CN117970015A - 一种高频变压器半成品性能测试设备及工艺 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种高频变压器半成品性能测试设备及工艺,且涉及变压器性能检测的技术领域;包括支撑平台、输送设备、磁性元件矫正单元以及检测单元,输送设备设于支撑平台上,磁性元件矫正单元设于输送设备的两端,检测单元设于输送设备的上方;本发明通过磁性元件矫正单元对输送带上输送的磁性元件进行快速的位置矫正,保证每一个处于输送带上的磁性元件的长度方向能够与输送带的长度方向保持平行状态,为后续磁性元件与检测插头进行快速接触提供便利;并且通过输送设备与检测插头之间的配合,实现高频变压器半成品批量化性能测试,大大提高高频变压器半成品的检测效率。
Description
技术领域
本发明涉及变压器性能检测的技术领域,特别涉及一种高频变压器半成品性能测试设备及工艺。
背景技术
高频变压器半成品是指在生产过程中已经完成了一部分加工和组装工作的高频变压器零部件,这些半成品通常包括铁芯、线圈、绝缘材料等。
高频变压器是一种用于将电能从一个电路传输到另一个电路的装置,其工作频率通常在几十kHz至几GHz之间。高频变压器半成品在生产过程中需要进行一系列工艺步骤,例如切割铁芯、绕制线圈、绝缘处理等。这些步骤通常需要专业设备和技术来完成,因此将其作为半成品供应给其他制造商使用。
如公开号为CN113845060A的中国专利公开了一种变压器性能测试装置,包括底板,底板上转动设有放置板,底板底端中心部设有转动组件,底板底端四周对称设有四组升降件,四组升降件分别滑动设置在四组支腿上,且底板底部设有驱动四组升降件的驱动组件,并且检测箱内的检测设备通过对应的传感器通过控制转动组件以及驱动组件与升降件以及支腿的结合,从而将变压器移动到合适的位置进行检测,取代了部分人工操作,提高检测效率。
然而,上述变压器性能测试装置在实际使用的过程中还有一些不足之处:
1、上述现有技术中,通过检测平台对变压器元器件进行检测,但是其检测的方式单一,无法对变压器元器件进行批量化检测,因此其检测的效率较低,无法实现变压器元器件的流水线式的检测。
2、其次现有技术中,仅仅能够对单一尺寸的变压器元器件进行检测,因此会导致整个检测设备无法的适用性较差,无法针对不同尺寸的变压器元器件进行夹持和检测。
因此,在上述陈述的观点之下,现有的变压器性能测试装置还有可提高的空间。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供了一种高频变压器半成品性能测试设备及工艺。
一种高频变压器半成品性能测试设备,包括支撑平台以及输送设备;所述输送设备设于支撑平台上。
磁性元件矫正单元,用于对输送设备输送的磁性元件位置进行调节和矫正,包括矫正板以及居中件,所述矫正板对称滑动安装于输送设备宽度方向的两侧,并通过居中件来控制两个矫正板同步移动。
检测单元,用以对矫正之后的磁性元件进行通电检测,检测单元包括电动推杆、下压杆以及检测插头;所述电动推杆通过支架固设于输送设备的上方,且电动推杆的输出端朝下延伸,所述下压杆固定安装在电动推杆的输出端上,三组所述检测插头等间距设于下压杆上。
优选的,所述输送设备包括输送带、输送轮、输送电机以及间歇条,所述输送轮对称转动安装于支撑平台上,所述输送带套设于对称分布的输送轮上,并保持输送带绷直,所述输送电机通过电机座固设于支撑平台上,且输送电机的输出端与输送轮相连,所述间歇条等间距固定安装在输送带的上端。
优选的,所述居中件包括居中杆、滑动推块、居中齿轮、固定轴以及居中皮带;所述滑动推块沿着矫正板的长度方向对称滑动设于矫正板上,且所述矫正板上开设供滑动推块滑移的滑槽,所述居中杆铰接安装在滑动推块远离矫正板的一端,且所述居中杆远离滑动推块的一端固定连接有居中齿轮,而同一矫正板附近的两个居中齿轮相互啮合。
所述输送设备两端的居中齿轮上固定安装有固定轴,且两个固定轴上共同套设有居中皮带。
优选的,所述输送设备两端的固定轴错位固定在两个居中齿轮上,保证输送设备两端的居中齿轮能够始终相对转动。
优选的,所述矫正板上还设置有错位模块,所述错位模块包括错位杆、错位条以及三角块;所述错位杆头通过扭簧等间距铰接安装在矫正板远离居中杆的一端,所述错位条共同固定安装在若干所述错位杆上,所述三角块通过支架固定安装在支撑平台上,并且所述三角块与错位条在同一直线上。
优选的,所述检测插头上还设置有针对不同尺寸的磁性元件进行插接检测的调节单元,所述调节单元包括调节杆、调节齿环、调节块、调节齿条以及伸缩板;两组所述调节块沿着下压杆长度方向的两侧对称滑动安装在下压杆上,且调节块宽度方向的两侧对称滑动设有伸缩板,所述伸缩板远离调节块的一端与检测插头固定连接,所述调节齿条固定安装在下压杆上滑动的两个调节块上,且两个调节齿条错位相对分布,所述调节齿环转动安装在下压杆上,并且调节齿环与两个调节齿条相互啮合。
优选的,所述调节块的上端沿长度方向等间距开设有卡接孔,所述伸缩板上对应调节块的位置等间距开设有卡接槽,所述卡接孔以及卡接槽内插接安装有卡接柱。
优选的,所述检测插头包括固定板、固定套件、检测金属块以及限位压簧;所述固定板的底部开设有T字形限位槽,所述固定套件等间距滑动设于固定板上开设的T字形限位槽内,所述检测金属块滑动安装于固定套件的底部,并且检测金属块与固定套件的侧壁之间固定连接有限位压簧。
两个所述检测金属块相对的一侧为高频变压器半成品的接电插口的接触端。
优选的,所述检测金属块上还设置有联动单元,所述联动单元包括执行杆、联动弹簧、转动杆、对称杆、联动块、联动杆以及往复压簧杆;所述执行杆滑动安装在下压杆的底部,且下压杆的底部开设供执行杆滑移的方形槽,所述执行杆的上端与下压杆的内壁之间连接有联动弹簧,所述转动杆的中部铰接安装在下压杆上,且转动杆的一端抵靠于执行杆的上端、另外一端抵靠于对称杆远离检测金属块的一端。
所述对称杆铰接安装在检测金属块的上端,两个所述对称杆远离检测金属块的一端共同铰接在联动块上,所述联动块的底部抵靠设置有联动杆,所述联动杆远离联动块的一端向下压杆的方向延伸,且所述联动杆滑动设于固定板底部,所述联动杆的中部通过支架铰接安装在固定板上,所述往复压簧杆设于联动块与固定套件之间。
此外,本发明还包括一种高频变压器半成品性能测试工艺,高频变压器半成品性能测试工艺,如下所示:
S1、产品放置:启动输送设备,使其等间距匀速间歇运行,在此过程中,将磁性元件放置到输送设备上,通过输送设备将待检测的磁性元件向加工检测区域输送;
S2、产品矫正:当磁性元件放置到输送设备上之后,磁性元件会处于倾斜的状态,无法保证每一个放置到输送设备上的磁性元件均处于水平状态,因此通过磁性元件矫正单元对磁性元件位置进行矫正,保证每一个磁性元件在同一直线上;
S3、产品检测:通过检测单元对输送设备上完成位置矫正的产品进行插接检测,检测磁性元件的性能;
S4、产品收集:对完成检测后的磁性元件进行统一收集。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
一、本发明通过磁性元件矫正单元对输送带上输送的磁性元件进行快速的位置矫正,保证每一个处于输送带上的磁性元件的长度方向能够与输送带的长度方向保持平行状态,为后续磁性元件与检测插头进行快速接触提供便利。并且通过输送设备与检测插头之间的配合,实现高频变压器半成品批量化性能测试,大大提高高频变压器半成品的检测效率。
二、本发明中的调节单元能够实现对输送带对不同尺寸的磁性元件进行输送,而且还能够对不同尺寸的磁性元件进行通电检测,大大提高了高频变压器半成品性能测试设备的适用性。
三、本发明通过中的检测金属块通过夹持的方式对磁性元件的检测插接端的金属柱进行夹持通电,其不仅能够实现接触的准确性,而且针对金属柱出现变形等情况,也能够有效地进行矫正和接触,避免磁性元件出现接触不良的情况,而想象整个高频变压器半成品性能测试的准确性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的主体结构示意图。
图2是本发明居中件、输送设备与错位模块之间的结构示意图。
图3是本发明磁性元件的结构示意图。
图4是本发明检测单元的结构示意图。
图5是本发明调节单元的第一视角结构示意图。
图6是本发明调节单元的第二视角结构示意图。
图7是本发明检测插头的结构示意图。
图8是本发明联动单元的结构示意图。
图9是本发明一种高频变压器半成品性能测试工艺的流程图。
图中,A、磁性元件;1、支撑平台;2、输送设备;3、磁性元件矫正单元;30、矫正板;31、居中件;4、检测单元;45、电动推杆;40、下压杆;41、检测插头;20、输送带;21、输送轮;22、输送电机;23、间歇条;310、居中杆;311、滑动推块;312、居中齿轮;313、固定轴;314、居中皮带;32、错位模块;320、错位杆;321、错位条;322、三角块;42、调节单元;421、调节齿环;422、调节块;423、调节齿条;424、伸缩板;425、卡接孔;426、卡接槽;427、卡接柱;410、固定板;411、固定套件;412、检测金属块;413、限位压簧;5、联动单元;50、执行杆;51、联动弹簧;52、转动杆;53、对称杆;54、联动块;55、联动杆;56、往复压簧杆。
具体实施方式
以下结合附图1-图9对本发明的实施例进行详细说明,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
本申请实施例公开了一种高频变压器半成品性能测试设备及工艺,说明的有,本高频变压器半成品性能测试设备主要是应用在变压器的部分元器件进行性能检测的过程中,在技术效果上能够避免高频变压器半成品性能测试设备无法针对不同尺寸的磁性元件A进行性能检测的问题;特别是在输送设备2对磁性元件A进行输送的过程中能够对不同尺寸的磁性元件A进行输送,并且在输送的同时能够对磁性元件A的位置进行矫正,保证磁性元件A后续检测的稳定性。
实施例一:
参照图1和图3所示,一种高频变压器半成品性能测试设备包括支撑平台1以及输送设备2;输送设备2设于支撑平台1上,并用于批量化输送高频变压器半成品的磁性元件A。
首先需要说明的是,磁性元件A是由导线绕制而成的,磁性元件A为高频变压器中的一个核心的元器件,高频变压器是一种用于变换高频电能的磁性元件A。它主要用于电子电路中的高频电源、通信设备、无线电设备等。
参照图2所示,本发明中输送设备2设于支撑平台1上,而输送设备2为现有已知结构,由输送带20、输送轮21和输送电机22所组成,通过输送电机22带动输送轮21转动,随后通过输送轮21控制输送带20进行移动,而输送带20上放置的磁性元件A能够跟随输送带20进行输送。
磁性元件矫正单元3,用于对输送设备2输送的磁性元件A位置进行调节和矫正,包括矫正板30以及居中件31,矫正板30对称滑动安装于输送设备2宽度方向的两侧,并通过居中件31来控制两个矫正板30同步移动。
当磁性元件A沿着输送带20从左往右开始移动时,首先需要对磁性元件A的位置进行矫正,因此当磁性元件A放置到输送带20上时,首先保持磁性元件A的金属接触端朝上,但是在放置磁性元件A时无法手动保持所有的磁性元件A位于同一直线上,因此为了进一步的提高磁性元件A的位置便于后续的检测,通过磁性元件矫正单元3对其进行矫正,实现输送带20上的若干磁性元件A处于同一直线上,避免磁性元件A出现倾斜的情况。
参阅图4所示,检测单元4,用以对矫正之后的磁性元件A进行通电检测,检测单元4包括电动推杆45、下压杆40以及检测插头41;电动推杆45通过支架固设于输送设备2的上方,且电动推杆45的输出端朝下延伸,下压杆40固定安装在电动推杆45的输出端上,三组检测插头41等间距设于下压杆40上。
当磁性元件A的位置调整好之后,操作人员启动电动推杆45,电动推杆45带动下压杆40以及下压杆40底部的多个检测插头41同时向下移动,直至检测插头41与磁性元件A的金属插口端进行接触,对磁性元件A进行通电性能检测。
参照图2所示,即本实施例中输送磁性元件A的输送设备2结构示意图;具体的,输送设备2包括输送带20、输送轮21以及输送电机22,输送轮21对称转动安装于支撑平台1上,输送带20套设于对称分布的输送轮21上,并保持输送带20绷直,输送电机22通过电机座固设于支撑平台1上,且输送电机22的输出端与输送轮21相连,间歇条23等间距固定安装在输送带20的上端。
首先启动输送电机22,输送电机22通过输送轮21带动输送带20顺时针转动,而输送带20上等间距设置有若干间歇条23,因此需要对磁性元件A进行检测时,将磁性元件A放置到输送电机22且位于每个间歇条23之间,保证每个磁性元件A能够等间距分布。
再看图2所示,即本实施例中针对磁性元件A进行位置矫正的结构示意图;具体的,居中件31包括居中杆310、滑动推块311、居中齿轮312、固定轴313以及居中皮带314;滑动推块311沿着矫正板30的长度方向对称滑动设于矫正板30上,且矫正板30上开设供滑动推块311滑移的滑槽,居中杆310铰接安装在滑动推块311远离矫正板30的一端,且居中杆310远离滑动推块311的一端固定连接有居中齿轮312,而同一矫正板30附近的两个居中齿轮312相互啮合。
输送设备2两端的居中齿轮312上固定安装有固定轴313,且两个固定轴313上共同套设有居中皮带314。
当输送带20将其上端的磁性元件A输送至待加工区之后,停止输送带20移动,此时一侧的固定轴313转动,固定轴313通过居中皮带314驱动输送带20两侧的固定轴313同步转动,一侧的固定轴313带动同侧的两个居中齿轮312相对转动,使得两个居中齿轮312上连接的居中杆310驱使矫正板30向磁性元件A的方向靠近,最终控制两个矫正板30同步相对并向磁性元件A的方向靠近,直至磁性元件A对矫正板30夹持,使得磁性元件A能够处于同一实现上。
再看图2所示,即本实施例中固定轴313位置的结构示意图;具体的,输送设备2两端的固定轴313错位固定在两个居中齿轮312上,保证输送设备2两端的居中齿轮312能够始终相对转动。
本实施例中的两个固定轴313错位分布的目的是为了保证输送设备2两端的居中齿轮312在转动的过程中均能够同时控制矫正板30同步相对运动。
参阅图2所示,即本实施例中为了进一步的实现磁性元件A进行快速位置调整的结构示意图;具体的,矫正板30上还设置有错位模块32,错位模块32包括错位杆320以及错位条321;错位杆320头通过扭簧等间距铰接安装在矫正板30远离居中杆310的一端,错位条321共同固定安装在若干错位杆320上,三角块322通过支架固定安装在支撑平台1上,并且三角块322与错位条321在同一直线上。
具体实施过程中,初始状态下,为了保证磁性元件A快速的实现性能检测,一般需要保证磁性元件A的长度方向与输送带20的长度方向保持一致,但是在将磁性元件A放置到输送带20上时,因为人工放置,无法保证磁性元件A位置的准确性,会导致磁性元件A倾斜,此时通过两个矫正板30同时挤压,可实现磁性元件A的位置调整。
但是若磁性元件A的长度方向与输送带20的长度方向处于垂直状态时,此时矫正板30对磁性元件A进行挤压,无法实现对磁性元件A位置进行调整的效果,而且因为保持垂直状态的磁性元件A,导致其他靠近它的一些磁性元件A无法进行位置调整。
因此在对处于竖直状态的磁性元件A进行调整时,矫正板30上设置有错位条321,当两个矫正板30相互靠近时,矫正板30上的错位条321会接触到三角块32,使得矫正板30在向磁性元件A靠近时,错位条321具有左右方向的外力,使得错位条321对磁性元件A施加左右方向的外力,使得磁性元件A的位置先倾斜,随后在错位条321的辅助下,矫正板30隔着错位条321对磁性元件A进行挤压,使得初始状态的磁性元件A的位置发生改变,保证磁性元件A与输送带20平行。
参照图4和图5所示,即本实施例中针对磁性元件A进行检测的结构示意图;具体的,检测插头41上还设置有针对不同尺寸的磁性元件A进行插接检测的调节单元42,调节单元42包括调节杆420、调节齿环421、调节块422、调节齿条423以及伸缩板424;两组调节块422沿着下压杆40长度方向的两侧对称滑动安装在下压杆40上,且调节块422宽度方向的两侧对称滑动设有伸缩板424,伸缩板424远离调节块422的一端与检测插头41固定连接,调节齿条423固定安装在下压杆40上滑动的两个调节块422上,且两个调节齿条423错位相对分布,调节齿环421转动安装在下压杆40上,并且调节齿环421与两个调节齿条423相互啮合。
当输送带20间歇停止转动并且调整好输送带20上的磁性元件A的位置后,电动推杆45启动,带动下压杆40向下移动,在此过程中,下压杆40抵靠在磁性元件A的上端,避免磁性元件A的金属插口端发生晃动,与此同时,检测插头41刚好插入到金属插口端的多个金属柱上,实现对磁性元件A的性能检测。
但是为了实现针对不同尺寸的磁性元件A进行性能检测,本实施例还提出了调节单元42,转动调节齿环421,调节齿环421通过调节齿条423来控制两侧的调节块422同步向外或者向内移动,从而调节多个调节块422之间的间距,进一步实现针对不同尺寸的磁性元件A进行检测,但是需要说明的是,针对不同批次不同尺寸的磁性元件A进行性能检测时,需要首先手动调节好检测插头41的间距,随后即可实现磁性元件A的自动化性能检测。
其次,在调节好若干检测插头41之间的水平间距之后,还要调节每个磁性元件A之间的两个检测插头41之间的间距。
参照图6所示,即每个磁性元件A之间的两个检测插头41之间的间距调节的结构示意图;具体的,调节块422的上端沿长度方向等间距开设有卡接孔425,伸缩板424上对应调节块422的位置等间距开设有卡接槽426,卡接孔425以及卡接槽426内插接安装有卡接柱427。
首先拔出卡接柱427,此时伸缩板424与调节块422之间失去限位,此时即可将调节块422两端的伸缩板424进行位置调节,当调节好伸缩板424的位置之后,操作人员将卡接柱427重新插入到伸缩板424的卡接槽426和调节块422的卡接孔425内,即可实现对伸缩板424的固定,实现每个磁性元件A之间的两个检测插头41之间的间距调节。
参照图7和图8所示,具体的,检测插头41包括固定板410、固定套件411、检测金属块412以及限位压簧413;固定板410的底部开设有T字形限位槽,固定套件411等间距滑动设于固定板410上开设的T字形限位槽内,检测金属块412滑动安装于固定套件411的底部,并且检测金属块412与固定套件411的侧壁之间固定连接有限位压簧413。
两个检测金属块412相对的一侧为高频变压器半成品的接电插口的接触端。
首先现有技术中,检测插头41均为圆筒形设计,将检测插头41插入到磁性元件A的金属插口端的金属柱上,但是其具有一定的弊端,当磁性元件A的金属插口端的金属柱发生弯曲变形时,检测插头41即无法插入到金属柱上,从而无法实现对磁性元件A的性能检测,并且强行使检测插头41插入到金属柱上时,会导致检测插头41发生损坏。
因此本实施例提出了两个检测金属块412,初始状态下,两个检测金属块412处于分离的状态,当需要检测时,两个检测金属块412跟随下压杆40同步向下移动,随后检测金属块412相互接触此时将金属柱夹持在两个检测金属块412之间,其不仅能够解决金属柱弯曲变形时无法通电的问题,而且能够大大的减少金属柱与检测金属块412接触之后无法通电的问题,提高了磁性元件A在性能检测时的稳定性。
参阅图7和图8所示;检测金属块412上还设置有联动单元5,联动单元5包括执行杆50、联动弹簧51、转动杆52、对称杆53、联动块54、联动杆55以及往复压簧杆56;执行杆50滑动安装在下压杆40的底部,且下压杆40的底部开设供执行杆50滑移的方形槽,执行杆50的上端与下压杆40的内壁之间连接有联动弹簧51,转动杆52的中部铰接安装在下压杆40上,且转动杆52的一端抵靠于执行杆50的上端、另外一端抵靠于对称杆53远离检测金属块412的一端。
对称杆53铰接安装在检测金属块412的上端,两个对称杆53远离检测金属块412的一端共同铰接在联动块54上,联动块54的底部抵靠设置有联动杆55,联动杆55远离联动块54的一端向下压杆40的方向延伸,且联动杆55滑动设于固定板410底部,联动杆55的中部通过支架铰接安装在固定板410上,往复压簧杆56设于联动块54与固定套件411之间。
具体实施过程中,当下压杆40向下移动时,下压杆40底部的执行杆50首先接触到磁性元件A的顶部,接着下压杆40继续向下移动,同时下压杆40在受到外力后向下压杆40的内部收缩,此时下压杆40对转动杆52的一端挤压,使得转动杆52的另外一端对联动杆55的一端进行下压,随后联动杆55的另外一端对联动块54进行抬升,使得联动块54两侧的对称杆53向上移动,直至对称杆53远离联动块54的一端带动两个检测金属块412同步向金属柱的方向靠近,直至检测金属块412接触到金属柱,从而实现对磁性元件A的通电性能检测。
参阅图9所示,此外,本发明还提供一种高频变压器半成品性能测试工艺,高频变压器半成品性能测试工艺,如下所示:
S1、产品放置:启动输送设备2,使其上的输送带20匀速间歇运行,在此过程中,将磁性元件A放置到输送带20上,通过输送带20将待检测的磁性元件A向加工检测区域输送。
S2、产品矫正:当磁性元件A放置到输送带20上之后,磁性元件A会处于倾斜的状态,无法保证每一个放置到输送设备2上的磁性元件A均处于水平状态,因此通过磁性元件矫正单元3的矫正板30对磁性元件A位置进行矫正,保证每一个磁性元件A在同一直线上。
S3、产品检测:通过检测单元4中的检测插头41对输送设备2上完成位置矫正的产品进行插接检测,检测磁性元件A的性能。
S4、产品收集:对完成检测后的磁性元件A进行统一收集。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明,因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内,不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (10)
1.一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:包括支撑平台(1)以及输送设备(2);所述输送设备(2)设于支撑平台(1)上;
磁性元件矫正单元(3),用于对输送设备(2)输送的磁性元件位置进行调节和矫正,包括矫正板(30)以及居中件(31),所述矫正板(30)对称滑动安装于输送设备(2)宽度方向的两侧,并通过居中件(31)来控制两个矫正板(30)同步移动;
检测单元(4),用以对矫正之后的磁性元件进行通电检测,检测单元(4)包括电动推杆(45)、下压杆(40)以及检测插头(41);所述电动推杆(45)通过支架固设于输送设备(2)的上方,且电动推杆(45)的输出端朝下延伸,所述下压杆(40)固定安装在电动推杆(45)的输出端上,三组所述检测插头(41)等间距设于下压杆(40)上。
2.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述输送设备(2)包括输送带(20)、输送轮(21)、输送电机(22)以及间歇条(23),所述输送轮(21)对称转动安装于支撑平台(1)上,所述输送带(20)套设于对称分布的输送轮(21)上,并保持输送带(20)绷直,所述输送电机(22)通过电机座固设于支撑平台(1)上,且输送电机(22)的输出端与输送轮(21)相连,所述间歇条(23)等间距固定安装在输送带(20)的上端。
3.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述居中件(31)包括居中杆(310)、滑动推块(311)、居中齿轮(312)、固定轴(313)以及居中皮带(314);所述滑动推块(311)沿着矫正板(30)的长度方向对称滑动设于矫正板(30)上,且所述矫正板(30)上开设供滑动推块(311)滑移的滑槽,所述居中杆(310)铰接安装在滑动推块(311)远离矫正板(30)的一端,且所述居中杆(310)远离滑动推块(311)的一端固定连接有居中齿轮(312),而同一矫正板(30)附近的两个居中齿轮(312)相互啮合;
所述输送设备(2)两端的居中齿轮(312)上固定安装有固定轴(313),且两个固定轴(313)上共同套设有居中皮带(314)。
4.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述输送设备(2)两端的固定轴(313)错位固定在两个居中齿轮(312)上,保证输送设备(2)两端的居中齿轮(312)能够始终相对转动。
5.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述矫正板(30)上还设置有错位模块(32),所述错位模块(32)包括错位杆(320)、错位条(321)以及三角块(322);所述错位杆(320)头通过扭簧等间距铰接安装在矫正板(30)远离居中杆(310)的一端,所述错位条(321)共同固定安装在若干所述错位杆(320)上,所述三角块(322)通过支架固定安装在支撑平台(1)上,并且所述三角块(322)与错位条(321)在同一直线上。
6.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述检测插头(41)上还设置有针对不同尺寸的磁性元件进行插接检测的调节单元(42),所述调节单元(42)包括调节齿环(421)、调节块(422)、调节齿条(423)以及伸缩板(424);两组所述调节块(422)沿着下压杆(40)长度方向的两侧对称滑动安装在下压杆(40)上,且调节块(422)宽度方向的两侧对称滑动设有伸缩板(424),所述伸缩板(424)远离调节块(422)的一端与检测插头(41)固定连接,所述调节齿条(423)固定安装在下压杆(40)上滑动的两个调节块(422)上,且两个调节齿条(423)错位相对分布,所述调节齿环(421)转动安装在下压杆(40)上,并且调节齿环(421)与两个调节齿条(423)相互啮合。
7.根据权利要求6所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述调节块(422)的上端沿长度方向等间距开设有卡接孔(425),所述伸缩板(424)上对应调节块(422)的位置等间距开设有卡接槽(426),所述卡接孔(425)以及卡接槽(426)内插接安装有卡接柱(427)。
8.根据权利要求1所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述检测插头(41)包括固定板(410)、固定套件(411)、检测金属块(412)以及限位压簧(413);所述固定板(410)的底部开设有T字形限位槽,所述固定套件(411)等间距滑动设于固定板(410)上开设的T字形限位槽内,所述检测金属块(412)滑动安装于固定套件(411)的底部,并且检测金属块(412)与固定套件(411)的侧壁之间固定连接有限位压簧(413);
两个所述检测金属块(412)相对的一侧为高频变压器半成品的接电插口的接触端。
9.根据权利要求8所述的一种高频变压器半成品性能测试设备,其特征在于:所述检测金属块(412)上还设置有联动单元(5),所述联动单元(5)包括执行杆(50)、联动弹簧(51)、转动杆(52)、对称杆(53)、联动块(54)、联动杆(55)以及往复压簧杆(56);所述执行杆(50)滑动安装在下压杆(40)的底部,且下压杆(40)的底部开设供执行杆(50)滑移的方形槽,所述执行杆(50)的上端与下压杆(40)的内壁之间连接有联动弹簧(51),所述转动杆(52)的中部铰接安装在下压杆(40)上,且转动杆(52)的一端抵靠于执行杆(50)的上端、另外一端抵靠于对称杆(53)远离检测金属块(412)的一端;
所述对称杆(53)铰接安装在检测金属块(412)的上端,两个所述对称杆(53)远离检测金属块(412)的一端共同铰接在联动块(54)上,所述联动块(54)的底部抵靠设置有联动杆(55),所述联动杆(55)远离联动块(54)的一端向下压杆(40)的方向延伸,且所述联动杆(55)滑动设于固定板(410)底部,所述联动杆(55)的中部通过支架铰接安装在固定板(410)上,所述往复压簧杆(56)设于联动块(54)与固定套件(411)之间。
10.一种高频变压器半成品性能测试工艺,还包括权利要求1-9中任意一项所述的高频变压器半成品性能测试设备,高频变压器半成品性能测试工艺,如下所示:
S1、产品放置:启动输送设备(2),使其等间距匀速间歇运行,在此过程中,将磁性元件放置到输送设备(2)上,通过输送设备(2)将待检测的磁性元件向加工检测区域输送;
S2、产品矫正:当磁性元件放置到输送设备(2)上之后,磁性元件会处于倾斜的状态,无法保证每一个放置到输送设备(2)上的磁性元件均处于水平状态,因此通过磁性元件矫正单元(3)对磁性元件位置进行矫正,保证每一个磁性元件在同一直线上;
S3、产品检测:通过检测单元(4)对输送设备(2)上完成位置矫正的产品进行插接检测,检测磁性元件的性能;
S4、产品收集:对完成检测后的磁性元件进行统一收集。
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