CN116559537A - 一种散乱导线的双针测试结构 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种散乱导线的双针测试结构，涉及导线电阻率测试技术领域，包括第一测试件，第一测试件的一侧具有相互平行第一基准面和第二基准面；第二测试件，第二测试件设于第一基准面和第二基准面之间；第一限位构件，布置于第一基准面；第二限位构件，设置于第二基准面；第一弹性件，设置于第二测试件与第二基准面之间，第一弹性件以一定的预压力作用于第二测试件；测试构件，包括若干件设置于第二基准面的测试触件；以及设置于所述第二测试件的第三限位构件。通过各个零部件的相互组合，以便能够快速对散乱导线的待测试端进行快速定位限定，解决散乱导线的定位问题，同时采用双针测试结构，有效提高测试精度和测试的良率。

Description

一种散乱导线的双针测试结构

技术领域

本发明涉及导线电阻率测试技术领域，特别涉及一种散乱导线的双针测试结构。

背景技术

在非标测试行业中，若需要精确测量产品，往往会采用四线式的方式进行测量。四线式是由两根探针为独立一组引出四线，对产品的测试点进行测试，这种测试方式的精度可达到0.001Ω。由于产品的测试点是长度不同的线组，且线组的导线较为细小、排布紧凑、测试端的线也较为散乱，故对针块、探针的加工工艺精度要求较高。

现有的探针测试方式中，多用双头探针或探针加针套的组合，对固定位置的测试点进行测试。这些探针在针块模组中对产品进行测试时，探针的针尖并不是都在测试点的中心，而是相对在中心的附近，这样探针与导线接触时双方就会发生偏移，且导线测试端比较散乱，不好定位每条导线的位置，使得探针与导线接触时偏移的概率更大，测试良率也因此降低，不能满足测试的要求。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决现有技术中的上述技术问题之一。为此，本发明实施例提供一种散乱导线的双针测试结构，能够解决散乱导线的定位问题，提高了测试精度和测试的良率。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，包括第一测试件，所述第一测试件的一侧具有相互平行第一基准面和第二基准面；第二测试件，所述第二测试件设于所述第一基准面和所述第二基准面之间，所述第二测试件远离所述第二基准面的一侧具有第三基准面，所述第三基准面设置有第一定位结构和第二定位结构，所述第一定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的短导线组的第一卡槽，所述第二定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的长导线组的第二卡槽；第一限位构件，布置于所述第一基准面；第二限位构件，设置于所述第二基准面；第一弹性件，设置于所述第二测试件与所述第二基准面之间，所述第一弹性件以一定的预压力作用于所述第二测试件，以使所述第二测试件在所述第二限位构件的引导下运动至抵住所述第一限位构件，其中，所述第三基准面持平所述第一基准面；测试构件，包括若干件设置于所述第二基准面的测试触件，所述第一测试件正对所述第一卡槽和所述第二卡槽的位置分别设置有两件所述测试触件，所述第二测试件朝向所述第二基准面靠近过程中，所述测试触件的端部能够进入到所述第一卡槽或所述第二卡槽；以及设置于所述第二测试件的第三限位构件，所述第三限位构件用于将待测导线的短导线组压抵于所述第一卡槽以及将待测导线的长导线组压抵于所述第二卡槽。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第一定位结构还包括第一引导槽，所述第一引导槽连通所述第一卡槽，其中，所述第一引导槽的底部低于所述第一卡槽的底部。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第二定位结构还包括第二引导槽，所述第二引导槽连通所述第二卡槽，其中，所述第二引导槽的底部低于所述第二卡槽的底部。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第二基准面正对所述第一卡槽的位置设置有第一凸部，一部分所述测试触件嵌设于所述第一凸部，所述第二测试件配置有供所述第一凸部活动的第一凹槽，所述第一凹槽与所述第一卡槽之间配置有供所述测试触件穿过的第一通孔，所述第二测试件抵住所述第一限位构件时，所述测试触件的端部处于所述第一通孔。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第二基准面正对所述第二卡槽的位置设置有第二凸部，一部分所述测试触件嵌设于所述第二凸部，所述第二测试件配置有供所述第二凸部活动的第二凹槽，所述第二凹槽与所述第二卡槽之间配置有供所述测试触件穿过的第二通孔，所述第二测试件抵住所述第一限位构件时，所述测试触件的端部处于所述第二通孔。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第一限位构件包括两件第一限位件，两件所述第一限位件分别位于所述第二测试件的两侧，所述第一限位件的一端通过螺栓连接于所述第一测试件，另一端延伸至所述第二测试件的运动路径上。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第二限位构件包括至少两个根插设于所述第二基准面的销钉，所述第二测试件配置有能够与所述销钉间隙配合的销孔。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第一弹性件为弹簧，所述第二基准面设有容纳所述弹簧的第一活动孔，所述第二测试件正对所述活动孔的位置设置有容纳所述弹簧的第二活动孔。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述第三限位构件包括铰接于所述第二测试件的侧面的第一压板、第二压板以及第三压板，所述第一压板翻转至盖合所述第二测试件后，所述第一压板对准所述第一定位结构的位置设置有第一压垫，所述第二压板翻转至盖合所述第二测试件后，所述第二压板对准所述第二定位结构的位置设置有第二压垫，所述第三压板用于压抵待测导线的非测试端，其中，所述第一压板、所述第二压板以及所述第三压板均通过吸附构件连接所述第二测试件，所述吸附构件包括第一磁铁和第二磁铁，所述第一压板、所述第二压板以及所述第三压板均嵌设有所述第一磁铁，所述第二磁铁嵌设于所述第二测试件。

根据本发明实施例的散乱导线的双针测试结构，所述测试触件具有测试端，所述测试端的端部设置有第一斜面以使形成尖端，所述第一卡槽或所述第二卡槽内的两件所述测试触件对称设置。

基于上述技术方案，本发明实施例至少具有以下有益效果：上述技术方案中，先将第一弹性件、第二限位构件以及测试构件安装于第一测试件的第二基准面，然后再将第二测试件安装好，使第二测试件能够在第一基准面和第二基准面之间活动，然后将第一限位构件布置好后，第二测试件在第一弹性件的作用下抵住第一限位构件，以使第三基准面持平第一基准面，最后将第三限位构件安装好即完成双针测试结构的组装，进行导线的测试时，将待测导线的短导线组上的测试线分别放入第一卡槽内卡住，再将待测导线的长导线组的测试线分别放入第二卡槽内卡住，然后通过第三限位构件将第一卡槽内和第二卡槽内的测试线压紧限位，再施加一定的力作用于第三限位构件带动第二测试件朝向第二基准面靠近，此时的测试触件慢慢进入到第一卡槽或第二卡槽中抵住测试线的测试点中心，实现扎针测试，相较于现有的探针测试，本申请的双针测试通过将用于扎针测试的测试触件定点固定，双测试触件的设置在测试时具有一定的导向定位功能，然后再设置第一卡槽或第二卡槽配合第三限位构件的使用来解决待测导线的定位问题，测试过程简单，且测试过程中不会出现测试触件与测试线接触时出现偏移的情况，确保测试精度和测试的良率，整体结构简单，加工制造和使用都很方便。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明；

图1是本发明实施例的结构示意图一；

图2是本发明实施例的结构示意图二；

图3是本发明实施例中，第一测试件的结构示意图；

图4是图1中A处的放大示意图；

图5是本发明实施例中，第二测试件的结构示意图；

图6是本发明实施例中，待测导线定位于第一卡槽或第二卡槽的示意图；

图7是本发明实施例中，待测导线被压紧固定的工作示意图；

图8是本发明实施例中，测试触件的结构示意图。

具体实施方式

本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。

参照图1和图2，本申请提供的散乱导线的双针测试结构包括第一测试件100、第二测试件200、第一限位构件、第二限位构件、第一弹性件120、测试构件以及第三限位构件。

其中，如图3所示，第一测试件100的一侧具有相互平行第一基准面101和第二基准面102，具体的，第一测试件100的一侧先采用数铣中心加工好第一基准面101，然后再在第一基准面101上洗出一条槽道，槽道的底面也即第二基准面102，第一限位构件布置于第一基准面101，第二限位构件设置于第二基准面102，第二测试件200设于第一基准面101和第二基准面102之间，第一弹性件120设置于第二测试件200与第二基准面102之间，第一弹性件120以一定的预压力作用于第二测试件200，以使第二测试件200在第二限位构件的引导下运动至抵住第一限位构件，第二限位构件起到导向作用第二测试件200，能够引导第二测试件200准确到达指定位置而不出现偏移，进一步的，第二测试件200远离第二基准面102的一侧具有第三基准面201，第三基准面201设置有第一定位结构和第二定位结构，第一定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的短导线组的第一卡槽203，第二定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的长导线组的第二卡槽205，第一卡槽203和第二卡槽205均通过数铣中心加工而成，第三基准面201持平第一基准面101。

测试构件包括若干件设置于第二基准面102的测试触件150，如图4所示，第一测试件100正对第一卡槽203和第二卡槽205的位置分别设置有两件测试触件150，第二测试件200朝向第二基准面102靠近过程中，测试触件150的端部能够进入到第一卡槽203或第二卡槽205，需说明的是，第二测试件200设置有供测试触件150穿过的孔，以便测试触件150能够进入到第一卡槽203或第二卡槽205中对定位固定好的待测导线进行扎针测试。

此外，第三限位构件设置于第二测试件200，第三限位构件用于将待测导线的短导线组压抵于第一卡槽203以及将待测导线的长导线组压抵于第二卡槽205，以完成对待测导线的压紧限定。

组装时，先将第一弹性件120、第二限位构件以及测试构件安装于第一测试件100的第二基准面102，然后再将第二测试件200安装好，使第二测试件200能够在第一基准面101和第二基准面102之间活动，然后将第一限位构件布置好后，第二测试件200在第一弹性件120的作用下抵住第一限位构件，以使第三基准面201持平第一基准面101，最后将第三限位构件安装好即完成双针测试结构的组装。

进行导线的测试时，将待测导线的短导线组上的测试线分别放入第一卡槽203内卡住定位，再将待测导线的长导线组的测试线分别放入第二卡槽205内卡住定位，然后通过第三限位构件将第一卡槽203内和第二卡槽205内的测试线压紧限位，再施加一定的力作用于第三限位构件带动第二测试件200朝向第二基准面102靠近，此时的测试触件150慢慢进入到第一卡槽203或第二卡槽205中抵住测试线的测试点中心，实现扎针测试，相较于现有的探针测试，本申请的双针测试通过将用于扎针测试的测试触件150定点固定，双测试触件150的设置在测试时具有一定的导向定位功能，然后再设置第一卡槽203或第二卡槽205配合第三限位构件的使用来解决待测导线的定位问题，测试过程简单，且测试过程中不会出现测试触件150与测试线接触时出现偏移的情况，确保测试精度和测试的良率，整体结构简单，加工制造和使用都很方便。

如图4所示，第一定位结构还包括第一引导槽202，第一引导槽202连通第一卡槽203，其中，第一引导槽202的底部低于第一卡槽203的底部，具体的，加工第一引导槽202和第一卡槽203时，先将第二测试件200定位固定于数铣中心，然后先加工第一引导槽202，第一引导槽202的一端贯穿第二测试件200的侧面，另一端朝向第二测试件200的中心延伸，第一引导槽202加工好后，在第一引导槽202的一端侧壁加工第一卡槽203，第一卡槽203阵列布置，且第一卡槽203的宽度与测试线的直径相等，便于测试线的定位卡紧，且第一引导槽202的底部低于第一卡槽203的底部则能够避免待测导线原先的包覆皮导致测试线弹出第一卡槽203，方便测试线的定位卡紧。

其中，第二定位结构还包括第二引导槽204，第二引导槽204连通第二卡槽205，其中，第二引导槽204的底部低于第二卡槽205的底部。具体的，加工第二引导槽204和第二卡槽205时，先将第二测试件200定位固定于数铣中心，然后先加工第二引导槽204，第二引导槽204的一端贯穿第二测试件200的侧面，另一端朝向第二测试件200的中心延伸，第二引导槽204加工好后，在第二引导槽204的一端侧壁加工第二卡槽205，第二卡槽205阵列布置，且第二卡槽205的宽度与测试线的直径相等，便于测试线的定位卡紧。

在一些实施例中，如图2所示，第二基准面102正对第一卡槽203的位置设置有第一凸部141，第二基准面102正对第二卡槽205的位置设置有第二凸部142，一部分测试触件150嵌设于第一凸部141，另一部分测试触件150嵌设于第二凸部142，如图5所示，第二测试件200配置有供第一凸部141活动的第一凹槽215，第一凸部141与第一凹槽215间隙配合，第一凹槽215与第一卡槽203之间配置有供测试触件150穿过的第一通孔215a，第二测试件200抵住第一限位构件时，测试触件150的端部处于第一通孔215a，且第一凸部141的部分位于第一凹槽215，第二测试件200还配置有供第二凸部142活动的第二凹槽216，第二凹槽216与第二卡槽205之间配置有供测试触件150穿过的第二通孔216a，第二测试件200抵住第一限位构件时，测试触件150的端部处于第二通孔216a，第二凸部142的部分位于第二凹槽216。第一凸部141和第二凸部142起到加固测试触件150的作用，也能避免测试触件150在进行扎针测试过程中因非测试部分伸出过长导致受力变形进而出现损坏的情况。

在另一些实施例中，第一限位构件包括两件第一限位件110，两件第一限位件110分别位于第二测试件200的两侧，第一限位件110的一端通过螺栓连接于第一测试件100，另一端延伸至第二测试件200的运动路径上，其中，第一基准面101铣有供第一限位件110隐藏的卡槽，第一限位件110置入卡槽后通过螺栓连接第一测试件100，对应的，第二测试件200的第三基准面201对应第一限位件110的位置设置有避让第一限位件110的槽口206，以便第二测试件200抵住第一限位件110后第三基准面201持平第一基准面101，第三基准面201持平第一基准面101有利于待测导线的放置，两件第一限位件110的设置能够有效限制第二测试件200的活动范围，且两件第一限位件110分别位于第二测试件200的两侧，使得第二测试件200受力均衡。

本实施例中，第二限位构件包括至少两个根插设于第二基准面102的销钉130，第二测试件200配置有能够与销钉130间隙配合的销孔214，通过销钉130与销孔214的配合，使得第二测试件200能够进行往复直线运动，以便测试结构能进行重复的扎针测试，提高测试精度。

本实施中，第一弹性件120优选为弹簧，第二基准面102设有容纳弹簧的第一活动孔103，第二测试件200正对活动孔103的位置设置有容纳弹簧的第二活动孔213，如图2所示，第一弹性件120共设4件，第一弹性件120均匀分布于第二测试件200的底部四周，以便能够提供稳定的预压力作用于第二测试件200。

如图2和图6所示，第三限位构件包括铰接于第二测试件200的侧面的第一压板310、第二压板320以及第三压板330，具体的，第二测试件200设置有多个间隔设置的第一连接部220以形成限位槽，第一压板310、第二压板320以及第三压板330的第二连接部301分设于各个限位槽中，销杆302依次穿过第一连接部220和第二连接部301，以使第一压板310、第二压板320以及第三压板330能够翻转，其中，第一压板310翻转至盖合第二测试件200后，第一压板310对准第一定位结构的位置设置有第一压垫311，第二压板320翻转至盖合第二测试件200后，第二压板320对准第二定位结构的位置设置有第二压垫321，第三压板330用于压抵待测导线的非测试端，第一压板310、第二压板320以及第三压板330均通过吸附构件连接第二测试件200，其中，吸附构件包括第一磁铁410和第二磁铁420，第一压板310、第二压板320以及第三压板330均嵌设有第一磁铁410，第二磁铁420嵌设于第二测试件200，通过磁铁的吸附使得压板具有一定的力将待测导线压紧，方便拆装，便于扎针测试。

如图7所示，当待测导线的短导线组的测试线放置于第一卡槽203定位后，翻转第一压板310并使第一压垫311将第一卡槽203内的测试线压紧限定，方便进行待测导线的长导线组的测试线，当待测导线的长导线组的测试线放入第二卡槽205后，翻转第二压板320并使第二压垫321压住第二卡槽205内的待测导线的长导线组的测试线，最后将第三压板330翻转至压合待测导线的非测试端，分开单独进行压紧限定一方面便于短导线组和长导线组的测试线定位放置，另一方便也使得测试过程中，即使第二测试件200带动待测导线移动也不会导致测试线出现松动的情况，确保后续的扎针测试能够顺利进行，提高测试良率。

优选的，如图8所示，测试触件150的一端具有测试端151，另一端为用于与电路板焊接的连接端152，测试端151的端部设置有第一斜面151a以使形成尖端，如图4所示，第一卡槽203或第二卡槽205内的两件测试触件150对称设置，其中，两件测试触件150的第一斜面151a形成八字形，该设置使得测试过程中，测试端151与导线接触时具有一定的导向作用，大大提高测试精度。

上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (10)

1.一种散乱导线的双针测试结构，其特征在于：包括

第一测试件(100)，所述第一测试件(100)的一侧具有相互平行第一基准面(101)和第二基准面(102)；

第二测试件(200)，所述第二测试件(200)设于所述第一基准面(101)和所述第二基准面(102)之间，所述第二测试件(200)远离所述第二基准面(102)的一侧具有第三基准面(201)，所述第三基准面(201)设置有第一定位结构和第二定位结构，所述第一定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的短导线组的第一卡槽(203)，所述第二定位结构包括若干个用于卡紧待测导线的长导线组的第二卡槽(205)；

第一限位构件，布置于所述第一基准面(101)；

第二限位构件，设置于所述第二基准面(102)；

第一弹性件(120)，设置于所述第二测试件(200)与所述第二基准面(102)之间，所述第一弹性件(120)以一定的预压力作用于所述第二测试件(200)，以使所述第二测试件(200)在所述第二限位构件的引导下运动至抵住所述第一限位构件，其中，所述第三基准面(201)持平所述第一基准面(101)；

测试构件，包括若干件设置于所述第二基准面(102)的测试触件(150)，所述第一测试件(100)正对所述第一卡槽(203)和所述第二卡槽(205)的位置分别设置有两件所述测试触件(150)，所述第二测试件(200)朝向所述第二基准面(102)靠近过程中，所述测试触件(150)的端部能够进入到所述第一卡槽(203)或所述第二卡槽(205)；以及

设置于所述第二测试件(200)的第三限位构件，所述第三限位构件用于将待测导线的短导线组压抵于所述第一卡槽(203)以及将待测导线的长导线组压抵于所述第二卡槽(205)。

2.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第一定位结构还包括第一引导槽(202)，所述第一引导槽(202)连通所述第一卡槽(203)，其中，所述第一引导槽(202)的底部低于所述第一卡槽(203)的底部。

3.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第二定位结构还包括第二引导槽(204)，所述第二引导槽(204)连通所述第二卡槽(205)，其中，所述第二引导槽(204)的底部低于所述第二卡槽(205)的底部。

4.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第二基准面(102)正对所述第一卡槽(203)的位置设置有第一凸部(141)，一部分所述测试触件(150)嵌设于所述第一凸部(141)，所述第二测试件(200)配置有供所述第一凸部(141)活动的第一凹槽(215)，所述第一凹槽(215)与所述第一卡槽(203)之间配置有供所述测试触件(150)穿过的第一通孔(215a)，所述第二测试件(200)抵住所述第一限位构件时，所述测试触件(150)的端部处于所述第一通孔(215a)。

5.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第二基准面(102)正对所述第二卡槽(205)的位置设置有第二凸部(142)，一部分所述测试触件(150)嵌设于所述第二凸部(142)，所述第二测试件(200)配置有供所述第二凸部(142)活动的第二凹槽(216)，所述第二凹槽(216)与所述第二卡槽(205)之间配置有供所述测试触件(150)穿过的第二通孔(216a)，所述第二测试件(200)抵住所述第一限位构件时，所述测试触件(150)的端部处于所述第二通孔(216a)。

6.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第一限位构件包括两件第一限位件(110)，两件所述第一限位件(110)分别位于所述第二测试件(200)的两侧，所述第一限位件(110)的一端通过螺栓连接于所述第一测试件(100)，另一端延伸至所述第二测试件(200)的运动路径上。

7.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第二限位构件包括至少两个根插设于所述第二基准面(102)的销钉(130)，所述第二测试件(200)配置有能够与所述销钉(130)间隙配合的销孔(214)。

8.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第一弹性件(120)为弹簧，所述第二基准面(102)设有容纳所述弹簧的第一活动孔(103)，所述第二测试件(200)正对所述活动孔(103)的位置设置有容纳所述弹簧的第二活动孔(213)。

9.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述第三限位构件包括铰接于所述第二测试件(200)的侧面的第一压板(310)、第二压板(320)以及第三压板(330)，所述第一压板(310)翻转至盖合所述第二测试件(200)后，所述第一压板(310)对准所述第一定位结构的位置设置有第一压垫(311)，所述第二压板(320)翻转至盖合所述第二测试件(200)后，所述第二压板(320)对准所述第二定位结构的位置设置有第二压垫(321)，所述第三压板(330)用于压抵待测导线的非测试端，其中，所述第一压板(310)、所述第二压板(320)以及所述第三压板(330)均通过吸附构件连接所述第二测试件(200)，其中，所述吸附构件包括第一磁铁(410)和第二磁铁(420)，所述第一压板(310)、所述第二压板(320)以及所述第三压板(330)均嵌设有所述第一磁铁(410)，所述第二磁铁(420)嵌设于所述第二测试件(200)。

10.根据权利要求1所述的散乱导线的双针测试结构，其特征在于：所述测试触件(150)具有测试端(151)，所述测试端(151)的端部设置有第一斜面(151a)以使形成尖端，所述第一卡槽(203)或所述第二卡槽(205)内的两件所述测试触件(150)对称设置。