CN117782542B - 一种光学性能测试平台 - Google Patents

一种光学性能测试平台 Download PDF

Info

Publication number
CN117782542B
CN117782542B CN202410205780.7A CN202410205780A CN117782542B CN 117782542 B CN117782542 B CN 117782542B CN 202410205780 A CN202410205780 A CN 202410205780A CN 117782542 B CN117782542 B CN 117782542B
Authority
CN
China
Prior art keywords
plate
piece
shaped
fixedly connected
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202410205780.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN117782542A (zh
Inventor
李俊凯
蔡建奇
许子愉
曾珊珊
段延龙
马耀光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hangzhou Innoway Technology Co ltd
China National Institute of Standardization
Original Assignee
Hangzhou Innoway Technology Co ltd
China National Institute of Standardization
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hangzhou Innoway Technology Co ltd, China National Institute of Standardization filed Critical Hangzhou Innoway Technology Co ltd
Priority to CN202410205780.7A priority Critical patent/CN117782542B/zh
Publication of CN117782542A publication Critical patent/CN117782542A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN117782542B publication Critical patent/CN117782542B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明公开了一种光学性能测试平台,包括测试台以及设置在测试台上的光纤探头和放置台,测试台的顶部设置有摆动定位件,摆动定位件正面的一侧固定连接有光纤探头卡件和光纤探头保护件,本发明涉及光学测试技术领域。该光学性能测试平台,通过摆动定位件、放置台、放置台调节座、竖直限位件、光纤探头和光纤探头卡件的配合设置,在将测试件置于放置台上后,可以实现对测试件不同角度的光学测试,并且配合光纤探头保护件的设置,在光纤探头不使用时,实现对光纤探头的封端保护,同时漏出常开口,通过定位激光发射头为测试件的定位提供便捷参照条件,在测试过程中,进行暗室环境营造,有效避免外界环境对测试件测试结果精度的影响。

Description

一种光学性能测试平台
技术领域
本发明涉及光学测试技术领域,具体为一种光学性能测试平台。
背景技术
光学检测平台用于光源的测试,光学检测平台是安装光学检测主机及测试件的承载装置,其主要作用是实现检测过程中,测试件和光学检测主机分别固定于支撑框架上,并通过安装在其上的驱动系统、传统系统、传感系统等附属装置实现检测过程中试件位置的精密对焦调整,以完成整个光学检测操作。
如申请号为201610151145.0所述的一种多角度多方位光学测试平台,其通过两道激光的交叉点对测试件的中心进行定位,保证测试件空间对准,并通过旋转的方式实现多角度的光学测试,其中,测试件中心确定困难,并且需要多束激光辅助定位,存在使用繁琐的缺陷。
又如申请号为202211322532.8所述的线路光学测试平台,其通过设置调光件,当对线路设备进行光学测试时,能够将线路设备的周围给遮挡起来,起到调光的作用,防止外界的光线影响了光学测试的效果,其中,线路设备周围遮挡存在不全面的缺陷,无法有效避免外界光线对光学测试的影响。
基于对上述资料的检索,可以看出现有技术存在如下缺陷:
一、测试件空间定位繁琐,无法实现测试件的便捷定位;
二、外界光线影响测试件的光学测试精度;
三、光纤探头裸露,在不使用时,缺乏有效保护;
四、测试件测试角度不够全面。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种光学性能测试平台,解决了现有光学测试平台存在测试件空间定位繁琐,无法实现测试件的便捷定位,外界光线影响测试件的光学测试精度,光纤探头裸露,在不使用时,缺乏有效保护,并且测试件测试角度不够全面的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种光学性能测试平台,包括测试台以及设置在测试台上的光纤探头和放置台,所述测试台的顶部设置有摆动定位件,所述摆动定位件正面的一侧固定连接有光纤探头卡件和光纤探头保护件,所述摆动定位件正面的另一侧转动安装有放置台调试座,且放置台调试座通过竖直限位件与测试台固定连接;
所述测试台的顶部还设置有暗箱壳,且摆动定位件、光纤探头卡件、光纤探头保护件、放置台调试座、竖直限位件和放置台均设置在暗箱壳的内部。
为了方便提高对测试件测试角度的全面性,本发明进一步设置为:所述摆动定位件包括固定板和电动伸缩气缸,所述固定板的顶端套设并转动安装有U型板,所述U型板的内部滑动安装有工型块,所述工型块的底端通过转动块与电动伸缩气缸的伸缩端转动连接,所述U型板的外周还套设有滑套,所述滑套设置在电动伸缩气缸远离固定板的一侧;
所述固定板和电动伸缩气缸均固定连接在测试台的顶部。
为了实现对光纤探头的便捷定位,本发明进一步设置为:所述光纤探头卡件包括套筒,所述套筒的表面贯穿并螺纹安装有紧固螺栓;
所述套筒通过连接板固定连接在U型板正面的一侧,并设置在固定板的正前方;
所述光纤探头设置在套筒的内部,并与紧固螺栓相配合使用。
为了实现对光纤探头在不使用时的防护效果,并对测试件实现便捷定位,本发明进一步设置为:所述光纤探头保护件包括装配板,所述装配板的顶部固定连接有方杆,所述方杆的外周套设并滑动安装有对接板,所述方杆的顶端固定连接有限位板,所述对接板的一侧固定连接有倾斜护板,所述方杆的外周套设有弹簧,且弹簧的两端分别与对接板和装配板相对的一侧相接触,所述对接板顶部的一侧固定连接有对接架;
所述对接架顶部与U型板底部的一侧相接触,所述装配板固定连接在固定板的正面;
所述倾斜护板的一侧倾斜面与光纤探头的一端相配合使用,所述倾斜护板的另一侧倾斜面固定连接有定位激光发射头,所述U型板的正面还设置有倾角传感器;
所述定位激光发射头的激光发射方向与U型板的倾斜方向平行设置,所述定位激光发射头发出激光轴线与光纤探头的轴线重合设置。
为了保证测试件的位置对准和测试过程中的旋转调节,本发明进一步设置为:所述放置台调试座包括L型板,所述L型板的底部开设有滑槽,所述滑槽的内部滑动安装有旋转电机,所述旋转电机的安装端固定连接有调节板,所述调节板滑动安装在L型板的表面,所述旋转电机的输出端贯穿调节板,并与放置台的底部固定连接;
所述调节板正面的一侧贯穿并螺纹安装有调节丝杆,所述调节丝杆的一端通过轴承与L型板的表面转动连接,所述调节板正面的另一侧贯穿并滑动安装有导向杆,所述导向杆的一端与L型板的表面固定连接;
所述L型板的背部固定连接有套管,所述滑套的正面固定连接有转轴,所述转轴的外表面与套管的内表面相配合使用。
为了保证放置台调试座的数值升降调节,本发明进一步设置为:所述竖直限位件包括竖杆和安装座,所述竖杆贯穿并滑动安装在安装座的顶部;
所述竖杆顶端与L型板的底部固定连接,所述安装座通过螺栓固定连接在测试台的顶部。
为了避免外界光线对测试件测试过程中的影响,本发明进一步设置为:所述暗箱壳内腔的顶部滑动安装有U型盖,所述暗箱壳内腔的底部滑动安装有U型隔板架,所述滑套的背部转动安装有第一齿牙板,所述暗箱壳的一侧通过连接杆转动安装有齿轮,所述U型盖内腔的顶部固定连接有第二齿牙板,所述第一齿牙板和第二齿牙板相对的一侧与齿轮的外表面相啮合,所述第一齿牙板通过卡架与U型隔板架的内部固定连接,所述U型盖的内腔的前后两侧分别与U型隔板架的前后两侧相配合使用;
所述暗箱壳的前后两侧均开设有常开口,所述测试台顶部的两侧均固定连接有辅助杆,所述辅助杆贯穿U型隔板架设置。
为了保证测试过程中氛围灯光的便捷调节,本发明进一步设置为:所述U型盖的顶部贯穿并固定连接有若干个氛围灯,且U型盖的正面设置有与氛围灯相配合相适配的调节旋钮。
本发明进一步设置为:所述光纤探头贯穿暗箱壳设置。
本发明还公开了一种光学性能测试平台的使用方法,具体包括以下步骤:
步骤一、预固定:打开定位激光发射头,定位激光发射头发出十字激光照射在放置台上方,通过常开口将测试件固定于放置台上,过程中,保持测试件的发光中心处于激光下方;
步骤二、调节:透过常开口观察测试件的发光中心是否处于十字激光正下方,是,转至步骤三,否,转动调节丝杆,调节丝杆带动调节板使放置台带动测试件移动,将测试件的发光中心移动至十字激光正下方;
步骤三、测试调节:启动电动伸缩气缸,电动伸缩气缸伸长,带动工型块在U型板中滑动,使U型板围绕固定板进行转动,倾角传感器记录U型板的倾斜角度,此时,U型板的左端带动滑套上升,滑套通过转轴带动套管向上移动,套管带动L型板上升,使放置台带动测试件上升,过程中,L型板带动竖杆在安装座中向上移动,同时U型板的右端下降,U型板对对接架进行挤压,对接架向下挤压对接板,对接板沿着方杆对弹簧进行挤压,对接板下降过程中,带动倾斜护板向下移动,使倾斜护板脱离光纤探头,U型板转动过程中,带动套筒使光纤套筒进行同步转动;
步骤四、暗室构建:滑套上升过程中,带动第一齿牙板上升,第一齿牙板通过卡架带动U型隔板架沿着辅助杆上升,同时,第一齿牙板带动齿轮转动,使第二齿牙板向下移动,第二齿牙板带动U型盖向下移动,在U型盖套设在U型隔板架外周后,构成暗室环境;
步骤五、光学测试:将光纤探头与外界光谱分析仪对接后,控制电动伸缩气缸继续伸长,或者控制旋转电机转动,旋转电机带动放置台使测试件进行转动,外界光谱分析仪即可通过光纤探头对测试件进行光学性能测试;
步骤六、氛围调节:需要添加灯光氛围时,通过调节旋钮打开对应氛围灯,对暗室环境的灯光氛围进行调节。
(三)有益效果
本发明提供了一种光学性能测试平台。具备以下有益效果:
(1)本发明通过摆动定位件、放置台、放置台调节座、竖直限位件、光纤探头和光纤探头卡件的配合设置,在将测试件置于放置台上后,可以实现对测试件不同角度的光学测试,并且配合光纤探头保护件的设置,在光纤探头不使用时,实现对光纤探头的封端保护,同时还可以通过定位激光发射头的设置,为测试件的定位提供便捷参照条件,使用更为方便。
(2)本发明通过暗箱壳、常开口、U型盖、U型隔板架、第一齿牙板、第二齿牙板和齿轮的配合,在滑套上升过程中,使U型盖和U型隔板架相对运动,实现暗室环境的便捷营造,有效避免外界环境对测试件测试过程中的影响,保证测试件的测试精度,配合若干个氛围灯和调节旋钮的设置,还可以实现对暗室环境的氛围灯光调节,为测试件在不同环境下的测试提供便利条件。
(3)本发明通过在测试件测试完毕后,实现常开口的自动裸露,为测试件的拆装提供便利,并且在U型板、对接架、对接板、弹簧、方杆、倾斜护板和装配板的配合设置下,在光纤探头不使用时,利用倾斜护板实现对光纤探头的自动封端保护,在使用光纤探头时,还可以实现光纤探头和倾斜护板的自动分离。
附图说明
图1为本发明的外部结构示意图;
图2为本发明放置台、摆动定位件、光纤探头卡件、光纤探头保护件和放置台调试座结构的连接示意图;
图3为本发明摆动定位件的结构示意图;
图4为本发明光纤探头保护件的结构示意图;
图5为本发明放置台调试座和竖直限位件结构的连接示意图;
图6为本发明放置台调试座和放置台结构的连接示意图;
图7为本发明暗箱壳、U型盖和U型隔板架的结构示意图;
图8为本发明U型盖、U型隔板架、第一齿牙板、齿轮和第二齿牙板结构的连接示意图;
图9为本发明U型隔板架、第一齿牙板和滑套的结构示意图;
图10为本发明U型盖和第二齿牙板结构的连接示意图;
图11为本发明实施例中测试件的结构示意图。
图中,1、测试台;2、光纤探头;3、放置台;4、摆动定位件;5、光纤探头卡件;6、光纤探头保护件;7、放置台调试座;8、竖直限位件;9、暗箱壳;10、固定板;11、电动伸缩气缸;12、U型板;13、工型块;14、滑套;15、套筒;16、紧固螺栓;17、装配板;18、方杆;19、对接板;20、限位板;21、倾斜护板;22、弹簧;23、对接架;24、定位激光发射头;25、L型板;26、滑槽;27、旋转电机;28、调节板;29、调节丝杆;30、导向杆;31、套管;32、转轴;33、竖杆;34、安装座;35、U型盖;36、U型隔板架;37、第一齿牙板;38、齿轮;39、第二齿牙板;40、常开口;41、辅助杆;42、氛围灯;43、调节旋钮;44、倾角传感器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
请参阅图1-11,本发明实施例提供以下两种技术方案:
实施例
一种光学性能测试平台,包括测试台1、光纤探头2、放置台3、摆动定位件4、光纤探头卡件5、光纤探头保护件6、放置台调试座7和竖直限位件8。
作为优选方案,为了实现测试件的多角度测试,放置台调试座7包括L型板25,L型板25的底部开设有滑槽26,滑槽26的内部滑动安装有旋转电机27,旋转电机27与外界电源电性连接,通过控制开关进行控制,旋转电机27的安装端固定连接有调节板28,调节板28滑动安装在L型板25的表面,旋转电机27的输出端贯穿调节板28,并与放置台3的底部固定连接,进一步的,为了实现对测试件的位置调节,调节板28正面的一侧贯穿并螺纹安装有调节丝杆29,调节丝杆29的一端通过轴承与L型板25的表面转动连接,调节板28正面的另一侧贯穿并滑动安装有导向杆30,导向杆30的一端与L型板25的表面固定连接。
其中,如附图6所示,在L型板25表面开设有刻度线,该刻度线最低点与放置台3顶部水平面齐平设置,这样的设置,可以在测试件置于放置台3上,并启动下述定位激光发射头24后,对测试件中心位置与定位激光发射头24的数值距离进行判定,结合下述倾角传感器44的角度测量结果,为该测试件中心与光纤探头2的对准计算提供有效参数。
作为优选方案,为了实现对测试件更为全面角度下的测试,摆动定位件4包括固定板10和电动伸缩气缸11,固定板10和电动伸缩气缸11均固定连接在测试台1的顶部,固定板10的顶端套设并转动安装有U型板12,U型板12的内部滑动安装有工型块13,工型块13的底端通过转动块与电动伸缩气缸11的伸缩端转动连接,U型板12的外周还套设有滑套14,滑套14设置在电动伸缩气缸11远离固定板10的一侧,L型板25的背部固定连接有套管31,滑套14的正面固定连接有转轴32,转轴32的外表面与套管31的内表面相配合使用。
进一步说明,为了保证光纤探头2对测试件的有效测试,光纤探头卡件5包括套筒15,套筒15的表面贯穿并螺纹安装有紧固螺栓16,套筒15通过连接板固定连接在U型板12正面的一侧,并设置在固定板10的正前方,光纤探头2设置在套筒15的内部,并与紧固螺栓16相配合使用,这样光纤探头2随着U型板12同步转动。
作为优选方案,为了实现对测试件不同位置的测试,保证测试件的竖直升降,竖直限位件8包括竖杆33和安装座34,竖杆33贯穿并滑动安装在安装座34的顶部,竖杆33顶端与L型板25的底部固定连接,安装座34通过螺栓固定连接在测试台1的顶部。
作为优选方案,为了实现对光纤探头2的封端保护,并为测试件提供定位,光纤探头保护件6包括装配板17,装配板17固定连接在固定板10的正面,装配板17的顶部固定连接有方杆18,方杆18的外周套设并滑动安装有对接板19,方杆18的顶端固定连接有限位板20,对接板19的一侧固定连接有倾斜护板21,方杆18的外周套设有弹簧22,且弹簧22的两端分别与对接板19和装配板17相对的一侧相接触,对接板19顶部的一侧固定连接有对接架23,对接架23顶部与U型板12底部的一侧相接触,倾斜护板21的一侧倾斜面与光纤探头2的一端相配合使用,并且该倾斜面上嵌设有软质保护垫,倾斜护板21的另一侧倾斜面固定连接有定位激光发射头24,U型板12的正面还设置有倾角传感器44,倾角传感器44用于对U型板12的倾斜角度进行检测,定位激光发射头24的激光发射方向与U型板12的倾斜方向平行设置,定位激光发射头24发出激光轴线与光纤探头2的轴线重合设置。
进一步说明,如附图11所示,在将测试件安装在放置台3上后,A图中虚线部分为定位激光发射头24发出十字激光线路,该线路处于测试件中心上方,这样为测试件的便捷安装提供了便利条件,即随着放置台3的上升,结合B图,其中虚线为光纤探头2检测线路,可以看出光纤探头2相对于测试件而言,测试点发生了变化,可以看出,其对测试件的光学性能测试具有角度更为全面的检测效果。
本实施例中,具有光纤探头2自动封端保护效果的同时,测试件安装更为便捷,并且对测试件的光学性能测试具有角度更为全面的检测效果。
实施例
本实施例作为上一实施例的改进,一种光学性能测试平台,还包括测试台1的顶部设置的暗箱壳9,光纤探头2贯穿暗箱壳9设置,且摆动定位件4、光纤探头卡件5、光纤探头保护件6、放置台调试座7、竖直限位件8和放置台3均设置在暗箱壳9的内部,暗箱壳9内腔的顶部滑动安装有U型盖35,暗箱壳9内腔的底部滑动安装有U型隔板架36,为了保证U型隔板架36的稳定升降,测试台1顶部的两侧均固定连接有辅助杆41,辅助杆41贯穿U型隔板架36设置,滑套14的背部转动安装有第一齿牙板37,暗箱壳9的一侧通过连接杆转动安装有齿轮38,U型盖35内腔的顶部固定连接有第二齿牙板39,第一齿牙板37和第二齿牙板39相对的一侧与齿轮38的外表面相啮合,第一齿牙板37通过卡架与U型隔板架36的内部固定连接,U型盖35的内腔的前后两侧分别与U型隔板架36的前后两侧相配合使用,暗箱壳9的前后两侧均开设有常开口40,以便于进行测试件的安装和拆除。
作为优选方案,为了适应于更多环境氛围下的检测,U型盖35的顶部贯穿并固定连接有若干个氛围灯42,且U型盖35的正面设置有与氛围灯42相配合相适配的调节旋钮43。
实施例二相对于实施例一的优点在于:方便测试件安装拆卸的同时,可以有效避免外界光线对测试件测试结果的影响。
光学性能测试平台的使用方法,具体包括以下步骤:
步骤一、预固定:打开定位激光发射头24,定位激光发射头24发出十字激光照射在放置台3上方,通过常开口40将测试件固定于放置台3上,过程中,保持测试件的发光中心处于激光下方;
步骤二、调节:透过常开口40观察测试件的发光中心是否处于十字激光正下方,是,转至步骤三,否,转动调节丝杆29,调节丝杆29带动调节板28使放置台3带动测试件移动,将测试件的发光中心移动至十字激光正下方;
步骤三、测试调节:启动电动伸缩气缸11,电动伸缩气缸11伸长,带动工型块13在U型板12中滑动,使U型板12围绕固定板10进行转动,倾角传感器44记录U型板12的倾斜角度,此时,U型板12的左端带动滑套14上升,滑套14通过转轴32带动套管31向上移动,套管31带动L型板25上升,使放置台3带动测试件上升,过程中,L型板25带动竖杆33在安装座34中向上移动,同时U型板12的右端下降,U型板12对对接架23进行挤压,对接架23向下挤压对接板19,对接板19沿着方杆18对弹簧22进行挤压,对接板19下降过程中,带动倾斜护板21向下移动,使倾斜护板21脱离光纤探头2,U型板12转动过程中,带动套筒15使光纤套筒15进行同步转动;
步骤四、暗室构建:滑套14上升过程中,带动第一齿牙板37上升,第一齿牙板37通过卡架带动U型隔板架36沿着辅助杆41上升,同时,第一齿牙板37带动齿轮38转动,使第二齿牙板39向下移动,第二齿牙板39带动U型盖35向下移动,在U型盖35套设在U型隔板架36外周后,构成暗室环境;
步骤五、光学测试:将光纤探头2与外界光谱分析仪对接后,控制电动伸缩气缸11继续伸长,或者控制旋转电机27转动,旋转电机27带动放置台3使测试件进行转动,外界光谱分析仪即可通过光纤探头2对测试件进行光学性能测试;
步骤六、氛围调节:需要添加灯光氛围时,通过调节旋钮43打开对应氛围灯42,对暗室环境的灯光氛围进行调节。

Claims (7)

1.一种光学性能测试平台,包括测试台(1)以及设置在测试台(1)上的光纤探头(2)和放置台(3),其特征在于:所述测试台(1)的顶部设置有摆动定位件(4),所述摆动定位件(4)正面的一侧固定连接有光纤探头卡件(5)和光纤探头保护件(6),所述摆动定位件(4)正面的另一侧转动安装有放置台调试座(7),且放置台调试座(7)通过竖直限位件(8)与测试台(1)固定连接;
所述测试台(1)的顶部还设置有暗箱壳(9),且摆动定位件(4)、光纤探头卡件(5)、光纤探头保护件(6)、放置台调试座(7)、竖直限位件(8)和放置台(3)均设置在暗箱壳(9)的内部;
所述摆动定位件(4)包括固定板(10)和电动伸缩气缸(11),所述固定板(10)的顶端套设并转动安装有U型板(12),所述U型板(12)的内部滑动安装有工型块(13),所述工型块(13)的底端通过转动块与电动伸缩气缸(11)的伸缩端转动连接,所述U型板(12)的外周还套设有滑套(14),所述滑套(14)设置在电动伸缩气缸(11)远离固定板(10)的一侧;
所述固定板(10)和电动伸缩气缸(11)均固定连接在测试台(1)的顶部;
所述光纤探头卡件(5)包括套筒(15),所述套筒(15)的表面贯穿并螺纹安装有紧固螺栓(16);
所述套筒(15)通过连接板固定连接在U型板(12)正面的一侧,并设置在固定板(10)的正前方;
所述光纤探头(2)设置在套筒(15)的内部,并与紧固螺栓(16)相配合使用;
所述光纤探头保护件(6)包括装配板(17),所述装配板(17)的顶部固定连接有方杆(18),所述方杆(18)的外周套设并滑动安装有对接板(19),所述方杆(18)的顶端固定连接有限位板(20),所述对接板(19)的一侧固定连接有倾斜护板(21),所述方杆(18)的外周套设有弹簧(22),且弹簧(22)的两端分别与对接板(19)和装配板(17)相对的一侧相接触,所述对接板(19)顶部的一侧固定连接有对接架(23);
所述对接架(23)顶部与U型板(12)底部的一侧相接触,所述装配板(17)固定连接在固定板(10)的正面;
所述倾斜护板(21)的一侧倾斜面与光纤探头(2)的一端相配合使用,所述倾斜护板(21)的另一侧倾斜面固定连接有定位激光发射头(24),所述U型板(12)的正面还设置有倾角传感器(44);
所述定位激光发射头(24)的激光发射方向与U型板(12)的倾斜方向平行设置,所述定位激光发射头(24)发出激光轴线与光纤探头(2)的轴线重合设置。
2.根据权利要求1所述的一种光学性能测试平台,其特征在于:所述放置台调试座(7)包括L型板(25),所述L型板(25)的底部开设有滑槽(26),所述滑槽(26)的内部滑动安装有旋转电机(27),所述旋转电机(27)的安装端固定连接有调节板(28),所述调节板(28)滑动安装在L型板(25)的表面,所述旋转电机(27)的输出端贯穿调节板(28),并与放置台(3)的底部固定连接;
所述调节板(28)正面的一侧贯穿并螺纹安装有调节丝杆(29),所述调节丝杆(29)的一端通过轴承与L型板(25)的表面转动连接,所述调节板(28)正面的另一侧贯穿并滑动安装有导向杆(30),所述导向杆(30)的一端与L型板(25)的表面固定连接;
所述L型板(25)的背部固定连接有套管(31),所述滑套(14)的正面固定连接有转轴(32),所述转轴(32)的外表面与套管(31)的内表面相配合使用。
3.根据权利要求2所述的一种光学性能测试平台,其特征在于:所述竖直限位件(8)包括竖杆(33)和安装座(34),所述竖杆(33)贯穿并滑动安装在安装座(34)的顶部;
所述竖杆(33)顶端与L型板(25)的底部固定连接,所述安装座(34)通过螺栓固定连接在测试台(1)的顶部。
4.根据权利要求3所述的一种光学性能测试平台,其特征在于:所述暗箱壳(9)内腔的顶部滑动安装有U型盖(35),所述暗箱壳(9)内腔的底部滑动安装有U型隔板架(36),所述滑套(14)的背部转动安装有第一齿牙板(37),所述暗箱壳(9)的一侧通过连接杆转动安装有齿轮(38),所述U型盖(35)内腔的顶部固定连接有第二齿牙板(39),所述第一齿牙板(37)和第二齿牙板(39)相对的一侧与齿轮(38)的外表面相啮合,所述第一齿牙板(37)通过卡架与U型隔板架(36)的内部固定连接,所述U型盖(35)的内腔的前后两侧分别与U型隔板架(36)的前后两侧相配合使用;
所述暗箱壳(9)的前后两侧均开设有常开口(40),所述测试台(1)顶部的两侧均固定连接有辅助杆(41),所述辅助杆(41)贯穿U型隔板架(36)设置。
5.根据权利要求4所述的一种光学性能测试平台,其特征在于:所述U型盖(35)的顶部贯穿并固定连接有若干个氛围灯(42),且U型盖(35)的正面设置有与氛围灯(42)相配合相适配的调节旋钮(43)。
6.根据权利要求1所述的一种光学性能测试平台,其特征在于:所述光纤探头(2)贯穿暗箱壳(9)设置。
7.一种应用于权利要求5所述的一种光学性能测试平台的使用方法,其特征在于:具体包括以下步骤:
步骤一、预固定:打开定位激光发射头(24),定位激光发射头(24)发出十字激光照射在放置台(3)上方,通过常开口(40)将测试件固定于放置台(3)上,过程中,保持测试件的发光中心处于激光下方;
步骤二、调节:透过常开口(40)观察测试件的发光中心是否处于十字激光正下方,是,转至步骤三,否,转动调节丝杆(29),调节丝杆(29)带动调节板(28)使放置台(3)带动测试件移动,将测试件的发光中心移动至十字激光正下方;
步骤三、测试调节:启动电动伸缩气缸(11),电动伸缩气缸(11)伸长,带动工型块(13)在U型板(12)中滑动,使U型板(12)围绕固定板(10)进行转动,倾角传感器(44)记录U型板(12)的倾斜角度,此时,U型板(12)的左端带动滑套(14)上升,滑套(14)通过转轴(32)带动套管(31)向上移动,套管(31)带动L型板(25)上升,使放置台(3)带动测试件上升,过程中,L型板(25)带动竖杆(33)在安装座(34)中向上移动,同时U型板(12)的右端下降,U型板(12)对对接架(23)进行挤压,对接架(23)向下挤压对接板(19),对接板(19)沿着方杆(18)对弹簧(22)进行挤压,对接板(19)下降过程中,带动倾斜护板(21)向下移动,使倾斜护板(21)脱离光纤探头(2),U型板(12)转动过程中,带动套筒(15)使光纤套筒(15)进行同步转动;
步骤四、暗室构建:滑套(14)上升过程中,带动第一齿牙板(37)上升,第一齿牙板(37)通过卡架带动U型隔板架(36)沿着辅助杆(41)上升,同时,第一齿牙板(37)带动齿轮(38)转动,使第二齿牙板(39)向下移动,第二齿牙板(39)带动U型盖(35)向下移动,在U型盖(35)套设在U型隔板架(36)外周后,构成暗室环境;
步骤五、光学测试:将光纤探头(2)与外界光谱分析仪对接后,控制电动伸缩气缸(11)继续伸长,或者控制旋转电机(27)转动,旋转电机(27)带动放置台(3)使测试件进行转动,外界光谱分析仪即可通过光纤探头(2)对测试件进行光学性能测试;
步骤六、氛围调节:需要添加灯光氛围时,通过调节旋钮(43)打开对应氛围灯(42),对暗室环境的灯光氛围进行调节。
CN202410205780.7A 2024-02-26 2024-02-26 一种光学性能测试平台 Active CN117782542B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410205780.7A CN117782542B (zh) 2024-02-26 2024-02-26 一种光学性能测试平台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202410205780.7A CN117782542B (zh) 2024-02-26 2024-02-26 一种光学性能测试平台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN117782542A CN117782542A (zh) 2024-03-29
CN117782542B true CN117782542B (zh) 2024-05-10

Family

ID=90402044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202410205780.7A Active CN117782542B (zh) 2024-02-26 2024-02-26 一种光学性能测试平台

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117782542B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN118409268A (zh) * 2024-05-07 2024-07-30 常熟理工学院 一种基于智能制造的智能电表数字化制造平台

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4975573A (en) * 1988-03-04 1990-12-04 Oerlikon Aerospatiale Optical test bench
EP0782024A2 (en) * 1995-12-22 1997-07-02 Lucent Technologies Inc. Method for positioning optical subassembly for testing
CN109029724A (zh) * 2018-10-18 2018-12-18 成都以太航空保障工程技术有限责任公司 一种用于光谱采集的三维光纤调整架
CN110749425A (zh) * 2019-10-31 2020-02-04 厦门大学 一种led多角度光学测试装置及测试方法
WO2022199397A1 (zh) * 2021-03-25 2022-09-29 苏州微创阿格斯医疗科技有限公司 一种侧向光光纤透镜的测量装置及其测量方法
CN217542333U (zh) * 2022-05-16 2022-10-04 深圳南方立讯检测有限公司 一种led测试激光对准装置
DE102021123155A1 (de) * 2021-09-07 2023-03-09 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Halteanordnung für ein optisches Element einer Laserbearbeitungsanlage
CN220064505U (zh) * 2023-06-13 2023-11-21 徐州格蓝光电科技有限公司 一种具有探头保护功能的工业内窥镜
CN220304800U (zh) * 2023-08-30 2024-01-05 一汽-大众汽车有限公司 一种探头的保护装置及带有探头保护装置的试验台

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4975573A (en) * 1988-03-04 1990-12-04 Oerlikon Aerospatiale Optical test bench
EP0782024A2 (en) * 1995-12-22 1997-07-02 Lucent Technologies Inc. Method for positioning optical subassembly for testing
CN109029724A (zh) * 2018-10-18 2018-12-18 成都以太航空保障工程技术有限责任公司 一种用于光谱采集的三维光纤调整架
CN110749425A (zh) * 2019-10-31 2020-02-04 厦门大学 一种led多角度光学测试装置及测试方法
WO2022199397A1 (zh) * 2021-03-25 2022-09-29 苏州微创阿格斯医疗科技有限公司 一种侧向光光纤透镜的测量装置及其测量方法
DE102021123155A1 (de) * 2021-09-07 2023-03-09 Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg Halteanordnung für ein optisches Element einer Laserbearbeitungsanlage
CN217542333U (zh) * 2022-05-16 2022-10-04 深圳南方立讯检测有限公司 一种led测试激光对准装置
CN220064505U (zh) * 2023-06-13 2023-11-21 徐州格蓝光电科技有限公司 一种具有探头保护功能的工业内窥镜
CN220304800U (zh) * 2023-08-30 2024-01-05 一汽-大众汽车有限公司 一种探头的保护装置及带有探头保护装置的试验台

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
TESTING OF A NEW IONIZING RADIATION DETECTOR BASED ON MULTIMODE OPTICAL FIBERS;Badita, ES, Mereuta, PE,Burducea, C;ROMANIAN REPORTS IN PHYSICS;20231107;第75卷(第3期);1-12 *
光纤偏振器件与组件的分布式串音测量研究进展;杨军;苑勇贵;喻张俊;李寒阳;侯长波;张浩亮;苑立波;;光电工程;20180906(第09期);82-93 *
光纤表面粗糙度测量中探头的精密定位;庞胜清,金曙光,陈志祥;航空精密制造技术;19950615(第03期);36-37 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN117782542A (zh) 2024-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN117782542B (zh) 一种光学性能测试平台
CN107764844B (zh) 大型ct检测设备的位置调整系统及其调整方法
CN115508054A (zh) 自动化光学检测装置、检测方法及检测系统
CN210773903U (zh) 一种铸件桌面式光学闪测仪
CN87104449A (zh) 计量装置
CN210346908U (zh) 一种光度检测装置
CN210344900U (zh) 一种全站仪三脚架
CN117214468A (zh) 一种电力调度控制板维修检测平台
CN201653543U (zh) 分布光度计旋转台
CN210833412U (zh) 一种多光源高精度ccd影像检测仪
CN213274781U (zh) 一种测试光学指纹模组功能的双模治具
CN212963684U (zh) 一种便携式计量装置
CN114563701A (zh) 一种电机快速精准检测用三维测试台及其测试方法
CN211402918U (zh) 一种用于检测分划板上十字线的显微镜
CN212540164U (zh) 电机换向器自动化视觉检测设备
JP3157467B2 (ja) 誘導形電力量計のクリープホール検出装置
CN217006297U (zh) 一种分布式光度计的测试装置
CN214427740U (zh) 镜头模组测试自动化用定位结构
CN218847972U (zh) 双相机柔性检测设备
CN217585813U (zh) 一种激光扫描仪在竖井作业时的稳定校正装置
CN221238386U (zh) 一种便携式激光投线仪
CN219266099U (zh) 一种仪表刻度盘和盖板透光度检测装置
CN218822768U (zh) 激光工作站光纤接头激光功率测量装置
CN118408578B (zh) 一种水平仪智能调试装置
CN221745472U (zh) Hud测试结构的控制装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant