CN117718198A - 涂布纠偏控制方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种涂布纠偏控制方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度；获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量；按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。采用本方法能够提高涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
Description
技术领域
本申请涉及电池制造技术领域，特别是涉及一种涂布纠偏控制方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
电池的涂布工序是电池生产最前沿也是最重要的工序之一，在涂布工序中，涂料的稳定性、均匀性、尺寸等都会影响电池的最终性能。
在进行连续涂布时，可能会由于涂布设备中的机械误差、导辊误差、振动以及极片张力的波动等原因，导致极片出现跑偏的现象，从而使得涂布过程中对极片两面的涂膜错位，进而导致电池的性能受到严重影响，增大了电池的生产成本。
目前大多采用人工纠偏的方式对极片涂布进行纠偏，这种纠偏方式的纠偏质量受到纠偏人员经验素质影响较大，纠偏准确性较低、响应速度较慢。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高纠偏准确性和纠偏效率的涂布纠偏控制方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
第一方面，本申请提供了一种涂布纠偏控制方法，所述方法包括：
获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据；
根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对；所述图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像；
基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，所述边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度；
获取基于多个所述边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量；
按照所述目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
上述实施例中，由于极片基材在涂布过程中的边缘错位值可以表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，因此基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值不仅可以准确的反映极片基材在涂布过程中第一涂膜区域和第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，还可以有效降低由于边缘错位值的确定误差对后续目标纠偏量的准确性产生的影响，根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，在后续按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏时，可以使纠偏后的极片基材的第一涂膜区域和对应第二涂膜区域之间的错位值接近于零，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
在其中一些实施例中，所述根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，包括：
在所述边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，确定所述边缘平均错位值表征的纠偏方向；
根据所述纠偏方向与所述预设纠偏阈值，确定涂布过程中的目标纠偏量。
上述实施例中，通过调用预设纠偏阈值与边缘平均错位值进行比较，能够在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，根据边缘平均错位值表征的纠偏方向以及预设纠偏阈值确定目标纠偏量，降低了过度纠偏发生的可能性，进而提高了涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
在其中一些实施例中，所述根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，包括：
在所述边缘平均错位值的绝对值小于或等于预设错位阈值的情况下，对所述边缘平均错位值按照预设的有效性要求进行取整处理，得到涂布过程中的目标纠偏量。
上述实施例中，在确定可以使用边缘平均错位值进行纠偏调节的情况下，根据预设的有效性要求对边缘平均错位值进行取整处理，能够使得到的目标就纠偏量满足纠偏部件的使用需求，提高了涂布纠偏的运行稳定性，进而提高了涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
在其中一些实施例中，所述基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，包括：
根据所述第一图像数据和所述第二图像数据的采集区域间隔参数，以及图像尺寸参数，确定所述第一图像数据与所述第二图像数据的图像相对调整参数；
基于所述图像相对调整参数，对所述第一图像数据包含的连续帧数的第一图像，和所述第二图像数据包含的连续帧数的第二图像进行配对，得到多组图像组合对。
上述实施例中，通过采集区域间隔参数和图像尺寸参数确定图像相对调整参数，根据图像相对调整参数对第一图像数据和第二图像数据中的图像进行配对，能够有效将采集区域位置相同的第一图像和第二图像进行配对，提高了后续基于配对后的图像组合对进行错位值计算的计算准确性，进而提高了涂布纠偏的准确性和效率。
在其中一些实施例中，根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对，包括：
在其中一些实施例中，所述基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，包括：
根据所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定所述第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及所述第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到所述基准边的第二距离；
基于所述第一距离和所述第二距离，确定初始错位值集合；所述初始错位值集合中包含至少两个初始错位值；
将根据所述初始错位值集合得到的初始平均错位值，确定为所述图像组合对的边缘错位值。
上述实施例中，通过确定第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到基准边的第二距离，确定各图像组合对的初始错位值集合，再将各初始错位值集合的初始平均错位值分别确定为各图像组合对的边缘错位值，可以有效提高边缘错位值的准确性，进而为后续的目标纠偏量计算提供了准确的数据基础。
在其中一些实施例中，所述按照所述目标纠偏量控制纠偏部件对极片基材进行纠偏，包括：
将基于所述目标纠偏量生成的纠偏指令发送给纠偏部件，所述纠偏指令用于指示所述纠偏部件对极片基材进行纠偏处理；
在接收到所述纠偏部件反馈的纠偏完成信号的情况下，确定进入下一个采样周期，返回执行所述获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据的步骤。
上述实施例中，在根据目标纠偏量进行纠偏处理后，控制器可以直接控制系统进行下一个采样周期，通过闭环的纠偏逻辑控制，能够在涂布过程中实时准确的确定极片基材的目标纠偏量，并按照目标纠偏量对极片基材进行自动调整，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
第二方面，本申请还提供了一种涂布纠偏控制装置，所述装置包括：
边缘错位值获取模块，用于获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据；根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对；所述图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像；基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，所述边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度；
目标纠偏量确定模块，用于根据基于多个所述边缘错位值确定的边缘平均错位值，确定涂布过程中的目标纠偏量；
纠偏控制模块，用于按照所述目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。
第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
第五方面，本申请提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
上述涂布纠偏控制方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，由于极片基材在涂布过程中的边缘错位值可以表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，因此基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值不仅可以准确的反映极片基材在涂布过程中第一涂膜区域和第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，还可以有效降低由于边缘错位值的确定误差对后续目标纠偏量的准确性产生的影响，根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，在后续按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏时，可以使纠偏后的极片基材的第一涂膜区域和对应第二涂膜区域之间的错位值接近于零，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
附图说明
图1为一个实施例中涂布纠偏系统的结构示意图；
图2为一个实施例中涂布纠偏控制方法的流程示意图；
图3为一个实施例中获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量步骤的流程示意图；
图4为另一个实施例中获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量步骤的流程示意图；
图5为一个实施例中获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值步骤的流程示意图；
图6为一个实施例中图像采集设备的设置位置示意图；
图7为一个实施例中根据第一图像数据和第二图像数据，确定多组图像组合对；图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像步骤的流程示意图；
图8为一个实施例中基于各图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各图像组合对的边缘错位值步骤的流程示意图；
图9为一个实施例中当涂布类型为一出二类型时的基准边示意图；
图10为一个实施例中当涂布类型为一出八类型时的基准边示意图；
图11为另一个实施例中涂布纠偏控制方法的流程示意图；
图12为一个实施例中当涂布类型为一出四类型时的极片基材示意图；
图13为一个实施例中涂布纠偏控制装置的结构框图；
图14为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上（包括两个），同理，“多组”指的是两组以上（包括两组），“多片”指的是两片以上（包括两片）。
在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”“纵向”“横向”“长度”“宽度”“厚度”“上”“下”“前”“后”“左”“右”“竖直”“水平”“顶”“底”“内”“外”“顺时针”“逆时针”“轴向”“径向”“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。
在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
电池作为为工具提供动力来源的电源，在储能电源系统以及电动交通工具等领域被广泛应用。电池的生产涉及多道复杂工序，例如搅拌工序、涂布工序、辊压工序、模切分条工序、卷绕工序、注液工序以及化成工序等。在众多复杂工序中，涂布工序可以认为是新能源电池的最前沿和最重要工序。
涂布工序是基于对流行物体的研究，将一层或者多层液体涂覆在一种基材上的工序，在涂布工序中，涂料的稳定性、均匀性、尺寸等等都会影响电池的最终性能。其中，涂布AB面的尺寸，包括位置尺寸、宽度尺寸、AB面错位尺寸，对电池容量和安全都有很大的影响。
在涂布过程中，由于涂布设备中的机械误差、导辊误差、振动以及极片张力的波动等原因，导致极片出现跑偏的现象，从而使得涂布过程中对极片两面的涂膜错位，若没有及时发现进行纠偏调整，可能会使电池的性能受到严重影响，增大电池的生产成本。因此，对极片涂布进行纠偏，是提高涂布生产效率的重要步骤。
为了能够提高对极片涂布进行纠偏时的纠偏准确性和纠偏效率，可以获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，由于极片基材在涂布过程中的边缘错位值可以表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，因此，基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，可以准确确定极片基材在涂布过程中第一涂膜区域和第二涂膜区域的边缘偏差程度，后续根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，按照目标纠偏量控制纠偏机构自动对极片基材进行纠偏，可以有效提高涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
本申请实施例提供的涂布纠偏控制方法，可以应用于如图1所示的涂布纠偏系统100中。涂布纠偏系统100包括第一模头101、第二模头102、烘箱103、纠偏机构104和控制器（图中未示出）。
其中，第一模头101用于对涂布A面进行浆料涂覆，第二模头102用于对涂布B面进行浆料涂覆，烘箱103用于对涂覆了浆料的极片基材105进行烘干处理，而在涂布AB面均涂覆浆料并烘干完成后，即可进行纠偏检测，确定是否需要进行纠偏。
其中，控制器可以与第一模头101、第二模头102和纠偏机构104进行通信连接，数据存储系统可以存储控制器需要处理的数据。数据存储系统可以集成在控制器上，也可以放在云上或其他网络服务器上。控制器获取极片基材105在涂布过程中的多个边缘错位值，边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度。可以理解的，极片基材第一表面可以是A面或B面，而极片基材第二表面是指与极片基材第一表面相对的那一面。控制器获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。其中，控制器可以是任意一种能够执行逻辑处理任务的控制芯片，例如微控制器MCU等。
纠偏部件可以是任意一种能够对涂布过程中的极片基材105进行纠偏的系统部件，例如在一些实施例中，纠偏部件可以是第二模头102。在另一些实施例中，纠偏部件可以纠偏机构104。
在一些实施例中，可以在涂布B面经过烘箱烘干后，通过人工检测的方式对极片基材的A面和B面进行边缘错位值检测。
在另一些实施例中，还可以在靠近烘箱103的末端位置设置图像采集设备，通过图像采集的方式对极片基材的A面和B面进行边缘错位值检测。图像采集设备可以是任意一种能够实现图像采集的设备，例如电荷耦合元件相机。
而在本实施例中，通过在靠近烘箱103的末端位置设置了CCD相机检测模块106，可以对极片基材105的涂布表面进行图像采集，得到相应的图像数据。由于在进行涂布纠偏时，需要准确确定极片基材105的AB面对应涂膜区域的错位情况，只能同时对极片基材105的AB面进行图像采集，因此在本实施例中，CCD相机检测模块106中又包含了第一采集设备，即CCD1，和第二采集设备，即CCD2，其中，CCD1用于对极片基材105的涂布A面进行图像采集，CCD2用于对极片基材105的涂布B面进行图像采集。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种涂布纠偏控制方法，以该方法应用于图1中涂布纠偏系统的控制器为例进行说明，包括以下步骤：
S202，获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度。
其中，极片基材是指锂离子电池集流体，也就是涂布工艺的涂布对象，涂布工艺是指将一层或多层浆料涂覆到基材上的工艺。极片基材使用的具体材料可以根据实际生产需求确定，例如可以使用如铜、铝、镍和不锈钢等金属半导体材料，也可以采用碳等半导体材料或复合材料。可以理解的，电池的极片可以包括正极极片和负极极片，在一些实施例中，用于生产正极极片的极片基材可以使用铝箔材料，用于生产负极极片的极片基材可以使用铜箔材料。
为了提高涂布效率，目前常用的涂布工艺都是双面涂布工艺，即对于极片基材的两面同时进行涂布，第一表面和第二表面分别表示极片基材对应涂布的两个面，例如当第一表面为极片基材的涂布正面时，对应的第二表面可以为与极片基材上的第一表面对应的涂布反面，反之当第一表面为极片基材的涂布反面时，对应的第二表面可以为与第一表面对应的涂布正面。
在对第一表面和第二表面进行涂布时，涂覆浆料的区域被称为涂膜区域，而未涂覆浆料的区域称为留白区域，也可以称为极耳区域，因此，第一表面的涂覆区域称为第一涂膜区域，第二表面的涂覆区域称为第二涂膜区域。可以理解的，在第一表面和第二表面可以分别存在多个第一涂膜区域和第二涂膜区域，第一涂膜区域和第二涂膜区域的具体个数根据实际生产情况确定。在一些实施例中，第一涂膜区域的个数与第二涂膜区域的个数相同。
边缘错位值可以用于表征第一涂膜区域与第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，当第一涂膜区域和对应的第二涂膜区域的区域边缘存在偏差时，可能会导致生产的电池的性能受到影响，因此需要进行纠偏。可以理解的，边缘错位值的具体个数可以根据第一涂膜区域和第二涂膜区域的具体个数确定。
在其中一些实施例中，边缘错位值可以根据第一涂膜区域的区域边缘位置和对应的第二涂膜区域的区域边缘位置确定。可以理解的，涂膜区域的区域边缘以是指沿涂膜区域长度方向上的边缘，也可以称为极片的纵向方向。
在其中一些实施例中，边缘错位值可以由人工手动测量，例如通过长度测量工具实际测量第一涂膜区域的区域边缘与对应的第二涂膜区域的区域边缘之间的边缘错位值。此时控制器可以获取工作人员手动输入的多个边缘错位值，进行后续的纠偏控制。
在其中一些实施例中，边缘错位值可以通过如图1所示的图像采集设备对第一表面和第二表面进行图像采集确定，例如可以通过电荷耦合元件（charge coupled device，CCD）相机，同时对第一表面和第二表面进行图像采集，得到图像采集数据，再基于图像采集数据进行错位检测，得到用于表征第一涂膜区域与第二涂膜区域的区域边缘偏差程度的边缘错位值。此时控制器可以与图像采集设备进行通信连接，直接根据图像采集设备所采集的图像数据确定极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值。
在一些可选实施例中，控制器可以获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，根据多个边缘错位值来了解极片基材第一表面的第一涂膜区域与极片基材第二表面的第二涂膜区域之间的区域边缘偏差程度。
S204，获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量。
其中，边缘平均错位值可以用于表征极片基材在涂布过程中所有第一涂膜区域和其对应的第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度。
在一些可选实施例中，控制器在得到极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值后，可以基于多个边缘错位值确定边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量。由于边缘平均错位值能够表征极片基材在涂布过程中所有第一涂膜区域和其对应的第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，因此，根据基于边缘平均错位值确定的目标纠偏量进行涂布纠偏，可以使纠偏后的极片基材中整体涂膜区域偏差程度趋近于零。
在其中一些实施例中，可以直接将边缘平均错位值确定为涂布过程中的目标纠偏量。
S206，按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
可以理解的，控制器与纠偏部件之间存在通信连接，控制器在确定了目标纠偏量后，即可根据目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
在其中一些实施例中，控制器可以根据目标纠偏量生成纠偏指令，并将纠偏指令发送给纠偏部件，通过纠偏指令指示纠偏部件对极片基材进行纠偏。纠偏部件接收纠偏指令后，对纠偏指令进行解析即可根据纠偏指令携带的目标纠偏量运行，实现涂布纠偏的效果。
在其中一些实施例中，控制器可以控制第二模头的工作区域移动进行涂布纠偏。在另一些实施例中，控制器也可以控制纠偏机构上下摆动对极片基材进行纠偏，实现纠偏效果。
上述涂布纠偏控制方法中，由于极片基材在涂布过程中的边缘错位值可以表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，因此基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值不仅可以准确的反映极片基材在涂布过程中第一涂膜区域和第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，还可以有效降低由于边缘错位值的确定误差对后续目标纠偏量的准确性产生的影响，根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，在后续按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏时，可以使纠偏后的极片基材的第一涂膜区域和对应第二涂膜区域之间的错位值接近于零，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
极片基材在涂布过程中，考虑到极片基材表面会存在对应的表面张力，为了在纠偏过程中不影响极片基材的涂布效果，在一些实施例中，如图3所示，S204获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，包括以下步骤：
S302，在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，确定边缘平均错位值表征的纠偏方向。
其中，预设纠偏阈值是用于判断是否会产生过度纠偏情况的判断参数，可以理解的，预设纠偏阈值可以由设计人员根据实际的极片基材和/或纠偏部件的纠偏参数确定。在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，可以说明当前的边缘平均错位值过大，即当前第一表面的第一涂膜区域与其对应的第二表面的第二涂膜区域的错位程度偏大，如果直接按照边缘平均错位值进行纠偏，很有可能导致过度纠偏，进而产生例如涂布打皱、断裂的情况，影响涂布效果。
边缘平均错位值用于表征极片基材在涂布过程中各第一涂膜区域和其对应的各第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，计算时边缘平均错位值可以为正也可以为负，这里的正与负不代表边缘平均错位值的大小，而是表征纠偏方向。例如当确定边缘平均错位值为正值，纠偏部件应该向第一纠偏方向进行纠偏时，那么当边缘平均错位值为负值，纠偏部件应该向第二纠偏方向进行纠偏，其中第一纠偏方向与第二纠偏方向为相对方向，如若第一纠偏方向为左，那么第二纠偏方向就为右。若第一纠偏方向为右，那么第二纠偏方向就为左。
在一些可选实施例中，控制器在基于多个边缘错位值确定边缘平均错位值后，调用预设纠偏阈值，将边缘平均错位值的绝对值与预设纠偏阈值进行比较，在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，说明当前边缘平均错位值的绝对值过大，会存在过度纠偏的可能，不能直接按照边缘平均错位值进行纠偏处理，控制器将确定边缘平均错位值表征的纠偏方向，以便于后续根据该纠偏方向进行纠偏，降低由于纠偏方向错误而导致涂布效果不佳的产生可能性。
S304，根据纠偏方向与预设纠偏阈值，确定涂布过程中的目标纠偏量。
在一些可选实施例中，由于预设纠偏阈值是用于判断是否会产生过度纠偏情况的判断参数，因此在确定边缘平均错位值过大的情况下，预设纠偏阈值就是当前可调节的最大纠偏量。控制器在获取到边缘平均错位值所表征的纠偏方向后，可以根据纠偏方向和预设纠偏阈值确定涂布过程的目标纠偏量。
例如，当边缘平均错位值为-0.58，预设纠偏阈值为0.5的情况下，可以确定边缘平均错位值的绝对值∣0.58∣＞预设纠偏阈值0.5，控制器此时可以确定目标纠偏量为-0.5。
上述实施例中，通过调用预设纠偏阈值与边缘平均错位值进行比较，能够在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，根据边缘平均错位值表征的纠偏方向以及预设纠偏阈值确定目标纠偏量，降低了过度纠偏发生的可能性，进而提高了涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
在另一些实施例中，如图4所示，S204获取基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量包括以下步骤：
S402，在边缘平均错位值的绝对值小于或等于预设错位阈值的情况下，对边缘平均错位值按照预设的有效性要求进行取整处理，得到涂布过程中的目标纠偏量。
其中，有效性要求是基于纠偏部件的实际纠偏参数要求所设置的数据要求，由于边缘平均错位值是根据多个边缘错位值进行求平均后得到的数据值，在某些时候，可能会出现边缘平均错位值小数点后有效数值较多的情况，不满足纠偏部件的实际纠偏参数要求。因此，设计人员可以根据纠偏部件的实际纠偏参数要求设置有效性要求，在确定可以使用边缘平均错位值进行纠偏调整的情况下，根据预设的有效性要求对边缘平均错位值进行取整处理，得到符合纠偏部件实际纠偏参数要求的目标纠偏量。
在其中一些实施例中，有效性要求可以是目标纠偏量为0.1的倍数，控制器可以通过对边缘平均错位值进行四舍五入的处理，以得到最终的目标纠偏量。例如当边缘平均错位值为0.33时，可以将0.3确定为目标纠偏量。
可以理解的，在边缘平均错位值的绝对值小于或等于预设错位阈值的情况下，可以认为当前基于边缘平均错位值进行纠偏，不会导致过度纠偏的情况发生。
因此，在一些可选实施例中，控制器在边缘平均错位值小于或等于预设错位阈值的情况下，根据预先设置的有效性要求对边缘平均错位值进行取整处理，得到涂布过程中的目标纠偏量。
上述实施例中，在确定可以使用边缘平均错位值就行纠偏调节的情况下，根据预设的有效性要求对边缘平均错位值进行取整处理，能够使得到的目标纠偏量满足纠偏部件的使用需求，提高了涂布纠偏的运行稳定性，进而提高了涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
极片基材在涂布过程中的边缘错位值检测，是涂布纠偏控制的一个重要步骤，边缘错位值检测的准确性将直接影响到后续目标纠偏量的准确性，下面将以几个实施例对如何准确得到涂布过程中的边缘错位值进行举例说明。
在一些实施例中，如图5所示，获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，包括：
S502，获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据。
其中，为了能够提高检测准确性，设计人员可以预先设置图像采集设备工作的采样周期，图像采集设备可以在采样周期内对极片基材的第一表面和第二表面进行多次采样，得到相应的第一图像数据和第二图像数据。可以理解的，第一图像数据中可以包括多帧连续第一图像，第二图像数据中可以包括多帧连续第二图像，第一图像数据和第二图像数据中具体包含的图像帧数量根据设计人员预先设置的采样周期，以及图像采集设备的工作参数确定。
在一些可选实施例中，控制器与图像采集设备进行通信连接，当进入采集周期时，控制器可以生成图像采集指令，将图像采集指令发送给图像采集设备，图像采集设备响应于接收到的图像采集指令，分别对极片基材第一表面和极片基材第二表面进行图像采集，得到第一图像数据和第二图像数据。
S504，根据第一图像数据和第二图像数据，确定多组图像组合对；图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像。
可以理解的，为了提高图像的采集质量，一般会对位于辊轮上的极片基材表面进行图像采集，以此降低图像采集过程中由于非辊轮区域极片基材抖动导致的采集质量较低的概率，而在涂布过程中，辊轮上不可能同时存在第一表面和第二表面。
为了能够使图像采集设备可以同时对第一表面和第二表面进行图像采集，如图6所示，图像采集设备可以包括第一采集设备和第二采集设备，第一采集设备和第二采集设备分别对相距一定长度L的两个辊轮上的极片基材表面同时进行图像采集。可以看出，由于采集位置的不同，第一采集设备和第二采集设备同时采集得到的第一图像所对应的第一涂膜区域和第二图像所对应的第二涂膜区域，并不是极片基材上正反面相对的涂膜区域，第一采集设备和第二采集设备会相隔一定张数的图片。
由于边缘错位值是用于表征极片基材第一表面的第一涂膜区域与极片基材第二表面对应的第二涂膜区域的边缘偏差程度的参数，因此，为了提高边缘错位值的检测准确性，需要对第一图像数据中包含的第一图像与第二图像数据中包含的第二图像进行匹配组合，使组合得到的图像组合对中的第一图像所包含的第一涂膜区域和第二图像所包含的第二涂膜区域为相对区域，即图像组合对中第一图像与第二图形的采集区域位置相同。
在一些可选实施例中，控制器获取到第一图像数据和第二图像数据后，将第一图像数据和第二图像数据中的第一图像和第二图像进行匹配组合，得到包含采集区域位置相同的第一图像和第二图像的多组图像组合对。
S506，基于各图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各图像组合对的边缘错位值。
控制器在得到多组图像组合对后，即可对多组图像组合对中的第一图像和第二图像进行图像处理，确定各图像组合对中第一图像所采集的第一涂膜区域与第二图像所采集的第二涂膜区域之间的区域边缘错位值，得到各图像组合对的边缘错位值。
可以理解的，在其中一些实施例中，图像组合对的第一图像可以包含有多个第一涂膜区域，同样的，第二图像也可以包含与第一图像对应的多个第二涂膜区域，控制器可以基于第一图像和第二图像得到多个初始边缘错位值，初始边缘错位值用于表征其中某个第一涂膜区域与对应第二涂膜区域的区域边缘错位值，随后将多个初始边缘错位值的平均值确定为该图像组合对的边缘错位值。
上述实施例中，通过图像采集的方式对极片基材第一表面和极片基材第二表面进行图像采集，并将采集区域位置相同的第一图像和第二图像组合为图像组合对，能够提高图像组合对中第一图像所包含的第一涂膜区域与第二图像所包含的第二涂膜区域的匹配准确性，后续在确定边缘错位值时，只需要根据图像组合对中的第一图像和第二图像，即可直观准确的确定用于表征第一图像中第一涂膜区域和第二图像中第二涂膜区域的区域边缘错位情况的边缘错位值，有效提高了各边缘错位值确定的准确性和效率。
进一步的，在一些实施例中，如图7所示，步骤S504根据第一图像数据和第二图像数据，确定多组图像组合对；图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像，包括以下步骤：
S702，根据第一图像数据和第二图像数据的采集区域间隔参数，以及图像尺寸参数，确定第一图像数据与第二图像数据的图像相对调整参数。
其中，采集区域间隔参数是指第一采集设备的图像采集位置与第二采集设备的图像采集位置之间的间隔参数。例如第一采集设备对应的第一辊轮与第二采集设备对应的第二辊轮之间的距离参数L。
图像尺寸参数可以用于表征采集图像的图像尺寸大小，例如第一采集设备和第二采集设备进行图像采集得到的图像尺寸，可以理解的，第一采集设备和第二采集设备拥有同样的图像尺寸参数。
图像相对调整参数是为了将第一图像数据中的第一图像与第二图像数据中的第二图像进行图像匹配的调整参数，可以是第一采集设备和第二采集设备之间采集图像的图像间隔数量。使用图像相对调整参数对第一图像数据和第二图像数据进行图像调整配对，可以得到对应的多组图像组合对。
在一些可选实施例中，控制器根据第一图像数据和第二图像数据的采集区域间隔参数，以及图像尺寸参数，确定第一图像数据和第二图像数据的图像相对调整参数。
在其中一些实施例中，以采集区域间隔参数为L，图像尺寸参数为图像长度M进行举例，控制器可以将F=L/M确定为第一图像数据和第二图像数据的图像相对调整参数。
S704，基于图像相对调整参数，对第一图像数据包含的连续帧数的第一图像，和第二图像数据包含的连续帧数的第二图像进行配对，得到多组图像组合对。
其中，图像采集设备在一个采集周期内对极片基材进行图像采集，得到的第一图像数据会包含连续帧数的第一图像，第二图像数据会包含连续帧数的第二图像。连续帧数的具体数量与采集周期内极片基材的运动距离和图像尺寸参数相关。以采集周期极片基材的运动距离为S、图像尺寸参数为图像长度M进行举例说明，此时第一图像数据中将会包含帧数为N=S/M（N取整数）的连续帧第一图像，第二图像数据中也会包含有连续N帧的第二图像。
虽然第一图像数据中的图像帧数与第二图像数据中的图像帧数相等，然而如图6所示的采集环境，可知第一采集设备和第二采集设备同时进行图像采集时，采集得到的第一图像与第二图像所表征的第一涂膜区域与第二涂膜区域一定不会是相对的涂膜区域，即第一图像数据与第二图像数据中同一帧数对应的第一图像与第二图像对极片基材所采集的区域不同。
因此，控制器在得到图像相对调整参数后，可以基于图像相对调整参数，对第一图像数据中包含的连续帧数的第一图像，和第二图像数据中包含的连续帧数的第二图像进行配对，将采集区域位置相同的第一图像和第二图像匹配组合得到一个图像组合对，以此得到多组图像组合对。
例如，在第一采集设备和第二采集设备分别采集了N张图像的情况下，第一图像数据中包含有Na1、Na2、Na3…NaN张第一图像。第二图像数据中包含有Nb1、Nb2、Nb3…NbN张第二图像。若图像相对调整参数F=2，表示第一采集设备和第二采集设备之间采集图像的图像间隔数量为2，为了使计算边缘错位值的第一图像和第二图像的区域在同一区域，可以将Nb1和Na3确定为一组图像组合对，将Nb2和Na4确定为一组图像组合对等，即第一图像数据和第二图像数据可以匹配组合的组合对包括（Nb1，Na3）、（Nb2，Na4）…（Nb (N-2)，NaN）。
上述实施例中，通过采集区域间隔参数和图像尺寸参数确定图像相对调整参数，根据图像相对调整参数对第一图像数据和第二图像数据中的图像进行配对，能够有效将采集区域位置相同的第一图像和第二图像进行配对，提高了后续基于配对后的图像组合对进行错位值计算的计算准确性，进而提高了涂布纠偏的准确性和效率。
而在得到了包含的配对后的第一图像和第二图像的图像组合对后，在一些实施例中，如图8所示，基于各图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各图像组合对的边缘错位值，包括：
S802，根据图像组合对中的第一图像和第二图像，确定第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到基准边的第二距离。
其中，基准边可以认为是极片基材沿长度方向的边缘，在图像中，基准边可以认为是该图像对应的图像采集区域中极片基材沿长度方向的边缘。由于第一采集设备和第二采集设备都是同时触发进行图像采集，因此，通过比较各涂膜区域的边缘到基准边的距离，得到的距离差值就可以反应第一涂膜区域和对应第二涂膜区域的区域边缘偏差程度。
在一些可选实施例中，控制器在得到多组图像组合对之后，根据图像组合对中的第一图像和第二图像，分别确定第一图像中极片基材第一表面上第一涂膜区域的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及第二图像中极片基材第二表面上第二涂膜区域的涂膜区边缘到基准边的第二距离。
可以理解的，在图像中，极片基材沿长度方向的边缘有两个，在其中一些实施例中，可以将两个边缘中的任意一个边缘确定为基准边，计算各涂膜区域的涂膜区边缘到基准边的距离。
由于极片基材上分布有涂覆区和留白区，在运动过程中，受张力等因素的影响，留白区容易出现打皱的问题，为了能够减少极耳打皱的干扰，在另一些实施例中，控制器可以根据极片基材的涂布类型，确定各涂膜区边缘对应的目标基准边，在确定边缘错位值时，控制器确定极片基材第一表面上的涂膜区边缘到对应目标基准边的第一距离，以及极片基材第二表面上的涂膜区边缘到对应目标基准边的第二距离。
进一步的，在其中一些实施例中，根据极片基材的涂布类型，确定各涂膜区边缘对应的目标基准边可以包括：根据极片基材的涂布类型，确定基准边数量，在基准边数量为两条的情况下，确定极片基材的各涂膜区边缘对应的目标基准边。
在一些可选实施例中，如图9所示，在涂布类型为一出二类型的情况下，可以确定基准边数量为一条。
在另一些可选实施例中，在涂布类型为非一出二类型的情况下，可以确定基准边数量为两条，例如在涂布类型为一出三、一出四、一出六、一出八、一出十、一出十二等类型的情况下，可以确定基准边数量为两条。
图10是当涂布类型为一出八对应的基准边示意图。以涂布类型为一出八类型进行举例，由图10可以看出，在一出八类型的情况下，可以使用两条基准线，控制器可以根据各涂膜区域边缘到两条基准线的距离来确定各涂膜区边缘的目标基准线，例如将距离最短的基准线确定为涂膜区边缘的目标基准线。也可以根据涂膜区域的数量来确定各涂膜区域边缘的目标基准线，例如将左边的第一基准线确定为左边两对涂膜区域中各涂膜区域边缘对应的目标基准线，将右边的第二基准线确定为右边两对涂膜区域中各涂膜区域边缘对应的目标基准线。
可以理解的，不同的基准边所对应的纠偏方向不同，即计算得到距离的正负值也不同，例如在图10中，如果以第一基准线计算的错位值定义±方向，那么第二基准线计算出的错位值需要加一个“-”。
在非一出二类型的情况下，通过设置两条基准边，可以在进行错位值计算时，有效降低留白区域由于极耳打皱情况所产生的干扰，提高边缘错位值的计算准确性，进而提高涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
S804，基于第一距离和第二距离，确定初始错位值集合；初始错位值集合中包含至少两个初始错位值。
其中，初始错位值是指相对的第一涂膜区域与第二涂膜区域之间的区域错位值，可以理解的，一帧图像中至少包含有一个涂膜区域，则一组图像组合对中，第一图像和第二图像至少包括有一组对应的涂膜区域，即相互对应的第一涂膜区域和第二涂膜区域，例如图9所示的一出二类型，每个涂膜区域都会有两个区域边缘，如图9中A面涂膜区域的边缘1和边缘2，以及B面涂膜区域的边缘3和边缘4，因此，每组图像组合对中，至少会包含两个第一距离和两个第二距离，如图9中的AL1、AL2和BL1和BL2。基于两个第一距离和两个第二距离确定初始错位值，则每组图像组合对会有至少两个初始错位值，如AL1-BL1和AL2-BL2。
在一些可选实施例中，控制器可以基于获取到的第一距离和第二距离，确定图像组合对的至少两个初始错位值，得到初始错位值集合。
S806，将根据初始错位值集合得到的初始平均错位值，确定为图像组合对的边缘错位值。
控制器在得到图像组合对的初始错位值集合后，根据初始错位值集合确定初始平均错位值，将初始平均错位值确定为图像组合对的边缘错位值。
上述实施例中，通过确定第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到基准边的第二距离，确定各图像组合对的初始错位值集合，再将各初始错位值集合的初始平均错位值分别确定为各图像组合对的边缘错位值，可以有效提高边缘错位值的准确性，进而为后续的目标纠偏量计算提供了准确的数据基础。
在准确的确定了目标纠偏量后，就可以按照目标纠偏量对极片基材进行纠偏调整。在一些实施例中，在如图4所示的涂布纠偏方法的基础上，按照目标纠偏量控制纠偏机构对极片基材进行纠偏，包括：
将基于目标纠偏量生成的纠偏指令发送给纠偏部件，纠偏指令用于指示纠偏部件对极片基材进行纠偏处理。在接收到纠偏部件反馈的纠偏完成信号的情况下，确定进入下一个采样周期，返回执行获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据的步骤。
在一些可选实施例中，控制器在确定了目标纠偏量后，可以基于目标纠偏量生成纠偏指令，将纠偏指令发送给纠偏部件，开始进入纠偏周期。纠偏部件响应于接收到的纠偏指令，对极片基材进行纠偏处理，在纠偏完成后，纠偏部件将生成纠偏完成信号，并将纠偏完成信号反馈给控制器。控制器接收到的纠偏完成信号，确定可以进入下一个采样周期，返回执行获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据的步骤。
在其中一些实施例中，纠偏部件在纠偏时长达到预设纠偏时长的情况下，确定纠偏完成。可以理解的，预设纠偏时长可以由设计人员根据极片基材从纠偏部件所处位置运动到图像采集设备的图像采集区域所需的运动时长确定。例如可以将极片基材从纠偏部件所处位置运动到图像采集区域所需的运动时长确定为预设纠偏时长。当纠偏时长达到预设纠偏时长的情况下，说明当前图像采集区域中的极片基材为纠偏调整后的极片基材，控制器可以控制图像采集设备对纠偏后的极片基材继续进行涂布纠偏。
上述实施例中，在根据目标纠偏量进行纠偏处理后，控制器可以直接控制系统进入下一个采样周期，通过闭环的纠偏逻辑控制，能够在涂布过程中实时准确地确定极片基材的目标纠偏量，并按照目标纠偏量对极片基材进行自动调整，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
在一些实施例中，如图11所示，提供了一种涂布纠偏控制方法，以该方法应用于图1所示的涂布纠偏系统为例进行说明。涂布纠偏控制方法具体包括以下步骤：
S1101，获取在当前采集周期对涂布A、B面进行多次采集得到的第一图像数据和第二图像数据。
其中，控制器在进入采集周期后，生成图像采集指令，将图像采集指令发送给CCD相机检测模块，CCD相机检测模块响应于图像采集指令，同时控制CCD1对涂布A面进行图像采集，得到第一图像数据，控制CCD2对涂布B面进行图像采集，得到第二图像数据。
根据第一图像数据和第二图像数据可以生成N组图片，每组图片中都包含采集区域位置相同的第一图像和第二图像。可以理解的，在每帧图片长度为M的情况下，N张图片的总长度L=M×N为采样周期，其中，采用周期L＜F，F为CCD相机到B面涂膜头，也就是第二模头的机械距离。
S1102，通过错位逻辑计算出涂布A面和涂布B面各涂膜区域的初始错位值。
其中，错位逻辑是指计算得到各涂膜区域的初始错位值的计算逻辑，以涂布类型为一出四类型的极片基材为例对错位逻辑进行说明，如图12所示，一出四类型的极片基材对应有两条基准线，而AB面对应的涂膜1都以第一基准线为目标基准线，AB面对应的涂膜2都以第二基准线为目标基准线。控制器确定各涂膜区域到基准线的距离，可以得到A面涂膜的第一距离AL1、AL2、AL3和AL4，得到B面涂膜的第二距离BL1、BL2、BL3和BL4，根据第一距离和第二距离，控制器可以确定AB面的涂膜初始错位值，其中，AB面错位1=AL1-BL1，AB面错位2=AL2-BL2，AB面错位3=AL3-BL3，AB面错位4=AL4-BL4，将错位1、2、3、4对应计算得到的初始错位值以a、b、c、d替代。
S1103，将各初始错位值求和后取平均值为边缘错位值x。
控制器对每组图片组合对的初始错位值求和后取均值得到边缘错位值x=（a+b+c+d）/4。边缘错位值就可以表征每组图像组合对中所有第一涂膜区域与对应第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，通过取平均值的方式确定边缘错位值，可以更好的降低图像组合对中某些偏差程度过大的区域边缘错位值对整体的边缘错位值的影响，为后续得到准确的边缘平均错位值提供了数据基础。
S1104，将N组图片组合对里的x值取平均后，得到边缘平均错位值y。
可以理解的，N组图片组合对会有N个边缘错位值x，分别为x1、x2、x3…xN，取均值后得到边缘平均错位值y，y=（x1+x2+x3+x4+x5+x6+……+xN）/N。边缘平均错位值就可以表征极片基材在涂布过程中所有第一涂膜区域和其对应的第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度。同样的，通过取平均值的方式确定边缘平均错位值，可以进一步平均每一组图像组合对中确定的边缘错位值的误差程度，有效降低了由于边缘错位值的生成误差对最终的目标纠偏量所产生的影响程度，提高了目标纠偏量的准确性，进而提高了后续基于目标纠偏量进行涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
S1105，将边缘平均错位值y用纠偏闭环逻辑计算后得到最终的目标纠偏量Y。
可以理解的，纠偏闭环逻辑是指如何根据边缘平均错位值y确定目标纠偏量Y的计算逻辑。以下是对纠偏闭环逻辑的举例说明：
控制器在得到边缘平均错位值y后，将y与预设纠偏阈值进行比较，预设纠偏阈值为0.5。
在y的绝对值|y|＞0.5的情况下，控制器确定目标纠偏量Y=0.5，纠偏方向与y所表征的纠偏方向一致。
在y的绝对值|y|≤0.5的情况下，控制器确定目标纠偏量Y=y的0.1倍数的四舍五入。
S1106，将目标纠偏量Y发送给纠偏机构，纠偏机构接收目标纠偏量Y，执行纠偏动作。
控制器根据目标纠偏量Y生成纠偏指令，将纠偏指令发送给纠偏机构，纠偏机构响应于纠偏指令，根据目标纠偏量执行纠偏动作，进入纠偏周期，当第一个纠偏周期开始后，此时CCD会继续随着极片走带运动而拍照检测，当极片走带距离大于F以后，就会开始一个新的采样周期，控制器将返回执行S1201。
本实施例中的涂布纠偏控制方法，使用CCD测量的AB面尺寸，通过错位闭环逻辑计算出纠偏量，控制纠偏机构或者涂布机构按照纠偏量自动调整，从而使得涂布AB面错位尺寸在规格要求范围内，有效提高了涂布纠偏的准确性和纠偏效率。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的涂布纠偏控制方法的涂布纠偏控制装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个涂布纠偏控制装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于涂布纠偏控制方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图13所示，提供了一种涂布纠偏控制装置1300，包括：边缘错位值获取模块1301、目标纠偏量确定模块1302和纠偏控制模块1303，其中：
边缘错位值获取模块1301，用于获取极片基材在涂布过程中的多个边缘错位值，边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度。
目标纠偏量确定模块1302，用于根据基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值，确定涂布过程中的目标纠偏量。
纠偏控制模块1303，用于按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
上述涂布纠偏控制装置，由于极片基材在涂布过程中的边缘错位值可以表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度，因此基于多个边缘错位值确定的边缘平均错位值不仅可以准确的反映极片基材在涂布过程中第一涂膜区域和第二涂膜区域的整体涂膜区域偏差程度，还可以有效降低由于边缘错位值的确定误差对后续目标纠偏量的准确性产生的影响，根据边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，在后续按照目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏时，可以使纠偏后的极片基材的第一涂膜区域和对应第二涂膜区域之间的错位值接近于零，有效提高了涂布纠偏的纠偏准确性和纠偏效率。
在一些实施例中，目标纠偏量确定模块还用于：在边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，确定边缘平均错位值表征的纠偏方向；根据纠偏方向与预设纠偏阈值，确定涂布过程中的目标纠偏量。
在一些实施例中，目标纠偏量确定模块还用于：在边缘平均错位值的绝对值小于或等于预设错位阈值的情况下，对边缘平均错位值按照预设的有效性要求进行取整处理，得到涂布过程中的目标纠偏量。
在一些实施例中，边缘错位值获取模块还用于：获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据；根据第一图像数据和第二图像数据，确定多组图像组合对；图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像；基于各图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各图像组合对的边缘错位值。
在一些实施例中，边缘错位值获取模块还用于：根据图像组合对中的第一图像和第二图像，确定第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到基准边的第二距离；基于第一距离和第二距离，确定初始错位值集合；初始错位值集合中包含至少两个初始错位值；将根据初始错位值集合得到的初始平均错位值，确定为图像组合对的边缘错位值。
在一个实施例中，边缘错位值获取模块还用于：根据第一图像数据和第二图像数据的采集区域间隔参数，以及图像尺寸参数，确定第一图像数据与第二图像数据的图像相对调整参数；基于图像相对调整参数，对第一图像数据包含的连续帧数的第一图像，和第二图像数据包含的连续帧数的第二图像进行配对，得到多组图像组合对。
在一个实施例中，纠偏控制模块还用于：将基于目标纠偏量生成的纠偏指令发送给纠偏部件，纠偏指令用于指示纠偏部件对极片基材进行纠偏处理；在接收到纠偏部件反馈的纠偏完成指令的情况下，确定进入下一个采样周期，返回执行获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据的步骤。
上述涂布纠偏控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是控制器，其内部结构图可以如图14所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储边缘错位值、边缘平均错位值、目标纠偏量等数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种涂布纠偏控制方法。
本领域技术人员可以理解，图14中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述涂布纠偏控制方法的具体实施步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述涂布纠偏控制方法的具体实施步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述涂布纠偏控制方法的具体实施步骤。
需要说明的是，本申请所涉及的用户信息（包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等）和数据（包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等），均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种涂布纠偏控制方法，其特征在于，所述方法包括：
获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据；
根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对；所述图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像；
基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，所述边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度；
获取基于多个所述边缘错位值确定的边缘平均错位值，并根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量；
按照所述目标纠偏量控制纠偏部件进行涂布纠偏。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，包括：
在所述边缘平均错位值的绝对值大于预设纠偏阈值的情况下，确定所述边缘平均错位值表征的纠偏方向；
根据所述纠偏方向与所述预设纠偏阈值，确定涂布过程中的目标纠偏量。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述边缘平均错位值确定涂布过程中的目标纠偏量，包括：
在所述边缘平均错位值的绝对值小于或等于预设错位阈值的情况下，对所述边缘平均错位值按照预设的有效性要求进行取整处理，得到涂布过程中的目标纠偏量。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对，包括：
根据所述第一图像数据和所述第二图像数据的采集区域间隔参数，以及图像尺寸参数，确定所述第一图像数据与所述第二图像数据的图像相对调整参数；
基于所述图像相对调整参数，对所述第一图像数据包含的连续帧数的第一图像，和所述第二图像数据包含的连续帧数的第二图像进行配对，得到多组图像组合对。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，包括：
根据所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定所述第一图像中极片基材第一表面上的涂膜区边缘到基准边的第一距离，以及所述第二图像中极片基材第二表面上的涂膜区边缘到所述基准边的第二距离；
基于所述第一距离和所述第二距离，确定初始错位值集合；所述初始错位值集合中包含至少两个初始错位值；
将根据所述初始错位值集合得到的初始平均错位值，确定为所述图像组合对的边缘错位值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照所述目标纠偏量控制纠偏部件对极片基材进行纠偏，包括：
将基于所述目标纠偏量生成的纠偏指令发送给纠偏部件，所述纠偏指令用于指示所述纠偏部件对极片基材进行纠偏处理；
在接收到所述纠偏部件反馈的纠偏完成信号的情况下，确定进入下一个采样周期，返回执行所述获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据的步骤。
7.一种涂布纠偏控制装置，其特征在于，所述装置包括：
边缘错位值获取模块，用于获取在一个采样周期内，针对极片基材第一表面进行图像采集得到的第一图像数据，以及针对极片基材第二表面进行图像采集得到的第二图像数据；根据所述第一图像数据和所述第二图像数据，确定多组图像组合对；所述图像组合对中包括采集区域位置相同的第一图像和第二图像；基于各所述图像组合对中的第一图像和第二图像，确定各所述图像组合对的边缘错位值，所述边缘错位值用于表征极片基材第一表面上的第一涂膜区域，与极片基材第二表面上的第二涂膜区域的区域边缘偏差程度；
目标纠偏量确定模块，用于根据基于多个所述边缘错位值确定的边缘平均错位值，确定涂布过程中的目标纠偏量；
纠偏控制模块，用于按照所述目标纠偏量控制纠偏部件对极片基材进行纠偏。
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117722955A (zh) * | 2024-02-08 | 2024-03-19 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布错位检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109273733A (zh) * | 2018-09-10 | 2019-01-25 | 无锡先导智能装备股份有限公司 | 电芯自动纠偏收尾系统及电芯自动纠偏收尾方法 |
| CN112875379A (zh) * | 2021-01-21 | 2021-06-01 | 深圳科瑞技术股份有限公司 | 一种用于切叠一体机的纠偏系统和纠偏方法 |
| CN112916327A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-06-08 | 蜂巢能源科技有限公司 | 极片涂布控制系统及方法 |
| CN115832391A (zh) * | 2022-07-15 | 2023-03-21 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 纠偏控制方法、装置、计算机设备、介质和卷绕机 |
| CN219168811U (zh) * | 2022-11-09 | 2023-06-13 | 惠州锂威新能源科技有限公司 | 一种极片涂布用错位纠偏机构及涂布机 |
| CN116899837A (zh) * | 2023-09-12 | 2023-10-20 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布系统和方法 |
| CN117312742A (zh) * | 2023-09-25 | 2023-12-29 | 衢州极电新能源科技有限公司 | 一种涂布纠偏数据确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
| WO2024000515A1 (zh) * | 2022-06-30 | 2024-01-04 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品 |
| CN117529835A (zh) * | 2022-04-12 | 2024-02-06 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 用于叠片机的料带入料检测方法、装置、叠片机、设备和介质 |
-
2024
- 2024-02-08 CN CN202410175622.1A patent/CN117718198B/zh active Active
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109273733A (zh) * | 2018-09-10 | 2019-01-25 | 无锡先导智能装备股份有限公司 | 电芯自动纠偏收尾系统及电芯自动纠偏收尾方法 |
| CN112875379A (zh) * | 2021-01-21 | 2021-06-01 | 深圳科瑞技术股份有限公司 | 一种用于切叠一体机的纠偏系统和纠偏方法 |
| CN112916327A (zh) * | 2021-05-11 | 2021-06-08 | 蜂巢能源科技有限公司 | 极片涂布控制系统及方法 |
| CN117529835A (zh) * | 2022-04-12 | 2024-02-06 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 用于叠片机的料带入料检测方法、装置、叠片机、设备和介质 |
| WO2024000515A1 (zh) * | 2022-06-30 | 2024-01-04 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品 |
| CN115832391A (zh) * | 2022-07-15 | 2023-03-21 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 纠偏控制方法、装置、计算机设备、介质和卷绕机 |
| CN219168811U (zh) * | 2022-11-09 | 2023-06-13 | 惠州锂威新能源科技有限公司 | 一种极片涂布用错位纠偏机构及涂布机 |
| CN116899837A (zh) * | 2023-09-12 | 2023-10-20 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布系统和方法 |
| CN117312742A (zh) * | 2023-09-25 | 2023-12-29 | 衢州极电新能源科技有限公司 | 一种涂布纠偏数据确定方法、装置、电子设备及存储介质 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117722955A (zh) * | 2024-02-08 | 2024-03-19 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布错位检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN117722955B (zh) * | 2024-02-08 | 2024-06-07 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 涂布错位检测方法、装置、计算机设备和存储介质 |
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