CN112131066B - 用于测试otp型soc的系统和方法 - Google Patents

Abstract

本公开的实施例涉及一种用于测试OTP型SOC的系统和方法。一种用于测试OTP型SOC的系统包括：外部存储器，位于SOC外部并且与SOC通信连接，外部存储器用于存储用于第一测试项目的第一测试参数；以及系统控制器，与SOC和外部存储器通信连接，系统控制器指示SOC从外部存储器读取第一测试参数，其中SOC基于所读取的第一测试参数来运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于第一测试项目的第一测试结果；系统控制器被配置为：响应于在外部存储器中写入用于第二测试项目的第二测试参数，生成参数更新信号，并且向SOC发送参数更新信号，以指示SOC从外部存储器读取第二测试参数。本公开的实施例能够大大减少测试程序所占用的存储空间，并提供高效、稳定的测试。

Description

用于测试OTP型SOC的系统和方法

技术领域

本公开的实施例总体上半导体器件及其测试方法，并且更为具体地，涉及用于测试OTP型SOC的系统和方法。

背景技术

OTP型SOC被广泛应用于电子设备中，市场占有率很高。在生产过程中，需要在芯片级测试期间（进行封装后）对每个SOC产品进行性能测试，以表征其相关参数是否符合性能指标。由于OTP型SOC自带的OTP存储器是一次性可编程的，即只能进行一次编程，不可以进行电擦除操作，因此期望尽可能节省测试程序所占用的OTP存储器的存储空间。然而，为了获得OTP型SOC的相关参数的性能指标，现有的测试方案需要在每个SOC的OTP存储器中写入复杂的测试程序，包括初始化、模拟协议、协议解析、参数配置和数据输出等多个部分，导致占用大量的程序存储空间。

此外，在对SOC产品进行性能测试时，需要向SOC提供不同测试项目所需的测试参数。现有的测试方案通常采用由外部系统控制器直接与SOC进行双向通信的方式来更新测试参数，然而该方式需要系统控制器与SOC进行多次通信，通信数据量大，错误率较高。

因此，现有的用于测试OTP型SOC的方案存在占用大量程序存储空间、通信稳定性较低等不足。

发明内容

鉴于上述问题，本公开的实施例提供了一种用于测试OTP型SOC的系统和方法，能够大大减少测试程序所占用的程序存储空间，并且提供高效稳定的测试。

根据本公开的第一方面，提供了一种用于测试OTP型SOC的系统，该系统包括：外部存储器，位于SOC外部并且与SOC通信连接，外部存储器用于存储用于第一测试项目的第一测试参数；以及系统控制器，与SOC和外部存储器通信连接，系统控制器指示SOC从外部存储器读取第一测试参数，其中SOC基于所读取的第一测试参数来运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于第一测试项目的第一测试结果；其中系统控制器被配置为：响应于在外部存储器中写入用于第二测试项目的第二测试参数，生成参数更新信号，并且向SOC发送参数更新信号，以指示SOC从外部存储器读取第二测试参数。

与现有的测试系统中由外部系统控制器直接与SOC进行双向通信、并且需要通信多次以进行参数修改相比，本公开的实施例利用外部存储器以用于存储测试项目所需的测试参数，并且利用参数更新信号以指示SOC从外部存储器读取最新写入的测试参数，使得在进行不同测试参数的测试时，仅需进行一次通信来间接实现SOC测试参数的修改，从而能够更加灵活地更改测试参数。与现有的测试系统相比，本公开的实施例不需要复杂的协议解析，因此能够大大降低在更新测试参数时的通信数据量，并且简化OTP型SOC内部的测试程序，从而减少测试程序所占用的程序存储空间。

在一个实施例中，外部存储器、系统控制器与SOC通过两线制信号线通信连接，并且其中SOC经由两线制信号线从外部存储器读取第一测试参数。通过采用两线制信号线，本发明的实施例仅需要采用两条信号线（其中一条信号线作为同步时钟线，另一条信号线作为数据线），就可以实现不同SOC的、多个测试项目的自动化测试，而不需额外的通信线缆，从而节省IO接口占用，并且加快数据传输速率。

在一个实施例中，SOC包括模数转换器（ADC），并且其中SOC被配置为：在基于第一测试参数运行测试程序期间，响应于从第一测试参数确定第一测试项目是针对ADC的测试，向系统控制器发送第一测试结果；其中系统还包括计算机，计算机被配置为：与系统控制器通信连接，并且从系统控制器接收第一测试结果。ADC是SOC中重要的功能模块，并且ADC测试的测试结果的数据量非常大。本公开的实施例能够提供对SOC中的ADC的可靠、稳定的测试，并获得错误率较低的测试结果。

在一个实施例中，用于测试OTP型SOC的系统还包括：参数测量单元，用于向SOC发送模拟测试信号，以进行针对ADC的测试。以此方式，能够更可靠地进行针对ADC的测试。

在一个实施例中，用于测试OTP型SOC的系统还包括：参数测量单元，参数测量单元被配置为：在基于第一测试参数运行测试程序期间，响应于SOC从第一测试参数确定第一测试项目不是针对ADC的测试，从SOC获取第一测试结果，并且将第一测试结果发送给与系统控制器和参数测量单元通信连接的计算机。以此方式，能够更可靠地进行针对模拟信号的测试。

在一个实施例中，用于测试OTP型SOC的系统还包括温箱，温箱被配置用于为SOC提供温度可控的测试环境。以此方式，能够根据测试需求，对SOC进行温度控制，从而获得所需的性能指标。

根据本发明的第二方面，还提供了一种用于测试OTP型SOC的方法，该方法包括：从外部存储器读取用于第一测试项目的第一测试参数，外部存储器位于SOC外部并且与SOC通信连接；基于所读取的第一测试参数，运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序；响应于运行测试程序，生成用于第一测试项目的第一测试结果；以及响应于从系统控制器接收到参数更新信号，从外部存储器读取用于第二测试项目的第二测试参数，其中参数更新信号是由系统控制器响应于在外部存储器中写入第二测试参数而被生成的。

与现有的测试系统中由外部系统控制器直接与SOC进行双向通信、并且需要通信多次以进行参数修改相比，本公开的实施例利用外部存储器以用于存储测试项目所需的测试参数，并且利用参数更新信号以指示SOC从外部存储器读取最新写入的测试参数，使得在进行不同测试参数的测试时，仅需进行一次通信来间接实现SOC测试参数的修改，从而能够更加灵活地更改测试参数。与现有的测试系统相比，本公开的实施例不需要复杂的协议解析，因此能够大大降低在更新测试参数时的通信数据量，并且简化OTP型SOC内部的测试程序，从而减少测试程序所占用的程序存储空间。

在一个实施例中，外部存储器、系统控制器与SOC通过两线制信号线通信连接，并且其中读取第一测试参数包括：经由两线制信号线从外部存储器读取第一测试参数。以此方式，本发明的实施例仅需要采用两条信号线，就可以实现不同SOC的、多个测试项目的自动化测试，而不需额外的通信线缆，从而节省IO接口占用，并且加快数据传输速率。

在一个实施例中，SOC包括ADC，方法还包括：在基于第一测试参数运行测试程序期间，响应于从第一测试参数确定第一测试项目是针对ADC的测试，向系统控制器发送第一测试结果，以发送至与系统控制器通信连接的计算机。以此方式，本公开的实施例能够提供对SOC中的ADC的可靠、稳定的测试，并获得错误率较低的测试结果。

在一个实施例中，用于测试OTP型SOC的方法还包括：从参数测量单元接收模拟测试信号，以进行针对ADC的测试。以此方式，能够更可靠地进行针对ADC的测试。

在一个实施例中，用于测试OTP型SOC的方法还包括：在基于第一测试参数运行测试程序期间，响应于从第一测试参数确定第一测试项目不是针对ADC的测试，由参数测量单元从SOC获取第一测试结果；以及由参数测量单元将第一测试结果发送给与系统控制器和参数测量单元通信连接的计算机。以此方式，能够更可靠地进行针对模拟信号的测试。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

通过结合附图更详细地描绘本公开的示例性实施例，本公开的上述目的和其它目的、特征和优点将变得更加明显，其中在本公开的示例性实施例中，相同的附图标记通常表示相同的部件。

图1示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的系统的简要结构的框图。

图2示意性地示出了根据本公开的实施例的OTP型SOC的框图。

图3示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的系统的简要结构的框图。

图4示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的方法的流程图。

图5示意性地示出了根据本公开的实施例的用于进行针对ADC的测试的方法的流程图。

图6示意性地示出了根据本公开的实施例的用于进行针对模拟信号的测试的方法的流程图。

图7示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的方法的流程图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。

如本文所使用的，术语“包括”及其变体将被解读为意指“包括但不限于”的开放式术语。术语“基于”将被解读为“至少基于部分”。术语“一个实施例”和“实施例”应被理解为“至少一个实施例”。术语“另一实施例”应理解为“至少一个其他实施例”。术语“第一”、“第二”等可以指代不同或相同的对象。在下面可能包含其他明确的和隐含的定义。除非上下文另外明确指出，否则术语的定义在整个说明书中是一致的。

此外，需要说明的是，在本公开的实施方式中提及的各种数目都是示例性的，本公开并不局限于此。而是可以根据实际设计需求更改这些数目，以实现基本同样的作用和效果。

如前文所描述的，传统的用于测试OTP型SOC的方案通常需要在每个SOC的OTP存储器中写入复杂的测试程序，一方面导致大量的程序存储空间被占用，另一方面复杂的测试程序需要较长的开发周期，因而导致开发成本增加。

为了至少部分地解决上述问题以及其他潜在问题中的一个或者多个，本公开的示例实施例提出了一种用于测试OTP型SOC的系统，该系统包括：外部存储器，位于SOC外部并且与SOC通信连接，外部存储器用于存储用于第一测试项目的第一测试参数；以及系统控制器，与SOC和外部存储器通信连接，系统控制器指示SOC从外部存储器读取第一测试参数，其中SOC基于所读取的第一测试参数来运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于第一测试项目的第一测试结果。

在上述方案中，本公开提供了位于OTP型SOC外部并且与OTP型SOC通信连接的外部存储器，该外部存储器用于存储用于测试项目的测试参数，因此，本公开能够允许简化测试程序，从而节省程序存储空间。

图1示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的系统10的简要结构的框图。如图1所示，系统10包括系统控制器104和外部存储器102。系统10用于对OTP型SOC进行测试。外部存储器102位于OTP型SOC外部。在一个实施例中，外部存储器102可以是电可擦可编程只读存储器（EEPROM）。系统控制器104可以与SOC和外部存储器102通过信号线108通信连接。系统控制器104可以经由信号线108向外部存储器102写入用于测试项目的测试参数。OTP型SOC可以经由信号线108从外部存储器102读取测试参数，并且基于所读取的测试参数来运行存储在OTP型SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于该测试项目的测试结果。

系统控制器104还可以被配置为：响应于在外部存储器102中写入另一测试参数，生成参数更新信号，并且向OTP型SOC发送参数更新信号，以指示OTP型SOC从外部存储器102读取该另一测试参数。OTP型SOC可以基于所读取的该另一测试参数来运行存储在OTP型SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于相应的另一测试项目的测试结果。在一个实施例中，可以自定义一种特殊电平信号作为参数更新信号。例如，在通信线默认状态为高电平的情况下，参数更新信号可以以如下方式进行预定义：通信线同时为低电平---通信线同时为高电平---通信线同时为低电平---通信线同时为高电平（即，信号线同时为低---高---低---高的方式）。

系统10可以对多个OTP型SOC（如图1中示意性地示出的SOC₁ 106₁、SOC₂ 106₂、SOC₃106₃……SOC_n 106_n）进行测试。

OTP型SOC的测试项目可以根据产品要求进行设置。测试项目包括但不限于与性能指标相关的各种电压测试、ADC测试、时钟测试、及模拟参数的温度漂移测试、频率测试等。

在一个实施例中，信号线108可以以任何通信协议进行数据传输。优选地，信号线108可以是两线制信号线，即采用两条信号线，其中一条信号线作为同步时钟线，另一条信号线作为数据线。

在本公开的实施例中，在OTP型SOC外部设置有外部存储器以用于存储测试项目所需的测试参数。在向OTP型SOC提供测试参数时，通过将外部存储器作为系统控制器与OTP型SOC通信的中间站，不需要进行复杂的协议解析，因此能够大大减少在更新测试参数时的通信数据量，并且简化OTP型SOC内部的测试程序。

下面结合图2-图3进一步描述OTP型SOC和用于测试OTP型SOC的系统的示例性细节和操作原理。

图2示意性地示出了根据本公开的实施例的OTP型SOC 160的框图。OTP型SOC包括随机存取存储器（RAM）1002（还被称为数据存储区）、多个寄存器1004、OTP型存储器1006（还被称为程序存储区）和多个功能模块（诸如，ADC 1008）等。OTP型存储器1006是一次性可编程的，并且被配置为存储用于执行OTP型SOC的测试项目的测试程序。

在一个实施例中，OTP型SOC 160从图1的外部存储器102读取测试参数后，所读取的测试参数首先被暂存在RAM 1002中，然后由OTP型存储器1006中的测试程序将RAM 1002中的测试参数搬运到与测试项目相关的寄存器1004，从而完成测试项目所需的寄存器配置。完成寄存器配置后，相应的功能模块将按照该配置运行，从而获得相应的测试结果。

在一个实施例中，测试参数可以包括与测试结果类型有关的位。相应地，OTP型SOC160可以包括与测试项目的类型有关的寄存器，该寄存器被配置为在进行寄存器配置时同步进行更新，以指示测试项目是否为针对ADC的测试。例如，在本公开的实施例中，针对ADC1008的测试项目的测试结果是数字信号。

图3示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的系统30的简要结构的框图。应当理解，图3与图1中相同的附图标记表示相同的部件，因此将省略其描述。

系统30包括外部存储器102、系统控制器104、信号线108、计算机110和参数测量单元112。

在一个实施例中，系统30还可以包括温箱114。温箱114被配置用于为SOC提供测试项目所需的温度环境。图3中的系统控制器104被置于温箱中，然而可以理解，系统控制器104还可以被置于温箱外。

在一个实施例中，计算机可以与温箱114、系统控制器104、和参数测量单元112通信连接。计算机110被配置为对整个测试过程进行控制，并且存储并分析测试结果。在一个实施例中，计算机110被配置为对温箱114进行控制，从而为测试项目（例如，模拟参数的温度漂移测试）提供温度可控的测试环境。在另一实施例中，计算机110被配置与系统控制器104（例如，通过通用串行总线协议）进行通信，以控制系统控制器104向外部存储器102中写入测试参数并生成参数更新信号。在又一实施例中，计算机110被配置与参数测量单元112（例如，通过通用串行总线协议）进行通信，以对参数测量单元112进行控制。计算机能够对整个系统的测试进行控制，保证了自动化测试的正常运行。

在一个实施例中，系统控制器104、OTP型SOC和外部存储器102被配置为通过信号线108进行通信。特别地，系统控制器104可以经由信号线108向外部存储器102写入用于测试项目的测试参数。OTP型SOC可以经由信号线108从外部存储器102读取测试参数，并且基于所读取的测试参数来运行存储在OTP型SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于该测试项目的测试结果。

在一个实施例中，当测试项目是针对ADC的测试时，计算机110控制参数测量单元112生成ADC测试所需的模拟测试信号（例如，三角波或正弦波），并将该模拟测试信号发送到相应的OTP型SOC的ADC的输入端。ADC接收该模拟测试信号，并且根据基于测试参数的寄存器配置运行，并产生数字形式的测试结果。OTP型SOC经由信号线108将数字信号形式的测试结果发送至系统控制器104，并存储在计算机110中。

在另一实施例中，当测试项目不是针对ADC的测试时，计算机110控制参数测量单元112从相应的OTP型SOC获取测试结果，并将该测试结果发送给计算机110。在一个实施例中，该测试结果可以是模拟信号形式。例如，当测试项目是电压测试时，参数测量单元112读取OTP型SOC的相应功能模块的电压，从而获得模拟信号形式的电压测试结果。

在一个实施例中，信号线108可以以任何通信协议进行数据传输。优选地，信号线108可以是两线制信号线。与现有的测试方案中的模拟通信方式相比，本公开的通信方式可以采用两线制通信，物理层采用差分的传输方式，有效提高了输出传输过程中的抗干扰能力，自动化测试中的数据通信更加稳定。此外，尤其是对于ADC的测试，其测试结果的数据量非常大，通过本公开的实施例，SOC与系统控制器之间的通信仅为从SOC到系统控制器的数据输出，即实现了单向通信，大大减少了通信数据量，从而保证了通信过程的稳定性。在采用两线制通信时，数字信号形式的测试结果通过两线制信号线从OTP型SOC输出至外部控制器，其中该两线制信号线中的一条信号线一条信号线作为同步时钟线，另一条信号线作为数据线，并且其中该两线制信号线可以直接借助系统控制器与外部存储器之间的IIC总线实现，而不需额外的通信线缆，从而节省IO接口占用，并且加快数据传输速率。

在一个实施例中，当计算机110接收到关于当前测试项目的足够多的测试结果时，计算机110可以控制系统控制器104向外部存储器102中写入用于另一测试项目的另一测试参数。系统控制器104响应于在外部存储器102中写入另一测试参数而生成参数更新信号，并将该参数更新信号发送给OTP型SOC。OTP型SOC被配置为响应于检测到参数更新信号而进行初始化，并从外部存储器102接收该另一测试参数。OTP型SOC基于所读取的测试参数完成该另一测试项目所需的寄存器配置，并获得相应的测试结果。

在一个实施例中，可以自定义一种特殊电平信号作为参数更新信号，以指示OTP型SOC执行初始化动作，并从外部存储器读取测试参数。例如，在通信线默认状态为高电平的情况下，参数更新信号可以以信号线同时为低---高---低---高的方式进行预定义。

在本公开中，外部存储器作为参数存储区，通过地址映射的方式，间接实现SOC测试参数的修改。与现有的测试方案进行测试参数修改时需要多次通信相比，本公开的测试方案在进行不同测试参数的测试时，仅需进行一次通信，从而能够更加灵活地更改测试参数。通过采用地址映射的方式，仅需更改映射地址，便可实现不同SOC的测试，大大提高测试方法的通用性。

此外，在本公开中，测试程序仅包括初始化、参数更新和数据输出三个部分，不需要复杂的协议解析。与现有的测试方案相比，本公开的测试程序所占用的空间大大减少，甚至仅占用现有测试方案的测试程序所占空间的十分之一。测试程序的简化可以进一步缩短开发周期，并降低开发成本。

以下将结合图4-图7来描述根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的方法。应当理解，图4-图7中所示的方法40、50、60和70例如可以针对图2所示的测试OTP型SOC 106来执行，并且可以在图1所描述的系统10处执行，还可以在图3所描述的系统30处执行。

图4示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的方法40的流程图。

在步骤402中，由OTP型SOC从外部存储器读取用于第一测试项目的第一测试参数，该外部存储器位于SOC外部并且与SOC通信连接。在一个实施例中，外部存储器可以是EEPROM。

在一个实施例中，外部存储器可以通过两线制信号线与SOC通信连接，并且读取第一测试参数可以包括：由OTP型SOC经由两线制信号线从外部存储器读取第一测试参数。

在步骤404中，基于所读取的第一测试参数，运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序。测试程序仅包括初始化、参数更新和数据输出三个部分，不需要复杂的协议解析，从而大大减少测试程序在OTP存储器中所占用的程序存储空间。

在步骤406中，响应于运行测试程序，生成用于第一测试项目的第一测试结果。

在一个实施例中，OTP型SOC从外部存储器读取测试参数后，所读取的测试参数首先被暂存在OTP型SOC的RAM中，然后由OTP型存储器中的测试程序将RAM中的测试参数搬运到与测试项目相关的寄存器，从而完成测试项目所需的寄存器配置。完成寄存器配置后，相应的功能模块将按照该配置运行，从而获得相应的测试结果。

在步骤408中，响应于从系统控制器接收到参数更新信号，从外部存储器读取用于第二测试项目的第二测试参数，其中参数更新信号是由系统控制器响应于在外部存储器中写入第二测试参数而被生成的。

在一个实施例中，可以自定义一种特殊电平信号作为参数更新信号。例如，在通信线默认状态为高电平的情况下，参数更新信号可以以信号线同时为低---高---低---高的方式进行预定义。

在一个实施例中，当接收到关于第一测试项目的足够多的测试结果时，可以由系统控制器向外部存储器中写入用于第二测试项目的第二测试参数。系统控制器响应于在外部存储器中写入第二测试参数而生成参数更新信号，并将该参数更新信号发送给OTP型SOC。OTP型SOC被配置为响应于检测到参数更新信号而进行初始化，并从外部存储器接收该第二测试参数。OTP型SOC基于所读取的测试参数完成第二测试项目所需的寄存器配置，并获得相应的测试结果。

图5示意性地示出了根据本公开的实施例的用于进行针对ADC的测试的方法50的流程图。

在步骤502中，响应于从第一测试参数确定第一测试项目是针对ADC的测试，向与SOC通信连接的系统控制器发送第一测试结果。

在步骤504中，将第一测试结果发送至与系统控制器通信连接的计算机。

在一个实施例中，当第一测试项目是针对ADC的测试时，方法50还包括：从参数测量单元接收模拟测试信号，以进行针对ADC的测试。参数测量单元在计算机的控制下生成ADC测试所需的模拟测试信号（例如，三角波或正弦波），并将该模拟测试信号发送到相应的OTP型SOC。OTP型SOC接收该模拟测试信号，并且根据基于测试参数的寄存器配置运行，并产生数字形式的测试结果。OTP型SOC经由信号线将数字信号形式的测试结果发送至系统控制器，并存储在计算机中。

在一个实施例中，数字信号形式的测试结果可以通过两线制通信方式从OTP型SOC输出至外部控制器，该两线制信号线可以直接借助系统控制器与外部存储器之间的IIC总线实现，而不需额外的通信线缆，从而节省IO接口占用，并且加快数据传输速率。

图6示意性地示出了根据本公开的实施例的用于进行针对模拟信号的测试的方法60的流程图。

在步骤602中，响应于从第一测试参数确定第一测试项目不是针对ADC的测试，由参数测量单元从SOC获取第一测试结果。

在步骤604中，由参数测量单元将第一测试结果发送给计算机。

在一个实施例中，参数测量单元在计算机的控制下从相应的OTP型SOC获取测试结果，并将该测试结果发送给计算机。该测试结果可以是模拟信号形式的。例如，当测试项目是电压测试时，参数测量单元在计算机的控制下读取OTP型SOC的相应功能模块的电压，从而获得模拟信号形式的电压测试结果。

图7示意性地示出了根据本公开的实施例的用于测试OTP型SOC的方法70的流程图。

在步骤701中，OTP型SOC进行初始化。

在步骤702中，由OTP型SOC从外部存储器读取用于第一测试项目的测试参数。该测试参数是在步骤702之前由系统控制器在计算机的控制下经由IIC总线而被写入外部存储器中的。在一个实施例中，外部存储器可以是EEPROM。在一个实施例中，OTP型SOC经由两线制信号线从外部存储器读取测试参数。

在步骤703中，基于所读取的测试参数，对SOC中的寄存器进行寄存器配置。

在步骤704中，基于所读取的测试参数，运行存储在SOC的OTP存储器中的测试程序。

在步骤705中，基于所读取的测试参数，判断测试项目是否为针对ADC的测试。当测试项目为针对ADC的测试时，待生成的测试结果为数字信号。

响应于确定测试项目是针对ADC的测试，进行到步骤706：由SOC生成数字信号形式的测试结果。在一个实施例中，当第一测试项目是针对ADC的测试时，步骤706还包括：由参数测量单元在计算机的控制下生成针对ADC的测试所需的模拟测试信号（例如，三角波或正弦波），并将该模拟测试信号发送到相应的OTP型SOC，以用于进行针对ADC的测试；OTP型SOC接收该模拟测试信号，并且根据基于测试参数的寄存器配置运行，并产生数字形式的测试结果。

在步骤707中，向与SOC通信连接的系统控制器发送步骤706中获得的测试结果，以将该测试结果发送至与系统控制器通信连接的计算机。在一个实施例中，数字信号形式的测试结果可以通过两线制信号线从OTP型SOC输出至外部控制器，该两线制信号线可以直接借助系统控制器与外部存储器之间的IIC总线实现，而不需额外的通信线缆。步骤707之后，进行到步骤710。

响应于确定测试项目不是针对ADC的测试，进行到步骤708：由参数测量单元从SOC获取测试结果。该测试结果可以是模拟信号形式的。例如，当测试项目是电压测试时，参数测量单元在计算机的控制下测量OTP型SOC的相应功能模块的电压，从而获得模拟信号形式的电压测试结果。

在步骤709中，由参数测量单元将测试结果发送给计算机。然后，进行到步骤710。

在步骤710中，检测SOC是否接收到参数更新信号。该参数更新信号是由系统控制器响应于在外部存储器中写入另一测试参数而生成的。

响应于确定SOC接收到参数更新信号，返回到步骤701，以从外部存储器读取该另一测试参数，以用于基于该另一测试参数进行测试。

响应于确定SOC没有接收到参数更新信号，返回到步骤704，以基于先前已经从外部存储器读取的测试参数，继续进行该测试项目，并获得该测试项目的测试结果。

通过本公开的实施例，将外部存储器作为OTP型SOC的测试参数的存储区，能够有利地实现OTP型SOC的测试参数的灵活配置，提高测试方法的通用性，大大减少测试程序所占用的程序存储空间，降低通信的数据量，从而提供高效、稳定、可靠的测试。

此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这应当理解为要求这样操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行，或者要求所有图示的操作应被执行以取得期望的结果。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。

应该理解的是，本公开的以上详细实施例仅仅是为了举例说明或解释本公开的原理，而不是限制本公开。因此，在本公开的精神和原则之内所作的任何修改、等同替代以及改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。同时，本公开所附的权利要求旨在覆盖落入权利要求的范围和边界的等同替代的范围和边界的所有变化和修改。

Claims (7)

1.一种用于测试OTP型SOC的系统，包括：

外部存储器，位于所述SOC外部并且与所述SOC通信连接，所述外部存储器用于存储用于第一测试项目的第一测试参数；

系统控制器，与所述SOC和所述外部存储器通信连接，所述系统控制器指示所述SOC从所述外部存储器读取所述第一测试参数，其中所述SOC基于所读取的所述第一测试参数来运行存储在所述SOC的OTP存储器中的测试程序，以生成关于所述第一测试项目的第一测试结果；以及

参数测量单元，所述参数测量单元被配置为：在基于所述第一测试参数运行所述测试程序期间，响应于所述SOC从所述第一测试参数确定所述第一测试项目不是针对ADC的测试，从所述SOC获取所述第一测试结果，并且将所述第一测试结果发送给与所述系统控制器和所述参数测量单元通信连接的计算机；

其中所述系统控制器被配置为：响应于在所述外部存储器中写入用于第二测试项目的第二测试参数，生成参数更新信号，并且向所述SOC发送所述参数更新信号，以指示所述SOC从所述外部存储器读取所述第二测试参数。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述外部存储器、所述系统控制器与所述SOC通过两线制信号线通信连接，并且

其中所述SOC经由所述两线制信号线从所述外部存储器读取所述第一测试参数。

3.根据权利要求1所述的系统，其中所述SOC包括ADC，并且其中所述SOC被配置为：在基于所述第一测试参数运行所述测试程序期间，响应于从所述第一测试参数确定所述第一测试项目是针对所述ADC的测试，向所述系统控制器发送所述第一测试结果；

其中所述计算机被配置为：与所述系统控制器通信连接，并且从所述系统控制器接收所述第一测试结果；并且

其中所述参数测量单元用于向所述SOC发送模拟测试信号，以进行针对所述ADC的测试。

4.根据权利要求1所述的系统，还包括温箱，所述温箱被配置用于为所述SOC提供温度可控的测试环境。

5.一种用于测试OTP型SOC的方法，包括：

从外部存储器读取用于第一测试项目的第一测试参数，所述外部存储器位于所述SOC外部并且与所述SOC通信连接；

基于所读取的所述第一测试参数，运行存储在所述SOC的OTP存储器中的测试程序；

响应于运行所述测试程序，生成用于所述第一测试项目的第一测试结果；以及

响应于从系统控制器接收到参数更新信号，从所述外部存储器读取用于第二测试项目的第二测试参数，其中所述参数更新信号是由所述系统控制器响应于在所述外部存储器中写入所述第二测试参数而被生成的；

其中所述方法还包括：

在基于所述第一测试参数运行所述测试程序期间，响应于从所述第一测试参数确定所述第一测试项目不是针对ADC的测试，由参数测量单元从所述SOC获取所述第一测试结果；以及

由所述参数测量单元将所述第一测试结果发送给与所述系统控制器和所述参数测量单元通信连接的计算机。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述外部存储器、所述系统控制器与所述SOC通过两线制信号线通信连接，并且

其中读取所述第一测试参数包括：经由所述两线制信号线从所述外部存储器读取所述第一测试参数。

7.根据权利要求5所述的方法，其中所述SOC包括ADC，所述方法还包括：在基于所述第一测试参数运行所述测试程序期间，响应于从所述第一测试参数确定所述第一测试项目是针对所述ADC的测试，

从所述参数测量单元接收模拟测试信号，以进行针对所述ADC的测试；

向所述系统控制器发送所述第一测试结果，以发送至与所述系统控制器通信连接的所述计算机。

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