CN116125182B - 一种用于提高mcu老化柜老化监控效率的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，涉及老化监控效率的技术领域，解决了现有技术中，无法通过动态老化控制和静态老化控制对老化柜的老化效率进行增加的技术问题，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化，针对不同零部件老化阶段进行合理老化控制，在老化柜运行过中便于控制老化成本同时在控制成本时不影响老化柜的运行效率；在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化，提高了不同阶段老化控制的针对性，最大程度提高了零部件老化效率，提高老化柜的运行稳定性同时提高零部件检测的工作效率。

Description

一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法

技术领域

本发明涉及老化监控效率的技术领域，具体为一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法。

背景技术

老化柜，又称为烧机柜是半成品、成品类借着预烧来移除早期失效不合格之零组件产品，而使产品进入市场后可靠性相对提高，保障产品确实没问题。

但是在现有技术中，老化柜在运行过程中，无法通过动态老化控制和静态老化控制对老化柜的老化效率进行增加，以至于老化效率无法保证合格从而需要加大监控力度，造成老化柜老化监控效率无法控制。

针对上述的技术缺陷，现提出一种解决方案。

发明内容

本发明的目的就在于为了解决上述提出的问题，而提出一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型，提高了零部件老化的执行效率，保证老化执行效率的合格性，提高了零部件性能检测的准确性，增加了零部件使用的高效性；根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分，将零部件的老化过程进行阶段划分，便于针对不同阶段进行老化控制，提高了老化监控的效率，保证老化柜的运行合格性。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，具体老化监控效率方法步骤如下：

步骤一、零部件历史数据分析，将老化柜当前需老化的零部件进行分析，根据零部件历史数据分析获取到零部件的失效影响参数以及对应失效类型，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型；

步骤二、零部件阶段分析，在获取到同类型零部件失效影响采纳数和失效类型，根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分，将零部件的老化过程进行阶段划分；

步骤三、静态老化，将实时老化柜内零部件进行静态老化，在零部件的对应阶段进行静态老化，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化；

步骤四、动态老化，将实时老化柜内零部件进行动态老化，在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化。

作为本发明的一种优选实施方式，步骤一零部件历史数据分析具体过程如下：

将实时待老化的部件标记为分析对象，并将同类型完成老化的分析对象进行分析，采集到同类型分析对象历史老化过程中影响老化进度的参数，并将其标记为预设影响参数，设置标号i，i为大于1的自然数，预设影响参数表示为影响零部件老化的参数；

采集到历史老化过程中对应预设影响参数浮动时同类型分析对象失效率浮动跨度以及预设影响参数浮动时同类型分析对象出现失效的频率；采集到历史老化过程中预设影响参数与分析对象失效率同趋势浮动的持续时长；通过分析获取到同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数；

将同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数与对应影响系数阈值进行比较：

若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为选中影响参数；若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数未超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为非选中影响参数。

作为本发明的一种优选实施方式，在同类型分析对象历史老化过程中，选中影响参数浮动时间段内对同类型分析对象的失效类型进行划分，并将失效类型划分为偶然失效类型和频繁失效类型，偶然失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长不一致且超过间隔时长阈值；频繁失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长未超过间隔时长阈值。

作为本发明的一种优选实施方式，步骤二中零部件阶段分析具体过程如下：

将同类型分析对象的选中影响参数与失效类型设定为当前分析对象的老化参数；在当前分析对象的老化执行过程中，若选中影响参数未浮动时，且当前时间段分析对象的失效率增加且增加量未超过设定阈值，则将当前时间段标记为自然失效时间段；在自然失效时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动，且分析对象的失效率增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化时间段；在老化时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率恒定，则将当前时间段标记为老化恒定时间段；在老化恒定时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率持续增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化结束时间段。

作为本发明的一种优选实施方式，步骤三静态老化具体过程如下：

将自然失效时间段和老化时间段合并为静态控制时间段，则静态控制时间段内将设定的选中影响参数最大数值设置为静态恒定数值，且静态恒定数值未达到老化恒定时间段内的数值；

采集到静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度以及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度，并将其分别与占比增加速度阈值以及间隔时长缩短速度阈值进行比较：

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度超过占比增加速度阈值，且失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率合格，生成老化效率合格信号并将老化效率合格信号发送至管理员终端；

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度未超过占比增加速度阈值，或者及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度未超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率不合格，生成老化效率不合格信号并将老化效率不合格信号发送至管理员终端。

作为本发明的一种优选实施方式，步骤四中动态老化具体过程如下：

将老化恒定时间段与老化结束时间段进行动态老化，将老化恒定时间段进行选中影响参数浮动控制，在老化恒定时间段内，若分析对象的失效率恒定，则根据选中影响参数的影响趋势进行调整，即若选中影响参数与失效率呈正比则将选中影响参数进行增加控制，若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置一级增加跨度；若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态未转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置二级增加跨度，其中，一级增加跨度为二级增加跨度的0.8倍，且一级增加跨度增加为持续增加，二级增加跨度在当前增加无影响后进行增加，且当前增加跨度值为历史相邻增加跨度值的1.5倍。

作为本发明的一种优选实施方式，将老化结束时间段与老化效率不合格信号产生的时间段进行动态老化，将对应时间段设置动态降低控制，在当前动态降低控制时间段内选中浮动参数同趋势增加后，分析对象的失效率浮动量未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将动态降低控制时间段进行二级增加跨度增加一次，并在完成二级增加跨度增加后失效率浮动量仍未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将当前动态降低控制时间段内将分析对象的选中影响参数以二级增加跨度的形式进行降低，并在失效率未浮动后，将未失效的分析对象进行选中影响参数重获取。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、本发明中，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型，提高了零部件老化的执行效率，保证老化执行效率的合格性，提高了零部件性能检测的准确性，增加了零部件使用的高效性；根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分段，将零部件的老化过程进行阶段划分，便于针对不同阶段进行老化控制，提高了老化监控的效率，保证老化柜的运行合格性。

2、本发明中，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化，针对不同零部件老化阶段进行合理老化控制，在老化柜运行过中便于控制老化成本同时在控制成本时不影响老化柜的运行效率；在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化，提高了不同阶段老化控制的针对性，最大程度提高了零部件老化效率，提高老化柜的运行稳定性同时提高零部件检测的工作效率。

附图说明

为了便于本领域技术人员理解，下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1为本发明一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法的原理框图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

请参阅图1所示，一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，具体老化监控效率方法步骤如下：

步骤一、零部件历史数据分析，将老化柜当前需老化的零部件进行分析，根据零部件历史数据分析获取到零部件的失效影响参数以及对应失效类型，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型，提高了零部件老化的执行效率，保证老化执行效率的合格性，提高了零部件性能检测的准确性，增加了零部件使用的高效性；

步骤二、零部件阶段分析，在获取到同类型零部件失效影响采纳数和失效类型，根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分，将零部件的老化过程进行阶段划分，便于针对不同阶段进行老化控制，提高了老化监控的效率，保证老化柜的运行合格性；

步骤三、静态老化，将实时老化柜内零部件进行静态老化，在零部件的对应阶段进行静态老化，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化，针对不同零部件老化阶段进行合理老化控制，在老化柜运行过中便于控制老化成本同时在控制成本时不影响老化柜的运行效率；

步骤四、动态老化，将实时老化柜内零部件进行动态老化，在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化，提高了不同阶段老化控制的针对性，最大程度提高了零部件老化效率，提高老化柜的运行稳定性同时提高零部件检测的工作效率；

步骤一零部件历史数据分析具体过程如下：

将实时待老化的部件标记为分析对象，并将同类型完成老化的分析对象进行分析，采集到同类型分析对象历史老化过程中影响老化进度的参数，并将其标记为预设影响参数，设置标号i，i为大于1的自然数，预设影响参数表示为影响零部件老化的参数，如温度、湿度等公开已知的参数；采集到历史老化过程中对应预设影响参数浮动时同类型分析对象失效率浮动跨度以及预设影响参数浮动时同类型分析对象出现失效的频率，并将历史老化过程中对应预设影响参数浮动时同类型分析对象失效率浮动跨度以及预设影响参数浮动时同类型分析对象出现失效的频率分别标记为FDKi和SXPi；采集到历史老化过程中预设影响参数与分析对象失效率同趋势浮动的持续时长，并将历史老化过程中预设影响参数与分析对象失效率同趋势浮动的持续时长标记为CSXi；同趋势浮动表示为预设应参数为温度，温度上升若增加失效率，则温度上升与失效率增加均为同趋势浮动；

通过公式

获取到同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数Xi，其中，f1、f2以及f3均为预设比例系数，且f1＞f2＞f3＞0，β为误差修正因子，取值为0.985；

将同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数Xi与对应影响系数阈值进行比较：

若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数Xi超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为选中影响参数；若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数Xi未超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为非选中影响参数；

在同类型分析对象历史老化过程中，选中影响参数浮动时间段内对同类型分析对象的失效类型进行划分，并将失效类型划分为偶然失效类型和频繁失效类型，偶然失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长不一致且超过间隔时长阈值；频繁失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长未超过间隔时长阈值；

步骤二中零部件阶段分析具体过程如下：

将同类型分析对象的选中影响参数与失效类型设定为当前分析对象的老化参数；在当前分析对象的老化执行过程中，若选中影响参数未浮动时，且当前时间段分析对象的失效率增加且增加量未超过设定阈值，则将当前时间段标记为自然失效时间段；在自然失效时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动，且分析对象的失效率增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化时间段；在老化时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率恒定，则将当前时间段标记为老化恒定时间段；在老化恒定时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率持续增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化结束时间段；

步骤三静态老化具体过程如下：

将自然失效时间段和老化时间段合并为静态控制时间段，则静态控制时间段内将设定的选中影响参数最大数值设置为静态恒定数值，且静态恒定数值未达到老化恒定时间段内的数值；采集到静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度以及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度，并将静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度以及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度分别与占比增加速度阈值以及间隔时长缩短速度阈值进行比较：

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度超过占比增加速度阈值，且失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率合格，生成老化效率合格信号并将老化效率合格信号发送至管理员终端；

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度未超过占比增加速度阈值，或者及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度未超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率不合格，生成老化效率不合格信号并将老化效率不合格信号发送至管理员终端；管理员终端接收到老化效率不合格信号后，将当前老化效率不合格信号产生的时间段设置为动态老化；

步骤四中动态老化具体过程如下：

将老化恒定时间段与老化结束时间段进行动态老化，将老化恒定时间段进行选中影响参数浮动控制，在老化恒定时间段内，若分析对象的失效率恒定，则根据选中影响参数的影响趋势进行调整，即若选中影响参数与失效率呈正比则将选中影响参数进行增加控制，若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置一级增加跨度；若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态未转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置二级增加跨度，其中，一级增加跨度为二级增加跨度的0.8倍，且一级增加跨度增加为持续增加，二级增加跨度在当前增加无影响后进行增加，且当前增加跨度值为历史相邻增加跨度值的1.5倍；

将老化结束时间段与老化效率不合格信号产生的时间段进行动态老化，将对应时间段设置动态降低控制，在当前动态降低控制时间段内选中浮动参数同趋势增加后，分析对象的失效率浮动量未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将动态降低控制时间段进行二级增加跨度增加一次，并在完成二级增加跨度增加后失效率浮动量仍未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将当前动态降低控制时间段内将分析对象的选中影响参数以二级增加跨度的形式进行降低，并在失效率未浮动后，将未失效的分析对象进行选中影响参数重获取。

上述公式均是采集大量数据进行软件模拟得出且选取与真实值接近的一个公式，公式中的系数是由本领域技术人员根据实际情况进行设置；

本发明在使用时，零部件历史数据分析，将老化柜当前需老化的零部件进行分析，根据零部件历史数据分析获取到零部件的失效影响参数以及对应失效类型，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型；零部件阶段分析，在获取到同类型零部件失效影响采纳数和失效类型，根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分，将零部件的老化过程进行阶段划分；静态老化，将实时老化柜内零部件进行静态老化，在零部件的对应阶段进行静态老化，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化；动态老化，将实时老化柜内零部件进行动态老化，在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化。

以上公开的本发明优选实施例只是用于帮助阐述本发明。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (6)

1.一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，具体老化监控效率方法步骤如下：

步骤一、零部件历史数据分析，将老化柜当前需老化的零部件进行分析，根据零部件历史数据分析获取到零部件的失效影响参数以及对应失效类型，通过同类型零部件的历史运行数据分析筛选出失效影响参数和对应失效类型；

步骤二、零部件阶段分析，在获取到同类型零部件失效影响参数和失效类型，根据历史运行过程中零部件的失效率，进行零部件不同失效率对应老化阶段划分，将零部件的老化过程进行阶段划分；步骤二中零部件阶段分析具体过程如下：

将同类型分析对象的选中影响参数与失效类型设定为当前分析对象的老化参数；在当前分析对象的老化执行过程中，若选中影响参数未浮动时，且当前时间段分析对象的失效率增加且增加量未超过设定阈值，则将当前时间段标记为自然失效时间段；在自然失效时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动，且分析对象的失效率增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化时间段；在老化时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率恒定，则将当前时间段标记为老化恒定时间段；在老化恒定时间段完成后相邻时间段内选中影响参数浮动且分析对象的失效率持续增加且增加量超过设定阈值，则将当前时间段标记为老化结束时间段；

步骤三、静态老化，将实时老化柜内零部件进行静态老化，在零部件的对应阶段进行静态老化，将失效影响参数设定后进行浮动控制并在当前设定参数下进行静态老化；

步骤四、动态老化，将实时老化柜内零部件进行动态老化，在静态老化阶段完成后进入下一阶段时执行动态老化。

2.根据权利要求1所述的一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，步骤一零部件历史数据分析具体过程如下：

将实时待老化的部件标记为分析对象，并将同类型完成老化的分析对象进行分析，采集到同类型分析对象历史老化过程中影响老化进度的参数，并将其标记为预设影响参数，设置标号i，i为大于1的自然数，预设影响参数表示为影响零部件老化的参数；

采集到历史老化过程中对应预设影响参数浮动时同类型分析对象失效率浮动跨度以及预设影响参数浮动时同类型分析对象出现失效的频率；采集到历史老化过程中预设影响参数与分析对象失效率同趋势浮动的持续时长；通过分析获取到同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数；

将同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数与对应影响系数阈值进行比较：

若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为选中影响参数；若同类型分析对象的预设影响参数对应影响系数未超过对应影响系数阈值，则将对应预设影响参数标记为非选中影响参数。

3.根据权利要求2所述的一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，在同类型分析对象历史老化过程中，选中影响参数浮动时间段内对同类型分析对象的失效类型进行划分，并将失效类型划分为偶然失效类型和频繁失效类型，偶然失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长不一致且超过间隔时长阈值；频繁失效类型表示为同类型分析对象失效的间隔时长未超过间隔时长阈值。

4.根据权利要求1所述的一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，步骤三静态老化具体过程如下：

将自然失效时间段和老化时间段合并为静态控制时间段，则静态控制时间段内将设定的选中影响参数最大数值设置为静态恒定数值，且静态恒定数值未达到老化恒定时间段内的数值；

采集到静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度以及失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度，并将其分别与占比增加速度阈值以及间隔时长缩短速度阈值进行比较：

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度超过占比增加速度阈值，且失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率合格，生成老化效率合格信号并将老化效率合格信号发送至管理员终端；

若静态控制时间段内当前批次的分析对象对应失效产品实时数量占比的增加速度未超过占比增加速度阈值，或失效产品对用失效时刻的间隔时长缩短速度未超过间隔时长缩短速度阈值，则判定当前静态控制时间段内老化效率不合格，生成老化效率不合格信号并将老化效率不合格信号发送至管理员终端。

5.根据权利要求1所述的一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，步骤四中动态老化具体过程如下：

将老化恒定时间段与老化结束时间段进行动态老化，将老化恒定时间段进行选中影响参数浮动控制，在老化恒定时间段内，若分析对象的失效率恒定，则根据选中影响参数的影响趋势进行调整，即若选中影响参数与失效率呈正比则将选中影响参数进行增加控制，若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置一级增加跨度；若选中影响参数增加浮后，分析对象的失效率由恒定状态未转变为增加状态，则将对应分析对象当前选中影响参数设置二级增加跨度，其中，一级增加跨度为二级增加跨度的0.8倍，且一级增加跨度增加为持续增加，二级增加跨度在当前增加无影响后进行增加，且当前增加跨度值为历史相邻增加跨度值的1.5倍。

6.根据权利要求1所述的一种用于提高MCU老化柜老化监控效率的方法，其特征在于，将老化结束时间段与老化效率不合格信号产生的时间段进行动态老化，将对应时间段设置动态降低控制，在当前动态降低控制时间段内选中浮动参数同趋势增加后，分析对象的失效率浮动量未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将动态降低控制时间段进行二级增加跨度增加一次，并在完成二级增加跨度增加后失效率浮动量仍未超过失效率浮动量阈值，且分析对象的未失效数量占比低于未失效数量占比阈值，则将当前动态降低控制时间段内将分析对象的选中影响参数以二级增加跨度的形式进行降低，并在失效率未浮动后，将未失效的分析对象进行选中影响参数重获取。

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