CN116385591B - 变化趋势图的显示方法、装置和设备 - Google Patents

变化趋势图的显示方法、装置和设备 Download PDF

Info

Publication number
CN116385591B
CN116385591B CN202310658603.XA CN202310658603A CN116385591B CN 116385591 B CN116385591 B CN 116385591B CN 202310658603 A CN202310658603 A CN 202310658603A CN 116385591 B CN116385591 B CN 116385591B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test items
target
failure rate
products
batches
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310658603.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN116385591A (zh
Inventor
蒋宏业
郑尊标
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hangzhou Chipwing Technology Co ltd
Original Assignee
Hangzhou Chipwing Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hangzhou Chipwing Technology Co ltd filed Critical Hangzhou Chipwing Technology Co ltd
Priority to CN202310658603.XA priority Critical patent/CN116385591B/zh
Publication of CN116385591A publication Critical patent/CN116385591A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116385591B publication Critical patent/CN116385591B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/002D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/20Drawing from basic elements, e.g. lines or circles
    • G06T11/206Drawing of charts or graphs
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Abstract

本申请提供了一种变化趋势图的显示方法、装置和设备,其中,该方法包括:根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项,对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。通过目标并集测试项,绘制出的失效率变化趋势图能够直观发现失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况,并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。

Description

变化趋势图的显示方法、装置和设备
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,具体而言,涉及一种变化趋势图的显示方法、装置和设备。
背景技术
半导体芯片在流片完成后,往往需要进行测试,一般包括晶圆出厂测试(WaferAcceptance Test, WAT)、晶圆探针测试(Chip Probing,CP)和封装成品的最终测试(FinalTest,FT)。其中,用于测试芯片的测试程序通常是由一系列的测试项组成,从各个方面对芯片进行充分检测,确认每颗芯片功能和性能是否符合标准。
目前,一种是将每批次芯片的所有测试项按失效率从高到低排列,截取前N(例如N=5)个测试项,另一种是绘制帕累托(Pareto)图,截取累计失效率N(例如N=90%)内所包含的测试项,然后将所有批次的Top-N失效项按批次的时间先后排列,查看失效项变化趋势。
然而,上述方式均需要人工比对每个批次的失效项和失效率,非常不直观,并且随着批次数量的增加,人工比对将会变得更加困难,也容易遗漏关键信息。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了一种变化趋势图的显示方法、装置和设备,以解决人工比对每个批次的失效项和失效率,非常不直观,并且随着批次数量的增加,人工比对将会变得更加困难,也容易遗漏关键信息的问题。
第一方面,本申请实施例提供了一种变化趋势图的显示方法,包括:
根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项;
对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项;
根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图之前,所述方法还包括:
根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果,确定所述多个目标并集测试项的显示顺序;
所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图,包括:
按照所述显示顺序,根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,包括:
获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数;
根据所述中位数,对所述多个测试项进行排序,得到所述多个测试项的第一排序结果。
在一可选的实施方式中,所述根据所述中位数,对所述多个测试项进行排序,得到所述多个测试项的第一排序结果,包括:
若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率;
根据所述平均失效率,确定所述至少两个测试项的排序;
根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序,对所述多个测试项进行排序,得到第一排序结果。
在一可选的实施方式中,所述方法还包括:
根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对所述多个目标测试项进行排序,得到所述多个目标测试项的第二排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果;
根据所述显示顺序,根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述第一排序结果包括:第一排序号,所述第二排序结果包括:第二排序号;
所述根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果,包括:
根据所述多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号,和所述对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定所述对应各目标测试项的排序相对变化结果。
在一可选的实施方式中,所述失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图,各目标并集测试项对应一个柱体,所述各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度,所述方法还包括:
若所述失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,则根据所述失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定所述柱体的柱体高度,并重新绘制所述柱体。
在一可选的实施方式中,所述方法还包括:
按照预设排列结构,根据所述失效率变化趋势图和所述失效率排序变化趋势图,生成失效率整体趋势图。
第二方面,本申请实施例还提供了一种变化趋势图的显示装置,包括:
确定模块,用于根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项;
处理模块,用于对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项;
显示模块,用于根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述处理模块,还用于:
根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果;
所述确定模块,还用于根据所述多个测试项的第一排序结果,确定所述多个目标并集测试项的显示顺序;
所述显示模块,具体用于按照所述显示顺序,根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述处理模块,具体用于:
获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数;
根据所述中位数,对所述多个测试项进行排序,得到所述多个测试项的第一排序结果。
在一可选的实施方式中,所述处理模块,具体用于:
若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率;
根据所述平均失效率,确定所述至少两个测试项的排序;
根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序,对所述多个测试项进行排序,得到第一排序结果。
在一可选的实施方式中,所述处理模块,还用于:
根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对所述多个目标测试项进行排序,得到所述多个目标测试项的第二排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果;
根据所述显示顺序,根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
在一可选的实施方式中,所述第一排序结果包括:第一排序号,所述第二排序结果包括:第二排序号;所述确定模块,具体用于:
根据所述多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号,和所述对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定所述对应各目标测试项的排序相对变化结果。
在一可选的实施方式中,所述失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图,各目标并集测试项对应一个柱体,所述各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度,所述确定模块,还用于:
若所述失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,则根据所述失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定所述柱体的柱体高度,并重新绘制所述柱体。
在一可选的实施方式中,所述处理模块,还用于:
按照预设排列结构,根据所述失效率变化趋势图和所述失效率排序变化趋势图,生成失效率整体趋势图。
第三方面,本申请实施例还提供了一种电子设备,包括:处理器、存储器和总线,所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,所述处理器与所述存储器之间通过总线通信,所述处理器执行所述机器可读指令,以执行第一方面任一项所述的变化趋势图的显示方法。
第四方面,本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行第一方面任一项所述的变化趋势图的显示方法。
本申请提供了一种变化趋势图的显示方法、装置和设备,其中,该方法包括:根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项,对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。通过目标并集测试项,绘制出的失效率变化趋势图能够直观发现失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况,并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图一;
图2为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图二;
图3为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图三;
图4为本申请实施例提供的变化趋势柱状图的示意图;
图5为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图四;
图6为本申请实施例提供的失效率排序变化趋势柱状图的示意图;
图7为本申请实施例提供的失效率整体趋势图的示意图;
图8为本申请实施例提供的变化趋势图的显示装置的结构示意图;
图9为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
对某一个具体的芯片产品而言,在芯片制造工艺相对稳定的情况下,其Top-N失效的测试项(简称失效项)的构成和排序也相对稳定。如果某一批次的产品Top-N失效项发生较大的变化,即使其总体良率没有大的波动,但可能制造工艺的某些方面也已经发生变化了,所以,芯片设计公司都非常重视对芯片Top-N失效项进行分析,及时发现芯片在设计和生产工艺上存在的问题,从而防范于未然,也能帮助设计人员和工厂改善芯片的性能和良率。
目前计算TOP-N失效项变化趋势的方法通常是将每批次芯片的所有测试项按失效率从高到低排列,截取前N(例如N=5)个测试项;还有一种方法是绘制帕累托(Pareto)图,截取累计失效率N(例如N=90%)内所包含的测试项。然后将所有批次的Top-N失效项按批次的时间先后排列,查看失效项变化趋势。
对于失效项变化趋势,传统的显示方式是将Top-N失效项按批次的时间先后绘制成表格,进行分析。以某个芯片Top 5的失效项为例,表1为绘制的Top-N失效项变化趋势表,如表1所示,共有15批次芯片,各批次选取失效率在Top 5的测试项,以批次1为例,失效率排名前5的测试项分别是测试项3(失效率2.24%)、测试项2(失效率2.22%)、测试项5(失效率1.00%)、测试项8(失效率0.95%)、测试项7(失效率0.19%)。
表1
以芯片累计失效率为90%为例,表2为绘制的Top-N失效项变化趋势表,如表2所示,以批次1为例,累计失效率为90%下,共有6个测试项,分别是测试项3(失效率2.24%)、测试项2(失效率2.22%)、测试项5(失效率1.00%)、测试项8(失效率0.95%)、测试项16(失效率0.01%)。
表2
然而,这两种方法都需要人工比对每个批次的失效项和失效率,非常不直观,随着批次数量的增加,人工比对将会变得更加困难,例如测试项8的变化趋势;也很容易遗漏关键信息,例如从批次13开始突然冒出来的测试项20。
另外,还有一种显示方法是绘制堆叠柱状图,将每个批次的Top-N失效项按失效率叠成一根柱子,但这种方法的缺点是当柱子堆叠太多时同样会导致数据很难区分对比,同时很难对比不同批次下同一个失效项的数据,因为它们不是按照同一基准线对齐的。
基于此,为了解决现有的Top-N失效项变化趋势显示不直观,容易遗漏关键信息的问题,本申请提供了一种变化趋势图的显示方法,通过求并集操作得到多个目标并集测试项,并根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。通过目标并集测试项,绘制出的失效率变化趋势图能够直观发现失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况,并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。
下面结合几个具体实施例对本申请提供的变化趋势图的显示方法进行说明。
图1为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图一,本实施例的执行主体可以为电子设备,如终端、服务器等。
如图1所示,该方法可以包括:
S101、根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项。
其中,多个批次产品可以为多个批次的芯片,在对各批次产品执行多个测试项的测试后,可得到各批次产品在多个测试项的失效率。
根据各批次产品在多个测试项的失效率,可从多个测试项中确定各批次产品的多个目标测试项,其中,针对各批次产品,将多个测试项的失效率从高到低排列,截取前N个测试项为多个目标测试项,N例如可以为5。
在另一实现方式中,还可以截取累计失效率为预设累计失效率内所包含的测试项为多个目标测试项,预设累计失效率例如可以为90%,其中,可以计算多个测试项的总失效率,计算各测试项的失效率与总失效率的比值,按照多个测试项的失效率从高到低排列,累加测试项的比值,将达到预设累计失效率的比值所包含的测试项作为多个目标测试项。
S102、对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项。
对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项,即针对多个批次产品,确定TOP-N失效项的并集,以表2为例,多个目标并集测试项为测试项3、测试项2、测试项5、测试项8、测试项7、测试项16、测试项20、测试项9。
S103、根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
其中,以批次为分组、目标并集测试项为分类,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图,也就是说,对于每个批次产品,分别绘制多个目标并集测试项的失效率,得到失效率变化趋势图。
失效率变化趋势图可以为失效率变化趋势柱状图,以批次为分组、目标并集测试项为分类,柱体高度对应失效率,绘制失效率变化趋势图,其中,每个分组中柱体可以使用不同样式进行区分,包括但不限于采用颜色或填充方式,以更加直观查看失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况、对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。
在本实施例的变化趋势图的显示方法中,根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项,对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。采用目标并集测试项的失效率绘制失效率变化趋势图能够直观发现失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况,并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。
图2为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图二,如图2所示,在一可选的实施方式中,步骤S103,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图之前,该方法还可以包括:
S201、根据多个测试项在多个批次产品的失效率,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果。
其中,多个测试项的第一排序结果为多个测试项的排序结果,第一排序结果用于指示对于失效率而言,各测试项相对于多个测试项的排序情况。
根据各测试项在多个批次产品的失效率可以计算各测试项的平均失效率,并根据平均失效率,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果。其中,可以按照从高到低排序,也可以按照从低到高排序,本实施例对排序方式不做特别限定。
S202、根据多个测试项的第一排序结果,确定多个目标并集测试项的显示顺序。
根据多个测试项的第一排序结果,可以确定各目标并集测试项的排序结果,根据各目标并集测试项的排序结果,确定各目标并集测试项的显示顺序,其中,排序越靠前,显示顺序可以越靠前,或者排序越靠前,显示顺序越靠后,本实施例对此不做特别限定。
例如,多个测试项包括:测试项3、测试项8、测试项2、测试项9、测试项5、测试项7、测试项12、测试项6、测试项13、测试项4、测试项10、测试项20、测试项16、测试项11、测试项17、测试项15、测试项14、测试项18、测试项19、测试项1022,根据多个测试项在多个批次产品的失效率,得到多个测试项的平均失效率,根据平均失效率,按照从高到低排序,得到多个测试项的排序结果,然后根据该排序结果中多个目标并集测试项的排序结果,确定多个目标并集测试项的显示顺序。
相应地,步骤S103,根据多个测试项的第一排序结果,确定多个目标并集测试项的显示顺序,可以包括:
S203、按照显示顺序,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
以批次为分组、目标并集测试项为分类,在各分组中,按照多个目标并集测试项的显示顺序,根据各批次产品在多个目标并集测试项的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图,如此,在多个批次产品的多个分组中,保证了同一目标并集测试项的失效率显示顺序一致。
其中,失效率变化趋势图可以为失效率变化趋势柱状图,也就是说,在每个分组中,柱体以先后顺序区别各目标并集测试项,其中,各分组之间还可以保持一定间隔,以便于直观查看。
在本实施例的变化区域趋势图中,按照显示顺序,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。从而保证各批次分组中多个目标并集测试项的显示顺序一致,进一步有利于直观查看失效率有突变的测试项、测试项增加或减少的情况、对比同一测试项在不同批次间的变化趋势。
图3为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图三,如图3所示,在一可选的实施方式中,步骤S202,根据多个测试项在多个批次产品的失效率,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,可以包括:
S301、获取各测试项在多个批次产品的失效率的中位数。
获取各测试项在多个批次产品的失效率的中位数,其中,一个测试项对应一个中位数,可以将各测试项在多个批次产品的失效率进行排序,然后确定各测试项的失效率的中位数。
S302、根据中位数,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果。
根据中位数,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,其中,可以按照中位数从高到低,对多个测试项进行排序,也可以按照中位数从低到高,对多个测试项进行排序,本实施例对此不做特别限定。
然后,根据第一排序结果中多个目标并集测试项的排序,确定多个目标并集测试项的显示顺序,例如,按照中位数从高到低排序,这样可按照多个目标并集测试项的显示顺序,根据各批次产品在多个目标并集测试项的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
在本实施例的变化趋势图的显示方法中,中位数能够代表样本水平,即目标并集测试项的失效率水平,采用中位数对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,在后续绘制显示失效率变化趋势图时,可按照该第一排序结果确定目标并集测试项的显示顺序,从而在显示TOP-N失效项时,能优先显示失效率水平较高的目标并集测试项。
在一可选的实施方式中,步骤S302,根据中位数,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,可以包括:
若多个并集测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则分别获取至少两个测试项在多个批次产品的平均失效率;根据平均失效率,确定至少两个测试项的排序;根据中位数和至少两个测试项的排序,对多个测试项进行排序,得到第一排序结果。
表3为根据中位数排序得到的排序结果,如表3所示,根据中位数,从高到低对多个测试项排序,以测试项3为例,中位数为2.35%。
表3
若多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则获取各测试项在多个批次产品的平均失效率,然后,根据平均失效率,确定至少两个测试项的排序,即中位数相等的至少两个测试项的排序,再根据多个测试项的中位数和至少两个测试项的排序,对多个测试项进行排序,得到第一排序结果,其中,可根据多个测试项的中位数对多个测试项排序,对于中位数相等的至少两个测试项可根据平均失效率确定。
参见表3,测试项11和测试项17的中位数相等,则分别计算测试项11和测试项17在多个批次产品的平均失效率,并根据中位数和平均失效率,对多个测试项进行排序。
表4为根据多个测试项的平均失效率,如表4所示,以测试项3为例,平均失效率为2.553%。
表4
表5为根据中位数和测试项11和测试项17的排序得到的第一排序结果,如表5所示,根据表4中测试项11和测试项17的排序,对表3中测试项11和测试项17的位置交换。
表5
然后,根据第一排序结果,确定多个目标并集测试项的显示顺序,分别为测试项3、测试项8、测试项2、测试项9、测试项5、测试项7、测试项20、测试项16。
在一些实施例中,还可以绘制TOP-N失效率变化趋势表格,表6为TOP-N失效率变化趋势表,如表6所示,行是排序后的目标并集测试项,列是按时间先后排序的批次,然后将各批次产品的失效率分别填入表格中,其余单元格留空。另外,行和列也可以互换。
表6
在表6的基础上,以批次1、批次2、批次3为例,图4为本申请实施例提供的变化趋势柱状图的示意图,如图4所示,很容易发现失效率有突变的项目,如批次3的测试项3;也很容易发现失效测试项增加或减少的情况,如批次1、2和3都缺少测试项9;也比较容易比对同一测试项在不同批次间的变化趋势,如测试项8,当然,图4未展示的批次14的测试项9也存在失效率突变。
在本实施例的变化趋势图的显示方法中,平均失效率能够代表样本平均水平,在存在中位数相等的至少两个测试项时,结合平均失效率对多个测试项进行排序,从而能够对目标并集测试项进行排序,区分目标并集测试项的显示顺序,在显示TOP-N失效项时,能优先显示失效率水平和平均水平较高的目标并集测试项。
其中,失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图,各目标并集测试项对应一个柱体,各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度,该方法还可以包括:
若失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,则根据失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定柱体的柱体高度,并重新绘制柱体。
其中,失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度为多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率中的最大失效率。
若失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,说明该柱体很低,导致很难被肉眼发现,则可以根据失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定该柱体的柱体高度,并重新绘制柱体。其中,重新确定柱体高度X例如可以为最大柱体高度×1/Y,Y可取值10~100之间,例如可以为50。
值得说明的是,由于最大柱体高度决定了失效率变化趋势柱状图的展示倍数,因此,以最大柱体高度为基准,重新确定该柱体的柱体高度能够有效提高该柱体的柱体高度,使得该柱体也能被及时发现,避免高度太小而被遗漏。
如图4所示,批次1的测试项16,由于失效率较小,柱子很低,导致很难被肉眼发现,可以增加至最低高度限。
图5为本申请实施例提供的变化趋势图的显示方法的流程示意图四,如图5所示,该方法还可以包括:
S401、根据多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对多个目标测试项进行排序,得到多个目标测试项的第二排序结果。
针对各批次产品,对应有多个目标测试项,根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对多个目标测试项进行排序,得到多个目标测试项的第二排序结果,其中,可以按照失效率从高到低排序,排序靠前的排序号越小,排序靠后的排序号越大,当前,也可以按照失效率从低到高排序,排序靠前的排序号越大,排序靠后的排序号越小。
值得说明的是,第二排序结果用于指示从各批次产品来看,各目标测试项在各批次产品的多个目标测试项中失效率的排序情况。
在表6的基础上,表7为第二排序结果,如表7所示,以批次1为例,批次1的多个目标测试项包括:测试项3、测试项8、测试项2、测试项5、测试项7、测试项16,其中,测试项3的失效率最高,排序号为1,其次是测试项2,排序号为2,接着分别是测试项5、测试项8、测试项7、测试项6。
/>
表7
S402、根据多个测试项的第一排序结果和多个目标测试项的第二排序结果,确定多个目标测试项的排序相对变化结果。
根据多个测试项的第一排序结果,可以确定多个目标并集测试项的第一排序结果,多个测试项包括对应多个目标测试项,目标测试项的第一排序结果用于指示从多个目标测试项整体上来看,各目标测试项的失效率的排序情况。
根据各目标测试项的第一排序结果和各目标测试项的第二排序结果,可以确定各目标测试项的排序相对变化结果,排序相对变化结果用于指示各批次产品中各目标测试项的排序相对于该目标测试项的整体排序、在失效率上的变化情况,例如,相对于该目标测试项的整体排序而言排序上升一位或排序下降一位。
参见表5,表5为第一排序结果,在表5的基础上,类似地,可以按照失效率从高到低排序,排序靠前的排序号越小,排序靠后的排序号越大,表8为第一排序结果的排序号,如表8所示,排序号为1-20。
表8
在一可选的实施方式中,第一排序结果包括:第一排序号,第二排序结果包括:第二排序号;步骤S402,根据多个测试项的第一排序结果和多个目标测试项的第二排序结果,确定多个目标测试项的排序相对变化结果,可以包括:
根据多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号,和对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定对应各目标测试项的排序相对变化结果。
根据对应各目标测试项的第一排序号,和对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定对应各目标测试项的排序相对变化结果,即,采用对应各目标测试项的第一排序号减去第二排序号,得到排序相对变化结果。
表9为排序相对变化结果,如表9所示,将表8中的对应第一排序号减去表7中对应的第二排序号,得到排序相对变化结果,以批次1的测试项3为例,表8中的测试项3的第一排序号为1,表7中测试项3的第一排序号为1,则表9中测试项3的排序相对变化结果为1-1=0。
表9
S403、按照显示顺序,根据多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
以批次为分组、目标测试项为分类,在各分组中,按照多个目标并集测试项的显示顺序,根据各批次产品的多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率变化趋势图,如此,在多个批次产品的多个分组中,保证了同一目标测试项的排序相对变化结果显示顺序一致。
其中,失效率排序变化趋势图可以为失效率排序变化趋势柱状图,也就是说,在每个分组中,柱体以先后顺序区别各目标测试项,柱体高度对应排序相对上升或下降的数值,其中,各分组之间还可以保持一定间隔,以便于直观查看。
以批次1、批次2、批次3为例,图6为本申请实施例提供的失效率排序变化趋势柱状图的示意图,如图6所示,很容易发现批次中各目标测试项排名相对于整体数据的变化情况,数值为正,排名上升,数值为负,排名下降;也很容易发现排名有突变的测试项,如批次1的测试项16,图4中失效率0.01%,很容易被忽视,但是在排名变化图中,它上升了7个名次,很容易被识别出来。当然,图6未展示的测试项20,在后面3个批次中突然冒出。
值得说明的是,以失效率从高到低排序,排序靠前的排序号越小,排序靠后的排序号越大为例,数值为正可以理解为整体的排序号大于批次中的排序号,即批次中的排序号小(即排名上升),测试项的失效率越大;数值为负可以理解为整体的排序号小于批次中的排序号,即批次中的排序号大(即排名下降),测试项的失效率越小。
在一些实施例中,该方法还可以包括:按照预设排列结构,根据失效率变化趋势图和失效率排序变化趋势图,生成失效率整体趋势图。
预设排列结构可以为上下排列结构,即失效率变化趋势图和失效率排序变化趋势图为上下排序显示,横坐标上的各批次产品对应的分组一一对齐,以生成一个失效率整体趋势图,这样可以更加直观地查看失效率变化趋势和失效率排序变化趋势。
图7为本申请实施例提供的失效率整体趋势图的示意图,如图7所示,失效率整体趋势图包括按照上下排列结构显示的失效率变化趋势图和失效率排序变化趋势图,且各分组一一对齐整,便于直观查看各批次产品的失效率变化趋势以及失效率排序变化区域。
在本实施例的变化趋势图的显示方法中,根据多个批次产品的多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图,能够直观发现各批次的测试项排名相对于整体数据的变化情况,直观发现失效率变化情况有突变的测试项的情况,并且还容易对比同一测试项在不同批次间的变化趋势,避免遗漏关键信息。
基于同一发明构思,本申请实施例中还提供了与变化趋势图的显示方法对应的变化趋势图的显示装置,由于本申请实施例中的装置解决问题的原理与本申请实施例上述变化趋势图的显示方法相似,因此装置的实施可以参见方法的实施,重复之处不再赘述。
图8为本申请实施例的变化趋势图的显示装置的结构示意图,该装置可以集成在电子设备中。
如图8所示,该装置可以包括:
确定模块501,用于根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项;
处理模块502,用于对多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项;
显示模块503,用于根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,处理模块502,还用于:
根据多个测试项在多个批次产品的失效率,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果;
确定模块501,还用于根据多个测试项的第一排序结果,确定多个目标并集测试项的显示顺序;
显示模块503,具体用于按照显示顺序,根据多个目标并集测试项在多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图。
在一可选的实施方式中,处理模块502,具体用于:
获取各测试项在多个批次产品的失效率的中位数;
根据中位数,对多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果。
在一可选的实施方式中,处理模块502,具体用于:
若多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则分别获取至少两个测试项在多个批次产品的平均失效率;
根据平均失效率,确定至少两个测试项的排序;
根据中位数和至少两个测试项的排序,对多个测试项进行排序,得到第一排序结果。
在一可选的实施方式中,处理模块502,还用于:
根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对多个目标测试项进行排序,得到多个目标测试项的第二排序结果;
根据多个测试项的第一排序结果和多个目标测试项的第二排序结果,确定多个目标测试项的排序相对变化结果;
根据显示顺序,根据多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
在一可选的实施方式中,第一排序结果包括:第一排序号,第二排序结果包括:第二排序号;确定模块501,具体用于:
根据多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号,和对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定对应各目标测试项的排序相对变化结果。
在一可选的实施方式中,失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图,各目标并集测试项对应一个柱体,各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度,确定模块501,还用于:
若失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,则根据失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定柱体的柱体高度,并重新绘制柱体。
在一可选的实施方式中,处理模块502,还用于:
按照预设排列结构,根据失效率变化趋势图和失效率排序变化趋势图,生成失效率整体趋势图。
关于装置中的各模块的处理流程、以及各模块之间的交互流程的描述可以参照上述方法实施例中的相关说明,这里不再详述。
图9为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图,如图9所示,该设备可以包括:处理器601、存储器602和总线603,存储器602存储有处理器601可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,处理器601与存储器602之间通过总线603通信,处理器601执行机器可读指令,以执行上述方法。
本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器运行时执行,所述处理器执行上述方法。
在本申请实施例中,该计算机程序被处理器运行时还可以执行其它机器可读指令,以执行如实施例中其它所述的方法,关于具体执行的方法步骤和原理参见实施例的说明,在此不再详细赘述。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请提供的实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释,此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本申请的具体实施方式,用以说明本申请的技术方案,而非对其限制,本申请的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围。都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种变化趋势图的显示方法,其特征在于,包括:
根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项;
对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项;
根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图;
所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图之前,所述方法还包括:
根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果,确定所述多个目标并集测试项的显示顺序;
所述根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示失效率变化趋势图,包括:
按照所述显示顺序,根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图;
所述方法还包括:
根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对所述多个目标测试项进行排序,得到所述多个目标测试项的第二排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果;
按照所述显示顺序,根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果,包括:
获取各测试项在所述多个批次产品的失效率的中位数;
根据所述中位数,对所述多个测试项进行排序,得到所述多个测试项的第一排序结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述中位数,对所述多个测试项进行排序,得到所述多个测试项的第一排序结果,包括:
若所述多个测试项中存在中位数相等的至少两个测试项,则分别获取所述至少两个测试项在所述多个批次产品的平均失效率;
根据所述平均失效率,确定所述至少两个测试项的排序;
根据所述中位数和所述至少两个测试项的排序,对所述多个测试项进行排序,得到第一排序结果。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一排序结果包括:第一排序号,所述第二排序结果包括:第二排序号;
所述根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果,包括:
根据所述多个测试项中对应各目标测试项的第一排序号,和所述对应各目标测试项的第二排序号的差值,确定所述对应各目标测试项的排序相对变化结果。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述失效率变化趋势图为失效率变化趋势柱状图,各目标并集测试项对应一个柱体,所述各目标并集测试项的失效率对应一个柱体高度,所述方法还包括:
若所述失效率变化趋势柱状图中存在柱体高度低于预设高度阈值的柱体,则根据所述失效率变化趋势柱状图中的最大柱体高度,重新确定所述柱体的柱体高度,并重新绘制所述柱体。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
按照预设排列结构,根据所述失效率变化趋势图和所述失效率排序变化趋势图,生成失效率整体趋势图。
7.一种变化趋势图的显示装置,其特征在于,包括:
确定模块,用于根据多个测试项在多个批次产品的失效率,从所述多个测试项中确定对应批次产品的多个目标测试项;
处理模块,用于对所述多个批次产品的多个目标测试项进行求并集操作,得到多个目标并集测试项;
显示模块,用于根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图;
所述处理模块,还用于:
根据所述多个测试项在所述多个批次产品的失效率,对所述多个测试项进行排序,得到多个测试项的第一排序结果;
所述确定模块,还用于根据所述多个测试项的第一排序结果,确定所述多个目标并集测试项的显示顺序;
所述显示模块,具体用于按照所述显示顺序,根据所述多个目标并集测试项在所述多个批次产品的失效率,绘制并显示所述失效率变化趋势图;
所述处理模块,还用于:
根据所述多个目标测试项在对应批次产品的失效率,对所述多个目标测试项进行排序,得到所述多个目标测试项的第二排序结果;
根据所述多个测试项的第一排序结果和所述多个目标测试项的第二排序结果,确定所述多个目标测试项的排序相对变化结果;
按照所述显示顺序,根据所述多个目标测试项的排序相对变化结果,绘制并显示失效率排序变化趋势图。
8.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、存储器和总线,所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,所述处理器与所述存储器之间通过总线通信,所述处理器执行所述机器可读指令,以执行权利要求1至6任一项所述的变化趋势图的显示方法。
CN202310658603.XA 2023-06-06 2023-06-06 变化趋势图的显示方法、装置和设备 Active CN116385591B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310658603.XA CN116385591B (zh) 2023-06-06 2023-06-06 变化趋势图的显示方法、装置和设备

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310658603.XA CN116385591B (zh) 2023-06-06 2023-06-06 变化趋势图的显示方法、装置和设备

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116385591A CN116385591A (zh) 2023-07-04
CN116385591B true CN116385591B (zh) 2023-08-15

Family

ID=86967923

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310658603.XA Active CN116385591B (zh) 2023-06-06 2023-06-06 变化趋势图的显示方法、装置和设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116385591B (zh)

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2327363A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-01 Medison Co., Ltd. Ultrasound system and method for providing change trend image
CN102707225A (zh) * 2012-06-21 2012-10-03 上海华岭集成电路技术股份有限公司 集成电路测试优化方法及其测试装置
CN104268572A (zh) * 2014-09-23 2015-01-07 南京大学 面向后台多源数据的特征提取和特征选择方法
CN107358179A (zh) * 2017-06-27 2017-11-17 上海爱优威软件开发有限公司 一种基于虹膜验证的生活管理系统、媒质和方法
CN110716500A (zh) * 2019-11-18 2020-01-21 重庆理工大学 用于确定温度敏感区间分段建模点的方法与系统
CN110828017A (zh) * 2019-10-22 2020-02-21 岭澳核电有限公司 核电站的信息处理方法及核电站的信息处理系统
CN111209734A (zh) * 2020-01-13 2020-05-29 浙江蓝鸽科技有限公司 试题去重方法及其系统
CN111751702A (zh) * 2020-05-28 2020-10-09 杭州芯讯科技有限公司 集成电路测试方法与系统
CN112069567A (zh) * 2020-08-07 2020-12-11 湖北交投十巫高速公路有限公司 基于随机森林和智能算法预测混凝土抗压强度的方法
CN112116480A (zh) * 2019-06-20 2020-12-22 财付通支付科技有限公司 虚拟资源确定方法、装置、计算机设备及存储介质
CN112378597A (zh) * 2020-10-28 2021-02-19 东软睿驰汽车技术(沈阳)有限公司 电池包测试分析方法、装置及系统
CN114064764A (zh) * 2021-11-16 2022-02-18 杭州承前医数科技有限公司 一种医疗多数据展示方法、系统、装置及存储介质
CN114398140A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 深圳市鼎阳科技股份有限公司 趋势图的动态生成方法、电子测量设备和存储介质
CN114397985A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 杭州广立微电子股份有限公司 一种晶圆良率数据的处理方法及装置
CN116008787A (zh) * 2023-01-13 2023-04-25 长鑫存储技术有限公司 待测器件dut异常识别方法、装置及设备

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20110320715A1 (en) * 2010-06-23 2011-12-29 Microsoft Corporation Identifying trending content items using content item histograms

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2327363A1 (en) * 2009-11-30 2011-06-01 Medison Co., Ltd. Ultrasound system and method for providing change trend image
CN102707225A (zh) * 2012-06-21 2012-10-03 上海华岭集成电路技术股份有限公司 集成电路测试优化方法及其测试装置
CN104268572A (zh) * 2014-09-23 2015-01-07 南京大学 面向后台多源数据的特征提取和特征选择方法
CN107358179A (zh) * 2017-06-27 2017-11-17 上海爱优威软件开发有限公司 一种基于虹膜验证的生活管理系统、媒质和方法
CN112116480A (zh) * 2019-06-20 2020-12-22 财付通支付科技有限公司 虚拟资源确定方法、装置、计算机设备及存储介质
CN110828017A (zh) * 2019-10-22 2020-02-21 岭澳核电有限公司 核电站的信息处理方法及核电站的信息处理系统
CN110716500A (zh) * 2019-11-18 2020-01-21 重庆理工大学 用于确定温度敏感区间分段建模点的方法与系统
CN111209734A (zh) * 2020-01-13 2020-05-29 浙江蓝鸽科技有限公司 试题去重方法及其系统
CN111751702A (zh) * 2020-05-28 2020-10-09 杭州芯讯科技有限公司 集成电路测试方法与系统
CN112069567A (zh) * 2020-08-07 2020-12-11 湖北交投十巫高速公路有限公司 基于随机森林和智能算法预测混凝土抗压强度的方法
CN112378597A (zh) * 2020-10-28 2021-02-19 东软睿驰汽车技术(沈阳)有限公司 电池包测试分析方法、装置及系统
CN114064764A (zh) * 2021-11-16 2022-02-18 杭州承前医数科技有限公司 一种医疗多数据展示方法、系统、装置及存储介质
CN114398140A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 深圳市鼎阳科技股份有限公司 趋势图的动态生成方法、电子测量设备和存储介质
CN114397985A (zh) * 2022-03-25 2022-04-26 杭州广立微电子股份有限公司 一种晶圆良率数据的处理方法及装置
CN116008787A (zh) * 2023-01-13 2023-04-25 长鑫存储技术有限公司 待测器件dut异常识别方法、装置及设备

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Recent developments of control charts, identification of big data sources and future trends of current research;Technological Forecasting and Social Change;sciencedirect;全文 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116385591A (zh) 2023-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107478455B (zh) 一种适用于威布尔分布型产品的定时截尾可靠性试验方法
CN104063458B (zh) 一种对终端故障问题提供对应解决方案的方法及装置
CN107391379A (zh) 接口自动测试方法及装置
CN102412168B (zh) 晶片缺陷的检测方法及系统
CN110689067A (zh) 晶圆的失效检测方法、装置、设备及存储介质
CN115798559B (zh) 失效单元预测方法、装置、设备及存储介质
CN116385591B (zh) 变化趋势图的显示方法、装置和设备
CN113987954A (zh) 一种芯片良率的监测方法及装置、电子设备、存储介质
CN113935272A (zh) 多级设计连接路径的网络匹配结构显示系统
KR101535419B1 (ko) 불량 셀 클러스터링 방법 및 그 장치
CN108037433B (zh) 一种集成电路测试数据的筛选方法及装置
CN108646696B (zh) 自动处理待检测批次产品的系统及方法
CN106428671A (zh) 一种包装称重系统
CN106508031B (zh) 一种基于fmeca的fpga安全性需求分析方法
CN116430207A (zh) 芯片的pat参数确定方法、装置、电子设备及存储介质
CN113793049B (zh) 产品生产过程中的不良根因定位方法、装置、设备及介质
CN115575786A (zh) 探针测试的验证方法及装置、电子设备、存储介质
CN114113977A (zh) 一种电路板的rtc电路自动检测方法及系统
CN113901852A (zh) 一种电子设备的检测方法及装置
CN112583660A (zh) 一种推荐平台的主域、备域测试对比方法、装置及系统
CN103279409A (zh) 比特失效模式统计方法及装置
CN111124841A (zh) 一种异常页面的报警方法、装置及计算机系统
CN111597039B (zh) 用于内存优化的方法、装置及设备
TWI681357B (zh) 用於基板缺陷分析之裝置及方法
JP6085497B2 (ja) オペレーショナルリスク分析サーバ装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant