CN115733543A - 一种光模块固件时序测试平台及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光模块测试领域，特别涉及一种光模块固件时序测试平台，包括上位机、控制板、测试单元、示波器和电源，测试单元包括测试板，测试板上搭载待测光模块，控制板与示波器均连接上位机，测试板上的待测光模块与控制板通信连接，控制板经指示信号管脚连接示波器，待测光模块发射端连接示波器，上位机用于下发测试指令到控制板以及获取固件时序波形并进行分析计算，控制板响应指令运行光模块固件时序测试用例，并控制监控测试单元和待测光模块以实现测试用例，控制板还将指示信号输出到示波器，示波器用于显示和记录固件时序波形，并将波形发送给上位机测量和记录。本发明能有效减少人工和时间的损耗，提高了测试可重复性，加快了测试速度。

Description

一种光模块固件时序测试平台及测试方法

技术领域

本发明涉及光模块测试技术领域，特别涉及一种光模块固件时序测试平台及测试方法。

背景技术

光模块是光通信网络的关键器件之一，其性能与功能是保证光网络通信的重要指标。为了让不同的供应商的光模块与设备之间能够兼容，光模块的开发需要遵守统一的行业标准。其中，规定的固件时序指标是约束光模块在设备上的兼容性和可靠性的重要依据。因此在光模块设计验证阶段，必然会对光模块的固件时序进行测试。

现有的光模块时序测试技术多为人工测试，效率较低。并且，在开发过程中，固件代码的变动，尤其是软件周期与功能逻辑上的变动，往往会导致光模块固件时序测试需要反复性测试，影响项目进度。因此需要搭建一种具有自动化测试能力的光模块固件时序测试平台。针对上述缺陷，本发明作出了改进。

发明内容

为了克服背景技术的不足，本发明提供一种光模块固件时序测试平台，其具有自动化测试能力，能够较大程度地减少人工和时间的损耗，提高了测试可重复性，加快了光模块固件时序的测试速度。

本发明提供一种光模块固件时序测试平台，包括上位机、控制板、测试单元、示波器和用于供电的电源，所述测试单元包括测试板，所述测试板上搭载待测光模块，所述控制板与示波器均连接所述上位机，所述测试板上的待测光模块与所述控制板通信连接，所述控制板还通过指示信号管脚连接所述示波器，所述待测光模块的发射端连接所述示波器，所述上位机用于下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，上位机还通过读取示波器获取其所显示的固件时序波形，并进行测量和记录，所述控制板响应所述上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并控制监控所述测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到所述示波器，所述示波器用于显示和记录固件时序波形。

优选的，所述测试板上设有金手指插槽和硬件管脚端子，所述待测光模块通过所述金手指插槽接入所述测试板，所述金手指插槽连接所述硬件管脚端子，硬件管脚端子连接所述控制板，控制板通过I2C接口与所述待测光模块通信连接。

优选的，所述测试单元还包括信号源，所述控制板连接所述信号源且控制板控制信号源的发光与关光，所述信号源的发射端连接所述待测光模块的接收端。

优选的，所述测试单元还包括误码仪，所述待测光模块和信号源均连接所述误码仪，误码仪为待测光模块和信号源提供发射信号。

优选的，所述电源包括数字电源，所述测试板上设有电源开关电路，所述控制板连接所述电源开关电路且通过控制板控制所述电源开关电路的开关，所述待测光模块和数字电源均连接所述电源开关电路且通过所述电源开关电路的开关使所述待测光模块上电或掉电。

本发明还提供一种光模块固件时序测试方法，采用前述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板；

控制板响应上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到示波器；

利用示波器显示和记录固件时序波形，并抓取测试需要的固件时序波形；

上位机读取示波器所记录的固件时序波形数据，对原始数据进行分析，并计算出波形时间差，得到测试结果，上位机还获取示波器截图并保存归档。

优选的，所述上位机的测试步骤包括：

选择光模块固件时序测试的测试指标；

配置示波器让示波器处于待触发状态；

开始测试，上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，使控制板运行光模块固件时序测试用例；

判断测试是否成功；

若测试不成功未得到触发反馈，则重复测试，若测试成功得到触发，则进行测量，上位机控制示波器并获取测试需要的固件时序波形数据，再进行分析计算得出固件时序测试结果；

上位机控制示波器截图，并将截图读取后进行保存。

本发明还提供一种测量光模块LOS响应时间的方法，采用前述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

设定指示信号为示波器触发源，配置示波器使其处于待触发状态；

上位机发送测量光模块LOS响应时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先通过通信接口控制待测光模块清除已有的异常标志上报，并确保待测光模块没有上报LOS标志，再控制信号源关闭发射光，同时将指示信号拉低，信号源关闭发射光会导致待测光模块接收LOS，控制板持续访问待测光模块的LOS上报寄存器，当检测到LOS标志时，将指示信号拉高；

利用指示信号的高低变化触发示波器抓取指示信号变化过程的波形；

上位机通过查询的方式读取到示波器已处于触发状态后，上位机读取示波器所存储的波形数据，并进行测量和记录，上位机还获取示波器截图并进行保存。

本发明还提供一种测量光模块初始化时间的方法，采用前述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机发送测量光模块初始化时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先控制测试板上电源开关电路的开关关闭使待测光模块处于掉电状态，然后控制电源开关电路的开关打开使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；

待测光模块上电初始化完成后开始发光，利用示波器抓取指示信号拉低到待测光模块发光的波形，上位机读取示波器所记录的数据，并对其进行分析和测量，上位机还获取示波器截图并进行保存。

本发明还提供一种测量光模块监控上报数据准备时间的方法，采用前述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机发送测量光模块监控上报数据准备时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先控制测试板上电源开关电路的开关关闭使待测光模块处于掉电状态，然后控制电源开关电路的开关打开使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；

控制板周期性读取待测光模块Data_Not_Ready bit的值，当监控上报数据准备完毕时，Data_Not_Ready bit的值变为0，同时将指示信号拉高；

利用示波器抓取指示信号拉低到拉高的波形，上位机读取示波器所记录的数据，并对其进行分析和测量，上位机还获取示波器截图并进行保存。

综上所述，本发明有益效果为：

1.光模块固件时序测试平台具有自动化测试能力，电脑分配测试任务以及分析示波器返回的结果，控制板负责固件时序测试用例的具体实现，不需要人工去接线与触发，因此，该光模块固件时序测试平台能够较大程度的减少人工和时间的损耗，提高了测试可重复性，加快了光模块固件时序的测试速度；

2.控制板通过指示信号管脚输出高低电平变化到示波器来指示测试结果，可便于示波器抓取到所有测试用例的触发，设置一个指示信号管脚，初始化的时候指示信号拉高，触发的时候将指示信号拉低，等得到需要的反馈后，将指示信号拉高，此时指示信号的波形中低电平的时间就能指示测试结果；

3.示波器抓取指示信号波形后，返回两样数据给上位机，其一：各通道波形数据，用于上位机分析指示信号波形的下降沿和上升沿的时刻，并以此计算时间指标，其二：示波器截图，用于记录，附在测试报告上便于人工检查。

下面结合附图对本发明作进一步说明。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明光模块固件时序测试平台的一种结构框图；

图2为本发明测试板搭载待测光模块的一种结构示意图；

图3为本发明上位机测试步骤的一种流程示意图；

图4为本发明第一实施例测量光模块LOS响应时间的一种波形图示例；

图5为本发明第二实施例测量光模块初始化时间的一种波形图示例；

图6为本发明第三实施例测量光模块监控上报数据准备时间的一种波形图示例。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的图1至图6，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为使本发明实施的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行更加详细的描述。

如图1至图6所示，本实施例公开的一种光模块固件时序测试平台，包括上位机、控制板、测试单元、示波器和用于供电的电源，所述测试单元包括测试板，所述测试板上搭载待测光模块，所述控制板与示波器均连接所述上位机，所述测试板上的待测光模块与所述控制板通信连接，所述控制板还通过指示信号管脚连接所述示波器，所述待测光模块的发射端连接所述示波器，所述上位机用于下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，上位机还通过读取示波器获取其所显示的固件时序波形，并进行测量和记录，所述控制板响应所述上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并控制监控所述测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到所述示波器，所述示波器用于显示和记录固件时序波形。在上述技术方案中，电源用于为上位机、控制板、测试单元、示波器等供电，测试单元包括测试板，测试板用于接入待测试的光模块，通过控制板控制监控测试单元和待测光模块能很好地模拟搭建光模块固件时序测试环境，可便于实现光模块固件时序测试，控制板通过指示信号管脚连接示波器能便于输出高低电平变化来指示测试结果，示波器根据固件时序指标需要记录对应的指示信号波形与发光波形，本实施例的上位机采用电脑，通过电脑分配测试任务以及分析示波器返回的结果，控制板负责固件时序测试用例的具体实现，不需要人工去接线与触发，上述的光模块固件时序测试平台具有自动化测试能力，能够较大程度地减少人工和时间的损耗，提高了测试可重复性，加快了光模块固件时序的测试速度。本实施例中，将控制板输出的指示信号连接示波器，并将待测光模块的发射光信号通过光探头连接示波器，用指示信号指示各测试用例的触发和接收到反馈的时间，可便于实现测试。优选地，电脑通过USB连接控制板，电脑也通过USB连接示波器。

具体实施时，光模块固件时序测试指标通常包括多个不同的指标，在测试不同光模块固件时序测试指标时测试单元可根据实际需要搭建不同的结构，即测试单元除了用于接入待测光模块的测试板，还可根据不同的光模块固件时序测试指标增加不同的具体部件，比如可根据实际测试需求增加信号源、误码仪等。优选地，控制板通过GPIO(即指示信号管脚)输出高低电平变化到示波器来指示测试结果，不同测试用例的触发条件不同，有的是控制管脚高低电平，有的是写入一个字节，某些测试用例触发后得到的反馈不能直接用示波器抓到，如测量光模块LOS响应时间的测试用例中，需要检测到LOS的软件标志置位，因此设置一个指示信号管脚，在触发的同时对指示信号拉低，这样示波器就只需要连接一个指示信号管脚，就能抓取到所有测试用例的触发，设置一个指示信号管脚，初始化的时候指示信号拉高，触发的时候将指示信号拉低，等得到需要的反馈后，将指示信号拉高，此时指示信号的波形中低电平的时间就能指示测试结果。此外，本实施例在获取示波器的原始数据流后经过上位机消抖、滤波等软件算法处理，并通过最终分析后得出测试结果，可更好地满足实际测试需求。

基于上述搭建的光模块固件时序测试平台，本实施例还公开一种光模块固件时序测试方法，该方法作为测试平台的通用测试方法，其包括以下步骤：

(1)上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板；

(2)控制板响应上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到示波器；

(3)利用示波器显示和记录固件时序波形，并抓取测试需要的固件时序波形；

(4)上位机读取示波器所记录的固件时序波形数据，对原始数据进行分析，并计算出波形时间差，得到测试结果，上位机还获取示波器截图并保存归档。

作为优选的一种技术方案，所述上位机的测试步骤包括：

(1)选择光模块固件时序测试的测试指标；

在该步骤中，通过人工可以点选需要进行测试的具体测试指标，具体实施时光模块固件时序测试指标包括但不限于光模块LOS响应时间指标、光模块的初始化时间指标和光模块的监控上报数据准备时间指标，不同的测试指标对应下发不同的测试指令到控制板。

(2)配置示波器让示波器处于待触发状态；

在该步骤中，配置示波器，根据步骤(1)选取的测试指标配置示波器的X与Y轴刻度，让示波器处于待触发状态。

(3)开始测试，上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，使控制板运行光模块固件时序测试用例；

在该步骤中，开始测试，上位机下发测试指令到控制板，步骤(1)选取的测试指标决定了上位机下发的测试指令，控制板接收到上位机的下发测试指令后响应指令并运行测试用例。

(4)判断测试是否成功；

该步骤用于判断是否得到触发反馈。

(5)若测试不成功未得到触发反馈，则重复测试，即返回步骤(3)，若测试成功得到触发，则进行测量，上位机控制示波器并获取测试需要的固件时序波形数据，再进行分析计算得出固件时序测试结果；

在该步骤中，若未得到触发反馈，则重复测试直至测试成功，若得到触发，则进行测量，上位机程控示波器，得到波形数据，并进行分析，计算出测试结果。

(6)上位机控制示波器截图，并将截图读取后进行保存。

在该步骤中，示波器截图，上位机程控示波器，得到测试波形截图并保存。具体实施时，上位机内置有上位机程序，既便于下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，也便于获取示波器所显示的固件时序波形并进行分析计算，还便于获取示波器截图进行保存，具体地，电脑通过命令指示控制板操作待测光模块和测试单元(包括测试板、信号源等)，从而实现固件时序测试用例；电脑还通过命令获取示波器所显示的固件时序波形数据，再通过软件分析计算出波形时间差，并记录保存示波器截图。

作为优选的一种技术方案，所述测试板上设有金手指插槽和硬件管脚端子，所述待测光模块通过所述金手指插槽接入所述测试板，所述金手指插槽连接所述硬件管脚端子，硬件管脚端子连接所述控制板，控制板通过I2C接口与所述待测光模块通信连接。在本实施例中，待测光模块通过金手指插槽插入测试板，金手指插槽上的低频信号与硬件管脚端子连通，硬件管脚端子再与控制板连接，具体地，控制板通过GPIO口和I2C接口对测试板进行口至，I2C接口用于与测试板上的待测光模块建立通信，GPIO用于控制光模块的低频信号。具体实施时，待测光模块上设有与测试板上金手指插槽适配的金手指，可便于将光模块安装到测试板上。硬件管脚端子是引出的光模块低频信号脚，控制板通过控制这些管脚来构造固件时序指标所需要的模块状态。

作为优选的一种技术方案，所述测试单元还包括信号源，所述控制板连接所述信号源且控制板控制信号源的发光与关光，所述信号源的发射端连接所述待测光模块的接收端。在本实施例中，测试单元还包括信号源，通过控制板能方便地控制信号源的发光与关光，信号源也可称作为光源，其发出的光信号到待测光模块的接收端，构成对传测试环境，用于测试待测光模块的接收相关时序指标，比如测试光模块的LOS响应时间指标，需要说明的是，进行光模块固件时序测试时有些指标测试用例用不上信号源。具体实施时，待测光模块的发射端通过光纤连接光探头连接示波器，待测光模块的接收端通过光纤连接到信号源的发射端，本实施例控制板通过GPIO控制信号源的发光与关光。

作为优选的一种技术方案，所述测试单元还包括误码仪，所述待测光模块和信号源均连接所述误码仪，误码仪为待测光模块和信号源提供发射信号。在本实施例中，测试单元还包括误码仪，带误码仪测试是为了保持各厂家的模块测试环境一致性的需要，具体地，测试板上设置用于接入误码仪调制信号的接收端子与发射端子，即发射端子与接收端子是与误码仪相连的，测试板的金手指插槽上的高频信号分别接到发射端子与接收端子，金手指插槽内插接有待测光模块，由此实现待测光模块与误码仪的连接，误码仪还连接信号源，这样误码仪就能很好地为待测光模块和信号源提供发射信号。具体实施时可采用高频信号线实现与误码仪的连接。

本实施例还公开一种测量光模块LOS响应时间的方法，采用上述实施例公开的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

设定指示信号为示波器触发源，配置示波器使其处于待触发状态，上位机通过上位机程序，发送测量光模块LOS响应时间的测试用例指令，控制板响应命令先通过I2C通信清除待测光模块已有的异常标志上报，并确保待测光模块没有上报LOS标志，再通过GPIO控制信号源关闭发射光，同时控制指示信号拉低；信号源关闭发射光会导致待测光模块接收LOS；控制板通过I2C访问被测模块的LOS上报寄存器，当检测到LOS标志时，将指示信号拉高；利用指示信号的高低变化触发示波器抓取指示信号变化过程的波形；上位机通过查询的方式读取到示波器已处于触发状态后，上位机读取示波器所存储的波形数据，并进行测量和记录，上位机还获取示波器截图并进行保存。

在该方法中，控制板响应上位机下发的指令运行测量光模块LOS响应时间的测试用例，控制板操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，具体为控制板控制待测光模块和信号源来实现测试用例。

作为优选的一种技术方案，所述电源包括数字电源，所述测试板上设有电源开关电路，所述控制板连接所述电源开关电路且通过控制板控制所述电源开关电路的开关，所述待测光模块和数字电源均连接所述电源开关电路且通过所述电源开关电路的开关使所述待测光模块上电或掉电。在本实施例中，电源包括数字电源，数字电源采用多通道数字电源，进一步地，测试板上设置与电源开关电路相连的电源输入端子，电源输入端子连接数字电源，电源开关电路连接金手指插槽，由此可通过金手指为待测光模块供电，电源开关电路可通过外部接入信号控制，外部接入信号即来自于控制板的控制信号，即电源开关电路是受控制板电平信号控制的，可用于光模块上下电测试，通过控制板控制电源开关电路的开关就能使待测光模块上电或掉电。具体实施时数字电源还可为信号源供电，并且电源除了包括数字电源，还包括为其他部分(上位机、示波器等)供电的其他电源，属于现有技术，在此不做具体说明。

本实施例还公开一种测量光模块初始化时间的方法，采用上述实施例公开的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机通过上位机程序，发送测量光模块初始化时间的测试用例指令，控制板响应命令先通过GPIO控制测试板上的电源开关，使待测光模块处于掉电状态，然后打开开关，使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；待测光模块上电初始化完成后开始发光，利用示波器抓取指示信号拉低到待测光模块发光的波形，上位机读取示波器所记录的数据，并对其进行分析和测量，上位机还获取示波器截图并进行保存。

在该方法中，控制板响应上位机下发的指令运行测量光模块初始化时间的测试用例，控制板操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，具体为控制板控制待测光模块和电源开关电路来实现测试用例。

本实施例还公开一种测量光模块监控上报数据准备时间的方法，采用上述实施例公开的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机通过上位机程序，发送测量光模块监控上报数据准备时间的测试用例指令，控制板响应命令先通过GPIO控制测试板上的电源开关，使待测光模块处于掉电状态，然后打开开关，使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；控制板通过IIC周期性读取Data_Not_Ready bit的值，当监控上报数据准备完毕时，Data_Not_Ready bit的值变为0，同时，将指示信号拉高；示波器抓取指示信号拉低到拉高的波形，上位机读取示波器存储的波形数据，并进行测量和记录，上位机还获取示波器截图并进行保存。

在该方法中，控制板响应上位机下发的指令运行测量光模块监控上报数据准备时间的测试用例，控制板操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，具体为控制板控制待测光模块和电源开关电路来实现测试用例。

在本发明中，示波器抓取指示信号波形后，返回两样数据给上位机，其一：各通道波形数据，用于上位机分析指示信号波形的下降沿和上升沿的时刻，并以此计算时间指标。(对于测量光模块初始化时间指标的测试用例，上位机通过分析波形数据，找到指示信号拉低的时刻和光信号从无到有的时刻)，其二：示波器截图，用于记录，附在测试报告上便于人工检查。

现有技术中一般并未设置本实施例的控制板和上位机，因此就需要人工根据不同的测试用例来调整接线(包括人工制造触发信号，调整示波器接线等)，并花费时间来手动测量与记录，这样就会浪费大量人工，且导致测试效率较差。而采用本发明的光模块固件时序测试平台，在实际测试时既可根据不同测试用例搭建不同的测试单元分别进行测试，也可一次性将各种测试用例需要的部件或模块(包括信号源、误码仪、电源开关电路等)都接好，再直接通过控制板和上位机来实现信号控制、指示信号输出、示波器控制与自动化，并自动测量和记录，这样在测试过程中就不需要人工反复地重新接线，大大节省了人工，也有效提高了效率。

本发明通过上位机指示控制板操作测试单元和待测光模块来实现测试用例，这种方式具有较好的响应度和测试精度，特别是对于部分需要硬件IO口控制信号介入的测试项目，本发明所提供的测试平台将能更好地进行测试，可更好地满足实际测试需求。

本实施例中未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现，在此不做进一步说明。

各位技术人员须知：虽然本发明已按照上述具体实施方式做了描述，但是本发明的发明思想并不仅限于此发明，任何运用本发明思想的改装，都将纳入本专利权保护范围内。

Claims (10)

1.一种光模块固件时序测试平台，其特征在于，包括上位机、控制板、测试单元、示波器和用于供电的电源，所述测试单元包括测试板，所述测试板上搭载待测光模块，所述控制板与示波器均连接所述上位机，所述测试板上的待测光模块与所述控制板通信连接，所述控制板还通过指示信号管脚连接所述示波器，所述待测光模块的发射端连接所述示波器，所述上位机用于下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，上位机还通过读取示波器获取其所显示的固件时序波形，并进行测量和记录，所述控制板响应所述上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并控制监控所述测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到所述示波器，所述示波器用于显示和记录固件时序波形。

2.根据权利要求1所述的一种光模块固件时序测试平台，其特征在于，所述测试板上设有金手指插槽和硬件管脚端子，所述待测光模块通过所述金手指插槽接入所述测试板，所述金手指插槽连接所述硬件管脚端子，硬件管脚端子连接所述控制板，控制板通过I2C接口与所述待测光模块通信连接。

3.根据权利要求1所述的一种光模块固件时序测试平台，其特征在于，所述测试单元还包括信号源，所述控制板连接所述信号源且控制板控制信号源的发光与关光，所述信号源的发射端连接所述待测光模块的接收端。

4.根据权利要求3所述的一种光模块固件时序测试平台，其特征在于，所述测试单元还包括误码仪，所述待测光模块和信号源均连接所述误码仪，误码仪为待测光模块和信号源提供发射信号。

5.根据权利要求1所述的一种光模块固件时序测试平台，其特征在于，所述电源包括数字电源，所述测试板上设有电源开关电路，所述控制板连接所述电源开关电路且通过控制板控制所述电源开关电路的开关，所述待测光模块和数字电源均连接所述电源开关电路且通过所述电源开关电路的开关使所述待测光模块上电或掉电。

6.一种光模块固件时序测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-5任一权利要求所述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板；

控制板响应上位机下发的指令运行光模块固件时序测试用例，并操作测试单元和待测光模块以实现固件时序测试用例，控制板还将指示信号输出到示波器；

利用示波器显示和记录固件时序波形，并抓取测试需要的固件时序波形；

上位机读取示波器所记录的固件时序波形数据，对原始数据进行分析，并计算出波形时间差，得到测试结果，上位机还获取示波器截图并保存归档。

7.根据权利要求6所述的一种光模块固件时序测试方法，其特征在于，所述上位机的测试步骤包括：

选择光模块固件时序测试的测试指标；

配置示波器让示波器处于待触发状态；

开始测试，上位机下发光模块固件时序测试的测试指令到控制板，使控制板运行光模块固件时序测试用例；

判断测试是否成功；

若测试不成功未得到触发反馈，则重复测试，若测试成功得到触发，则进行测量，上位机控制示波器并获取测试需要的固件时序波形数据，再进行分析计算得出固件时序测试结果；

上位机控制示波器截图，并将截图读取后进行保存。

8.一种测量光模块LOS响应时间的方法，其特征在于，采用如权利要求3或4所述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

设定指示信号为示波器触发源，配置示波器使其处于待触发状态；

上位机发送测量光模块LOS响应时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先通过通信接口控制待测光模块清除已有的异常标志上报，并确保待测光模块没有上报LOS标志，再控制信号源关闭发射光，同时将指示信号拉低，信号源关闭发射光会导致待测光模块接收LOS，控制板持续访问待测光模块的LOS上报寄存器，当检测到LOS标志时，将指示信号拉高；

利用指示信号的高低变化触发示波器抓取指示信号变化过程的波形；

上位机通过查询的方式读取到示波器已处于触发状态后，上位机读取示波器所存储的波形数据，并进行测量和记录，上位机还获取示波器截图并进行保存。

9.一种测量光模块初始化时间的方法，其特征在于，采用如权利要求5所述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机发送测量光模块初始化时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先控制测试板上电源开关电路的开关关闭使待测光模块处于掉电状态，然后控制电源开关电路的开关打开使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；

待测光模块上电初始化完成后开始发光，利用示波器抓取指示信号拉低到待测光模块发光的波形，上位机读取示波器所记录的数据，并对其进行分析和测量，上位机还获取示波器截图并进行保存。

10.一种测量光模块监控上报数据准备时间的方法，其特征在于，采用如权利要求5所述的光模块固件时序测试平台进行测量，该方法包括以下步骤：

上位机发送测量光模块监控上报数据准备时间的测试指令给控制板；

控制板响应指令，先控制测试板上电源开关电路的开关关闭使待测光模块处于掉电状态，然后控制电源开关电路的开关打开使待测光模块上电，同时将指示信号拉低；

控制板周期性读取待测光模块Data_Not_Ready bit的值，当监控上报数据准备完毕时，Data_Not_Ready bit的值变为0，同时将指示信号拉高；

利用示波器抓取指示信号拉低到拉高的波形，上位机读取示波器所记录的数据，并对其进行分析和测量，上位机还获取示波器截图并进行保存。

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