CN105353260B - 一种连接端子的测试装置及测试方法 - Google Patents

一种连接端子的测试装置及测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及测试装置技术领域,公开了一种连接端子的测试装置,包括测试座,所述测试座设置有供测试端子插入的测试腔,所述测试座的旁侧设置有至少一组测试组件,所述测试组件设置有一条或以上的径向压变探针,所述测试腔设置有供所述径向压变探针穿过的定位孔,所述测试组件连接有第一驱动机构;由于本装置采用的是径向压变探针的结构,其主要是利用了径向压变探针的刚性产生进一步的压力,同时,也由刚性特性自行复原,使用寿命更长,结构更加简单;本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法,在同等端子的测试条件下,本测试方法利用径向压变探针可以传输更大的电流,同时,所产生的接触压力更大,本测试方法能减少误测,测试更加准确。

Description

一种连接端子的测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及测试装置技术领域,尤其涉及一种连接端子的测试装置及测试方法。
背景技术
目前在端子生产制造过程中,为了对端子的电连接性能进行测试,一般都要使用测试装置进行测试,对于大尺寸的端子测试来说,目前具有较为成熟的测试装置;而对于小型连接端子的测试,例如:智能手机的充电端子来说,目前手机的结构设计都在大幅减小连接口的尺寸,所以,相应的端子也越来越小,对于IOS设备、Android设备或windows等智能设备来说,充电端子与数据传输端子均融为一体,现有的端子均具有越来越多的传输引脚,现有针对这些端子的测试主要采用治具与弹簧探针组合方式,但是,这种弹簧探针的定位精度较差,从而影响测试的准确性。又因为弹簧探针的接触应力小,在0.5MM压缩行程时,产生接触应力为20gf,当接触应力较小时,会导致接触不良,发生误测,同时,其使用寿命也存在较大的不足,有鉴于此,发明人针对目前存在的问题,作出了进一步的改进。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术的不足,提供一种连接端子的测试装置,本测试装置具有结构简单、定位精准和使用寿命长的优点;本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法,利用本测试方法能减少误测,测试更加准确。
为实现上述目的,本发明的一种连接端子的测试装置,包括测试座,所述测试座设置有供测试端子插入的测试腔,所述测试座设置有至少一组测试组件,所述测试组件设置有一条或以上的径向压变探针,所述测试腔设置有供所述径向压变探针穿过的定位孔,所述测试组件连接有第一驱动机构;所述第一驱动机构用于驱动测试组件使径向压变探针与测试端子抵触,并且使径向压变探针发生径向形变。
进一步的,所述径向压变探针包括导针柱体,所述导针柱体表面具有绝缘涂层,所述导针柱体的前端延伸出绝缘涂层形成用于与测试端子接触的探针部。
进一步的,所述测试组件包括前模板、后模板和组装柱,所述组装柱的一端与前模板连接,所述组装柱的另一端与后模板连接,所述径向压变探针的后端与后模板连接固定,所述径向压变探针的前端穿过前模板并延伸至定位孔中,所述径向压变探针位于前模板与后模板之间的部分形成压变部。
作为优选,所述前模板设置定位块和供所述径向压变探针通过的凹位,所述径向压变探针依次穿过凹位和定位块并延伸至定位孔中。
作为优选,所述定位块设置有导向部,所述测试腔设置有供所述导向部插入的导向凹槽,所述定位孔位于导向凹槽内。
进一步的,所述测试座设置有导向柱,所述测试组件与导向柱活动连接。
进一步的,所述测试座设置有第一复位弹簧,所述第一复位弹簧抵接于测试座与测试组件之间。
进一步的,所述测试座设置有用于对测试端子的侧面进行定位的侧向定位机构,所述测试腔的侧面设置有侧位孔,所述侧向定位机构包括顶针、第二驱动机构和用于复位顶针的第二复位弹簧,所述第二驱动机构驱动顶针穿过侧位孔与测试端子抵接。
进一步的,所述定位孔的直径为0.2~0.3MM之间,且所述直径的公差为±0.01MM。
一种端子测试装置的测试方法,将端子装于测试座,测试时,将径向压变探针的前端与端子接触,然后,进一步施加压力迫使径向压变探针发生径向形变;当测试完成后,消除压力,径向压变探针在自身刚性作用下径向形变消失,恢复原状。
本发明的有益效果:与现有技术相比,本发明的一种连接端子的测试装置,本测试装置在工作时,先将端子装入测试腔,这时驱动测试组件,使径向压变探针先与端子接触,在定位孔的作用下,径向压变探针与端子实现精准的对接,再进一步施加压力,使径向压变探针出现径向形变,从而可以大幅提高径向压变探针的前端与端子的接触更加紧密,由于本装置采用的是径向压变探针的结构,其主要是利用了径向压变探针的刚性产生进一步的压力,同时,也由刚性特性自行复原,使用寿命更长,且本测试装置的结构更加简单;而本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法,在同等端子的测试条件下,本测试方法利用径向压变探针可以传输更大的电流,同时,所产生的接触压力更大,本测试方法能减少误测,测试更加准确。
附图说明
图1为本发明的立体图。
图2为本发明的测试组件的结构示意图。
图3为本发明的俯视图。
图4为本发明的测试座的结构示意图。
图5为本发明的径向压变探针的结构示意图。
图6为本发明的径向压变探针的压变状态图。
附图标记包括:
测试座--1, 测试腔--11, 定位孔--111,
导向凹槽--112, 侧位孔--113, 导向柱--12,
第一复位弹簧--13, 测试组件--2, 前模板--21,
凹位--211, 后模板--22, 组装柱--23,
定位块--24, 导向部--241, 径向压变探针--3,
导针柱体--31, 绝缘涂层--32, 探针部--33,
压变部--34, 侧向定位机构--4, 顶针--41,
第二复位弹簧--42。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进行详细的说明。
参见图1至图6,一种连接端子的测试装置,包括测试座1,所述测试座1设置有供测试端子插入的测试腔11,所述测试座1设置有至少一组测试组件2,所述测试组件2设置有一条或以上的径向压变探针3,所述测试腔11设置有供所述径向压变探针3穿过的定位孔111,所述测试组件2连接有第一驱动机构;所述第一驱动机构用于驱动测试组件2使径向压变探针3与测试端子抵触,并且使径向压变探针3发生径向形变。本实施例中的第一驱动机构可以采用电机与丝杆的结构,也可以直接采用气缸驱动方式,在此不做进一步描述,本测试装置在工作时,先将测试端子装入测试腔11,这时驱动测试组件2,使径向压变探针3先与测试端子接触,在定位孔111的作用下,径向压变探针3与测试端子实现精准的对接,再进一步施加压力,使径向压变探针3出现径向形变,从而可以大幅提高径向压变探针3的前端与测试端子的接触应力,使径向压变探针3与测试端子的接触更加紧密,由于本装置采用的是径向压变探针3的结构,其主要是利用了径向压变探针3的刚性产生进一步的压力,同时,也由径向压变探针3的刚性特性自行复原,使用寿命更长;且相对于弹簧探针来说,本测试装置只需要固定好径向压变探针3即可,结构更加简单。
具体地说,所述径向压变探针3包括导针柱体31,所述导针柱体31表面具有绝缘涂层32,所述导针柱体31的前端延伸出绝缘涂层32以形成用于与测试端子接触的探针部33。所述导针柱体31采用粉末高速钢SKH制成,或者所述绝缘涂层32可以保证径向压变探针3在发生径向压变时,避免相邻的径向压变探针3可能出现的接触而造成的短路现象,绝缘涂层32可以采用聚四氟乙烯或者聚全氟乙丙烯,需要强调的是用于与测试端子接触的探针部33为导电部分,不具有绝缘涂层32,而且,为了进一步提高探针部33的导电性能,所述探针部33表面作镀金处理,保证接触的稳定性。
在本技术方案中,所述测试组件2包括前模板21、后模板22和组装柱23,所述组装柱23的一端与前模板21连接,所述组装柱23的另一端与后模板22连接,所述径向压变探针3的后端与后模板22连接固定,所述径向压变探针3的前端穿过前模板21并延伸至定位孔111中,所述径向压变探针3位于前模板21与后模板22之间的部分形成压变部34。所述组装柱23最好设置三条,三条组装柱23的布设位置不做强调,均能够使整个测试组件2具有较佳的稳定性,当测试组件2移动与端子接触时,所述径向压变探针3在定位孔111的作用下与端子实现准确的对接,当测试组件2进一步向端子方向移动时,径向压变探针3的两端形成抵压力,从而使径向压变探针3的压变部34出现弧线状的变形,而力的作用是相互的,所以,径向压变探针3的探针部33也必然具有较大的抵接应力;经实际测试发现,利用本径向压变探针3在收缩行程0.5MM时,能够产生120gf的应力;同时,对现有的弹簧探针应力进行测试发现,现有的弹簧探针在收缩行程为0.5MM时,能够产生约20gf的应力;显然,利用本径向压变探针3可以在同样的压缩行程上,得到更好的接触应力,从而能够确保接触的有效性。
为了使抵接应力的传导更加及时,在本技术方案中,所述前模板21设置定位块24和供所述径向压变探针3通过的凹位211,所述径向压变探针3依次穿过凹位211和定位块24并延伸至定位孔111中。这样,当测试组件2在工作时,由于径向压变探针3通过凹位211时,凹位211的下方还具有一定的间隙,这样,在抵接应力传导时,所述凹位211可以避免对径向压变探针3形成限制,径向压变探针3的变形更加及时,避免针头损坏端子的接触片,
详见图4,为了使径向压变探针3的前端在保证轴向自由活动的同时得到精准的定位,所述定位块24设置有导向部241,所述测试腔11设置有供所述导向部241插入的导向凹槽112,所述定位孔111位于导向凹槽112内。利用本方案,所述导向部241伸入导向凹槽112,不但起到定位作用,而且还达到了减小导向部241、定位孔111分别与径向压变探针3形成的双重导向距离,使压变应力的传导更加迅速。
进一步的说,为了提高整个测试装置的紧凑性,所述测试座1设置有导向柱12,所述测试组件2与导向柱12活动连接。利用本导向柱12即可对测试组件2形成导向作用,从而便于将本测试装置整体应用于不同的设备上。
作为更进一步的,所述测试座1设置有第一复位弹簧13,所述第一复位弹簧13抵接于测试座1与测试组件2之间。测试时,第一驱动机构驱动测试组件2压缩第一复位弹簧13,当测试完成后,所述压力消失时,第一复位弹簧13能够起到辅助复位的作用,即将测试组件2弹性复位,在本方案中第一复位弹簧13的数量可以设置为两个,分别设置在测试座1的两侧,形成对称,显然,也可以根据需要设置多个,此处不在细述。
在此,作为另一实施方式,当本测试装置应用于双向接触的测试端子时,例如Iphone手机的充电端子等,详见图1,本测试装置包括有两组测试组件2,同时,每一组测试组件2中设置有与测试端子对应的八条径向压变探针3,这样即可完成双面接触端子的测试,作为作更优的方式,通常测试端子的接触片都为长条状,在测试时,为了可以对接触片的阻抗进行测试,每组测试组件2设置有两排压变探针3,从而使两排压变探针3形成对测试端子的进一步测试,测试准确性更高,当然,本测试装置还可以根据其他的需要进行设置多组测试组件2,在此,不一一例举。
为了准确的定位测试端子,除严格控制测试组件2的定位精度,还应该对测试端子的测试腔11进行更加严格的控制,由于端子的前面和背面均可以具有一定的间隙,且这种间隙不会对测试组件2的定位造成影响,重要的是在于端子的两个侧面,在本技术方案中,所述测试座1设置有用于对测试端子的侧面进行定位的侧向定位机构4,所述测试腔11的侧面设置有侧位孔113,所述侧向定位机构4包括顶针41、第二驱动机构和用于复位顶针41的第二复位弹簧42,所述第二驱动机构驱动顶针41穿过侧位孔113与测试端子抵接;当端子装入测试腔11时,利用本方案的顶针41对端子的一侧形成抵接,从而端子抵向测试腔11的另一侧,即可达到定位作用,且这种定位方式的结构简单,易于控制,所述第二驱动机构最好采用气缸,制造成本低,结构简单。
在本技术方案中,所述定位孔111的直径为0.2~0.3MM之间,且所述直径的公差为±0.01MM。所述径向压变探针3与定位孔111之间的间隙为0.003MM之间,从而确保径向压变探针3与端子的准确接触。
本发明还提供了一种端子测试装置的测试方法,将端子装于测试座1,测试时,将径向压变探针3的前端与端子接触,然后,进一步施加压力迫使径向压变探针3发生径向形变;当测试完成后,消除压力,径向压变探针3在自身刚性作用下径向形变消失,恢复原状。利用本方法在同等端子的测试条件下,本测试方法利用径向压变探针3可以传输更大的电流,传输电流大于1.2A,产生与端子的接触应力大于120gf,所产生的接触压力更大,本测试方法能减少误测,测试更加准确。
以上内容仅为本发明的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (7)

1.一种连接端子的测试装置,包括测试座(1),所述测试座(1)设置有供测试端子插入的测试腔(11),其特征在于:所述测试座(1)设置有至少一组测试组件(2),所述测试组件(2)设置有一条以上的径向压变探针(3),所述测试腔(11)设置有供所述径向压变探针(3)穿过的定位孔(111),所述测试组件(2)连接有第一驱动机构;所述第一驱动机构用于驱动测试组件(2)使径向压变探针(3)与测试端子抵触,并且使径向压变探针(3)发生径向形变;
所述测试组件(2)包括前模板(21)、后模板(22)和组装柱(23),所述组装柱(23)的一端与前模板(21)连接,所述组装柱(23)的另一端与后模板(22)连接,所述径向压变探针(3)的后端与后模板(22)连接固定,所述径向压变探针(3)的前端穿过前模板(21)并伸入定位孔(111)中,所述径向压变探针(3)位于前模板(21)与后模板(22)之间的部分形成压变部(34);
所述前模板(21)设置定位块(24)和供所述径向压变探针(3)通过的凹位(211),所述径向压变探针(3)依次穿过凹位(211)和定位块(24)并伸入定位孔(111)中;
所述径向压变探针(3)包括导针柱体(31),所述导针柱体(31)表面具有绝缘涂层(32),所述导针柱体(31)的前端延伸出绝缘涂层(32)以形成用于与测试端子接触的探针部(33)。
2.根据权利要求1所述的一种连接端子的测试装置,其特征在于:所述定位块(24)设置有导向部(241),所述测试腔(11)设置有供所述导向部(241)插入的导向凹槽(112),所述定位孔(111)位于导向凹槽(112)内。
3.根据权利要求1所述的一种连接端子的测试装置,其特征在于:所述测试座(1)设置有导向柱(12),所述测试组件(2)与导向柱(12)活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种连接端子的测试装置,其特征在于:所述测试座(1)设置有第一复位弹簧(13),所述第一复位弹簧(13)抵接于测试座(1)与测试组件(2)之间。
5.根据权利要求1所述的一种连接端子的测试装置,其特征在于:所述测试座(1)设置有用于对测试端子的侧面进行定位的侧向定位机构(4),所述测试腔(11)的侧面设置有侧位孔(113),所述侧向定位机构(4)包括顶针(41)、第二驱动机构和用于复位顶针(41)的第二复位弹簧(42),所述第二驱动机构驱动顶针(41)穿过侧位孔(113)与测试端子抵接。
6.根据权利要求1~5任一项所述的一种连接端子的测试装置,其特征在于:所述定位孔(111)的直径为0.2~0.3MM之间,且所述直径的公差为±0.01MM。
7.一种采用上述权利要求1-6任一项的连接端子的测试装置的测试方法,包括以下步骤:将端子装于测试座(1),测试时,将径向压变探针(3)的前端与端子接触,然后,进一步施加压力迫使径向压变探针(3)发生径向形变;当测试完成后,消除压力,径向压变探针(3)在自身刚性作用下径向形变消失,恢复原状。
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