CN212441883U

CN212441883U - 极片涂布尺寸的检测控制系统

Info

Publication number: CN212441883U
Application number: CN202020913465.7U
Authority: CN
Inventors: 梁旭飞; 雷振宇
Original assignee: Hunan Xinminya New Energy Technology Co Ltd; Sichuan Xinminya Battery Technology Co Ltd; Suzhou Lingwei New Energy Technology Co Ltd
Current assignee: Hunan Lingpai Energy Storage Technology Co ltd; Hunan Lingpai New Energy Research Institute Co ltd; Hunan Lingpai New Energy Technology Co Ltd; Hengyang Lingpai New Energy Technology Co Ltd; Hunan Lead Power Dazhi Technology Inc
Priority date: 2020-05-26
Filing date: 2020-05-26
Publication date: 2021-02-02
Anticipated expiration: 2030-05-26

Abstract

本申请提供一种极片涂布尺寸的检测控制系统，所述极片涂布尺寸的检测控制系统包括：适于检测极片第一面的涂布干膜尺寸的第一干膜检测装置，布置于第一面涂布后烘箱和第二面涂布装置之间；适于检测极片第二面的涂布湿膜尺寸的湿膜检测装置，布置于第二面涂布装置和第二面涂布后烘箱之间；适于检测极片第二面的涂布干膜尺寸的第二干膜检测装置，布置于第二面涂布后烘箱之后；适于根据第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸控制第一面涂布装置、第二面涂布装置进行调整的控制装置。本申请保证极片第一面和第二面的涂布尺寸的一致性，提高了涂布优率，避免了极片大量浪费而造成电芯制造成本增加。

Description

极片涂布尺寸的检测控制系统

技术领域

本申请涉及锂离子电池制造领域，特别涉及一种锂离子电池的极片涂布尺寸的检测控制系统。

背景技术

目前主流的锂电正、负极高速双面挤压涂布机极片尺寸检测方式为：在正面和反面极片干燥以后进行干膜的尺寸检测，然后把检测结果反馈给操作人员或控制系统，通过人工调整或系统进行闭环调节。

现有的一种采用电荷耦合器件(CCD)检测相机的视觉检测方式请参考图1：自动放卷机自动放料，极片基材经面密度检测装置1和纠偏装置1，由正面涂布装置进行正面涂布工艺，传至下层50米烘箱对正面涂布后的极片进行干燥；然后，正面涂布和干燥后的极片经纠偏装置2、牵引装置1、面密度检测装置2和纠偏装置3，由反面涂布装置进行反面涂布工艺，传至上层50米烘箱对反面涂布后的极片进行干燥；然后，双面涂布和干燥后的极片经纠偏装置4、牵引装置2、面密度检测装置3，进入视觉检测系统(包括正面检测CCD、反面检测CCD和CCD检测控制装置)进行涂布尺寸检测；最后自动收卷机自动收料。图1中带箭头的虚线表示了极片在双面涂布和尺寸检测过程的运动方向。

图1所示的视觉检测方式主要存在如下问题：

涂布尺寸检测方式是在正反面极片烘干后进行干膜尺寸检测(如图1中正面检测CCD、反面检测CCD)，用检测出来的结果再去进行尺寸调整，其检测结果存在滞后性，过程中整个烘箱内的极片尺寸其实已经不合格，滞后性的检测造成极片大量浪费；另外，目前主流的检测方式只用于检测极片尺寸，无涂布表面缺陷检测功能，无法及时监测到气泡、条痕、漏箔等涂布缺陷。从而因尺寸检测的滞后性和没有缺陷检测功能造成涂布极片品质问题，产品优率降低，电芯制造成本增加，同时还存在不合格极片流入后序工艺导致电池析锂、短路、冒烟、起火等安全隐患。

实用新型内容

本申请要解决的技术问题是现有尺寸检测的滞后性造成涂布极片品质问题，产品优率降低，电芯制造成本增加及安全隐患问题。

为解决上述技术问题，本申请公开了一种极片涂布尺寸的检测控制系统，应用于极片双面涂布系统，所述极片双面涂布系统包括顺序布置的第一面涂布装置、第一面涂布后烘箱、第二面涂布装置以及第二面涂布后烘箱；所述极片涂布尺寸的检测控制系统包括：

适于检测极片第一面的涂布干膜尺寸的第一干膜检测装置，布置于所述第一面涂布后烘箱和第二面涂布装置之间；

适于检测极片第二面的涂布湿膜尺寸的湿膜检测装置，布置于所述第二面涂布装置和第二面涂布后烘箱之间；

适于检测极片第二面的涂布干膜尺寸的第二干膜检测装置，布置于所述第二面涂布后烘箱之后；

适于根据所述第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸控制所述第一面涂布装置、第二面涂布装置进行调整的控制装置，所述控制装置与所述第一干膜检测装置、湿膜检测装置和第二干膜检测装置分别连接。

可选的，所述控制装置的控制逻辑包括：

在所述第一面的涂布干膜尺寸超过工艺规格范围时调整所述第一面涂布装置以控制所述第一面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内；

以所述第一面的涂布干膜尺寸为基准，调整所述第二面涂布装置以控制所述第二面的涂布湿膜尺寸在工艺规格范围内；

比较所述第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，调整所述第二面涂布装置以控制所述第二面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内。

可选的，所述极片涂布尺寸的检测控制系统还包括适于调整极片位置的纠偏装置，布置于所述第一面涂布后烘箱和第二面涂布装置之间；所述控制装置还与纠偏装置连接，适于比较所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并调整所述纠偏装置以控制所述第一面和第二面的涂布干膜边缘对齐度在工艺规格范围内。

可选的，所述纠偏装置包括：适于检测极片边缘位置的纠偏传感器、纠偏电机、由所述纠偏电机驱动的纠偏辊以及连接所述纠偏传感器和纠偏电机的纠偏控制器；所述控制装置与所述纠偏控制器连接。

可选的，所述第一干膜检测装置还适于检测极片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷，所述湿膜检测装置还适于检测极片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷，所述第二干膜检测装置还适于检测极片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。

与现有技术相比，本申请技术方案至少具有如下有益效果：

第一干膜检测装置布置于第一面涂布后烘箱和第二面涂布装置之间，即在极片第一面涂布和烘干后、第二面涂布前，检测极片第一面的涂布干膜尺寸；湿膜检测装置布置于第二面涂布装置和第二面涂布后烘箱之间，即在极片第二面涂布后烘干前，检测极片第二面的涂布湿膜尺寸；第二干膜检测装置布置于所述第二面涂布后烘箱之后，即在极片第二面涂布和烘干后，检测极片第二面的涂布干膜尺寸；控制装置根据所述第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸控制所述第一面涂布装置、第二面涂布装置进行调整。因此，可以有效地解决现有检测技术存在的检测滞后问题，在第二面湿膜涂布后就可以立刻检测出第一面和第二面的错位尺寸并反馈给控制系统进行调整，保证第一面和第二面尺寸的一致性，提高了涂布优率，避免了极片大量浪费而造成电芯制造成本增加。

可以根据检测出的第二面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布湿膜尺寸做数据统计，分析湿膜在干燥过程中的尺寸收缩比，并根据大数据自学习，提供更好的控制逻辑给到闭环控制系统，保证第二面湿膜和干膜尺寸的有效性，避免因尺寸问题造成的批量报废。

第一面和第二面涂布尺寸的实时检测可以实现第一面和第二面尺寸检测和对齐度闭环控制，可以有效地减少人工过程取样造成的极片浪费和过程检测造成的停机损失。

第一干膜检测装置、湿膜检测装置和第二干膜检测装置还可在线实时监测极片表面缺陷情况，当出现连续气泡、条痕、漏金属等不良时，能及时报警提示操作人员进行在线或停机处理，避免出现批量报废，也避免了不合格极片流入后序工艺导致电池析锂、短路、冒烟、起火等安全隐患问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种双面挤压涂布过程中极片涂布尺寸检测的系统示意图；

图2为本申请实施例的极片涂布尺寸的检测控制系统应用于极片双面涂布系统的示意图；

图3为本申请实施例的纠偏装置各部分的连接关系示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含的包括一个或者更多个该特征。而且，术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

本申请实施例提出的极片检测方式实时检测极片第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布湿膜尺寸和涂布干膜尺寸并进行分析控制，可以有效解决目前视觉检测系统检测滞后导致烘箱内极片报废的问题；另外，在检测涂布极片尺寸的同时可以兼容涂布外观缺陷检测。此检测方式可以通过干湿膜尺寸的变化情况进行自学习，并及时做出合理的闭环调节控制，确保涂布双面极片尺寸在工艺规格范围内。

请参考图2，本实施例的极片涂布尺寸的检测控制系统，应用于极片双面涂布系统，所述极片双面涂布系统包括顺序布置的第一面涂布装置A11、第一面涂布后烘箱A12、第二面涂布装置A13以及第二面涂布后烘箱A14；所述极片涂布尺寸的检测控制系统包括：第一干膜检测装置A21、湿膜检测装置A22、第二干膜检测装置A23和控制装置A24。图2中，带箭头的虚线表示了极片在涂布和检测过程的运动方向或者说是极片走向，所述顺序布置是指按极片的运动方向，极片先后经过的顺序，其中，极片先经过的装置布置在前，极片后经过的装置布置在后。

第一干膜检测装置A21适于检测极片第一面的涂布干膜尺寸，第一干膜检测装置A21布置于第一面涂布后烘箱A12和第二面涂布装置A13之间。湿膜检测装置A22适于检测极片第二面的涂布湿膜尺寸，湿膜检测装置A22布置于第二面涂布装置A13和第二面涂布后烘箱A14之间。第二干膜检测装置A23适于检测极片第二面的涂布干膜尺寸，第二干膜检测装置A23布置于第二面涂布后烘箱A14之后。控制装置A24适于根据所述第一面的涂布干膜尺寸、第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸控制所述第一面涂布装置A11、第二面涂布装置A13进行调整，控制装置A24与第一干膜检测装置A21、湿膜检测装置A22和第二干膜检测装置A23分别连接。

进一步，本实施例的极片涂布尺寸的检测控制系统还包括适于调整极片位置的纠偏装置A25布置于第一面涂布后烘箱A12和第二面涂布装置A13之间；所述控制装置A24还与纠偏装置A25连接，适于比较所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并调整纠偏装置A25以控制所述第一面和第二面的涂布干膜边缘对齐度在工艺规格范围内。

第一干膜检测装置A21还适于检测极片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷，湿膜检测装置A22还适于检测极片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷，第二干膜检测装置A23还适于检测极片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。

具体实施时，本实施例的极片涂布尺寸的检测控制系统，可称为高速双面挤压涂布机视觉检测及正反面尺寸对齐闭环控制系统，包含：CCD视觉检测控制装置，三套CCD视觉检测相机、检测光源以及用于进行尺寸闭环的纠偏装置，整个检测控制系统在双层挤压涂布系统中的分布位置详见图2。如图2所示，按照带箭头的虚线即极片走向，极片双面涂布系统和极片涂布尺寸的检测控制系统的各组成结构从前到后顺序布置，分别为：

自动放卷机；面密度检测装置1；纠偏装置1(放卷和第一面涂布前纠偏共用)；第一面涂布装置A11(第一面涂布，对应图1中的正面涂布装置)；第一面涂布后烘箱A12(对应图1中的下层50米烘箱)；纠偏装置2(下层出烘箱纠偏)；牵引装置1(下层烘箱牵引)；面密度检测装置2(用于检测第一面干膜面密度)；纠偏装置A25(第二面涂布前纠偏)；第一干膜检测装置A21(检测第一面的涂布干膜尺寸和外观缺陷，可采用CCD视觉检测相机)；第二面涂布装置A13(第二面涂布，对应图1中的反面涂布装置)；湿膜检测装置A22(检测第二面的涂布湿膜尺寸和外观缺陷，可采用CCD视觉检测相机)；第二面涂布后烘箱A14(对应图1中的上层50米烘箱)；纠偏装置4(上层出烘箱纠偏)；牵引装置2(上层烘箱牵引)；面密度检测装置3(检测第一面/第二面的双面干膜面密度)；第二干膜检测装置A23(检测第二面的涂布干膜尺寸和外观缺陷，可采用CCD视觉检测相机)；纠偏装置5(收卷前纠偏)；自动收卷机。控制装置A24(CCD视觉检测控制装置)与第一干膜检测装置A21、湿膜检测装置A22、第二干膜检测装置A23和纠偏装置A25分别连接。

控制装置A24的控制逻辑包括：在所述第一面的涂布干膜尺寸超过工艺规格范围时调整所述第一面涂布装置以控制所述第一面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内；以所述第一面的涂布干膜尺寸为基准，调整所述第二面涂布装置以控制所述第二面的涂布湿膜尺寸在工艺规格范围内；比较所述第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，调整所述第二面涂布装置以控制所述第二面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内。

具体实施时，控制装置A24用于图形和数据传输、整理、分析和反馈，具体的尺寸检测和闭环控制逻辑如下：

首先根据第一干膜检测装置A21检测烘干后的第一面的涂布干膜尺寸，如若第一面的涂布干膜尺寸不在工艺规格范围内则系统报警提醒尺寸超规格，可由第一面操作人员进行人工干预，在线调整第一面涂布装置A11的挤压模头或螺杆泵速使得第一干膜检测装置A21检测后的尺寸在工艺规格范围内；把第一干膜检测装置A21检测到的合格的第一面的涂布干膜尺寸作为第二面涂布基准，湿膜检测装置A22检测第二面的涂布湿膜尺寸，可由第二面操作人员根据检测的第二面的涂布湿膜尺寸对第二面涂布装置A13进行调整，使得湿膜检测装置A22检测出的第二面的涂布湿膜尺寸在工艺规格范围内；则此时可以把尺寸检测闭环控制系统设置成自动模式，整个系统会根据第一干膜检测装置A21和湿膜检测装置A22检测出来的数据和系统设定数据进行比对，同时会根据第二干膜检测装置A23检测的第二面的涂布干膜尺寸数据做参考，控制系统根据比对的结果对纠偏装置A25或第二面涂布装置A13的挤压模头、螺杆泵做相应的自动调整，从而使得第一面和第二面干膜边缘对齐度在工艺规格范围内以实现自动闭环控制。

在整个检测控制系统中，第二干膜检测装置A23用于检测第二面的涂布干膜尺寸，主要有两个作用：其一，第二面涂布的湿膜在干燥过程中边缘会收缩，通过与湿膜检测装置A22检测出来的第二面的涂布湿膜尺寸进行比对，并由控制装置A24将比对结果反馈给到第二面涂布装置A13的挤压模头或螺杆泵，实时调节湿膜涂布尺寸，实现闭环控制，确保第二面涂布的干膜尺寸在工艺规格范围内；其二，是用于检测第二面的涂布干膜尺寸并和第一干膜检测装置A21检测出的第一面的涂布干膜尺寸做实际数据比对，并由控制装置A24将结果反馈给到纠偏装置A25，适时进行纠偏调节，实现闭环控制，以确保整个过程中第一面和第二面的实际涂布干膜边缘对齐度在工艺范围内。

控制装置A24可以内嵌检测控制系统软件，所述检测控制系统软件的界面图中可以显示第一面、第二面涂布尺寸数据以及第一面/第二面错位数据等。软件主界面可以由：菜单栏、工具栏、图像显示区域、膜卷信息显示区、硬件连接状态显示区、检测结果显示区等几部分构成，可在主界面显示各涂膜区和箔材区的实时尺寸信息，操作人员可根据界面显示数据随时调整涂布尺寸。

请参考图3，纠偏装置A25作为第一面、第二面干膜边缘对齐闭环控制的执行机构，可以包括：适于检测极片边缘位置的纠偏传感器A251、纠偏电机A252、由所述纠偏电机A252驱动的纠偏辊A253以及连接所述纠偏传感器A251和纠偏电机A252的纠偏控制器A254；所述控制装置A24与所述纠偏控制器A254连接。

具体地，纠偏辊A253安装于纠偏固定架上，纠偏辊A253可以在纠偏电机A252的驱动下由导向机构驱动绕中心转动，并且，纠偏辊A253还可以由纠偏电机A252进行平移驱动；纠偏传感器A251实时检测纠偏辊A253上的极片的边缘位置并反馈给纠偏控制器A254，可以在纠偏辊A253的两侧分别设置左、右传感器来检测极片两侧边缘位置。极片经第二面涂布装置A13涂布后，通过第一干膜检测装置A21和第二干膜检测装置A23的检测，控制装置A24检测出第二面涂布后正反涂布面(第一面和第二面)尺寸的偏差，并将运算结果信息反馈给纠偏控制器A254，纠偏控制器A254根据控制装置A24检测的极片正反涂布面尺寸的偏差和纠偏传感器A251检测的极片的边缘位置，发送指令给纠偏传感器A251，由此控制纠偏传感器A251沿进给机构动作到适当位置。由于纠偏传感器A251的位置改变，为使纠偏辊A253的位置与纠偏传感器A251的位置保持对应位置关系，纠偏控制器A254发送指令控制纠偏电机A252动作，使纠偏电机A252驱动纠偏辊A253转动的同时，还进行平移运动，从而使纠偏辊A253上的涂布后极片在平移和转动的双重动作下移动到要求的位置。在整个涂布过程中，通过检测控制系统实时地检测反馈信息和闭环控制系统不停地调整，从而缩小涂布正反面边缘的误差达到在线闭环控制。

对应于上述的极片涂布尺寸的检测控制系统，本申请实施例还提供一种极片涂布尺寸的检测控制方法，包括：在极片第一面涂布和烘干后，检测极片第一面的涂布干膜尺寸；在极片第二面涂布后烘干前，检测极片第二面的涂布湿膜尺寸；在极片第二面涂布和烘干后，检测极片第二面的涂布干膜尺寸；根据所述极片第一面的涂布干膜尺寸、极片第二面的涂布湿膜尺寸和极片第二面的涂布干膜尺寸，调整对极片的双面涂布控制。

其中，所述根据所述极片第一面的涂布干膜尺寸、极片第二面的涂布湿膜尺寸和极片第二面的涂布干膜尺寸，调整对极片的双面涂布控制可以包括：

在所述第一面的涂布干膜尺寸超过工艺规格范围时调整所述极片第一面的涂布工艺以控制所述第一面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内；

以所述第一面的涂布干膜尺寸为基准，调整所述极片第二面的涂布工艺以控制所述第二面的涂布湿膜尺寸在工艺规格范围内；

比较所述第二面的涂布湿膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，调整所述极片第二面的涂布工艺以控制所述第二面的涂布干膜尺寸在工艺规格范围内。

进一步，所述极片涂布尺寸的检测控制方法还可以包括：比较所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并调整极片第二面涂布前所述极片的位置以控制所述第一面和第二面的涂布干膜边缘对齐度在工艺规格范围内。

进一步，所述极片涂布尺寸的检测控制方法还包括：极片缺陷检测，所述极片缺陷检测具体可以包括：检测极片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷；检测极片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷；检测极片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。

在具体实施时，结合参考图2，涂布CCD视觉检测及闭环控制具体过程可以如下所述：

烘干的第一面极片经过纠偏后，进行第一面的涂布干膜尺寸和缺陷检测；再经第二面涂布后进行第二面的涂布湿膜尺寸和缺陷检测；之后，烘干的第二面极片经过纠偏后，进行第二面的涂布干膜尺寸和缺陷检测；

第一干膜检测装置A21、湿膜检测装置A22、第二干膜检测装置A23实时检测极片第一面、第二面的涂布尺寸、边缘留白尺寸以及极片表面缺陷情况，并将采集的尺寸数据传输给控制装置A24，出现缺陷情况时，及时报警提示操作人员进行在线或停机处理，避免批量报废；

控制装置A24通过与设置的基准参数进行比较运算后，将反馈信息传输给闭环控制系统，闭环控制系统根据反馈信息对涂布极片的尺寸和位置进行调整，直到CCD检测到极片基材涂布面的尺寸和位置偏差在预设的工艺值即工艺规格范围内，则整个闭环控制系统继续进行进一步的过程尺寸监测和控制；

控制装置A24通过与基准位置进行比较运算后将反馈信息传输给闭环控制系统，闭环控制系统根据反馈信息通过纠偏装置A25的纠偏电机的平移和转动对极片基材运行方向左右位置进行调整，从而保证涂布极片尺寸以及第一面和第二面的涂布干膜边缘对齐度在工艺规格范围内。

综上所述，在阅读本详细公开内容之后，本领域技术人员可以明白，前述详细公开内容可以仅以示例的方式呈现，并且可以不是限制性的。尽管这里没有明确说明，本领域技术人员可以理解本申请意图囊括对实施例的各种合理改变，改进和修改。这些改变，改进和修改旨在由本公开提出，并且在本公开的示例性实施例的精神和范围内。

此外，本申请中的某些术语已被用于描述本公开的实施例。例如，“一个实施例”，“实施例”和/或“一些实施例”意味着结合该实施例描述的特定特征，结构或特性可以包括在本公开的至少一个实施例中。因此，可以强调并且应当理解，在本说明书的各个部分中对“实施例”或“一个实施例”或“替代实施例”的两个或更多个引用不一定都指代相同的实施例。此外，特定特征，结构或特性可以在本公开的一个或多个实施例中适当地组合。

应当理解，在本公开的实施例的前述描述中，为了帮助理解一个特征，出于简化本公开的目的，本申请有时将各种特征组合在单个实施例、附图或其描述中。或者，本申请又是将各种特征分散在多个本申请的实施例中。然而，这并不是说这些特征的组合是必须的，本领域技术人员在阅读本申请的时候完全有可能将其中一部分特征提取出来作为单独的实施例来理解。也就是说，本申请中的实施例也可以理解为多个次级实施例的整合。而每个次级实施例的内容在于少于单个前述公开实施例的所有特征的时候也是成立的。

在一些实施方案中，表达用于描述和要求保护本申请的某些实施方案的数量或性质的数字应理解为在某些情况下通过术语“约”，“近似”或“基本上”修饰。例如，除非另有说明，否则“约”，“近似”或“基本上”可表示其描述的值的±20％变化。因此，在一些实施方案中，书面描述和所附权利要求书中列出的数值参数是近似值，其可以根据特定实施方案试图获得的所需性质而变化。在一些实施方案中，数值参数应根据报告的有效数字的数量并通过应用普通的舍入技术来解释。尽管阐述本申请的一些实施方案列出了广泛范围的数值范围和参数是近似值，但具体实施例中都列出了尽可能精确的数值。

本文引用的每个专利，专利申请，专利申请的出版物和其他材料，例如文章，书籍，说明书，出版物，文件，物品等，可以通过引用结合于此。用于所有目的的全部内容，除了与其相关的任何起诉文件历史，可能与本文件不一致或相冲突的任何相同的，或者任何可能对权利要求的最宽范围具有限制性影响的任何相同的起诉文件历史。现在或以后与本文件相关联。举例来说，如果在与任何所包含的材料相关联的术语的描述、定义和/或使用与本文档相关的术语、描述、定义和/或之间存在任何不一致或冲突时，使用本文件中的术语为准。

最后，应理解，本文公开的申请的实施方案是对本申请的实施方案的原理的说明。其他修改后的实施例也在本申请的范围内。因此，本申请披露的实施例仅仅作为示例而非限制。本领域技术人员可以根据本申请中的实施例采取替代配置来实现本申请中的申请。因此，本申请的实施例不限于申请中被精确地描述过的哪些实施例。

Claims

1.一种极片涂布尺寸的检测控制系统，应用于极片双面涂布系统，所述极片双面涂布系统包括顺序布置的第一面涂布装置、第一面涂布后烘箱、第二面涂布装置以及第二面涂布后烘箱；其特征在于，所述极片涂布尺寸的检测控制系统包括：

2.根据权利要求1所述的极片涂布尺寸的检测控制系统，其特征在于，所述控制装置的控制逻辑包括：

3.根据权利要求1所述的极片涂布尺寸的检测控制系统，其特征在于，还包括适于调整极片位置的纠偏装置，布置于所述第一面涂布后烘箱和第二面涂布装置之间；所述控制装置还与纠偏装置连接，适于比较所述第一面的涂布干膜尺寸和第二面的涂布干膜尺寸，并调整所述纠偏装置以控制所述第一面和第二面的涂布干膜边缘对齐度在工艺规格范围内。

4.根据权利要求3所述的极片涂布尺寸的检测控制系统，其特征在于，所述纠偏装置包括：适于检测极片边缘位置的纠偏传感器、纠偏电机、由所述纠偏电机驱动的纠偏辊以及连接所述纠偏传感器和纠偏电机的纠偏控制器；所述控制装置与所述纠偏控制器连接。

5.根据权利要求1所述的极片涂布尺寸的检测控制系统，其特征在于，所述第一干膜检测装置还适于检测极片第一面涂布和烘干后所述第一面的表面缺陷，所述湿膜检测装置还适于检测极片第二面涂布后烘干前所述第二面的表面缺陷，所述第二干膜检测装置还适于检测极片第二面涂布和烘干后所述第二面的表面缺陷。