CN209447554U - 一种存储器可靠性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种存储器可靠性测试装置。该测试装置包括电源模块，包括具有第一电源输出端的第一电源单元和第二电源单元，所述第二电源单元具有连接待测试存储器的第二电源输出端；控制模块，具有连接所述第一电源输出端的电源输入端、连接所述待测试存储器的测试端口，用于对待测存储器进行可靠性测试。本实用新型采用测试装置的供电和测试过程的供电互相独立的供电模式，消除存储器可靠性测试装置工作状况对可靠性测试过程产生的电压影响，提高存储器可靠性测试的准确度。本实用新型结构简单、通用性强。
Description
技术领域
本申请涉及存储器的测试领域，特别是涉及一种存储器可靠性测试装置。
背景技术
存储器是计算机系统中用来存放程序和数据的记忆设备，已经渗透了我们生活的方方面面。作为一种基本单元，存储器的可靠性直接影响着各种电子信息产品的运行。为了尽量减少存储器制造产生故障可能导致的系统失效、经济损失甚至灾难性后果，在存储器制作完成之后、准备出厂之前，通常会通过可靠性测试对存储器的性能进行评价，且对存储器进行快速、可靠、精确的可靠性测试，需求尤为明显。
在现有的可靠性测试装置中，测试装置的供电电源和测试过程的供电电源是共用的。因此，在进行可靠性测试的过程中，测试装置因工作状况的变化，会对被测的存储器的测试电压产生影响，进而影响可靠性测试结果的准确度。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种存储器可靠性测试装置，选择测试装置的供电和测试过程的供电互相独立的供电模式，消除存储器可靠性测试装置工作状况对可靠性测试过程产生的电压影响，提高存储器可靠性测试的准确度。
本实用新型提供了一种存储器可靠性测试的装置，包括电源模块，包括具有第一电源输出端的第一电源单元和第二电源单元，所述第二电源单元具有连接待测试存储器的第二电源输出端；控制模块，具有连接所述第一电源输出端的电源输入端、连接所述待测试存储器的测试端口，用于对待测存储器进行可靠性测试。
可选地，所述控制模块设置有电压调节信号输出端，与所述第二电源单元设置的电压调节信号输入端连接。
可选地，所述控制模块还设置有外部设备接入端。
可选地，所述测试装置还包括指示模块；所述指示模块设置有指示数据输入端，所述控制模块设置有指示指令输出端，所述指示指令输入端与所述指示指令输出端连接，所述指示模块根据所述指示指令输出指示信号。
可选地，所述第一电源单元还设置有控制所述第一电源输出端的开关。
可选地，所述第一电源单元设置有第一稳压单元。
可选地，所述第二电源单元中设置有第二稳压单元。
本实用新型的有益效果是，本实用新型采用选择测试装置的供电和测试过程的供电互相独立的供电模式，避免了测试过程中因测试装置的工作状况对被测的存储器的测试电压产生影响，进而对存储器可靠性测试产生影响。
附图说明
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型实施例提供的一种存储器可靠性测试装置的结构示意图。
图2为本实用新型实施例提供的另一种存储器可靠性测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本实用新型部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型实施例提供的一种存储器可靠性测试装置的结构示意图如图1所示，包括：
电源模块1，包括第一电源单元12和第二电源单元11；
控制模块2；
所述电源模块1的所述第一电源单元12的第一电源输出端与所述控制模块2的电源输入端连接，用于向所述控制模块2供电；所述第二电源单元11的第二电源输出端与待测试存储器的电源输入端连接，用于向待测存储器供电；所述控制模块2的测试端口，连接所述待测试存储器的测试端口，用于对待测存储器进行可靠性测试。
具体地，所述控制模块2可以选用STM8L0511F3系列芯片，当然，也可以选用其他系列的芯片，本实用新型在此不做特别的限定。
待测存储器接入所述的存储器可靠性测试装置后，对所述存储器进行可靠性测试，其步骤如下：
步骤1，所述第一电源单元12向所述控制模块2供电，所述第二电源单元11向所述待测存储器供电。
步骤2，所述控制模块2读取所述待测存储器的标识符，并根据所述存储器的型号，判断所述标志符与所述存储器是否匹配，得到判断结果。如果不匹配，则测试过程停止；如果匹配，则测试过程继续进行。
步骤3，所述控制模块2对所述存储器执行擦除命令。如果一次擦除的只是所述存储器的部分存储区，则逐块对所述存储器的存储区执行擦除命令，直至对所述存储器的全部存储区都执行擦除命令。
所述存储器的存储区擦除完成后，所述控制模块2读取所述被擦除区域的数据，并根据可靠性预设条件判断所述可靠性测试过程是否继续，得到判断结果。
一种可能的可靠性预设条件是，如果所述控制模块2读取的所述被擦除区域的数据全部为1，则测试过程继续；否则，测试过程停止。
步骤4，所述控制模块2对所述存储器执行写入命令。
如果一次写入的只是所述存储器的部分存储区，则逐块对所述存储器的存储区执行写入命令，直至对所述存储器的全部存储区都执行写入命令。
所述控制模块2读取所述存储器写入数据的区域的数据，并根据可靠性预设条件判断测试过程是否继续、所述存储器可靠性是否满足要求，得到判断结果。
一种可能的可靠性预设条件是，所述控制模块2读取的所述存储器写入数据的区域的数据与相应的写入数据完全相同，即如果所述控制模块2读取的所述存储器写入数据的区域的数据与相应的写入数据完全相同，则测试过程继续、所述存储器的可靠性满足所述可靠性预设条件；否则，测试过程停止、所述存储器可靠性不满足所述可靠性预设条件。
需要说明的是，上述测试步骤中，对于某一个存储器的可靠性测试而言，为了获得该存储器的可靠性评价，所述控制模块2可以由相关人员设置整个测试过程的进行次数，也可以设置测试过程中某个或某几个步骤的进行次数。
进一步地，为了更便捷、可靠地对存储器进行可靠性测试，或者为了更细致地分析测试过程的进行，在图1所示的存储器可靠性测试装置的基础上，本实用新型实施例提供了另一种存储器可靠性测试装置，如图2所示。
需要说明的是，图2所示的为了满足不同需求而作的各种改动，都是可以部分单独进行的，在此只是为了方便说明各部分，将各种改动整合成如图2所示的测试装置。如图2所示，在图1所述的存储器可靠性测试装置的基础上：
在需要在不同的测试电压下对存储器进行可靠性测试时，可选地，所述控制模块2还可以具有对所述测试过程的测试电压进行控制的功能。
一种可能的技术方案是：所述控制模块设置有电压调节信号输出端，与所述第二电源单元设置的电压调节信号输入端连接，用于所述控制模块2控制所述第二电源单元11的输出电压。
在需要将存储器可靠性测试的数据传输到外部设备进行分析时，可选地所述控制模块还设置有外部设备接入端。
一种可能的技术方案是，所述控制模块的外部设备接入端与计算机连接，所述控制模块将测试过程中的信息传输到计算机，以便对所述测试过程进行分析。
在需要对测试过程进行更为细致的分析时，可选地，所述测试装置还包括指示模块4；所述指示模块设置有指示数据输入端，所述控制模块设置有指示指令输出端，所述指示指令输入端与所述指示指令输出端连接，所述指示模块根据所述指示指令输出指示信号。
一种可能的技术方案是，所述指示模块4通过指示灯的颜色和亮度来对显示测试过程的进行。
在需要对测试过程的进行启停时，可选地，所述第一电源单元还设置有控制所述第一电源输出端的开关。
一种可能的技术方案是，在所述第一电源输入端设置一个机械开关，当需要停止测试过程时，断开所述机械开关，所述第一电源输出端不再提供电压，所述测试装置停止测试过程；当需要启动测试过程时，闭合所述机械开关，所述测试装置获得电压而继续测试过程。
在需要保证测试装置供电的电源质量时，可选地，所述第一电源单元12中设置有第一稳压单元。
在需要保证测试过程供电的电源质量时，可选地，所述第二电源单元11中设置有第二稳压单元。
图2所示的存储器可靠性测试装置接入待测存储器后，对待测的所述存储器进行可靠性测试，在图1所示测试装置的测试步骤基础上：
步骤1，所述控制模块2向所述第二电源单元11发出电压调节信号，控制所述第二电源单元11向所述待测存储器供电的电压。所述控制模块2将如下信息传输给外部设备：
所述第二电源单元11电压调节信号；
所述第二电源单元11实际电压。
步骤2，所述控制模块2将如下信息传输被外部设备：
所述存储器的标识符；
所述标志符与所述存储器是否匹配的判断结果。
步骤3，所述控制模块2将如下信息传输给外部设备：
擦除命令；
擦除区域；
所述控制模块2读取的所述存储器被擦除区域的数据；
所述可靠性预设条件；
所述控制模块2根据擦除命令和读取的所述存储器被擦除区域的数据，判断得出的测试过程是否继续判断结果。
步骤4，所述控制模块2将如下信息传输给外部设备：
写入命令；
写入区域；
所述存储器被写入区域的数据；
所述可靠性预设条件；
所述存储器可靠性是否满足所述可靠性预设条件的判断结果。
需要说明的是，上述测试步骤中，对于某一个存储器的可靠性测试而言，为了获得该存储器的可靠性评价，所述控制模块2可以由相关人员设置整个测试过程的进行次数，也可以设置测试过程中某个或某几个步骤的进行次数。
以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (7)
1.一种存储器可靠性测试装置，其特征在于，包括：
电源模块，包括具有第一电源输出端的第一电源单元和第二电源单元，所述第二电源单元具有连接待测试存储器的第二电源输出端；
控制模块，具有连接所述第一电源输出端的电源输入端、连接所述待测试存储器的测试端口。
2.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于，所述控制模块设置有：电压调节信号输出端，与所述第二电源单元设置的电压调节信号输入端连接。
3.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于，所述控制模块还设置有外部设备接入端。
4.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括指示模块；
所述指示模块设置有指示数据输入端，所述控制模块设置有指示指令输出端，所述指示指令输入端与所述指示指令输出端连接，所述指示模块根据所述指示指令输出指示信号。
5.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于，所述第一电源单元还设置有控制所述第一电源输出端的开关。
6.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于：
所述第一电源单元设置有第一稳压单元。
7.根据权利要求1所述的存储器可靠性测试装置，其特征在于：
所述第二电源单元中设置有第二稳压单元。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201920298348.1U CN209447554U (zh) | 2019-03-08 | 2019-03-08 | 一种存储器可靠性测试装置 |
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN114967891A (zh) * | 2022-05-23 | 2022-08-30 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种电压拉偏测试装置及方法 |
| CN117746970A (zh) * | 2024-02-21 | 2024-03-22 | 江苏华存电子科技有限公司 | 一种断电上电的装置和方法 |
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| CN114967891B (zh) * | 2022-05-23 | 2023-10-10 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种电压拉偏测试装置及方法 |
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