CN115629295A - 芯片自动化测试系统、方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片自动化测试系统、方法及存储介质，该系统包括测试主机和测试工具，其中，测试主机用于启动通讯服务和测试工具服务，并通过通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过测试工具服务对测试工具进行操作，其中，被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则向测试主机发送控制命令；测试主机在接收到控制命令时，通过测试工具服务确定工具操作信息，以控制测试工具执行工具操作信息，并在测试工具完成操作时将操作结果通过通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例。由此，以在不需要开发测试脚本的情况下，实现对芯片的测试过程，简化测试步骤，提高芯片测试的测试效率。

Description

芯片自动化测试系统、方法及存储介质

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片自动化测试系统、方法及存储介质。

背景技术

芯片自动化测试指通过自动执行测试用例来实现自动对芯片的功能进行测试。

目前，在相关的芯片自动化测试技术中，通常是使用测试脚本来控制整个测试流程，例如，控制测试工具给被测设备添加不同的测试信号，或控制测试用例的运行。因此，为了可以在规定的时机添加测试信号，测试人员除了要开发测试用例，还需要开发与测试用例步骤相匹配的测试脚本，从而会影响芯片测试的测试效率，也会提升芯片测试的测试难度。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种芯片自动化测试系统，以在不需要开发测试脚本的情况下，实现对芯片的测试过程，简化测试步骤，提高芯片测试的测试效率。

本发明的第二个目的在于提出一种芯片自动化测试方法。

本发明的第三个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

为达上述目的，本发明第一个实施例提出了一种芯片自动化测试系统，该系统包括：测试主机和测试工具，其中，

所述测试主机用于启动通讯服务和测试工具服务，并通过所述通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过所述测试工具服务对所述测试工具进行操作，其中，所述被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则向所述测试主机发送控制命令；

所述测试主机在接收到所述控制命令时，通过所述测试工具服务确定工具操作信息，以控制所述测试工具执行所述工具操作信息，并在所述测试工具完成操作时将操作结果通过所述通讯服务发送给所述被测设备，以便所述被测设备继续运行所述测试用例。

本发明实施例的芯片自动化测试系统，当对芯片进行测试，且需要调节测试环境时，被测设备会向测试主机发送控制命令；测试主机在接收到控制命令后，通过测试工具服务确定工具操作信息，以利用测试工具服务控制测试工具执行工具操作信息；当测试工具完成操作时，会将操作结果通过通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例，从而在不需要开发测试脚本的情况下，也能完成整个测试过程，以及实现对测试工具的控制过程，简化了测试步骤，提高了芯片测试的测试效率。

在一些可实现的方式中，所述测试主机在接收到所述控制命令时，还用于确定所述控制命令的类型，并在所述控制命令的类型为工具操作命令时，通过所述测试工具服务确定工具操作信息。

在一些可实现的方式中，所述测试主机还用于，在所述控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过所述测试脚本控制所述测试工具执行相应操作。

在一些可实现的方式中，所述测试主机在接收到所述控制命令时，通过执行所述测试工具服务以对所述控制命令进行解析，并根据解析结果确定所述工具操作信息。

在一些可实现的方式中，所述测试工具包括数字电源、温箱、信号发生器、示波器和数据采集仪中的一种或多种。

为达上述目的，本发明第二个实施例提出了一种芯片自动化测试方法，应用于测试主机，该方法包括：

启动通讯服务和测试工具服务，并通过所述通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过所述测试工具服务对测试工具进行操作，其中，所述被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则发出控制命令；接收所述控制命令，并通过所述测试工具服务确定工具操作信息，以控制所述测试工具执行所述工具操作信息，并在所述测试工具完成操作时将操作结果通过所述通讯服务发送给所述被测设备，以便所述被测设备继续运行所述测试用例。

本发明实施例的芯片自动化测试方法，当对芯片进行测试，且需要调节测试环境时，测试主机接收被测设备发送的控制命令，并确定工具操作信息，以利用测试工具服务控制测试工具执行工具操作信息；当测试工具完成操作时，测试主机会将操作结果通过通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例，从而在不需要开发测试脚本的情况下，也能完成整个测试过程，以及实现对测试工具的控制过程，简化了测试步骤，提高了芯片测试的测试效率。

在一些可实现的方式中，在接收所述控制命令之后，所述方法还包括：确定所述控制命令的类型，以便在所述控制命令的类型为工具操作命令时通过所述测试工具服务确定工具操作信息。

在一些可实现的方式中，在确定所述控制命令的类型之后，所述方法还包括：在所述控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过所述测试脚本控制所述测试工具执行相应操作。

在一些可实现的方式中，通过所述测试工具服务确定工具操作信息，包括：通过执行所述测试工具服务以对所述控制命令进行解析，并根据解析结果确定所述工具操作信息。

为达上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如根据本发明第一方面实施例的芯片自动化测试方法。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1是本发明一个实施例的芯片自动化测试系统的结构示意图；

图2是本发明一个实施例的芯片自动化测试方法的流程图；

图3是本发明一个具体实施例的芯片自动化测试方法的流程图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

芯片的自动化测试，是先由测试人员编写测试用例，每个测试用例会包含芯片的一个或多个功能。在整个芯片测试过程中，不同的阶段，测试用例需要用到的外部信号也会不同。为了保证测试系统会在规定的时刻向被测设备输出需要的外部信号，测试人员需要在测试脚本和测试用例中加入用于程序同步的节点。在测试过程中，测试脚本作为主控程序，来控制整个测试的所有流程。

具体地，当测试脚本收到测试用例发送的当前运行节点，测试脚本会找到与当前节点匹配的节点，以控制测试工具输出当前节点所需的外部信号；测试工具输出外部信号后，测试脚本会通知测试用例可以继续进行测试，以使测试用例运行到下一个节点。重复上述过程，直至测试结束。

从上述过程可以看出，当需要对芯片进行测试时，测试人员不仅要编写测试用例，同时还需要编写测试脚本，通过测试脚本控制测试工具输出外部信号，测试用例和测试脚本形成了强耦合关系。因此，采用上述方式进行芯片测试，测试人员不仅要会编写测试用例，还要会编写测试脚本，增加了对测试人员的要求，进而也影响了芯片测试的测试效率。

为此，本发明实施例提出了一种芯片自动化测试系统、方法及存储介质，以在不需要开发测试脚本的情况下，实现对芯片的测试过程，简化测试步骤，提高芯片测试的测试效率。

下面参考附图描述本发明实施例的芯片自动化测试系统、方法及存储介质。

图1是本发明一个实施例的芯片自动化测试系统100的结构示意图。如图1所示，该系统100包括测试主机110和测试工具120。

其中，测试主机110用于启动通讯服务和测试工具服务，并通过通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过测试工具服务对测试工具120进行操作，其中，被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则向测试主机110发送控制命令；测试主机110在接收到控制命令时，通过测试工具服务确定工具操作信息，以控制测试工具120执行工具操作信息，并在测试工具120完成操作时将操作结果通过通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例。

由此，当对芯片进行测试，且需要调节测试环境时，被测设备会向测试主机110发送控制命令；测试主机110在接收到控制命令后，通过运行测试工具服务确定工具操作信息，以利用测试工具服务控制测试工具120执行工具操作信息；当测试工具120完成操作时，会将操作结果通过运行通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例，从而在不需要开发测试脚本的情况下，也能完成整个测试过程，以及实现对测试工具120的控制过程，简化了测试步骤，提高了芯片测试的测试效率。

下面分别对被测设备、测试主机110以及测试工具120进行具体介绍。

被测设备的芯片能够运行测试人员编写的测试用例，在本实施例中，被测设备运行的测试用例可以包含部分测试流程，即测试用例能够控制部分测试流程；也可以包含全部测试流程，即测试用例能够控制整个测试流程。

被测设备在开始运行测试用例以进行测试时，需要先对被测设备的系统进行初始化，对系统的初始化包括（但不限于）：初始化中断向量、初始化系统时钟等。需要说明的是，中断向量是指早期的微机系统中由硬件产生的中断入口地址或存放中断服务程序的首地址。另外，还需要对被测设备的被测试模块进行初始化，例如，初始化被测试模块的相关寄存器。

被测设备完成上述初始化操作后，则继续运行测试用例；在运行测试用例时，若检测到需要获取外部信号或向测试工具120输出测试数据时，被测设备会向测试主机110发送相应的控制命令或测试数据。被测设备发送控制命令或测试数据后，会实时检测是否接收到测试主机110发送的操作结果，若接收到测试主机110发送的操作结果，则被测设备继续运行测试用例，以进入下一个测试节点。

需要说明的是，操作结果可以是所需的外部信号，也可以是测试主机110是否操作成功的信息。

在本实施例中，测试主机110可以为：移动电话、笔记本电脑、PAD（平板电脑）等等的移动终端以及诸如台式计算机等等的固定终端。此处不做具体限制。测试主机110能够启动并运行通讯服务、测试工具服务以及测试脚本。

其中，测试主机110通过运行通讯服务能够打开并配置测试主机110与被测设备之间通讯用的通讯接口，配置通讯接口可以包括：为通讯接口配置缓存地址，即当测试主机110通过通讯接口接收到被测设备发送的数据时，通讯接口会将数据存储至配置的缓存地址中。在完成对通讯接口的配置后，还需要对缓存地址中的历史发送数据或历史接收数据进行清空，以保证在开始进行芯片测试前，缓存地址中没有任何历史数据。

清空缓存地址中的历史数据后，则开始实时查询缓存地址中是否存在接收到的被测设备发送的数据；若有，则将数据转存至数据缓存器中；存入数据缓存器中后，再按照预设格式从数据中解析处控制命令；解析出控制命令后，再将控制命令放入消息队列，以便后续按顺序将控制命令发送至测试工具服务或测试脚本。

需要说明的是，数据缓存器可以使用FIFO缓存器，FIFO缓存器是一种先入先出的数据缓存器，也可以使用其它的数据缓存器，此处不做具体限制。

测试主机110通过运行测试工具服务能够打开并配置测试主机110与测试工具120之间通讯用的通讯接口，测试工具服务可以通过不同的通讯接口与不同的测试工具120进行通讯。对通讯接口进行配置后，通过运行测试工具服务来控制所有测试工具120进行初始化，并为所有测试工具120配置相关的参数。当所有测试工具120均完成了初始化和参数配置操作后，测试工具服务开始接收通讯服务传递的控制命令。

在一些实施方式中，测试主机110在接收到控制命令时，还用于确定控制命令的类型，并在控制命令的类型为工具操作命令时，通过测试工具服务确定工具操作信息。

具体地，当通讯服务在缓存地址中查询到了被测设备发送的数据时，通讯服务会将该数据转存至数据缓存器中，并按照预设格式从数据中解析出控制命令；解析出控制命令后，将控制命令放入消息队列，并对放入消息队列中的控制命令的类型进行判断。

在本实施例中，可以设置一个命令类型对应表，命令类型对应表中可以记载哪些控制命令的类型是工具操作命令，即需要发送至测试工具服务并由测试工具服务执行的控制命令；哪些控制命令的类型是测试脚本操作命令，即需要发送至测试脚本并由测试脚本执行的控制命令。当消息队列中放入控制命令后，可以根据命令类型对应表确定控制命令的类型。

在确定了控制命令的类型为工具操作命令时，通讯服务会将该控制命令发送至测试工具服务，并由测试工具服务根据控制命令确定工具操作信息，以及对相应的测试工具120进行控制。

在一些实施方式中，测试主机110在接收到控制命令时，通过执行测试工具服务以对控制命令进行解析，并根据解析结果确定工具操作信息。

具体地，当测试工具服务接收到通讯服务转发的控制命令后，测试主机110则通过运行测试工具服务对控制命令进行解析，以得到工具操作信息。工具操作信息可以包含需要使用的测试工具120，还可以包含需要通过该测试工具120获取的外部信号或者需要向该测试工具120输出的数据。

作为一个示例，当被测设备运行测试用例时，得到测试信号，且被测设备向测试主机110发送了显示测试信号的控制命令；通讯服务通过通讯接口接收到该控制命令，并在判断出该控制命令的类型为工具操作指令后，通讯服务会将该控制指令发送至测试工具服务；测试工具服务对控制命令进行解析后，确定工具操作信息为：将测试信号发送至示波器，并显示波形；从而测试工具服务会控制示波器显示该测试信号的波形。当测试工具服务完成对示波器的控制后，会通过通讯服务向被测设备发送“操作成功”等操作结果，以使被测设备继续运行测试用例。

作为另一个示例，当被测设备运行测试用例，且需要获取电源电压值时，被测设备会向测试主机110发送获取电源电压值的控制命令；通讯服务通过通讯接口接收到该控制命令，并在判断出该控制命令的类型为工具操作指令后，通讯服务会将该控制指令发送至测试工具服务；测试工具服务对控制命令进行解析后，确定工具操作信息为：利用数字电源设备获取电源电压值；从而测试工具服务会控制数字电源输出电源电压值至测试工具服务。当测试工具服务接收到到数字电源输出的电源电压值后，会通过通讯服务向被测设备发送该电源电压值这一操作结果，以使被测设备继续运行测试用例。

在一些实施方式中，测试主机110还用于，在控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过测试脚本控制测试工具120执行相应操作。

具体地，当通讯服务通过命令类型对应表确定接收到的控制命令为测试脚本操作命令时，则通讯服务会将该控制命令发送至测试脚本；测试脚本根据控制命令运行，以通过测试脚本控制测试工具120执行相应操作。

在一些实施方式中，测试工具120包括数字电源、温箱、信号发生器、示波器和数据采集仪中的一种或多种。测试工具120可以包括任何测试所需的设备，此处不对测试工具120的数量和种类做具体限制。

结合上述芯片自动化测试系统的结构，下面对芯片自动化测试方法进行具体说明。图2是本发明一个实施例的芯片自动化测试方法的流程图。该方法应用于测试主机，如图2所示，该方法包括以下步骤：

步骤S210：启动通讯服务和测试工具服务，并通过通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过测试工具服务对测试工具进行操作，其中，被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则发出控制命令。

具体地，在开始对芯片进行测试前，测试主机需要先启动通讯服务和测试服务。测试主机启动通讯服务后，通过运行通讯服务打开并配置测试主机与被测设备通讯用的通讯接口，其中，配置通讯接口包括：为通讯接口配置缓存地址。在通讯服务开始接收被测设备发送的控制命令之前，还需要对缓存地址中的历史发送数据和历史接收数据进行清空。

测试主机启动测试工具服务后，通过运行测试工具服务打开并配置测试主机与测试工具之间通讯用的通讯接口，并通过运行测试工具服务初始化所有测试工具以及配置所有测试工具。当所有测试工具完成初始化以及配置操作后，测试工具服务则开始接收通讯服务传输的控制命令。

在开始对芯片进行测试后，被测设备开始运行测试用例；在运行测试用例时，如果需要调节测试环境（如需要获取外部信号或输出测试数据），被测设备会向测试主机发出控制命令。

步骤S220：接收控制命令，并通过测试工具服务确定工具操作信息，以控制测试工具执行工具操作信息，并在测试工具完成操作时将操作结果通过通讯服务发送给被测设备，以便被测设备继续运行测试用例。

测试主机通过通讯服务接收到被测设备发送的控制命令，通讯接口会先将控制命令缓存至配置的缓存地址中；通讯服务实时查询缓存地址中是否存在被测设备发送的控制命令，若有，则通讯服务会将控制命令转存至数据缓存器中；通讯服务会按照预设格式将控制命令解析出来，并将解析出的控制命令放入消息队列中，以便后续按照顺序将控制命令进行转发。

在一些实施方式中，接收控制命令之后，该方法还包括：确定控制命令的类型，以便在控制命令的类型为工具操作命令时通过测试工具服务确定工具操作信息。

具体地，将控制命令放入消息队列后，对消息队列中的控制命令的类型进行判断。控制命令的类型的判断方式可以参考前述系统实施例中的判断方式，此处不再赘述。当确定控制命令的类型为工具操作命令时，则通讯服务会将控制命令发送至测试工具服务，并由测试工具服务根据控制命令确定工具操作信息，以及对相应的测试工具进行控制。

在一些实施方式中，通过测试工具服务确定工具操作信息，包括：通过执行测试工具服务以对控制命令进行解析，并根据解析结果确定工具操作信息。

具体地，当测试工具服务接收到通讯服务转发的控制命令后，测试主机则通过运行测试工具服务对控制命令进行解析，以得到工具操作信息。工具操作信息可以为需要使用的测试工具，还可以为需要通过该测试工具获取的外部信号或者需要向该测试工具输出的数据。

在一些实施方式中，在确定控制命令的类型之后，该方法还包括：在控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过测试脚本控制测试工具执行相应操作。具体地，当确定控制命令的类型为测试脚本操作命令时，则测试主机运行测试脚本，以使测试脚本根据控制命令控制测试工具执行相应操作。

值得一提的是，在本实施例中，测试用例可以控制整个测试流程；测试用例也可以控制一部分测试流程，再由测试脚本控制一部分测试流程。因此，可以根据实际需求来确定以哪种方式控制测试流程。

作为一个示例，当需要在两种温度25℃、135℃及三种供电电压3.3V、5V、5.5V的条件下测试芯片输出电压的能力，则可以通过设计测试用例使被测设备分别输出0.1v、0.2v、…、1.0v的电压，然后再利用万用表测量芯片输出的电压是否准确。

若使用测试用例控制整个测试流程，则测试过程为：运行测试用例，测试用例通过通讯服务向测试工具服务发送工具操作命令，以控制温箱为25℃、供电电源输出3.3V电压；测试工具服务解析工具操作命令后，得到工具操作信息，并按照工具操作信息控制温箱的温度和供电电源的输出电压。测试环境调节完成后，测试用例再控制芯片输出0.1V的电压，测试用例还会通过测试工具服务控制万用表来测量芯片输出的电压。不断重复上述操作，直至将所有温度与供电电压的组合测试数据全部测试完成，从而来确定芯片输出的电压是否准确。

若使用测试用例控制一部分测试流程，测试脚本控制一部分测试流程，则测试过程为：测试脚本控制温箱为25℃以及控制供电电源输出3.3V电压，来调节测试环境。测试环境调节完成后，测试用例控制芯片输出0.1V电压，并通过测试工具服务控制万用表测量芯片输出的电压。不断重复上述操作，通过测试脚本调节测试环境，直至将所有温度与供电电压的组合测试数据全部测试完成，从而来确定芯片输出的电压是否准确。

为了方便理解，下面通过一个具体示例对芯片自动化测试方法的流程进行说明。图3是本发明一个具体实施例的芯片自动化测试方法的流程图。

如图3所示，被测设备开始运行测试用例时，被测设备先进行系统初始化和被测试模块初始化，并实时检测是否需要外部信号。若当前运行测试用例时需要使用外部信号，则被测设备会向测试主机发送控制命令，被测设备发送控制命令后，则会实时检测是否接收到测试主机发送的操作结果；若接收到测试主机发送的测试结果，则继续运行测试用例。若当前运行测试用例时不需要使用外部信号，则继续运行测试用例。

在测试主机接收控制信号之前，测试主机通过运行通讯服务打开并配置测试主机与被测设备之间的通讯接口，并清空缓存地址中的历史发送数据和历史接收数据。当缓存地址中的数据清空后，则实时查询缓存地址是否接收到被测设备发送的数据；若接收到数据，则将数据转存至FIFO缓存器中；将数据放入FIFO缓存器中后，从数据中解析出控制命令，并放入消息队列；对消息队列中的控制命令的类型进行判断，若控制命令的类型为工具操作命令，则将控制命令转发至测试工具服务，若控制命令的类型为测试脚本操作命令时，则将控制命令转发至测试脚本。

测试主机通过运行测试工具服务打开并配置测试主机与测试工具之间的通讯接口，并控制测试工具进行初始化和配置操作。当所有测试工具完成初始化和配置操作后，实时检测是否接收到通讯服务转发的控制命令，若是，则对命令进行解析，得到工具操作信息，以按照工具操作信息控制测试工具。

若测试工具服务完成测试工具控制过程，则会通过通讯服务向被测设备发送操作结果，以便被测设备继续运行测试用例。

由此，本发明实施例通过测试用例即可实现控制整个芯片的测试流程，因此，在不需要编写测试脚本的情况下，也能够实现整个芯片的测试过程，从而减轻了测试开发工作量，简化了测试步骤，提高了芯片测试的测试效率。值得一提的是，本发明实施例的芯片自动化测试方法，还支持测试脚本和测试用例共同控制整个芯片的测试流程，提升了芯片测试方法的多样性。

需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统）使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种芯片自动化测试系统，其特征在于，包括测试主机和测试工具，其中，

所述测试主机用于启动通讯服务和测试工具服务，并通过所述通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过所述测试工具服务对所述测试工具进行操作，其中，所述被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则向所述测试主机发送控制命令；

所述测试主机在接收到所述控制命令时，通过所述测试工具服务确定工具操作信息，以控制所述测试工具执行所述工具操作信息，并在所述测试工具完成操作时将操作结果通过所述通讯服务发送给所述被测设备，以便所述被测设备继续运行所述测试用例。

2.根据权利要求1所述的芯片自动化测试系统，其特征在于，所述测试主机在接收到所述控制命令时，还用于确定所述控制命令的类型，并在所述控制命令的类型为工具操作命令时，通过所述测试工具服务确定工具操作信息。

3.根据权利要求2所述的芯片自动化测试系统，其特征在于，所述测试主机还用于，在所述控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过所述测试脚本控制所述测试工具执行相应操作。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的芯片自动化测试系统，其特征在于，所述测试主机在接收到所述控制命令时，通过执行所述测试工具服务以对所述控制命令进行解析，并根据解析结果确定所述工具操作信息。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的芯片自动化测试系统，其特征在于，所述测试工具包括数字电源、温箱、信号发生器、示波器和数据采集仪中的一种或多种。

6.一种芯片自动化测试方法，其特征在于，应用于测试主机，所述方法包括：

启动通讯服务和测试工具服务，并通过所述通讯服务与被测设备进行通讯，以及通过所述测试工具服务对测试工具进行操作，其中，所述被测设备在运行测试用例时，如果需要调节测试环境，则发出控制命令；

接收所述控制命令，并通过所述测试工具服务确定工具操作信息，以控制所述测试工具执行所述工具操作信息，并在所述测试工具完成操作时将操作结果通过所述通讯服务发送给所述被测设备，以便所述被测设备继续运行所述测试用例。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，在接收所述控制命令之后，所述方法还包括：

确定所述控制命令的类型，以便在所述控制命令的类型为工具操作命令时通过所述测试工具服务确定工具操作信息。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在确定所述控制命令的类型之后，所述方法还包括：

在所述控制命令的类型为测试脚本操作命令时，运行测试脚本，以通过所述测试脚本控制所述测试工具执行相应操作。

9.根据权利要求6-8中任一项所述的方法，其特征在于，通过所述测试工具服务确定工具操作信息，包括：

通过执行所述测试工具服务以对所述控制命令进行解析，并根据解析结果确定所述工具操作信息。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现根据权利要求6-9中任一项所述的芯片自动化测试方法。

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