CN116087860B - 示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质 - Google Patents

示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质 Download PDF

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Abstract

一种示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质,对示波器输入已知模拟信号,基于输入的已知模拟信号,按照预先构建的示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的已知模拟信号在显示界面中显示的波形的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至示波器,这样,通过对触发电平进行校正,以及对触发时延进行补偿,使得波形能够显示在示波器的显示界面中的期望位置上。

Description

示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质
技术领域
本发明涉及示波器技术领域,具体涉及一种示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质。
背景技术
目前,数字示波器为了兼容以前的模拟示波器以及用于通道扩展,还保留模拟触发通道,即外触发功能。如图1所示,当使用外触发功能时,触发信号和输入的波形信号所经过的路径是不一样的,触发信号经过的是模拟器件(比较器等)组成的路径,输入的波形信号经过的是数字器件(模数转换器ADC)组成的路径,由于模拟器件本身存在的分布参数和PCB走线延时,导致信号在经过触发路径和波形路径后触发点位置发生改变,例如示波器界面设置的触发电平为0V,但波形中心点位于非零位置,甚至有可能相差较远,从而导致波形无法显示在示波器的显示界面中的期望位置上。
发明内容
本发明旨在提供一种示波器外触发校正方法,能够对示波器外触发进行校正。
根据第一方面,一种实施例中提供一种示波器外触发校正方法,包括:
对所述示波器输入已知模拟信号;
基于输入的所述已知模拟信号,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,所述触发电平包括触发上限电平和触发下限电平;
将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的所述已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至所述示波器。
根据第二方面,一种实施例中提供一种示波器调试设备,用于对示波器进行出厂前调试,包括:
输入模块,用于对所述示波器输入已知模拟信号;
触发电平校正模块,用于基于输入的所述已知模拟信号,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,所述触发电平包括触发上限电平和触发下限电平;
触发延时补偿模块,用于将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的所述已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至所述示波器。
根据第三方面,一种实施例中提供一种示波器调试系统,包括:
待调试的示波器;
调试设备,被配置用于执行如上述任一个实施例所述的示波器外触发校正方法,用于对待调试的示波器进行外触发校正。
根据第四方面,一种实施例中提供一种计算机可读存储介质,所述介质上存储有程序,所述程序能够被处理器执行以实现如上述任一个实施例所述的示波器外触发校正方法。
依据上述实施例的示波器外触发校正方法、调试设备、系统及存储介质,对示波器输入已知模拟信号,基于输入的已知模拟信号,按照预先构建的示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的已知模拟信号在显示界面中显示的波形的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至示波器,这样,通过对触发电平进行校正,以及对触发时延进行补偿,使得波形能够显示在示波器的显示界面中的期望位置上。
附图说明
图1为一种典型的具有外触发功能的示波器的结构示意图;
图2为触发电平校正前波形信号和触发信号的波形示意图(一);
图3为触发电平校正前波形信号和触发信号的波形示意图(二);
图4为触发电平校正后波形信号和触发信号的波形示意图(一);
图5为触发电平校正后波形信号和触发信号的波形示意图(二);
图6为触发电平校正及触发时延补偿后波形信号和触发信号的波形示意图;
图7为触发电平正常和异常情况下触发点示意图;
图8为触发时延正常和异常情况下触发点示意图;
图9为本发明实施例的一种示波器外触发校正方法的流程图;
图10为寻找触发上限电平的流程图;
图11为寻找触发下限电平的流程图;
图12为本发明实施例的一种示波器调试设备的结构示意图。
具体实施方式
下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中,很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而,本领域技术人员可以毫不费力的认识到,其中部分特征在不同情况下是可以省略的,或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下,本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述,这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没,而对于本领域技术人员而言,详细描述这些相关操作并不是必要的,他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。
另外,说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时,方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此,说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例,并不意味着是必须的顺序,除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。
本文中为部件所编序号本身,例如“第一”、“第二”等,仅用于区分所描述的对象,不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”,如无特别说明,均包括直接和间接连接(联接)。
如图1所示,一种典型的具有外触发(模拟触发)功能的示波器包括:数模转换器(DAC)101、比较器102、模数转换器(ADC)103、可编程逻辑控制器(FPGA)104和显示器105,其中,数模转换器(DAC)101和比较器102组成模拟触发路径,模数转换器(ADC)103为信号路径,外触发通道和模拟通道均用于输入同一模拟信号,对于外触发功能来说,模拟触发信号和模拟输入信号一般为同一模拟信号,数模转换器(DAC)101用于在数字处理器(图中未示出)的控制下输出所需的触发电平,触发电平与模拟信号经过比较器102比较后输出触发数据,模拟信号经过模数转换器(ADC)103进行数字采样后,得到数字波形数据,触发数据和数字波形数据经过可编程逻辑控制器(FPGA)104的处理后,得到显示用的波形图像数据,并将波形图像数据发送至显示器105进行显示。
如前述,由于模拟触发路径和信号路径的器件不同,导致两个路径的触发中心的电平不一致,如图2所示,W为显示界面上所显示的波形信号,T为触发信号。假设示波器设置下降沿触发,触发电平是0V,那么数模转换器(DAC)101输出0V电压,当输入的模拟信号小于0V时,示波器触发;0V的触发电平意味着触发点在示波器的显示界面的零平线位置,即垂直Y方向一半的位置,然而,图2中显示界面上波形信号W和Y轴的交点不在零平线位置,位于Y轴上半部分,那么意味着数模转换器(DAC)101输出的触发电平没有映射到零平线位置。触发电平为0V时,将Δ1表示波形信号W与Y轴交点对应的电压与DAC输出的触发电平之间的差值,则:
Δ1 = y1-y0,
其中,y1表示波形信号W与Y轴交点对应的电压,y0表示DAC输出的触发电平。图2中,x0表示DAC输出的触发电平过零平线对应的触发时间,x1表示波形信号W与Y轴交点对应的触发时间。
此外,图1所示的具有外触发(模拟触发)功能的示波器,除了触发位置不重合的问题外还存在触发电压非线性的问题,如图3所示,把示波器触发电平设置成100mV,理论上触发信号T会往Y轴上半部分平移100mV,同时波形信号W也会往Y轴上半部分平移100mV。触发电平为100mV时,Δ2表示波形信号W与Y轴交点对应的电压与DAC输出的触发电平之间的差值,则:
Δ2 = y3-y2,
其中,y3表示波形信号W与Y轴交点对应的电压,y2表示DAC输出的触发电平。图3中,x2表示DAC输出的触发电平为y2时对应的触发时间,x3表示波形信号W与Y轴交点对应的触发时间。
实际上,差值Δ2不一定等于Δ1,那么意味着波形信号在每个像素点对应的电压值和DAC码字对应的电压值不相等,甚至差异较大。因此,需要对触发电平进行校正。
另一方面,还有一个关键问题影响示波器的外触发功能,那就是触发延时。假设示波器已经完成触发电平校正,那么可能出现如图4、图5所示的现象。
如图4,触发电平校正后,假设触发电平设置为0V,那么:Δ3 = y5-y4 ,Delay1 =x5-x4,其中,Δ3表示图4中波形信号W与Y轴交点对应的电压与DAC输出的触发电平之间的差值,y5表示波形信号W与Y轴交点对应的电压,y4表示DAC输出的触发电平,Delay1 表示波形信号与触发信号之间的触发时延,x4表示DAC输出的触发电平为y4时对应的触发时间,x5表示波形信号W与Y轴交点对应的触发时间。
如图5,触发电平校正后,假设触发电平设置为100mV,那么:Δ4 = y7-y6 ,Delay2= x7-x6,其中,Δ4表示图5中波形信号W与Y轴交点对应的电压与DAC输出的触发电平之间的差值,y7表示波形信号W与Y轴交点对应的电压,y6表示DAC输出的触发电平,Delay2表示波形信号与触发信号之间的触发时延,x6表示DAC输出的触发电平为y4时对应的触发时间,x7表示波形信号W与Y轴交点对应的触发时间。
结合上述可知,Δ3 ≈ Δ4,Delay1 ≈ Delay2,可以根据设置不同的配置组合,记录对应的delay值,当用户使用相关配置时调用对应delay用于补偿,那么经过触发电平和延时校正后,信号经过触发路径和数据路径可以如图6所示。在图6中,触发信号和波形信号完全重合。
从上述图2至图6中可知,在确定触发点和触发时延后,即可完成示波器的外触发校正,那么如何确定触发点和触发时延?对于该问题,本发明实施例先确定触发点,假设触发电平设置为0V,改变时基,没有发生位置改变的点就是触发点,如图7所示。图7中,t1、t2、t3表示三个不同时基,图7中(a)为触发电平正常情况,此时改变时基,触发点(x,y)位于原点,图7中(b)为触发电平异常的情况,此时触发点(x’,y’)不在原点,根据上述公式计算,图7 只有触发电平的问题,没有触发时延(delay)的问题。如图8所示,图8中(a)为触发时延(delay)为正常情况,图8中(b)为触发时延(delay)异常的情况,图8 只有触发时延的问题,没有触发电平的问题。
基于上述描述可知,本发明实施例提供的示波器为数字示波器,其为数字系统,外触发功能则是通过模拟系统实现的,由于模拟器件的分布参数、器件之间和机器之间均存在差异,因此需要把示波器的显示界面配置的触发电平和实际显示到显示界面上的波形数据,在不同配置下构建一个一一对应的关系,使用户端看不到触发路径和数据路径的差异。
请参考图9,本发明实施例提供了一种示波器外触发校正方法,该校正方法应用于示波器出厂前调试示波器的调试设备中,包括步骤201至步骤203。
步骤201:对示波器输入已知模拟信号。该已知模拟信号可以为正弦波信号,其作为示波器的模拟触发信号和输入信号。在一实施例中,已知模拟信号的表达式为f(t)=A*sin(2*pi*t),其中,f(t)∈[-A,A],f(t)表示已知模拟信号,A表示振幅,t表示时间,pi表示圆周率。
步骤202:基于输入的已知模拟信号,按照预先构建的示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,触发电平包括触发上限电平和触发下限电平。
在一实施例中,示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系如以下表达式:
delta = ( upperVal - downVal + compsen) / point,
其中,upperVal表示触发上限电平,downVal表示触发下限电平,compsen表示示波器的模拟触发通道中比较器的迟滞窗口,point表示示波器显示界面中显示的波形的顶部到底部包含的像素点的数量,delta表示示波器显示界面中每个像素点包含的信号电压值。
如图10所示,确定触发上限电平包括以下流程:
(1-1)设定触发上限电平的初始范围(max|v|- init|v|),触发上限电平的初始范围为初始上限电平max|v|和初始下限电平init|v|之间的范围。
(1-2)在触发上限电平的初始范围内,将初始上限电平max|v|的一半作为参考上限电平。即:初始设置的参考上限电平为max|v|/2。
(1-3)向上调整参考上限电平一个上限调整值,得到当前触发上限电平。初始设置的当前触发上限电平curr1|v|=(max|v|- min1|v|)/2+ min1|v|,min1|v|为上限调整值。
(1-4)判断当前触发上限电平是否能够触发示波器输入的已知模拟信号。
(1-5)若能够触发示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为上限调整值,以更新上限调整值,并向上调整所述参考上限电平一个更新后的上限调整值,更新当前触发上限电平。即:min1|v|=curr1|v|,Curr1|v|+=(max|v|- curr1|v|)/2,curr1|v|为更新前的当前触发上限电平,Curr1|v|为更新后的当前触发上限电平。
(1-6)若不能够触发示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为初始上限电平max|v|,以更新参考上限电平,并向下调整更新后的参考上限电平一个上限调整值, 更新当前触发上限电平。即:max|v|= curr1|v|,Curr1|v|-=(curr1|v|-min1|v|)/2,curr1|v|为更新前的当前触发上限电平,Curr1|v|为更新后的当前触发上限电平。
(1-7)判断初始上限电平max|v|与上限调整值之间的差值是否小于预设差值,即计算max|v|- min1|v|的值。
(1-8)若小于预设差值,则将当前触发上限电平作为最终确定的触发上限电平Uplimit。需要说明的是,在当前触发上限电平在上述步骤中有更新时,该当前触发上限电平为更新后的当前触发上限电平。
(1-9)若不小于预设差值,则继续判断当前触发上限电平是否能够触发示波器输入的已知模拟信号,即返回(1-4),继续循环执行。需要说明的是,在当前触发上限电平在上述步骤中有更新时,该当前触发上限电平为更新后的当前触发上限电平。
如图11所示,确定触发下限电平包括以下流程:
(2-1)设定触发下限电平的初始范围(init|v|-0),触发下限电平的初始范围为初始下限电平init|v|和0之间的范围。
(2-2)在触发下限电平的初始范围内,将初始下限电平init|v|的一半作为参考下限电平,即:初始设置的参考下限电平为init|v|/2。
(2-3)向下调整参考下限电平一个下限调整值,得到当前触发下限电平。初始设置的当前触发下限电平curr2|v|=(init|v|- min2|v|)/2- min2|v|,min2|v|为下限调整值。
(2-4)判断当前触发下限电平是否能够触发示波器输入的已知模拟信号。
(2-5)若能够触发示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为初始下限电平init|v|,以更新参考下限电平,并向下调整更新后的参考下限电平一个下限调整值, 更新当前触发下限电平。即:init|v|= curr2|v|,Curr2|v|-=(curr2|v|-min2|v|)/2,curr2|v|为更新前的当前触发下限电平,Curr2|v|为更新后的当前触发下限电平。
(2-6)若不能够触发示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为下限调整值,以更新下限调整值,并向上调整参考下限电平一个更新后的下限调整值,更新当前触发下限电平。即:min2|v|= curr2|v|,Curr2|v|+=(init|v|- curr2|v|)/2,curr2|v|为更新前的当前触发下限电平,Curr2|v|为更新后的当前触发下限电平。
(2-7)判断初始下限电平init|v|与下限调整值之间的差值是否小于预设差值,即计算init|v|- min2|v|的值。
(2-8)若小于预设差值,则将当前触发下限电平作为最终确定的触发下限电平Lowlimit。需要说明的是,在当前触发下限电平在上述步骤中有更新时,该当前触发下限电平为更新后的当前触发下限电平。
(2-9)若不小于预设差值,则继续判断当前触发下限电平是否能够触发示波器输入的已知模拟信号,即返回(2-4),继续循环执行。需要说明的是,在当前触发下限电平在上述步骤中有更新时,该当前触发下限电平为更新后的当前触发下限电平。
步骤203:将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至示波器。在输入已知模拟信号后,并按照上述步骤找到的触发上限电平和触发下限电平进行触发,并在显示界面中测量显示的波形中心点到显示界面的中心点的时延值,该时延值即为触发时延,记录该触发时延以后,将该触发时延保存至示波器,以使示波器进行时延补偿。需要说明的是,在已知触发时延的情况下,示波器进行时延补偿的方法,可采用现有技术中任一种示波器时延补偿方法,本实施例不再赘述。
上述方法中涉及的触发电平校正和触发时延校正,均是针对于以示波器的一组配置的,因此,还需对所有配置进行校正,以完成校正功能,表1示出了示波器的所有配置。
表1
Figure SMS_1
表1中EXT表示输入正弦信号1.2Vpp(映射到模拟通道200mv/div);EXT/5表示输入正弦信号5Vpp(映射到模拟通道1V/div);DC表示直流耦合;AC表示交流耦合;HJ表示高频抑制;LJ表示低频抑制。在本实施例中,DC和HJ使用相同输入配置,其配置下输入信号的频率为2kHz,时基设置200us;AC和LJ使用相同输入配置,其配置下输入信号的频率为1MHz,时基设置200ns。
请参考图12,本发明实施例还提供了一种示波器调试设备,其用于对示波器进行出厂前调试,包括:输入模块301、触发电平校正模块302和触发延时补偿模块303。
输入模块301用于对所述示波器输入已知模拟信号。
触发电平校正模块302用于基于输入的已知模拟信号,按照预先构建的示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,触发电平包括触发上限电平和触发下限电平。
触发延时补偿模块303用于将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的所述已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至所述示波器。
需要说明的是,示波器调试设备中的功能模块与上述实施例的方法步骤相对应,其具体实施方式已在上述实施例详细说明,此处不再赘述。
本发明实施例还提供了一种示波器调试系统,该调试系统包括待调试的示波器和调试设备,调试设备用于执行上述任一实施例提供的方法。
本领域技术人员可以理解,上述实施方式中各种方法的全部或部分功能可以通过硬件的方式实现,也可以通过计算机程序的方式实现。当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时,该程序可以存储于一计算机可读存储介质中,存储介质可以包括:只读存储器、随机存储器、磁盘、光盘、硬盘等,通过计算机执行该程序以实现上述功能。例如,将程序存储在设备的存储器中,当通过处理器执行存储器中程序,即可实现上述全部或部分功能。另外,当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时,该程序也可以存储在服务器、另一计算机、磁盘、光盘、闪存盘或移动硬盘等存储介质中,通过下载或复制保存到本地设备的存储器中,或对本地设备的系统进行版本更新,当通过处理器执行存储器中的程序时,即可实现上述实施方式中全部或部分功能。
以上应用了具体个例对本发明进行阐述,只是用于帮助理解本发明,并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员,依据本发明的思想,还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (8)

1.一种示波器外触发校正方法,其特征在于,包括:
对所述示波器输入已知模拟信号;
基于输入的所述已知模拟信号,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,所述触发电平包括触发上限电平和触发下限电平;
将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的所述已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至所述示波器;
按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平包括:
其中,确定所述触发上限电平包括:
获取所述触发上限电平的初始范围,所述触发上限电平的初始范围为初始上限电平max|v|和初始下限电平init|v|之间的范围;
在所述触发上限电平的初始范围内,将初始上限电平max|v|的一半作为参考上限电平;
将初始设置的当前触发上限电平作为当前触发上限电平;其中初始设置的当前触发上限电平为curr1|v|,curr1|v|=(max|v|- min1|v|)/2+ min1|v|,min1|v|为上限调整值;
判断所述当前触发上限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号;
若能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为上限调整值,以更新所述上限调整值,并根据所述参考上限电平和更新后的上限调整值,更新当前触发上限电平,更新后的当前触发上限电平为Curr1|v|,Curr1|v|+=(max|v|- curr1|v|)/2;
若不能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为初始上限电平max|v|,以更新所述参考上限电平,并根据更新后的所述参考上限电平和上限调整值,更新当前触发上限电平,更新后的当前触发上限电平为Curr1|v|,Curr1|v|-=(curr1|v|-min1|v|)/2;
判断所述初始上限电平max|v|与所述上限调整值之间的差值是否小于预设差值;
若小于预设差值,则将当前触发上限电平作为最终确定的触发上限电平;
若不小于预设差值,则继续判断所述当前触发上限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号。
2.如权利要求1所述的示波器外触发校正方法,其特征在于,所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系如以下表达式:
delta = ( upperVal - downVal + compsen) / point,
其中,upperVal表示触发上限电平,downVal表示触发下限电平,compsen表示示波器的模拟触发通道中比较器的迟滞窗口,point表示示波器显示界面中显示的波形的顶部到底部包含的像素点的数量,delta表示示波器显示界面中每个像素点包含的信号电压值。
3.如权利要求1或2所述的示波器外触发校正方法,其特征在于,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平包括:
其中,确定所述触发下限电平包括:
获取所述触发下限电平的初始范围,所述触发下限电平的初始范围为初始下限电平init|v|和0之间的范围;
在所述触发下限电平的初始范围内,将初始下限电平init|v|的一半作为参考下限电平;
将初始设置的当前触发下限电平作为当前触发下限电平,所述当前触发下限电平为curr2|v,curr2|v|=(init|v|- min2|v|)/2- min2|v|,min2|v|为下限调整值;
判断所述当前触发下限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号;
若能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为初始下限电平init|v|,以更新所述参考下限电平,并根据更新后的所述参考下限电平和下限调整值, 更新当前触发下限电平,更新后的当前触发下限电平为Curr2|v|,Curr2|v|-=(curr2|v|-min2|v|)/2;
若不能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为下限调整值,以更新所述下限调整值,并根据所述参考下限电平和更新后的下限调整值,更新当前触发下限电平,更新后的当前触发下限电平为Curr2|v|,Curr2|v|+=(init|v|- curr2|v|)/2;
判断所述初始下限电平init|v|与所述下限调整值之间的差值是否小于预设差值;
若小于预设差值,则将当前触发下限电平作为最终确定的触发下限电平;
若不小于预设差值,则继续判断所述当前触发下限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号。
4.一种示波器调试设备,用于对示波器进行出厂前调试,其特征在于,包括:
输入模块,用于对所述示波器输入已知模拟信号;
触发电平校正模块,用于基于输入的所述已知模拟信号,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平,所述触发电平包括触发上限电平和触发下限电平;
触发延时补偿模块,用于将所确定的触发电平作为示波器的触发电平,在不同配置下,获取示波器输入的所述已知模拟信号在显示界面中显示的波形到显示界面的中心点的时延值,并将不同配置下的时延值保存至所述示波器;
按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平包括:
其中,确定所述触发上限电平包括:
获取所述触发上限电平的初始范围,所述触发上限电平的初始范围为初始上限电平max|v|和初始下限电平init|v|之间的范围;
在所述触发上限电平的初始范围内,将初始上限电平max|v|的一半作为参考上限电平;
将初始设置的当前触发上限电平作为当前触发上限电平;其中初始设置的当前触发上限电平为curr1|v|,curr1|v|=(max|v|- min1|v|)/2+ min1|v|,min1|v|为上限调整值;
判断所述当前触发上限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号;
若能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为上限调整值,以更新所述上限调整值,并根据所述参考上限电平和更新后的上限调整值,更新当前触发上限电平,更新后的当前触发上限电平为Curr1|v|,Curr1|v|+=(max|v|- curr1|v|)/2;
若不能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发上限电平作为初始上限电平max|v|,以更新所述参考上限电平,并根据更新后的所述参考上限电平和上限调整值,更新当前触发上限电平,更新后的当前触发上限电平为Curr1|v|,Curr1|v|-=(curr1|v|-min1|v|)/2;
判断所述初始上限电平max|v|与所述上限调整值之间的差值是否小于预设差值;
若小于预设差值,则将当前触发上限电平作为最终确定的触发上限电平;
若不小于预设差值,则继续判断所述当前触发上限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号。
5.如权利要求4所述的示波器调试设备,其特征在于,所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系如以下表达式:
delta = ( upperVal - downVal + compsen) / point,
其中,upperVal表示触发上限电平,downVal表示触发下限电平,compsen表示示波器的模拟触发通道中比较器的迟滞窗口,point表示示波器显示界面中显示的波形的顶部到底部包含的像素点的数量,delta表示示波器显示界面中每个像素点包含的信号电压值。
6.如权利要求4或5所述的示波器调试设备,其特征在于,按照预先构建的所述示波器的触发电平和示波器显示界面中显示的波形数据之间的关系,确定触发电平包括:
其中,确定所述触发下限电平包括:
获取所述触发下限电平的初始范围,所述触发下限电平的初始范围为初始下限电平init|v|和0之间的范围;
在所述触发下限电平的初始范围内,将初始下限电平init|v|的一半作为参考下限电平;
将初始设置的当前触发下限电平作为当前触发下限电平,所述当前触发下限电平为curr2|v|,curr2|v|=(init|v|- min2|v|)/2- min2|v|,min2|v|为下限调整值;
判断所述当前触发下限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号;
若能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为初始下限电平init|v|,以更新所述参考下限电平,并根据更新后的所述参考下限电平和下限调整值, 更新当前触发下限电平,更新后的当前触发下限电平为Curr2|v|,Curr2|v|-=(curr2|v|-min2|v|)/2;
若不能够触发所述示波器输入的已知模拟信号,将当前触发下限电平作为下限调整值,以更新所述下限调整值,并根据所述参考下限电平和更新后的下限调整值,更新当前触发下限电平,更新后的当前触发下限电平为Curr2|v|,Curr2|v|+=(init|v|- curr2|v|)/2;
判断所述初始下限电平init|v|与所述下限调整值之间的差值是否小于预设差值;
若小于预设差值,则将当前触发下限电平作为最终确定的触发下限电平;
若不小于预设差值,则继续判断所述当前触发下限电平是否能够触发所述示波器输入的已知模拟信号。
7.一种示波器调试系统,其特征在于,包括:
待调试的示波器;
调试设备,被配置用于执行如权利要求1至3中任一项所述的示波器外触发校正方法,用于对待调试的示波器进行外触发校正。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述介质上存储有程序,所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-3中任一项所述的示波器外触发校正方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5184062A (en) * 1990-05-11 1993-02-02 Nicolet Instrument Corporation Dynamically calibrated trigger for oscilloscopes
JPH0854418A (ja) * 1994-08-17 1996-02-27 Yokogawa Electric Corp トリガ回路
CN101655513B (zh) * 2009-07-21 2013-05-08 深圳市鼎阳科技有限公司 数字示波器通道校正方法
CN103176011B (zh) * 2011-12-22 2016-09-07 北京普源精电科技有限公司 一种双触发电平的配置方法及示波器
CN103048508B (zh) * 2012-12-06 2016-03-16 深圳市鼎阳科技有限公司 提高数字示波器触发水平精度的方法、装置及数字示波器
CN106199114B (zh) * 2016-06-28 2018-11-09 电子科技大学 一种数字示波器的触发零电平自校正方法
CN206489205U (zh) * 2017-02-16 2017-09-12 深圳市鼎阳科技有限公司 降低示波器外触发波形抖动的系统、数字芯片和示波器
CN110231505B (zh) * 2019-06-06 2020-12-08 西安交通大学 一种基于三次样条插值的示波器波形抖动修正方法
CN114509589A (zh) * 2020-11-17 2022-05-17 北京普源精电科技有限公司 示波器的触发系统、触发方法、示波器以及存储介质
CN113466522B (zh) * 2021-07-09 2022-04-19 电子科技大学 一种数据采集系统的触发点偏移动态校正方法
CN113252958A (zh) * 2021-07-15 2021-08-13 深圳市鼎阳科技股份有限公司 一种数字示波器及其通道间延迟差的自动校准方法

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