CN115308519A - 一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备 - Google Patents

Abstract

本发明适用于测量技术领域，提供了一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备，其中，电子设备的老化检测方法，包括如下步骤：将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。通过本申请的方法，不需要获取电子设备中的各元器件大量的参数来判断电子设备是否老化，仅仅需要一个标准件即可判断，很大程度上简化了电子设备的检修流程，而且不需要改变电子设备的原有电路。

Description

一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备

技术领域

本发明涉及测量技术领域，尤其是涉及一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备。

背景技术

随着科技的进步，电子技术飞速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，需要工作人员不断的测试其性能，保证电子产品的正常运行。

电子设备类的产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路/断路。然而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但是在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现，而是用老化的方法来剔除。

如专利CN111750925A中记载：本发明实施例提出一种设备老化预测系统、方法和装置，涉及检测技术领域。该设备老化预测系统包括数据获取模块和处理器，数据获取模块与处理器电连接；数据获取模块用于获取被测设备中目标器件的参考数据和实时数据，并将参考数据和实时数据传输至处理器；处理器用于依据参考数据和实时数据获得出厂特征数据、当前特征数据、经历时间和经历工作强度数据；还用于将出厂特征数据、当前特征数据、经历时间、经历工作强度数据和预设工作强度数据输入预测模型中，获得被测设备的老化预测数据。进而使得设备老化预测系统能够准确的预测出被测设备的老化程度。

现有技术中对于电子设备的老化检测方式比较复杂，需要对整个电子设备测量很多的参数值，然后根据大量的参数值来进一步判断电子设备是否老化，通过破坏电子设备中的电路，将每个元器件拆除下来单独测试参数，单独进行老化检测，导致整个电子设备的老化检测过程比较长，检测比较复杂。

发明内容

本发明的目的是提供一种电子设备的老化检测方法、系统、介质和设备，来解决现有技术中存在的上述技术问题，主要包括以下四个方面：

本发明第一方面提供了一种电子设备的老化检测方法，包括如下步骤：

步骤S100：将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

步骤S200：根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

步骤S300：根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

进一步地，步骤S300包括：

若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S310：根据当前时刻所述电子设备中各所述元器件的失效率曲线获得各所述元器件对应的失效率；

步骤S320：将各所述元器件中最大失效率对应的元器件作为待测元器件；

步骤S330：获取所述待测元器件的理论值和实际测量值，并计算所述待测元器件的实际测量值和理论值之间的待测差值，若所述待测差值小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定所述待测元器件未老化，并执行下一步；若所述待测差值不小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定电子设备老化；

步骤S340：除去步骤S320确定的所述待测元器件之外的元器件，重复步骤S320至步骤S330，直至所有元器件均检测完成。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S350：获取当前时刻所述电子设备中各所述元器件的理论值和实际测量值；

步骤S360：计算各所述元器件对应的理论值和实际测量值之间的差值；

步骤S370：若所有元器件对应的差值的加权值小于预设差值阈值，则确定所述电子设备未老化。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定电子设备老化。

本发明第二方面提供了一种电子设备的老化检测系统，包括如下模块：

标准件模块：用于将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

获取模块：用于根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

判断模块：用于根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

进一步地，判断模块还用于：

若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化；

进一步地，判断模块还具体用于：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定电子设备老化。

本发明第三方面提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述程序被执行时，用于实现上述的电子设备的老化检测方法。

本发明第四方面提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述的电子设备的老化检测方法。

本发明相对于现有技术至少具有如下技术效果：

（1）本发明提供的电子设备的老化检测方法，通过引入标准件，将标准件与电子设备连接，然后根据标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值，根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值与预设标准差值阈值之间的比较，来判断所述电子设备是否老化，不需要获取电子设备中的各元器件大量的参数来判断电子设备是否老化，仅仅需要一个标准件即可判断，很大程度上简化了电子设备的检修流程，而且不需要改变电子设备的原有电路。

（2）本申请提供的电子设备的老化检测方法中，通过设置的所述标准件，可以在不同情况下快速准确地确定电子设备是否老化，若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化，此时不需要结合各个元器件的情况来进一步确定电子设备的老化情况；若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则需要进一步根据各所述元器件对应的失效率来判断所述电子设备是否老化，其中在该情况下，继续结合不同的情况来判断各元器件的情况进而确定电子设备是否老化，简化了电子设备老化检测的过程，且老化检测结果准确度高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明中电子设备的老化检测方法流程示意图一；

图2是本发明中的电子设备的老化检测方法流程示意图二 ；

图3是本发明中的可读存储介质结构示意图；

图4是本发明中的电子设备结构示意图。

具体实施方式

以下的说明提供了许多不同的实施例、或是例子，用来实施本发明的不同特征。以下特定例子所描述的元件和排列方式，仅用来精简的表达本发明，其仅作为例子，而并非用以限制本发明。

在下文中将参考附图对本发明的各方面进行更充分的描述。然而，本发明可以具体化成许多不同形式且不应解释为局限于贯穿本发明所呈现的任何特定结构或功能。相反地，提供这些方面将使得本发明周全且完整，并且本发明将给本领域技术人员充分地传达本发明的范围。基于本文所教导的内容，本领域的技术人员应意识到，无论是单独还是结合本发明的任何其它方面实现本文所公开的任何方面，本发明的范围旨在涵盖本文中所公开的任何方面。例如，可以使用本文所提出任意数量的装置或者执行方法来实现。另外，除了本文所提出本发明的多个方面之外，本发明的范围更旨在涵盖使用其它结构、功能或结构和功能来实现的装置或方法。

在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开。在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。

在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。

现有技术中通常对于电子设备的老化检测方法比较复杂，需要对整个电子设备测量很多的参数值，然后根据大量的参数值来进一步判断电子设备是否老化，通过破快电子设备中的电路，将每个元器件拆除下来单独测试参数，单独进行老化检测，导致整个电子设备的老化检测过程比较长，检测比较复杂。鉴于此，本申请提供了一种电子设备的老化检测方法，具体实施方式如下：

实施例一：

如图1-图2所示，本发明实施例一提供了一种电子设备的老化检测方法，包括如下步骤：

步骤S100：将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

步骤S200：根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

步骤S300：根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

上述方案中，引入了一个标准件，所述标准件可以是电容、电阻、二极管等元器件，在此不做限制，只要是元器件的各种参数符合标准要求均可。通过在电子设备上连接一个标准件，然后通过标准件的数值变化来判断整个电子设备的老化情况。

首先，将标准件与电子设备中原有的电路进行电连接，此时，标准件的接入并没有破坏电子设备的原有电路，其中电子设备中设置有多个元器件，且多个元器件之间通过电连接，电连接的方式可以是通过电线连接、WIFI、蓝牙等方式连接，在此不做限制，当标准件与电子设备连接后，标准件与电子设备并联，可以实现标准件与电子设备连通，通过连入的标准件的数值变化范围来确定电子设备是否老化。

具体地，获取标准件的失效率曲线，失效率是时间的函数，不同时间都有其对应的失效率，失效率曲线是失效率和时间之间的函数关系的体现，可以通过标准件在不同时刻对应的失效率来计算获得对应的理论值，与此同时，可以通过不同标准件对应的测量装置来测量获得标准件不同时刻的实际测量值，然后通过计算当前时刻标准件对应的理论值和实际测量值之间的差值，该差值作为标准差值，将标准差值与预设标准差值阈值进行比较，通过两者之间的比较来客观判断电子设备是否老化。

需要说明的是，不同的标准件对应不同的失效率曲线，即不同的标准件在不同时刻对应的失效率不同。

具体地，标准件当前时刻的理论值可以根据标准件在该时刻的历史理论值的平均值或加权值获得，还可以根据建立时间、失效率、理论值之间的函数关系，然后根据三者形成的函数关系可以通过获得的时间和失效率及时计算获得对应的理论值；实际测量值可以根据标准件在该时刻的历史实际测量值的平均值或加权值获得。

因此，本发明提供的电子设备的老化检测方法，通过引入标准件，将标准件与电子设备连接，然后根据标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值，根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值与预设标准差值阈值之间的比较，来判断所述电子设备是否老化，不需要获取电子设备中的各元器件大量的参数来判断电子设备是否老化，仅仅需要一个标准件即可判断，很大程度上简化了电子设备的检修流程，而且不需要改变电子设备的原有电路。

进一步地，步骤S300包括：

若所述标准件的所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准件的所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定电子设备老化。

上述方案中，根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值做差获得的标准差值与所述预设标准差值阈值进行比较，即可判断电子设备是否老化，具体的判断方法如下：

若标准差值小于预设标准差值阈值，则说明所述标准件的标准差值在未发生老化电路可得出的结果允许的范围内，及标准件所在的电路在运行正常，则同时也说明的位于该电路上的所有元器件均未发生老化，即电子设备未发生老化。

若标准差值不小于预设标准差值阈值，则说明所述标准件的标准差值超过了未发生老化的电路允许得出的范围，以及标准件所在的电路运行异常，则需要结合各个元器件的失效率对应的理论值和实际测量值来进一步判断电子设备是否老化，在此可以通过两种情况来判断电子设备是否老化，一种情况是经过判断所有的元器件均未老化，则可以确定电子设备没有老化；另一种情况是在判断的过程中出现至少一个元器件老化时，即当判断过程中出现一个元件老化时则可以确定电子设备发生了老化，也可以是当判断过程中出现了两个、三个、四个等数量的元器件老化时，则确定电子设备发生了老化，可选地，本申请中当判断过程中出现一个元器件老化时，则对应的确定电子设备发生了老化，不符合出厂要求。

本申请提供的电子设备的老化检测方法中，当通过设置的所述标准件，可以在不同情况下快速准确地确定电子设备是否老化，若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化，此时不需要结合各个元器件的情况来进一步确定电子设备的老化情况；若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则需要进一步根据各所述元器件对应的失效率来判断所述电子设备是否老化，其中在该情况下，继续结合不同的情况来判断各元器件的情况进而确定电子设备是否老化，简化了电子设备老化检测的过程，且老化检测结果准确度高。

需要说明的是，所述预设标准差值阈值可以是工作人员根据经验获得的经验值，也可以是通过当前时刻对应的历史标准差值的平均值或者加权值，还可以是不同时刻对应的标准差值的平均值或者加权值。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S310：根据当前时刻所述电子设备中各所述元器件的失效率曲线获得各所述元器件对应的失效率；

步骤S320：将各所述元器件中最大失效率对应的元器件作为待测元器件；

步骤S330：获取所述待测元器件的理论值和实际测量值，并计算所述待测元器件的实际测量值和理论值之间的待测差值，若所述待测差值小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定所述待测元器件未老化，并执行下一步；若所述待测差值不小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定电子设备老化；

步骤S340：除去步骤S320确定的所述待测元器件之外的元器件，重复步骤S320至步骤S330，直至所有元器件均检测完成。

上述方案中，根据各元器件对应的失效率来判断电子设备是否老化的具体方法是，首先，获取当前时刻电子设备中每一个元器件的失效率曲线，然后根据每一个元器件的失效率曲线获取当前时刻中的每一个元器件对应的失效率，然后将所有元器件的失效率按照从大到小或者从小到大的顺序进行排列，将最大的失效率对应的元器件作为待测元器件，本申请中采用将各元器件的失效率进行排序，并挑选失效率最大的元器件开始检测是否老化，由于同一时刻失效率越大表示该元器件发生老化的概率越大，因此，本申请中首先对越容易发生老化的元器件进行老化检测，可以快速判断电子设备是否发生了老化，避免了若有元器件发生老化的情况下，需要对所有元器件老化检测完成才能判断电子设备是否老化。

然后，根据待测元器件的失效率曲线进一步来通过时间、理论值、失效率三者之间的函数关系或者其他方法，来获得待测元器件对应的理论值，以及通过现场测量装置来获得待测元器件当前时刻对应的实际测量值，并根据待测元器件理论值和实际测量值之差，所获得的待测差值来与预设待测阈值进行比较，来判断待测元器件以及电子设备的老化情况。

前提在标准件进行电子设备老化检测时，标准差值不小于预设标准阈值，即表示电子设备可能出现了老化，但是为了更加准确的判断电子设备是否老化，则需要结合各元器件的老化情况来判断，若待测差值小于预设待测阈值时，则说明待测元器件并未发生老化，但是并不能直接判断电子设备未发生老化，需要进一步结合其余的元器件的老化检测结果来判断，先将上一次完成老化检测的待测元器件剔除，然后在剩余的元器件找到失效率最大的元器件作为新一轮的待测元器件，然后对于更新之后的待测元器件采用上述方法进一步判断其是否老化，重复上述元器件老化检测方法，若在老化检测中至少有一个元器件确定老化，则可以确定电子设备发生了老化，同时停止对其余元器件的老化检测，在很大程度上节省了电子设备老化检测的流程，节省了人力和时间等；若在老化检测的过程中没有出现老化的元器件，则需要对其余的元器件继续进行老化检测，直到所有的元器件检测完成后均没有出现老化的情况，才可以确定电子设备未发生老化。

需要说明的是，不同的待测元器件对应的预设待测阈值不同，这样设置对于元器件的老化判断更加准确。

进一步地，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S350：获取当前时刻所述电子设备中各所述元器件的理论值和实际测量值；

步骤S360：计算各所述元器件对应的理论值和实际测量值之间的差值；

步骤S370：若所有元器件对应的差值的加权值小于预设差值阈值，则确定所述电子设备未老化。

在标准件进行电子设备老化检测时，标准差值不小于预设标准阈值，即表示电子设备可能出现了老化，但是为了更加准确的判断电子设备是否老化，则需要结合各元器件的老化情况来判断，本申请还提供了一种在该情况下结合各元器件的老化情况来判断电子设备是否老化的方法，具体方法如下：

首先，获取当前时刻电子设备中每一个元器件的失效率曲线，然后根据每一个元器件的失效率曲线获取当前时刻中的每一个元器件对应的失效率，然后，根据各个元器件的失效率曲线进一步来通过时间、理论值、失效率三者之间的函数关系或者其他方法，来获得各个元器件对应的理论值，以及通过现场测量装置来获得各个元器件当前时刻对应的实际测量值，并计算各个元器件理论值和实际测量值之间的差值，最后对各个元器件的差值求取加权值，若加权值小于预设差值阈值时，则可以确定电子设备未老化。

需要说明的是：还可以将所有元器件的差值计算平均差值，然后将平均差值与预设差值阈值进行比较，来判断电子设备是否老化。

本申请通过上述方法，当通过标准件无法确定电子设备老化的情况下，直接获取当前时刻所有元器件的差值的加权值来与预设差值阈值进行比较，可以快速的确定电子设备是否老化。

实施例二：

本发明实施例二提供了一种电子设备的老化检测系统，包括如下模块：

标准件模块：用于将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

获取模块：用于根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

判断模块：用于根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

进一步地，判断模块还用于：

若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化；

进一步地，判断模块还具体用于：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定电子设备老化。

进一步地，判断模块还具体用于：

步骤S310：根据当前时刻所述电子设备中各所述元器件的失效率曲线获得各所述元器件对应的失效率；

步骤S320：将各所述元器件中最大失效率对应的元器件作为待测元器件；

步骤S330：获取所述待测元器件的理论值和实际测量值，并计算所述待测元器件的实际测量值和理论值之间的待测差值，若所述待测差值小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定所述待测元器件未老化，并执行下一步；若所述待测差值不小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定电子设备老化；

步骤S340：除去步骤S320确定的所述待测元器件之外的元器件，重复步骤S320至步骤S330，直至所有元器件均检测完成。

进一步地，判断模块还具体用于：

步骤S350：获取当前时刻所述电子设备中各所述元器件的理论值和实际测量值；

步骤S360：计算各所述元器件对应的理论值和实际测量值之间的差值；

步骤S370：若所有元器件对应的差值的加权值小于预设差值阈值，则确定所述电子设备未老化。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述系统和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

另外，在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。

实施例三：

本发明实施例三提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述程序被执行时，用于实现上述的电子设备老化的数据校准方法。

图3示出了本申请实施例三提供的一种计算机可读存储介质的结构框图。该计算机可读存储介质1200中存储有程序代码1210，所述程序代码1210可被处理器调用执行上述方法实施例中所描述的方法。

计算机可读存储介质1200可以是诸如闪存、EEPROM（电可擦除可编程只读存储器）、EPROM（可擦除可编程只读存储器）、硬盘或者ROM之类的电子存储器。可选地，计算机可读存储介质1200包括非易失性计算机可读存储介质（non-transitory computer-readablestorage medium）。计算机可读存储介质1200具有执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码1210的存储空间。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读取或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。程序代码1210可以例如以适当形式进行压缩。

实施例四：

本发明实施例四提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现上述的电子设备老化的数据校准方法。

图4为本申请实施四提供的一种电子设备1100的结构框图。本申请中的电子设备1100可以包括一个或多个如下部件：存储器1110、处理器1120、以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序可以被存储在存储器1110中并被配置为由一个或多个处理器1120执行，一个或多个程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。

存储器1110可以包括随机存储器（Random Access Memory, RAM），也可以包括只读存储器（Read-Only Memory,ROM）。存储器1110可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1110可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令（比如直方图均衡化功能等）、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储电子设备1100在使用中所创建的数据（比如图像矩阵数据等）。

处理器1120可以包括一个或者多个处理核。处理器1120利用各种接口和线路连接整个电子设备1100内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1110内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器1110内的数据，执行电子设备1100的各种功能和处理数据。可选地，处理器1120可以采用数字信号处理（Digital Signal Processing, DSP）、现场可编程门阵列（Field－Programmable Gate Array, FPGA）、可编程逻辑阵列（Programmable Logic Array, PLA）中的至少一种硬件形式来实现。处理器1120可集成中央处理器（Central Processing Unit, CPU）和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统和应用程序等；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器1120中，单独通过一块通信芯片进行实现。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子设备的老化检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S100：将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

步骤S200：根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

步骤S300：根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

2.如权利要求1所述的老化检测方法，其特征在于，步骤S300包括：

若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化。

3.如权利要求2所述的老化检测方法，其特征在于，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定所述电子设备老化。

4.如权利要求2所述的老化检测方法，其特征在于，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S310：根据当前时刻所述电子设备中各所述元器件的失效率曲线获得各所述元器件对应的失效率；

步骤S320：将各所述元器件中最大失效率对应的元器件作为待测元器件；

步骤S330：获取所述待测元器件的理论值和实际测量值，并计算所述待测元器件的实际测量值和理论值之间的待测差值，若所述待测差值小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定所述待测元器件未老化，并执行下一步；若所述待测差值不小于所述待测元器件对应的预设待测阈值，则确定电子设备老化；

步骤S340：除去步骤S320确定的所述待测元器件之外的元器件，重复步骤S320至步骤S330，直至所有元器件均检测完成。

5.如权利要求2所述的老化检测方法，其特征在于，若所述标准差值不小于预设标准差值阈值时，根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化，包括如下步骤：

步骤S350：获取当前时刻所述电子设备中各所述元器件的理论值和实际测量值；

步骤S360：计算各所述元器件对应的理论值和实际测量值之间的差值；

步骤S370：若所有元器件对应的差值的加权值小于预设差值阈值，则确定所述电子设备未老化。

6.一种电子设备的老化检测系统，其特征在于，包括如下模块：

标准件模块：用于将标准件与电子设备连接，所述电子设备上还设置有多个元器件，所述标准件用于对所述电子设备进行老化检测；

获取模块：用于根据所述标准件的失效率曲线，获取当前时刻所述标准件对应的理论值和实际测量值；

判断模块：用于根据当前时刻所述标准件的理论值和实际测量值之间的标准差值，来判断所述电子设备是否老化。

7.如权利要求6所述的老化检测系统，其特征在于，判断模块还用于：

若所述标准差值小于预设标准差值阈值，则所述电子设备未老化；

若所述标准差值不小于预设标准差值阈值，则根据各所述元器件对应的失效率判断所述电子设备是否老化。

8.如权利要求7所述的老化检测系统，其特征在于，判断模块还具体用于：

根据各所述元器件对应的失效率判断各所述元器件是否老化；

若所有元器件均未老化，则确定所述电子设备未老化；

若存在至少一个元器件老化，则确定所述电子设备老化。

9.一种可读存储介质，其特征在于，用于存储程序，所述存储程序被执行时，用于实现如权利要求1-5任一项所述的电子设备的老化检测方法。

10.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-5任一项所述的电子设备的老化检测方法。

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