CN214377682U - 一种存储卡测试组件 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种存储卡测试组件，包括第一绝缘件和至少两个第一探针，至少两个第一探针贯穿第一绝缘件，第一探针包括相对的第一端和第二端，第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面，至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。本申请存储卡测试组件能够便于多个第一探针组装以及更换，减小了成本。

Description

一种存储卡测试组件

技术领域

本申请涉及电子测试技术领域，特别是涉及一种存储卡测试组件。

背景技术

存储卡因体积小、数据传输快等特点，被广泛应用于电子设备，如移动设备上。在实际过程中，为了判断存储卡是否为良品，需要对存储卡进行对应的测试。现有储存卡测试组件只能采用单探针进行转接、测试以及组装，使得储存卡测试组件组装不便，也增大了成本。

实用新型内容

本申请提供一种存储卡测试组件，以解决现有存储卡测试组件组装不便，增大了成本的问题。

为解决上述技术问题，本申请提出一种存储卡测试组件，包括：第一绝缘件；至少两个第一探针，贯穿第一绝缘件，第一探针包括相对的第一端和第二端，第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面，至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。

其中，相邻第一探针的第一端分别用于与相邻金属触片错位设置。

其中，相邻第一探针的第一端分别用于与相邻金属触片端部之间斜对角线的两端设置。

其中，存储卡测试组件包括至少一个第二探针，第二探针的一端用于待测存储卡可弹性接触，另一端用于与电路板电连接。

其中，存储卡测试组件包括至少一个第三探针，第三探针的一端用于与待测存储卡可弹性接触；另一端用于与电路板电连接。

其中，存储卡测试组件包括第二绝缘件，至少一个第二探针和至少一个第三探针贯穿第二绝缘件，第二探针和第三探针两端分别位于第二绝缘件两侧面。

其中，第一绝缘件横向截面呈平行四边形；和/第二绝缘件横截面为平行四边形。

其中，第一绝缘件为第一塑胶件；第二绝缘件为第二塑胶件；待测存储卡为MicroSD。

其中，存储卡测试组件还包括固定件，固定件背离待测存储卡的一端开设有第一绝缘槽和第二绝缘槽，第一绝缘件连接于第一绝缘槽内，第二绝缘件连接于第二绝缘槽内；固定件靠近待测存储卡的一端形成有第一探针孔、第二探针孔以及第三探针孔，第一探针穿设第一探针孔，第二探针穿设第二探针孔，第三探针穿设第三探针孔；其中第一绝缘槽与第一探针孔连通，第二绝缘槽分别与第二探针和第三探针连通。

其中，固定件靠近待测存储卡的表面设置有定位槽，用于待测存储卡定位。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请提供一种存储卡测试组件，包括第一绝缘件和至少两个第一探针，至少两个第一探针贯穿第一绝缘件，第一探针包括相对的第一端和第二端，第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面，至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。通过上述方式，本申请能够便于多个第一探针组装以及更换，减小了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：

图1是本申请存储卡测试组件一实施例的局部示意图；

图2是图1所示存储卡测试组件的爆炸示意图；

图3是图1所示存储卡测试组件的俯视图；

图4是本申请存储卡测试组件一实施例的局部剖面示意图。

附图标号：1、第一绝缘件；2、第一探针；3、第二探针；4、第三探针；5、第二绝缘件；6、固定件；61、第一探针孔；62、定位槽；7、待测存储卡；71、金属触片。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，若本实用新型实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本实用新型实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

下面结合实施例对本实用新型提供的存储卡测试组件进行详细描述。

请参阅图1、图2和图3，图1是本申请存储卡测试组件一实施例的局部示意图；图2是图1所示存储卡测试组件的爆炸示意图；图3是图1所示存储卡测试组件的俯视图。

本实施例中存储卡测试组件包括第一绝缘件1和至少两个第一探针2，第一探针2数量为两个、三个或者多个，至少两个第一探针2贯穿第一绝缘件1，以使得第一绝缘件1对多个第一探针2进行卡位限定，即将多个第一探针2组装于第一绝缘件1内即可，以便于组装更换，同时也无需设置其他结构件，减小了成本。

上述第一探针2包括相对的第一端和第二端，当第一探针2贯穿第一绝缘件1后，第一探针2中部位于第一绝缘件1内，其第一端和第二端分别位于第一绝缘件1相对的两侧面。第一探针2的第一端用于与待测存储卡7的金属触片71接触连接，当待测存储卡7受到外界压力组件给予一压力时，待测存储卡7与第一探针2弹性接触连接。第一探针2的第二端用于与电路板电连接，从而使得电路板、第一探针2、金属触片71以及待测存储卡7内部形成电路回路，从而进行对应的测试。

由于待测存储卡7上设置有若干个金属触片71，待测存储卡7上对应金属触片71内部形成有电路结构，当第一探针2为多个时，其第一端分别用于与若干个金属触片71对应接触连接，以使得第一探针2与对应的金属触片71连接，而进行不同的测试。同时，由于若干个金属触片71之间形成有间距，使得相邻第一探针2之间间距相对较小，避免相邻第一探针2之间太近而形成静电。

在实际过程中，第一探针2的总数量少于或等于的金属触片71总数量。当第一探针2的总数量少于金属触片71的总数量时，每一个第一探针2任意设置于对应的金属触片71上即可。当第一探针2的总数量等于金属触片71的总数量上，每一个第一探针2对应每一个金属触片71。

由于现有的待测存储卡7上金属触片71呈条状设置，多个金属触片71间隔设置，当相邻第一探针2设置于相邻金属触片71上时，可能会因第一探针2之间距离太近，而形成静电，影响第一探针2的使用。因此，本实施例将相邻第一探针2的第一端分别错开设置于相邻金属触片71上，即在同一平面上，相邻第一探针2之间距离设置成大于相邻第一探针2之间平行距离，以增大相邻第一探针2之间距离，减小静电形成。

为了进一步增大相邻第一探针2之间的距离，相邻第一探针2的第一端分别位于相邻金属触片71端部之间斜对角线的两端设置。即一第一探针2的第一端设置于一金属触片71端部处，与之相邻的另一第一探针2的第一端设置于与一金属触片71相邻的另一金属触片71端部处，其中一金属触片71端部与另一金属触片71端部呈对角设置。当相邻金属触片71中一个只设置一个第一探针2时，而另一不设置第一探针2时，另一第一探针2位置可以设置于一金属触片71的任意位置处。

举例而言，如图2所示，待测存储卡7沿第一方向依次设置有八个金属触片71，同时第一探针2数量有八个，每一个第一探针2设置于对应的八个金属触片71上，其中第一方向为如图2箭头a所指示方向。为了增大相邻第一探针2之间的距离，从第一方向上看，第一个第一探针2设置于第一个金属触片71底端处，第二个第一探针2设置于第二个金属触片71的顶端处，第一个第一探针2和第二个第一探针2之间呈对角设置，两者距离最大；而其他第一探针2与其他金属触片71一一对应对角错开。当然，第一个第一探针2也可以设置于第一个金属触片71的顶端，第二个第一探针2设置于第二个金属触片71的下端，而其他第一探针2与其他金属触片71一一对应对角错开。

在实际过程中，第一探针2的总数量和金属触片71的总数量并不限定，因此第一探针2和金属触片71排列关系不限定，只要能保证相邻第一探针2的第一端分别用于与相邻金属触片71错位设置即可，在此不作限定。

上述第一绝缘件1形状可以根据第一探针2的总数量而限定。举例而言，如图1和图2所示，当第一探针2的总数量与金属触片71的总数量相等，并分别错开设置时，第一绝缘件1横向截面呈平行四边形设置。

具体地，因本实施例中待测存储卡7为Micro SD，根据现有Micro SD，其表面一排仅设置有八个金属触片71，由此将第一绝缘件1横截面形状设置成平行四边形，可以装配更多第一探针2，提高了组装性，并节约了成本。上述八个金属触片71为八个金手指，分别对应为pin1、pin2、pin3、pin4、pin5、pin6、pin7以及pin8，由于每一个金属触片71对应设置有相关的协议，且均为现有技术，而本实施例中只是针对结构，因此本实施例对上述金属触片71关于协议不作进一步赘述。

在存储卡测试组件测试过程中，由于若干个第一探针2均用于与待测存储卡7的一端部连接，当待测存储卡7整体受力后，因待测存储卡7的另一端无支撑，导致待测存储卡7整体不平稳。因此，本实施例中存储卡测试组件包括第二探针3，第二探针3数量可以为一个或者多个，第二探针3起到支撑作用。上述第二探针3的一端用于与待测存储卡7远离第一探针2的一端可弹性接触，第二探针3的另一端用于与电路板电连接，也可以形成电路回路。当然，第二探针3也可以不形成电路回路。

为了增加且兼容更多测试，本实施例中存储卡测试组件包括至少一个第三探针4，第三探针4可以作为备用探针，除了可以进行第一探针2的测试之外，还可以进行Debug测试需要，以满足非常规产品的测试需求。上述第三探针4的一端用于与待测存储卡7远离第一探针2的一端可弹性接触，第三探针4的另一端用于与电路板电连接，形成电路回路。其中第三探针4数量可以为一个、两个或者多个。

由于第二探针3和第三探针4在使用过程中，可能不稳定，出现晃动，因此第二探针3以及第三探针4限定或卡设于外部装置中，以限定第二探针3以及第三探针4。

上述实施例中第一探针2、第二探针3以及第三探针4的结构均相同，为现有探针，其内部均设置有弹簧。由于待测存储卡7中内部结构不同，当第一探针2以及第三探针4分别与待测存储卡7弹性接触后，会进行对应的测试。具体地，第一探针2、第二探针3以及第三探针4可以为圆弧形状的探针，以保护其接触面的光洁度，便于安装卡位，组装更加方便。

为了进一步提升第二探针3以及第三探针4的稳定性，本实施例中存储卡测试组件包括第二绝缘件5，至少一个第二探针3和至少一个第三探针4分别贯穿第二绝缘件5，其中第二探针3和第三探针4两端分别位于第二绝缘件5相对的两侧面。即第二绝缘件5对若干个第二探针3以及第三探针4进行卡位限定，以若干个第二探针3以及第三探针4装配于第二绝缘件5内即可，而无需设置其他结构件，减小了成本。

上述第二绝缘件5形状可以根据第二探针3和第三探针4的数量、以及第二探针3和第三探针4的设置方式进行限定。其中第二探针3以及第三探针4设置方式可以与第一探针2之间设置方向相同，在此不再赘述。考虑到加工、组装方便性，本实施例中第二绝缘件5横截面如图3所示，也为平行四边形。

由于第一探针2、第二探针3以及第三探针4内部有电流通道，为了减小漏电现象发生，其中第一绝缘件1和第二绝缘件5具有绝缘线性，即只要第一绝缘件1和第二绝缘件5具有绝缘性，高的阻抗即可。上述第一绝缘件1和第二绝缘件5材料可以相同，也可以不同。

具体地，第一绝缘件1为第一塑胶件、第二绝缘件5为第二塑胶件，第一塑胶件和第二塑胶件不仅具有绝缘的作用，而且也方便加工获取，成本低。其中第一塑胶件和第二塑胶件可以为尼龙、橡胶等。

在实际过程中，由于存储卡测试组件不仅满足常温测试需要，可能还需要满足高温和低温测试需要，因此第一塑胶件和第二塑胶件材料可以考虑采用尼龙材料制成，以实现存储卡测试组件能够在高温、低温以及常温条件下进行测试。

请参阅图4，图4是本申请存储卡测试组件一实施例的局部剖面示意图。

结合图1、图2和图3，在存储卡测试组件测试过程中，虽然第一探针2通过第一绝缘件1进行卡位限定，第二探针3以及第三探针4通过第二绝缘件5进行卡位限定，然而存储卡测试组件测试过程中，需要将第一绝缘件1以及第二绝缘件5限定于外部装置上，以避免第一绝缘件1和第二绝缘件5滑落。因此，本实施例中存储卡测试组件将外部装置定义成固定件6，以通过固定件6卡设第一绝缘件1以及第二绝缘件5，以实现稳定性。

具体地，固定件6背离待测存储卡7的一端开设有第一绝缘槽和第二绝缘槽，第一绝缘槽用于安装第一绝缘件1，以使得第一绝缘件1卡设于第一绝缘槽内；第二绝缘件5用于安装第二绝缘件5，以使得第二绝缘件5卡设于第二绝缘槽内，不仅能够将第一绝缘件1和第二绝缘件5卡设在对应的第一绝缘槽和第二绝缘槽内，而且也便于组装。为了提升第一绝缘件1与第一绝缘槽、第二绝缘件5与第二绝缘槽之间装配的稳定性，可以考虑设置卡接件、连接件或者粘接件，在此不作限定。

由于第一绝缘件1上穿设有第一探针2、第二绝缘件5上穿设有第二探针3以及第三探针4，因此在固定件6靠近待测存储卡7的一端形成有第一探针孔61、第二探针孔以及第三探针孔，分别使得第一探针2穿设第一探针孔61，第二探针3穿设第二探针孔，第三探针4穿设第三探针孔，以便于第一探针2、第二探针3以及第三探针4装配。上述第一绝缘槽与第一探针孔61连通，第二绝缘槽分别与第二探针3和第三探针4连通，以使得第一绝缘件1装配于第一绝缘槽内、第二绝缘件5装配于第二绝缘槽内，其中第一探针孔61、第二探针孔以及第三探针孔分别起到定位作用，便于第一探针2、第二探针3以及第三探针4穿设，同时也使得第一探针2、第二探针3以及第三探针4能够延伸到固定件6靠近待测存储卡7的表面上，从而实现第一探针2、第二探针3以及第三探针4分别与待测存储卡7接触连接。

存储卡测试组件测试过程中，由于待测存储卡7体积相对小，较难将待测存储卡7的金属触片71分别与对应的第一探针2对应，因此本实施例在固定件6靠近待测存储卡7的表面设置有定位槽62，其中定位槽62的形状与待测存储卡7的形状相匹配，提高待测存储卡7位置放置的准确性。

在实际过程中，为了便于人工或者机器抓手从定位槽62中将待测存储卡7取出，因此在定位槽62外周形成至少一个连接槽，连接槽便于待测存储卡7的拿取。上述连接槽的形状可以为任意形状，在此不作限定。

本实施例存储卡测试组件包括第一绝缘件和至少两个第一探针，至少两个第一探针贯穿第一绝缘件，第一探针包括相对的第一端和第二端，第一端和第二端分别位于第一绝缘件相对的两侧面，至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。通过上述方式，本申请能够便于多个第一探针组装以及更换，减小了成本。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种存储卡测试组件，其特征在于，包括：

第一绝缘件；

至少两个第一探针，贯穿所述第一绝缘件，所述第一探针包括相对的第一端和第二端，所述第一端和第二端分别位于所述第一绝缘件相对的两侧面，所述至少两个第一探针的第一端分别用于与待测存储卡的金属触片可弹性接触，所述至少两个第一探针的第二端分别用于与电路板电连接。

2.根据权利要求1所述的存储卡测试组件，其特征在于，相邻所述第一探针的第一端分别用于与相邻所述金属触片错位设置。

3.根据权利要求2所述的存储卡测试组件，其特征在于，相邻所述第一探针的第一端分别用于与相邻所述金属触片端部之间斜对角线的两端设置。

4.根据权利要求1-3任一所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述存储卡测试组件包括至少一个第二探针，所述第二探针的一端用于所述待测存储卡可弹性接触，另一端用于与所述电路板电连接。

5.根据权利要求4所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述存储卡测试组件包括至少一个第三探针，所述第三探针的一端用于与所述待测存储卡可弹性接触；另一端用于与所述电路板电连接。

6.根据权利要求5所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述存储卡测试组件包括第二绝缘件，所述至少一个第二探针和所述至少一个第三探针贯穿所述第二绝缘件，所述第二探针和所述第三探针两端分别位于所述第二绝缘件两侧面。

7.根据权利要求6所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述第一绝缘件横向截面呈平行四边形；和/所述第二绝缘件横截面为平行四边形。

8.根据权利要求6所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述第一绝缘件为第一塑胶件；所述第二绝缘件为第二塑胶件；所述待测存储卡为Micro SD。

9.根据权利要求6所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述存储卡测试组件还包括固定件，所述固定件背离所述待测存储卡的一端开设有第一绝缘槽和第二绝缘槽，所述第一绝缘件连接于所述第一绝缘槽内，所述第二绝缘件连接于所述第二绝缘槽内；

所述固定件靠近所述待测存储卡的一端形成有第一探针孔、第二探针孔以及第三探针孔，所述第一探针穿设所述第一探针孔，所述第二探针穿设所述第二探针孔，所述第三探针穿设所述第三探针孔；

其中所述第一绝缘槽与所述第一探针孔连通，所述第二绝缘槽分别与所述第二探针和所述第三探针连通。

10.根据权利要求9所述的存储卡测试组件，其特征在于，所述固定件靠近所述待测存储卡的表面设置有定位槽，用于所述待测存储卡定位。

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