CN115752991B - 冲击测试装置及冲击测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种冲击测试装置及冲击测试系统，该冲击测试装置用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，冲击测试装置至少包括：冲击件以及水平位移机构；水平位移机构至少包括：水平导轨以及与水平导轨滑动连接的滑动平台；滑动平台沿着第一方向相对于水平导轨滑动；滑动平台包括：主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备；冲击件击打电子设备后，冲击件沿着主体部进入凹槽。这样，能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

Description

冲击测试装置及冲击测试系统

技术领域

本申请实施例涉及终端技术领域，特别涉及一种冲击测试装置及冲击测试系统。

背景技术

目前，手机、电脑等电子设备已经和我们的生活密不可分，生活中随处可见，且极大地提高了人们的生活水平。

在生产过程中，为了抽样检测电子设备样机的良品率，一般会对电子设备样机的可靠性例如抗冲击性能进行测试。以手机为例，相关技术中，一般会使用钢球冲击装置对手机样机的抗冲击性能进行测试，具体地，钢球冲击装置包括有底座、XY轴电动平台，升降结构，钢球吸附释放机构以及防止钢球二次冲击装置，在实际操作时，将手机样机固定在XY轴电动平台的中央，然后设置冲击位置坐标，将钢球放置在钢球吸附释放机构处，点击释放，钢球落下弹起后被夹住，以此完成一轮测试。

然而，上述方案中，整个测试过程需要测试人员全程手动操作，测试时间较长，且测试效率较低。

发明内容

本申请实施例提供一种冲击测试装置及冲击测试系统，能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

本申请实施例第一方面提供一种冲击测试装置，该冲击测试装置用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，该冲击测试装置至少包括：冲击件以及水平位移机构；所述水平位移机构至少包括：水平导轨以及与所述水平导轨滑动连接的滑动平台；所述滑动平台沿着第一方向相对于所述水平导轨滑动；所述滑动平台包括：主体部以及位于所述主体部外周的凹槽，所述主体部用于固定所述电子设备；所述冲击件击打所述电子设备后，所述冲击件沿着所述主体部进入所述凹槽。

本申请实施例提供的冲击测试装置中，滑动平台与水平导轨滑动连接，滑动平台能够沿着第一方向相对于水平导轨滑动，以实现滑动平台在水平方向上的位移。通过将滑动平台设计为包括主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备，冲击件击打电子设备后，冲击件可以沿着主体部进入凹槽，这样，能够实现对击打电子设备后掉落的冲击件的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备后掉落的冲击件手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

在一种可能的实现方式中，所述凹槽具有至少一个开口，以使所述冲击件通过所述开口离开所述凹槽。通过在凹槽上设置至少一个开口，能够便于击打电子设备后掉落的冲击件沿着滑动平台的主体部进入凹槽后，再通过开口离开凹槽。

在一种可能的实现方式中，所述凹槽包括第一凹槽以及第二凹槽；从所述第一凹槽的第一端至所述第一凹槽的第二端，所述第一凹槽的槽深逐渐变深；从所述第二凹槽的第一端至所述第二凹槽的第二端，所述第二凹槽的槽深逐渐变深；所述第一凹槽的第一端与所述第二凹槽的第一端相连，所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端相连；所述开口位于所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端的连接位置处。

由于第一凹槽的第一端与第二凹槽的第一端相连，第一凹槽的第二端与第二凹槽的第二端相连，凹槽为一个闭合的槽形。从第一凹槽的第一端至第一凹槽的第二端，第一凹槽的槽深逐渐变深，从第二凹槽的第一端至第二凹槽的第二端，第二凹槽的槽深逐渐变深，这样，第一凹槽的第二端和第二凹槽的第二端的连接位置处的槽深最深，击打电子设备后掉落的冲击件沿着滑动平台的主体部进入凹槽的任意位置后，均会依靠重力作用自动移动至第一凹槽的第二端和第二凹槽的第二端的连接位置处，便于对冲击件的统一收纳。

另外，开口位于第一凹槽的第二端与第二凹槽的第二端的连接位置处，能够便于冲击件从凹槽的槽深最深位置处依靠重力作用离开凹槽，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

在一种可能的实现方式中，所述水平位移机构还包括：水平固定台、第一驱动组件以及第一传动组件；所述水平导轨位于所述水平固定台的一面上且与所述水平固定台固定连接；所述第一驱动组件用于驱动所述第一传动组件，以使所述第一传动组件带动所述滑动平台沿着所述第一方向相对于所述水平导轨发生滑动。

水平导轨固定连接在水平固定台的一面上，第一驱动组件驱动第一传动组件，以此使得第一传动组件带动滑动平台沿着第一方向相对于水平导轨发生滑动，即能够实现滑动平台沿着第一方向相对于水平固定台发生滑动。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：垂直位移机构；所述垂直位移机构包括：第二驱动组件以及同步组件；所述第二驱动组件用于驱动所述同步组件沿着垂直方向运动；所述同步组件包括：同步带以及固定在所述同步带上的至少一个第一吸附件；所述第一吸附件用于吸附所述冲击件，以使所述同步带带动所述冲击件在垂直方向上运动。

通过设计垂直位移机构，能够实现对冲击件在垂直方向上的运送，以此达到冲击件在不同高度上对电子设备的冲击效果。另外，通过将垂直位移机构设计为包括第二驱动组件和同步组件，第二驱动组件驱动同步组件沿着垂直方向运动，冲击件位于同步组件上时，即可实现冲击件沿着垂直方向运动至不同高度。

进一步地，通过将同步组件设计为包括同步带和至少一个第一吸附件，第一吸附件固定在同步带上，第一吸附件吸附冲击件，这样，冲击件即可随着同步带在垂直方向上运动。

在一种可能的实现方式中，所述同步带上具有至少一个容纳槽，所述第一吸附件固定在所述容纳槽内。通过在同步带上设计有至少一个容纳槽，第一吸附件固定在容纳槽内，容纳槽能够对第一吸附件进行一定容纳，避免当第一吸附件的吸力较小时，出现冲击件脱离第一吸附件的问题。

在一种可能的实现方式中，所述容纳槽的形状与所述冲击件的形状相适配。这样，能够使得冲击件在容纳槽内的收纳更加稳固和贴合，避免冲击件容易从容纳槽内脱离。

在一种可能的实现方式中，所述容纳槽的半径为所述冲击件的半径的四分之一至三分之一

在一种可能的实现方式中，所述垂直位移机构还包括：垂直固定结构；所述垂直固定结构包括：垂直架以及与所述垂直架固定连接的转轴；所述同步组件绕着所述转轴沿着所述垂直方向运动。

通过设计垂直固定结构，能够便于对同步组件的相对固定，从而能够便于同步组件绕着垂直固定结构的转轴沿着垂直方向运动。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：第一滑槽；所述第一滑槽的第一端与所述开口相连，所述第一滑槽的第二端与所述同步带相连。

通过设置第一滑槽，能够便于冲击件从滑动平台的凹槽通过开口运动至同步带，实现冲击件的顺利运送。

在一种可能的实现方式中，所述第一滑槽的第一端的高度高于所述第一滑槽的第二端的高度。这样，冲击件从滑动平台的凹槽通过开口进入第一滑槽后，利用自身重力即可从第一滑槽的第一端运动至第一滑槽的第二端，从而运动至同步带，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

在一种可能的实现方式中，所述第一滑槽包括：第一滑槽部以及第二滑槽部；所述第一滑槽部的一端与所述开口相连，所述第一滑槽部的另一端与所述第二滑槽部的一端相连，所述第二滑槽部的另一端与所述同步带相连；且所述第一滑槽的第一端和所述第一滑槽的第二端位于所述第一滑槽的同一侧。

通过将第一滑槽设计为包括相连的第一滑槽部和第二滑槽部，且第一滑槽的第一端和第一滑槽的第二端位于第一滑槽的同一侧，能够在不增加第一滑槽在击测试装置内的设计占用长度的同时，增大第一滑槽的运动路径，这样能够增加第一滑槽内对冲击件的容纳数量，另外第一滑槽部和第二滑槽部的连接处还能够对冲击件的运动提供一定的缓冲作用，避免冲击件的运动速度过快。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：释放机构；所述释放机构至少包括：第三驱动组件、第二传动组件以及至少一个第二吸附件；所述至少一个第二吸附件穿设在所述第二传动组件上，所述第二吸附件用于吸附所述冲击件；所述第三驱动组件用于驱动所述第二传动组件，以使所述第二传动组件带动所述冲击件在第二方向上运动；

其中，所述第二方向与所述第一方向相互垂直，且所述第二方向和所述第一方向均与所述垂直方向相互垂直。

通过设置释放机构，能够便于对冲击件的释放，从而有助于冲击件释放后对电子设备进行冲击测试。通过将释放机构设计为包括第三驱动组件、第二传动组件和至少一个用于吸附冲击件的第二吸附件，第二吸附件穿设在第二传动组件上，第三驱动组件驱动第二传动组件，能够使得第二传动组件带动冲击件在第二方向上运动，冲击件在第二方向上运动，能够便于调节冲击件在第二方向上的不同位置处对电子设备的冲击。

在一种可能的实现方式中，所述第二传动组件包括：第一固定件以及与所述第一固定件转动连接的第一传动件；所述第二吸附件穿设在所述第一传动件上。

在一种可能的实现方式中，所述第二吸附件包括：吸附件本体以及与所述吸附件本体固定连接的第二固定件；所述第二固定件穿设在所述第一传动件上。这样，第二固定件能够起到连接第一传动件和吸附件本体的作用。第二固定件穿设在第一传动件上，且第二固定件与吸附件本体固定连接，即可实现第二吸附件穿设在第一传动件上。

在一种可能的实现方式中，所述第一传动件为丝杆。丝杆是工具机械和精密机械上最常使用的传动元件，其主要功能是将旋转运动转换成线性运动，或将扭矩转换成轴向反复作用力，同时兼具高精度、可逆性和高效率的特点。由于具有很小的摩擦阻力，丝杆被广泛应用于各种工业设备和精密仪器。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：摄像组件；所述摄像组件固定在所述第二固定件朝向所述水平位移机构的一面上。摄像组件能够利用图像识别能力确定电子设备的位置和实际测试位置，并且能够检测电子设备是否出现玻璃裂、碎亮点、黑屏等故障模式。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：第二滑槽；所述第二滑槽的第一端与所述同步带相连，所述第二滑槽的第二端位于所述释放机构的下方。通过设置第二滑槽，能够便于冲击件从同步带运动至释放机构的下方，实现对冲击件的顺利运送，便于释放机构从第二滑槽的第二端成功吸附冲击件。

在一种可能的实现方式中，所述第二滑槽的第一端的高度高于所述第二滑槽的第二端的高度。这样，冲击件从同步带进入第二滑槽后，利用自身重力即可从第二滑槽的第一端运动至第二滑槽的第二端，从而运动至释放机构的下方，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

在一种可能的实现方式中，所述冲击测试装置还包括：传感器；所述传感器固定在所述第二滑槽靠近所述释放机构的一端。传感器能够检测冲击件是否进入第二滑槽内，即能够检测释放机构的吸附点位置是否有冲击件，以便于释放机构对冲击件的顺利吸附。

在一种可能的实现方式中，所述垂直固定结构还包括：与所述垂直架固定连接的固定组件；所述固定组件包括：第二传动件以及穿设在所述第二传动件上的第三固定件；所述第三固定件与所述第二传动组件固定连接。

在一种可能的实现方式中，所述垂直固定结构还包括：第四驱动组件；所述第四驱动组件驱动所述第二传动件，以使所述第二传动件带动所述第二传动组件在所述垂直方向上往复移动。

通过设置第四驱动组件和固定组件，能够有助于第四驱动组件驱动第二传动组件在垂直方向上往复移动，以此实现冲击件能够从垂直方向上的不同高度释放，不同高度释放冲击件对电子设备进行冲击能够达到不同的冲击效果对比。通过将固定组件设计为包括第二传动件和第三固定件，第三固定件穿设在第二传动件上，这样，第四驱动组件驱动第二传动件时，由于第三固定件与第二传动组件固定连接，第二传动件能够带动第二传动组件在垂直方向上往复移动，以此实现冲击件能够从垂直方向上的不同高度进行释放。

在一种可能的实现方式中，所述第二传动件为丝杆。丝杆是工具机械和精密机械上最常使用的传动元件，其主要功能是将旋转运动转换成线性运动，或将扭矩转换成轴向反复作用力，同时兼具高精度、可逆性和高效率的特点。由于具有很小的摩擦阻力，丝杆被广泛应用于各种工业设备和精密仪器。

在一种可能的实现方式中，所述冲击件为钢球。

本申请实施例第二方面提供一种冲击测试系统，该冲击测试系统至少包括：控制装置以及上述任一所述的冲击测试装置；所述控制装置用于控制所述冲击测试装置的工作。

本申请实施例提供的冲击测试系统，该冲击测试系统至少包括控制装置以及冲击测试装置，控制装置用于控制冲击测试装置的工作，该冲击测试装置中，滑动平台与水平导轨滑动连接，滑动平台能够沿着第一方向相对于水平导轨滑动，以实现滑动平台在水平方向上的位移。通过将滑动平台设计为包括主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备，冲击件击打电子设备后，冲击件可以沿着主体部进入凹槽，这样，能够实现对击打电子设备后掉落的冲击件的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备后掉落的冲击件手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的冲击测试装置的结构示意图；

图2为本申请一实施例提供的冲击测试装置的结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的冲击测试装置中水平位移机构的结构示意图；

图4为本申请一实施例提供的冲击测试装置中垂直位移机构的结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的冲击测试装置中释放机构的结构示意图；

图6为本申请一实施例提供的冲击测试装置中释放机构的结构示意图；

图7为本申请一实施例提供的冲击测试装置的工作流程示意图。

附图标记说明：

100-冲击测试装置； 10-冲击件； 20-水平位移机构；

201-水平导轨； 202-滑动平台； 2021-主体部；

2022-凹槽； 2022a-开口； 2023-第一凹槽；

2023a-第一凹槽的第一端；2023b-第一凹槽的第二端； 2024-第二凹槽；

2024a-第二凹槽的第一端；2024b-第二凹槽的第二端； 203-水平固定台；

204-第一驱动组件； 205-第一传动组件； 30-垂直位移机构；

301-第二驱动组件； 302-同步组件； 3021-同步带；

3022-第一吸附件； 303-垂直固定结构； 3031-垂直架；

3032-转轴； 3033-固定组件； 3033a-第二传动件；

3033b-第三固定件； 40-第一滑槽； 40a-第一滑槽的第一端；

40b-第一滑槽的第二端； 401-第一滑槽部； 402-第二滑槽部；

50-释放机构； 501-第三驱动组件； 502-第二传动组件；

5021-第一固定件； 5022-第一传动件； 503-第二吸附件；

5031-吸附件本体； 5032-第二固定件； 60-摄像组件；

70-第二滑槽； 70a-第二滑槽的第一端； 70b-第二滑槽的第二端；

701-第三滑槽部； 702-第四滑槽部； 80-传感器；

L1-第一方向； L2-第二方向； L3-垂直方向；

200-电子设备。

具体实施方式

本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请，下面将结合附图对本申请实施例的实施方式进行详细描述。

手机、电脑等电子设备已经和我们的生活密不可分，生活中随处可见，且极大地提高了人们的生活水平。

在实际应用场景中，在电子设备200的生产过程中，为了抽样检测电子设备样机的良品率，一般会对电子设备样机的可靠性例如抗冲击性能进行测试。

需要说明的是，上述电子设备200可以包括但不限于为手机、平板电脑、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer，UMPC)、手持计算机、对讲机、上网本、销售点(Point of sales，POS)机、个人数字助理(personal digital assistant，PDA)、可穿戴设备、虚拟现实设备、无线U盘、蓝牙音响/耳机、或车载前装、行车记录仪、安防设备等移动或固定终端。

以电子设备200为手机为例，相关技术中，一般会使用钢球冲击装置对手机样机的抗冲击性能进行测试，具体地，钢球冲击装置包括有底座、XY轴电动平台，升降结构，钢球吸附释放机构以及防止钢球二次冲击装置，在实际操作时，将手机样机固定在XY轴电动平台的中央，然后设置冲击位置坐标，将钢球放置在钢球吸附释放机构处，点击释放，钢球落下弹起后被夹住，以此完成一轮测试。

然而，上述方案中，整个测试过程需要测试人员全程手动操作，测试时间较长，且测试效率较低。

基于此，本申请实施例提供一种冲击测试装置以及冲击测试系统，通过将滑动平台设计为包括主体部以及位于主体部外周的凹槽，主体部用于固定电子设备，冲击件击打电子设备后，冲击件可以沿着主体部进入凹槽，这样，能够实现对击打电子设备后掉落的冲击件的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备后掉落的冲击件手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够实现自动循环测试，减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

下面结合附图，对冲击测试装置的具体结构以及具有该冲击测试装置的冲击测试系统的具体结构进行详细说明。

参照图1和图2所示，本申请实施例提供一种冲击测试装置100，该冲击测试装置100用于对电子设备200的抗冲击性能进行测试，该冲击测试装置100至少可以包括：冲击件10以及水平位移机构20。具体地，水平位移机构20至少可以包括：水平导轨201以及滑动平台202，其中，滑动平台202与水平导轨201滑动连接，滑动平台202可以沿着第一方向L1相对于水平导轨201滑动。

需要说明的是，在本申请实施例中，冲击件10可以为钢球。或者，冲击件10还可以为其他一些具有一定重量的结构，本申请实施例对冲击件10的具体结构以及材质并不加以限定。

参见图3所示，滑动平台202可以包括：主体部2021以及凹槽2022，凹槽2022与主体部2021相连，而且，凹槽2022可以位于主体部2021的外周，其中，主体部2021用于固定电子设备200，冲击件10击打电子设备200后，冲击件10则可以沿着主体部2021进入凹槽2022。

该冲击测试装置100中，滑动平台202与水平导轨201滑动连接，滑动平台202能够沿着第一方向L1相对于水平导轨201滑动，以实现滑动平台202在水平方向上的位移。通过将滑动平台202设计为可以包括主体部2021以及位于主体部2021外周的凹槽2022，主体部2021用于固定电子设备200，冲击件10击打电子设备200后，冲击件10可以沿着主体部2021进入凹槽2022，这样，能够实现对击打电子设备200后掉落的冲击件10的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备200后掉落的冲击件10手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

继续参见图3所示，在本申请实施例中，凹槽2022可以具有至少一个开口2022a，以使得冲击件10能够通过开口2022a离开凹槽2022。通过在凹槽2022上设置至少一个开口2022a，能够便于击打电子设备200后掉落的冲击件10沿着滑动平台202的主体部2021进入凹槽2022后，再通过开口2022a离开凹槽2022。

可以理解的是，在一些实施例中，如图3所示，凹槽2022可以包括第一凹槽2023以及第二凹槽2024，其中，第一凹槽2023和第二凹槽2024均带有斜坡，具体地，从第一凹槽的第一端2023a至第一凹槽的第二端2023b，第一凹槽2023的槽深逐渐变深，从第二凹槽的第一端2024a至第二凹槽的第二端2024b，第二凹槽2024的槽深逐渐变深。而且，第一凹槽的第一端2023a与第二凹槽的第一端2024a相连，第一凹槽的第二端2023b与第二凹槽的第二端2024b相连。

由于第一凹槽的第一端2023a与第二凹槽的第一端2024a相连，第一凹槽的第二端2023b与第二凹槽的第二端2024b相连，凹槽2022为一个闭合的槽形。从第一凹槽的第一端2023a至第一凹槽的第二端2023b，第一凹槽2023的槽深逐渐变深，从第二凹槽的第一端2024a至第二凹槽的第二端2024b，第二凹槽2024的槽深逐渐变深，这样，第一凹槽的第二端2023b和第二凹槽的第二端2024b的连接位置处的槽深最深，击打电子设备200后掉落的冲击件10沿着滑动平台202的主体部2021进入凹槽2022的任意位置后，均会依靠重力作用自动移动至第一凹槽的第二端2023b和第二凹槽的第二端2024b的连接位置处，便于对冲击件10的统一收纳。

另外，开口2022a可以位于第一凹槽的第二端2023b与第二凹槽的第二端2024b的连接位置处，这样，能够便于冲击件10从凹槽2022的槽深最深位置处依靠重力作用离开凹槽2022，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

可以理解的是，在本申请实施例中，继续参照图3所示，水平位移机构20还可以包括：水平固定台203、第一驱动组件204以及第一传动组件205，其中，水平导轨201可以位于水平固定台203的一面上且与水平固定台203固定连接，第一驱动组件204用于驱动第一传动组件205，以使得第一传动组件205能够带动滑动平台202沿着第一方向L1相对于水平导轨201发生滑动。

水平导轨201固定连接在水平固定台203的一面上，第一驱动组件204驱动第一传动组件205，以此使得第一传动组件205带动滑动平台202沿着第一方向L1相对于水平导轨201发生滑动，即能够实现滑动平台202沿着第一方向L1相对于水平固定台203发生滑动。

如图1和图2所示，在本申请实施例中，冲击测试装置100还可以包括：垂直位移机构30，具体地，参见图4所示，垂直位移机构30可以包括：第二驱动组件301以及同步组件302，其中，第二驱动组件301用于驱动同步组件302沿着垂直方向L3运动。

同步组件302可以包括：同步带3021以及至少一个第一吸附件3022，至少一个第一吸附件3022可以固定在同步带3021上，第一吸附件3022用于吸附冲击件10，以使得同步带3021能够带动冲击件10在垂直方向L3上运动。

通过设计垂直位移机构30，能够实现对冲击件10在垂直方向L3上的运送，以此达到冲击件10在不同高度上对电子设备200的冲击效果。另外，通过将垂直位移机构30设计为可以包括第二驱动组件301和同步组件302，第二驱动组件301驱动同步组件302沿着垂直方向L3运动，冲击件10位于同步组件302上时，即可实现冲击件10沿着垂直方向L3运动至不同高度。

进一步地，通过将同步组件302设计为可以包括同步带3021和至少一个第一吸附件3022，第一吸附件3022固定在同步带3021上，第一吸附件3022吸附冲击件10，这样，冲击件10即可随着同步带3021在垂直方向L3上运动。

在本申请实施例中，第一吸附件3022可以为磁铁等具有吸附功能的结构，以第一吸附件3022为磁铁为例，磁铁的磁性越强，则对冲击件10的吸附越牢固。

另外，需要说明的是，本申请实施例通过将位移机构拆分成相对独立工作的水平位移机构和垂直位移机构，相比于同时具有水平移动功能和垂直移动功能的集成位移机构，本申请实施例能够在相同占地面积下提升测试面积。

在一种可能的实现方式中，同步带3021上还可以具有至少一个容纳槽(图中未示出)，第一吸附件3022可以固定在容纳槽内。通过在同步带3021上设计有至少一个容纳槽，第一吸附件3022固定在容纳槽内，容纳槽能够兼容不同重量的冲击件10，并对第一吸附件3022进行一定容纳，避免当第一吸附件3022的吸力较小时，出现冲击件10脱离第一吸附件3022的问题。

容易理解的是，容纳槽的形状可以与冲击件10的形状相适配。这样，能够使得冲击件10在容纳槽内的收纳更加稳固和贴合，避免冲击件10容易从容纳槽内脱离。

另外，容纳槽的半径可以为冲击件10的半径的四分之一至三分之一。以冲击件10的半径为3cm为例，容纳槽的半径可以为0.75cm-1cm。例如，容纳槽的半径可以为0.75cm、0.8cm、0.85cm、0.9cm、0.95cm或1cm等，本申请实施例对此并不加以限定。

这里需要说明的是，本申请涉及的数值和数值范围为近似值，受制造工艺的影响，可能会存在一定范围的误差，这部分误差本领域技术人员可以认为忽略不计。

继续参照图4所示，在本申请实施例中，垂直位移机构30还可以包括：垂直固定结构303，其中，垂直固定结构303可以包括：垂直架3031以及转轴3032，转轴3032可以与垂直架3031固定连接，同步组件302可以绕着转轴3032沿着垂直方向L3运动。

通过设计垂直固定结构303，能够便于对同步组件302的相对固定，从而能够便于同步组件302绕着垂直固定结构303的转轴3032沿着垂直方向L3运动。

如图2所示，冲击测试装置100还可以包括：第一滑槽40，其中，第一滑槽的第一端40a可以与滑动平台202的凹槽2022上的开口2022a相连，第一滑槽的第二端40b可以与同步带3021相连。通过设置第一滑槽40，能够便于冲击件10从滑动平台202的凹槽2022通过开口2022a运动至同步带3021，实现冲击件10的顺利运送。

在一些实施例中，第一滑槽的第一端40a的高度可以高于第一滑槽的第二端40b的高度。这样，冲击件10从滑动平台202的凹槽2022通过开口2022a进入第一滑槽40后，利用自身重力即可从第一滑槽的第一端40a运动至第一滑槽的第二端40b，从而运动至同步带3021，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

具体地，如图3所示，在本申请实施例中，第一滑槽40可以包括：第一滑槽部401以及第二滑槽部402，其中，第一滑槽部401的一端可以与滑动平台202的凹槽2022上的开口2022a相连，第一滑槽部401的另一端可以与第二滑槽部402的一端相连，第二滑槽部402的另一端可以与同步带3021相连。而且，第一滑槽的第一端40a和第一滑槽的第二端40b可以位于第一滑槽40的同一侧。

通过将第一滑槽40设计为可以包括相连的第一滑槽部401和第二滑槽部402，且第一滑槽的第一端40a和第一滑槽的第二端40b位于第一滑槽40的同一侧，能够在不增加第一滑槽40在击测试装置内的设计占用长度的同时，增大第一滑槽40的运动路径，这样能够增加第一滑槽40内对冲击件10的容纳数量，另外第一滑槽部401和第二滑槽部402的连接处还能够对冲击件10的运动提供一定的缓冲作用，避免冲击件10的运动速度过快。

另外，如图1和图2所示，在本申请实施例中，冲击测试装置100还可以包括：释放机构50，具体地，如图5和图6所示，释放机构50至少可以包括：第三驱动组件501、第二传动组件502以及至少一个第二吸附件503，其中，至少一个第二吸附件503可以穿设在第二传动组件502上，第二吸附件503用于吸附冲击件10，第三驱动组件501用于驱动第二传动组件502，以使得第二传动组件502能够带动冲击件10在第二方向L2上运动，

其中，第二方向L2可以与第一方向L1相互垂直，而且，第二方向L2和第一方向L1均与垂直方向L3相互垂直。

通过设置释放机构50，能够便于对冲击件10的释放，从而有助于冲击件10释放后对电子设备200进行冲击测试。通过将释放机构50设计为可以包括第三驱动组件501、第二传动组件502和至少一个用于吸附冲击件10的第二吸附件503，第二吸附件503穿设在第二传动组件502上，第三驱动组件501驱动第二传动组件502，能够使得第二传动组件502带动冲击件10在第二方向L2上运动，冲击件10在第二方向L2上运动，能够便于调节冲击件10在第二方向L2上的不同位置处对电子设备200的冲击。

在一些实施例中，如图6所示，第二传动组件502可以包括：第一固定件5021以及第一传动件5022，其中第一传动件5022可以与第一固定件5021转动连接，第二吸附件503可以穿设在第一传动件5022上。

如图5或图6所示，第二吸附件503可以包括：吸附件本体5031以及第二固定件5032，其中，第二固定件5032可以与吸附件本体5031固定连接，第二固定件5032可以穿设在第一传动件5022上。这样，第二固定件5032能够起到连接第一传动件5022和吸附件本体5031的作用。第二固定件5032穿设在第一传动件5022上，且第二固定件5032与吸附件本体5031固定连接，即可实现第二吸附件503穿设在第一传动件5022上。

在本申请实施例中，第一传动件5022可以为丝杆。丝杆是工具机械和精密机械上最常使用的传动元件，其主要功能是将旋转运动转换成线性运动，或将扭矩转换成轴向反复作用力，同时兼具高精度、可逆性和高效率的特点。由于具有很小的摩擦阻力，丝杆被广泛应用于各种工业设备和精密仪器。

另外，在一种可能的实现方式中，如图5或图6所示，冲击测试装置100还可以包括：摄像组件60，摄像组件60可以固定在第二固定件5032朝向水平位移机构20的一面上。摄像组件60能够利用图像识别能力确定电子设备200的位置和实际测试位置，并且能够检测电子设备200是否出现玻璃裂、碎亮点、黑屏等故障模式，以此提高冲击测试装置100的测试准确度。

如图1所示，在本申请实施例中，冲击测试装置100还可以包括：第二滑槽70，其中，第二滑槽的第一端70a可以与同步带3021相连，第二滑槽的第二端70b可以位于释放机构50的下方。通过设置第二滑槽70，能够便于冲击件10从同步带3021运动至释放机构50的下方，实现对冲击件10的顺利运送，便于释放机构50从第二滑槽的第二端70b成功吸附冲击件10。

其中，在一种可能的实现方式中，第二滑槽的第一端70a的高度可以高于第二滑槽的第二端70b的高度。这样，冲击件10从同步带3021进入第二滑槽70后，利用自身重力即可从第二滑槽的第一端70a运动至第二滑槽的第二端70b，从而运动至释放机构50的下方，无需借助外力，在一定程度上节省了人力成本。

具体地，如图5所示。在一些实施例中，第二滑槽70可以包括：第三滑槽部701和第四滑槽部702，其中，第三滑槽部701的一端可以与同步带3021相连，第三滑槽部701的另一端可以与第四滑槽部702的一端相连，第四滑槽部702的另一端则可以位于释放机构50的下方。

继续参照图5所示，冲击测试装置100还可以包括：传感器80，其中，传感器80可以固定在第二滑槽70靠近释放机构50的一端。具体地，如图5所示，传感器80可以是固定在第四滑槽部702内。传感器80能够检测冲击件10是否进入第二滑槽70内，即能够检测释放机构50的吸附点位置是否有冲击件10，以便于释放机构50对冲击件10的顺利吸附。

此外，在本申请实施例中，垂直固定结构303还可以包括：固定组件3033(参见图1所示)，其中，固定组件3033可以与垂直架3031固定连接，具体地，固定组件3033可以包括：第二传动件3033a以及第三固定件3033b，其中，第三固定件3033b可以是穿设在第二传动件3033a上，第三固定件3033b可以与第二传动组件502固定连接(参见图5或图6所示)。

其中，在一种可能的实现方式中，垂直固定结构303还可以包括：第四驱动组件(图中未示出)，第四驱动组件可以驱动第二传动件3033a，以使得第二传动件3033a能够带动第二传动组件502在垂直方向L3上往复移动。

通过设置固定组件3033，能够有助于固定组件3033驱动第二传动组件502在垂直方向L3上往复移动，以此实现冲击件10能够从垂直方向L3上的不同高度释放，不同高度释放冲击件10对电子设备200进行冲击能够达到不同的冲击效果对比。通过将固定组件3033设计为可以包括第二传动件3033a和第三固定件3033b，第三固定件3033b穿设在第二传动件3033a上，这样，第四驱动组件驱动第二传动件3033a时，由于第三固定件3033b与第二传动组件502固定连接，第二传动件3033a能够带动第二传动组件502在垂直方向L3上往复移动，以此实现冲击件10能够从垂直方向L3上的不同高度进行释放，提高冲击测试装置100的测试准确度。

可以理解的是，在一些实施例中，也可以是采用第三驱动组件501驱动第二传动件3033a，以使得第二传动件3033a能够通过第三固定件3033b带动第二传动组件502在垂直方向L3上往复移动。

在本申请实施例中，第二传动件3033a可以为丝杆。

另外，本申请实施例还提供一种冲击测试系统，该冲击测试系统至少可以包括：控制装置以及上述的冲击测试装置100，控制装置用于控制冲击测试装置100的工作。

例如，控制装置可以为计算机等控制装置，控制装置能够控制冲击测试装置100开始测试，识别测试结果，自行停止测试并记录测试结果。

本申请实施例提供的冲击测试系统，该冲击测试系统至少可以包括：控制装置以及冲击测试装置100，控制装置用于控制冲击测试装置100的工作，该冲击测试装置100中，滑动平台202与水平导轨201滑动连接，滑动平台202能够沿着第一方向L1相对于水平导轨201滑动，以实现滑动平台202在水平方向上的位移。通过将滑动平台202设计为可以包括主体部2021以及位于主体部2021外周的凹槽2022，主体部2021用于固定电子设备200，冲击件10击打电子设备200后，冲击件10可以沿着主体部2021进入凹槽2022，这样，能够实现对击打电子设备200后掉落的冲击件10的自动收纳，避免测试人员对击打电子设备200后掉落的冲击件10手动捡起收纳，因而，本申请实施例能够减少测试人员的手动操作流程，缩短测试时间，从而能够提升测试效率。

如图7所示，这里对冲击测试装置100以及冲击测试系统的工作流程以及测试方法进行介绍。

首先，将电子设备200的尺寸，冲击件10的冲击位置，测试高度以及步进值输入至控制装置中。冲击测试装置实现位置初始化。然后，传感器80检测第二滑槽70上的吸附点位置是否有冲击件10，垂直位移机构30的起点检测是否有冲击件10。如果吸附点位置没有冲击件10，垂直位移机构30的起点有冲击件10，则启动垂直位移机构30，将冲击件10输送至释放机构50。如果吸附点位置和垂直位移机构30的起点都没有，则控制装置提示冲击件10不存在，需要补充冲击件10。当吸附点位置检测有冲击件10后，停止垂直位移机构30。

接着，释放机构50升到设置的起点高度，从第二滑槽70上的吸附点位置吸取冲击件10，根据摄像组件60识别电子设备200的位置，水平位移机构20和释放机构50位置调整，使释放机构50移动到第一个测试点坐标，释放冲击件10，摄像组件60识别电子设备200的测试结果。若电子设备200出现失效，停止测试，提示更换电子设备样机。若检测没有失效则继续测试。

具体地，若冲击件10停留在电子设备200表面，则底部平台滑动平台202沿着第一方向L1向右快速移动，由于惯性作用，冲击件10会停在原位置，相对于电子设备200向左移动。当移动到电子设备200边缘的斜坡位置后，由于重力作用，冲击件10(例如钢球)会自行滚动到边缘收集槽(即凹槽2022)。

重复执行上述步骤，直至测试中断或者执行到设置的最高高度的最后一个测试点后，完成全部测试。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

在本申请实施例或者暗示所指的装置或者元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。在本申请实施例的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非是另有精确具体地规定。

本申请实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请实施例的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“可以包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可以包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请实施例的技术方案，而非对其限制，尽管参照前述各实施例对本申请实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例各实施例技术方案的范围。

Claims (15)

1.一种冲击测试装置，用于对电子设备的抗冲击性能进行测试，其特征在于，所述冲击测试装置至少包括：

冲击件、水平位移机构、垂直位移机构以及第一滑槽；

所述水平位移机构至少包括：水平导轨以及与所述水平导轨滑动连接的滑动平台；所述滑动平台沿着第一方向相对于所述水平导轨滑动；

所述滑动平台包括：主体部以及位于所述主体部外周的凹槽，所述主体部用于固定所述电子设备；所述冲击件击打所述电子设备后，所述冲击件沿着所述主体部进入所述凹槽；所述凹槽具有至少一个开口，以使所述冲击件通过所述开口离开所述凹槽；

所述垂直位移机构包括：第二驱动组件以及同步组件；所述第二驱动组件用于驱动所述同步组件沿着垂直方向运动；

所述同步组件包括：同步带以及固定在所述同步带上的多个第一吸附件；所述第一吸附件用于吸附所述冲击件，以使所述同步带带动所述冲击件在垂直方向上运动；

所述第一滑槽的第一端与所述开口连通，所述第一滑槽的第二端与所述同步带相连；

所述冲击测试装置还包括：释放机构；

所述释放机构至少包括：第三驱动组件、第二传动组件以及至少一个第二吸附件；所述至少一个第二吸附件穿设在所述第二传动组件上，所述第二吸附件用于吸附所述冲击件；

所述第三驱动组件用于驱动所述第二传动组件，以使所述第二传动组件带动所述冲击件在第二方向上运动；

其中，所述第二方向与所述第一方向相互垂直，且所述第二方向和所述第一方向均与所述垂直方向相互垂直；

所述冲击测试装置还包括：第二滑槽；

所述第二滑槽的第一端与所述同步带相连，所述第二滑槽的第二端位于所述释放机构的下方，所述第二滑槽的第一端的高度高于所述第二滑槽的第二端的高度。

2.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述凹槽包括第一凹槽以及第二凹槽；

从所述第一凹槽的第一端至所述第一凹槽的第二端，所述第一凹槽的槽深逐渐变深；从所述第二凹槽的第一端至所述第二凹槽的第二端，所述第二凹槽的槽深逐渐变深；

所述第一凹槽的第一端与所述第二凹槽的第一端相连，所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端相连；

所述开口位于所述第一凹槽的第二端与所述第二凹槽的第二端的连接位置处。

3.根据权利要求1或2所述的冲击测试装置，其特征在于，所述水平位移机构还包括：水平固定台、第一驱动组件以及第一传动组件；

所述水平导轨位于所述水平固定台的一面上且与所述水平固定台固定连接；

所述第一驱动组件用于驱动所述第一传动组件，以使所述第一传动组件带动所述滑动平台沿着所述第一方向相对于所述水平导轨发生滑动。

4.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述同步带上具有至少一个容纳槽，所述第一吸附件固定在所述容纳槽内。

5.根据权利要求4所述的冲击测试装置，其特征在于，所述容纳槽的形状与所述冲击件的形状相适配。

6.根据权利要求5所述的冲击测试装置，其特征在于，所述容纳槽的半径为所述冲击件的半径的四分之一至三分之一。

7.根据权利要求4-6任一所述的冲击测试装置，其特征在于，所述垂直位移机构还包括：垂直固定结构；所述垂直固定结构包括：垂直架以及与所述垂直架固定连接的转轴；所述同步组件绕着所述转轴沿着所述垂直方向运动。

8.根据权利要求7所述的冲击测试装置，其特征在于，所述第一滑槽的第一端的高度高于所述第一滑槽的第二端的高度。

9.根据权利要求8所述的冲击测试装置，其特征在于，所述第一滑槽包括：第一滑槽部以及第二滑槽部；

所述第一滑槽部的一端与所述开口相连，所述第一滑槽部的另一端与所述第二滑槽部的一端相连，所述第二滑槽部的另一端与所述同步带相连；

且所述第一滑槽的第一端和所述第一滑槽的第二端位于所述第一滑槽的同一侧。

10.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述第二传动组件包括：第一固定件以及与所述第一固定件转动连接的第一传动件；所述第二吸附件穿设在所述第一传动件上。

11.根据权利要求10所述的冲击测试装置，其特征在于，所述第二吸附件包括：吸附件本体以及与所述吸附件本体固定连接的第二固定件；所述第二固定件穿设在所述第一传动件上。

12.根据权利要求11所述的冲击测试装置，其特征在于，所述冲击测试装置还包括：摄像组件；所述摄像组件固定在所述第二固定件朝向所述水平位移机构的一面上。

13.根据权利要求1所述的冲击测试装置，其特征在于，所述冲击测试装置还包括：传感器；所述传感器固定在所述第二滑槽靠近所述释放机构的一端。

14.根据权利要求7所述的冲击测试装置，其特征在于，所述垂直固定结构还包括：与所述垂直架固定连接的固定组件；

所述固定组件包括：第二传动件以及穿设在所述第二传动件上的第三固定件；所述第三固定件与所述第二传动组件固定连接。

15.一种冲击测试系统，其特征在于，包括：控制装置以及上述权利要求1-14任一所述的冲击测试装置；

所述控制装置用于控制所述冲击测试装置的工作。