CN116609712A - 磁传感器 - Google Patents
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0017—Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0011—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables comprising means, e.g. flux concentrators, flux guides, for guiding or concentrating the magnetic flux, e.g. to the magnetic sensor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/093—Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/09—Magnetoresistive devices
- G01R33/095—Magnetoresistive devices extraordinary magnetoresistance sensors
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Abstract
本发明的技术问题在于,提供一种提高抵消磁场的产生效率的磁传感器。本发明的磁传感器(1)包括:隔着磁隙(G2)相对的磁性体层(M1、M2)、配置于由磁隙(G2)形成的磁路上的磁敏元件(R)、和卷绕于磁性体层(M1、M2)的补偿线圈(120),磁性体层(M1、M2)、磁敏元件(R)和补偿线圈(120)集成于传感器芯片(100)。这样,由于补偿线圈(120)卷绕于磁性体层(M1、M2),因此,抵消磁场的产生效率提高。由此,需要流过补偿线圈(120)的电流量减少,因此,不仅能够减少消耗电力,还能够减少磁敏元件(R)的热噪声。
Description
技术领域
本发明涉及磁传感器,尤其涉及包括抵消检测对象磁场的补偿线圈的磁传感器。
背景技术
在专利文献1中,公开了一种包括抵消检测对象磁场的补偿线圈的磁传感器。在专利文献1所记载的磁传感器中,以补偿线圈沿着磁敏元件环绕的方式,在与磁敏元件重叠的位置配置有补偿线圈。
现有技术文献
专利文献
[专利文献1]日本特开2018-179738号公报
发明内容
发明要解决的课题
然而,专利文献1所记载的补偿线圈的抵消磁场的产生效率低,因此,为了产生充分的抵消磁场,需要在补偿线圈中流过大电流。其结果是,存在不仅消耗电力增大,而且因补偿线圈的发热而导致磁敏元件的热噪声增大的问题。
因此,本发明的目的在于,提供一种提高抵消磁场的产生效率的磁传感器。
用于解决课题的方法
本发明的磁传感器的特征在于,包括:隔着磁隙相对的第1和第2磁性体层;配置于由磁隙形成的磁路上的磁敏元件;和卷绕于第1和第2磁性体层的补偿线圈,第1磁性体层、第2磁性体层、磁敏元件和补偿线圈集成于传感器芯片。
根据本发明,由于集成于传感器芯片的补偿线圈卷绕于磁性体层,因此,抵消磁场的产生效率提高。由此,需要流过补偿线圈的电流量减少,因此,不仅能够减少消耗电力,还能够减少磁敏元件的热噪声。
在本发明中,也可以是,传感器芯片具有依次层叠的第1层、第2层、第3层和第4层,补偿线圈包括:形成于第1层的多个下层图案、和形成于第4层的多个上层图案,磁敏元件形成于第2层,第1磁性体层和第2磁性体层形成于第3层。由此,能够提高抵消磁场的产生效率,并且能够高效地对磁敏元件施加检测对象磁场。
在本发明中,也可以是,连接下层图案和上层图案的多个通孔导体中的、在与磁隙的延伸方向正交的方向上邻接的2个通孔导体,在磁隙的延伸方向上的位置不同。由此,邻接的通孔导体间的距离扩大,因此,设计和制造变得容易。
在本发明中,也可以是,多个下层图案和多个上层图案中的任意图案,在俯视时与磁敏元件具有重叠。由此,能够高效地对磁敏元件施加抵消磁场。
在本发明中,也可以是,第1和第2磁性体层具有:构成与磁隙的延伸方向正交的第1方向上的一端且位于磁隙侧的第1边缘、和构成第1方向上的另一端且位于第1边缘的相反侧的第2边缘,补偿线圈的第1方向上的边缘,位于与第2边缘相等的位置或者比第2边缘更靠磁隙侧的位置。由此,提高抵消磁场的产生效率。
也可以是,本发明的磁传感器还包括:覆盖第1磁性体层的第1外部磁性体、和覆盖第2磁性体层的第2外部磁性体。由此,能够得到更高的集磁效果。
发明效果
如上所述,根据本发明,能够提供一种提高抵消磁场的产生效率的磁传感器。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施方式的磁传感器1的外观的大致立体图。
图2是磁传感器1的大致分解立体图。
图3是用于说明传感器芯片100的元件形成面101的结构的示意性俯视图。
图4是沿着图3所示的A-A线的大致截面图。
图5是沿着图3所示的B-B线的大致截面图。
图6是用于说明磁性体层M1、M2与磁敏元件R的位置关系的示意性俯视图。
图7是表示从传感器芯片100去除了磁性体层M1、M2和补偿线圈120的状态的大致立体图。
图8是传感器芯片100的主要部分的XZ截面图。
图9是表示用于获得检测信号V1的电路的电路图。
图10是用于说明配置虚设元件D1的位置的示意性俯视图。
图11是表示用于获得检测信号V2、V3的电路的电路图。
图12是用于说明配置虚设元件D1~D3的位置的示意性俯视图。
图13是用于说明变形例的元件形成面101的结构的示意性俯视图。
图14是用于说明变形例的磁性体层M1、M2的形状的结构的示意性俯视图。
图15是用于说明变形例的元件形成面101的结构的示意性俯视图。
图16是表示磁敏元件R与下层图案121在X方向上的位置关系与抵消磁场的产生效率的关系的图表。
图17的(a)~(c)是用于说明磁敏元件R与下层图案121在X方向上的位置关系的示意图。
图18是表示磁性体层M1、M2在X方向上的边缘与补偿线圈120在X方向上的边缘的位置关系和抵消磁场的产生效率的关系的图表。
图19的(a)、(b)是用于说明磁性体层M2的边缘与上层图案122的边缘的X方向位置关系的示意图。
附图标记说明
1 磁传感器
8 基板
10、20 外部磁性体
11、21 主体部
12、22 突出部
100 传感器芯片
101 元件形成面
102 背面
103 安装面
104 上表面
105、106 侧面
110 芯片主体
111、112、113、114绝缘层
120 补偿线圈
121 下层图案
122 上层图案
123通孔(via)导体
124、125连接焊盘(pad)
131~134端子电极
D1~D3虚设(dummy)元件
G1~G3磁隙
L1、L2配线
M1~M3磁性体层
R、R1、R2磁敏元件
R10~R13 固定电阻
V1~V3 检测信号
具体实施方式
以下,参照附图,对本发明的优选实施方式进行详细说明。
图1是表示本发明的一个实施方式的磁传感器1的外观的大致立体图。图2是磁传感器1的大致分解立体图。
如图1和图2所示,本实施方式的磁传感器1包括:基板8、装载于基板8的传感器芯片100、和外部磁性体10、20。基板8以XZ面为主面,在主面装载有传感器芯片100和外部磁性体10、20。传感器芯片100具有:构成XY面且相互位于相反侧的元件形成面101和背面102、构成XZ面且相互位于相反侧的安装面103和上表面104、和构成YZ面且相互位于相反侧的侧面105、106。传感器芯片100以安装面103与基板8的主面相对的方式,竖立装载于基板8。
外部磁性体10、20均由铁氧体等高导磁率材料构成。外部磁性体10由将X方向作为长边方向的棒状的主体部11和设置于主体部11的X方向上的端部的突出部12构成。同样地,外部磁性体20由将X方向作为长边方向的棒状的主体部21和设置于主体部21的X方向上的端部的突出部22构成。主体部11和突出部12也可以是一体的,也可以分别由不同的块(block)构成。对于主体部21和突出部22也是同样的。
突出部12、22的Z方向上的厚度比主体部11、21的Z方向上的厚度薄。并且,如图1所示,以传感器芯片100的元件形成面101的一部分被外部磁性体10的突出部12覆盖且传感器芯片100的侧面105被外部磁性体10的主体部11的X方向上的端面覆盖的方式,在基板8上对传感器芯片100和外部磁性体10进行定位。同样地,以传感器芯片100的元件形成面101的另一部分被外部磁性体20的突出部22覆盖且传感器芯片100的侧面106被外部磁性体20的主体部21的X方向上的端面覆盖的方式,在基板8上对传感器芯片100和外部磁性体20进行定位。由此,在突出部12与突出部22之间形成有磁隙G1。
图3是用于说明传感器芯片100的元件形成面101的结构的示意性俯视图。另外,图4是沿着图3所示的A-A线的大致截面图,图5是沿着图3所示的B-B线的大致截面图。
如图3~图5所示,在传感器芯片100的元件形成面101设置有磁性体层M1、M2、磁敏元件R、和卷绕于磁性体层M1、M2的补偿线圈120。磁敏元件R只要是根据磁通的朝向而电阻变化的元件,则并无特别限定,例如,可使用MR元件等。磁敏元件R的灵敏度轴方向即固定磁化方向为X方向。磁性体层M1、M2是由坡莫合金等NiFe系材料构成的薄膜。如图6所示,磁性体层M1、M2隔着沿Y方向延伸的磁隙G2沿X方向排列,在从Z方向观察的俯视图中,在与磁隙G2重叠的位置配置有磁敏元件R。磁隙G2的X方向上的宽度比磁隙G1窄。磁性体层M1被外部磁性体10的突出部12覆盖,磁性体层M2被外部磁性体20的突出部22覆盖。由此,由外部磁性体10、20集磁的X方向的磁场沿X方向通过磁隙G2,通过磁隙G2的磁场施加于磁敏元件R。
传感器芯片100具有:构成元件形成面101的芯片主体110、和在芯片主体110的表面上依次层叠的绝缘层111、112、113、114。在构成第1层的绝缘层111的表面,设置有构成补偿线圈120的多个下层图案121。在构成第2层的绝缘层112的表面,设置有磁敏元件R。在构成第3层的绝缘层113的表面,设置有磁性体层M1、M2。在构成第4层的绝缘层114的表面,设置有构成补偿线圈120的多个上层图案122。下层图案121的Y方向上的端部和上层图案122的Y方向上的端部,通过贯通绝缘层112~114的多个通孔导体123连接。
下层图案121和上层图案122是以与磁性体层M1、M2重叠的方式沿Y方向延伸的导体图案,Y方向上的两端不与磁性体层M1、M2重叠。下层图案121和上层图案122的Y方向上的两端构成X方向上的尺寸被扩大的连接焊盘(pad),在该连接焊盘上形成有通孔导体123。下层图案121位于磁性体层M1、M2的下侧,即,-Z方向侧,上层图案122位于磁性体层M1、M2的上侧,即,+Z方向侧。并且,通过这样的下层图案121和上层图案122经由通孔导体123连接,形成由1个连续的线圈图案构成的补偿线圈120。在图3中,连接焊盘124是补偿线圈120的一端,连接焊盘125是补偿线圈120的另一端。根据上述结构,由于在补偿线圈120的内径区域配置有磁性体层M1、M2,因此,当电流流过补偿线圈120时,由此产生的抵消磁场经由磁性体层M1、M2施加于磁敏元件R。补偿线圈120用于通过抵消施加于磁敏元件R的磁场来进行所谓的闭环控制。而且,由于磁性体层M1、M2具有较高的磁导率,因此,能够以较少的电流向磁敏元件R施加较多的磁通。
图7是表示从传感器芯片100去除了磁性体层M1、M2和补偿线圈120的状态的大致立体图。
如图7所示,磁敏元件R在元件形成面101上沿Y方向延伸,其一端经由配线L1连接于端子电极131,另一端经由配线L2连接于端子电极132。端子电极133、134分别与补偿线圈120的连接焊盘124、125连接。
图8是传感器芯片100的主要部分的XZ截面图。
如图8所示,在从Z方向观察的俯视时,磁敏元件R位于磁性体层M1与磁性体层M2之间。由此,通过磁隙G2的磁场施加于磁敏元件R。即,磁敏元件R配置在由磁性体层M1和磁性体层M2形成的磁隙G2的附近且能够检测通过磁隙G2的检测对象磁场的磁路上。如此,并非必须将磁敏元件R配置在2个磁性体层M1、M2之间,只要是通过由磁性体层M1、M2构成的磁隙G2的磁场的至少一部分施加于磁敏元件R的配置即可。关于磁隙G2的宽度与磁敏元件R的宽度的关系并无特别限定。在图8所示的例子中,磁隙G2的X方向上的宽度G2x比磁敏元件R的X方向上的宽度Rx窄,由此,从Z方向观察时,磁性体层M1、M2与磁敏元件R具有重叠OV。为了将更多的通过磁隙G2的磁场施加于磁敏元件R,优选地,在重叠OV的磁性体层M1、M2与磁敏元件R的Z方向上的距离尽可能近,更优选地,相比于磁隙G2的X方向上的宽度G2x,磁性体层M1、M2与磁敏元件R的Z方向上的距离更近。由此,磁敏元件R成为通过磁隙G2的磁场的主要磁路。
如图9所示,如果将磁敏元件R与固定电阻R10串联连接于电源间,则可从两者的连接点获得检测信号V1。而且,如果使基于检测信号V1的补偿电流流过补偿线圈120,则能够进行闭环控制。固定电阻R10也可以设置于传感器芯片100自身,也可以设置于基板8。在将固定电阻R10设置于传感器芯片100自身的情况下,如图10所示,也可以将具有与磁敏元件R相同的结构的虚设(dummy)元件D1设置于与磁性体层M1或磁性体层M2完全重叠的位置,并将该虚设元件D1用作固定电阻R10。虚设元件D1虽然具有与磁敏元件R相同的结构,但由于与磁性体层M1或磁性体层M2完全重叠,因此,几乎不施加磁敏方向即X方向的磁场,由此能够用作固定电阻。
或者,也可以如图11所示,构成为通过桥接磁敏元件R与固定电阻R11~R13来获得检测信号V2、V3。在该情况下,如图12所示,也可以将具有与磁敏元件R相同的结构的虚设元件D1~D3设置于与磁性体层M1或磁性体层M2完全重叠的位置,并将这些虚设元件D1~D3用作固定电阻R11~R13。
如以上说明的那样,在本实施方式的磁传感器1中,由于在磁性体层M1、M2卷绕有补偿线圈120,因此,能够提高由补偿线圈120进行的抵消磁场的产生效率。由此,需要流过补偿线圈120的电流量减少,因此,不仅能够减少消耗电力,还能够减少磁敏元件R的热噪声。而且,磁性体层M1、M2、磁敏元件R和补偿线圈120均集成于传感器芯片100,因此,部件个数也不会增加。
另外,如图3所示,多个通孔导体123配置成交错状,由此,在X方向上相邻的2个通孔导体在Y方向上的位置不同,因此,能够确保邻接的通孔导体123间的距离,并且能够增加补偿线圈120的匝数。但是,在本发明中,并非必须将多个通孔导体123配置成交错状,根据补偿线圈120所需的匝数、通孔导体123的设计规则,如图13所示的变形例那样,也可以将多个通孔导体123沿X方向配置成一列。
进而,磁性体层M1、M2的平面形状也没有特别限定,也可以如图14所示的变形例那样,具有随着接近磁隙G2而Y方向上的宽度变窄的缩窄形状部。另外,如图15所示的变形例那样,也可以设置3个磁性体层M1、M2、M3,在由磁性体层M1、M2构成的磁隙G2的附近配置磁敏元件R1,在由磁性体层M2、M3构成的磁隙G3的附近配置磁敏元件R2。
图16是表示磁敏元件R与下层图案121在X方向上的位置关系与抵消磁场的产生效率的关系的图表。图16的横轴表示:磁敏元件R的X方向上的中心位置与最接近磁敏元件R的下层图案121的X方向上的中心位置之差。作为一例,在磁敏元件R的X方向上的宽度为5μm、下层图案121的X方向上的宽度为30μm的情况下,如图17的(a)所示,在两者的中心位置一致的情况下,其差为0μm。另外,如图17的(b)所示,在磁敏元件R的中心位置与下层图案121的边缘位置一致的情况下,其差为15μm。进而,如图17的(c)所示,在磁敏元件R与下层图案121不重叠且两者的边缘位置一致的情况下,其差成为17.5μm。如图16所示,磁敏元件R与下层图案121的X方向位置越近,抵消磁场的产生效率越高,在两者的中心位置一致的情况下,抵消磁场的产生效率最高。另外,磁敏元件R与上层图案122的重叠也相同。即,下层图案121与上层图案122中的任意图案在俯视时与磁敏元件R具有重叠,且使两者的X方向上的中心位置接近,由此可提高抵消磁场的产生效率。
图18是表示磁性体层M1、M2的X方向上的边缘与补偿线圈120的X方向上的边缘的位置关系和抵消磁场的产生效率的关系的图表。图18的横轴表示:磁性体层M1、M2的X方向上的边缘与补偿线圈120的X方向上的边缘之差。在此,磁性体层M1、M2的X方向上的边缘是指,位于磁隙G2侧的边缘的相反侧的边缘。作为一例,如图19的(a)所示,在磁性体层M2的边缘与上层图案122的边缘的X方向位置一致的情况下,其值为0μm。另外,如图19的(b)所示,在磁性体层M2的边缘比上层图案122的边缘更向X方向突出的情况下,即,在上层图案122的X方向上的边缘位于比磁性体层M2的边缘更靠磁隙G2侧的情况下,其值为正值。如图18所示,可知横轴的值越大,抵消磁场的产生效率越高。
以上,对本发明的优选的实施方式进行了说明,但本发明并不限定于上述的实施方式,在不脱离本发明的主旨的范围内能够进行各种变更,这些变更当然也包含在本发明的范围内。
Claims (6)
1.一种磁传感器,其特征在于,
包括:
隔着磁隙相对的第1和第2磁性体层;
配置于由所述磁隙形成的磁路上的磁敏元件;和
卷绕于所述第1和第2磁性体层的补偿线圈,
所述第1磁性体层、所述第2磁性体层、所述磁敏元件和所述补偿线圈集成于传感器芯片。
2.根据权利要求1所述的磁传感器,其特征在于,
所述传感器芯片具有:依次层叠的第1、第2、第3和第4层,
所述补偿线圈包括:形成于所述第1层的多个下层图案、和形成于所述第4层的多个上层图案,
所述磁敏元件形成于所述第2层,
所述第1和第2磁性体层形成于所述第3层。
3.根据权利要求2所述的磁传感器,其特征在于,
连接所述下层图案和所述上层图案的多个通孔导体中的、在与所述磁隙的延伸方向正交的方向上邻接的2个通孔导体,在所述磁隙的延伸方向上的位置不同。
4.根据权利要求2所述的磁传感器,其特征在于,
所述多个下层图案和所述多个上层图案中的任意图案,在俯视时与所述磁敏元件具有重叠。
5.根据权利要求1所述的磁传感器,其特征在于,
所述第1和第2磁性体层具有:第1边缘,其构成与所述磁隙的延伸方向正交的第1方向上的一端且位于所述磁隙侧;和第2边缘,其构成所述第1方向上的另一端且位于所述第1边缘的相反侧,
所述补偿线圈的所述第1方向上的边缘,位于与所述第2边缘相等的位置,或者比所述第2边缘更靠所述磁隙侧的位置。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的磁传感器,其特征在于,
还包括:
覆盖所述第1磁性体层的第1外部磁性体;和
覆盖所述第2磁性体层的第2外部磁性体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022022596A JP2023119633A (ja) | 2022-02-17 | 2022-02-17 | 磁気センサ |
JP2022-022596 | 2022-02-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116609712A true CN116609712A (zh) | 2023-08-18 |
Family
ID=85278018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310116197.4A Pending CN116609712A (zh) | 2022-02-17 | 2023-02-15 | 磁传感器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230258741A1 (zh) |
EP (1) | EP4231030A1 (zh) |
JP (1) | JP2023119633A (zh) |
CN (1) | CN116609712A (zh) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW550394B (en) * | 2000-10-26 | 2003-09-01 | Res Inst For Electric And Magn | Thin-film magnetic field sensor |
EP2442117B1 (en) * | 2009-06-12 | 2021-11-17 | Alps Alpine Co., Ltd. | Magnetic balance current sensor |
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JP6269479B2 (ja) * | 2012-03-23 | 2018-01-31 | 日立金属株式会社 | 磁気センサデバイス |
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JP6969142B2 (ja) | 2017-04-12 | 2021-11-24 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
JP2021105601A (ja) * | 2019-12-27 | 2021-07-26 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
-
2022
- 2022-02-17 JP JP2022022596A patent/JP2023119633A/ja active Pending
-
2023
- 2023-02-08 US US18/107,158 patent/US20230258741A1/en active Pending
- 2023-02-15 CN CN202310116197.4A patent/CN116609712A/zh active Pending
- 2023-02-16 EP EP23156994.8A patent/EP4231030A1/en active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4231030A1 (en) | 2023-08-23 |
JP2023119633A (ja) | 2023-08-29 |
US20230258741A1 (en) | 2023-08-17 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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