CN116430207A - 芯片的pat参数确定方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种芯片的PAT参数确定方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。本申请通过每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据以及对应的芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，以从多种PAT参数组中确定目标PAT参数，提高了芯片的PAT测试的准确率。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及芯片的PAT参数确定方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着科技的发展，芯片被应用到手机、笔记本等、汽车及家用电气等多种电子产品中。在电子产品的使用过程中，芯片的品质直接关乎电子设备的整体品质，因此针对芯片的PAT(Part Average Testing，零件平均测试)尤为重要。
目前，在芯片测试过程中，测试工程师按照以往的经验确定用于芯片PAT测试的参数。但这种人工按照经验确定的方式，往往会由于测试工程师本身经验的不足导致芯片的PAT测试的准确率较低。
发明内容
有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片的PAT参数确定方法、装置、电子设备及存储介质，能够确定用于芯片PAT测试的PAT参数，提高了芯片的PAT测试的准确率。
第一方面，本申请实施例提供了一种芯片的PAT参数确定方法，该一种芯片的PAT参数确定方法，该芯片的PAT参数确定方法包括：
获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；
根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；
根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；
将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
在一种可能的实施方式中，根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值，包括：
按照测试算法中的第一测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第一数值；
按照测试算法中的第二测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第二数值；
根据第一数值、第二数值，计算PAT参数组的判定阈值。
在一种可能的实施方式中，根据第一数值、第二数值，计算PAT参数组的判定阈值，包括：
通过下述公式计算PAT参数组的判定阈值；
low limit＝Center-lowThreshold*Spread；
high limit＝Center+highThreshold*Spread；
其中，low limit为PAT参数组的判定阈值中的低阈值，high limit为PAT参数组的判定阈值中的高阈值，lowThreshold为预设的低系数，highThreshold为预设的高系数，Center为第一数值，Spread为第二数值。
在一种可能的实施方式中，根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，包括：
将每个PAT参数组的判定阈值与所述芯片样本数据进行比对，确定每个PAT参数组对应芯片样本数据的PAT测试结果；
根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，包括：
统计PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致的数量，得到第一数值；
将第一数值与芯片样本数据的总数量的比值，确定为PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，获取芯片样本数据及多种PAT参数组，包括：
接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件；
将数据源中满足筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。
第二方面，本申请实施例还提供了一种芯片的PAT参数确定装置，该芯片的PAT参数确定装置包括：
获取模块，用于获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；
确定模块，用于根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；
确定模块，还用于根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；
确定模块，还用于将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
在一种可能的实施方式中，确定模块，具体用于按照测试算法中的第一测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第一数值；按照测试算法中的第二测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第二数值；根据第一数值、所述第二数值，计算PAT参数组的判定阈值。
在一种可能的实施方式中，确定模块，还用于：
通过下述公式计算PAT参数组的判定阈值；
low limit＝Center-lowThreshold*Spread；
high limit＝Center+highThreshold*Spread；
其中，low limit为PAT参数组的判定阈值中的低阈值，high limit为PAT参数组的判定阈值中的高阈值，lowThreshold为预设的低系数，highThreshold为预设的高系数，Center为第一数值，Spread为第二数值。
在一种可能的实施方式中，确定模块，具体用于将每个PAT参数组的判定阈值与所述芯片样本数据进行比对，确定每个PAT参数组对应芯片样本数据的PAT测试结果；根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，确定模块，具体用于统计PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致的数量，得到第一数值；将第一数值与芯片样本数据的总数量的比值，确定为PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，所述获取模块，具体用于接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件；将数据源中满足筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。
第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：处理器、存储介质和总线，存储介质存储有处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器与存储介质之间通过总线通信，处理器执行机器可读指令，以执行如第一方面任一项芯片的PAT参数确定方法的步骤。
第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行如第一方面任一项芯片的PAT参数确定方法的步骤。
本申请实施例提供了一种芯片的PAT参数确定方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。本申请通过每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据以及对应的芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，以从多种PAT参数组中确定目标PAT参数，提高了芯片的PAT测试的准确率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本申请实施例提供的一种芯片的PAT参数确定方法的流程图；
图2示出了本申请实施例提供的另一种芯片的PAT参数确定方法的流程图；
图3示出了本申请实施例提供的一种芯片的PAT参数确定装置的结构示意图；
图4示出了本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本申请中附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本申请的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本申请中使用的流程图示出了根据本申请的一些实施例实现的操作。应该理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本申请内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
另外，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
为了使得本领域技术人员能够使用本申请内容，结合特定应用场景“芯片测试技术领域”，给出以下实施方式。对于本领域技术人员来说，在不脱离本申请的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用场景。虽然本申请主要围绕“芯片测试技术领域”进行描述，但是应该理解，这仅是一个示例性实施例。
需要说明的是，本申请实施例中将会用到术语“包括”，用于指出其后所声明的特征的存在，但并不排除增加其它的特征。
下面对本申请实施例提供的一种芯片的PAT参数确定方法进行详细说明。
参照图1所示，为本申请实施例提供的一种芯片的PAT参数确定方法的流程示意图，该芯片的PAT参数确定方法的具体执行过程为：
S101、获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法。
S102、根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值。
S103、根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
S104、将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
本申请实施例提供了一种芯片的PAT参数确定方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。本申请通过每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据以及对应的芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，以从多种PAT参数组中确定目标PAT参数，提高了芯片的PAT测试的准确率。
下面对本申请实施例示例性的各步骤进行说明：
S101、获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法。
在本申请的实施方式中，芯片样本数据中包括各种芯片的至少一种测试项的测试结果，测试项可以为温度、电流、电压等。PAT参数组中包括测试项标识、测试算法、预设的低系数和高系数。
其中，PAT参数组中的测试项可以为芯片样本数据中的至少一个测试项。
S102、根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值。
在本申请实施方式中，每个PAT参数组都对应计算得到一个判定阈值；测试算法包括第一测试算法、第二测试算法。第一测试算法和第二测试算法分别可以为平均值算法、中位数算法、求和算法、四分差IQR算法、Robust_Sigma算法等中的任一个算法。PAT参数组的判定阈值用于判定芯片样本数据的PAT测试结果。
具体地，按照测试算法中的第一测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第一数值。
在本申请实施方式中，第一数值用于表征所有芯片样本数据的中心值，第一数值的计算方法，就是对芯片样本数据中，与PAT参数组内测试项标识对应的所有参数值进行第一测试算法的计算；具体地，若第一测试算法为平均值算法，则将芯片样本数据中，与PAT参数组内测试项标识对应的所有参数值的和的平均值，作为第一数值；若第一测试算法为中位数算法，则将芯片样本数据中，与PAT参数组内测试项标识对应的所有参数值的中位数，作为第一数值；求和算法、四分差IQR算法、Robust_Sigma算法与平均值算法和中位数算法同理。
示例，PAT参数组内的测试标识为A，芯片样本数值中包括测试项标识为A的参数值a1、a2，测试项标识为B的参数值b1、b2，则对测试项标识为A的参数值a1、a2，进行第一测试算法的计算，得到第一数值的计算方法。
具体地，按照测试算法中的第二测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第二数值。
在本申请实施方式中，所述第二数值用于表征所有芯片样本数据的以中心值为中心位置向外扩散的距离，与计算第一数值同理，就是对芯片样本数据中，与PAT参数组内测试项标识对应的所有参数值进行第二测试算法的计算，得到第二数值。
具体地，根据第一数值、第二数值，计算PAT参数组的判定阈值。
在本申请实施方式中，该判定阈值用于判断芯片样本数据的PAT测试结果。
通过下述公式计算所述PAT参数组的判定阈值；
low limit＝Center-lowThreshold*Spread；
high limit＝Center+highThreshold*Spread；
其中，low limit为PAT参数组的判定阈值中的低阈值，high limit为PAT参数组的判定阈值中的高阈值，lowThreshold为预设的低系数，highThreshold为预设的高系数，Center为第一数值，Spread为第二数值。
S103、根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
在本申请实施方式中，每个PAT参数组都对应有一个准确率。
I、将每个PAT参数组的判定阈值与所述芯片样本数据进行比对，确定每个PAT参数组对应芯片样本数据的PAT测试结果；
在本申请实施方式中，判断芯片样本数据中，与PAT参数组内测试项标识对应的参数值，是否在PAT参数组的判定阈值内；若芯片样本数据中与测试项标识对应的参数值在PAT参数组的判定阈值内，则将芯片样本数据的PAT测试结果确定为通过；否则，将芯片样本数据的PAT测试结果确定为不通过。
II、根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
具体地，统计PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致的数量，得到第一数值。
在本申请实施方式中，芯片样本数据的样本标签包括不通过和通过两种标签。若芯片样本数据的样本标签和PAT测试结果均为通过，则芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致；若芯片样本数据的样本标签和PAT测试结果均为不通过，则芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致；芯片样本数据的样本标签为通过、PAT测试结果均为不通过，则芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签不一致；芯片样本数据的样本标签为不通过、PAT测试结果均为通过，则芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签不一致；
然后，针对每个PAT参数组，统计该PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致的数量。
具体地，将第一数值与芯片样本数据的总数量的比值，确定为PAT参数组的准确率。
在本申请实施方式中，PAT参数组的准确率，说明通过该PAT参数组确定芯片样本数据的PAT测试结果的准确率越高。
S104、将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
参照图2所示，为本申请实施例提供的另一种芯片的PAT参数确定方法的流程示意图，下面对本申请实施例示例性的各步骤进行说明：
S201、接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件。
在本申请实施方式中，用户在交互界面输入芯片数据源以及对应的筛选条件；数据源可以为原始数据Test Raw Data，也可以为消息数据MES Data。筛选条件有芯片样本数据的所属工厂、所属测试程序或者所属测试机等。也就是说数据源指的是芯片样本数据的数据库来源，筛选条件是指芯片样本数据的产生来源。
其中，筛选条件的数量大于等于零。
S202、将数据源中满足筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。
在本申请实施方式中，若筛选条件为所属工厂为A的芯片样本数据，那么将数据源中所述工厂为A的芯片样本数据作为目标芯片样本数据。
本申请实施例提供了另一种芯片的PAT参数确定方法，该方法包括：接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件；将数据源中满足筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。通过该方法，可以对用于确定PAR参数的芯片样本数据进行选取。
基于同一发明构思，本申请实施例中还提供了与芯片的PAT参数确定方法对应的芯片的PAT参数确定装置，由于本申请实施例中的装置解决问题的原理与本申请实施例上述芯片的PAT参数确定方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
参照图3所示，为本申请实施例提供的一种芯片的PAT参数确定装置的示意图，该芯片的PAT参数确定装置包括：
获取模块301，用于获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；
确定模块302，用于根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；
确定模块302，还用于根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；
确定模块302，还用于将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
在一种可能的实施方式中，确定模块302，具体用于按照测试算法中的第一测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第一数值；按照测试算法中的第二测试算法，对芯片样本数据进行计算，得到第二数值；根据第一数值、所述第二数值，计算PAT参数组的判定阈值。
在一种可能的实施方式中，确定模块302，还用于：
通过下述公式计算PAT参数组的判定阈值；
low limit＝Center-lowThreshold*Spread；
high limit＝Center+highThreshold*Spread；
其中，low limit为PAT参数组的判定阈值中的低阈值，high limit为PAT参数组的判定阈值中的高阈值，lowThreshold为预设的低系数，highThreshold为预设的高系数，Center为第一数值，Spread为第二数值。
在一种可能的实施方式中，确定模块302，具体用于将每个PAT参数组的判定阈值与所述芯片样本数据进行比对，确定每个PAT参数组对应芯片样本数据的PAT测试结果；根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，确定模块302，具体用于统计PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与芯片样本数据的样本标签一致的数量，得到第一数值；将第一数值与芯片样本数据的总数量的比值，确定为PAT参数组的准确率。
在一种可能的实施方式中，所述获取模块301，具体用于接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件；将数据源中满足筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。
本申请实施例提供了一种芯片的PAT参数确定装置，该芯片测试参数的确定装置包括：获取模块301，用于获取芯片样本数据及多种PAT参数组；PAT参数组中包括测试算法；确定模块302，用于根据每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；确定模块302，还用于根据每个PAT参数组的判定阈值及芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；确定模块302，还用于将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。本申请通过每个PAT参数组中的测试算法、芯片样本数据以及对应的芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，以从多种PAT参数组中确定目标PAT参数，提高了芯片的PAT测试的准确率。
如图4所示，本申请实施例提供的一种电子设备400，包括：处理器401、存储器402和总线，存储器402存储有处理器401可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，处理器401与存储器402之间通过总线通信，处理器401执行机器可读指令，以执行如上述芯片的PAT参数确定方法的步骤。
具体地，上述存储器402和处理器401能够为通用的存储器和处理器，这里不做具体限定，当处理器401运行存储器402存储的计算机程序时，能够执行上述芯片的PAT参数确定方法。
对应于上述芯片的PAT参数确定方法，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器运行时执行上述芯片的PAT参数确定方法的步骤。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统和装置的具体工作过程，可以参考方法实施例中的对应过程，本申请中不再赘述。在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述信息处理方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述芯片的PAT参数确定方法包括：
获取芯片样本数据及多种PAT参数组；所述PAT参数组中包括测试算法；
根据每个PAT参数组中的测试算法、所述芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；
根据每个PAT参数组的判定阈值及所述芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；
将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
2.根据权利要求1所述的芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述根据每个PAT参数组中的测试算法、所述芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值，包括：
按照所述测试算法中的第一测试算法，对所述芯片样本数据进行计算，得到第一数值；
按照所述测试算法中的第二测试算法，对所述芯片样本数据进行计算，得到第二数值；
根据所述第一数值、所述第二数值，计算所述PAT参数组的判定阈值。
3.根据权利要求2所述的芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述根据所述第一数值、所述第二数值，计算所述PAT参数组的判定阈值，包括：
通过下述公式计算所述PAT参数组的判定阈值；
lowlimit＝Center-lowThh*Spread；
hh＝Center+hhhh*Spread；
其中，lowlimit为PAT参数组的判定阈值中的低阈值，highlimit为PAT参数组的判定阈值中的高阈值，lowThreshold为预设的低系数，highThreshold为预设的高系数，Center为第一数值，Spread为第二数值。
4.根据权利要求1至3任一项所述的芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述根据每个PAT参数组的判定阈值及所述芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，包括：
将每个PAT参数组的判定阈值与所述芯片样本数据进行比对，确定每个PAT参数组对应芯片样本数据的PAT测试结果；
根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、所述芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率。
5.根据权利要求4所述的芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述根据每个PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果、所述芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率，包括：
统计所述PAT参数组对应的芯片样本数据的PAT测试结果与所述芯片样本数据的样本标签一致的数量，得到第一数值；
将所述第一数值与所述芯片样本数据的总数量的比值，确定为所述PAT参数组的准确率。
6.根据权利要求1所述的芯片的PAT参数确定方法，其特征在于，所述获取芯片样本数据及多种PAT参数组，包括：
接收用户输入的数据源以及对应的筛选条件；
将所述数据源中满足所述筛选条件的芯片样本数据，确定为目标芯片样本数据。
7.一种芯片的PAT参数确定装置，其特征在于，所述芯片的PAT参数确定装置包括：
获取模块，用于获取芯片样本数据及多种PAT参数组；所述PAT参数组中包括测试算法；
确定模块，用于根据每个PAT参数组中的测试算法、所述芯片样本数据，确定每个PAT参数组的判定阈值；
所述确定模块，还用于根据每个PAT参数组的判定阈值及所述芯片样本数据的样本标签，确定每个PAT参数组的准确率；
所述确定模块，还用于将准确率最高的PAT参数组中的PAT参数，确定为目标PAT参数。
8.根据权利要求7所述的芯片的PAT参数确定装置，其特征在于，所述确定模块，具体用于：
按照所述测试算法中的第一测试算法，对所述芯片样本数据进行计算，得到第一数值；
按照所述测试算法中的第二测试算法，对所述芯片样本数据进行计算，得到第二数值；
根据所述第一数值、所述第二数值，计算所述PAT参数组的判定阈值。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行如权利要求1至6任一项所述的芯片的PAT参数确定方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至6任一项所述的芯片的PAT参数确定方法的步骤。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|---|
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| CN116609642A (zh) * | 2023-07-18 | 2023-08-18 | 上海孤波科技有限公司 | 芯片测试误差的补偿方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN116609642B (zh) * | 2023-07-18 | 2023-09-19 | 上海孤波科技有限公司 | 芯片测试误差的补偿方法、装置、电子设备及存储介质 |
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