CN117288435A - 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法 - Google Patents

一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法 Download PDF

Info

Publication number
CN117288435A
CN117288435A CN202311246653.3A CN202311246653A CN117288435A CN 117288435 A CN117288435 A CN 117288435A CN 202311246653 A CN202311246653 A CN 202311246653A CN 117288435 A CN117288435 A CN 117288435A
Authority
CN
China
Prior art keywords
crystal
driving
crystals
testing device
rotating wheel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202311246653.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN117288435B (zh
Inventor
吕明
江勇
贾晓航
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hangzhou Aijinglun Technology Co ltd
Original Assignee
Hangzhou Aijinglun Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hangzhou Aijinglun Technology Co ltd filed Critical Hangzhou Aijinglun Technology Co ltd
Priority to CN202311246653.3A priority Critical patent/CN117288435B/zh
Publication of CN117288435A publication Critical patent/CN117288435A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN117288435B publication Critical patent/CN117288435B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本发明提供一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,该人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,设置在密闭室内,所述密闭室的顶部内壁上设置有多个照明灯。包括环道底盘、光线发射机构、CCD传感测试机构、中央支撑座、伸缩座和工作平台。该人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,通过设置的环道底盘、光线发射机构、CCD传感测试机构、中央支撑座、伸缩座、工作平台、自动拆卸机构和传输机构相互配合。使得本发明具有将多个晶体安装固定并连续检测,中途可以自动拆卸掉以检测完毕的晶体,方便人员下次安装。大大提高人员的检测速度,同时也不需要对光源和传感装置频繁进行开合。间接延长了本设备的使用寿命。

Description

一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法
技术领域
本发明涉及人工晶状体检测设备领域,具体为一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法。
背景技术
在对人工晶状体进行眩光模拟测试时,由于该晶体体积小、材质脆弱,因此主体不能受到接触和阻挡,所以人员不得不在检测过程中,将晶体两侧的支撑件固定住,这种检测一次检测一个,当对下一个类型的晶体进行检测时,人员需要重复拆卸和安装的工作步骤,因此用于照射的光源和传感器也会随着人员的安装和拆卸进行开关。大大影响到了整个检测设备的使用寿命。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法。
(二)技术方案
为实现以上目的,本发明通过以下技术方案予以实现:一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,设置在密闭室内,所述密闭室的顶部内壁上设置有多个照明灯。包括环道底盘、光线发射机构、CCD传感测试机构、中央支撑座、伸缩座和工作平台。所述光线发射机构和CCD传感测试机构滑动配合在环道底盘的外侧。所述伸缩座设置在环道底盘的中央处,所述中央支撑座枢接在伸缩座的活动端上。所述工作平台设置在中央支撑座上,所述工作平台上设置有多个晶体。所述晶体的两侧设置有用于支撑的支撑元件。还包括自动拆卸机构和传输机构。所述环道底盘上开设有环形滑槽,所述自动拆卸机构和传输机构均滑动配合在环道底盘上。
所述光线发射机构上设置有发光源。所述CCD传感测试机构上设置有接收传感器和显示器,所述发光源与接收传感器相对应。所述显示器与接收传感器电性连接。
所述传输机构包括两个驱动组件和驱动滑块。两个驱动滑块滑动配合在环形滑槽上,所述驱动组件竖直设置在驱动滑块上。
所述驱动组件包括自移动支架和驱动转轮。所述自移动支架沿着环道底盘径向滑动配合在驱动滑块上,所述驱动转轮枢接在自移动支架的顶端。
所述驱动组件还包括多个传输机构,多个传输机构相互铰接。多个传输机构与多个晶体一一对应,所述晶体上的支撑元件与移动支架可拆卸式卡接。多个传输机构设置在两个驱动转轮之间。
位于工作平台中央处的所述晶体、发光源和接收传感器三者的位置处于同一直线上。
所述传输机构包括移动支架、缓冲垫片和两个铰接链。所述缓冲垫片设置在移动支架的底部,所述移动支架的两侧均开设有上宽下窄状的开槽。所述支撑元件可拆卸式卡接在开槽内,两个铰接链分别铰接在移动支架的两侧。
还包括限位滑槽座、两个电动伸缩杆和推动板。所述限位滑槽座设置在工作平台上,所述传输机构滑动配合在限位滑槽座内。所述限位滑槽座两侧开设有开口,所述电动伸缩杆以传输机构为中心对称设置在工作平台上。所述推动板设置在电动伸缩杆的活动端上,所述推动板与位于开口内的传输机构相接触。
所述自动拆卸机构设置在驱动滑块上。所述自动拆卸机构包括壳体、缓冲液、水帘喷头和接触组件。所述壳体设置在驱动滑块上,所述接触组件设置在壳体上,所述接触组件与驱动转轮上的传输机构相对应。所述水帘喷头设置在壳体的顶部内壁上,所述接触组件与水帘喷头相对应。所述壳体内设置有缓冲液。
所述接触组件包括自转动转轮、接触杆一和接触杆二。所述自转动转轮枢接在壳体上,所述自转动转轮的曲面与驱动转轮上的晶体相对应。所述接触杆一和接触杆二分别设置在自转动转轮的两侧。所述接触杆一和接触杆二分别与移动支架内的两个支撑元件靠近缓冲垫片的表面相接触。
一种人工晶状体眩光测试装置的使用方法,它包括以下步骤:
步骤一:首先将晶体两侧的支撑元件卡在一侧驱动转轮上的移动支架的开槽内,重复多次将多个晶体安装完毕后。转动驱动转轮将该多个晶体先移动到中央支撑座内的位置,让出工作平台上的空间。同时对光线发射机构和CCD传感测试机构的状态进行自主检修。
步骤二:当检修完毕后,控制驱动转轮转动,使得晶体移动到工作平台上的限位滑槽座中。同时将待检测的晶体、发光源与接收传感器成同一条直线上。
步骤三:由于晶体都是在缓冲液中存放。当该晶体内有残余缓冲液,控制电动伸缩杆使得位于两侧的推动板来回挤压承装晶体的缓冲垫片。将晶体内的残液甩出。
步骤四:同时还可以控制多个传输机构的横向晃动幅度的大小,当需要大幅度时。控制两个自移动支架相互靠近,使得有多个传输机构组成的链带呈松弛状。让电动伸缩杆可推动距离更长,起到控制晃动幅度大小的目的。
步骤五:接着发光源和接收传感器工作。将检测数据送入CCD传感测试机构中,接着检测晶体在收到不同角度射入的光线时的状态数据。控制光线发射机构和CCD传感测试机构沿着环道底盘移动。在保证三者一条直线的前提下,接收传感器收集各种数据。
步骤六:重复上述操作,使得多个晶体在光线发射机构和CCD传感测试机构不关机的情况下连续检测。
步骤七:当已检测完成的晶体移动到另一侧驱动转轮上时,此时水帘喷头工作。使得壳体的一侧内壁上形成水帘。
步骤八:接着控制自转动转轮转动,带动接触杆一和接触杆二旋转。让接触杆一和接触杆二转动到移动支架与晶体之间的空间内。接着接触杆一和接触杆二对晶体两侧的支撑元件的内侧进行挤压,迫使晶体从移动支架内挤出。并飞到水帘上后随着水流进入缓冲液中,完成晶体的自动拆卸。
(三)有益效果
本发明提供了一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法。具备以下有益效果:
1、该人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,通过设置的环道底盘、光线发射机构、CCD传感测试机构、中央支撑座、伸缩座、工作平台、自动拆卸机构和传输机构相互配合。使得本发明具有将多个晶体安装固定并连续检测,中途可以自动拆卸掉以检测完毕的晶体,方便人员下次安装。大大提高人员的检测速度,同时也不需要对光源和传感装置频繁进行开合。间接延长了本设备的使用寿命。
附图说明
图1为本发明第一立体图;
图2为本发明第二立体图;
图3为本发明正面剖视图;
图4为本发明第三立体图;
图5为本发明第四立体图;
图6为本发明图5中A处放大图;
图7为本发明第五立体图;
图8为本发明图7中B处放大图。
图中:1密闭室、2照明灯、3光线发射机构、4环道底盘、5CCD传感测试机构、6发光源、7显示器、8接收传感器、9工作平台、10环形滑槽、11伸缩座、12中央支撑座、13传输机构、14自动拆卸机构、15电动伸缩杆、16推动板、17限位滑槽座、18接触组件、19壳体、20水帘喷头、21缓冲液、22驱动滑块、23自移动支架、24驱动转轮、25驱动组件、26晶体、27支撑元件、28开槽、29移动支架、30缓冲垫片、31铰接链、32接触杆一、33自转动转轮、34接触杆二。
具体实施方式
本发明实施例提供一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,如图1-8所示,设置在密闭室1内,密闭室1的顶部内壁上设置有多个照明灯2。包括环道底盘4、光线发射机构3、CCD传感测试机构5、中央支撑座12、伸缩座11和工作平台9。光线发射机构3和CCD传感测试机构5滑动配合在环道底盘4的外侧。伸缩座11设置在环道底盘4的中央处,中央支撑座12枢接在伸缩座11的活动端上。工作平台9设置在中央支撑座12上,工作平台9上设置有多个晶体26。晶体26的两侧设置有用于支撑的支撑元件27。还包括自动拆卸机构14和传输机构13。环道底盘4上开设有环形滑槽10,自动拆卸机构14和传输机构13均滑动配合在环道底盘4上。
光线发射机构3上设置有发光源6。CCD传感测试机构5上设置有接收传感器8和显示器7,发光源6与接收传感器8相对应。显示器7与接收传感器8电性连接。
传输机构13包括两个驱动组件25和驱动滑块22。两个驱动滑块22滑动配合在环形滑槽10上,驱动组件25竖直设置在驱动滑块22上。
驱动组件25包括自移动支架23和驱动转轮24。自移动支架23沿着环道底盘4径向滑动配合在驱动滑块22上,驱动转轮24枢接在自移动支架23的顶端。
驱动组件25还包括多个传输机构13,多个传输机构13相互铰接。多个传输机构13与多个晶体26一一对应,晶体26上的支撑元件27与移动支架29可拆卸式卡接。多个传输机构13设置在两个驱动转轮24之间。
位于工作平台9中央处的晶体26、发光源6和接收传感器8三者的位置处于同一直线上。
传输机构13包括移动支架29、缓冲垫片30和两个铰接链31。缓冲垫片30设置在移动支架29的底部,移动支架29的两侧均开设有上宽下窄状的开槽28。支撑元件27可拆卸式卡接在开槽28内,两个铰接链31分别铰接在移动支架29的两侧。
还包括限位滑槽座17、两个电动伸缩杆15和推动板16。限位滑槽座17设置在工作平台9上,传输机构13滑动配合在限位滑槽座17内。限位滑槽座17两侧开设有开口,电动伸缩杆15以传输机构13为中心对称设置在工作平台9上。推动板16设置在电动伸缩杆15的活动端上,推动板16与位于开口内的传输机构13相接触。
自动拆卸机构14设置在驱动滑块22上。自动拆卸机构14包括壳体19、缓冲液21、水帘喷头20和接触组件18。壳体19设置在驱动滑块22上,接触组件18设置在壳体19上,接触组件18与驱动转轮24上的传输机构13相对应。水帘喷头20设置在壳体19的顶部内壁上,接触组件18与水帘喷头20相对应。壳体19内设置有缓冲液21。
接触组件18包括自转动转轮33、接触杆一32和接触杆二34。自转动转轮33枢接在壳体19上,自转动转轮33的曲面与驱动转轮24上的晶体26相对应。接触杆一32和接触杆二34分别设置在自转动转轮33的两侧。接触杆一32和接触杆二34分别与移动支架29内的两个支撑元件27靠近缓冲垫片30的表面相接触。
一种人工晶状体眩光测试装置的使用方法,它包括以下步骤:
步骤一:首先将晶体26两侧的支撑元件27卡在一侧驱动转轮24上的移动支架29的开槽28内,重复多次将多个晶体26安装完毕后。转动驱动转轮24将该多个晶体26先移动到中央支撑座12内的位置,让出工作平台9上的空间。同时对光线发射机构3和CCD传感测试机构5的状态进行自主检修。
步骤二:当检修完毕后,控制驱动转轮24转动,使得晶体26移动到工作平台9上的限位滑槽座17中。同时将待检测的晶体26、发光源6与接收传感器8成同一条直线上。
步骤三:由于晶体26都是在缓冲液中存放。当该晶体26内有残余缓冲液,控制电动伸缩杆15使得位于两侧的推动板16来回挤压承装晶体26的缓冲垫片30。将晶体26内的残液甩出而人员安装晶体26时,其晶体26材质柔软,因此人员也不会对晶体26内表面进行擦拭,一旦该晶体26内有残余缓冲液,人员只能利用气流或者自身重力将其从晶体26中甩出。
步骤四:同时还可以控制多个传输机构13的横向晃动幅度的大小,当需要大幅度时。控制两个自移动支架23相互靠近,使得有多个传输机构13组成的链带呈松弛状。让电动伸缩杆15可推动距离更长,起到控制晃动幅度大小的目的;
步骤五:接着发光源6和接收传感器8工作。将检测数据送入CCD传感测试机构5中,接着检测晶体26在收到不同角度射入的光线时的状态数据。控制光线发射机构3和CCD传感测试机构5沿着环道底盘4移动。在保证三者一条直线的前提下,接收传感器8收集各种数据。
步骤六:重复上述操作,使得多个晶体26在光线发射机构3和CCD传感测试机构5不关机的情况下连续检测。
步骤七:当已检测完成的晶体26移动到另一侧驱动转轮24上时,此时水帘喷头20工作。使得壳体19的一侧内壁上形成水帘。
步骤八:接着控制自转动转轮33转动,带动接触杆一32和接触杆二34旋转。让接触杆一32和接触杆二34转动到移动支架29与晶体26之间的空间内。接着接触杆一32和接触杆二34对晶体26两侧的支撑元件27的内侧进行挤压,迫使晶体26从移动支架29内挤出。并飞到水帘上后随着水流进入缓冲液21中,完成晶体26的自动拆卸。
由于晶体26是被接触杆一32和接触杆二34挤飞的,因此脱离后会带有一定的横向初始速度。而直接将晶体26撞到壳体19内壁在掉落到缓冲液21的过程中,很容易对晶体26内外面造成损伤,因此设置的水帘可以有效保护晶体26和起到缓冲作用。而且水流的带动还可以对晶体26表面起到冲刷作用,有效清理在进行检测过程中,由于晶体26长期与空气接触所沾染到的杂质。
综上所述,该人工晶状体眩光测试装置及其使用方法,通过设置的环道底盘4、光线发射机构3、CCD传感测试机构5、中央支撑座12、伸缩座11、工作平台9、自动拆卸机构14和传输机构13相互配合。使得本发明具有将多个晶体安装固定并连续检测,中途可以自动拆卸掉以检测完毕的晶体,方便人员下次安装。大大提高人员的检测速度,同时也不需要对光源和传感装置频繁进行开合。间接延长了本设备的使用寿命。

Claims (11)

1.一种人工晶状体眩光测试装置,设置在密闭室(1)内,所述密闭室(1)的顶部内壁上设置有多个照明灯(2),其特征在于:包括环道底盘(4)、光线发射机构(3)、CCD传感测试机构(5)、中央支撑座(12)、伸缩座(11)和工作平台(9),所述光线发射机构(3)和CCD传感测试机构(5)滑动配合在环道底盘(4)的外侧,所述伸缩座(11)设置在环道底盘(4)的中央处,所述中央支撑座(12)枢接在伸缩座(11)的活动端上,所述工作平台(9)设置在中央支撑座(12)上,所述工作平台(9)上设置有多个晶体(26),所述晶体(26)的两侧设置有用于支撑的支撑元件(27),还包括自动拆卸机构(14)和传输机构(13),所述环道底盘(4)上开设有环形滑槽(10),所述自动拆卸机构(14)和传输机构(13)均滑动配合在环道底盘(4)上。
2.根据权利要求1所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述光线发射机构(3)上设置有发光源(6),所述CCD传感测试机构(5)上设置有接收传感器(8)和显示器(7),所述发光源(6)与接收传感器(8)相对应,所述显示器(7)与接收传感器(8)电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述传输机构(13)包括两个驱动组件(25)和驱动滑块(22),两个驱动滑块(22)滑动配合在环形滑槽(10)上,所述驱动组件(25)竖直设置在驱动滑块(22)上。
4.根据权利要求3所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述驱动组件(25)包括自移动支架(23)和驱动转轮(24),所述自移动支架(23)沿着环道底盘(4)径向滑动配合在驱动滑块(22)上,所述驱动转轮(24)枢接在自移动支架(23)的顶端。
5.根据权利要求4所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述驱动组件(25)还包括多个传输机构(13),多个传输机构(13)相互铰接,多个传输机构(13)与多个晶体(26)一一对应,所述晶体(26)上的支撑元件(27)与移动支架(29)可拆卸式卡接,多个传输机构(13)设置在两个驱动转轮(24)之间。
6.根据权利要求5所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:位于工作平台(9)中央处的所述晶体(26)、发光源(6)和接收传感器(8)三者的位置处于同一直线上。
7.根据权利要求6所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述传输机构(13)包括移动支架(29)、缓冲垫片(30)和两个铰接链(31),所述缓冲垫片(30)设置在移动支架(29)的底部,所述移动支架(29)的两侧均开设有上宽下窄状的开槽(28),所述支撑元件(27)可拆卸式卡接在开槽(28)内,两个铰接链(31)分别铰接在移动支架(29)的两侧。
8.根据权利要求7所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:还包括限位滑槽座(17)、两个电动伸缩杆(15)和推动板(16),所述限位滑槽座(17)设置在工作平台(9)上,所述传输机构(13)滑动配合在限位滑槽座(17)内,所述限位滑槽座(17)两侧开设有开口,所述电动伸缩杆(15)以传输机构(13)为中心对称设置在工作平台(9)上,所述推动板(16)设置在电动伸缩杆(15)的活动端上,所述推动板(16)与位于开口内的传输机构(13)相接触。
9.根据权利要求8所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述自动拆卸机构(14)设置在驱动滑块(22)上,所述自动拆卸机构(14)包括壳体(19)、缓冲液(21)、水帘喷头(20)和接触组件(18),所述壳体(19)设置在驱动滑块(22)上,所述接触组件(18)设置在壳体(19)上,所述接触组件(18)与驱动转轮(24)上的传输机构(13)相对应,所述水帘喷头(20)设置在壳体(19)的顶部内壁上,所述接触组件(18)与水帘喷头(20)相对应,所述壳体(19)内设置有缓冲液(21)。
10.根据权利要求9所述的一种人工晶状体眩光测试装置,其特征在于:所述接触组件(18)包括自转动转轮(33)、接触杆一(32)和接触杆二(34),所述自转动转轮(33)枢接在壳体(19)上,所述自转动转轮(33)的曲面与驱动转轮(24)上的晶体(26)相对应,所述接触杆一(32)和接触杆二(34)分别设置在自转动转轮(33)的两侧,所述接触杆一(32)和接触杆二(34)分别与移动支架(29)内的两个支撑元件(27)靠近缓冲垫片(30)的表面相接触。
11.根据权利要求10所述的一种人工晶状体眩光测试装置的使用方法,其特征在于:它包括以下步骤:
步骤一:首先将晶体(26)两侧的支撑元件(27)卡在一侧驱动转轮(24)上的移动支架(29)的开槽(28)内,重复多次将多个晶体(26)安装完毕后,转动驱动转轮(24)将该多个晶体(26)先移动到中央支撑座(12)内的位置,让出工作平台(9)上的空间,同时对光线发射机构(3)和CCD传感测试机构(5)的状态进行自主检修;
步骤二:当检修完毕后,控制驱动转轮(24)转动,使得晶体(26)移动到工作平台(9)上的限位滑槽座(17)中,同时将待检测的晶体(26)、发光源(6)与接收传感器(8)成同一条直线上;
步骤三:由于晶体(26)都是在缓冲液中存放,当该晶体(26)内有残余缓冲液,控制电动伸缩杆(15)使得位于两侧的推动板(16)来回挤压承装晶体(26)的缓冲垫片(30),将晶体(26)内的残液甩出;
步骤四:同时还可以控制多个传输机构(13)的横向晃动幅度的大小,当需要大幅度时,控制两个自移动支架(23)相互靠近,使得有多个传输机构(13)组成的链带呈松弛状,让电动伸缩杆(15)可推动距离更长,起到控制晃动幅度大小的目的;
步骤五:接着发光源(6)和接收传感器(8)工作,将检测数据送入CCD传感测试机构(5)中,接着检测晶体(26)在收到不同角度射入的光线时的状态数据,控制光线发射机构(3)和CCD传感测试机构(5)沿着环道底盘(4)移动,在保证三者一条直线的前提下,接收传感器(8)收集各种数据;
步骤六:重复上述操作,使得多个晶体(26)在光线发射机构(3)和CCD传感测试机构(5)不关机的情况下连续检测;
步骤七:当已检测完成的晶体(26)移动到另一侧驱动转轮(24)上时,此时水帘喷头(20)工作,使得壳体(19)的一侧内壁上形成水帘;
步骤八:接着控制自转动转轮(33)转动,带动接触杆一(32)和接触杆二(34)旋转,让接触杆一(32)和接触杆二(34)转动到移动支架(29)与晶体(26)之间的空间内,接着接触杆一(32)和接触杆二(34)对晶体(26)两侧的支撑元件(27)的内侧进行挤压,迫使晶体(26)从移动支架(29)内挤出,并飞到水帘上后随着水流进入缓冲液(21)中,完成晶体(26)的自动拆卸。
CN202311246653.3A 2023-09-26 2023-09-26 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法 Active CN117288435B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311246653.3A CN117288435B (zh) 2023-09-26 2023-09-26 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311246653.3A CN117288435B (zh) 2023-09-26 2023-09-26 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN117288435A true CN117288435A (zh) 2023-12-26
CN117288435B CN117288435B (zh) 2024-08-09

Family

ID=89258203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311246653.3A Active CN117288435B (zh) 2023-09-26 2023-09-26 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN117288435B (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0433013A2 (en) * 1989-12-15 1991-06-19 Sony Corporation Methods of inputting three-dimensional configuration data
JP2013228264A (ja) * 2012-04-25 2013-11-07 Toray Eng Co Ltd 突出部高さ測定装置
CN109405748A (zh) * 2018-11-07 2019-03-01 天津中环领先材料技术有限公司 一种晶体自动检验设备及方法
CN209181725U (zh) * 2018-11-07 2019-07-30 天津中环领先材料技术有限公司 一种晶体自动检验设备
CN209512910U (zh) * 2018-11-14 2019-10-18 内蒙古中环领先半导体材料有限公司 一种晶体自动检验设备
CN217404344U (zh) * 2022-02-15 2022-09-09 埃能洁(嘉兴)新材料有限公司 一种半导体生产用晶棒性能连续测试架

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0433013A2 (en) * 1989-12-15 1991-06-19 Sony Corporation Methods of inputting three-dimensional configuration data
JP2013228264A (ja) * 2012-04-25 2013-11-07 Toray Eng Co Ltd 突出部高さ測定装置
CN109405748A (zh) * 2018-11-07 2019-03-01 天津中环领先材料技术有限公司 一种晶体自动检验设备及方法
CN209181725U (zh) * 2018-11-07 2019-07-30 天津中环领先材料技术有限公司 一种晶体自动检验设备
CN209512910U (zh) * 2018-11-14 2019-10-18 内蒙古中环领先半导体材料有限公司 一种晶体自动检验设备
CN217404344U (zh) * 2022-02-15 2022-09-09 埃能洁(嘉兴)新材料有限公司 一种半导体生产用晶棒性能连续测试架

Also Published As

Publication number Publication date
CN117288435B (zh) 2024-08-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN113714143B (zh) 一种基于ccd视觉的整流子尺寸和外观缺陷检测设备
JP2991697B1 (ja) ウェーハ検査装置
CN117288435B (zh) 一种人工晶状体眩光测试装置及其使用方法
CN218554832U (zh) 一种光学掩模版基板缺陷检验系统
CN104122475A (zh) 电烤箱老化测试线
CN116519714B (zh) 一种金属表面缺陷检测装置
CN110640422A (zh) 一种液压缸的拆卸珩磨装置
CN111596223A (zh) 一种照明灯具检测装置
CN111851036A (zh) 一种可控水平度的纺织面料验布设备及验布方法
CN116037407A (zh) 一种针灸针缺陷检测镀膜机
CN114324400A (zh) 一种压纹版辊表面缺陷检测装置
CN210863572U (zh) 直裁材料表面瑕疵检测系统
CN215142317U (zh) 玻璃条纹缺陷的在线检测装置和在线检测系统
CN110410719A (zh) 一种用于隧道交通的便于调节的照明装置
CN115663675A (zh) 一种电缆管廊的电缆检修装置
CN114651749A (zh) 具有筛选功能的受精蛋检测装置及其专用自动传输机构
CN114642183A (zh) 一种具有筛选功能的受精蛋检测装置
CN213111145U (zh) 一种染色材料的传送装置
CN214077923U (zh) 一种ccd智能筛选设备
CN109786292B (zh) 发光二极管芯片的清洗装置
CN112255236A (zh) 一种全智能条形光源外观检测设备
CN209198333U (zh) 一种珠宝检测专用操作台
CN218767679U (zh) 小型液晶模块最终画面检测自动检测系统
CN215701631U (zh) 一种用于通用车辆底盘修理的辅助装置
CN114683237B (zh) 一种基于目标识别的工业机器人巡检平台

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant