CN117686760B - 一种电子元件测试用万用表装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种电子元件测试用万用表装置，属于电子元件测试设备技术领域，包括万用表主体，万用表主体表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板，翻盖板上连接有把手，罩盖上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件。本电子元件测试用万用表装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。
Description
技术领域
本申请涉及电子元件测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种电子元件测试用万用表装置。
背景技术
万用表是电子元件测试领域使用广泛的测试仪器，在进行对单独的电子元件进行测试时，一般都是把电子元件放置在桌面上，然后再将万用表的表笔插头插入至万用表上对应的表笔插孔内，再用万用表表笔测试端分别接触电子元件的阴阳引脚，随后，万用表的显示屏上会显示出被测电子元件电路的电学参数数值。
当前，万用表在完成对电子元件的测试任务并处于闲置状态时，万用表的表笔插孔暴露于空气中，空气中的灰尘和湿气容易进入万用表表笔插孔内，使得表笔插孔内部积灰或者生锈，进而造成表笔插头与插孔连接处之间的接触不良，进而引发测量误差，影响万用表对于电子元件测试结果的准确性。
鉴于此，我们提出一种电子元件测试用万用表装置。
发明内容
要解决的技术问题：本申请的目的在于提供一种电子元件测试用万用表装置，解决了上述背景技术中所提出的技术问题。
技术方案：本申请技术方案提供了一种电子元件测试用万用表装置，包括万用表主体，万用表主体表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；拦截保护结构包括密封连接于万用表主体表面且处于对应表笔插孔上方的罩盖，罩盖顶部设有盖板槽，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板，翻盖板上连接有把手；罩盖上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件；膜构件包括透气且能阻止环境中灰尘与湿气中的水分进入罩盖内部的防水透气膜，罩盖上贯穿开设有与防水透气膜相适配的膜槽，且防水透气膜固定连接于膜槽的内部，防水透气膜的底部均匀布设有多个能对罩盖内聚集的表笔插孔运行所产生热能进行感应监测处理的热感应单元；唤醒构件，用以在防水透气膜表面黏附有吸水结块的灰尘，导致罩盖内聚集的热能散热受阻，进而使得罩盖内聚集的热能超过热感应单元的感应临界值后，能向电子元件测试人员发出警示信号。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，热感应单元包括固定连接于防水透气膜底部的膜底罩壳，膜底罩壳外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层；膜底罩壳内填充有氮气层，膜底罩壳内还密封滑动连接有气体活塞，且气体活塞处于氮气层的上方，气体活塞的底部连接有底端与膜底罩壳内腔底壁相连接的复位弹簧；气凝胶隔热涂料层侧壁上方固定连通有引气管道，膜底罩壳内还连接有一个限制气体活塞活动行程的限位环；膜底罩壳侧壁壁厚内部设有能将聚集于罩盖内部的热能传导至氮气层处的引热体。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，限位环处于引气管道与膜底罩壳连接处的下方。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，引热体包括固定连接于膜底罩壳壁厚内部的金属中空导热针；金属中空导热针内腔底壁上连接有内部吸收有水分的吸水材料层。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，金属中空导热针的底端穿入膜底罩壳内腔与氮气层接触后穿过膜底罩壳底部，且金属中空导热针底端由膜底罩壳底部伸出。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，金属中空导热针顶端穿过防水透气膜并由防水透气膜顶面伸出。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，唤醒构件包括环形中空灯座，环形中空灯座内腔之中密封滑动连接有环状塞座，环形中空灯座顶部连接有环状提示灯；环状提示灯底部连接有绝缘底筒，绝缘底筒底端穿过环形中空灯座顶部并伸入至环形中空灯座内腔之中，绝缘底筒内腔之中分别设有上触发端子和下触发端子，且上触发端子与绝缘底筒内腔顶壁相连接，下触发端子处于上触发端子下方，下触发端子底部连接有分别连接有弹性带和推杆；弹性带的底端与绝缘底筒内腔底壁相连接，推杆底端贯穿穿过绝缘底筒底端并与环状塞座顶部相连接；环形中空灯座侧壁上方固定连通有在环状塞座上移时，方便环状塞座将环形中空灯座内腔中的气体挤压排出的排气管。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，罩盖顶部开设有与环形中空灯座相适配且环设于膜槽外周的环槽，且环形中空灯座固定连接于该环槽内部；排气管远离环形中空灯座一端贯穿穿过罩盖侧壁并与大气相连通。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案，引气管道远离其所连接膜底罩壳的一端分别穿入罩盖与环形中空灯座的壁厚并与环形中空灯座内腔底端相连通。
有益效果：本申请技术方案中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：1.本装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。
2.向上翻转翻盖板，再将万用表表笔插头穿过盖板槽并插入至万用表主体上的表笔插孔内，从而方便测试人员在测试电子元件前将表笔插头快速插入至插孔内部。
3.在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔之间所产生热能不断扩散至罩盖内，再由透气的防水透气膜将热量散出，使得透膜组件中的膜构件在将外界环境中灰尘、湿气中水分拦截过滤下的同时，还能保障对表笔插孔处的散热性能。
4.在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔连接处所产生热能不断传递至罩盖内，热能通过透气的防水透气膜发散至环境中的同时，聚集在罩盖内的热能还能通过引热体中的金属中空导热针不断传导至吸水材料层处，吸水材料层内所吸收的水分不断吸收热能后蒸发，蒸发的水蒸气在与金属中空导热针内腔壁接触后遇冷液化，顺着金属中空导热针内腔壁再次流向吸水材料层，并再次被吸水材料层所吸收，从而有利于进一步提高膜构件对于表笔插孔处的散热性能，提升本装置测试的运行稳定性。
5.当本装置在长时间使用后，防水透气膜表面所拦截下的灰尘吸水形成硬块粘结在防水透气膜表面并对防水透气膜透气孔道产生堵塞，导致电子元件测试时，表笔插头与插孔连接处所产生热能扩散至罩盖内部后难以通过防水透气膜的透气孔道散失从而聚集在罩盖内部，热量通过金属中空导热针被不断传导至氮气层处，由于防水透气膜透气孔道受堵，当氮气层气压超过感应临界值后，受热体积发生膨胀的氮气层推动气体活塞上移，气体活塞再将膜底罩壳内腔处于气体活塞上部的空气通过引气管道不断挤压注入至唤醒构件的环形中空灯座内部，环形中空灯座内部气压不断增大后推动下触发端子上移与上触发端子接触后触发环状提示灯开启，提示测试人员需要及时将堵塞在防水透气膜透气孔道处的杂质清理掉，保障膜构件在电子元件测试时对于表笔插头与插孔连接处的透气散热性能不受影响，方便测试人员进行故障排查。
附图说明
图1为本申请一较佳实施例公开的电子元件测试用万用表装置的整体结构示意图。
图2为本申请一较佳实施例公开的电子元件测试用万用表装置图1中A部分的局部结构放大示意图。
图3为本申请一较佳实施例公开的电子元件测试用万用表装置中拦截保护结构的结构示意图。
图4为本申请一较佳实施例公开的电子元件测试用万用表装置中透膜组件的结构示意图。
图5为本申请一较佳实施例公开的电子元件测试用万用表装置中热感应单元的结构示意图。
图中标号说明：1、万用表主体；201、罩盖；202、防水透气膜；203、翻盖板；204、环状提示灯；205、金属中空导热针；206、环形中空灯座；207、环状塞座；208、膜底罩壳；209、绝缘底筒；210、上触发端子；211、下触发端子；212、弹性带；213、引气管道；214、吸水材料层；215、气凝胶隔热涂料层；216、气体活塞；217、氮气层。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围，以下结合说明书附图对本申请作进一步详细说明。
参照图1至图3，本申请实施例提供了一种电子元件测试用万用表装置，包括万用表主体1，万用表主体1表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；拦截保护结构包括密封连接于万用表主体1表面且处于对应表笔插孔上方的罩盖201，罩盖201顶部设有盖板槽，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板203，翻盖板203上连接有把手；罩盖201上设有透气的透膜组件，透膜组件包括膜构件和唤醒构件；膜构件包括透气且能阻止环境中灰尘与湿气中的水分进入罩盖201内部的防水透气膜202，罩盖201上贯穿开设有与防水透气膜202相适配的膜槽，且防水透气膜202固定连接于膜槽的内部，防水透气膜202的底部均匀布设有多个能对罩盖201内聚集的表笔插孔运行所产生热能进行感应监测处理的热感应单元；唤醒构件，用以在防水透气膜202表面黏附有吸水结块的灰尘，导致罩盖201内聚集的热能散热受阻，进而使得罩盖201内聚集的热能超过热感应单元的感应临界值后，能向电子元件测试人员发出警示信号。本装置通过拦截保护结构中透气的透膜组件将环境中的灰尘和湿气中的水分与表笔插孔隔离，使得本装置无论处于闲置或者使用状态时，外界环境中灰尘、湿气中水分杂都难以侵入至表笔插孔内部，这样不仅能有效避免因灰尘和湿气侵入而造成表笔插头与插孔之间的接触不良，进而引发测量误差的情况出现，使得电子元件测试结果的准确性得到保障。向上翻转翻盖板203，再将万用表表笔插头穿过盖板槽并插入至万用表主体1上的表笔插孔内，从而方便测试人员在测试电子元件前将表笔插头快速插入至插孔内部。在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔之间所产生热能不断扩散至罩盖201内，再由透气的防水透气膜202将热量散出，使得透膜组件中的膜构件在将外界环境中灰尘、湿气中水分拦截过滤下的同时，还能保障对表笔插孔处的散热性能。
参照图4和图5，本申请实施例提供了一种电子元件测试用万用表装置，热感应单元包括固定连接于防水透气膜202底部的膜底罩壳208，膜底罩壳208外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层215；膜底罩壳208内填充有氮气层217，膜底罩壳208内还密封滑动连接有气体活塞216，且气体活塞216处于氮气层217的上方，气体活塞216的底部连接有底端与膜底罩壳208内腔底壁相连接的复位弹簧；气凝胶隔热涂料层215侧壁上方固定连通有引气管道213，膜底罩壳208内还连接有一个限制气体活塞216活动行程的限位环；膜底罩壳208侧壁壁厚内部设有能将聚集于罩盖201内部的热能传导至氮气层217处的引热体。限位环处于引气管道213与膜底罩壳208连接处的下方。
参照图5，本申请实施例提供了一种电子元件测试用万用表装置，引热体包括固定连接于膜底罩壳208壁厚内部的金属中空导热针205，金属中空导热针205采用金属铝材料制成；金属中空导热针205内腔底壁上连接有内部吸收有水分的吸水材料层214，吸水材料层214由吸水纤维棉材料制成。金属中空导热针205的底端穿入膜底罩壳208内腔与氮气层217接触后穿过膜底罩壳208底部，且金属中空导热针205底端由膜底罩壳208底部伸出。金属中空导热针205顶端穿过防水透气膜202并由防水透气膜202顶面伸出。在测试电子元件过程中，表笔插头与插孔连接处所产生热能不断传递至罩盖201内，热能通过透气的防水透气膜202发散至环境中的同时，聚集在罩盖201内的热能还能通过引热体中的金属中空导热针205不断传导至吸水材料层214处，吸水材料层214内所吸收的水分不断吸收热能后蒸发，蒸发的水蒸气在与金属中空导热针205内腔壁接触后遇冷液化，顺着金属中空导热针205内腔壁再次流向吸水材料层214，并再次被吸水材料层214所吸收，从而有利于进一步提高膜构件对于表笔插孔处的散热性能。
参照图3和图4，本申请实施例提供了一种电子元件测试用万用表装置，唤醒构件包括环形中空灯座206，环形中空灯座206内腔之中密封滑动连接有环状塞座207，环形中空灯座206顶部连接有环状提示灯204；环状提示灯204底部连接有绝缘底筒209，绝缘底筒209底端穿过环形中空灯座206顶部并伸入至环形中空灯座206内腔之中，绝缘底筒209内腔之中分别设有上触发端子210和下触发端子211，且上触发端子210与绝缘底筒209内腔顶壁相连接，下触发端子211处于上触发端子210下方，下触发端子211底部连接有分别连接有弹性带212和推杆；弹性带212的底端与绝缘底筒209内腔底壁相连接，推杆底端贯穿穿过绝缘底筒209底端并与环状塞座207顶部相连接；环形中空灯座206侧壁上方固定连通有在环状塞座207上移时，方便环状塞座207将环形中空灯座206内腔中的气体挤压排出的排气管。罩盖201顶部开设有与环形中空灯座206相适配且环设于膜槽外周的环槽，且环形中空灯座206固定连接于该环槽内部；排气管远离环形中空灯座206一端贯穿穿过罩盖201侧壁并与大气相连通。引气管道213远离其所连接膜底罩壳208的一端分别穿入罩盖201与环形中空灯座206的壁厚并与环形中空灯座206内腔底端相连通。当本装置在长时间使用后，防水透气膜202表面所拦截下的灰尘吸水形成硬块粘结在防水透气膜202表面并对防水透气膜202透气孔道产生堵塞，导致电子元件测试时，表笔插头与插孔连接处所产生热能扩散至罩盖201内部后难以通过防水透气膜202的透气孔道散失从而聚集在罩盖201内部，热量通过金属中空导热针205被不断传导至氮气层217处，由于防水透气膜202透气孔道受堵，当氮气层217气压超过感应临界值后，受热体积发生膨胀的氮气层217推动气体活塞216上移，气体活塞216再将膜底罩壳208内腔处于气体活塞216上部的空气通过引气管道213不断挤压注入至唤醒构件的环形中空灯座206内部，环形中空灯座206内部气压不断增大后推动下触发端子211上移与上触发端子210接触后触发环状提示灯204开启，提示测试人员需要及时将堵塞在防水透气膜202透气孔道处的杂质清理掉，保障膜构件在电子元件测试时对于表笔插头与插孔连接处的透气散热性能不受影响，方便测试人员进行故障排查。
Claims (4)
1.一种电子元件测试用万用表装置，其特征在于：包括万用表主体（1），所述万用表主体（1）表面于每个表笔插孔位置对应处均设有拦截保护结构；
所述拦截保护结构包括密封连接于万用表主体（1）表面且处于对应表笔插孔上方的罩盖（201），罩盖（201）顶部设有盖板槽，盖板槽内通过扭簧铰接有翻盖板（203），翻盖板（203）上连接有把手；
罩盖（201）上设有透气的透膜组件，所述透膜组件包括膜构件和唤醒构件；
所述膜构件包括透气且能阻止环境中灰尘与湿气中的水分进入罩盖（201）内部的防水透气膜（202），罩盖（201）上贯穿开设有与防水透气膜（202）相适配的膜槽，且防水透气膜（202）固定连接于膜槽的内部，防水透气膜（202）的底部均匀布设有多个能对罩盖（201）内聚集的表笔插孔运行所产生热能进行感应监测处理的热感应单元；
所述唤醒构件，用以在防水透气膜（202）表面黏附有吸水结块的灰尘，导致罩盖（201）内聚集的热能散热受阻，进而使得罩盖（201）内聚集的热能超过热感应单元的感应临界值后，能向电子元件测试人员发出警示信号；
所述热感应单元包括固定连接于防水透气膜（202）底部的膜底罩壳（208），膜底罩壳（208）外壁涂覆有一层气凝胶隔热涂料层（215）；
膜底罩壳（208）内填充有氮气层（217），膜底罩壳（208）内还密封滑动连接有气体活塞（216），且气体活塞（216）处于氮气层（217）的上方，气体活塞（216）的底部连接有底端与膜底罩壳（208）内腔底壁相连接的复位弹簧；
所述气凝胶隔热涂料层（215）侧壁上方固定连通有引气管道（213），膜底罩壳（208）内还连接有一个限制气体活塞（216）活动行程的限位环；
膜底罩壳（208）侧壁壁厚内部设有能将聚集于罩盖（201）内部的热能传导至氮气层（217）处的引热体；
所述引热体包括固定连接于膜底罩壳（208）壁厚内部的金属中空导热针（205）；
所述金属中空导热针（205）内腔底壁上连接有内部吸收有水分的吸水材料层（214）；
所述金属中空导热针（205）的底端穿入膜底罩壳（208）内腔与氮气层（217）接触后穿过膜底罩壳（208）底部，且金属中空导热针（205）底端由膜底罩壳（208）底部伸出；
所述唤醒构件包括环形中空灯座（206），环形中空灯座（206）内腔之中密封滑动连接有环状塞座（207），环形中空灯座（206）顶部连接有环状提示灯（204）；
环状提示灯（204）底部连接有绝缘底筒（209），绝缘底筒（209）底端穿过环形中空灯座（206）顶部并伸入至环形中空灯座（206）内腔之中，绝缘底筒（209）内腔之中分别设有上触发端子（210）和下触发端子（211），且上触发端子（210）与绝缘底筒（209）内腔顶壁相连接，下触发端子（211）处于上触发端子（210）下方，下触发端子（211）底部连接有分别连接有弹性带（212）和推杆；
弹性带（212）的底端与绝缘底筒（209）内腔底壁相连接，推杆底端贯穿穿过绝缘底筒（209）底端并与环状塞座（207）顶部相连接；
所述环形中空灯座（206）侧壁上方固定连通有在环状塞座（207）上移时，方便环状塞座（207）将环形中空灯座（206）内腔中的气体挤压排出的排气管；
所述引气管道（213）远离其所连接膜底罩壳（208）的一端分别穿入罩盖（201）与环形中空灯座（206）的壁厚并与环形中空灯座（206）内腔底端相连通；
当本装置在长时间使用后，防水透气膜（202）表面所拦截下的灰尘吸水形成硬块粘结在防水透气膜（202）表面并对防水透气膜（202）透气孔道产生堵塞，导致电子元件测试时，表笔插头与插孔连接处所产生热能扩散至罩盖（201）内部后难以通过防水透气膜（202）的透气孔道散失从而聚集在罩盖（201）内部，热量通过金属中空导热针（205）被不断传导至氮气层（217）处，由于防水透气膜（202）透气孔道受堵，当氮气层（217）气压超过感应临界值后，受热体积发生膨胀的氮气层（217）推动气体活塞（216）上移，气体活塞（216）再将膜底罩壳（208）内腔处于气体活塞（216）上部的空气通过引气管道（213）不断挤压注入至唤醒构件的环形中空灯座（206）内部，环形中空灯座（206）内部气压不断增大后推动下触发端子（211）上移与上触发端子（210）接触后触发环状提示灯（204）开启。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述限位环处于引气管道（213）与膜底罩壳（208）连接处的下方。
3.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述金属中空导热针（205）顶端穿过防水透气膜（202）并由防水透气膜（202）顶面伸出。
4.根据权利要求1所述的电子元件测试用万用表装置，其特征在于：所述罩盖（201）顶部开设有与环形中空灯座（206）相适配且环设于膜槽外周的环槽，且环形中空灯座（206）固定连接于所述环槽内部；
排气管远离环形中空灯座（206）一端贯穿穿过罩盖（201）侧壁并与大气相连通。
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