CN117169768A - 功耗测试装置、系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种功耗测试装置、系统及方法，涉及测试技术领域。功耗测试装置包括：电源调整模块、功耗检测模块以及测试记录模块；电源调整模块的电源输出端用于连接待测试处理器的电源输入端，电源调整模块的控制端用于连接待测试处理器的第一通信接口；测试记录模块用于连接待测试处理器的第二通信接口，电源调整模块的电源输出端还连接功耗检测模块的检测端，功耗检测模块的通信接口用于连接待测试处理器的第三通信接口。电源调整模块分别与待测试处理器、功耗检测模块连接，便于为功耗检测模块、功耗检测模块均提供电源域，功耗检测模块可以检测在待测试处理器在该电源域下的功耗测试数据，即可以实现测试待测试处理器在电源域工作时的功耗情况。

Description

功耗测试装置、系统及方法

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种功耗测试装置、系统及方法。

背景技术

随着科技的进步和发展，各种各样的电子产品也越来越多，对电子产品进行测试可以提高电子产品的质量，所以对电子产品进行测试也变得越来越重要。

相关技术中，对整机产品的供电电源进行功耗测试，以测试出整机产品的通用功耗。但是，相关技术中，无法测试整机产品中处理器工作时在电源域的功耗情况。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种处理器的功耗测试装置、系统及方法，以便解决相关技术中存在的上述技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种功耗测试装置，所述功耗测试装置包括：电源调整模块、功耗检测模块以及测试记录模块；

所述电源调整模块的电源输出端用于连接所述待测试处理器的电源输入端，所述电源调整模块的控制端用于连接所述待测试处理器的第一通信接口；所述测试记录模块用于连接所述待测试处理器的第二通信接口，所述电源调整模块的电源输出端还连接所述功耗检测模块的检测端，所述功耗检测模块的通信接口用于连接所述待测试处理器的第三通信接口。

可选的，所述功耗检测模块包括：检测负载、模数转换单元、处理单元以及通信接口；

所述检测负载的两端连接所述电源调整模块的电源输出端，所述检测负载的两端还连接所述模数转换单元的模拟输入端，所述模数转换单元的数字输出端连接所述处理单元，所述处理单元连接所述通信接口，所述通信接口用于连接所述第三通信接口。

可选的，所述功耗检测模块还包括：地址分配单元，所述地址分配单元连接所述处理单元。

可选的，若所述功耗检测模块的数量为多个，则多个所述功耗检测模块中的检测负载分别为多个不同的负载，多个所述功耗检测模块中的地址分配单元分别为多个不同的地址分配单元。

可选的，所述第一通信接口为集成电路总线接口，或者系统管理总线接口；

所述第三通信接口为集成电路总线接口，或者，系统管理总线接口。

第二方面，本发明实施例提供了一种功耗测试系统，包括：上述第一方面任一所述的功耗测试装置，以及待测试处理器；

所述功耗测试装置中的电源调整模块的电源输出端连接所述待测试处理器的电源输入端，所述电源调整模块的控制端连接所述待测试处理器的第一通信接口；

所述功耗测试装置中的测试记录模块连接所述待测试处理器的第二通信接口，所述功耗测试装置中的功耗检测模块的通信接口还连接所述待测试处理器的第三通信接口。

第三方面，本发明实施例提供了一种功耗测试方法，应用于上述第一方面任一项所述的功耗测试装置中的测试记录模块，所述方法包括：

响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，以使得所述待测试处理器依次基于所述多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据；

根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，以将所述目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至所述待测试处理器的固件程序中。

可选的，所述依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，包括：

向所述待测试处理器发送所述应用场景下的第一测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第一测试指令控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

调整所述第一测试指令，得到所述应用场景下的第二测试指令；

向所述待测试处理器发送所述第二测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第二测试指令控制所述电源调整模块重新调整输出至所述待测试处理器的目标电压值，直至所述待测试处理器在所述应用场景下的工作状态满足预设极限条件。

可选的，所述获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据，包括：

获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于每个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据；

所述根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，包括：

根据所述多个测试指令在所述多个负载状态下的功耗测试数据，以及所述多个负载状态，确定所述目标功耗测试数据。

第四方面，本发明实施例提供了一种功耗测试装置，应用于上述第一方面任一项所述的功耗测试装置中的测试记录模块，所述装置包括：

发送模块，用于响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，以使得所述待测试处理器依次基于所述多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

获取模块，用于获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据；

确定模块，用于根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，以将所述目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至所述待测试处理器的固件程序中。

可选的，所述发送模块，具体用于向所述待测试处理器发送所述应用场景下的第一测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第一测试指令控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；调整所述第一测试指令，得到所述应用场景下的第二测试指令；向所述待测试处理器发送所述第二测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第二测试指令控制所述电源调整模块重新调整输出至所述待测试处理器的目标电压值，直至所述待测试处理器在所述应用场景下的工作状态满足预设极限条件。

可选的，所述获取模块，具体用于获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于每个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据；

所述确定模块，具体用于根据所述多个测试指令在所述多个负载状态下的功耗测试数据，以及所述多个负载状态，确定所述目标功耗测试数据。

本发明的有益效果是：本发明实施例提供一种功耗测试装置，功耗测试装置包括：电源调整模块、功耗检测模块以及测试记录模块；电源调整模块的电源输出端用于连接待测试处理器的电源输入端，电源调整模块的控制端用于连接待测试处理器的第一通信接口；测试记录模块用于连接待测试处理器的第二通信接口，电源调整模块的电源输出端还连接功耗检测模块的检测端，功耗检测模块的通信接口用于连接待测试处理器的第三通信接口。电源调整模块的电源输出端分别与待测试处理器的电源输入端、功耗检测模块的检测端连接，便于电源调整模块为功耗检测模块、功耗检测模块均提供电源域，功耗检测模块可以检测在待测试处理器在该电源域下的功耗测试数据，即可以实现测试待测试处理器在电源域工作时的功耗情况。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种功耗检测模块的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图；

图5为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图；

图6为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种测试记录模块的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

此外，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例中的特征可以相互结合。

图1为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图，如图1所示，该功耗测试装置包括：电源调整模块10、功耗检测模块11以及测试记录模块12；

其中，电源调整模块10的电源输出端用于连接待测试处理器13的电源输入端，电源调整模块10的控制端用于连接待测试处理器的第一通信接口；测试记录模块12用于连接待测试处理器的第二通信接口，电源调整模块10的电源输出端还连接功耗检测模块11的检测端，功耗检测模块11的通信接口用于连接待测试处理器的第三通信接口。

其中，待测试处理器与待测试处理器、功耗检测模块11、电源调整模块10之间的通信接口为不同的通信接口。

在一些实施方式中，测试记录模块12响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令；待测试处理器接收该应用场景下的多个测试指令，并根据这多个测试指令控制电源调整模块10调整输出至待测试处理器的目标电压值。

需要说明的是，功耗检测模块11和待测试处理器的电压值，均为电源调整模块10所输出的目标电压值，功耗检测模块11可以在目标电压值下检测得到功耗测试数据，该功耗测试数据是指待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据，即待测试处理器在应用场景下基于目标电压值的功耗测试数据，功耗检测模块11可以通过待测试处理器向测试记录模块12发送多个测试指令的功耗测试数据，测试记录模块12可以接收该多个测试指令的功耗测试数据。

其中，待测试处理器基于不同的测试指令，调整电源调整模块10向待测试处理器输出不同的目标电压值，电源调整模块10还可以为功耗检测模块11提供不同的目标电压值。即，电源调整模块10可以分别为待测试处理器、功耗检测模块11提供不同的电源域，而功耗检测模块11可以检测到各电源域下的功耗测试数据，为待测试处理器各个电源域下的电压极限情况以及功耗提供了有利数据。电源调整模块10对电源参数进行调整以便输出目标电压值，电源调整模块10还可以通过待测试处理器向测试记录模块12发送调整参数，测试记录模块12可以存储该电源的调整参数。

在本申请实施例中，测试记录模块12可以根据多个测试指令的功耗测试数据，确定应用场景下的目标功耗测试数据，其中，目标功耗测试数据为应用场景下的最佳的功率测试数据；将目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至待测试处理器的固件程序中，则待测试处理器中具有针对应用场景的启动参数，在获取多个测试指令的功耗测试数据，还可以确定目标功耗测试数据对应测试指令中的参数，提高了待测试处理器的功耗优化效率，实现了功耗的动态调节以及最佳匹配。

需要说明的是，上述测试记录模块12可以为上位机，待测试处理器可以为CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，上述功耗检测模块11的数量可以为至少一个。

综上所述，本发明实施例提供一种功耗测试装置，功耗测试装置包括：电源调整模块10、功耗检测模块11以及测试记录模块12；电源调整模块10的电源输出端用于连接待测试处理器的电源输入端，电源调整模块10的控制端用于连接待测试处理器的第一通信接口；测试记录模块12用于连接待测试处理器的第二通信接口，电源调整模块10的电源输出端还连接功耗检测模块11的检测端，功耗检测模块11的通信接口用于连接待测试处理器的第三通信接口。电源调整模块10的电源输出端分别与待测试处理器的电源输入端、功耗检测模块11的检测端连接，便于电源调整模块10为功耗检测模块11、功耗检测模块11均提供电源域，功耗检测模块11可以检测在待测试处理器在该电源域下的功耗测试数据，即可以实现测试待测试处理器在电源域工作时的功耗情况。

在本申请实施例中，电源调整模块10根据测试指令调整内部的PWM(Pulse WidthModulation，脉冲宽度调制)输出信号，ADC(Analog-to-digital converter，模拟数字转换器)信号，通过内部调整PWM信号的梯度信息、脉宽信息、斜率信息即可调整出相同电压的不同阶梯值。通过调整ADC信号即可得出不同电压等级的电源电压输出值，从而可以根据测试指令调整得到不同的目标电压值。

其中，电源调整模块10还可以调整自身调节的速率，以及寄存器的配置、相关调节的状态可以通过总线与待测试处理器相连，而待测试处理器与测试记录模块12是通信连接的，电源调整模块10通过待测试处理器向上位机发送电压的调整参数，从而可以实现调整参数的传递与记录。

可选的，图2为本发明实施例提供的一种功耗检测模块的结构示意图，如图2所示，功耗检测模块包括：检测负载110、模数转换单元111、处理单元112以及通信接口113；

检测负载110的两端连接电源调整模块10的电源输出端，检测负载110的两端还连接模数转换单元111的模拟输入端，模数转换单元111的数字输出端连接处理单元112，处理单元112连接通信接口113，通信接口113用于连接第三通信接口。

其中，电源调整模块10的电源输出端向检测负载110的两端输出目标电压值，模数转换单元111采集在目标电压值下检测负载110两端的模拟电压信息，并对检测负载110两端的模拟电压信息进行模数转换，得到检测负载110两端的数字电压信息，向处理单元112发送该检测负载110两端的数字电压信息，处理单元112可以接收该数字电压信息，并根据检测负载110的阻值以及检测负载110两端的数字电压信息，计算检测负载110两端的电流信息，根据检测负载110两端的电流信息以及数字电压信息，计算检测负载110两端的功耗信息。

需要说明的是，功耗测试数据可以为在检测负载110状态下的功耗测试数据；在采用目标电压值为待测试处理器供电时，待测试处理器在检测负载110状态下的功耗测试数据包括：检测负载110两端的电流信息、数字电压信息以及功耗信息。

可选的，如图2所示，功耗检测模块还包括：地址分配单元114，地址分配单元114连接处理单元112。

其中，采用地址分配单元114可以配置功耗检测模块11的地址。

图3为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图，如图3所示，功耗检测装置中包括多个功耗检测模块11，其中，各功耗检测模块11的通信接口均与待测试处理器的第三通信接口，各功耗检测模块11的检测端均与电源调整模块10的电源输出端连接。

可选的，若功耗检测模块11的数量为多个，则多个功耗检测模块11中的检测负载110分别为多个不同的检测负载110，多个功耗检测模块11中的地址分配单元114分别为多个不同的地址分配单元114。

其中，多个功耗检测模块11的内部结构是相同的。

需要说明的是，多个功耗检测模块11中的检测负载110分别为多个不同阻值的检测负载110，采用一目标电压值分别为待测试处理器以及多个功耗检测模块11供电时，可以通过多个检测负载110模块得到在多个检测负载110状态下的功耗测试数据。

另外，功耗检测模块11的通信接口用于连接待测试处理器的第三通信接口，功耗检测模块11的通信接口可以为：IIC(nter-Integrated Circuit，集成电路总线)接口或者SMBUS(System Management Bus，系统管理总线)接口。

在本申请实施例中，通过配置功耗检测模块11的地址，各功耗检测模块11可以通过一个总线进行级联操作，通过分时复用，待测试处理器可以读取各功耗检测模块11上的信息，同时，将采样总线级联至待测试处理器自身的总线，即可不需要外部相关模块，利用待测试处理器便可得到待测试处理器各个电源域的精确功耗。功耗检测模块11还可以利用总线配置相关的总线速率，总线地址分配。

可选的，第一通信接口为集成电路总线接口，或者系统管理总线接口；第三通信接口为集成电路总线接口，或者，系统管理总线接口。

其中，第一通信接口和第三通信接口为不同的通信接口，集成电路总线接口又可以称为IIC接口，系统管理总线接口又可以称为SMBUS接口。

本申请实施例还提供一种功耗测试系统，包括上述的功耗测试装置以及待测试处理器，其中，功耗测试装置中的电源调整模块的电源输出端连接待测试处理器的电源输入端，电源调整模块的控制端连接待测试处理器的第一通信接口；

功耗测试装置中的测试记录模块连接待测试处理器的第二通信接口，功耗测试装置中的功耗检测模块的通信接口还连接待测试处理器的第三通信接口。

在一些实施方式中，测试记录模块响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令；待测试处理器接收该应用场景下的多个测试指令，并根据这多个测试指令控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值，以及输出至功耗检测模块的目标电压值，功耗检测模块可以在目标电压值下检测得到功耗测试数据，该功耗测试数据可以认为是待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据。

待测试处理器基于不同的测试指令，调整电源调整模块向待测试处理器输出不同的目标电压值，电源调整模块还可以为待测试处理器、功耗检测模块提供不同的目标电压值，即不同的电源域。功耗检测模块可以检测到待测试处理器在各电源域下的功耗测试数据，可以实现测试待测试处理器在电源域工作时的功耗情况。

图4为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图，如图4所示，该方法可以包括：

S101、响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令，以使得待测试处理器依次基于多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值。

在一些实施方式中，响应输入的针对多个应用场景中待测试的应用场景选择操作，确定待测试的应用场景对应的多个测试指令，继而向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令，待测试处理器接收应用场景下的多个测试指令，并根据测试指令控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值，即电源域。电源调整模模块也向功耗检测模块输出目标电压值。

需要说明的是，控制待测试处理器输出的目标电压值，也可以认为是控制待测试控制器输出的电源域，根据测试指令可以调整输出的电源域的电压斜率、梯度、电压等级。

S102、获取功耗检测模块检测的待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据。

其中，功耗检测模块可以检测出在目标电压值下，待测试处理器的功耗测试数据。

在一些实施方式中，功耗检测模块通过待测试处理器向测试记录模块，发送待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据，针对不同测试指令，电源调整模块可以输出不同的电源域，该功测试数据是指不同电源域的功耗测试数据，测试记录模块可以记录在该应用场景下功耗测试数据，测试记录模块可以在该应用场景下进行压力测试，该功耗测试数据中可以包括：在应用场景下的极限电源域电压信息、电流信息以及功耗信息。

S103、根据多个测试指令的功耗测试数据，确定应用场景下的目标功耗测试数据，以将目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至待测试处理器的固件程序中。

其中，根据多个测试指令的功耗测试数据进行分析，得到应用场景下表现最佳的功耗测试数据，将该最佳的功耗测试数据作为应用场景下的目标功耗测试数据。

在本申请实施例中，多个测试指令和功耗测试数据具有对应关系，也即是每个测试指令具有对应的功耗测试数据，根据该对应关系，确定目标功耗测试数据对应的测试指令，并获取该测试指令中的参数，将该参数固化至待测试处理器的固件程序中，则在应用场景下，采用该参数启动待测试处理器时，可以使得待测试处理器的功耗最佳。

需要说明的是，依次对多个应用场景进行的选择，可以确定出多个应用场景下的多个测试指令，针对各应用场景依次执行上述S101至S102的过程，可以依次得到多个应用场景下针对多个测试指令的功耗测试数据，进而可以得到多个不同的应用场景下的最佳的功耗测试数据。在本申请实施例中，测试记录模块上安装有压测工具，可以保证待测试处理器在不同的应用场景下针对多个测试指令的功耗测试数据的稳定性与可靠性。

另外，测试记录模块还可以对不同应用场景的功耗测试数据进行比对，本申请实施例对此不进行具体限制。

综上所述，本申请实施例提供一种功耗测试方法，响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令，以使得待测试处理器依次基于多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值；获取功耗检测模块检测的待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据；根据多个测试指令的功耗测试数据，确定应用场景下的目标功耗测试数据，以将目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至待测试处理器的固件程序中。使得测试记录模块可以获取到待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据，实现测试待测试处理器在电源域工作时的功耗情况，而且，将目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至待测试处理器的固件程序中，可以实现高效的对待测试处理器的功耗进行优化。

在本申请实施例中，测试记录模块可以采用压力测试工具，模拟在最大压力条件下，检测待测试处理器在不同的目标电压值下的功耗测试数据，测试记录模块中还可以基于电源调整模块通过待测试处理器发送的各测试指令对应的电源调整参数，根据电源调整参数以及不同的目标电压值下的功耗测试数据，可得出相关待测试处理器的功耗优化方法及数据模型。

其中，测试记录工具还可以调整不同的采样频率，采样参数值以及不同的采样环境。测试模块还可以通过将功耗测试数据与待测试处理器进行互联操作，通过目标功耗测试数据将相关测试指令中的参数固化，利用不同场景下的目标功耗测试数据，将相关配置信息动态写入待测试处理器的固件程序中，即可实现功耗的动态调节及最佳匹配。

在测得在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据，对整个电源域的极限情况进行测试，利用压测工具，可以对整体电源域进行优化调整。

图5为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图，如图5所示，上述S101中依次向待测试处理器发送应用场景下的多个测试指令的过程，可以包括：

S201、向待测试处理器发送应用场景下的第一测试指令，以使得待测试处理器基于第一测试指令控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值。

S202、调整第一测试指令，得到应用场景下的第二测试指令。

S203、向待测试处理器发送第二测试指令，以使得待测试处理器基于第二测试指令控制电源调整模块重新调整输出至待测试处理器的目标电压值，直至待测试处理器在应用场景下的工作状态满足预设极限条件。

在本申请实施例中，针对一应用场景下的多个测试指令，逐个发送多个测试指令中的每个测试指令，当待测试处理器基于这一个测试指令完成电源调整模块的输出电压调整后，测试记录模块再向待测试处理器发送下一个测试指令。

在一些实施方式中，待测试处理器基于第一测试指令控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值，测试记录模块可以获取针对第一测试指令的功耗测试数据；待测试处理器基于第二测试指令控制电源调整模块调整输出至待测试处理器的目标电压值，测试记录模块可以获取针对第二测试指令的功耗测试数据。

在待测试处理器在应用场景下的工作状态满足预设极限条件时，可以停止向待测试处理器发送应用场景下的测试指令。

可选的，图6为本发明实施例提供的一种功耗测试方法的流程示意图，如图6所示，上述S102中获取功耗检测模块检测的待测试处理器在应用场景下基于多个测试指令的功耗测试数据的过程，包括：

S301、获取功耗检测模块检测的待测试处理器在应用场景下基于每个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据。

其中，针对一个应用场景具有多个测试指令，针对一个测试指令具有多个负载状态下的功耗测试数据。

上述S103中根据多个测试指令的功耗测试数据，确定应用场景下的目标功耗测试数据的过程，包括：

S302、根据多个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据，以及多个负载状态，确定目标功耗测试数据。

在一些实施方式中，根据多个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据，对功耗测试数据和负载状态进行统计分析，针对不同的应用场景满足功能需求的前提下，将不同的应用场景在功能稳定时的最低功耗测试数据，作为不同场景的目标功耗测试数据，即不同场景的最佳功耗状态。

综上所述，本申请实施例提供的一种功耗测试方法，可实现自动化测试和记录待测试处理器在各种应用场景下各电源域的功耗测试数据，同时结合电源调整模块对待测试处理器的功耗进行优化，可将目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化到待测试处理器的固件程序，从而提高待测试处理器的电源域功耗测试的准确性和效率，同时为待测试处理器的各个电源域电压极限情况及功耗优化提供有利数据。

下述对用以执行本申请所提供的功耗测试方法的功耗测试装置、终端设备及存储介质等进行说明，其具体的实现过程以及技术效果参见上述功耗测试方法的相关内容，下述不再赘述。

图7为本发明实施例提供的一种功耗测试装置的结构示意图，如图7所示，该装置包括：

发送模块701，用于响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，以使得所述待测试处理器依次基于所述多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

获取模块702，用于获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据；

确定模块703，用于根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，以将所述目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至所述待测试处理器的固件程序中。

可选的，所述发送模块701，具体用于向所述待测试处理器发送所述应用场景下的第一测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第一测试指令控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；调整所述第一测试指令，得到所述应用场景下的第二测试指令；向所述待测试处理器发送所述第二测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第二测试指令控制所述电源调整模块重新调整输出至所述待测试处理器的目标电压值，直至所述待测试处理器在所述应用场景下的工作状态满足预设极限条件。

可选的，所述获取模块702，具体用于获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于每个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据；

所述确定模块703，具体用于根据所述多个测试指令在所述多个负载状态下的功耗测试数据，以及所述多个负载状态，确定所述目标功耗测试数据。

上述装置用于执行前述实施例提供的方法，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路，例如：一个或多个特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)，或，一个或多个微处理器(digital singnal processor，简称DSP)，或，一个或者多个现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)等。再如，当以上某个模块通过处理元件调度程序代码的形式实现时，该处理元件可以是通用处理器，例如中央处理器(CentralProcessing Unit，简称CPU)或其它可以调用程序代码的处理器。再如，这些模块可以集成在一起，以片上系统(system-on-a-chip，简称SOC)的形式实现。

图8为本发明实施例提供的一种测试记录模块的结构示意图，如图8所示，包括：处理器801、存储器802。

存储器802用于存储程序，处理器801调用存储器802存储的程序，以执行上述方法实施例。具体实现方式和技术效果类似，这里不再赘述。

可选地，本发明还提供一种程序产品，例如计算机可读存储介质，包括程序，该程序在被处理器执行时用于执行上述方法实施例。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(英文：processor)执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(英文：Read-Only Memory，简称：ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种功耗测试装置，其特征在于，所述功耗测试装置包括：电源调整模块、功耗检测模块以及测试记录模块；

所述电源调整模块的电源输出端用于连接待测试处理器的电源输入端，所述电源调整模块的控制端用于连接所述待测试处理器的第一通信接口；所述测试记录模块用于连接所述待测试处理器的第二通信接口，所述电源调整模块的电源输出端还连接所述功耗检测模块的检测端，所述功耗检测模块的通信接口用于连接所述待测试处理器的第三通信接口。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功耗检测模块包括：检测负载、模数转换单元、处理单元以及通信接口；

所述检测负载的两端连接所述电源调整模块的电源输出端，所述检测负载的两端还连接所述模数转换单元的模拟输入端，所述模数转换单元的数字输出端连接所述处理单元，所述处理单元连接所述通信接口，所述通信接口用于连接所述第三通信接口。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述功耗检测模块还包括：地址分配单元，所述地址分配单元连接所述处理单元。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，若所述功耗检测模块的数量为多个，则多个所述功耗检测模块中的检测负载分别为多个不同的负载，多个所述功耗检测模块中的地址分配单元分别为多个不同的地址分配单元。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述第一通信接口为集成电路总线接口，或者系统管理总线接口；

所述第三通信接口为集成电路总线接口，或者，系统管理总线接口。

6.一种功耗测试系统，其特征在于，包括：上述权利要求1-5中任一所述的功耗测试装置，以及待测试处理器；

所述功耗测试装置中的电源调整模块的电源输出端连接所述待测试处理器的电源输入端，所述电源调整模块的控制端连接所述待测试处理器的第一通信接口；

所述功耗测试装置中的测试记录模块连接所述待测试处理器的第二通信接口，所述功耗测试装置中的功耗检测模块的通信接口还连接所述待测试处理器的第三通信接口。

7.一种功耗测试方法，其特征在于，应用于上述权利要求1-5任一项所述的功耗测试装置中的测试记录模块，所述方法包括：

响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，以使得所述待测试处理器依次基于所述多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据；

根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，以将所述目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至所述待测试处理器的固件程序中。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，包括：

向所述待测试处理器发送所述应用场景下的第一测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第一测试指令控制所述电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

调整所述第一测试指令，得到所述应用场景下的第二测试指令；

向所述待测试处理器发送所述第二测试指令，以使得所述待测试处理器基于所述第二测试指令控制所述电源调整模块重新调整输出至所述待测试处理器的目标电压值，直至所述待测试处理器在所述应用场景下的工作状态满足预设极限条件。

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据，包括：

获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于每个测试指令在多个负载状态下的功耗测试数据；

所述根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，包括：

根据所述多个测试指令在所述多个负载状态下的功耗测试数据，以及所述多个负载状态，确定所述目标功耗测试数据。

10.一种功耗测试装置，其特征在于，应用于上述权利要求1-5任一项所述的功耗测试装置中的测试记录模块，所述装置包括：

发送模块，用于响应输入的待测试的应用场景的选择操作，依次向待测试处理器发送所述应用场景下的多个测试指令，以使得所述待测试处理器依次基于所述多个测试指令分别控制电源调整模块调整输出至所述待测试处理器的目标电压值；

获取模块，用于获取所述功耗检测模块检测的所述待测试处理器在所述应用场景下基于所述多个测试指令的功耗测试数据；

确定模块，用于根据所述多个测试指令的功耗测试数据，确定所述应用场景下的目标功耗测试数据，以将所述目标功耗测试数据对应测试指令中的参数固化至所述待测试处理器的固件程序中。