CN116499411B - 一种极片对齐度的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种极片对齐度的检测方法,包括如下步骤:提供卷芯,卷芯包括层叠的正极片、负极片以及隔膜;切割卷芯使卷芯形成剖面,并获取剖面与卷芯端面形成的夹角α的角度,正极片、负极片以及隔膜在剖面处裸露;获取隔膜的隔膜端面与负极片端面之间沿剖面的第一间距a,和/或,负极片端面与正极片端面之间沿剖面的第二间距b;根据第一间距a和夹角α,获取隔膜端面与负极片端面之间沿垂直于卷芯端面方向的第一宽度h1,和/或,根据第二间距b和夹角α,获取负极片端面与正极片端面之间沿垂直于卷芯端面方向的第二宽度h2。本发明的极片对齐度的检测方法用于在无需拆解卷芯的情况下检测极片和/或隔膜对齐度,并降低检测成本。
Description
技术领域
本发明涉及电池极片检测技术领域,尤其涉及一种极片对齐度的检测方法。
背景技术
电池被广泛应用于生活中的各个领域,例如手机、笔记本电脑、汽车等领域,均需要在设备内安装电池,实现通过预装的电池对设备进行供电。现有的电池包括圆柱形电池、方形电池、软包电池等类型;而这些电池内部的电芯通常会将正负极片以及隔膜采用卷绕或叠片的形式卷芯,电池在生产过程中的一个安全控制要点就是卷芯中极片是否对齐。
现有检测卷芯极片对齐的方式之一为测量隔膜的端面与负极片的端面之间沿垂直于卷芯端面方向的隔膜包负极宽度、负极片的端面与正极片的端面之间沿垂直于卷芯端面方向的负极包正极宽度,之后将隔膜包负极宽度与负极包正极宽度分别与其对应的标准值进行比对,判断卷芯极片是否对齐。
目前测量隔膜包负极宽度与负极包正极宽度的方式包括逐层拆解测量和采用光学设备检测测量等方式。逐层拆解测量需要将卷芯极片拆开进行测量,而卷芯中的极片容易滑动,在测量过程中可能会导致卷芯出现螺旋、抽芯等问题。采用光学设备检测时通常采用CCD、X-RAY或CT等光学设备进行检测,这些光学设备的检测成本较高,且需要定期对光学设备的检测尺寸进行标定,防止设备老化等问题造成检测偏差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种极片对齐度的检测方法,用于在无需拆解卷芯的情况下检测极片和/或隔膜对齐度,并降低检测成本。
本发明的目的采用以下技术方案实现:
一种极片对齐度的检测方法,包括如下步骤:
提供卷芯,所述卷芯包括层叠的正极片、负极片以及隔膜,所述隔膜位于所述正极片和负极片之间;
切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面,并获取所述剖面与所述卷芯端面形成的夹角α的角度,所述正极片、负极片以及隔膜在所述剖面处裸露;
获取所述隔膜的隔膜端面与所述负极片的负极片端面之间沿所述剖面的第一间距a,和/或,获取所述负极片的负极片端面与所述正极片的正极片端面之间沿所述剖面的第二间距b;
根据第一间距a和夹角α,获取所述隔膜的隔膜端面与所述负极片的负极片端面之间沿垂直于所述卷芯端面方向的第一宽度h1,和/或,根据第二间距b和夹角α,获取所述负极片的负极片端面与所述正极片的正极片端面之间沿垂直于所述卷芯端面方向的第二宽度h2。
优选的,所述剖面位于所述卷芯端面与卷芯侧面的交界处,所述剖面与卷芯端面形成的夹角α的角度为15~75°。
优选的,当所述卷芯是方形卷芯或腰形卷芯或椭圆形卷芯时,所述剖面与卷芯的厚度方向平行。
优选的,所述剖面穿过部分所述正极片、部分负极片和部分隔膜;
或所述剖面穿过部分所述隔膜和部分负极片,部分所述正极片的正极片端面的轮廓线的至少一部分位于所述剖面内。
优选的,采用切割刀切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面;采用角度测量器具测量剖面与卷芯端面形成的夹角α的角度。
优选的,采用预先刻有刻度的测量器具或影像测量仪测量所述第一间距a,和/或,测量所述第二间距b。
优选的,所述第一宽度h1根据以下公式进行计算:;
所述第二宽度h2根据以下公式进行计算:。
优选的,所述第一间距a为所述隔膜端面以及与该隔膜端面相邻的负极片端面沿所述剖面的间距,测量多组相邻的隔膜端面与负极片端面,获得多个第一间距a;
所述第二间距b为所述负极片端面以及与该负极片端面相邻的正极片端面沿所述剖面的间距,测量多组相邻的负极片端面与正极片端面,获得多个第二间距b;
根据多个第一间距a和夹角α,获得多个第一宽度h1;根据多个第二间距b和夹角α,获得多个第二宽度h2。
优选的,所述检测方法还包括:判断极片是否对齐,若多个所述第一宽度h1和多个第二宽度h2均满足极片宽度要求,则判断极片对齐度合格,若多个所述第一宽度h1中的任意一个和/或多个第二宽度h2中任意一个不符合极片宽度要求则判断极片对齐度不良。
优选的,所述卷芯还包括固化剂,所述固化剂固定包覆所述正极片、负极片以及隔膜,切割所述卷芯时,同时切割所述固化剂。
与现有技术相比,本发明的有益效果至少包括:
通过切割卷芯形成剖面的方式,能够在不采用光学设备的情况下,简单便捷的获取第一间距a、第二间距b以及剖面与卷芯端面形成的夹角α的角度值,之后可通过第一间距a、第二间距b以及夹角α的角度值获取第一宽度h1和第二宽度h2;相比于采用光学设备检测,本发明的检测方法有效的降低了检测成本;并且,相比于逐层拆解的检测方法,本发明的检测方法无需对卷芯进行拆解,仅需切割卷芯的一小部分结构,切割后卷芯仍可保持紧固,可极大的降低极片错位的风险;并且,本发明的极片对齐度的检测方法除可以简单便捷的检测极片对齐度外,还可以简单便捷的检测隔膜对齐度。
附图说明
图1是本发明实施例的极片对齐度的检测方法的流程示意图;
图2是本发明实施例的卷芯切割后的结构示意图;
图3是本发明实施例的卷芯切割后的侧面示意图;
图4是本发明实施例的卷芯切割后的局部结构示意图;
图5是本发明实施例的卷芯切割后部分结构的局部示意图。
图中:1、正极片;11、正极片端面;2、负极片;21、负极片端面;3、隔膜;31、隔膜端面;4、剖面;5、卷芯端面;6、卷芯侧面。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的实施方式;相反,提供这些实施方式使得本发明更全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构,因而将省略对它们的重复描述。
本发明中所描述的表达位置与方向的词,均是以附图为例进行的说明,但根据需要也可以做出改变,所做改变均包含在本发明保护范围内。
参照图1至图5,本发明提供了一种极片对齐度的检测方法,包括如下步骤:步骤S101-步骤S104,还可以包括步骤S105。
步骤S101:提供卷芯,其中,卷芯包括层叠的正极片1、负极片2以及隔膜3,隔膜3设置于正极片1与负极片2之间以分隔正负极片。
步骤S102:切割卷芯以使卷芯形成有剖面4,获取该剖面4与卷芯端面5形成的夹角α的角度,且正极片1、负极片2以及隔膜3在该剖面4处均裸露,以便于后续测量。
其中,至少需要进行测量的部分正极片1、部分负极片2、部分隔膜3在剖面4处裸露,不需进行测量的部分正极片1、部分负极片2、部分隔膜3可以在剖面4裸露或不裸露,由此,测量后的卷芯可以继续使用。
步骤S103:获取隔膜3的隔膜端面31与负极片2的负极片端面21之间沿剖面4的第一间距a,和/或,获取负极片2的负极片端面21与正极片1的正极片端面11之间沿所述剖面4的第二间距b。
具体地,参照图4,剖面4上的负极片2的剖切部分与负极片端面21形成第一交汇处,剖面4上的隔膜3的剖切部分与隔膜端面31形成第二交汇处,剖面4上的正极片1的剖切部分与正极片端面11形成第三交汇处,第一间距a例如是第一交汇处和第二交汇处之间的距离,第二间距b例如是第一交汇处和第三交汇处之间的距离。
步骤S104:根据第一间距a和夹角α,获取隔膜3的隔膜端面31与负极片2的负极片端面21之间沿垂直于卷芯端面5方向的第一宽度h1,和/或,根据第二间距b和夹角α,获取负极片2的负极片端面21与正极片1的正极片端面11之间沿垂直于卷芯端面5方向的第二宽度h2。
步骤S105:判断极片是否对齐,若第一宽度h1和第二宽度h2均满足极片宽度要求,则判断极片对齐度合格,若第一宽度h1和第二宽度h2中任意一个不符合极片宽度要求则判断极片对齐度不良。
其中,第一宽度h1为隔膜包负极的宽度,第二宽度h2为负极包正极的宽度,隔膜包负极的宽度为检测隔膜3与负极片2之间的隔膜对齐度的一种常用指标,与负极包正极的宽度为检测负极片2与正极片1之间的极片对齐度的一种常用指标。隔膜3与负极片2之间的隔膜对齐度和负极片2与正极片1之间的极片对齐度均合格时,卷芯极片的对齐度合格,否则卷芯极片对齐度不良。
通过切割卷芯形成剖面4的方式,能够在不采用光学设备的情况下,简单便捷的获取第一间距a、第二间距b以及剖面4与卷芯端面5形成的夹角α的角度值,之后可通过第一间距a、第二间距b以及夹角α的角度值获取第一宽度h1和第二宽度h2;相比于采用光学设备检测,本发明的检测方法有效的降低了检测成本;并且,相比于逐层拆解的检测方法,本发明的检测方法无需对卷芯进行拆解,仅需切割卷芯的一小部分结构,切割后卷芯仍可保持紧固,可极大的降低极片错位的风险。此外,本发明的检测方法获得结果较为准确,在需要对光学设备进行校准时,亦可采用本发明的检测方法获得的结果为基准辅助光学设备校准。
并且,现有采用的X-RAY、CT等光学设备不易分辨出隔膜3,使得光学设备会出现无法检测隔膜包负极宽度即第一宽度h1的情况,也就无法实现对隔膜对齐度的检测;本发明的检测方法可以简单便捷的获得第一宽度h1,从而简单便捷的实现对隔膜对齐度的检测。
步骤S101提供的卷芯结构可以为:卷芯中与卷芯端面5相对的一侧,正极片1、负极片2以及隔膜3齐平;而卷芯端面5一侧的正极片1、负极片2以及隔膜3相互交错,正极片1的正极片端面11内缩在相邻两个隔膜3形成的容纳空间中,负极片2的负极片端面21内缩在另外相邻两个隔膜3形成的容纳空间中;正极片端面11、负极片端面21与隔膜端面31相互平行。
在一些可选的实施方式中,卷芯还包括固化剂,固化剂包括但不限于是能够固化的绝缘树脂,固化剂固定包覆正极片1、负极片2以及隔膜3,通过固化剂使相邻的极片与隔膜3连接,以避免极片与隔膜3产生滑移。卷芯在被切割时,卷芯中的固化剂同时被切割,且切割后的极片和隔膜3部分通过未被切割移除的固化剂保持连接,避免卷芯被切割后极片与隔膜3产生滑移。
在一些可选的实施方式中,切割卷芯时采用美工刀、切片刀等切割刀手动进行切割。切割卷芯后形成的剖面4与卷芯端面5形成的夹角α的角度可以通过例如量角器等角度测量器具进行测量。
在又一些可选的实施方式中,切割卷芯时可采用切割设备进行切割,切割设备通过切割刀切割、激光切割等机械切割方式对卷芯进行切割;切割设备可采用具有预设定切割角度功能的设备,获取切割设备预先设置的切割角度,从而获得夹角α的角度;或切割设备采用不具有预设定切割角度功能的设备,切割设备切割卷芯后,通过例如量角器等角度测量器测量夹角α的角度。
剖面4的位置优选为位于卷芯端面5与卷芯侧面6的交界处,便于对卷芯进行切割,且可减小所需对卷芯切割的体积。
在一些可选的实施方式中,卷芯为方形卷芯或腰形卷芯或椭圆形卷芯,方形、腰形、椭圆形是指卷芯的横截面形状,剖面4与卷芯厚度方向平行。具体可以为,当卷芯为方向卷芯或腰形卷芯时,卷芯的侧面形成有平面部分,该平面部分与卷芯厚度方向垂直,剖面4优选与该平面部分垂直,便于第一间距a、第二间距b的测量,减小测量误差。当卷芯为椭圆形卷芯时,剖面4与一垂直于卷芯端面5,并与椭圆端面的椭圆轮廓线所对应的一对相距较远的焦点的连线相交的平面垂直,便于第一间距a、第二间距b的测量,减小测量误差。
在对卷芯进行切割时,存在如圆柱形卷芯等结构,不易对卷芯进行固定,为便于在卷芯切割过程中对卷芯进行固定,卷芯可采用夹具夹持固定,或采用树脂包裹卷芯,待树脂固定后使树脂形成一个便于固定的形状,例如方形结构,并且可在切割卷芯时将树脂一同进行切割。
夹角α的角度优选为15~75°,例如是20°、30°、40°、50°、60°、70°,以便于第一间距a和第二间距b的测量。原因在于,在相同起点进行切割时,若夹角α的角度过大,则会导致第一间距a和第二间距b的值较小,不利于测量;若夹角α的角度过小,则会导致剖面4较大,不便于切割。采用上述角度,则能够兼顾方便测量和便于切割这两方面的考虑。
进一步地,卷芯切割形成剖面4后,优选为使正极片1、负极片2以及隔膜3在剖面4处裸露,以便于对第一间距a和第二间距b的测量。
若极片未在剖面4处裸露,例如极片的端面内缩于剖面4,则在测量时无法在卷芯的外侧获得内缩于剖面4的极片端面位置,即无法准确测量该极片或包覆该极片的隔膜3的对齐度。为了实现对卷芯中所有极片和隔膜对齐度的检测,剖面4需要使所有的极片以及隔膜3在剖面4处裸露。例如当卷芯的截面为腰形结构时,卷芯端面5的两端则具有圆角结构,为了使该卷芯的所有极片和隔膜3在剖面4处裸露,剖面4在卷芯端面5上的投影至少需要覆盖卷芯端面5一端的圆角结构,原因在于,卷芯最内层的隔膜3或极片的边缘位置为卷芯端面5的圆角结构靠近卷芯内部的边缘位置附近;为了减少卷芯的切割量,剖面4可优选为在卷芯端面5上的投影面积等于或略大于卷芯端面5一端的圆角结构的面积。当卷芯的截面为圆形结构时,为了使该卷芯的所有极片和隔膜3在剖面4处裸露,剖面4在卷芯端面5上的投影面积至少为圆形截面面积的一半,原因在于,卷芯最内层的隔膜3或极片的边缘位置靠近圆形截面的圆心位置;为了减少卷芯的切割量,剖面4可优选为在卷芯端面5上的投影面积等于或略大于圆形截面面积的一半。对于其他截面形状的卷芯,剖面4在卷芯端面5上的投影面积均可设置为接近满足使所有的极片以及隔膜3在剖面4出裸露要求最低需求量,以减少卷芯的切割量,避免卷芯切割量过多影响卷芯的后续使用。
在一些可选的实施方式中,剖面4穿过部分正极片1、部分负极片2和部分隔膜3,例如正极片1、负极片2和隔膜3均被切割至少一部分,使得正极片1、负极片2以及隔膜3在剖面4处裸露。
在又一些可选的实施方式中,剖面4穿过部分隔膜3和部分负极片2,正极片1的正极片端面11的轮廓线的至少一部分位于剖面4内,例如负极片2与隔膜3遮挡正极片1的至少一部分被切割,使得正极片1的边缘部分能够在剖面4处裸露,而负极片2与隔膜3被切割的部分在剖面4处裸露;
当卷芯中极片数量较多时,也可以为剖面4穿过部分正极片1、部分负极片2和部分隔膜3,且部分正极片1的正极片端面11的轮廓线的至少一部分位于剖面4内,例如负极片2、隔膜3以及部分正极片1的至少一部分被切割,使得位于卷芯内侧的正极片1的边缘部分能够在剖面4处裸露;负极片2、隔膜3以及部分正极片1被切割的部位在剖面4处裸露。
在一些可选的实施方式中,卷芯中所有隔膜3的隔膜端面31均处于同一平面,且卷芯中所有负极片2的负极片端面21均处于同一平面;第一间距a可以为任意一个隔膜端面31与任意一个负极片端面21之间沿剖面4的间距。
在又一些可选的实施方式中,卷芯中多个隔膜3的隔膜端面31不处于同一平面,或多个负极片2的负极片端面21不处于同一平面;第一间距a为一个隔膜3的隔膜端面31与邻接于该隔膜3的负极片2的负极片端面21之间沿剖面4的间距。
测量不同隔膜3的隔膜端面31与邻接于该隔膜3的负极片2的负极片端面21之间沿剖面4的间距,可以得到多个不同数值的第一间距a。取其中一个第一间距a,根据该第一间距a和夹角α,可以获得该第一间距a对应的隔膜端面31和负极片端面21沿垂直于卷芯端面5方向的第一宽度h1。根据不同的第一间距a,可以得到不同的第一宽度h1。第一宽度h1即为隔膜3包负极的宽度。
第一宽度h1所对应的线段、第一间距a所对应的线段、以及平行于负极片端面21的直线的至少一部分能够围成三角形结构,且负极片端面21与隔膜端面31平行,第一宽度h1垂直于隔膜端面31,因此,第一宽度h1所对应的线段、第一间距a所对应的线段、以及平行于负极片端面21的直线的至少一部分能够围成直角三角形,且第一间距a所对应的线段与平行于负极片端面21的直线构成的夹角α’与夹角α形成同位角,因此,第一宽度h1能够通过如下公式计算:h1=a×sinα。
在一些可选的实施方式中,卷芯中所有负极片2的负极片端面21均处于同一平面,且卷芯中所有正极片1的正极片端面11均处于同一平面;第二间距b可以为任意一个负极片端面21与任意一个正极片端面11之间沿剖面4的间距。
在又一些可选的实施方式中,卷芯中多个负极片2的负极片端面21不处于同一平面,或多个正极片1的正极片端面11不处于同一平面;第二间距b为一个负极片2的负极片端面21与邻接于该负极片2的正极片1的正极片端面11之间沿剖面4的间距。
测量不同负极片2的负极片端面21与邻接于该负极片2的正极片1的正极片端面11之间沿剖面4的间距,可以得到多个不同数值的第二间距b。取其中一个第二间距b,根据该第二间距b和夹角α,可以获得该第二间距b对应的负极片端面21和正极片端面11沿垂直于卷芯端面5方向的第二宽度h2。根据不同的第二间距b,可以得到不同的第二宽度h2。第二宽度h2即为负极包正极的宽度。
第二宽度h2所对应的线段、第二间距b所对应的线段、以及平行于正极片端面11的直线的至少一部分能够围成三角形结构,且正极片端面11与隔膜端面31平行,第二宽度h2垂直于隔膜端面31,因此,第二宽度h2所对应的线段、第二间距b所对应的线段、以及平行于正极片端面11的直线的至少一部分能够围成直角三角形,且第二间距b所对应的线段与平行于正极片端面11的直线构成的夹角α’’与夹角α形成同位角,第二宽度h2能够通过如下公式计算:h2=b×sinα。
其中,第一间距a和第二间距b可以通过预先刻有刻度的测量器具,例如直尺、卡尺等进行测量,也可以通过影像测量仪进行测量。
判断极片是否对齐时,若多个第一宽度h1和多个第二宽度h2均满足极片宽度要求,则判断极片对齐度合格;若多个第一宽度h1中的任意一个和/或多个第二宽度h2中的任意一个不符合极片宽度要求,即任意一层极片或隔膜对齐度不良,则判断整个卷芯极片对齐度不良。
极片宽度要求根据电池类型的不同采用不同的标准,例如一般的动力电池的极片宽度要求是0.5~3.5mm;当0.5mm≤h1≤3.5mm,且0.5mm≤h2≤3.5mm时,极片对齐度合格;否则,极片对齐度不良;蓝牙耳机电池的极片宽度标准为0.1~0.5mm,当0.1mm≤h1≤0.5mm,且0.1mm≤h2≤0.5mm时,极片对齐度合格;否则,极片对齐度不良。
本发明的检测方法可以通过切割卷芯使卷芯每层极片均裸露,以实现对每层极片均进行检测;或切割卷芯使部分极片裸露,对裸露部分的极片进行检测;相比于现有采用光学设备进行检测的方式,避免了卷芯厚度过厚时,光学设备因无法完全穿透卷芯而影响测量精度的情况。此外,本发明的检测方法也可根据需要用于仅检测隔膜3与负极片2之间的隔膜对齐度,或仅检测负极片2与正极片1之间的极片对齐度。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下,在发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型,所有的这些改变都应该属于本发明权利要求的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种极片对齐度的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
提供卷芯,所述卷芯包括层叠的正极片(1)、负极片(2)以及隔膜(3),所述隔膜(3)位于所述正极片(1)和负极片(2)之间;
切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面(4),并获取所述剖面(4)与所述卷芯端面(5)形成的夹角α的角度,所述正极片(1)、负极片(2)以及隔膜(3)在所述剖面(4)处裸露;
获取所述隔膜(3)的隔膜端面(31)与所述负极片(2)的负极片端面(21)之间沿所述剖面(4)的第一间距a,和/或,获取所述负极片(2)的负极片端面(21)与所述正极片(1)的正极片端面(11)之间沿所述剖面(4)的第二间距b;
根据第一间距a和夹角α,获取所述隔膜(3)的隔膜端面(31)与所述负极片(2)的负极片端面(21)之间沿垂直于所述卷芯端面(5)方向的第一宽度h1,和/或,根据第二间距b和夹角α,获取所述负极片(2)的负极片端面(21)与所述正极片(1)的正极片端面(11)之间沿垂直于所述卷芯端面(5)方向的第二宽度h2;
若所述第一宽度h1或所述第二宽度h2不满足极片宽度要求,则判断极片对齐度不良,若所述第一宽度h1和所述第二宽度h2满足极片宽度要求,则判断极片对齐度合格。
2.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述剖面(4)位于所述卷芯端面(5)与卷芯侧面(6)的交界处,所述剖面(4)与卷芯端面(5)形成的夹角α的角度为15~75°。
3.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,当所述卷芯是方形卷芯或腰形卷芯或椭圆形卷芯时,所述剖面(4)与卷芯的厚度方向平行。
4.根据权利要求1至3任一项所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述剖面(4)穿过部分所述正极片(1)、部分负极片(2)和部分隔膜(3);
或所述剖面(4)穿过部分所述隔膜(3)和部分负极片(2),至少部分所述正极片(1)的正极片端面(11)的轮廓线的至少一部分位于所述剖面(4)内。
5.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,采用切割刀切割所述卷芯使所述卷芯形成剖面(4);采用角度测量器具测量剖面(4)与卷芯端面(5)形成的夹角α的角度。
6.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,采用预先刻有刻度的测量器具或影像测量仪测量所述第一间距a,和/或,测量所述第二间距b。
7.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述第一宽度h1根据以下公式进行计算:;
所述第二宽度h2根据以下公式进行计算:。
8.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述第一间距a为所述隔膜端面(31)以及与该隔膜端面(31)相邻的负极片端面(21)沿所述剖面(4)的间距,测量多组相邻的隔膜端面(31)与负极片端面(21),获得多个第一间距a;
所述第二间距b为所述负极片端面(21)以及与该负极片端面(21)相邻的正极片端面(11)沿所述剖面(4)的间距,测量多组相邻的负极片端面(21)与正极片端面(11),获得多个第二间距b;
根据多个第一间距a和夹角α,获得多个第一宽度h1;根据多个第二间距b和夹角α,获得多个第二宽度h2。
9.根据权利要求8所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括:判断极片是否对齐,若多个所述第一宽度h1和多个第二宽度h2均满足极片宽度要求,则判断极片对齐度合格,若多个所述第一宽度h1中的任意一个和/或多个第二宽度h2中任意一个不符合极片宽度要求则判断极片对齐度不良。
10.根据权利要求1所述的极片对齐度的检测方法,其特征在于,所述卷芯还包括固化剂,所述固化剂固定包覆所述正极片(1)、负极片(2)以及隔膜(3),切割所述卷芯时,同时切割所述固化剂。
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