CN1317741C - 半导体处理装置用电加热器 - Google Patents

半导体处理装置用电加热器 Download PDF

Info

Publication number
CN1317741C
CN1317741C CNB028281403A CN02828140A CN1317741C CN 1317741 C CN1317741 C CN 1317741C CN B028281403 A CNB028281403 A CN B028281403A CN 02828140 A CN02828140 A CN 02828140A CN 1317741 C CN1317741 C CN 1317741C
Authority
CN
China
Prior art keywords
heater
processing device
electric heater
semiconductor processing
metal resistance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB028281403A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1620714A (zh
Inventor
上森进
蓝谷隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JTEKT Thermo Systems Corp
Original Assignee
Koyo Thermo Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koyo Thermo Systems Co Ltd filed Critical Koyo Thermo Systems Co Ltd
Publication of CN1620714A publication Critical patent/CN1620714A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1317741C publication Critical patent/CN1317741C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Resistance Heating (AREA)

Abstract

本发明的半导体处理装置用电加热器,其由多个区域构成,这些区域中的被放置高载荷的至少1个区域(例如:底区)的发热体为由二硅化钼制成的非金属电阻发热体,其余区域(例如:中间区和顶区)的发热体为由构成细直径过弯曲形状的金属电阻发热体。

Description

半导体处理装置用电加热器
技术领域
本发明涉及适用于对半导体晶片进行氧化、扩散、CVD等的热处理的装置的电加热器。
背景技术
以往,作为半导体晶片的批量式热处理装置用的电加热器,采用了金属电阻发热体(参见日本特开2001-267261号公报)或采用非金属电阻发热体(参见日本专利第3307924号公报),这是众所周知的。
在日本特开2001-267261号公报中所记载的发明中,作为金属线使用铁·铬·铝系的材料制成的直径为1~3mm左右的被称之为细直径的康塔尔(商品名)线或同类材料。此外,还使用了采用线的直径为7~10mm左右被称之为粗直径的康塔尔电阻丝或同类材料的加热器。在使用以这些线材中的任一种康塔尔电阻丝或同类物作为发热体使用的加热器的场合,有时在加热器的温度达到1200℃时,发热体的温度最高可达1250~1300℃,由于发热体的温度超过1200℃时会发生蠕变而易造成损伤,因此,将使用该发热体的热处理装置的设定温度限制≤1200℃。此外,加热器的端区之一,例如在竖式炉的底区,由于有处理物的投入和取出或具有驱动部而造成隔热状态的恶化,因此,会出现容易造成载荷的增加、从而引起金属电阻发热体的变形或断线等的问题。
因此,通过采用日本专利第3307924号公报所记载的非金属电阻发热体,被认为能在比采用金属电阻发热体的加热器更高的温度下使用,但非金属电阻发热体价格高且脆而容易破损,因此,存在不仅初期成本高而且破损时的修理费用也高的问题。
发明内容
鉴于上述实际情况,本发明的目的在于,提供一种价格便宜且能在高温下无故障地使用的半导体处理装置用电加热器。
采用本发明的半导体处理装置用电加热器,是一种由多个区域构成的筒状的半导体处理装置用电加热器,其特征为,多个区域中的被放置了高载荷的至少一个区域的发热体为非金属电阻发热体,而其余区域的发热体则为金属电阻发热体。
作为金属电阻发热体,可用金属中的耐高温的材料即康塔尔电阻丝(康塔尔Al电阻丝、康塔尔APM电阻丝等)以及其替代品,特别是,最好选用康塔尔APM电阻丝及其替代品。作为金属电阻发热体的形状,可将细线弯曲加工成波浪形的(细直径过弯曲)或将粗线加工成螺旋线圈状的(粗直径螺旋线圈),由于金属电阻发热体具有重量轻且能快速升温降温的优点,因此,采用细直径的更好。此外,如上所述,细直径与粗直径不同的是,除了线重量轻(省资源性)外,还有节能性和热响应性好的优点,最好能根据所使用的加热器的处理装置的直径和加热器电源的直径等分别选用二者。
作为非金属电阻发热体,可用二硅化钼(MoSi2)、石墨、碳化硅等陶瓷等材料,从在大气中难以老化方面考虑,特别是最好选用二硅化钼。在选用石墨或碳化硅作为非金属电阻发热体的场合,最好将发热体收纳在真空的发热体收纳部中。相对于作为铁·铬·铝系的金属线的康塔尔电阻丝的2~3.5W/cm2,二硅化钼的最大表面载荷为20W/cm2,若使用二硅化钼,能得到发热量最大是金属线束10倍的强力加热能力。二硅化钼能在到1800℃为止的高温领域中使用,而且,具有由于没有老化现象,从而不必担心由于老化而影响寿命的优点。
在此,多个区域例如在竖式炉中可由底区、中间区和顶区构成,在载荷大小依次按例如:底区、顶区和中间区的顺序由大变小的场合,底区由非金属电阻发热体构成,中间区和顶区由金属电阻发热体构成。在该场合下,典型的是中间区和顶区各自独立地控制。中间区可由1个或多个区域构成,区域的总数为≥3的任意值。
若采用本发明的半导体处理装置用电加热器,由于多区域中的被放置了高载荷的至少1个发热体由非金属电阻发热体构成,因此,无须担心在被放置了高载荷的区中会因过热导致发热体破损,从而即使在高温下也能无故障地使用,由于其余区域的发热体是由金属电阻发热体构成的,因此,能降低成本,还能减少由冲击而造成破损的可能性。这样,与全部区域的发热体皆为非金属电阻发热体的电加热器相比,能够获得在耐热温度方面毫不逊色而且价格低、使用可靠性、适用性优越的电加热器。该电加热器能很好地适用于CMOS处理和SOI处理等的高温处理。
通常,承受高载荷的区域多是设有从外部导入大量的加热容量、或向外部散失大量的热量的开口的单侧或双侧的端区,通过将该区域作成非金属电阻发热体,可容易进行半导体处理时的温度控制。
各区域由发热体和保持该发热体的隔热体组成的1个或多个块构成,而且最好能以块为单位进行更换。在多个区域是由底区、中间区和顶区构成的竖式炉的场合中,底区相当于单侧的端区。例如:底区有时是将1对半圆筒体块对接而形成的,中间区和顶区有时是将1对半圆筒体块对而形成的。关于底区,也可以仅由1个圆筒体块形成,此外,关于中间区和顶区,也可以由1个圆筒体块形成。如果采用这样的构成,在任何场所发热体发生故障的时候,在物理上能只更换出故障的块,此外,在情况允许的场合,能够继续使用隔热体而仅更换发热体,从而能以最小的附加成本进行电加热器的修理。
附图说明
图1是表示使用了本发明的电加热器的半导体处理装置之一例的垂直剖视图。
图2是表示本发明的半导体处理装置用电加热器的块构成之一例的立体图。
图3是沿图2中的III-III线的组装后的加热器的剖视图。
图4是沿图2中的IV-IV线的组装后的加热器的剖视图。
图5是从采用本发明的半导体处理装置用电加热器的内侧观看的展开图。
图6是表示本发明的半导体处理装置用电加热器的变形例(不同分割方式)的立体图。
具体实施方式
以下,参照附图说明本发明的实施例。
图1是表示作为采用本发明的电加热器的半导体处理装置之一例的竖式扩散炉,竖式扩散炉由:用来对半导体晶片进行处理的管式处理舱1、设在管式处理舱1外周的电加热器、载置在保温筒4上且可搭载多片半导体晶片的托盘架3、以及支承保温筒4并可上下移动、处理时将管式处理舱1的下端的托盘架插入孔闭锁的法兰式舱底盖5等构成。
电加热器2被划分为作为端区的底区2a、由2个区域构成的中间区2b、2c和顶区2d的4个控制区,并由具有非金属电阻发热体12且构成底区2a的非金属电阻发热体使用部6、以及具有金属电阻发热体22且构成其余区域2个中间区2b 2c和顶区2d的金属电阻发热体使用部7构成。
如图2所示,在第1实施例的电加热器2中,非金属电阻发热体使用部6是通过将1对半圆筒体块6a、6b对接而形成的,金属电阻发热体使用部7是通过将1对半圆筒体块7a7b对接而形成的。
如图3和图5所详示那样,电加热器2的非金属电阻发热体使用部6具有陶瓷纤维制的圆筒状主隔热体11、安装在主隔热体11内周面上的非金属电阻发热体元件12、隔着具有挠性的缓冲用的陶瓷纤维制的垫15覆盖在主隔热体11的外周面上的层状的内隔热材料13和外隔热材料14、以及覆盖在外隔热材料14的外周面上的金属壳体16。
非金属电阻发热体元件12由二硅化钼制成,并形成为波浪形、且支承在主隔热体11内周面上。二硅化钼的非金属电阻发热体元件12具有即使在高温下也能以大的表面电载荷密度使用的优点,因此,虽然底区2a比其他区域2b、2c、2d难以升温,但是,各区域2a、2b、2c、2d将在短时间内升温到规定的温度升温。
非金属电阻发热体使用部6的各半圆筒体块6a、6b各有1对加热器端子12a、12b,能仅更换任何一方的半圆筒体的块6a、6b。
如图4和图5所详示那样,电加热器2的金属电阻发热体使用部7具有陶瓷纤维制的圆筒型主隔热体21、装在主隔热体21内周面上的金属电阻发热体元件22、隔着在主隔热体21的外周面上的具有挠性的缓冲用的陶瓷纤维制的垫25覆盖在主隔热体21的外周面上的层状的内隔热材料23和外隔热材料24、以及覆盖在外隔热材料14的外周面上的金属壳体26。在金属电阻发热体使用部7的主隔热体21的内周面上,在主隔热体21的长度方向上延伸且在周方向上隔开间隔地形成多个并列状的槽27。
金属电阻发热体元件22为由铁·铬·铝系由以Fe为主成分,其他成分典型的有Cr 22%、Al 15.8%构成的金属线(康塔尔电阻丝)构成的、线的直径为1~3mm左右的被称之为细直径的电阻丝。金属电阻发热体元件22形成为波浪形,其正振幅比槽27的宽度大。此外,金属电阻发热体元件22的宽度方向两侧部分自槽27的两侧面进入主隔热体21内,从而金属电阻发热体元件22支持在主隔热体21上并与其构成一体。
金属电阻发热体使用部7的各半圆筒体的块7a、7b,在各自的中间区2b、2c和顶区2d上各有1对加热器端子22a、22b,从而可以只更换任何一方的半圆筒体块7a、7b。
如果采用上述电加热器2,由于非金属电阻发热体使用部6和金属电阻发热体使用部7具有不同的构成,因此,在因非金属电阻发热体使用部6受到冲击而产生破损或因金属电阻发热体使用部7的寿命而发生断线等故障发生的场合,能够仅更换非金属电阻发热体使用部6或金属电阻发热体使用部7。此外,由于非金属电阻发热体使用部6和金属电阻发热体使用部7是分别将1对半圆筒体块6a、6b、7a、7b对接而形成的,因此,能够仅更换出故障的半圆筒体块6a、6b、7a、7b,从而能实现容易而廉价的修理。
在上述举例中,由于非金属电阻发热体使用部6和金属电阻发热体使用部7是分别将1对半圆筒体块6a、6b、7a、7b对接而形成的,但能形成除此之外的各种分割形态,其例子如图6所示。
在图6a所示的电加热器2中,非金属电阻发热体使用部6和金属电阻发热体使用部7分别是由1个圆筒体块6c、7c形成的。在图6b所示的电加热器2中,是将非金属电阻发热体使用部6和金属电阻发热体使用部7合在一起、并将1对半圆筒体块8、8对接而形成的。在图6c所示的电加热器2中,非金属电阻发热体使用部6是由1个圆筒体块6c形成的,金属电阻发热体使用部7通过将1对半圆筒体块7a、7b对接而形成的。在图6d所示的电加热器2中,非金属电阻发热体使用部6是将1对半圆筒体块6a、6b对接而形成的,金属电阻发热体使用部7是由1个圆筒体块7c形成的。再者,在图6中,从a至c中,金属电阻发热体元件22都是作为细直径过弯曲形态图示的,在d中,金属电阻发热体元件22则是作为粗直径螺旋型线圈形态图示的。
在上述实施方式中,对用于竖式炉中的电加热器2作了说明,但上述电加热器2也能用于卧式炉,这是不言而喻的。此外,采用本发明的电加热器2,有两端开口的场合和一端封闭场合的两种形态,但不局限于这两种形态。此外,金属电阻发热体元件22都是以细直径波浪形的元件进行说明的,本发明不用说同样也适用于粗直径螺旋型线圈的元件。

Claims (7)

1、一种半导体处理装置用电加热器,是由多个区域构成的筒状的半导体处理装置用电加热器,其特征为,多个区域中的被放置高载荷的至少1个区域的发热体是非金属电阻发热体,其余区域的发热体是金属电阻发热体。
2、如权利要求1所述的半导体处理装置用电加热器,其中,发热体为非金属电阻发热体的区域是至少1个端区。
3、如权利要求1所述的半导体处理装置用电加热器,其中,金属电阻发热体是将细直径的线材加工成过弯曲形状而成的。
4、如权利要求2所述的半导体处理装置用电加热器,其中,金属电阻发热体是将细直径的线材加工成过弯曲形状而成的。
5、如权利要求1至4中任意一项所述的半导体处理装置用电加热器,其中,非金属电阻发热体是二硅化钼。
6、如权利要求1至4中任意一项所述的半导体处理装置用电加热器,其中,各区域由1个或多个块组成,并能以块为单位进行更换,所述1个或多个块由发热体和保持该发热体的隔热体构成。
7、如权利要求5所述的半导体处理装置用电加热器,其中,各区域由1个或多个块组成,并能以块为单位进行更换,所述1个或多个块由发热体和保持该发热体的隔热体构成。
CNB028281403A 2002-11-25 2002-11-25 半导体处理装置用电加热器 Expired - Fee Related CN1317741C (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2002/012253 WO2004049414A1 (ja) 2002-11-25 2002-11-25 半導体処理装置用電気ヒータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1620714A CN1620714A (zh) 2005-05-25
CN1317741C true CN1317741C (zh) 2007-05-23

Family

ID=32375595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB028281403A Expired - Fee Related CN1317741C (zh) 2002-11-25 2002-11-25 半导体处理装置用电加热器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7027722B2 (zh)
JP (1) JPWO2004049414A1 (zh)
CN (1) CN1317741C (zh)
AU (1) AU2002368383A1 (zh)
WO (1) WO2004049414A1 (zh)

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE528334C2 (sv) * 2004-09-16 2006-10-24 Sandvik Intellectual Property Ugnsisolering samt ugn försedd med nämnda islering
US7429717B2 (en) * 2006-07-12 2008-09-30 Applied Materials, Inc. Multizone heater for furnace
RU2449049C2 (ru) * 2006-09-11 2012-04-27 Улвак, Инк. Устройство для вакуумной обработки паром
US9144114B2 (en) * 2007-03-05 2015-09-22 Sandvik Intellectual Property Ab Heater element as well as an insert for electrical furnaces
US8395096B2 (en) * 2009-02-05 2013-03-12 Sandvik Thermal Process, Inc. Precision strip heating element
KR101096602B1 (ko) * 2009-07-21 2011-12-20 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 가열 장치, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
TWM413957U (en) * 2010-10-27 2011-10-11 Tangteck Equipment Inc Diffusion furnace apparatus
JP2012195565A (ja) * 2011-02-28 2012-10-11 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置、基板処理方法及び半導体装置の製造方法
CN103347313A (zh) * 2013-06-13 2013-10-09 浙江光普太阳能科技有限公司 硅片测试前加热装置
CN105789084B (zh) * 2014-12-17 2019-04-23 北京北方华创微电子装备有限公司 加热腔室以及半导体加工设备
JP1551075S (zh) * 2015-09-29 2016-06-06
JP1551076S (zh) * 2015-09-29 2016-06-06
JP1551077S (zh) * 2015-09-29 2016-06-06
KR101744201B1 (ko) * 2015-12-28 2017-06-12 주식회사 유진테크 기판 처리 장치
US10622214B2 (en) 2017-05-25 2020-04-14 Applied Materials, Inc. Tungsten defluorination by high pressure treatment
KR102405723B1 (ko) 2017-08-18 2022-06-07 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고압 및 고온 어닐링 챔버
US10276411B2 (en) 2017-08-18 2019-04-30 Applied Materials, Inc. High pressure and high temperature anneal chamber
JP7274461B2 (ja) 2017-09-12 2023-05-16 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 保護バリア層を使用して半導体構造を製造する装置および方法
CN111357090B (zh) 2017-11-11 2024-01-05 微材料有限责任公司 用于高压处理腔室的气体输送系统
KR20200075892A (ko) 2017-11-17 2020-06-26 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고압 처리 시스템을 위한 컨덴서 시스템
CN208300055U (zh) * 2017-12-20 2018-12-28 长鑫存储技术有限公司 半导体炉管机台加热器
KR20230079236A (ko) 2018-03-09 2023-06-05 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 금속 함유 재료들을 위한 고압 어닐링 프로세스
US10950429B2 (en) 2018-05-08 2021-03-16 Applied Materials, Inc. Methods of forming amorphous carbon hard mask layers and hard mask layers formed therefrom
US10748783B2 (en) 2018-07-25 2020-08-18 Applied Materials, Inc. Gas delivery module
US10675581B2 (en) 2018-08-06 2020-06-09 Applied Materials, Inc. Gas abatement apparatus
KR20210077779A (ko) 2018-11-16 2021-06-25 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 강화된 확산 프로세스를 사용한 막 증착
WO2020117462A1 (en) 2018-12-07 2020-06-11 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing system
US11901222B2 (en) 2020-02-17 2024-02-13 Applied Materials, Inc. Multi-step process for flowable gap-fill film
RU2761867C1 (ru) * 2021-07-01 2021-12-13 Федеральное государственное учреждение "Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" Российской академии наук" Устройство для термической обработки металлических, полупроводниковых подложек и аморфных плёнок
JP2023016497A (ja) * 2021-07-21 2023-02-02 株式会社ジェイテクトサーモシステム ヒータ端子カバー、ヒータユニット、および、熱処理装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4437440A (en) * 1979-06-20 1984-03-20 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Auxiliary combustion chamber preheating device
JP2001267249A (ja) * 2000-03-16 2001-09-28 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5324920A (en) * 1990-10-18 1994-06-28 Tokyo Electron Sagami Limited Heat treatment apparatus
JP3307924B2 (ja) 1990-10-18 2002-07-29 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
JP3595875B2 (ja) 2000-03-14 2004-12-02 光洋サーモシステム株式会社 半導体処理装置用電気ヒータ
JP4276813B2 (ja) * 2002-03-26 2009-06-10 株式会社日立国際電気 熱処理装置および半導体製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4437440A (en) * 1979-06-20 1984-03-20 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Auxiliary combustion chamber preheating device
JP2001267249A (ja) * 2000-03-16 2001-09-28 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1620714A (zh) 2005-05-25
US20050082281A1 (en) 2005-04-21
AU2002368383A1 (en) 2004-06-18
JPWO2004049414A1 (ja) 2006-03-30
WO2004049414A1 (ja) 2004-06-10
US7027722B2 (en) 2006-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1317741C (zh) 半导体处理装置用电加热器
US6856078B2 (en) Lamp filament design
US4620839A (en) Heat insulator for hot isostatic pressing apparatus
US5095192A (en) High temperature diffusion furnace
EP1632110B1 (en) Retention mechanism for heating coil of high temperature diffusion furnace
US5324920A (en) Heat treatment apparatus
US8450663B2 (en) Electrical heating element for vertical installation
EP0164892A1 (en) Horizontal furnace apparatus
US7439473B2 (en) Method and arrangement for supporting vertically depending electrical resistance elements
KR102355535B1 (ko) 플레이트 타입 가열장치
JP3020773B2 (ja) 熱処理装置
US6023487A (en) Process for repairing heat treating furnaces and heating elements therefor
US6781291B2 (en) Filament support for lamp
NL8004400A (nl) Verwarmingselement voor een elektrische oven.
EP0657086B1 (en) Robust ceramic and metal-ceramic radiant heater designs for thin heating elements
US3476862A (en) Electric resistance heating elements
KR20050044753A (ko) 반도체 처리 장치용 전기 히터
FR2933488A1 (fr) Releveur de four rotatif en beton refractaire.
US6879622B2 (en) Horizontal element arrangement means
Watson et al. Heating element materials for the ceramics industry
JPH04286329A (ja) 縦型精密電気炉

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20070523

Termination date: 20161125