CN117491840A - 一种集成电路的测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明属于集成电路测试领域,尤其是一种集成电路的测试装置,针对现有的测试装置在使用过程中,不便于对集成电路进行充分清洁,进而灰尘颗粒可能会对电路产生负面影响,从而导致降低了集成电路测试准确性的问题,现提出如下方案,其包括工作台,所述工作台的顶部固定安装有四个支柱,四个支柱的顶部固定连接有同一个回型支台,工作台上固定安装有清洗箱,清洗箱的两侧均开设有通口,回型支台位于两个通口内,回型支台内滑动安装有滑板,本发明能够在使用过程中,便于对集成电路进行充分清洁,进而可以有效避免灰尘颗粒对电路产生负面影响,从而提高了集成电路测试准确性,结构简单,使用方便。

Description

一种集成电路的测试装置
技术领域
本发明涉及集成电路测试技术领域,尤其涉及一种集成电路的测试装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件,是采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构,在集成电路投入使用前,通常需要对其进行测试。现有的测试集成电路的方法有很多,其中检测电阻判别法是经常使用的方法,检测电阻判别法就是用万用表电阻挡检测引脚与接地端的电阻值,并与标准值比较,若电阻值不符合要求,则说明集成电路有故障。
公告号CN217931936U的专利文件中公开了一种集成电路的测试装置,公开了包括:操作台,所述操作台的底面靠近四个拐角处均固定连接有支撑柱,且四个支撑柱的一侧外表面固定连接有支撑架,所述操作台的顶面固定连接有若干个支撑杆,若干个所述支撑杆远离操作台的一端固定连接有固定块,所述固定块的顶面固定连接有测试仪,且测试仪的一侧外表面固定设置有两个测试笔,所述操作台的顶面固定设置有存储机构,且存储机构与两个测试笔相适配,所述操作台的顶面固定设置有放置机构,解决了现有集成电路板的底面安装有电子元件,直接放在操作台上测试将会导致集成电路板容易损坏的问。
但是上述专利文件在使用过程中,不便于对集成电路进行充分清洁,进而灰尘颗粒可能会对电路产生负面影响,从而导致降低了集成电路测试准确性,为此我们提出了一种集成电路的测试装置用于解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在测试装置在使用过程中,不便于对集成电路进行充分清洁,进而灰尘颗粒可能会对电路产生负面影响,从而导致降低了集成电路测试准确性的缺点,而提出的一种集成电路的测试装置。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种集成电路的测试装置,包括工作台,所述工作台的顶部固定安装有四个支柱,四个支柱的顶部固定连接有同一个回型支台,工作台上固定安装有清洗箱,清洗箱的两侧均开设有通口,回型支台位于两个通口内,回型支台内滑动安装有滑板,滑板上开设有对称的两个导向孔,两个导向孔内均滑动安装有导向轴,导向轴的两端分别与回型支台的两侧内壁固定连接,滑板的顶部固定安装有固定座,固定座上设置有定位机构,清洗箱内设置有冲洗机构,清洗箱内固定安装有第一滤板,清洗箱的顶部和一侧分别固定安装有过滤箱和烘干箱,烘干箱内设置有烘干机构,过滤箱的外侧开设有滑口,滑口内滑动安装有第二滤板,第二滤板的外侧固定安装有拉把,清洗箱的一侧固定安装有支撑板,支撑板上设置有清灰机构,清洗箱内固定安装有第二支板,回型支台的顶部固定安装有测试箱,测试箱的顶部固定安装有测试仪,测试箱的两侧均开设有矩形口,测试箱内滑动安装有活动板,活动板上固定安装有摄像头、控制器和两个第三气缸,两个第三气缸的输出口均固定连接有测试笔,两个测试笔均与测试仪连接,测试箱的顶部固定安装有第一气缸,第一气缸的输出轴固定连接有连接板,连接板上固定安装有第二气缸,第二气缸的输出轴与活动板的外侧固定连接,所述定位机构包括两个滑块,固定座的顶部开设有对称的两个滑槽,两个滑块分别滑动安装有在两个滑槽内,两个滑块的顶部均固定安装有定位板,固定座的一侧开设有第二通孔,第二通孔与两个滑槽相通,两个滑块上均开设有第二螺纹孔,两个第二螺纹孔内螺纹安装有同一个双向丝杆,双向丝杆的一端固定安装有手轮,所述第二支板上开设有滑孔,滑孔内滑动安装有连接杆,连接杆的一端与水管的外侧固定连接,连接杆的外侧套设有复位弹簧,复位弹簧的两端分别与水管的外侧和第二支板的底部固定连接,所述烘干箱的底部开设有出风口,烘干箱的顶部与过滤箱的一侧固定连通有同一个第一连接管,过滤箱的另一侧固定连通第二连接管,第二连接管的一端固定连通有吸尘罩,所述清灰机构包括两个第二转杆,支撑板上开设有两个第五通孔,两个第二转杆分别转动安装在两个第五通孔内,两个第二转杆的外侧均固定安装有清灰滚刷,所述第一转杆的一端与第二转杆的一端分别固定安装有第一伞齿轮和第二伞齿轮,第一伞齿轮和第二伞齿轮啮合,两个第二转杆的外侧均固定安装有带轮,两个带轮上传动连接有同一个同步带,所述清洗箱的两侧内壁均开设有第四通孔,第四通孔与烘干箱相通,两个第四通孔内转动安装有同一个第一转杆,第一转杆的一端固定安装有蜗轮,蜗轮与蜗杆啮合,第一转杆的外侧固定安装有偏心轮,偏心轮与连接杆相配合,所述烘干机构包括第一支板,第一支板固定安装在烘干箱内,第一支板的顶部固定安装有驱动电机,第一支板上开设有第三通孔,第三通孔内转动安装有蜗杆,蜗杆的外侧固定安装有叶轮,蜗杆的一端与驱动电机的输出轴固定连接,烘干箱内固定安装有多个加热棒,所述冲洗机构包括泵体,泵体的输出口固定连通有软管,泵体固定安装在清洗箱的底部内壁,软管的一端固定连通有水管,水管的外侧固定连通有多个喷头,所述回型支台的一侧固定安装有正反转电机,回型支台的两侧均开设有第一通孔,滑板上开设有第一螺纹孔,第一螺纹孔内螺纹安装有螺杆,螺杆的一端与正反转电机的输出轴固定连接。
本发明中,所述一种集成电路的测试装置的有益效果:
1、本方案当开启驱动电机时,蜗杆带动蜗轮转动,第一转杆带动第一伞齿轮转动,第一伞齿轮带动第二伞齿轮转动,第二转杆带动带轮转动,两个带轮通过同步带传动,进而两个第二转杆分别带动两个清灰滚刷转动,两个清灰滚刷可以对集成电路上的灰尘进行清洁。
2、本方案当开启泵体时,泵体可以将清洗箱内的清洗剂通过软管、水管输送至多个喷头,进而多个喷头可以对集成电路进行冲洗,达到对集成电路进行充分清洁的目的。
3、本方案当蜗杆转动时,蜗杆带动叶轮旋转,叶轮旋转产生的风压可以将多个电加热棒产生的热量排出,进而可以对集成电路进行烘干处理,然后通过测试仪和两个测试笔可以对集成电路进行测试。
本发明能够在使用过程中,便于对集成电路进行充分清洁,进而可以有效避免灰尘颗粒对电路产生负面影响,从而提高了集成电路测试准确性,结构简单,使用方便。
附图说明
图1为本发明提出的一种集成电路的测试装置主视的结构示意图;
图2为本发明提出的一种集成电路的测试装置清洗箱立体的结构示意图;
图3为本发明提出的一种集成电路的测试装置回型支台立体的结构示意图;
图4为本发明提出的一种集成电路的测试装置图1中A部分放大的结构示意图;
图5为本发明提出的一种集成电路的测试装置图1中B部分放大的结构示意图;
图6为本发明提出的一种集成电路的测试装置图1中C部分放大的结构示意图;
图7为本发明提出的一种集成电路的测试装置定位板立体的结构示意图;
图8为本发明提出的一种集成电路的测试装置清灰机构的结构示意图;
图9为本发明提出的一种集成电路的测试装置测试箱俯视的结构示意图。
图中:1、工作台;2、支柱;3、回型支台;4、滑板;5、清洗箱;6、正反转电机;7、螺杆;8、导向轴;9、拉把;10、过滤箱;11、烘干箱;12、第一连接管;13、第二连接管;14、吸尘罩;15、第一支板;16、第一滤板;17、第二滤板;18、泵体;19、软管;20、水管;21、驱动电机;22、蜗杆;23、叶轮;24、加热棒;25、蜗轮;26、第一转杆;27、偏心轮;28、连接杆;29、第二支板;30、复位弹簧;31、固定座;32、滑槽;33、滑块;34、双向丝杆;35、手轮;36、定位板;37、第一伞齿轮;38、第二伞齿轮;39、第二转杆;40、清灰滚刷;41、支撑板;42、带轮;43、同步带;44、测试笔;45、测试仪;46、第一气缸;47、测试箱;48、连接板;49、第二气缸;50、活动板;51、第三气缸;52、摄像头;53、控制器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-图3,一种集成电路的测试装置,包括工作台1,工作台1的顶部固定安装有四个支柱2,四个支柱2的顶部固定连接有同一个回型支台3,工作台1上固定安装有清洗箱5,清洗箱5的两侧均开设有通口,回型支台3位于两个通口内,回型支台3内滑动安装有滑板4,滑板4上开设有对称的两个导向孔,两个导向孔内均滑动安装有导向轴8,导向轴8的两端分别与回型支台3的两侧内壁固定连接,滑板4的顶部固定安装有固定座31,固定座31上设置有定位机构,清洗箱5内设置有冲洗机构,冲洗机构包括泵体18,泵体18的输出口固定连通有软管19,泵体18固定安装在清洗箱5的底部内壁,软管19的一端固定连通有水管20,水管20的外侧固定连通有多个喷头,清洗箱5内固定安装有第一滤板16,清洗箱5的顶部和一侧分别固定安装有过滤箱10和烘干箱11,烘干箱11内设置有烘干机构,过滤箱10的外侧开设有滑口,滑口内滑动安装有第二滤板17,第二滤板17的外侧固定安装有拉把9,清洗箱5的一侧固定安装有支撑板41,支撑板41上设置有清灰机构,清洗箱5内固定安装有第二支板29,烘干箱11的底部开设有出风口,烘干箱11的顶部与过滤箱10的一侧固定连通有同一个第一连接管12,过滤箱10的另一侧固定连通第二连接管13,第二连接管13的一端固定连通有吸尘罩14,回型支台3的一侧固定安装有正反转电机6,回型支台3的两侧均开设有第一通孔,滑板4上开设有第一螺纹孔,第一螺纹孔内螺纹安装有螺杆7,螺杆7的一端与正反转电机6的输出轴固定连接,当开启正反转电机6时,正反转电机6可以带动螺杆7转动,螺杆7可以带动滑板4水平移动。
参照图4,烘干机构包括第一支板15,第一支板15固定安装在烘干箱11内,第一支板15的顶部固定安装有驱动电机21,第一支板15上开设有第三通孔,第三通孔内转动安装有蜗杆22,蜗杆22的外侧固定安装有叶轮23,蜗杆22的一端与驱动电机21的输出轴固定连接,烘干箱11内固定安装有多个加热棒24,清洗箱5的两侧内壁均开设有第四通孔,第四通孔与烘干箱11相通,两个第四通孔内转动安装有同一个第一转杆26,第一转杆26的一端固定安装有蜗轮25,蜗轮25与蜗杆22啮合,第一转杆26的外侧固定安装有偏心轮27,偏心轮27与连接杆28相配合,当第一转杆26转动时,偏心轮27带动连接杆28竖直移动,连接杆28可以带动水管20竖直移动。
参照图5,第二支板29上开设有滑孔,滑孔内滑动安装有连接杆28,连接杆28的一端与水管20的外侧固定连接,连接杆28的外侧套设有复位弹簧30,复位弹簧30的两端分别与水管20的外侧和第二支板29的底部固定连接,当偏心轮27转动至一定位置时,复位弹簧30可以通过形变力带动水管20复位。
参照图6和图7,定位机构包括两个滑块33,固定座31的顶部开设有对称的两个滑槽32,两个滑块33分别滑动安装有在两个滑槽32内,两个滑块33的顶部均固定安装有定位板36,固定座31的一侧开设有第二通孔,第二通孔与两个滑槽32相通,两个滑块33上均开设有第二螺纹孔,两个第二螺纹孔内螺纹安装有同一个双向丝杆34,双向丝杆34的一端固定安装有手轮35,当转动手轮35时,双向丝杆34可以带动两个滑块33水平移动,两个滑块33可以分别带动两个定位板36水平移动。
参照图8,清灰机构包括两个第二转杆39,支撑板41上开设有两个第五通孔,两个第二转杆39分别转动安装在两个第五通孔内,两个第二转杆39的外侧均固定安装有清灰滚刷40,第一转杆26的一端与第二转杆39的一端分别固定安装有第一伞齿轮37和第二伞齿轮38,第一伞齿轮37和第二伞齿轮38啮合,两个第二转杆39的外侧均固定安装有带轮42,两个带轮42上传动连接有同一个同步带43,当第一转杆26转动时,第一伞齿轮37可以带动第二伞齿轮38转动,第二伞齿轮38可以带动第二转杆39转动。
参照图9,回型支台3的顶部固定安装有测试箱47,测试箱47的顶部固定安装有测试仪45,测试箱47的两侧均开设有矩形口,测试箱47内滑动安装有活动板50,活动板50上固定安装有摄像头52、控制器53和两个第三气缸51,两个第三气缸51的输出口均固定连接有测试笔44,两个测试笔44均与测试仪45连接,测试箱47的顶部固定安装有第一气缸46,第一气缸46的输出轴固定连接有连接板48,连接板48上固定安装有第二气缸49,第二气缸49的输出轴与活动板50的外侧固定连接,摄像头52可以对集成电路板的测试位置进行观察,通过控制器53可以发送控制指令至第一气缸46、第二气缸49和两个第三气缸51,第一气缸46、第二气缸49和两个第三气缸51可以对两个测试笔44的位置进行调节。
本实施例中,在使用时,将集成电路板放置在两个定位板36之间,转动手轮35,手轮35带动双向丝杆34转动,双向丝杆34带动两个滑块33相互靠近,两个滑块33分别带动两个定位板36相互靠近,两个定位板36可以对集成电路板进行夹持定位,然后开启正反转电机6,正反转电机6带动螺杆7转动,螺杆7带动滑板4水平移动,滑板4带动固定座31和集成电路板水平移动,然后开启驱动电机21,驱动电机21带动蜗杆22转动,蜗杆22带动蜗轮25转动,蜗轮25带动第一转杆26转动,第一转杆26带动第一伞齿轮37转动,第一伞齿轮37带动第二伞齿轮38转动,第二伞齿轮38带动第二转杆39转动,第二转杆39带动带轮42转动,两个带轮42通过同步带43传动,进而两个第二转杆39分别带动两个清灰滚刷40转动,当集尘电路板经过两个清灰滚刷40之间时,两个清灰滚刷40可以对集尘电路板上的灰尘进行清洁,当集成电路板移动至清洗箱5内时,开启泵体18,泵体18可以将清洗箱5内的清洗剂通过软管19和水管20输送至多个喷头,进而多个喷头可以对集成电路板进行冲洗,同时第一转杆26带动偏心轮27转动,偏心轮27带动连接杆28和水管20竖直向下移动,水管20拉伸复位弹簧30,当偏心轮27转动至一定位置时,复位弹簧30可以通过形变力带动水管20复位,进而水管20带动多个喷头竖直往复运动可以对集尘电路板进行充分冲洗,当集尘电路板冲洗完成并移动至烘干箱11底部时,开启多个电加热棒24,蜗杆22带动叶轮23旋转,叶轮23产生的风压可以将多个电加热棒24产生的热量排出,进而可以对集尘电路板进行烘干处理,同时叶轮23产生的吸力通过第一连接管12、过滤箱10、第二连接管13和吸尘罩14可以对清扫产生的灰尘进行处理,当清洁完成时,通过摄像头52可以对集成电路板的测试位置进行观察,通过控制器53可以发送控制指令至第一气缸46、第二气缸49和两个第三气缸51,第一气缸46带动连接板48竖直移动,连接板48带动第二气缸49、活动板50和两个测试笔44竖直移动,进而可以对两个测试笔44的竖直位置进行调节,两个第三气缸51可以分别对两个测试笔44的水平位置进行调节,然后第二气缸49可以带动活动板50和两个测试笔44水平移动,当两个测试笔44与集成电路板接触时,可以通过测试仪45可以对集成电路板进行测试。
实施例二
本实施例与实施例一的区别在于:滑板4内开设有安装槽,安装槽内固定安装有电机,电机的输出轴与固定座31的底部固定连接,固定座31转动安装在滑板4上,当开启电机时,电机带动固定座31转动,进而可以方便对集成电路板的测试角度进行调节,保证测试效率。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种集成电路的测试装置,包括工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)的顶部固定安装有四个支柱(2),四个支柱(2)的顶部固定连接有同一个回型支台(3),工作台(1)上固定安装有清洗箱(5),清洗箱(5)的两侧均开设有通口,回型支台(3)位于两个通口内,回型支台(3)内滑动安装有滑板(4),滑板(4)上开设有对称的两个导向孔,两个导向孔内均滑动安装有导向轴(8),导向轴(8)的两端分别与回型支台(3)的两侧内壁固定连接,滑板(4)的顶部固定安装有固定座(31),固定座(31)上设置有定位机构,清洗箱(5)内设置有冲洗机构,清洗箱(5)内固定安装有第一滤板(16),清洗箱(5)的顶部和一侧分别固定安装有过滤箱(10)和烘干箱(11),烘干箱(11)内设置有烘干机构,过滤箱(10)的外侧开设有滑口,滑口内滑动安装有第二滤板(17),第二滤板(17)的外侧固定安装有拉把(9),清洗箱(5)的一侧固定安装有支撑板(41),支撑板(41)上设置有清灰机构,清洗箱(5)内固定安装有第二支板(29),回型支台(3)的顶部固定安装有测试箱(47),测试箱(47)的顶部固定安装有测试仪(45),测试箱(47)的两侧均开设有矩形口,测试箱(47)内滑动安装有活动板(50),活动板(50)上固定安装有摄像头(52)、控制器(53)和两个第三气缸(51),两个第三气缸(51)的输出口均固定连接有测试笔(44),两个测试笔(44)均与测试仪(45)连接,测试箱(47)的顶部固定安装有第一气缸(46),第一气缸(46)的输出轴固定连接有连接板(48),连接板(48)上固定安装有第二气缸(49),第二气缸(49)的输出轴与活动板(50)的外侧固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述回型支台(3)的一侧固定安装有正反转电机(6),回型支台(3)的两侧均开设有第一通孔,滑板(4)上开设有第一螺纹孔,第一螺纹孔内螺纹安装有螺杆(7),螺杆(7)的一端与正反转电机(6)的输出轴固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述定位机构包括两个滑块(33),固定座(31)的顶部开设有对称的两个滑槽(32),两个滑块(33)分别滑动安装在两个滑槽(32)内,两个滑块(33)的顶部均固定安装有定位板(36),固定座(31)的一侧开设有第二通孔,第二通孔与两个滑槽(32)相通,两个滑块(33)上均开设有第二螺纹孔,两个第二螺纹孔内螺纹安装有同一个双向丝杆(34),双向丝杆(34)的一端固定安装有手轮(35)。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述冲洗机构包括泵体(18),泵体(18)的输出口固定连通有软管(19),泵体(18)固定安装在清洗箱(5)的底部内壁,软管(19)的一端固定连通有水管(20),水管(20)的外侧固定连通有多个喷头。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述第二支板(29)上开设有滑孔,滑孔内滑动安装有连接杆(28),连接杆(28)的一端与水管(20)的外侧固定连接,连接杆(28)的外侧套设有复位弹簧(30),复位弹簧(30)的两端分别与水管(20)的外侧和第二支板(29)的底部固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述烘干机构包括第一支板(15),第一支板(15)固定安装在烘干箱(11)内,第一支板(15)的顶部固定安装有驱动电机(21),第一支板(15)上开设有第三通孔,第三通孔内转动安装有蜗杆(22),蜗杆(22)的外侧固定安装有叶轮(23),蜗杆(22)的一端与驱动电机(21)的输出轴固定连接,烘干箱(11)内固定安装有多个加热棒(24)。
7.根据权利要求6所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述烘干箱(11)的底部开设有出风口,烘干箱(11)的顶部与过滤箱(10)的一侧固定连通有同一个第一连接管(12),过滤箱(10)的另一侧固定连通第二连接管(13),第二连接管(13)的一端固定连通有吸尘罩(14)。
8.根据权利要求7所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述清洗箱(5)的两侧内壁均开设有第四通孔,第四通孔与烘干箱(11)相通,两个第四通孔内转动安装有同一个第一转杆(26),第一转杆(26)的一端固定安装有蜗轮(25),蜗轮(25)与蜗杆(22)啮合,第一转杆(26)的外侧固定安装有偏心轮(27),偏心轮(27)与连接杆(28)相配合。
9.根据权利要求8所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述清灰机构包括两个第二转杆(39),支撑板(41)上开设有两个第五通孔,两个第二转杆(39)分别转动安装在两个第五通孔内,两个第二转杆(39)的外侧均固定安装有清灰滚刷(40)。
10.根据权利要求9所述的一种集成电路的测试装置,其特征在于,所述第一转杆(26)的一端与第二转杆(39)的一端分别固定安装有第一伞齿轮(37)和第二伞齿轮(38),第一伞齿轮(37)和第二伞齿轮(38)啮合,两个第二转杆(39)的外侧均固定安装有带轮(42),两个带轮(42)上传动连接有同一个同步带(43)。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050024076A1 (en) * 2001-08-13 2005-02-03 Haji-Sheikh Michael J Systems for wafer level burn-in of electronic devices
JP2007109759A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Fujifilm Corp 半導体検査装置及び半導体検査方法
US20120062262A1 (en) * 2010-09-13 2012-03-15 Sang Jun Lee Test Handlers For Semiconductor Packages and Test Methods Using the Same
CN213210354U (zh) * 2020-06-22 2021-05-14 上海荣惠笛信息技术有限公司 一种芯片测试装置
CN112808650A (zh) * 2020-12-21 2021-05-18 崔京 一种用于集成电路测试的集成电路板清洁装置
CN213728014U (zh) * 2020-11-06 2021-07-20 昆山汇先达电子设备有限公司 一种ict测试治具除尘装置
CN113680743A (zh) * 2021-08-20 2021-11-23 张卓莹 一种电子信息用电路测试pcb板表面清洁设备
CN217689088U (zh) * 2022-06-13 2022-10-28 湖南警察学院 一种图像处理模块测试装置
CN115582308A (zh) * 2022-10-28 2023-01-10 山东虹芯电子科技有限公司 一种用于集成电路芯片的自动化清洁设备
CN115598508A (zh) * 2022-10-31 2023-01-13 山东虹芯电子科技有限公司(Cn) 一种集成电路测试连接装置
CN116224029A (zh) * 2023-03-03 2023-06-06 盐城市金铢电子有限公司 一种连续测试的集成电路封装测试装置
CN116243031A (zh) * 2023-04-19 2023-06-09 江苏友润微电子有限公司 一种集成电路测试治具

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050024076A1 (en) * 2001-08-13 2005-02-03 Haji-Sheikh Michael J Systems for wafer level burn-in of electronic devices
JP2007109759A (ja) * 2005-10-12 2007-04-26 Fujifilm Corp 半導体検査装置及び半導体検査方法
US20120062262A1 (en) * 2010-09-13 2012-03-15 Sang Jun Lee Test Handlers For Semiconductor Packages and Test Methods Using the Same
CN213210354U (zh) * 2020-06-22 2021-05-14 上海荣惠笛信息技术有限公司 一种芯片测试装置
CN213728014U (zh) * 2020-11-06 2021-07-20 昆山汇先达电子设备有限公司 一种ict测试治具除尘装置
CN112808650A (zh) * 2020-12-21 2021-05-18 崔京 一种用于集成电路测试的集成电路板清洁装置
CN113680743A (zh) * 2021-08-20 2021-11-23 张卓莹 一种电子信息用电路测试pcb板表面清洁设备
CN217689088U (zh) * 2022-06-13 2022-10-28 湖南警察学院 一种图像处理模块测试装置
CN115582308A (zh) * 2022-10-28 2023-01-10 山东虹芯电子科技有限公司 一种用于集成电路芯片的自动化清洁设备
CN115598508A (zh) * 2022-10-31 2023-01-13 山东虹芯电子科技有限公司(Cn) 一种集成电路测试连接装置
CN116224029A (zh) * 2023-03-03 2023-06-06 盐城市金铢电子有限公司 一种连续测试的集成电路封装测试装置
CN116243031A (zh) * 2023-04-19 2023-06-09 江苏友润微电子有限公司 一种集成电路测试治具

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