CN116499336A - 一种尖轨磨耗测量尺及测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种尖轨磨耗测量尺及测量方法,涉及轨道测量领域,其包括:底座;测量尺,其包括沿X向设置的横尺、沿Y向设置的纵尺和沿Z向设置的竖尺,三者滑动连接;以及测头,其设置于所述横尺或所述纵尺或所述竖尺上,所述测头通过所述横尺、所述纵尺和所述竖尺沿X向、Y向或Z向移动。测量时只需将底板吸附在测量点附近,然后沿X向、Y向或Z向滑动测量尺就能很快且准确的将测头定位在测量点,在有滑床板的位置,可以跨过滑床板来完成测量,在有转辙机连杆的位置,可以避开连杆的同时完成测量任务,极大的增加了测量范围,省时省力。
Description
技术领域
本发明涉及轨道测量领域,特别涉及一种尖轨磨耗测量尺及测量方法。
背景技术
尖轨在使用中会受到车轮的冲击,因此尖轨很容易产生磨耗,当磨耗较大时会影响列车正常运行。因此需要测量铁路道岔尖轨的磨损程度。尖轨磨耗测量尺是用于测量尖轨侧面磨耗值、尖轨垂直磨耗值、尖轨降低值的专用设备。
相关技术中,尖轨磨耗测量尺是固定结构,无法移动,只能移动底座吸附的位置来改变测量点,在有滑床板的位置,二轴的测量结构无法移动,想测量尖轨不同位置,只能通过改变底板吸附在尖轨底部的位置来实现,但滑床板是密贴在尖轨底部的,在此处底板就无法吸附,就会导致滑床板上方的部分尖轨无法测量。在有转辙机连杆的位置,连杆会与二轴的把手或测量竖尺在空间上有干涉,导致在干涉位置处的尖轨无法测量。即使在没有障碍物的位置,想让测量尺准确的定位在测量点处,只能通过调整底板的位置来实现,但底板上内嵌有强力磁铁,想要调整底板的位置会非常费时费力。
发明内容
本发明实施例提供一种尖轨磨耗测量尺及测量方法,以解决相关技术中在干涉位置处的尖轨无法测量,调整底板的位置费时费力的问题。
第一方面,提供了一种尖轨磨耗测量尺,其包括:底座;测量尺,其包括沿X向设置的横尺、沿Y向设置的纵尺和沿Z向设置的竖尺,三者滑动连接;以及测头,其设置于所述横尺或所述纵尺或所述竖尺上,所述测头通过所述横尺、所述纵尺和所述竖尺沿X向、Y向或Z向移动。
一些实施例中,所述底座上安装有支杆,所述横尺固定于所述支杆,所述纵尺滑动安装于所述横尺,所述竖尺滑动安装于所述纵尺,所述测头设置于所述竖尺。
一些实施例中,所述纵尺上通过第一滑块安装有纵尺显示装置,所述第一滑块上设有第一归零刻线,所述纵尺上设有与所述第一归零刻线对应的纵尺归零刻线。
一些实施例中,所述纵尺显示装置上安装有第一紧定螺栓,所述第一紧定螺栓的轴线垂直于所述纵尺的侧面。
一些实施例中,所述竖尺上通过第二滑块安装有竖尺显示装置,所述第二滑块上设有第二归零刻线,所述竖尺上设有与所述第二归零刻线对应的竖尺归零刻线。
一些实施例中,所述竖尺显示装置上安装有第二紧定螺栓,所述第二紧定螺栓的轴线垂直于所述竖尺的侧面。
一些实施例中,所述底座靠近所述测量尺的一侧设有凹槽,所述凹槽内安装有磁铁。
第二方面,提供了一种尖轨磨耗测量尺的测量方法,其包括以下步骤:将底座吸附于尖轨底部;通过横尺、纵尺和竖尺驱动所述测头沿X向、Y向或Z向移动,测量尖轨降低值和尖轨侧面磨耗值。
一些实施例中,所述尖轨降低值的测量步骤包括:推动所述竖尺使竖尺归零刻线与第二归零刻线对准,将竖尺显示装置清零;推动所述纵尺,使所述竖尺位于尖轨上方,推动所述竖尺至所述测头接触尖轨顶面,此时所述竖尺显示装置的数据就是该位置的尖轨降低值。
一些实施例中,所述尖轨侧面磨耗值的测量步骤包括:推动所述竖尺使竖尺归零刻线与第二归零刻线对准,将竖尺显示装置清零;推动所述竖尺,观察所述竖尺显示装置直至所述竖尺下降16mm,利用第二紧定螺栓将所述竖尺锁紧;推动所述纵尺使纵尺归零刻线与第一归零刻线对准,将纵尺显示装置清零;移动所述纵尺至测量点,推动所述纵尺至所述测头接触到尖轨,记下纵尺显示装置的数据A;用同样的方法测量出新尖轨同样位置的数据B,该位置尖轨的侧面磨耗值即为A-B。
本发明提供的技术方案带来的有益效果包括:
本发明实施例提供了一种尖轨磨耗测量尺及测量方法,测量时只需将底板吸附在测量点附近,然后沿X向、Y向或Z向滑动测量尺就能很快且准确的将测头定位在测量点,在有滑床板的位置,可以跨过滑床板来完成测量,在有转辙机连杆的位置,可以避开连杆的同时完成测量任务,极大的增加了测量范围,省时省力。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的尖轨磨耗测量尺的整体结构示意图;
图2为本发明实施例提供的尖轨磨耗测量尺找零过程的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的标准钢轨17的截面结构示意图。
图中标号:
1、底座;2、横尺;3、纵尺;4、竖尺;5、测头;6、支杆;7、第一滑块;8、纵尺显示装置;9、第一归零刻线;10、纵尺归零刻线;11、第二滑块;12、竖尺显示装置;13、第二归零刻线;14、竖尺归零刻线;15、第一紧定螺栓;16、第二紧定螺栓;17、标准钢轨;18、磁铁。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种尖轨磨耗测量尺及测量方法,其能解决相关技术中在干涉位置处的尖轨无法测量,调整底板的位置费时费力的问题。
参见图1所示,为本发明实施例提供的一种尖轨磨耗测量尺,其可以包括:底座1,其为平板状,可安装于尖轨底部,用于设备定位;测量尺,其可以包括沿X向设置的横尺2、沿Y向设置的纵尺3和沿Z向设置的竖尺4,三者滑动连接,且三者相互垂直;以及测头5,其为L型,用于避开转辙机的连杆螺丝,方便对准测量点,测头5设置于所述横尺2或所述纵尺3或所述竖尺4上,所述测头5通过所述横尺2、所述纵尺3和所述竖尺4沿X向、Y向或Z向移动,本实施例中,通过在原有测量尺的基础上进行了改进,将测量部分改为滑动结构,使其可以沿尖轨的方向前后滑动,且滑动范围大于1/2滑床板的宽度,测量时只需将底座1吸附在测量点附近,然后沿X向、Y向或Z向滑动测量尺就能很快且准确的将测头5定位在测量点,吸附在滑床板左侧时可测量滑床板左侧上部尖轨的数据,吸附在右侧时可测量另一半的数据,且转辙机的连杆也可有效避开,因此可以测量整根尖轨任意位置的数据,极大的增加了测量范围,省时省力。
相关技术中,测量尺采用的分体式结构,连接部位使用圆柱凸起来定位,再用1个手拧螺丝压紧,在每次拆卸和装配的过程中,圆柱凸起是会有轻微磨损的,拆装达到一定次数后,由于磨损加大,就会出现装配不紧,尺身晃动的情况,极大的影响测量数据。本实施例中,测量尺采用整体式结构,各个连接处均采用螺丝配圆柱销的方式组装,十分牢固耐用,滑动测量尺加工时进行精磨,各个面平面度和垂直度不大于0.01mm,表面粗糙度不大于0.8μm,经过装配调试,保证各个零部件的相对位置均不超过0.02mm,最终设备的测量误差不超过0.05mm。
参见图1所示,在一些实施例中,所述底座1上可以安装有支杆6,所述横尺2可以固定于所述支杆6,所述纵尺3滑动安装于所述横尺2,所述竖尺4滑动安装于所述纵尺3,所述测头5设置于所述竖尺4,本实施例中,支杆6沿竖直方向延伸,支杆6可以是固定于底座1上,也可以是活动式安装于底座1上,支杆6通过T型连接件与横尺2连接,纵尺3可以沿横尺2也就是X方向滑动,纵尺3安装于第一滑块7上,纵尺3可以沿Y方向滑动,竖尺4安装于第二滑块11上,竖尺4可以沿Z方向滑动,测头5设置于竖尺4的下端,通过此种设置可以方便移动测头5,避免测量尺与尖轨或地面产生干涉。
在另一实施例中,也可以是按其他顺序安装横尺2、纵尺3和竖尺4,例如横尺2安装于纵尺3上,竖尺4安装于横尺2上,或竖尺4安装于横尺2上,纵尺3安装于竖尺4上等。
由于尖轨侧磨的测量方式是相对测量,通过两组数据的对比来得出结果,在测量前都要对测量尺的数据进行归零,相关技术中通过量块进行归零操作,如果误触了测量装置上的清零键,就要再次用量块做归零的操作,使用很不方便。因此,参见图1所示,在一些实施例中,所述纵尺3上通过第一滑块7安装有纵尺显示装置8,所述第一滑块7上设有第一归零刻线9,所述纵尺3上设有与所述第一归零刻线9对应的纵尺归零刻线10,本实施例中,纵尺3可以在第一滑块7内沿Y向滑动,纵尺显示装置8可以检测纵尺3移动的距离并显示数据,第一滑块7上设有游标片,游标片上设有第一归零刻线9,纵尺3上设置有对应的纵尺归零刻线10,通过对刻线位置进行精调,可以保证相同测量设备的数据一致性,便于在测量之前找零,测量更准确。
具体的,参见图2和图3所示,以60kg钢轨廓形为标准,纵尺3的上的纵尺归零刻线10与第一归零刻线9对齐时,纵尺3的左端面到底座1的竖直吸附面的距离为标准钢轨17顶面下16mm处到钢轨底部侧边的距离(39.52mm),刻线位置误差不超过0.05mm。
参见图1所示,在一些实施例中,所述纵尺显示装置8上安装有第一紧定螺栓15,所述第一紧定螺栓15的轴线垂直于所述纵尺3的侧面,本实施例中,第一紧定螺栓15用于当纵尺3移动到位后将纵尺3锁紧,避免纵尺3继续移动。
参见图1所示,在一些实施例中,所述竖尺4上通过第二滑块11安装有竖尺显示装置12,所述第二滑块11上设有第二归零刻线13,所述竖尺4上设有与所述第二归零刻线13对应的竖尺归零刻线14,本实施例中,竖尺4可以在第二滑块11内沿Z向滑动,竖尺显示装置12可以检测竖尺4移动的距离并显示数据,第二滑块11上设有游标片,游标片上设有第二归零刻线13,竖尺4上设置有对应的竖尺归零刻线14,通过对刻线位置进行精调,可以保证相同测量设备的数据一致性,便于在测量之前找零,测量更准确。
具体的,参见图2和图3所示,以60kg钢轨廓形为标准,竖尺4上的刻线对齐时,横尺2的底部测量面到底座1吸附面的距离为标准钢轨17的高度(176mm)。
参见图1所示,在一些实施例中,所述竖尺显示装置12上安装有第二紧定螺栓16,所述第二紧定螺栓16的轴线垂直于所述竖尺4的侧面,本实施例中,第二紧定螺栓16用于当竖尺4移动到位后将竖尺4锁紧,避免竖尺4继续移动。
参见图1所示,在一些实施例中,所述底座1靠近所述测量尺的一侧设有凹槽,所述凹槽内安装有磁铁18,本实施例中,通过将底座1利用磁铁18吸附于尖轨的底部,占用空间小,避免与尖轨或地面产生干涉,便于拆装。
参见图1和图2所示,为本发明实施例提供的一种尖轨磨耗测量尺的测量方法,其可以包括以下步骤:将底座1吸附于尖轨底部;通过横尺2、纵尺3和竖尺4驱动所述测头5沿X向、Y向或Z向移动,测量尖轨降低值和尖轨侧面磨耗值,测量时只需将底座1吸附在测量点附近,然后沿X向、Y向或Z向滑动测量尺就能很快且准确的将测头5定位在测量点可以测量整根尖轨任意位置的数据,极大的增加了测量范围,省时省力。
参见图1和图2所示,在一些实施例中,所述尖轨降低值的测量步骤可以包括:推动所述竖尺4使竖尺归零刻线14与第二归零刻线13对准,将竖尺显示装置12清零;推动所述纵尺3,使所述竖尺4位于尖轨上方,推动所述竖尺4至所述测头5接触尖轨顶面,此时所述竖尺显示装置12的数据就是该位置的尖轨降低值,本实施例中,通过增加零刻线,线宽0.15~0.2mm,可以对刻线位置进行精调,使用时将竖尺4尺身上刻线与对应游标片的刻线对齐,按下竖尺显示装置12上的ZREO键,可以保证相同测量设备的数据一致性,测量更准确,尺身自带零位刻线可以随时对数据清零,很好的避免了因为误触导致无法工作的情况。
尖轨降低值是指尖轨顶面与相邻的基本轨顶面的高度差。测量时,底座1吸附在尖轨底部,先向前推动纵尺3,使竖尺4位于基本轨上方,向下推动竖尺4接触基本轨顶面,按下竖尺显示装置12的清零键,再向后推动纵尺3,使竖尺4位于尖轨上方,向下推动竖尺4使测头5接触尖轨顶面,此时竖尺显示装置12的数据就是该位置的尖轨降低值。
参见图1和图2所示,在一些实施例中,所述尖轨侧面磨耗值的测量步骤可以包括:推动所述竖尺4使竖尺归零刻线14与第二归零刻线13对准,将竖尺显示装置12清零;推动所述竖尺4,观察所述竖尺显示装置12直至所述竖尺4下降16mm,利用第二紧定螺栓16将所述竖尺4锁紧;推动所述纵尺3使纵尺归零刻线10与第一归零刻线9对准,将纵尺显示装置8清零;移动所述纵尺3至测量点,推动所述纵尺3至所述测头5接触到尖轨,记下纵尺显示装置8的数据A;用同样的方法测量出新尖轨同样位置的数据B,该位置尖轨的侧面磨耗值即为A-B,本实施例中,通过增加零刻线,线宽0.15~0.2mm,可以对刻线位置进行精调,使用时将竖尺4尺身上刻线与对应游标片的刻线对齐,按下竖尺显示装置12上的ZREO键,将纵尺3尺身上刻线与对应游标片的刻线对齐,按下纵尺显示装置8上的ZREO键,然后开始测量,可以保证相同测量设备的数据一致性,测量更准确,尺身自带零位刻线可以随时对数据清零,很好的避免了因为误触导致无法工作的情况。
尖轨侧面磨耗值是一个相对值,测量点是基本轨下16mm处的尖轨侧面数据,是现在的数据与出厂时的数据的差值,因此需要进行两次测量,然后求差值。两次的测量位置必须相同。
测量时,确定测量点,底座1吸附在尖轨底部,先向前推动纵尺3,使竖尺4位于基本轨上方,向下推动竖尺4接触基本轨顶面,按下竖尺显示装置12的清零键,再向后推动纵尺3,使竖尺4离开基本轨上方,此时竖尺4就可以再向下推动,通过观察竖尺显示装置12来确定下降了16mm,然后用锁紧螺丝将尺身锁紧,此时测量点确定。
16mm确定好后,利用尺身上的定位刻线对纵尺显示装置8数据清零,然后开始测量,确定测量位置,如尖轨断面宽20mm处的侧面磨耗值,先把底座1吸附在测量点附近的尖轨底部,通过滑动纵尺3,将竖尺4移动到测量点,推动纵尺3,使测头5尖端接触到尖轨,记下纵尺3显示装置的数据A。用同样的方法测量出新尖轨同样位置的数据B,尖轨断面宽20mm处的侧面磨耗值即为A-B。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
需要说明的是,在本发明中,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅是本发明的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (10)
1.一种尖轨磨耗测量尺,其特征在于,其包括:
底座(1);
测量尺,其包括沿X向设置的横尺(2)、沿Y向设置的纵尺(3)和沿Z向设置的竖尺(4),三者滑动连接;
以及测头(5),其设置于所述横尺(2)或所述纵尺(3)或所述竖尺(4)上,所述测头(5)通过所述横尺(2)、所述纵尺(3)和所述竖尺(4)沿X向、Y向或Z向移动。
2.如权利要求1所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述底座(1)上安装有支杆(6),所述横尺(2)固定于所述支杆(6),所述纵尺(3)滑动安装于所述横尺(2),所述竖尺(4)滑动安装于所述纵尺(3),所述测头(5)设置于所述竖尺(4)。
3.如权利要求2所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述纵尺(3)上通过第一滑块(7)安装有纵尺显示装置(8),所述第一滑块(7)上设有第一归零刻线(9),所述纵尺(3)上设有与所述第一归零刻线(9)对应的纵尺归零刻线(10)。
4.如权利要求3所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述纵尺显示装置(8)上安装有第一紧定螺栓(15),所述第一紧定螺栓(15)的轴线垂直于所述纵尺(3)的侧面。
5.如权利要求2所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述竖尺(4)上通过第二滑块(11)安装有竖尺显示装置(12),所述第二滑块(11)上设有第二归零刻线(13),所述竖尺(4)上设有与所述第二归零刻线(13)对应的竖尺归零刻线(14)。
6.如权利要求5所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述竖尺显示装置(12)上安装有第二紧定螺栓(16),所述第二紧定螺栓(16)的轴线垂直于所述竖尺(4)的侧面。
7.如权利要求1所述的尖轨磨耗测量尺,其特征在于:
所述底座(1)靠近所述测量尺的一侧设有凹槽,所述凹槽内安装有磁铁(18)。
8.一种如权利要求1所述的尖轨磨耗测量尺的测量方法,其特征在于,其包括以下步骤:
将底座(1)吸附于尖轨底部;
通过横尺(2)、纵尺(3)和竖尺(4)驱动测头(5)沿X向、Y向或Z向移动,测量尖轨降低值和尖轨侧面磨耗值。
9.如权利要求8所述的测量方法,其特征在于,所述尖轨降低值的测量步骤包括:
推动所述竖尺(4)使竖尺归零刻线(14)与第二归零刻线(13)对准,将竖尺显示装置(12)清零;
推动所述纵尺(3),使所述竖尺(4)位于尖轨上方,推动所述竖尺(4)至所述测头(5)接触尖轨顶面,此时所述竖尺显示装置(12)的数据就是该位置的尖轨降低值。
10.如权利要求8所述的测量方法,其特征在于,所述尖轨侧面磨耗值的测量步骤包括:
推动所述竖尺(4)使竖尺归零刻线(14)与第二归零刻线(13)对准,将竖尺显示装置(12)清零;
推动所述竖尺(4),观察所述竖尺显示装置(12)直至所述竖尺(4)下降16mm,利用第二紧定螺栓(16)将所述竖尺(4)锁紧;
推动所述纵尺(3)使纵尺归零刻线(10)与第一归零刻线(9)对准,将纵尺显示装置(8)清零;
移动所述纵尺(3)至测量点,推动所述纵尺(3)至所述测头(5)接触到尖轨,记下纵尺显示装置(8)的数据A;
用同样的方法测量出新尖轨同样位置的数据B,该位置尖轨的侧面磨耗值即为A-B。
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2023
- 2023-04-28 CN CN202310479733.7A patent/CN116499336A/zh active Pending
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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