CN115870815A - 镜片抛光检测方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例公开了镜片抛光检测方法及装置，实施例首先获取镜片参数和抛光参数，针对镜片参数对工位上的镜片进行检测是否一致，避免抛光错镜片；之后对当前目标工位对应的抛光设备的抛光参数进行匹配和校正，避免抛光参数出错，造成抛光误差；之后通过采集目标镜片抛光后的图像获取灰度偏差均值来与抛光精度进行匹配是否抛光合格，实施例采用视觉图像自动化对镜片表面的抛光程度进行检测，检测效率高，且准确性高。
Description
技术领域
本发明涉及光学镜片技术领域，具体涉及一种镜片抛光检测方法及装置。
背景技术
光学镜片是一种利用光学玻璃制造的镜片，由于光学镜片的独特的光学特性，光学镜片被广泛的运用于电子信息、汽车制造、精密加工等技术领域。在实际生产中，为了进一步的提升镜片的光学特性和结构强度，一般会对光学镜片进行一系列的冷加工处理，例如铣磨、精磨、抛光、清洗、磨边、镀膜等，光学镜片经过研磨液细磨后，其表面尚有厚约2–3m的裂痕层，要消除此裂痕层的方法即为抛光。目前一般工厂对于光学镜片的加工多采用上摆抛光机，上摆抛光机的工作状态为，在光学镜片上涂覆研磨剂之后，通过电机带动放有光学镜片的作业盘高速转动，并控制抛光盘贴近并最终紧贴光学镜片，同时控制抛光盘往复摆动，在抛光盘与作业盘的共同作用下，实现对光学镜片的抛光打磨。目前对抛光后的镜片进行抛光程度检测主要是人工检测，人工检测具有一定的主观性，效率低，准确性差。
发明内容
针对所述缺陷，本发明实施例公开了一种镜片抛光检测方法及装置，其可以对镜片表面的抛光程度进行精确检测。
本发明实施例第一方面公开了一种镜片抛光检测方法，包括：
响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值；
满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：
采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：
根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；
采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；
每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；
比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，所述预设选位规则包括：
分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；
挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，还包括：
获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；
当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，获取当前图像的第一灰度偏差均值，包括：
将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；
任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；
计算全部差值之间的平均值。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第一方面中，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：
将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；
当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
本发明实施例第二方面公开一种镜片抛光检测装置，包括：
指令响应模块：用于响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
参数比对模块：用于获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
镜片抛光模块：用于采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
灰度计算模块：用于采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度均值；
精度检测模块：用于满足抛光时长时检测所述第一灰度均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：
采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：
根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；
采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；
每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；
比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，所述预设选位规则包括：
分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；
挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，还包括：
获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；
当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，获取当前图像的第一灰度偏差均值，包括：
将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；
任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；
计算全部差值之间的平均值。
作为一种可选的实施方式，在本发明实施例第二方面中，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：
将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；
当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
本发明实施例第三方面公开一种电子设备，包括：存储有可执行程序代码的存储器；与所述存储器耦合的处理器；所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，用于执行本发明实施例第一方面公开的镜片抛光检测方法。
本发明实施例第四方面公开一种计算机可读存储介质，其存储计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行本发明实施例第一方面公开的镜片抛光检测方法。
与现有技术相比，本发明实施例具有以下有益效果：
本发明实施例中首先获取镜片参数和抛光参数，针对镜片参数对工位上的镜片进行检测是否一致，避免抛光错镜片；之后对当前目标工位对应的抛光设备的抛光参数进行匹配和校正，避免抛光参数出错，造成抛光误差；之后通过采集目标镜片抛光后的图像获取灰度偏差均值来与抛光精度进行匹配是否抛光合格，实施例采用视觉图像自动化对镜片表面的抛光程度进行检测，检测效率高，且准确性高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例公开的一种镜片抛光检测方法的流程示意图；
图2是本发明实施例公开的另一种镜片抛光检测方法的流程示意图；
图3是本发明实施例公开的另一种镜片抛光检测方法的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的一种镜片抛光检测装置的结构示意图；
图5是本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。本发明实施例的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，示例性地，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本发明实施例公开了一种镜片抛光检测方法、装置、电子设备及存储介质，实施例中首先获取镜片参数和抛光参数，针对镜片参数对工位上的镜片进行检测是否一致，避免抛光错镜片；之后对当前目标工位对应的抛光设备的抛光参数进行匹配和校正，避免抛光参数出错，造成抛光误差；之后通过采集目标镜片抛光后的图像获取灰度偏差均值来与抛光精度进行匹配是否抛光合格，实施例采用视觉图像自动化对镜片表面的抛光程度进行检测，检测效率高，且准确性高。
实施例一
请参阅图1，图1是本发明实施例公开的镜片抛光检测方法的流程示意图。其中，本发明实施例所描述的方法的执行主体为由软件或/和硬件组成的执行主体，该执行主体可以通过有线或/和无线方式接收相关信息，并可以发送一定的指令。当然，其还可以具有一定的处理功能和存储功能。该执行主体可以控制多个设备，例如远程的物理服务器或云服务器以及相关软件，也可以是对某处安置的设备进行相关操作的本地主机或服务器以及相关软件等。在一些场景中，还可以控制多个存储设备，存储设备可以与设备放置于同一地方或不同地方。
如图1所示，该镜片抛光检测方法包括以下步骤：
101、响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长。
实施例中，应用在一个镜片抛光系统中，该镜片抛光系统包括上位机和抛光装置，其中，上位机通常为操控主机，包含台式电脑、笔记本电脑、智能手机等智能终端，抛光装置通常包括工作台以及设置在工作台上的抛光设备，包含多种驱动电机、抛光机、夹具、抛光承放台、控制器等，驱动电机可通过电缆与控制器连接，而控制器与上位机连接。镜片抛光指令在上位机生成，由具有输入镜片抛光信号权限的用户生成该镜片抛光指令，一个镜片抛光指令对应一个镜片或者一组镜片的抛光，这里该组镜片的抛光信息相同。镜片编码用于对某一个镜片或者某一组镜片进行识别，通过该镜片编码，可以对镜片进行身份追溯，确保生成、抛光的准确性。
102、获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片。
本步骤中，主要基于镜片参数中的镜片编码进行比对，例如目标工位上的镜片编码是aaa，而镜片抛光指令对应的镜片参数的镜片编码是aab，两者不一致，表明目标工位上的镜片并不是目标镜片，需要重新替换。
103、采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光。
通常基于镜片抛光指令中的抛光参数对抛光设备进行调节，调节后，对抛光设备的参数进行检测，看是否与抛光参数中的一致，如果出现不一直的情况则需要对抛光设备进行校正，确保对镜片抛光的准确性。
104、采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值。
由于镜片在抛光前和抛光后，分别采集其表面的图像进行放大，呈现不同的凹凸不平状态，凹位和凸位对应的像素灰度值不同。通常，凸位对应的灰度值高，凹位对应的灰度值低。而对于抛光后的镜片，由于打磨了表面，去除了表面坑洼不平的位置，使得镜片表明整体的灰度值比较平均，因此实施例采用灰度偏差均值来衡量抛光精度，灰度偏差越小，抛光精度越高。实施例可以提前结合试验数据，设置不同的灰度偏差均值与抛光精度之间的对应关系，根据该对应关系对第一灰度偏差均值与抛光精度进行匹配。
105、满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
实施例二
请参阅图2，图2是本发明实施例公开的镜片抛光检测方法的流程示意图。如图2所示，该镜片抛光检测方法包括：
201、响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度、抛光时长和抛光开始时间。
202、采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
本步骤中，具体是根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
例如整个抛光装置包含有10个抛光工位，当前有6个抛光工位处于工作状态，也即是正常抛光其他镜片，有4个抛光工位处于空闲状态，假设选取的镜片抛光指令中镜片数量为1，则需要从4个空闲的抛光工位中选择一个抛光工位。具体的预设选位规则为，分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
而对于空闲工位的获取，根据计算得到的工作结束时间为17:31分，而当前的时间戳为17:32分，此时该抛光工位的第一工作状态为空闲。预设时长是根据实际需求设定的，例如可以是30秒，可以是10秒，也可以是一分钟。根据这个自动化设置的采集程序采集第二工作状态，例如可以通过在抛光工位设置红外传感器用于检测是否放置有镜片，又或者可以在抛光工位设置压力传感器来检测是否放置有镜片，等等，通过自动化的传感检测抛光工位是否在工作。例如每隔30秒采集一次，实施例中这里自动程序所采集的抛光工位的工作状态统一称为第二工作状态，当隔了30秒又一次采集了第二工作状态之后，用本次采集的第二工作状态替换上一次采集的第二工作状态，这两次第二工作状态可能相同，也可能不同。
203、获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片。
204、采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光。
205、采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值。
206、满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
实施例三
请参阅图3，图3是本发明实施例公开的镜片抛光检测方法的流程示意图。如图3所示，该镜片抛光检测方法包括：
301、响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度、抛光时长。
302、获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
303、采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光。
304、采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值；获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值。
本步骤中，获取当前图像的第一灰度偏差均值，具体包括：将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；计算全部差值之间的平均值。
并且，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
305、当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。当对目标镜片开始抛光，随着抛光时长的增加，目标镜片的表面逐渐光滑，表面坑洼的起伏度降低，因此灰度偏差均值数值降低，此时比对第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值，当大于阈值时，表面可能此时实际已经抛光足够，因此检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，如果匹配，则无需继续抛光，直接结束抛光即可。
306、满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
实施例四
请参阅图4，图4是本发明实施例公开的镜片抛光检测装置的结构示意图。如图4所示，该镜片抛光检测装置可以包括：指令响应模块401、参数比对模块402、镜片抛光模块403、灰度计算模块404和精度检测模块405，其中，指令响应模块401：用于响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；参数比对模块402：用于获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；镜片抛光模块403：用于采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；灰度计算模块404：用于采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度均值；精度检测模块405：用于满足抛光时长时检测所述第一灰度均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
上述中，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。预设选位规则包括：分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
本实施例的抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
实施例灰度计算模块404中进一步还可以包括获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。
在灰度计算模块404中，获取当前图像的第一灰度偏差均值，包括：将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；计算全部差值之间的平均值。进一步的，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
实施例五
请参阅图5，图5是本发明实施例公开的一种电子设备的结构示意图。电子设备可以是计算机以及服务器等，当然，在一定情况下，还可以是手机、平板电脑以及监控终端等智能设备，以及具有处理功能的图像采集装置。如图5所示，该电子设备可以包括：
存储有可执行程序代码的存储器501；
与存储器501耦合的处理器502；
其中，处理器502调用存储器501中存储的可执行程序代码，执行实施例一中的镜片抛光检测方法中的部分或全部步骤。
本发明实施例公开一种计算机可读存储介质，其存储计算机程序，其中，该计算机程序使得计算机执行实施例一中的镜片抛光检测方法中的部分或全部步骤。
本发明实施例还公开一种计算机程序产品，其中，当计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行实施例一中的镜片抛光检测方法中的部分或全部步骤。
本发明实施例还公开一种应用发布平台，其中，应用发布平台用于发布计算机程序产品，其中，当计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行实施例一中的镜片抛光检测方法中的部分或全部步骤。
在本发明的各种实施例中，应理解，所述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的必然先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物单元，即可位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。所述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元若以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可获取的存储器中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或者部分，可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储器中，包括若干请求用以使得一台计算机设备(可以为个人计算机、服务器或者网络设备等，具体可以是计算机设备中的处理器)执行本发明的各个实施例所述方法的部分或全部步骤。
在本发明所提供的实施例中，应理解，“与A对应的B”表示B与A相关联，根据A可以确定B。但还应理解，根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还可以根据A和/或其他信息确定B。
本领域普通技术人员可以理解所述实施例的各种方法中的部分或全部步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、随机存储器(RandomAccessMemory，RAM)、可编程只读存储器(ProgrammableRead-only Memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(ErasableProgrammableRead-Only Memory，EPROM)、一次可编程只读存储器(One-timeProgrammableRead-Only Memory，OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable ProgrammableRead-OnlyMemory，EEPROM)、只读光盘(CompactDisc Read-OnlyMemory，CD-ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
以上对本发明实施例公开的镜片抛光检测方法、装置、电子设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种镜片抛光检测方法，其特征在于，包括：
响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度偏差均值；
满足抛光时长时检测所述第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
2.根据权利要求1所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，在获取目标工位上的镜片的镜片参数之前，还包括：
采集抛光设备的空闲状态，预设选位规则选取该目标镜片的目标工位。
3.根据权利要求2所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，所述抛光参数还包括抛光开始时间，所述采集抛光设备的空闲状态，选取该目标镜片的目标工位，包括：
根据每一条镜片抛光指令对应的抛光时长以及抛光开始时间，计算该镜片抛光指令对应的抛光工位的工作结束时间；
采集当前时间戳，根据当前时间戳与每一个抛光工位的所述工作结束时间比对获取全部抛光工位的第一工作状态；
每隔预设时长采集一次每一个抛光工位的第二工作状态，擦写该抛光工位上一次的第二工作状态并记录本次的第二工作状态；
比对第一工作状态和第二工作状态是否一致，当一致时，以第一工作状态、第二工作状态为当前的工作状态，当不一致时，采集该抛光工位当前的工作状态。
4.根据权利要求3所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，所述预设选位规则包括：
分别获取每一个当前空闲的抛光工位的工位编码；
挑选最小的工位编码对应的抛光工位为目标工位。
5.根据权利要求1所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，还包括：
获取原始图像的第二灰度偏差均值，在满足抛光时长之前，比对第二灰度均值与第一灰度偏差均值；
当第二灰度偏差均值与第一灰度偏差均值之间的差值大于阈值，检测第一灰度偏差均值是否与抛光精度匹配。
6.根据权利要求1所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，获取当前图像的第一灰度偏差均值，包括：
将当前图像划分为若干个区域，获取每一个区域分别对应的灰度均值；
任意选取一个区域的灰度均值为基准均值，计算其他区域的灰度均值与基站均值之间的差值；
计算全部差值之间的平均值。
7.根据权利要求6所述的镜片抛光检测方法，其特征在于，获取每一个区域分别对应的灰度均值之前，还包括：
将每一个区域划分为若干个采集点，检测每一个采集点的灰度值是否高于第一阈值或者低于第二阈值；
当任意一个区域存在采集点高于第一阈值或者低于第二阈值时，标记该区域，以对该区域进行二次抛光。
8.一种镜片抛光检测装置，其特征在于，包括：
指令响应模块：用于响应于镜片抛光指令，获取镜片抛光指令中目标镜片的镜片参数和抛光参数，所述镜片参数包括镜片编码和镜片尺寸，所述镜片参数包括抛光精度和抛光时长；
参数比对模块：用于获取目标工位上的镜片的镜片参数，比对该镜片的镜片参数与目标镜片的镜片参数是否一致，且当一致时，将目标工位上的镜片定义为目标镜片；
镜片抛光模块：用于采集目标工位上的目标镜片抛光前的原始图像，并基于所述抛光参数对抛光设备进行参数校正之后对目标镜片进行抛光；
灰度计算模块：用于采集目标镜片抛光后的当前图像，获取当前图像的第一灰度均值；
精度检测模块：用于满足抛光时长时检测所述第一灰度均值是否与抛光精度匹配，且匹配时定义抛光结束，不匹配时定义抛光不合格。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储有可执行程序代码的存储器；与所述存储器耦合的处理器；所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，用于执行权利要求1至7任一项所述的镜片抛光检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行权利要求1至7任一项所述的镜片抛光检测方法。
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