CN117316531A - 一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 - Google Patents
一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117316531A CN117316531A CN202311337903.4A CN202311337903A CN117316531A CN 117316531 A CN117316531 A CN 117316531A CN 202311337903 A CN202311337903 A CN 202311337903A CN 117316531 A CN117316531 A CN 117316531A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- conductive layer
- layer
- electromagnetic shielding
- shielding film
- ito
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 69
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 34
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 20
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 11
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 5
- 238000011010 flushing procedure Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 27
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 239000013077 target material Substances 0.000 claims description 9
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 claims description 7
- RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N indium tin Chemical compound [In].[Sn] RHZWSUVWRRXEJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 3
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 claims description 3
- 230000001788 irregular Effects 0.000 claims description 3
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 claims description 2
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 abstract description 6
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract description 3
- 239000011148 porous material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 6
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003723 Smelting Methods 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Substances [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 argon ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 230000000536 complexating effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
- H05K9/0073—Shielding materials
- H05K9/0081—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing conductors or cables
- H01B13/0026—Apparatus for manufacturing conducting or semi-conducting layers, e.g. deposition of metal
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B5/00—Non-insulated conductors or conductive bodies characterised by their form
- H01B5/14—Non-insulated conductors or conductive bodies characterised by their form comprising conductive layers or films on insulating-supports
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
- H05K9/0073—Shielding materials
- H05K9/0081—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding
- H05K9/0086—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding comprising a single discontinuous metallic layer on an electrically insulating supporting structure, e.g. metal grid, perforated metal foil, film, aggregated flakes, sintering
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
本发明公开了一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,该制造方法包括以下步骤:S1:准备基材:采用刚性基材或柔性基材;S2:沉积ITO层;S3:电镀导电层;S4:形成金属网栅:在导电层上涂覆光刻胶,覆盖整个导电层,等待光刻胶干燥,然后将干燥的光刻胶置于紫外线曝光设备中曝光,显影液中溶解未被曝光的部分,用清水冲洗掉剩余的光刻胶,露出被保护的导电层区域,将菲林蚀刻液涂在导电层的未保护区域,蚀刻掉这部分的导电层,形成金属网栅;S5:形成保护层,本发明通过在ITO表面上增加金属网栅层,形成复合结构的电磁屏蔽材料,该结构兼具了金属栅格、ITO的透过率性能,同时可降低开孔导致的电磁泄露的风险。
Description
技术领域
本发明涉及精细线路的技术领域,具体为一种透明电磁屏蔽膜的制备方法。
背景技术
电磁干扰成为了工业、商业、科学及军事等领域的所面临的一个严重问题。对于应用于仪器观察窗、液晶显示屏、屏蔽橱柜和移动交流设备等方面的电磁屏蔽材料,不仅要求对电磁波有着优异的屏蔽作用,还要求具有高的可见光透过率。
实现透明电磁屏蔽最主要的难点在于屏蔽效能与透光率是一对相互制约的关系,对于传统的屏蔽材料或结构要想实现高的屏蔽性能,往往需要牺牲可见光透过率作为代价,而且目前一些研究体系存在屏蔽带宽过窄的问题,不能满足实际应用的需求,当孔缝的最大直径大于电磁波波长的1/20时,透明电磁屏蔽膜上的电磁波就有机会从孔缝中泄露出去。
发明内容
本发明的目的在于提供一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,该制造方法包括以下步骤:
S1:准备基材:采用刚性基材或柔性基材;
S2:沉积ITO层:将金属靶材铟锡合金在基材的一侧上沉积ITO层,厚度20-200nm,以确保整体的高透明度;
S3:电镀导电层:在处理过的ITO层上电镀导电层。
S4:形成金属网栅:在导电层上涂覆光刻胶,覆盖整个导电层,等待光刻胶干燥,然后将干燥的光刻胶置于紫外线曝光设备中曝光,显影液中溶解未被曝光的部分,用清水冲洗掉剩余的光刻胶,露出被保护的导电层区域,将菲林蚀刻液涂在导电层的未保护区域,蚀刻掉这部分的导电层,形成金属网栅。
S5:形成保护层:涂上OSP材料,在产品上形成保护层。
优选的,所述刚性基材包括但不限于玻璃和聚碳酸酯薄膜中的一种,柔性基材包括但不限于PET透明薄膜、铜箔和银墨中的一种。
优选的,所述沉积ITO层采用磁控溅射法,ITO靶材的方阻为3-100Ω。
优选的,所述基材进行等离子体或电晕处理,保证ITO层与基材之间的附着力牢固。
优选的,所述导电层是通过电镀铜形成,导电层的厚度为2-8μm。
优选的,金属网栅通过用黄光刻蚀工艺在铜膜上形成,图案包括但不限于六边形、菱形、方形和不规则图形中的一种。
优选的,所述金属网栅的线宽为5-24μm,金属网栅的间距为100-300μm。
优选的,所述OSP层是通过在铜表面原位生产形成的络合物,防止金属层被氧化。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明通过在ITO表面上增加金属网栅层,形成复合结构的电磁屏蔽材料,该结构兼具了金属栅格、ITO的透过率性能,同时可降低开孔导致的电磁泄露的风险。
附图说明
图1为本发明透明电磁屏蔽膜的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1,本发明提供一种技术方案:一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,该制造方法包括以下步骤:
S1:准备基材:采用刚性基材或柔性基材;
刚性基材包括但不限于玻璃和聚碳酸酯薄膜中的一种,柔性基材包括但不限于PET透明薄膜、铜箔和银墨中的一种,基材的柔韧度可以根据应用需求来选择。
S2:沉积ITO层:将金属靶材铟锡合金在基材的一侧上沉积ITO层,厚度20-200nm,以确保整体的高透明度;
金属靶材铟锡合金在制备时,需要将高纯度锡和铟按照一定比例混合,并进行高温熔炼、浇铸和加工的工序,最终得到具有一定规格和形状的金属靶材铟锡合金靶材。
沉积ITO层采用磁控溅射法,ITO靶材的方阻为3-100Ω,基材进行等离子体或电晕处理,保证ITO层与基材之间的附着力牢固,磁控溅射法是将金属靶材铟锡合金靶材和基材放入溅射室中,保持一定的距离,抽真空,使溅射室内的气压降到很低,利用高能粒子氩离子轰击靶材表面,使靶材表面的ITO材料脱离靶材,沉积在基底表面上,形成一层ITO薄膜,关闭溅射室,然后取出ITO薄膜。
S3:电镀导电层:在处理过的ITO层上电镀导电层。
导电层是通过电镀铜形成,将ITO导电膜放置在镀膜机的基底上,确保膜的表面干净无杂质,将镀液倒入镀膜机中,开启镀膜机,使电流通过镀液和ITO导电膜,使金属离子在ITO导电膜表面沉积形成导电层,在沉积完成后,将ITO导电膜从镀膜机中取出,导电层的厚度为2-8μm。
S4:形成金属网栅:在导电层上涂覆光刻胶,覆盖整个导电层,等待光刻胶干燥,然后将干燥的光刻胶置于紫外线曝光设备中曝光,显影液中溶解未被曝光的部分,用清水冲洗掉剩余的光刻胶,露出被保护的导电层区域,将菲林蚀刻液涂在导电层的未保护区域,蚀刻掉这部分的导电层,形成金属网栅。
由于蚀刻药水只对铜有蚀刻效果,ITO层裸露在空气中,金属网栅通过用黄光刻蚀工艺在铜膜上形成,图案包括但不限于六边形、菱形、方形和不规则图形中的一种,金属网栅的线宽为5-24μm,金属网栅的间距为100-300μm,可以根据屏蔽膜的应用需求调整厚度。
S5:形成保护层:涂上OSP材料,在产品上形成保护层。
OSP层是通过在铜表面原位生产形成的络合物,当这种络合物在铜表面沉积时,能在较短的时间内形成较厚的保护层,起到络合促进剂的作用,防止金属层被氧化。
总之,采用刚性基材或柔性基材,将金属靶材铟锡合金在基材的一侧上沉积ITO层,在处理过的ITO层上电镀导电层,在导电层上涂覆光刻胶,覆盖整个导电层,等待光刻胶干燥,然后将干燥的光刻胶置于紫外线曝光设备中曝光,显影液中溶解未被曝光的部分,用清水冲洗掉剩余的光刻胶,露出被保护的导电层区域,将菲林蚀刻液涂在导电层的未保护区域,蚀刻掉这部分的导电层,形成金属网栅,涂上OSP材料,在产品上形成保护层,如此通过在ITO表面上增加金属网栅层,形成复合结构的电磁屏蔽材料,该结构兼具了金属栅格、ITO的透过率性能,同时可降低开孔导致的电磁泄露的风险。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:该制造方法包括以下步骤:
S1:准备基材:采用刚性基材或柔性基材;
S2:沉积ITO层:将金属靶材铟锡合金在基材的一侧上沉积ITO层,厚度20-200nm,以确保整体的高透明度;
S3:电镀导电层:在处理过的ITO层上电镀导电层。
S4:形成金属网栅:在导电层上涂覆光刻胶,覆盖整个导电层,等待光刻胶干燥,然后将干燥的光刻胶置于紫外线曝光设备中曝光,显影液中溶解未被曝光的部分,用清水冲洗掉剩余的光刻胶,露出被保护的导电层区域,将菲林蚀刻液涂在导电层的未保护区域,蚀刻掉这部分的导电层,形成金属网栅。
S5:形成保护层:涂上OSP材料,在产品上形成保护层。
2.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述刚性基材包括但不限于玻璃和聚碳酸酯薄膜中的一种,柔性基材包括但不限于PET透明薄膜、铜箔和银墨中的一种。
3.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述沉积ITO层采用磁控溅射法,ITO靶材的方阻为3-100Ω。
4.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述基材进行等离子体或电晕处理,保证ITO层与基材之间的附着力牢固。
5.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述导电层是通过电镀铜形成,导电层的厚度为2-8μm。
6.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述金属网栅通过用黄光刻蚀工艺在铜膜上形成,图案包括但不限于六边形、菱形、方形和不规则图形中的一种。
7.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述金属网栅的线宽为5-24μm,金属网栅的间距为100-300μm。
8.根据权利要求1所述的一种透明电磁屏蔽膜的制备方法,其特征在于:所述OSP层是通过在铜表面原位生产形成的络合物,防止金属层被氧化。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311337903.4A CN117316531A (zh) | 2023-10-17 | 2023-10-17 | 一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311337903.4A CN117316531A (zh) | 2023-10-17 | 2023-10-17 | 一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117316531A true CN117316531A (zh) | 2023-12-29 |
Family
ID=89260162
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311337903.4A Pending CN117316531A (zh) | 2023-10-17 | 2023-10-17 | 一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN117316531A (zh) |
-
2023
- 2023-10-17 CN CN202311337903.4A patent/CN117316531A/zh active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210227729A1 (en) | Manufacturing method for electromagnetic shielding film and electromagnetic shielding window | |
CN107210092B (zh) | 带导电层的基板、触摸面板用带透明电极的基板及它们的制造方法 | |
WO2007137486A1 (fr) | Film à protection électromagnétique et procédé de fabrication | |
WO2018030712A1 (ko) | 포토레지스트 음각패턴 및 표면개질을 이용한 금속메쉬 타입 투명 전도막 제조방법 및 이에 의해 제조되는 투명 전도막 | |
CN104822249B (zh) | 一种电磁屏蔽光学窗的制作方法 | |
CN106229080B (zh) | 用于柔性电子器件的低阻值透明导电网络膜及其制备方法 | |
US6713161B1 (en) | Light-transmitting electromagnetic shielding material and method for manufacturing the same | |
TWI711950B (zh) | 觸控面板感測器 | |
WO2015182881A1 (ko) | 직접 도금에 의한 도전성 박막소재 및 이의 제조방법 | |
KR20120085042A (ko) | 박막증착용 쉐도우마스크 제조 방법 | |
JP2008227352A (ja) | 電磁波遮蔽シート、その製造方法、及びプラズマディスプレイパネル用フィルター | |
KR101160731B1 (ko) | 전자기파 차폐 필름 및 그 제조방법 | |
JP2979021B2 (ja) | 透視性電磁波シールド材料とその製造方法 | |
CN102280407B (zh) | 元器件侧壁图形化的制作方法 | |
JP2012123454A (ja) | 静電容量式タッチパネル用の透明導電フィルム | |
CN117316531A (zh) | 一种透明电磁屏蔽膜的制备方法 | |
JP2004040033A (ja) | 透光性電磁波シールド材及びその製造方法 | |
CN115151120A (zh) | 一种透明自支撑电磁屏蔽薄膜及其制备方法 | |
TWI669211B (zh) | 片材、金屬網格、及其等之製造方法 | |
US9801284B2 (en) | Method of manufacturing a patterned conductor | |
CN108449927B (zh) | 一种金属薄膜及其制作方法 | |
CN109440029B (zh) | 一种极薄铜网的制备方法 | |
CN206505255U (zh) | 防静电掩膜版原材及防静电掩膜版 | |
JP2001156490A (ja) | 透光性電磁波シールド材料とその製造方法 | |
JPH1056290A (ja) | 透光性電磁波シールド材料とその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination |