CN116165519B - 一种芯片接地引脚连通性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片接地引脚连通性测试装置，包括支架，接触机构；移送机构，用于控制芯片的上下移动与接触机构连接；上压机构，用于对芯片的位置进行固定；驱动机构，用于控制移送机构和上压机构的运行；所述接触机构包括有调位装置和检测装置，所述调位装置控制检测装置接触不同引脚间距的芯片。该芯片接地引脚连通性测试装置，通过设置的调位装置和检测装置的结合使用，能够实现对不同种类的芯片引脚间距进行快速化检测，无需操作人员的点焊，利用连接线的引出，能够快速对引脚位置的检测，同时能够将其直接插在与其匹配的电路板上，实现插入式检测，无需焊接，从而方便了操作人员的快速批量性检测。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片接地引脚连通性测试装置。
背景技术
微处理器芯片在生产过程中，为了保证芯片各个性能达到指标，需要对芯片进行详细的测试，因此在芯片设计时预先在芯片中加入用于测试芯片功能的电路，这些电路通常是串行或并行电路，可以直接访问芯片内的总线或控制器，测试者通过这些电路可以直接读取芯片中的信息，从而对芯片进行测试。
而目前芯片在进行批量生产或者维护过程中，是通过烧录工具将程序传输至芯片的内部，而在烧录完成后，需要对整个芯片进行烧录检测，因为在烧录过程中，可能出现芯片的烧录程序运转出现问题，所以传统方式在检测过程中一般是依靠操作人员检测引脚位置的电压或者电阻值确定该处是否存在异常，或者直接对将芯片安装锡焊在电路板上检测各项引脚位置的电压值，而上述的两种方式在检测过程中，效率极低，需求操作人员的技术要求过高，因为芯片在检测过程中，其尺寸过于微小，芯片不能出现短路的情况，如若出现芯片则会直接受损的问题，故而提出一种芯片接地引脚连通性测试装置来解决上述所提出的问题。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片接地引脚连通性测试装置，解决了现有技术中对芯片的检测操作要求较大，容易出现对芯片的检测出现损伤的情况，并且伴随着检测效率相对较低，在应对一些批量性的芯片检测过程中，无法及时有效的对其进行检测的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片接地引脚连通性测试装置，包括支架，接触机构；移送机构，用于控制芯片的上下移动与接触机构连接；上压机构，用于对芯片的位置进行固定；驱动机构，用于控制移送机构和上压机构的运行；所述接触机构包括有调位装置和检测装置，所述调位装置控制检测装置接触不同引脚间距的芯片。
优选的，所述调位装置包括有定位板，所述定位板上开设有多个滑槽，所述滑槽内滑动连接有调节杆，所述调节杆上固定连接有定位销，所述定位销上滑动连接有活动架，所述活动架上通过连杆固定连接有滑轨板，所述滑轨板上通过V形滑槽滑动连接有驱动板，所述滑轨板上固定连接有螺纹板，所述螺纹板上螺纹连接有调节丝杆，所述调节丝杆的底部转动连接在支架上，所述调节杆上连接有接触弹片。
优选的，所述驱动板上滑动连接有连接杆，所述连接杆上套接有支撑弹簧，所述驱动板与驱动机构传动连接。
优选的，所述检测装置包括有连接线，所述连接线的一端连接有插针头，所述连接线的另一端电性连接在调节杆上，所述调节杆上设置有蜂鸣器。
优选的，所述定位板上通过杆体连接有夹板，所述夹板上连接有连接架，所述连接架上设置有电压表，所述电压表上连接有引线一和引线二，所述引线一和引线二上均连接有导电片。
优选的，所述移送机构包括有滑动板，所述滑动板上通过限位杆滑动连接有活动板，所述活动板上滑动连接有紧固板，所述活动板的一侧通过第二弹簧与紧固板连接，所述滑动板与驱动机构连接，所述紧固板的底部连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一端连接在支架上。
优选的，所述上压机构包括有滑动轴，所述滑动轴上转动连接有两个旋转架，且两个旋转架通过同步连杆连接，所述旋转架上设置有风扇，所述旋转架的底部连接有压轮。
优选的，所述滑动轴滑动连接在支架上，所述滑动轴上固定连接有固定销，所述固定销与驱动机构连接，所述旋转架上连接有第三弹簧，所述第三弹簧的一端连接在支架上。
优选的，所述驱动机构包括有电动推杆，所述电动推杆的输出轴上固定连接有限位板，所述限位板滑动连接在支架的内部，所述支架上开设有限位槽，所述限位板的右侧与滑动板固定连接，所述电动推杆的输出轴上固定连接有撑开板，所述撑开板位于驱动板的下方，所述电动推杆的输出端连接有三角板，所述三角板与固定销滑动连接。
(三)有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种芯片接地引脚连通性测试装置，具备以下有益效果：
1、该芯片接地引脚连通性测试装置，通过设置的调位装置和检测装置的结合使用，能够实现对不同种类的芯片引脚间距进行快速化检测，无需操作人员的点焊，利用连接线的引出，能够快速对引脚位置的检测，同时能够将其直接插在与其匹配的电路板上，实现插入式检测，无需焊接，从而方便了操作人员的快速批量性检测，同时还可以直接利用电压表直接对连接线的位置进行电压检测，提供多中检测方式对芯片的引脚进行连通检测，解决了因为芯片的微小尺寸导致的操作人员检测困难，检测效率低和检测容易出错的问题，进而提高了芯片的引脚检测效率，降低了检测复杂程度，提高了检测准确性。
2、该芯片接地引脚连通性测试装置，通过设置的上压装置能够对芯片进行挤压定位，保证检测过程中的稳定性，使得芯片不会出现移位的情况。同时利用电动推杆的上升和下降，能够实现对芯片的快速切换，以便于提高检测芯片的效率，而利用接触弹片的弹性挤压接触，能够实现对引脚的稳定化电接触，从而进一步提高了芯片检测的稳定性。
附图说明
图1为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的整体结构示意图；
图2为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的调位装置结构示意图；
图3为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的接触弹片结构示意图；
图4为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的检测装置结构示意图；
图5为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的移送机构示意图；
图6为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的上压机构示意图；
图7为本发明提出的一种芯片接地引脚连通性测试装置的驱动机构示意图。
图中：1、支架；2、驱动机构；201、电动推杆；202、限位板；203、撑开板；204、三角板；3、接触机构；301、定位板；302、调节杆；303、定位销；304、滑轨板；305、活动架；306、驱动板；307、连接杆；308、支撑弹簧；309、螺纹板；310、调节丝杆；311、连接线；312、插针头；313、接触弹片；314、夹板；315、连接架；316、电压表；317、引线一；318、引线二；4、移送机构；401、滑动板；402、紧固板；403、限位杆；404、第一弹簧；405、第二弹簧；406、活动板；407、限位槽；5、上压机构；501、滑动轴；502、固定销；503、旋转架；504、风扇；505、同步连杆；506、第三弹簧；507、压轮。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-7，一种芯片接地引脚连通性测试装置，包括支架1，
移送机构4，用于控制芯片的上下移动与接触机构3连接；
移送机构4包括有滑动板401，而设置的滑动板401，是提供芯片的放置平台，滑动板401上通过限位杆403滑动连接有活动板406，活动板406上滑动连接有紧固板402，活动板406的一侧通过第二弹簧405与紧固板402连接，滑动板401与驱动机构2连接，紧固板402的底部连接有第一弹簧404，第一弹簧404的一端连接在支架1上，当电动推杆201推动滑动板401的上移过程中，受到第一弹簧404的弹力，因为是三角拉伸，所以上升过程中会有向左的拉伸弹力，进而带动紧固板402左移滑动，从而对滑动板401上的芯片进行夹紧对齐。利用活动板406和滑动板401之间的滑动连接方式，能够实现对芯片的左移对齐夹紧，保证其检测的稳定。而设置的第二弹簧405则是能够在电动推杆201复位时，控制活动板406的右移复位提供空间使得芯片能够放置在平台上。
本实施例中，上压机构5，用于对芯片的位置进行固定；
上压机构5包括有滑动轴501，滑动轴501上转动连接有两个旋转架503，且两个旋转架503通过同步连杆505连接，旋转架503上设置有风扇504，风扇504的设置能够实现对芯片的检测降温，避免在检测连通过程中，产生的热量无法消散。旋转架503的底部连接有压轮507。当三角板204上移之后，利用斜面与固定销502的滑动接触，进而带动滑动轴501的左移动，进而控制旋转架503与支架1进行挤压滑动，实现旋转，最后将压轮507压在芯片上，实现上下固定，进一步保证检测过程中的稳定性，使其不会出现移位的情况。
进一步的是，滑动轴501滑动连接在支架1上，滑动轴501上固定连接有固定销502，固定销502与驱动机构2连接，旋转架503上连接有第三弹簧506，第三弹簧506的一端连接在支架1上。通过设置的第三弹簧506能够实现对芯片下压的弹性固定，不会对芯片造成挤压受损。同时利用电动推杆201的上移，实现对滑动轴501的横移，改变力的方向，实现挤压动作。
更进一步的是，驱动机构2，用于控制移送机构4和上压机构5的运行；
驱动机构2包括有电动推杆201，电动推杆201的输出轴上固定连接有限位板202，限位板202滑动连接在支架1的内部，支架1上开设有限位槽407，限位槽407的设计能够实现限位板202的稳定滑动。限位板202的右侧与滑动板401固定连接，电动推杆201的输出轴上固定连接有撑开板203，撑开板203位于驱动板306的下方，电动推杆201的输出端连接有三角板204，三角板204与固定销502滑动连接。控制电动推杆201的启动，控制其带动限位板202、撑开板203以及三角板204的上移，从而利用斜面的滑动带动接触机构3和上压机构5的运行。
此外，接触机构3包括有调位装置和检测装置，调位装置包括有定位板301，定位板301上开设有多个滑槽，滑槽内滑动连接有调节杆302，调节杆302上固定连接有定位销303，定位销303上滑动连接有活动架305，活动架305上通过连杆固定连接有滑轨板304，滑轨板304上通过V形滑槽滑动连接有驱动板306，滑轨板304上固定连接有螺纹板309，螺纹板309上螺纹连接有调节丝杆310，调节丝杆310的底部转动连接在支架1上，调节杆302上连接有接触弹片313。控制调节丝杆310的转动，经过螺纹连接的方式进而带动螺纹板309的上升和下降，螺纹板309通过固定连接方式进而带动滑轨板304和活动架305的上升和下降，通过定位销303在活动架305中的滑动，进而带动其进行上下方式的移动，受到定位板301上滑槽的限制，带动多个调节杆302进行横向间距移动，实现同步移动，从而使得接触弹片313能够匹配不同间距的引脚芯片，进而提高设备的整体适用性和多变性。
除此之外，驱动板306上滑动连接有连接杆307，连接杆307上套接有支撑弹簧308，驱动板306与驱动机构2传动连接。设置的支撑弹簧308也是为了实现电动推杆201下移复位时，对驱动板306的收缩，进而实现接触机构3的复位。
值得注意的是，检测装置包括有连接线311，连接线311的一端连接有插针头312，连接线311的另一端电性连接在调节杆302上，调节杆302上设置有蜂鸣器。定位板301上通过杆体连接有夹板314，夹板314上连接有连接架315，连接架315上设置有电压表316，电压表316上连接有引线一317和引线二318，引线一317和引线二318上均连接有导电片。操作人员可以根据插针头312插入对应的PCB电路板的插孔上，实现接触，而蜂鸣器提供操作人员的连通示警，芯片没有问题则会进行提示，如果出现问题，则是表示芯片内部可能出现问题，此时操作人员也可以利用电压表316上的引线与不同的引脚之间的进行接触测压，从而实现对引脚位置的电压检测，最终确定问题的所在。
该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。
工作原理，首先需要将芯片放置在滑动板401上，之后手动控制调节丝杆310的转动，经过螺纹连接的方式进而带动螺纹板309的上升和下降，螺纹板309通过固定连接方式进而带动滑轨板304和活动架305的上升和下降，通过定位销303在活动架305中的滑动，进而带动其进行上下方式的移动，受到定位板301上滑槽的限制，带动多个调节杆302进行横向间距移动，实现同步移动，从而使得接触弹片313能够匹配不同间距的引脚芯片，之后通过控制电动推杆201的启动，控制其带动限位板202、撑开板203以及三角板204的上移。当限位板202上移之后，将会同步带动滑动板401的上移，进而将芯片移动至接触弹片313的内部，同时上移过程中，受到第一弹簧404的弹力，将会带动紧固板402左移滑动，从而对滑动板401上的芯片进行夹紧对齐，之后当撑开板203上移将会与驱动板306进行接触滑动，从而撑开两个驱动板306一段距离，进而带动两个滑轨板304进行撑开，从而使得调节杆302上的接触弹片313卡槽位置，卡在引脚上，而接触弹片313本身采用铜材料，具备一定的弹性，所以能够对引脚进行挤压接触，实现引脚连通。之后当三角板204上移之后，利用斜面与固定销502的滑动接触，进而带动滑动轴501的左移动，进而控制旋转架503与支架1进行挤压滑动，实现旋转，最后将压轮507压在芯片上，实现上下固定，保证检测过程中的稳定。当连通以及固定之后，此时操作人员可以根据插针头312插入对应的PCB电路板的插孔上，实现接触，而蜂鸣器提供操作人员的连通示警，芯片没有问题则会进行提示，如果出现问题，则是表示芯片内部可能出现问题，此时操作人员也可以利用电压表316上的引线与不同的引脚之间的进行接触测压，以此方便对批量性的芯片进行引脚连通式检测，提高检测效率。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (5)
1.一种芯片接地引脚连通性测试装置，其特征在于：包括支架(1)，
接触机构(3)；
移送机构(4)，用于控制芯片的上下移动与接触机构(3)连接；
上压机构(5)，用于对芯片的位置进行固定；
驱动机构(2)，用于控制移送机构(4)和上压机构(5)的运行；
所述接触机构(3)包括有调位装置和检测装置，所述调位装置控制检测装置接触不同引脚间距的芯片；
所述调位装置包括有定位板(301)，所述定位板(301)上开设有多个滑槽，所述滑槽内滑动连接有调节杆(302)，所述调节杆(302)上固定连接有定位销(303)，所述定位销(303)上滑动连接有活动架(305)，所述活动架(305)上通过连杆固定连接有滑轨板(304)，所述滑轨板(304)上通过V形滑槽滑动连接有驱动板(306)，所述滑轨板(304)上固定连接有螺纹板(309)，所述螺纹板(309)上螺纹连接有调节丝杆(310)，所述调节丝杆(310)的底部转动连接在支架(1)上，所述调节杆(302)上连接有接触弹片(313)；
所述驱动板(306)上滑动连接有连接杆(307)，所述连接杆(307)上套接有支撑弹簧(308)，所述驱动板(306)与驱动机构(2)传动连接；
所述检测装置包括有连接线(311)，所述连接线(311)的一端连接有插针头(312)，所述连接线(311)的另一端电性连接在调节杆(302)上，所述调节杆(302)上设置有蜂鸣器；
所述定位板(301)上通过杆体连接有夹板(314)，所述夹板(314)上连接有连接架(315)，所述连接架(315)上设置有电压表(316)，所述电压表(316)上连接有引线一(317)和引线二(318)，所述引线一(317)和引线二(318)上均连接有导电片。
2.根据权利要求1所述的一种芯片接地引脚连通性测试装置，其特征在于：所述移送机构(4)包括有滑动板(401)，所述滑动板(401)上通过限位杆(403)滑动连接有活动板(406)，所述活动板(406)上滑动连接有紧固板(402)，所述活动板(406)的一侧通过第二弹簧(405)与紧固板(402)连接，所述滑动板(401)与驱动机构(2)连接，所述紧固板(402)的底部连接有第一弹簧(404)，所述第一弹簧(404)的一端连接在支架(1)上。
3.根据权利要求1所述的一种芯片接地引脚连通性测试装置，其特征在于：所述上压机构(5)包括有滑动轴(501)，所述滑动轴(501)上转动连接有两个旋转架(503)，且两个旋转架(503)通过同步连杆(505)连接，所述旋转架(503)上设置有风扇(504)，所述旋转架(503)的底部连接有压轮(507)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片接地引脚连通性测试装置，其特征在于：所述滑动轴(501)滑动连接在支架(1)上，所述滑动轴(501)上固定连接有固定销(502)，所述固定销(502)与驱动机构(2)连接，所述旋转架(503)上连接有第三弹簧(506)，所述第三弹簧(506)的一端连接在支架(1)上。
5.根据权利要求1所述的一种芯片接地引脚连通性测试装置，其特征在于：所述驱动机构(2)包括有电动推杆(201)，所述电动推杆(201)的输出轴上固定连接有限位板(202)，所述限位板(202)滑动连接在支架(1)的内部，所述支架(1)上开设有限位槽(407)，所述限位板(202)的右侧与滑动板(401)固定连接，所述电动推杆(201)的输出轴上固定连接有撑开板(203)，所述撑开板(203)位于驱动板(306)的下方，所述电动推杆(201)的输出端连接有三角板(204)，所述三角板(204)与固定销(502)滑动连接。
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