CN115495293A - 一种测试应用程序接口api的方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，属于芯片或电路评价技术领域。所述API设于测试机，该方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。

Description

一种测试应用程序接口API的方法及系统

技术领域

本发明涉及芯片或电路评价技术领域，具体地涉及一种测试应用程序接口API的方法及系统。

背景技术

在芯片或电路的评价及测试过程中，精确获取其中功能模块应用程序接口(Application Programming Interface，API)的时间特性，同时分析该模块对应的电流、电压等电气特性，成为芯片或电路的评价及测试的重要内容。所以外部测试条件如采集模式、采样精度、采样率、被测的API运行的样本量等指标，对于保证数据的准确度、一致性以及可复现起到至关重要的作用。

在常用的API测试中，待测机接收到上位机通过通信通道发送的启动命令后，启动待测API在被测芯片内部反复运行，测试人员需要通过手动方式定位的方式截取相应的区间，该方法无法及时判断采样率、采样模式是否达到要求，在待测机不同的工作频率下无法及时调整采样率及采样模式，也不能判断所截取的区间内的待测API循环运行的次数，和准确把控API的运行样本量。所以不能保证测试结果的准确度。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。

为了实现上述目的，本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法，所述API设于测试机，所述方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。

可选的，该方法还包括：预先通过所述示波器对API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基和触发时延。

可选的，所述预先通过所述示波器对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：连续运行N2次API，且示波器对所述API进行连续采样；获取API的单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。

可选的，所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述采样时基为N1*T2/10；如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。

可选的，所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

可选的，所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。

可选的，所述测试机为设有API的芯片和电路中的至少一种。

另一方面，本发明提供一种测试应用程序接口API的系统，所述系统包括：测试机、示波器及上位机，所述测试机设有待测API；所述测试机分别与所述示波器和上位机连接，所述上位机与所述示波器相连；所述上位机用于发送测试命令至所述测试机，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；所述测试机用于根据所述测试命令开启或关闭示波器采样，所述示波器用于对所述测试机的API运行信号进行采样；所述上位机还用于根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。

可选的，所述示波器还用于预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基和触发时延。

可选的，所述预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：连续运行N2次API，且示波器对所述API进行连续采样；获取API的连续采样时间、单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。

可选的，所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述示波器的采样时基为N1*T2/10；如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。

可选的，所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

可选的，所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。

可选的，所述测试机设有控制所述示波器的输出引脚；所述输出引脚用于开启或关闭所述示波器采样。

本发明提供的测试应用程序接口API的方法和系统实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。

本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：

图1是本发明的一种测试应用程序接口API的方法的流程图；

图2是本发明的截取一定API运行的方法流程图；

图3是本发明的计算示波器时基的流程示意图；

图4是本发明的根据样本量计算测量次数的流程示意图；

图5是本发明的另一种根据样本量计算测量册数的流程示意图；

图6是本发明的一种测试应用程序接口API的系统连接示意图。

附图标记说明

100-测试机；

200-示波器；

300-上位机。

具体实施方式

以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。

图1是本发明的一种测试应用程序接口API的方法的流程图，如图1所示，所述测试应用程序接口API的方法包括：步骤S101为所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种。所述测试命令还包括API运行的循环次数。所述API(Application Program Interface)为应用程序接口，是一组定义、程序及协议的集合，通过API接口实现计算机软件之间的相互通信。API的一个主要功能是提供通用功能集。程序员通过调用API函数对应用程序进行开发，可以减轻编程任务。API同时也是一种中间件，为各种不同平台提供数据共享。

按照一种优选的实施方式，所述测试机与上位机通信连接，所述上位机发送测试命令至所述测试机，所述测试机为设有API的芯片或电路中的至少一种，上位机通过通信通道与所述芯片通信连接，上位机正确启动被测芯片中的待测API循环运行，循环运行次数由上位机发送的API测试命令指定。

步骤S102为根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样。当所述测试机为一种设有API的芯片时，上位机通过通信通道启动所述被测芯片中的API运行，所述被测芯片内部连续无间断的启动API，循环次数由上位机设置，用于持续观测API的运行情况。

具体的，可以设置所述被测芯片的GPIO引脚，通过所述GPIO引脚的翻转来控制所述API的开启和关闭，例如：所述API测试开始时翻转GPIO，所述API测试结束时再次翻转GPIO。其中连续两次GPIO翻转信号的区间占据示波器屏幕的比例在50％～100％范围之间。在芯片API测试中，上位机通过通信通道启动被测芯片功能模块的API运行，会在被测芯片内部连续无间断的启动API，循环次数由上位机设置为N2，用于持续观测API的运行情况。

步骤S103为根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。所述示波器在接收触发信号的同时，根据测试人员的要求，采集相应的电气特性曲线，发送至上位机，由上位机软件处理相应的分析数据，并采取下一步的措施。

按照一种具体实施方式，如图2所示，首先由上位机软件通过通信设备向被测芯片发送启动API测试的命令，同时将示波器设置为等待触发的状态；待被测芯片完成API测试命令的处理，示波器可获取API测试的整个运行区间的连续运行曲线，进而获取被测芯片执行整个API测试命令的时间；根据获取的API测试时间，计算示波器参数、测试项对应的样本量、所需测试的次数等；计算完成后，开始电气特性曲线的截取。

再次发送启动API测试的命令，这时示波器截取符合采样率、采样精度条件的电气特性曲线，并根据测试次数，最终获取测试结果。至此完成待测API的电气特性测试，可支持本次测试在用引脚的电压、电流、频率等参数测试。所述测试API的方法可以在自动计算被测芯片单次API实际运行时间及样本量。

所述测试API的方法还包括：预先通过所述示波器对API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基和触发时延。所述预先通过所述示波器对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：连续运行N2次API，且示波器对所述API其进行连续采样；获取API的单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。

其中，所述采样时基即为示波器的扫描时基，示波器里的扫描时基是时间显示的基本单位。时基即时间基准，在电子线路中主要用来表示数字电路中的基准时钟。在示波器中，若时基是400ns，则每一个横格表示一个时基，即400ns的时间跨度。

所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述采样时基为N1*T2/10；如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。

按照另一种具体的实施方式，图3是本发明的计算示波器时基的流程示意图，如图3所示，首先初始化示波器的时基参数，此参数可根据API测试命令设置的API循环次数动态调整示波器的时基参数，或者针对所有API均设置一个固定的初始值。

在示波器完成API测试的触发采集后，需要判断当前示波器屏幕是否完整接收了API测试的整个运行区间。若占据屏幕比例在50％到100％之间，则获取当前API测试执行时间；若占据屏幕比例小于50％，则示波器时基要变为上次时基值的0.5倍，再次判断占据屏幕比例是否在50％到100％之间，直至满足该条件；若占据屏幕比例大于100％，则示波器时基要变为上次时基值的4倍，再次判断占据屏幕比例是否在50％到100％之间，根据占比情况调整时基值，直至满足屏幕占比条件。当屏幕占比满足50％到100％之间的条件时，上位机从示波器端获取API测试的整体运行时长T1。

图4是本发明的根据样本量计算测量次数的流程示意图，如图4所示，结合示波器采样率及已计算出来的单次API运行时间，截取满足待测API测试运行样本量的方法，并最终得出需要获取的API的电气特性的测试结果。

首先在获取整体运行时间T1后，求取API单次运行时间T2＝T1/N2，初始化上位机发送API测试命令次数n＝0。再次根据当前被测芯片的工作频率f1，计算示波器采样率的最小值应满足f2＝3*f1。根据要求的API样本量N1，计算当假设示波器单屏显示API连续运行N1次时的采样率f3＝最大采样率/N1/T2。

判断f3大于f2，则计算时基为N1*T2/10；如果f3小于f2，计算n＝n+1，则将示波器单屏显示的API运行次数变为N1＝N1/2(单屏示波器显示的API运行次数按减半处理)，再次计算f3，直至f3大于f2。计算出合适的时基值后，将示波器的触发点设置在API测试的结束点，并设置触发时延。判断上位机发送API测试次数n是否为0，否则继续再次启动API测试，并计算n＝n-1，直至n＝0。上位机通过示波器截取的曲线获取API的电气特性曲线，并根据n+1的值，最终获取被测API的电气特性测试结果。所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

图5是本发明的另一种根据样本量计算测量册数的流程示意图，如图5所示，首先获取API测试的整体运行时间T1；然后计算API单次运行时间为T1/N2；计算示波器采样率f2＝3*f1；计算采样率为f2的样本量N3＝最大采样率/f2/T2；确定上位机发送API测试命令次数n＝向上取整(N1/N3)；计算时基为N3*T2/10；触发为API测试结束GPIO边沿；触发时延为(时基*5+T2)；判断上位机发送API测试命令次数n是否为零，不为零时获取单次测试结果，然后n＝n-1，直至n＝0则获取最终测试结果。

该方法减少了提高采样率的判断分支，尽管理论上能够满足最小采样率的要求，但是对于运行工作频率较高的API的采样的精确度，要低于图4的测试结果，所以优选图4的方法。本发明不以提升测试速度的代价，牺牲采样的精确度，所以本发明能够保证后续对样品复测结果的一致性。

在自动计算被测芯片单次API实际运行时间以及兼顾样本量及采样精度的条件下，提升采样率，将截取计算的功耗曲线以及样本量总数都进行了条件设定，保证了测试环境的一致性，测试样本的完备性，同时达到了自动测试的目的，对于测试结果的准确度以及一致性提供了保障。

图6是本发明的一种测试API的系统连接示意图，如图6所示，所述测试API的系统包括：测试机100、示波器200及上位机300，所述测试机100设有待测API；所述测试机100分别与所述示波器200和上位机300连接，所述上位机300与所述示波200器相连。

具体的，所述上位机300与测试机100可以信息交互，所述示波器200可以采集所述测试机100的测试信号，还能根据所述测试机100的触发信号开启采集信号开关或关闭采集信号开关。所述示波器200采集的信号经过处理后实时上发至所述上位机300。所述测试机100设有控制所述示波器200的输出引脚；所述输出引脚用于开启或关闭所述示波器200采样。

所述上位机300用于发送测试命令至所述测试机100，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器200采样和关闭示波器200采样中的至少一种；所述测试机100用于根据所述测试命令开启或关闭示波器200采样，所述示波器200用于对所述测试机100的API运行信号进行采样；所述上位机300还用于根据所述示波器200的采样结果确定所述API的运行参数。所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。

所述示波器还用于预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基及触发时延。

所述预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：连续运行N2次API，且示波器对所述API进行连续采样；获取API的连续采样时间、单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述示波器的采样时基为N1*T2/10；如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

所述测试机设有控制所述示波器的输出引脚；所述输出引脚用于开启或关闭所述示波器采样。

本发明的一种测试API的方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，及所述示波器的对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法提供了一种自动获取API连续运行曲线的方法，在对API的电气特性测试中，保证了样本量、采集精度、采样率等因素，提升了测试质量，提升了测试效率，提升了自动化测试水平，最终保证了测试结果可信程度。

以上结合附图详细描述了本发明实施例的可选实施方式，但是，本发明实施例并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明实施例的技术构思范围内，可以对本发明实施例的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明实施例的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明实施例对各种可能的组合方式不再另行说明。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (14)

1.一种测试应用程序接口API的方法，其特征在于，所述API设于测试机，所述方法包括：

所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；

根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；

根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：

预先通过所述示波器对API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基和触发时延。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预先通过所述示波器对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：

连续运行N2次API，且示波器对所述API进行连续采样；

获取API的单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；

根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；

根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；

根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；

根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：

如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述采样时基为N1*T2/10；

如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：

所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述测试机为设有API的芯片和电路中的至少一种。

8.一种测试应用程序接口API的系统，其特征在于，所述系统包括：测试机、示波器及上位机，所述测试机设有待测API；

所述测试机分别与所述示波器和上位机连接，所述上位机与所述示波器相连；

所述上位机用于发送测试命令至所述测试机，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；

所述测试机用于根据所述测试命令开启或关闭示波器采样，所述示波器用于对所述测试机的API运行信号进行采样；

所述上位机还用于根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，

所述示波器还用于预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，所述采样参数包括采样时基和触发时延。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述预先对所述API进行多次连续采样，以确定所述示波器的采样参数，包括：

连续运行N2次API，且示波器对所述API进行连续采样；

获取API的连续采样时间、单次采样时间T2、运行所述API的测试机的工作频率f1及所述示波器单屏显示API的样本量N1；

根据所述工作频率f1确定所述示波器的最小采样率f2为：f2＝3*f1；

根据所述单次采样时间T2及样本量N1确定所述示波器的当前采样率f3为：f3＝最大采样率/N1/T2；

根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基；

根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延。

11.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述根据所述最小采样率f2、当前采样率f3、样本量N1及单次采样时间T2，确定所述采样时基，包括：

如果所述当前采样率大于所述最小采样率，则所述示波器的采样时基为N1*T2/10；

如果所述当前采样率不大于所述最小采样率，则下调所述示波器单屏显示API的样本量N1，再次确定更新后的当前采样率f3，直至f3大于f2。

12.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述根据所述采样时基和单次采样时间T2确定所述示波器的触发时延，包括：

所述示波器的触发时延T3为：T3＝采样时基*5+T2。

13.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，

所述API的运行参数至少包括API的运行时间、运行次数及占比参数。

14.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述测试机设有控制所述示波器的输出引脚；

所述输出引脚用于开启或关闭所述示波器采样。

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