CN117751017A - 涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品。方法包括：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。本申请通过采集到的同一位置的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，结合预设涂布宽度确定需要纠正的第一纠偏量，提高了对涂布尺寸纠偏的效率及准确性。
Description
本申请涉及电池制造技术领域，具体而言，涉及一种涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品。
涂布是电池生产工艺中的其中一个环节，是将上一步制备的浆料以指定厚度均匀涂布到集流体(铝箔或铜箔等)上，并烘干溶剂的过程。
电池在涂布生产车间中，涂布尺寸的控制调节是保证该工序产品品质较为重要的步骤之一，如果涂布尺寸控制的不准确，则将影响电池的安全性能。目前在涂布的生产过程中，主要通过人工手动测量干涂布尺寸的方式，以判断干涂布尺寸是否符合要求，这种纠偏方法的精确度及效率较低。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品，用以提高对涂布尺寸纠偏的效率及准确度。
第一方面，本申请实施例提供一种涂布尺寸纠偏方法，包括：纠偏装置采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；根据第一偏差和第二偏差确定第一纠偏量。
本申请实施例通过纠偏装置采集到的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，结合预设涂布宽度确定需要纠正的第一纠偏量，提高了对涂布尺寸纠偏的效率及准确性。
在任一实施例中，若第一干涂布宽度不满足预设要求，则获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差。
本申请实施例通过在计算第一偏差和第二偏差之前，先判断第一干涂布宽度是否满足预设要求，在不满足预设要求的情况下，再计算第一偏差和第二偏差，降低了计算量。
在任一实施例中，可通过如下步骤计算第一纠偏量：
若第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
本申请实施例通过第一干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第一干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第一纠偏量。
在任一实施例中，若第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
本申请实施例通过第一干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第一干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第一纠偏量。
在任一实施例中，根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量，包括：
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据第二偏差确定第一纠偏量。
本申请实施例通过计算第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的大小，来确定导致第一干涂膜宽度不符合要求的主要因素，并根据主要因素确定第一纠偏量，从而提高了第一纠偏量计算的准确性。
在任一实施例中，在确定第一纠偏量后，该方法还包括：若第一干涂布宽度大于预设涂布 宽度，则根据第一纠偏量控制喷涂装置沿极片厚度方向远离极片移动；若第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，则根据第一纠偏量控制控制喷涂装置沿极片厚度方向靠近极片移动。
本申请实施例通过判断第一干涂布宽度与预设涂布宽度的大小，对应调节喷涂装置的位置，通过自动调节喷涂装置，提高了对涂布尺寸调整的效率及准确性。
在任一实施例中，采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，包括：通过图像采集装置采集极片上第一涂布区的第一湿涂布图像和第一干涂布图像；基于图像采集装置的设备参数，确定第一湿涂布图像对应的第一湿涂布宽度和第一干涂布图像对应的第一干涂布宽度。
本申请实施例通过利用视觉技术可以高效、准确地确定第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度。
在任一实施例中，采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，包括：获取极片上第一预设长度的第一涂布区的第一湿涂布，将第一预设长度的第一湿涂布的平均宽度作为第一湿涂布宽度；获取第二预设长度第一干涂布，将第二预设长度的第一干涂布的平均宽度作为第一干涂布宽度。
本申请实施例采用一段涂布区的平均值，从而可以更准确的反映第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度。
在任一实施例中，该方法还包括：采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度；其中，第二涂布区与第一涂布区在所述极片长度方向上并行设置；若第二干涂布宽度不满足预设宽度要求，则计算第二干涂布宽度与预设涂布宽度的第三偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第四偏差；根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量。
本申请实施例可以应用于一出二的涂布工艺中，并同时实现对第一涂布区和第二涂布区的尺寸的纠偏，提高了纠偏的效率。
在任一实施例中，根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量，包括：
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量。
本申请实施例通过第二干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第二干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第二纠偏量。
在任一实施例中，根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量，包括：
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第一湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值确定所述第二纠偏量。
本申请实施例通过第二干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第二干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第二干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第二纠偏量。
在任一实施例中，根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量，包括：
若第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据第四偏差确定第二纠偏量。
本申请实施例通过计算第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的大小，来确定导致第二干涂膜宽度不符合要求的主要因素，并根据主要因素确定第二纠偏量，从而提高了第二纠偏量计算的准确性。
在任一实施例中，在获得第一纠偏量和第二纠偏量后，该方法还包括：
根据第一偏差和第一纠偏量控制喷涂装置的第一端沿极片厚度方向移动；以及，根据第三偏差和第二纠偏量控制喷涂装置的第二端沿极片厚度方向移动；其中，第一端为喷涂装置与第一涂布区相对的一端，第二端为喷涂装置与第二涂布区相对的一端。
本申请实施例可以根据第一纠偏量和第二纠偏量分别调整喷涂装置的两端进退刀，实现了 对极片中多个涂布区的单个涂布区尺寸的调整。
在任一实施例中，采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，包括：通过图像采集装置采集极片上第二涂布区的第二湿涂布图像和第二干涂布图像；基于图像采集装置的设备参数，确定第二湿涂布图像对应的第二湿涂布宽度和第二干涂布图像对应的第二干涂布宽度。
本申请实施例通过利用视觉技术可以高效、准确地确定第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度。
在任一实施例中，采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，包括：获取极片上第二涂布区的第三预设长度的第二湿涂布，将第三预设长度的第二湿涂布的平均宽度作为第二湿涂布宽度；获取第四预设长度的第二干涂布，将第四预设长度的第二干涂布的平均宽度作为第二干涂布宽度。
本申请实施例采用一段涂布区的平均值，从而可以更准确的反映第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度。
第二方面，本申请实施例提供一种涂布尺寸纠偏装置，包括：宽度获取模块、偏差计算模块、偏差计算模块和纠偏模块；其中：
宽度获取模块用于采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；偏差计算模块用于计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；纠偏模块根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，其中，处理器和存储器通过总线完成相互间的通信；存储器存储有可被处理器执行的程序指令，处理器调用程序指令能够执行第一方面的方法。
第四方面，本申请实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，包括：该非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，计算机指令使计算机执行第一方面的方法。
第五方面，本申请实施例提供一种涂布尺寸纠偏系统，包括：图像采集装置和涂布尺寸纠偏装置；其中：
图像采集装置与涂布尺寸纠偏装置通信连接，用于采集涂布设备对极片进行涂布后的图像数据，并向涂布尺寸纠偏装置发送图像数据；涂布尺寸纠偏装置用于基于图像数据执行第一方面所述的方法。
在上述实施例的基础上，图像采集装置包括第一图像采集器、第二图像采集器、第三图像采集器和第四图像采集器；第一图像采集器设置在涂布设备中烘箱的第一侧，并正对极片的第一面，用于采集第一面湿涂布图像；第二图像采集器设置在烘箱的第二侧，并正对极片的第一面，用于采集第一面干涂布图像；第三图像采集器设置在涂布设备中烘箱的第二侧，并正对极片的第二面，用于采集第二面湿涂布图像；第四图像采集器设置在烘箱的第一侧，并正对极片的第二面，用于采集第二面干涂布图像。
本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请实施例了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏方法流程示意图；
图2为本申请实施例提供的包含一个涂布区的极片示意图；
图3为本申请实施例提供的涂布机测量和积压头控制系统示意图；
图4为本申请实施例提供的1出2等膜宽极片示意图；
图5为本申请实施例提供的另一种涂布尺寸纠偏方法流程示意图；
图6为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏装置结构示意图；
图7为本申请实施例提供的电子设备实体结构示意图；
图8为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏系统结构示意图；
图9为本申请实施例提供的涂布尺寸纠偏系统工作原理图。
下面将结合附图对本申请技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本申请的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本申请的保护范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同；本文中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请；本申请的说明书和权利要求书及上述附图说明中的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
在本申请实施例的描述中，技术术语“第一”“第二”等仅用于区别不同对象，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量、特定顺序或主次关系。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
在本申请实施例的描述中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在本申请实施例的描述中，术语“多个”指的是两个以上(包括两个)，同理，“多组”指的是两组以上(包括两组)，“多片”指的是两片以上(包括两片)。
在本申请实施例的描述中，技术术语“中心”“纵向”“横向”“长度”“宽度”“厚度”“上”“下”“前”“后”“左”“右”“竖直”“水平”“顶”“底”“内”“外”“顺时针”“逆时针”“轴向”“径向”“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。
在本申请实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，技术术语“安装”“相连”“连接”“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；也可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
浆料涂覆是继制备浆料完成后的下一道工序，此工序重要目的是将稳定性好、粘度好、流动性好的浆料均匀地涂覆在正负极集流体(又称极片基材)上。极片涂布对锂离子电池具有重要的意义，重要体现在以下几点：
1.对成品电池容量具有重要意义。在涂布过程中，若极片前、中、后三段位置正负极浆料涂层厚度不一致，则容易引起电池容量过低、过高，更易在电池循环过程中形成析锂，影响电池寿命。
2.对电池的安全性有重要意义。涂布之前要做好5S工作，确保涂布过程中没有颗粒、杂物、粉尘等混入极片中，假如混入杂物会引起电池内部微短路，严重时导致电池起火爆炸。
3.对电池性能一致性具有重要意义。电池厂比较忌讳的是一批电池中，容量差异、循环寿命差异较大，所以在极片涂布过程中要保证极片前后参数一致。
4.对电池寿命有重要意义。浆料涂覆前后差异大、极片混入粉尘、极片左右厚度不均匀等等，都关系到电池电化学性能的优劣。
挤出式涂布为涂布的一种方式，其工作原理是上料系统将涂料输送给螺杆泵，再将浆料动力输送至挤出头中，通过挤出形式将浆料制成液膜后涂布至移动的集流体上，经过干燥后形成质地均一的涂层。
目前，在涂布过程中，涂布尺寸的控制调节是保证该工序产品的品质较为重要的步骤之一。对于锂电池来说，如果涂布尺寸控制的不准确，将导致锂电池的析锂现象，从而影响电池的安全性能。为了能够保证涂布尺寸符合要求，可通过人工手动测量干涂布尺寸，从而将测量获得的干涂布尺寸与预设涂布尺寸进行比较，以确定干涂布尺寸是否符合要求，如果不符合要求，则需要手 动调节喷涂装置，以对湿涂布尺寸进行调节，进而实现对干涂布尺寸的调节。可以理解的是，干涂布尺寸和湿涂布尺寸均是指极片基材在宽方向上涂布区的尺寸。
本发明人注意到，不同材料的浆料，其湿涂布区经过烘干后生成的干涂布区其尺寸会出现不同的变化，即，烘干后的涂布区的尺寸比烘干前的尺寸变大，或，烘干后的涂布区的尺寸比烘干前的尺寸变小。人工在测量到干涂布尺寸后，只根据干涂布尺寸与预设涂布尺寸的之间的偏差来调节喷涂装置，其会导致调节不准确的问题。
为了解决上述技术问题，发明人提出一种涂布尺寸纠偏方法、装置、设备、存储介质及程序产品，通过采集第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及计算第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差，根据第一偏差和第二偏差确定第一纠偏量。
通过上述方案，综合考虑了第一涂布区从湿状态到干状态后在尺寸上的变化，以及第一干涂布宽度与预设涂布宽度，确定第一纠偏量，能够提高对第一纠偏量确定的准确性。
本申请实施例提供的涂布尺寸纠偏方法不仅适用于锂电池生产工艺中的涂布工序中对涂布尺寸的纠偏，还适用于包含涂布工序的其他类型的电池的涂布尺寸的纠偏。
图1为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏方法流程示意图，如图1所示，本申请实施例提供的涂布尺寸纠偏方法可以应用于电子设备，该电子设备包括终端和服务器；其中终端具体可以为智能手机、平板电脑、计算机、个人数字助理(Personal Digital Assitant，PDA)等；服务器具体可以为应用服务器，也可以为Web服务器。
该方法包括如下步骤：
步骤101：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；
步骤102：计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及计算第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；
步骤103：根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
在步骤101中，极片包括阴极极片和阳极极片；阴极极片为通过阴极活性材料与集流体组合而成；阳极极片为通过阳极活性材料与集流体组合而成。具体为：将阴极活性材料或阳极活性材料涂布在集流体上，形成对应的阴极极片或阳极极片。第一涂布区是指在阴极活性材料或阳极活性材料在集流体上涂布后形成的区域。如图2所示，黑色区域为第一涂布区，W1为第一涂布区的涂布宽度，可以理解的是，若该第一涂布区为第一湿涂布区，则W1用于表征第一湿涂布宽度；若该第一涂布区为第一干涂布区，则W1用于表征第一干涂布宽度。因此，第一湿涂布宽度和第一干涂布宽是指极片基材的宽度方向上涂布区的宽度。可以理解的是，第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度的获取方式可以为通过视觉技术获取，也可以通过其他方式获取，本申请实施例对此不作具体限定。
第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度可以是第一涂布区的同一位置的宽度。其中，同一位置可以理解为在第一涂布区的同一区域，例如：第一湿涂布宽度为第一涂布区在长方向上第1米-第2米的这块区域的平均宽度尺寸，那么第一干涂布宽度也是第一涂布区上第1米-第2米的这块区域的平均宽度尺寸。可以理解的是，本申请实施例限定同一位置的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度的目的是为了后续步骤中能够计算获得同一块区域从湿状态变成干状态后，其宽度的变化情况。当然，第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度对应的第一涂布区可以有一定的偏差，并不一定是严格的同一位置，例如：第一湿涂布宽度为第一涂布区在长方向上第1米-第2米的这块区域的平均宽度尺寸，那么第一干涂布宽度也是第一涂布区上第0.9米-第1.9米的这块区域的平均宽度尺寸。另外，第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度还可以表示第一涂布区上某一位置点对应的宽度，例如：第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度可以是第一涂布区第1米处的宽度。又如：第一湿涂布宽度可以是第一涂布区在烘干前的第1米处的宽度，第一干涂布宽度可以是第一涂布区在烘干后的第1.1米处的宽度。
可以理解的是，电子设备可通过自身携带的涂布尺寸测量装置采集获得第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，也可以接收外部的涂布尺寸测量装置发送的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，本申请对此不作具体限定。
在步骤102中，制作不同型号的电池所要求的涂布尺寸不同，因此，预设宽度要求为根据实际的涂布工艺预先设定的，本申请实施例的目的为生产出符合工艺要求的涂布尺寸。最优的结果是使第一干涂布宽度与预设涂布宽度相等，但是由于在涂布过程中可能会受到机器误差、环境影响 或涂覆材料等因素，导致第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间有偏差。因此，电子设备在采集到第一干涂布宽度后，计算第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及计算第一涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差。其中，第一偏差可以为第一干涂布宽度减预设涂布宽度获得，或通过预设涂布宽度减第一干涂布宽度获得，第二偏差可以为第一湿涂布宽度减第一干涂布宽度获得，或通过第一干涂布宽度减第一湿涂布宽度获得。应当说明的是，第一偏差和第二偏差的具体获得方法会影响到后续步骤，本申请实施例以第一干涂布宽度减预设涂布宽度获得第一偏差，第一湿涂布宽度减第一干涂布宽度获得第二偏差为例进行描述。
在步骤103中，第一纠偏量用于表征对喷涂装置的位置进行调节的量，其可以是喷涂装置需要沿极片厚度方向调节的具体距离，也可以是喷涂装置需要调整的次数。可以理解的是，喷涂装置每调整一次，喷涂装置沿极片厚度方向调整的距离是固定的，因此，喷涂装置调整的次数与喷涂装置在极片厚度方向移动的距离正相关。电子设备在获得第一偏差和第二偏差后，可以根据第一偏差和第二偏差确定需要调节喷涂装置位置的第一纠偏量。
本申请实施例通过纠偏装置采集到的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，结合预设涂布宽度确定需要纠正的第一纠偏量，提高了对涂布尺寸纠偏的效率及准确性。
在上述实施例的基础上，在计算第一偏差和第二偏差之前，可以先判断第一干涂布宽度是否满足预设要求，如果不满足预设要求，则说明需要对第一湿涂布宽度进行调整，此时，计算获得第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间的第一偏差，以及计算获得第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差。
在具体的实施过程中，在实际的生产工艺中，允许第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间有较小的偏差，例如：若偏差在(-0.5mm，0.5mm)之间，则说明第一干涂布宽度满足预设要求，此时不需要对第一湿涂布宽度进行调整；若超出该偏差区间，则说明第一干涂布宽度不满足预设要求，此时需要对第一湿涂布宽度进行调整。应当说明的是，±0.5mm为本申请实施例的一个示例，具体取值可根据实际情况设定，本申请实施例对此不作具体限定。
因此，为了降低电子设备的计算量，电子设备在采集到第一干涂布宽度后，如果确定第一干涂布宽度不满足预设要求，则获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及计算第一涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差。
本申请实施例通过在确定第一干涂布宽度不满足预设要求后计算第一偏差和第二偏差，从而降低了电子设备的计算量。
在上述实施例的基础上，电子设备在根据第一偏差和第二偏差确定第一纠偏量时，可通过如下步骤确定：
若第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间的第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度之间的第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间的第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度之间的第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
在具体的实施过程中，若第一偏差大于0，则说明第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，可初步确定需要减小第一湿涂布宽度。若第二偏差大于0，则说明第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，进而说明第一涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变窄了。第一偏差和第二偏差同时大于0，说明相较于第一湿涂布区，烘干后宽度变窄的第一干涂布区的宽度仍然比预设涂布宽度宽。此时可通过第一偏差确定第一纠偏量。
若第二偏差小于0，则说明第一干涂布宽度大于第一湿涂布宽度，进而说明第一涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变宽了。当第一偏差大于0，且第二偏差小于0，则说明相较于第一湿涂布区，烘干后宽度变宽的第一干涂布区的宽度比预设涂布宽度宽。此时，需要根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定导致第一干膜宽度大于预设涂布宽度的主要因素(是涂布区域从湿状态变为干状态的宽度变化占主导，还是第一干膜宽度与预设涂布宽度的偏差占主导)，进而确定第一纠偏量。
本申请实施例通过第一干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第一干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，电子设备在根据第一偏差和第二偏差确定第一纠偏量时，还可能出现如下情况：
若第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间的第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度之间的第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一干涂布宽度与预设涂布宽度之间的第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度之间的第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
在具体的实施过程中，若第一偏差小于0，则说明第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，可初步确定需要增加第一湿涂布宽度。若第二偏差小于0，则说明第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，进而说明第一涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变宽了。第一偏差和第二偏差同时小于0，说明相较于第一湿涂布区，烘干后宽度变宽的第一干涂布区的宽度仍然比预设涂布宽度窄。此时可通过第一偏差确定第一纠偏量。
若第二偏差大于0，则说明第一干涂布宽度小于第一湿涂布宽度，进而说明第一涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变窄了。当第一偏差小于0，且第二偏差大于0，则说明相较于第一湿涂布区，烘干后宽度变窄的第一干涂布区的宽度比预设涂布宽度窄。此时，需要根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定导致第一干膜宽度小于预设涂布宽度的主要因素(是涂布从湿状态变为干状态的宽度变化占主导，还是第一干膜宽度与预设涂布宽度的偏差占主导)，进而确定第一纠偏量。
本申请实施例通过第一干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第一干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，对于需要根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量的情况，其具体方法步骤如下：
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值大于零，则电子设备根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值小于零，则电子设备根据第二偏差确定第一纠偏量。
在具体的实施过程中，若第一偏差的绝对值大于第二偏差的绝对值，则说明第一偏差对涂布宽度的影响较大，因此，电子设备根据第一偏差确定第一纠偏量。
若第一偏差的绝对值小于第二偏差的绝对值，则说明第二偏差对涂布宽度的影响较大，因此，电子设备根据第二偏差确定第一纠偏量。
可以理解的是，本申请实施例中的第一纠偏量也用于表征喷涂装置需要移动的次数。其计算方法与上述实施例中计算第一纠偏量的方法类似，此处不再赘述。
本申请实施例通过计算第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的大小，来确定导致第一干涂布宽度不符合要求的主要因素，并根据主要因素确定第一纠偏量，从而提高了第一纠偏量计算的准确性。
在上述实施例的基础上，在确定第一纠偏量后，可针对第一干膜宽度与预设涂布宽度之间的大小关系，可以对喷涂装置的位置进行如下调整：
若第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，则根据第一纠偏量控制喷涂装置沿极片厚度方向远离极片移动；
若第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，则根据第一纠偏量控制控制喷涂装置沿极片厚度方向靠近极片移动。
在具体的实施过程中，若第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，则说明需要减小第一湿涂布宽度，从而电子设备控制喷涂装置沿着极片厚度方向远离极片移动，其移动的距离为第一纠偏量。若第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，则说明需要增加第一湿涂布宽度，从而电子设备控制喷涂装置沿着极片厚度方向靠近极片移动，其移动的距离为第一纠偏量。
在另一实施例中，电子设备采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，根据第一干涂布宽度和预设涂布宽度计算第一偏差，根据第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度计算第二偏差，然后根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量；在确定了第一纠偏量后，判断第一干涂 布宽度是否满足预设宽度要求，如果不满足，则根据第一纠偏量对第一湿涂布宽度进行纠偏；如果满足则不作处理。
本申请实施例通过判断第一干涂布宽度与预设涂布宽度的大小，对应调节喷涂装置的位置，通过自动调节喷涂装置，提高了对涂布尺寸调整的效率及准确性。
在上述实施例的基础上，可通过如下方式采集极片上第一涂布区在同一位置的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度：
通过图像采集装置采集极片上第一涂布区在同一位置的第一湿涂布图像和第一干涂布图像；
基于图像采集装置的设备参数，确定第一湿涂布图像对应的第一湿涂布宽度和第一干涂布图像对应的第一干涂布宽度。
在具体的实施过程中，图像采集装置可以是电子设备上自带的用于采集图像的装置，也可以是外部的用于采集图像的装置，例如可以是CCD摄像机。若图像采集装置为外部装置，则该图像采集装置与该电子设备通信连接，将采集到的第一湿涂布图像和第一干涂布图像发送给电子设备。
不同的图像采集装置其设备参数不同，相应的，在采集到图像后，图像上每一像素对应的实际宽度不同。当然，图像采集装置在采集图像时，其距离被采集对象的距离也会影响一个像素对应的实际宽度。为了能够准确的获得第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，本申请实施例可预先对图像采集装置进行标定，即预先使用图像采集装置对已知尺寸的对象进行图像采集，从而标定出采集到的图像上一个像素对应的实际宽度。然后，在相同的工况下，对第一涂布区进行图像采集。
电子设备在获得到第一湿涂布图像和第一干涂布图像后，基于图像采集装置的设备参数，可确定一个像素对应的实际长度，然后根据第一湿涂布图像中第一湿涂布区在宽度方向上占用的像素个数获得第一湿涂布宽度，根据第一干涂布图像中第一干涂布区在宽度方向上占用的像素个数获得第一干涂布宽度。
图3为本申请实施例提供的涂布机测量和喷涂装置控制系统示意图，如图3所述，序1为放卷机构，用于对极片基材进行放卷；序2为极片A面的喷涂装置，用于向极片A面喷涂活性物质喷涂。序3为极片A面活性物质喷涂辊。序4为极片A面湿涂布尺寸测量CCD1，用于采集极片A面的湿涂布区图像，从而获得对应的湿涂布宽度。序5为烘箱，用于烘干涂布活性物质。序6为极片A面干涂布尺寸测量CCD2，用于采集极片A面的干涂布区图像，从而获得对应的干涂布宽度。序7为基材走带辊。序8为基材纠偏机构。序9为极片B面活性物质喷涂辊。序10为极片B面的喷涂装置，即极片B面活性物质喷涂机构。序11为极片基材走带辊。序12为极片B面湿涂布尺寸测量CCD3，用于采集极片B面的湿涂布区图像，从而获得对应的湿涂布宽度。序13为极片B面干涂布尺寸检测CCD4，用于采集极片B面的干涂布区图像，从而获得对应的干涂布宽度。序14为涂布收卷机构。
可以理解的是，图3给出了对极片两面进行涂布及涂布宽度纠偏的装置，若只对极片的其中一面的涂布宽度纠偏，则可采用序4和序6的两个CCD，或采用序12和序13的两个CCD，实现对极片的其中一面的涂布宽度的采集，并对对应的喷涂装置进行调整。
本申请实施例通过利用视觉技术可以高效、准确地确定第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，可通过如下方法步骤获得：
获取极片上第一预设长度的第一涂布区的第一湿涂布，将预设长度的第一湿涂布的平均宽度作为第一湿涂布宽度；
获取第二预设长度的第一干涂布，将预设长度的第一干涂布的平均宽度作为第一干涂布宽度。
在具体的实施过程中，在涂布过程中，可能由于涂布机工作不稳定导致在某个较短的时间内导致第一湿涂布宽度突然变宽或突然变窄，但是在其他时间，其第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度处于稳定且在正常的宽度要求范围内，若只采集突变时的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，则无法反映准确的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，进而，无法对第一湿涂布宽度进行准确的纠偏，以获得符合要求的第一干涂布宽度。
为了解决该技术问题，本申请实施例中电子设备将预设长度的第一湿涂布的平均宽度作为 第一湿涂布宽度，将第一预设长度第一干涂布的平均宽度作为第一干涂布宽度。其中，预设长度为预先设定的，例如可以为5米，还可以为10米、20米等，本申请实施例对此不作具体限定。
在计算第一湿涂布的平均宽度时，可以在该第一湿涂布上，每隔预设间隔作为一个测量点，测量该测量点的宽度。可以在该第一湿涂布上获得多个测量点的宽度，将其加和求平均便可获得第一湿涂布宽度。
同样地，在计算第一干涂布的平均宽度时，可以取第二预设长度的第一干涂布，其中，第一预设长度与第二预设长度可以相同，也可以不同。第一干涂布和第一湿涂布可以是极片上同一位置的第一涂布区，在该第一干涂布上，与第一湿涂布上的测量点相应的位置作为测量点，测量该测量点的宽度。可以在该第一干涂布上获得多个测量点的宽度，将其加和求平均便可获得第一干涂布宽度。
可以理解的是，预设间隔的长度小于第一预设长度和第二预设长度。
本申请实施例采用一段涂布区的平均值，从而可以更准确的反映第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，本申请实施例中除了适用于极片上只包含一个涂布区的应用场景外，还可适用于极片上包含两个涂布区或更多个涂布区的应用场景。以极片上包含两个涂布区为例，即极片上包含第一涂布区和第二涂布区，且第一涂布区和第二涂布区在极片基材的长度方向上并行设置。图4为本申请实施例提供的1出2等膜宽极片示意图，如图4所示，将左侧的涂布区称为第一涂布区，将右侧的涂布区称为第二涂布区。若该极片未经过烘干，则W1为第一湿涂布区宽度，W2为第二湿涂布区宽度。
本申请实施例可实现对第一涂布区和第二涂布区的涂布尺寸进行纠偏，具体如下：
电子设备采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度；
若第二干涂布宽度不满足预设宽度要求，则计算第二干涂布宽度与预设涂布宽度的第三偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第四偏差；
根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量。
在具体的实施过程中，第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度可以对应同一位置的第二涂布区。同一位置可以理解为在第二涂布区的同一区域，例如：第二湿涂布宽度为第二涂布区上第1米-第2米的这块区域的涂布尺寸，那么第二干涂布宽度也是第二涂布区上第1米-第2米的这块区域的涂布尺寸。可以理解的是，本申请实施例限定同一位置的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度的目的是为了后续步骤中能够计算获得同一块区域从湿状态变成干状态后，其宽度的变化情况。当然，第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度也可以是不完全对应同一位置，可能稍微有点偏差，例如：第二湿涂布宽度为第二涂布区上第1米-第2米的这块区域的涂布尺寸，那么第二干涂布宽度也是第二涂布区上第1.1米-第2.1米的这块区域的涂布尺寸。
可以理解的是，第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度的获取方式与上述实施例中，第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度的获取方式一致，此处不再赘述。
同样的，判断第二干涂布宽度是否满足预设宽度要求的方法与第一干涂布宽度的判断方法一致，此处不再赘述。
电子设备在采集到第二干涂布宽度后，如果确定第二干涂布宽度不满足预设宽度要求，则获取第二干涂布宽度与预设涂布宽度的第三偏差，以及计算第二涂布宽度与第二干涂布宽度的第四偏差。其中，第三偏差可以为第二干涂布宽度减预设涂布宽度获得，或通过预设涂布宽度减第二干涂布宽度获得，第四偏差可以为第二湿涂布宽度减第二干涂布宽度获得，或通过第二干涂布宽度减第二湿涂布宽度获得。应当说明的是，第三偏差和第四偏差的具体获得方法会影响到后续步骤，本申请实施例以第二干涂布宽度减预设涂布宽度获得第三偏差，第二湿涂布宽度减第二干涂布宽度获得第四偏差为例进行描述。
第二纠偏量用于表征对喷涂装置的位置进行调节的量，其可以是喷涂装置需要调节的具体距离，也可以是喷涂装置需要调整的次数。可以理解的是，喷涂装置需要调整的次数与喷涂装置距离极片厚度方向的距离呈对应关系。电子设备在获得第三偏差和第四偏差后，可以根据第三偏差和第四偏差确定需要调节喷涂装置的第二纠偏量。
应当说明的是，在本申请实施例中，由于第一涂布区和第二涂布区分别有各自的纠偏量，即，第一涂布区对应第一纠偏量，第二涂布区对应第二纠偏量，且，第一纠偏量和第二纠偏量均用于对喷涂装置进行纠偏，为了能够保证第一涂布区和第二涂布区在纠偏时互不干扰，可以将喷涂装 置的两端各自对应一个涂布区。例如：当需要对第一湿涂布的宽度进行调节时，可以调节喷涂装置的左端，当需要对第二湿涂布的宽度进行调节时，可以调节喷涂装置的右端。
本申请实施例可以应用于一出二的涂布工艺中，并同时实现对第一涂布区和第二涂布区的尺寸的纠偏，提高了纠偏的效率。
在上述实施例的基础上，电子设备在根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量时，可通过如下步骤确定：
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量。
在具体的实施过程中，若第三偏差大于0，则说明第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，可初步确定需要减小第二湿涂布宽度。若第四偏差大于0，则说明第二湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，进而说明第二涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变窄了。第三偏差和第四偏差同时大于0，说明相较于第二湿涂布区，烘干后宽度变窄的第二干涂布区的宽度仍然比预设涂布宽度宽。此时可通过第三偏差确定第二纠偏量，具体可以将第三偏差作为第二纠偏量。
若第四偏差小于0，则说明第二干涂布宽度大于第二湿涂布宽度，进而说明第二涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变宽了。当第三偏差大于0，且第四偏差小于0，则说明相较于第二湿涂布区，烘干后宽度变宽的第二干涂布区的宽度比预设涂布宽度宽。此时，需要根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定导致第二干膜宽度大于预设涂布宽度的主要因素(是涂布区域从湿状态变为干状态的宽度变化占主导，还是第二干膜宽度与预设涂布宽度的偏差占主导)，进而确定第二纠偏量。
本申请实施例通过第二干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第二干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第二纠偏量。
在上述实施例的基础上，电子设备在根据第三偏差和第四偏差确定第二纠偏量，还可能出现如下情况：
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第一湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量。
在具体的实施过程中，若第三偏差小于0，则说明第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，可初步确定需要增加第二湿涂布宽度。若第四偏差小于0，则说明第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，进而说明第二涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变宽了。第三偏差和第四偏差同时小于0，说明相较于第二湿涂布区，烘干后宽度变宽的第二干涂布区的宽度仍然比预设涂布宽度窄。此时可通过第三偏差确定第二纠偏量，具体可以将第三偏差作为第二纠偏量。
若第四偏差大于0，则说明第二干涂布宽度小于第二湿涂布宽度，进而说明第二涂布区从湿状态变为干状态后，其涂布宽度变窄了。当第三偏差小于0，且第四偏差大于0，则说明相较于第二湿涂布区，烘干后宽度变窄的第二干涂布区的宽度比预设涂布宽度窄。此时，需要根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定导致第二干膜宽度小于预设涂布宽度的主要因素(是涂布区域从湿状态变为干状态的宽度变化占主导，还是第二干膜宽度与预设涂布宽度的偏差占主导)，进而确定第二纠偏量。
可以理解的是，第二纠偏量表征喷涂装置中与第二涂布区对应的一端需要移动的距离。
本申请实施例通过第二干涂布宽度与预设涂布宽度的比较确定第二干涂布宽度需要加宽还是变窄，通过第一湿涂布宽度和第二干涂布宽度确定涂布的伸缩性，进而根据上述结果可以准确地确定第二纠偏量。
在具体的实施过程中，若第三偏差的绝对值大于第四偏差的绝对值，则说明第三偏差对涂膜宽度的影响较大，因此，电子设备根据第三偏差确定第二纠偏量。
若第三偏差的绝对值小于第四偏差的绝对值，则说明第四偏差对涂膜宽度的影响较大，因此，电子设备根据第四偏差确定第二纠偏量。
本申请实施例通过计算第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的大小，来确定导致第 二干涂膜宽度不符合要求的主要因素，并根据主要因素确定第二纠偏量，从而提高了第二纠偏量计算的准确性。
在上述实施例的基础上，在获得第一纠偏量和第二纠偏量后，该方法还包括：
根据第一偏差和第一纠偏量控制喷涂装置的第一端沿极片厚度方向移动；以及，
根据第三偏差和第二纠偏量控制喷涂装置的第二端沿极片厚度方向移动；
其中，第一端为喷涂装置与第一涂布区相对的一端，第二端为喷涂装置与第二涂布区相对的一端。
在具体的实施过程中，电子设备在确定第一纠偏量后，由于第一纠偏量是用于对第一涂布区的第一湿涂布宽度进行调节，仍以图3的1出2涂布区产品为例，通过调节喷涂装置的左端的位置可实现对第一涂布区的左边缘的涂布位置进行调节，从而达到调节第一湿涂布宽度的目的。同样的，第二纠偏量是用于对第二涂布区的第二湿涂布宽度进行调节，因此，通过调节喷涂装置的右端的位置可实现对第二涂布区的右边缘的涂布位置进行调节，从而达到调节第二湿涂布宽度的目的。
本申请实施例提供的是第一涂布区和第二涂布区的湿涂布宽度均需要调整的情况，在实际应用中，可能存在只需要调整第一湿涂布宽度或只需要调整第二湿涂布宽度的情况。对于只需要调整第一湿涂布宽度的情况，则电子设备在确定第一纠偏量后，控制喷涂装置的第一端沿极片厚度方向移动，喷涂装置的第二端不用调节。对于只需要调整第二湿涂布宽度的情况，则电子设备在确定第二纠偏量后，控制喷涂装置的第二端沿极片厚度方向移动，喷涂装置的第一端不用调节。
本申请实施例可以根据第一纠偏量和第二纠偏量分别调整喷涂装置的两端沿极片厚度方向移动，实现了对极片中多个涂布区的单个涂布尺寸的调整。
在上述实施例的基础上，可通过如下方式采集极片上第二涂布区在同一位置的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度：
通过图像采集装置采集极片上第二涂布区的第二湿涂布图像和第二干涂布图像；
基于图像采集装置的设备参数，确定第二湿涂布图像对应的第二湿涂布宽度和第二干涂布图像对应的第二干涂布宽度。
在具体的实施过程中，图像采集装置可以是电子设备上自带的用于采集图像的装置，也可以是外部的用于采集图像的装置，例如可以是CCD摄像机。若图像采集装置为外部装置，则该图像采集装置与该电子设备通信连接，将采集到的第二湿涂布图像和第二干涂布图像发送给电子设备。
不同的图像采集装置其设备参数不同，相应的，在采集到图像后，图像上每一像素对应的实际宽度不同。当然，图像采集装置在采集图像时，其距离被采集对象的距离也会影响一个像素对应的实际宽度。为了能够准确的获得第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，本申请实施例可预先对图像采集装置进行标定，即预先使用图像采集装置对已知尺寸的对象进行图像采集，从而标定出采集到的图像上一个像素对应的实际宽度。然后，在相同的工况下，对第二涂布区进行图像采集。
电子设备在获得到第二湿涂布图像和第二干涂布图像后，基于图像采集装置的设备参数，可确定一个像素对应的实际长度，然后根据第二湿涂布图像中第二湿涂布区在宽度方向上占用的像素个数获得第二湿涂布宽度，根据第二干涂布图像中第二干涂布区在宽度方向上占用的像素个数获得第二干涂布宽度。
对于1出2的等膜宽产品来说，在进行图像采集时，可通过一个图像采集装置实现第一湿涂布图像和第二湿涂布图像的采集，以及通过一个图像采集装置实现第一干涂布图像和第二干涂布图像的采集。当然，第一涂布区和第二涂布区可分别由各自的图像采集装置进行采集。具体可根据实际情况选择图像采集装置的数量，本申请实施例对此不作具体限定。
本申请实施例通过利用视觉技术可以高效、准确地确定第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，可通过如下方法步骤获得：
获取极片上第二涂布区的第三预设长度的第二湿涂布，将预设长度的第二湿涂布的平均宽度作为第二湿涂布宽度；
获取极片上第二涂布区的第四预设长度的第二干涂布，将预设长度的第二干涂布的平均宽度作为第二干涂布宽度。
在具体的实施过程中，在涂布过程中，可能由于涂布机工作不稳定导致在某个较短的时间 内导致第二湿涂布宽度突然变宽或突然变窄，但是在其他时间，其第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度处于稳定且在正常的宽度要求范围内，若只采集突变时的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，则无法反映准确的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，进而，无法对第二湿涂布宽度进行准确的纠偏，以获得符合要求的第二干涂布宽度。
为了解决该技术问题，本申请实施例中电子设备将第三预设长度的第二湿涂布的平均宽度作为第二湿涂布宽度，将第四预设长度第二干涂布的平均宽度作为第二干涂布宽度。其中，预设长度为预先设定的，例如可以为5米，还可以为10米、20米等，本申请实施例对此不作具体限定。可以理解的是，第三预设长度和第四预设长度可以相同，也可以不同。
以第二湿涂布宽度与第二干涂布宽度对应同一位置的第二涂布区为例，在计算第二湿涂布的平均宽度时，可以在该第二湿涂布上，每隔预设间隔作为一个测量点，测量该测量点的宽度。可以在该第二湿涂布上获得多个测量点的宽度，将其加和求平均便可获得第二湿涂布宽度。
同样地，在计算第二干涂布的平均宽度时，可以在该第二干涂布上，与第二湿涂布上的测量点相应的位置作为测量点，测量该测量点的宽度。可以在该第二干涂布上获得多个测量点的宽度，将其加和求平均便可获得第二干涂布宽度。
可以理解的是，预设间隔的长度小于第三预设长度和第四预设长度。
本申请实施例采用一段涂布区的平均值，从而可以更准确的反映第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度。
图5为本申请实施例提供的另一种涂布尺寸纠偏方法流程示意图，如图5所示，以1出2的等膜宽产品的生产工艺为例，该方法包括：
步骤501：获取预设长度的第一涂布尺寸和第二涂布区尺寸，其中，第一涂布尺寸包括第一湿涂布宽度W1的平均值A1和第一干涂布宽度W1'的平均值B1，第二涂布区尺寸包括第二湿涂布宽度W2的平均值A2和第二干涂布宽度W2'的平均值B2。
步骤502：计算第一偏差、第二偏差、第三偏差和第四偏差；其中，第一偏差Wb1＝B1-M，第二偏差Wb2＝B2-M，第三偏差Wab1＝A1-B1，第四偏差Wab2＝A2-B2；其中，M为预设涂布宽度。
下面针对第一涂布区执行步骤503A-步骤519A，针对第二涂布区执行步骤503B-步骤519B，应当说明的是，步骤503A-步骤519A与步骤503B-步骤519B之间没有执行顺序限定。
步骤503A：判断Wb1是否在(-0.5,0.5)内；若在，则执行步骤504A，否则执行步骤505A。
步骤504A：确定第一干涂布宽度满足要求，并重新执行步骤501。
步骤505A：判断Wb1是否大于0，若大于0，则执行步骤506A，否则执行步骤513A。
步骤506A：判断Wab1是否≥0，若是，则执行步骤507A，否则执行步骤508A。
步骤507A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512A。
步骤508A：若Wab1小于0，则计算|Wab1|-|Wb1|＝Wc；
步骤509A：判断Wc是否大于0，若大于0，则执行步骤510A；否则执行步骤511A。
步骤510A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wab1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512A。
步骤511A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512A。
步骤512A：喷涂装置左侧一端沿极片厚度方向远离极片调整X次。
步骤513A：判断Wab1是否＞0，若否，则执行步骤514A，否则执行步骤515A。
步骤514A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519A。
步骤515A：若Wab1≤0，则计算|Wab1|-|Wb1|＝Wc；
步骤516A：判断Wc是否大于0，若大于0，则执行步骤517A；否则执行步骤518A。
步骤517A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wab1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519A。
步骤518A：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb1|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519A。
步骤519A：喷涂装置左侧一端沿极片厚度方向靠近极片移动X次。
步骤503B：判断Wb2是否在(-0.5,0.5)内；若在，则执行步骤504B，否则执行步骤505B。
步骤504B：确定第二干涂布宽度满足要求，并重新执行步骤501。
步骤505B：判断Wb2是否大于0，若大于0，则执行步骤506B，否则执行步骤513B。
步骤506B：判断Wab2是否≥0，若是，则执行步骤507B，否则执行步骤508B。
步骤507B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512B。
步骤508B：若Wab2小于0，则计算|Wab2|-|Wb2|＝Wd；
步骤509B：判断Wd是否大于0，若大于0，则执行步骤510B；否则执行步骤511B。
步骤510B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wab2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512B。
步骤511B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤512B。
步骤512B：喷涂装置右侧一端沿极片厚度方向远离极片移动X次。
步骤513B：判断Wab2是否＞0，若否，则执行步骤514B，否则执行步骤515B。
步骤514B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519B。
步骤515B：若Wab2≤0，则计算|Wab2|-|Wb2|＝Wd；
步骤516B：判断Wd是否大于0，若大于0，则执行步骤517B；否则执行步骤518B。
步骤517B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wab2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519B。
步骤518B：确定喷涂装置的调整次数；根据X＝|Wb2|/0.2，并向下取整获得X，其中，X即为喷涂装置的调整次数，接着执行步骤519B。
步骤519B：喷涂装置右侧一端沿极片厚度方向靠近极片移动X次。
图6为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏装置结构示意图，该装置可以是电子设备上的模块、程序段或代码。应理解，该装置与上述图1方法实施例对应，能够执行图1方法实施例涉及的各个步骤，该装置具体的功能可以参见上文中的描述，为避免重复，此处适当省略详细描述。所述装置包括：宽度获取模块601、偏差计算模块602和纠偏模块603，其中：
宽度获取模块601，用于采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；
偏差计算模块602，用于获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；
纠偏模块603，用于根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603具体用于：
若所述第一干涂布宽度不满足预设要求，则获取所述第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第二偏差。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603具体用于：
若第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差表征第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603具体用于：
若第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度小于第一干涂布宽度，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差表征第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第二偏差表征第一湿涂布宽度大于第一干涂布宽度，则根据第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603具体用于：
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据第一偏差确定第一纠偏量；
若第一偏差的绝对值和第二偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据第二偏差确定第一纠偏量。
在上述实施例的基础上，该装置还包括第一调节模块，用于：
若第一干涂布宽度大于预设涂布宽度，则根据第一纠偏量控制喷涂装置沿极片厚度方向远离极片移动；
若第一干涂布宽度小于预设涂布宽度，则根据第一纠偏量控制控制喷涂装置沿极片厚度方向靠近极片移动。
在上述实施例的基础上，宽度获取模块601具体用于：
通过图像采集装置采集极片上第一涂布区的第一湿涂布图像和第一干涂布图像；
基于图像采集装置的设备参数，确定第一湿涂布图像对应的第一湿涂布宽度和第一干涂布图像对应的第一干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，宽度获取模块601具体用于：
获取极片上第一预设长度的第一涂布区的第一湿涂布，将第一预设长度的第一湿涂布的平均宽度作为第一湿涂布宽度；
获取极片上第二预设长度的第一干涂布，将第二预设长度的第一干涂布的平均宽度作为第一干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，宽度获取模块601还用于：采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度；其中，第二涂布区与所述第一涂布区在极片长度方向上并行设置；
偏差计算模块602还用于：若第二干涂布宽度不满足预设宽度要求，则计算第二干涂布宽度与预设涂布宽度的第三偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第四偏差；
纠偏模块603还用于：根据第三偏差和第四偏差，确定第二纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603还具体用于：
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度大于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603还具体用于：
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第二湿涂布宽度小于第二干涂布宽度，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差表征第二干涂布宽度小于预设涂布宽度，且第四偏差表征第一湿涂布宽度大于第二干涂布宽度，则根据第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值确定第二纠偏量。
在上述实施例的基础上，纠偏模块603还具体用于：
若第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据第三偏差确定第二纠偏量；
若第三偏差的绝对值和第四偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据第四偏差确定第二纠 偏量。
在上述实施例的基础上，该装置还包括第二调节模块，用于：
根据第一偏差和第一纠偏量控制喷涂装置的第一端沿极片厚度方向移动；以及，
根据第三偏差和第二纠偏量控制喷涂装置的第二端沿极片厚度方向移动；
其中，第一端为喷涂装置与第一涂布区相对的一端，第二端为喷涂装置与第二涂布区相对的一端。
在上述实施例的基础上，该宽度获取模块601还具体用于：
通过图像采集装置采集极片上第二涂布区的第二湿涂布图像和第二干涂布图像；
基于图像采集装置的设备参数，确定第二湿涂布图像对应的第二湿涂布宽度和第二干涂布图像对应的第二干涂布宽度。
在上述实施例的基础上，该宽度获取模块601还具体用于：
获取极片上第二涂布区的第三预设长度的第二湿涂布，将预设长度的第二湿涂布的平均宽度作为第二湿涂布宽度；
获取极片上第二涂布区的第四预设长度的第二干涂布，将第四预设长度的第二干涂布的平均宽度作为第二干涂布宽度。
图7为本申请实施例提供的电子设备实体结构示意图，如图7所示，所述电子设备，包括：处理器(processor)701、存储器(memory)702和总线703；其中，
所述处理器701和存储器702通过所述总线703完成相互间的通信；
所述处理器701用于调用所述存储器702中的程序指令，以执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
处理器701可以是一种集成电路芯片，具有信号处理能力。上述处理器701可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。其可以实现或者执行本申请实施例中公开的各种方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
存储器702可以包括但不限于随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等。
本实施例公开一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
本实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；获取第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及第一湿涂布宽度与第一干涂布宽度的第二偏差；根据第一偏差和第二偏差，确定第一纠偏量。
图8为本申请实施例提供的一种涂布尺寸纠偏系统结构示意图，如图8所示，该系统包括图像采集装置802和涂布尺寸纠偏装置803；其中：
图像采集装置802与涂布尺寸纠偏装置803通信连接，用于采集涂布设备801对极片进行涂布后的图像数据，并向涂布尺寸纠偏装置803发送图像数据；
涂布尺寸纠偏装置803用于基于图像数据执行上述各实施例提供的方法，以实现为涂布尺寸的纠偏，保证涂布尺寸的准确性。
图9为本申请实施例提供的涂布尺寸纠偏系统工作原理图，如图9所示，首先，通过喷涂装置将浆料喷涂在集流体上，形成湿状态的涂布区，通过湿膜CCD1采集湿涂布图像，并将该湿涂 布图像发送给纠偏模型；湿状态的涂布区经过烘箱对其进行烘干操作，出烘箱后通过干膜CCD2对干状态的涂布区进行图像采集获得干涂布图像，并将干涂布图像发送给纠偏模型。可以理解的是，纠偏模型设置在涂布尺寸纠偏装置中，纠偏模型根据湿涂布图像和干涂布图像确定应纠偏的尺寸，并根据应纠偏的尺寸控制喷涂装置的位置进行移动。
本申请实施例通过纠偏装置采集到的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，结合预设涂布宽度确定需要纠正的第一纠偏量，提高了对涂布尺寸纠偏的效率及准确性。
在上述实施例的基础上，图像采集装置包括第一图像采集器、第二图像采集器、第三图像采集器和第四图像采集器；第一图像采集器设置在涂布设备中烘箱的第一侧，并正对极片的第一面，用于采集第一面湿涂布图像；第二图像采集器设置在烘箱的第二侧，并正对极片的第一面，用于采集第一面干涂布图像；第三图像采集器设置在涂布设备中烘箱的第二侧，并正对极片的第二面，用于采集第二面湿涂布图像；第四图像采集器设置在烘箱的第一侧，并正对极片的第二面，用于采集第二面干涂布图像。
在具体的实施过程中，可参见上述图3所示的涂布机测量和喷涂装置控制系统示意图，该图3中的序4为第一图像采集器，序6为第二图像采集器，序12为第三图像采集器，序13为第四图像采集器。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
另外，作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分，也可以是各个模块单独存在，也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请的保护范围，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (21)
- 一种涂布尺寸纠偏方法，其特征在于，包括：采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；获取所述第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第二偏差；根据所述第一偏差和所述第二偏差，确定第一纠偏量。
- 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第二偏差，包括：若所述第一干涂布宽度不满足预设要求，则获取所述第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第二偏差。
- 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差和所述第二偏差确定第一纠偏量，包括：若所述第一偏差表征所述第一干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，且所述第二偏差表征所述第一湿涂布宽度大于所述第一干涂布宽度，则根据所述第一偏差确定所述第一纠偏量；若所述第一偏差表征所述第一干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，且所述第二偏差表征所述第一湿涂布宽度小于所述第一干涂布宽度，则根据所述第一偏差的绝对值和所述第二偏差的绝对值确定所述第一纠偏量。
- 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差和所述第二偏差确定第一纠偏量，包括：若所述第一偏差表征所述第一干涂布宽度小于所述预设涂布宽度，且所述第二偏差表征所述第一湿涂布宽度小于所述第一干涂布宽度，则根据所述第一偏差确定所述第一纠偏量；若所述第一偏差表征所述第一干涂布宽度小于所述预设涂布宽度，且所述第二偏差表征所述第一湿涂布宽度大于所述第一干涂布宽度，则根据所述第一偏差的绝对值和所述第二偏差的绝对值确定所述第一纠偏量。
- 根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一偏差的绝对值和所述第二偏差的绝对值确定所述第一纠偏量，包括：若所述第一偏差的绝对值和所述第二偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据所述第一偏差确定所述第一纠偏量；若所述第一偏差的绝对值和所述第二偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据所述第二偏差确定所述第一纠偏量。
- 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在确定第一纠偏量后，所述方法还包括：若所述第一干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，则根据所述第一纠偏量控制喷涂装置沿极片厚度方向远离所述极片移动；若所述第一干涂布宽度小于所述预设涂布宽度，则根据所述第一纠偏量控制控制喷涂装置沿所述极片厚度方向靠近所述极片移动。
- 根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，包括：通过图像采集装置采集极片上第一涂布区的第一湿涂布图像和第一干涂布图像；基于所述图像采集装置的设备参数，确定所述第一湿涂布图像对应的所述第一湿涂布宽度和所述第一干涂布图像对应的第一干涂布宽度。
- 根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度，包括：获取所述极片上第一预设长度的第一涂布区的第一湿涂布，将所述第一预设长度的第一湿涂布的平均宽度作为所述第一湿涂布宽度；获取所述极片上第二预设长度的第一干涂布，将所述第二预设长度的第一干涂布的平均宽度作为所述第一干涂布宽度。
- 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：采集所述极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度；其中，所述第二涂布区与所述第一涂布区在所述极片长度方向上并行设置；若所述第二干涂布宽度不满足预设宽度要求，则计算所述第二干涂布宽度与预设涂布宽度的第三偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第四偏差；根据所述第三偏差和所述第四偏差，确定第二纠偏量。
- 根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三偏差和所述第四偏差确定第二纠偏量，包括：若所述第三偏差表征所述第二干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，且所述第四偏差表征所述第二湿涂布宽度大于所述第二干涂布宽度，则根据所述第三偏差确定所述第二纠偏量；若所述第三偏差表征所述第二干涂布宽度大于所述预设涂布宽度，且所述第四偏差表征所述第二湿涂布宽度小于所述第二干涂布宽度，则根据所述第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值确定所述第二纠偏量。
- 根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三偏差和所述第四偏差确定第二纠偏量，包括：若所述第三偏差表征所述第二干涂布宽度小于所述预设涂布宽度，且所述第四偏差表征所述第二湿涂布宽度小于所述第二干涂布宽度，则根据所述第三偏差确定所述第二纠偏量；若所述第三偏差表征所述第二干涂布宽度小于所述预设涂布宽度，且所述第四偏差表征所述第一湿涂布宽度大于所述第二干涂布宽度，则根据所述第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值确定所述第二纠偏量。
- 根据权利要求10或11所述的方法，其特征在于，所述根据所述第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值确定所述第二纠偏量，包括：若所述第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值之间的差值大于零，则根据所述第三偏差确定所述第二纠偏量；若所述第三偏差的绝对值和所述第四偏差的绝对值之间的差值小于零，则根据所述第四偏差确定所述第二纠偏量。
- 根据权利要求9所述的方法，其特征在于，在获得所述第一纠偏量和所述第二纠偏量后，所述方法还包括：根据所述第一偏差和所述第一纠偏量控制喷涂装置的第一端沿极片厚度方向移动；以及，根据所述第三偏差和所述第二纠偏量控制所述喷涂装置的第二端沿极片厚度方向移动；其中，所述第一端为所述喷涂装置与所述第一涂布区相对的一端，所述第二端为所述喷涂装置与所述第二涂布区相对的一端。
- 根据权利要求9-11任一项所述的方法，其特征在于，所述采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，包括：通过图像采集装置采集极片上第二涂布区的第二湿涂布图像和第二干涂布图像；基于所述图像采集装置的设备参数，确定所述第二湿涂布图像对应的所述第二湿涂布宽度和所述第二干涂布图像对应的第二干涂布宽度。
- 根据权利要求9-11任一项所述的方法，其特征在于，所述采集极片上第二涂布区的第二湿涂布宽度和第二干涂布宽度，包括：获取所述极片上第二涂布区的第三预设长度的第二湿涂布，将所述第三预设长度的第二湿涂布的平均宽度作为所述第二湿涂布宽度；获取所述极片上第二涂布区的第四预设长度的第二干涂布，将所述第四预设长度的第二干涂布的平均宽度作为所述第二干涂布宽度。
- 一种涂布尺寸纠偏装置，其特征在于，包括：宽度获取模块，用于采集极片上第一涂布区的第一湿涂布宽度和第一干涂布宽度；偏差计算模块，用于涂布获取所述第一干涂布宽度与预设涂布宽度的第一偏差，以及所述第一湿涂布宽度与所述第一干涂布宽度的第二偏差；纠偏模块，用于根据所述第一偏差和所述第二偏差，确定第一纠偏量。
- 一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线，其中，所述处理器和所述存储器通过所述总线完成相互间的通信；所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1-15任一项所述的方法。
- 一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令被计算机运行时，使所述计算机执行如权利要求1-15任一项所述的方法。
- 一种计算机程序产品，其特征在于，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行如权利要求1-15任一项所述的方法。
- 一种涂布尺寸纠偏系统，其特征在于，包括：图像采集装置和涂布尺寸纠偏装置；其中：所述图像采集装置与所述涂布尺寸纠偏装置通信连接，用于采集涂布设备对极片进行涂布后的图像数据，并向所述涂布尺寸纠偏装置发送图像数据；所述涂布尺寸纠偏装置用于基于所述图像数据执行如权利要求1-15任一项所述的方法。
- 根据权利要求20所述的系统，其特征在于，所述图像采集装置包括第一图像采集器、第二图像采集器、第三图像采集器和第四图像采集器；所述第一图像采集器设置在所述涂布设备中烘箱的第一侧，并正对极片的第一面，用于采集第一面湿涂布图像；所述第二图像采集器设置在所述烘箱的第二侧，并正对所述极片的第一面，用于采集第一面干涂布图像；所述第三图像采集器设置在所述涂布设备中烘箱的第二侧，并正对极片的第二面，用于采集第二面湿涂布图像；所述第四图像采集器设置在所述烘箱的第一侧，并正对所述极片的第二面，用于采集第二面干涂布图像。
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