
ーンの発光を発生するように、予め選択されかつ予め選択された濃度である、請
求項４６に記載のチップ。 - 【請求項５５】 公知の標準に特定のものとしてチップを識別する、チップ
上のマーキングをさらに含む、請求項５４に記載のチップ。 - 【請求項５６】 標準に対するサンプルの関連性を判定するための方法であ
って、 請求項４６、４７、４８、４９、５０、５１、５２、５３、５４および５５の
チップからなる群から選択されるチップの表面に塗布されるサンプルを含むサン
プル混合物を提供するステップと、 光の複数の照射波長でサンプル混合物を照射するステップと、 光の少なくとも１つの発光波長をモニタしてサンプル発光プロファイルを確立
するステップと、 標準混合物の標準フィンガープリント特徴を提供するステップとを含み、標準
混合物は照射波長で、それに応答する少なくとも１つの発光波長をモニタし、さ
らに サンプル発光プロファイルを標準フィンガープリントと比較してサンプルと標
準との関連性を判定するステップを含む、方法。 - 【請求項５７】 サンプルはマイクロドロップとしてチップの表面に塗布さ
れる、請求項５６に記載の方法。 - 【請求項５８】 チップは発光化合物を収容するマイクロウェルを含み、サ
ンプルはマイクロドロップとしてチップの表面に塗布され、方法は、マイクロド
ロップがチップの表面にわたり広がってマイクロウェルを占めるのを許すステッ
プをさらに含む、請求項５６に記載の方法。 - 【請求項５９】 キットであって、 複数の別個の基板を収容するパッケージを含み、基板の各々は、同一のセット
の３つから９つの発光化合物を収容するかまたはそれを基板に付着し、このセッ
トは、公知の標準と相互作用しかつ、そのような相互作用の圧力により、光の少
なくとも１つの波長で照射されるときに予め選択されたパターンの発光を発生す
るように選択され、さらに 基板が、公知の標準に対するサンプルの関連性が判定されるべきサンプルまた
は公知の標準とともに用いるためのものであることを示す、パッケージ中の指示
を含む、キット。 - 【請求項６０】 基板は、請求項１の可搬型製品鑑定装置とともに用いるた
めに作られかつ配置される、請求項５９に記載のキット。 - 【請求項６１】 鑑定すべきサンプルの特徴を検出するためのプローブアセ
ンブリであって、 手持ちプローブ本体と、 所定の波長の光でサンプルを照射するために前記本体の中に配置される光源と
、 前記本体の中に配置されかつ少なくとも１つの光検出器と通信する複数の光フ
ァイバケーブルとを含み、前記光ファイバケーブルは、チップ上に置かれた対応
するサンプルから発せられた光を受けるように適合されかつ配置される、プロー
ブアセンブリ。 - 【請求項６２】 前記ホルダは、容器およびチップのうち１つを含む、請求
項１７に記載の装置。 - 【請求項６３】 前記プローブアセンブリは、前記ホルダを受けるように適
合されたレセプタクルをさらに含む、請求項１７に記載の装置。 - 【請求項６４】 サンプル製品を鑑定するための可搬型製品鑑定装置であっ
て、この装置は、 ベースユニットと、 鑑定すべきサンプルの特徴を検出するためのプローブアセンブリとを含み、前
記プローブアセンブリは前記ベースユニット内に収容され、前記プローブアセン
ブリは、 所定の波長の光でサンプルを照射するための光源と、 光の照射波長に応答してサンプルが生成する光の少なくとも１つの発光波長を
検出してサンプル特徴を提供するための光検出器とを含み、さらに前記装置は、 前記ベースユニット内に収容されかつ、前記サンプル特徴を受取りかつ前記サ
ンプル特徴をフィンガープリントと比較するために前記プローブアセンブリと通
信するコントローラを含む、装置。 - 【請求項６５】 サンプルを受けるように適合されたホルダをさらに含む、
請求項６４に記載の装置。 - 【請求項６６】 前記ホルダはチップを含む、請求項６５に記載の装置。
- 【請求項６７】 前記プローブアセンブリは、前記ホルダを受けるように適
合されたレセプタクルをさらに含む、請求項６５に記載の装置。 - 【請求項６８】 前記コントローラは、前記チップ上で複数のサンプル読取
を行なう、請求項６６に記載の装置。
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