CN115436786A - 一种安全防护型芯片检测装置及其使用方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种安全防护型芯片检测装置及其使用方法，包括：工作台，转动连接在工作台内的转动盘，转动盘的顶部设有多个放置芯片的放置槽，工作台的两侧分别设有矩形柱和固定柱，工作台内固定连接有驱动电机，且驱动电机的输出轴与转动盘的底部圆心固定连接；吸附组件，设置在转动盘内，用于对芯片进行固定；检测组件，设置在固定柱的一侧，用于自动对芯片进行检测；转运组件，设置在矩形柱的一侧，用于将芯片转移至下一工序；解决现有技术中存在对芯片夹持固定时容易将芯片损坏，需要使用大量的驱动结构，耗费过多的能源，增加检测成本的问题。
Description
技术领域
本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种安全防护型芯片检测装置及其使用方法。
背景技术
芯片就是半导体架集成电路，芯片上安装有密密麻麻的金属引线，通过金属引线将芯片电路和外界电路连接起来，芯片就是电子设备的心脏、大脑和中枢，芯片在生产出来后，需要对芯片的质量进行检测，保证芯片都可以正常使用。
例如公告号为CN114355169A的发明公开了一种安全防护型芯片检测装置，包括底板，所述底板的顶部通过螺栓安装有轴承座，所述轴承座的内侧贯穿安装有传动辊，所述传动辊的外侧安装有传输带，所述传输带的外侧对称安装有两组限位带，所述传输带的上表面放置有芯片托盘，且芯片托盘位于两组限位带的内侧；所述底板的顶部通过螺栓安装有支撑架，支撑架位于两组轴承座之间，且支撑架位于传输带的外侧。本发明通过安装有触发喷头，检测完成后，有问题的芯片上方对应的调节杆审查带动底端连接件下降，连接件下移带动触发喷头下移，触发喷头抵在芯片上表面，触发喷头受到压力影响，将涂料喷在芯片的上表面，实现损坏芯片的标记，方便工人时候进行分选芯片。
公告号为CN212646761U实的用新型公开了一种半导体芯片检测装置，包括底座、竖杆和顶板，底座的顶部两侧均通过竖杆连接有顶板，该种半导体芯片检测装置，设置有放置板、推杆、连接环、定位槽、定位块、连接板、安装螺栓、螺孔和压板，当使用者在使用该种装置对不同尺寸大小的半导体芯片进行检测时，使用者可先将芯片放置在放置板上，并通过连接环推动推杆，使推杆在放置板的顶部进行滑动，从而对推杆之间的间距进行调节，当安装螺栓旋出后，使用者可将压板从连接板上拆卸下来，对压板进行更换，以此实现装置对尺寸大小不同的芯片进行检测，从而大大提高装置的适用性，并使使用者在使用该种装置时更加方便。
上述技术在进行检测时仍存在以下不足之处：
1、在公告号为CN114355169A的发明通过活动杆下移对芯片进行压实固定，公告号为CN212646761U实的用新型通过两个推杆向中间移动完成对芯片的夹持固定，由于芯片是精密型程度较高，因此在对芯片进行夹持固定时容易将芯片损坏；
2、上述技术方案中芯片的输送、检测和固定分别通过不同的驱动结构分开进行，进而在在芯片的检测过程中操作繁琐且需要使用大量的驱动结构，导致在检测过程中需要耗费过多的能源，增加检测的成本。
发明内容
有鉴于此，本发明为了解决现有技术中对芯片夹持固定时容易将芯片损坏，需要使用大量的驱动结构，耗费过多的能源，增加检测成本的问题，提供一种安全防护型芯片检测装置及其使用方法。
为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种安全防护型芯片检测装置，包括：
工作台，转动连接在工作台内的转动盘，转动盘的顶部设有多个放置芯片的放置槽，工作台的两侧分别设有矩形柱和固定柱，工作台内固定连接有驱动电机，且驱动电机的输出轴与转动盘的底部圆心固定连接；
吸附组件，设置在转动盘内，用于对芯片进行固定；
检测组件，设置在固定柱的一侧，用于自动对芯片进行检测；
转运组件，设置在矩形柱的一侧，用于将芯片转移至下一工序。
进一步，吸附组件包括设置在转动盘内的环形槽，放置槽的底部内壁设有多个圆孔，转动盘内设有多个与放置槽对应的空腔，且圆孔与空腔相连通，空腔的底部内壁设有与环形槽相连通的圆形槽，圆形槽内固定连接有第一固定板，圆形槽内密封滑动连接有活塞，活塞的底部固定连接有贯穿第一固定板的滑杆，滑杆的外壁套设有与活塞底部固定连接的第一弹簧，且第一弹簧的底端与第一固定板的顶部固定连接，滑杆的底端延伸至环形槽内并固定连接有底板。
进一步，检测组件包括固定连接在固定柱靠近工作台一侧的第二固定板，固定柱靠近工作台的一侧滑动连接有滑动板，滑动板的顶部与第二固定板的底部之间通过多个第一拉簧弹性连接，滑动板的底部设有多个用于对芯片进行检测的触片，固定柱靠近工作台的一侧转动连接有转动杆，转动杆的一端固定连接有第一伞齿轮，转动盘的外壁固定连接有多个弧形伞齿条，且弧形伞齿条与第一伞齿轮相啮合，转动杆的外壁固定套设有第一齿轮，滑动板的底部固定连接有与第一齿轮相啮合的第一直齿条。
进一步，转运组件包括转动连接在矩形柱靠近工作台一侧的转轴，转轴靠近工作台的一端固定连接有第二伞齿轮，且第二伞齿轮与弧形伞齿条相啮合，转轴的外壁固定套设有第二齿轮，矩形柱的顶端固定连接有圆形柱，圆形柱的外壁转动套设有转动环，转动环的底部固定连接有多个第二拉簧，多个第二拉簧的底端固定连接有同一个圆环，且圆环套设在圆形柱的外壁，圆环的底部滑动连接有与第二齿轮相啮合的第二直齿条，圆环远离工作台的一侧固定连接有横板，横板的底部固定连接有多个用于对芯片进行吸附的真空吸盘。
进一步，放置槽的底部内壁固定连接有密封橡胶板，密封橡胶板内设有多个通孔，且通孔与放置槽底部内壁的圆孔相连通，当滑杆带动活塞下移时，活塞将空腔内的空气抽取至圆形槽中，而由于通孔与圆孔向对应，进而通孔内的空气同样被抽取，进而能够将芯片吸附在密封橡胶板上，同时通过密封橡胶板能够增加芯片与圆孔之间的密封性，防止芯片与圆孔之间存在间隙，导致芯片吸附失败，且由于密封橡胶板内等距排布有多个通孔，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏。
进一步，工作台靠近固定柱的一侧设有滑动槽，滑动槽内滑动连接有升降板，且升降板远离固定柱的一侧延伸至环形槽内并位于底板的上方，滑动槽的底部内壁固定连接有第二弹簧，且第二弹簧的顶端与升降板的底部固定连接，在第一齿轮带动第一直齿条下移时，第一直齿条率先推动升降板下移，升降板通过底板带动滑杆和活塞下移完成对芯片的吸附，芯片吸附完成后滑动板带动触片下移对芯片进行检测，进而在转动盘带动芯片转动时不但能够对芯片进行检测还能够事先对芯片进行吸附固定。
进一步，转动环靠近工作台的一侧固定连接有约束板，且约束板与圆环滑动连接，圆形柱的外壁设有螺旋滑槽，圆环远离工作台的一侧内壁固定连接有滑动块，且滑动块与螺旋滑槽滑动连接，矩形柱的远离工作台的一侧设有输送带，在弧形伞齿条带动第二伞齿轮转动时，第二伞齿轮通过第二齿轮带动第二直齿条下移，第二直齿条带动圆环下移，圆环在滑动块和螺旋滑槽的配合下旋转下移，进而能够使真空吸盘完成对芯片的吸附，能够欧自动将芯片搬运至输送带上，向下一个工序输送。
进一步，弧形伞齿条与放置槽的数量相对应，且弧形伞齿条与放置槽角度偏差在4°到6°，在转动盘带动芯片转动时，弧形伞齿条率先与第一伞齿轮相啮合，当放置槽位于滑动板的正下方时，此时弧形伞齿条与第一伞齿轮处于即将脱离啮合状态，进而能够在转动盘转动的过程中依次自动完成芯片的吸附、检测与搬运。
进一步，滑动板的底部设有多个矩形滑槽，且触片滑动连接在矩形滑槽内，触片的两侧均固定连接有限位块，矩形滑槽的两侧内壁固定连接有挡块，当滑动板带动触片下移时，触片与芯片的触角相碰触，随着滑动板继续下移一定距离，触片在芯片触角的阻挡下滑动至矩形滑槽中，进而能够避免滑动板下移距离过大，导致触片将芯片触角挤压变形。
一种安全防护型芯片检测装置的使用方法，包括以下步骤：
S1、将芯片放置在放置槽内，启动驱动电机驱动转动盘转动，转动盘带动放置槽移动至滑动板的下方，在转动盘转动的过程中弧形伞齿条首先与第一直齿条啮合，弧形伞齿条通过第一直齿条和转动杆带动第一齿轮转动，第一齿轮与第一直齿条相啮合，第一齿轮通过第一直齿条带动滑动板和触片下移，第一拉簧开始拉伸；
S2、在滑动板下移时，此时触片并未与芯片的触角碰触，而第一直齿条下移率先与升降板碰触并推动升降板下移，第二弹簧开始压缩，另外再转动盘转动时，底板转动至升降板的下方，随着第一直齿条推动升降板下移，升降板的底部与底板的顶部碰触，升降板通过底板带动滑杆和活塞下移，第一弹簧开始压缩，进而活塞将空腔内的空气向下抽入圆形槽中，此时空腔和通孔内出入负压状态，进而能够将芯片吸附在密封橡胶板上，由于密封橡胶板内等距排布有多个通孔，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏；
S3、在第一直齿条下移推动升降板和活塞下移对芯片进行吸附后，第一齿轮与第一直齿条的配合带动滑动板和触片下移，此时触片与芯片的触角碰触，此时转动盘停止转动，触片对芯片进行检测，当检测结束后，转动盘继续转动一定角度，此时弧形伞齿条与第一直齿条脱离啮合，滑动板在第一拉簧的拉力下向上移动，升降板在第二弹簧的弹力作用下向上移动，进而解除活塞对空腔内空气的抽吸，解除对芯片的吸附；
S4、随着转动盘的转动，转动盘将检测结束后的芯片输送至矩形柱的位置，此时弧形伞齿条率先与第二伞齿轮相啮合，第二伞齿轮通过矩形柱带动第二齿轮转动，第二齿轮通过第二直齿条带动圆环和横板下移，第二拉簧开始拉伸，圆环在下移过程中受到滑动块和螺旋滑槽的配合作用，圆环和横板沿着螺旋滑槽的轨迹进行移动，进而在横板移动过程中横板底部的真空吸盘能够与检测结束后的芯片顶部碰触，此时转动盘停止转动，真空吸盘对芯片进行吸附，接着转动盘继续转动，弧形伞齿条与第二伞齿轮脱离啮合，圆环和横板在第二拉簧的拉力作用下向上移动，圆环沿着螺旋滑槽的轨迹移动，进而真空吸盘能够将芯片输送至输送带的上方，从而能够将芯片搬运至输送带上输送向下移工序。
本方案的工作原理及有益效果在于：
1、本发明所公开的安全防护型芯片检测装置，通过弧形伞齿条带动第一伞齿轮转动，第一伞齿轮带动第一直齿条下移推动升降板移动，进而升降板通过底板带动活塞下移，完成对芯片的吸附，由于密封橡胶板内等距排布有多个通孔，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏。
2、本发明所公开的安全防护型芯片检测装置，在转动盘转动的过程中弧形伞齿条首先与第一直齿条啮合，弧形伞齿条通过第一直齿条和转动杆带动第一齿轮转动，第一齿轮与第一直齿条相啮合，第一齿轮通过第一直齿条带动滑动板和触片下移，第一拉簧开始拉伸，进而在转动盘转动的过程中能够使触片下移自动完成对芯片的检测。
3、本发明所公开的安全防护型芯片检测装置，圆环在下移过程中受到滑动块和螺旋滑槽的配合作用，圆环和横板沿着螺旋滑槽的轨迹进行移动，此时真空吸盘对芯片进行吸附，接着转动盘继续转动，弧形伞齿条与第二伞齿轮脱离啮合，圆环和横板在第二拉簧的拉力作用下进行复位，从而能够将芯片搬运至输送带上输送向下移工序。
本发明的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。
附图说明
图1为本发明安全防护型芯片检测装置的结构示意图；
图2为本发明安全防护型芯片检测装置的剖视结构示意图；
图3为本发明图2中A处放大结构示意图；
图4为本发明安全防护型芯片检测装置中检测组件的结构示意图；
图5为本发明安全防护型芯片检测装置中转运组件的结构示意图；
图6为本发明安全防护型芯片检测装置中圆环的剖视结构示意图；
图7为本发明安全防护型芯片检测装置中螺旋滑槽和滑动块配合的结构示意图；
图8为本发明安全防护型芯片检测装置中滑动板的部分主视剖视结构示意图。
附图标记：
1、工作台；2、转动盘；3、驱动电机；4、放置槽；5、环形槽；6、密封橡胶板；7、通孔；8、空腔；9、圆形槽；10、活塞；11、第一固定板；12、滑杆；13、第一弹簧；14、底板；15、弧形伞齿条；16、固定柱；17、第二固定板；18、第一拉簧；19、滑动板；20、触片；21、转动杆；22、第一齿轮；23、第一直齿条；24、第一伞齿轮；25、滑动槽；26、升降板；27、第二弹簧；28、矩形柱；29、圆形柱；30、转动环；31、第二拉簧；32、圆环；33、约束板；34、横板；35、真空吸盘；36、滑动块；37、螺旋滑槽；38、转轴；39、第二齿轮；40、第二直齿条；41、第二伞齿轮；42、输送带；43、矩形滑槽；44、限位块；45、挡块。
具体实施方式
下面通过具体实施方式进一步详细说明：
实施例
参照图1和图2，本实施例的一种安全防护型芯片检测装置，包括：工作台1，转动连接在工作台1内的转动盘2，转动盘2的顶部设有多个放置芯片的放置槽4，工作台1的两侧分别设有矩形柱28和固定柱16，工作台1内通过螺栓固定连接有驱动电机3，且驱动电机3的输出轴与转动盘2的底部圆心通过螺栓固定连接，吸附组件，设置在转动盘2内，用于对芯片进行固定，检测组件，设置在固定柱16的一侧，用于自动对芯片进行检测，转运组件，设置在矩形柱28的一侧，用于将芯片转移至下一工序。
参照图3，吸附组件包括设置在转动盘2内的环形槽5，放置槽4的底部内壁设有多个圆孔，转动盘2内设有多个与放置槽4对应的空腔8，且圆孔与空腔8相连通，空腔8的底部内壁设有与环形槽5相连通的圆形槽9，圆形槽9内通过螺栓固定连接有第一固定板11，圆形槽9内密封滑动连接有活塞10，活塞10的底部通过螺栓固定连接有贯穿第一固定板11的滑杆12，滑杆12的外壁套设有与活塞10底部固定连接的第一弹簧13，且第一弹簧13的底端与第一固定板11的顶部固定连接，滑杆12的底端延伸至环形槽5内并通过螺栓固定连接有底板14，在转动盘2转动时，弧形伞齿条15带动第一伞齿轮24转动，第一伞齿轮24带动第一直齿条23下移推动升降板26移动，进而升降板26通过底板14带动活塞10下移，完成对芯片的吸附，由于密封橡胶板6内等距排布有多个通孔7，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏。
参照图4，检测组件包括固定连接在固定柱16靠近工作台1一侧的第二固定板17，固定柱16靠近工作台1的一侧滑动连接有滑动板19，滑动板19的顶部与第二固定板17的底部之间通过多个第一拉簧18弹性连接，滑动板19的底部设有多个用于对芯片进行检测的触片20，固定柱16靠近工作台1的一侧转动连接有转动杆21，转动杆21的一端通过螺栓固定连接有第一伞齿轮24，转动盘2的外壁通过螺栓固定连接有多个弧形伞齿条15，且弧形伞齿条15与第一伞齿轮24相啮合，转动杆21的外壁固定套设有第一齿轮22，滑动板19的底部通过螺栓固定连接有与第一齿轮22相啮合的第一直齿条23，在转动盘2转动的过程中弧形伞齿条15首先与第一直齿条23啮合，弧形伞齿条15通过第一直齿条23和转动杆21带动第一齿轮22转动，第一齿轮22与第一直齿条23相啮合，第一齿轮22通过第一直齿条23带动滑动板19和触片20下移，第一拉簧18开始拉伸，进而在转动盘2转动的过程中能够使触片20下移自动完成对芯片的检测。
参照图5，转运组件包括转动连接在矩形柱28靠近工作台1一侧的转轴38，转轴38靠近工作台1的一端固定连接有第二伞齿轮41，且第二伞齿轮41与弧形伞齿条15相啮合，转轴38的外壁固定套设有第二齿轮39，矩形柱28的顶端通过螺栓固定连接有圆形柱29，圆形柱29的外壁转动套设有转动环30，转动环30的底部固定连接有多个第二拉簧31，多个第二拉簧31的底端固定连接有同一个圆环32，且圆环32套设在圆形柱29的外壁，圆环32的底部滑动连接有与第二齿轮39相啮合的第二直齿条40，圆环32远离工作台1的一侧固定连接有横板34，横板34的底部通过螺栓固定连接有多个用于对芯片进行吸附的真空吸盘35，随着转动盘2的转动，弧形伞齿条15率先与第二伞齿轮41相啮合，第二伞齿轮41通过矩形柱28带动圆环32和横板34下移，圆环32在下移过程中受到滑动块36和螺旋滑槽37的配合作用，圆环32和横板34沿着螺旋滑槽37的轨迹进行移动，此时真空吸盘35对芯片进行吸附，接着转动盘2继续转动，弧形伞齿条15与第二伞齿轮41脱离啮合，圆环32和横板34在第二拉簧31的拉力作用下进行复位，从而能够将芯片搬运至输送带42上输送向下移工序。
参照图3，放置槽4的底部内壁固定连接有密封橡胶板6，密封橡胶板6内设有多个通孔7，且通孔7与放置槽4底部内壁的圆孔相连通，当滑杆12带动活塞10下移时，活塞10将空腔8内的空气抽取至圆形槽9中，而由于通孔7与圆孔向对应，进而通孔7内的空气同样被抽取，进而能够将芯片吸附在密封橡胶板6上，同时通过密封橡胶板6能够增加芯片与圆孔之间的密封性，防止芯片与圆孔之间存在间隙，导致芯片吸附失败，且由于密封橡胶板6内等距排布有多个通孔7，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏。
参照图3，工作台1靠近固定柱16的一侧设有滑动槽25，滑动槽25内滑动连接有升降板26，且升降板26远离固定柱16的一侧延伸至环形槽5内并位于底板14的上方，滑动槽25的底部内壁固定连接有第二弹簧27，且第二弹簧27的顶端与升降板26的底部固定连接，在第一齿轮22带动第一直齿条23下移时，第一直齿条23率先推动升降板26下移，升降板26通过底板14带动滑杆12和活塞10下移完成对芯片的吸附，芯片吸附完成后滑动板19带动触片20下移对芯片进行检测，进而在转动盘2带动芯片转动时不但能够对芯片进行检测还能够事先对芯片进行吸附固定。
参照图6和图7，转动环30靠近工作台1的一侧通过螺栓固定连接有约束板33，且约束板33与圆环32滑动连接，圆形柱29的外壁设有螺旋滑槽37，圆环32远离工作台1的一侧内壁通过螺栓固定连接有滑动块36，且滑动块36与螺旋滑槽37滑动连接，矩形柱28的远离工作台1的一侧设有输送带42，在弧形伞齿条15带动第二伞齿轮41转动时，第二伞齿轮41通过第二齿轮39带动第二直齿条40下移，第二直齿条40带动圆环32下移，圆环32在滑动块36和螺旋滑槽37的配合下旋转下移，进而能够使真空吸盘35完成对芯片的吸附，能够欧自动将芯片搬运至输送带42上，向下一个工序输送。
参照图1，弧形伞齿条15与放置槽4的数量相对应，且弧形伞齿条15与放置槽4角度偏差在4°到6°，在转动盘2带动芯片转动时，弧形伞齿条15率先与第一伞齿轮24相啮合，当放置槽4位于滑动板19的正下方时，此时弧形伞齿条15与第一伞齿轮24处于即将脱离啮合状态，进而能够在转动盘2转动的过程中依次自动完成芯片的吸附、检测与搬运。
参照图8，滑动板19的底部设有多个矩形滑槽43，且触片20滑动连接在矩形滑槽43内，触片20的两侧均固定连接有限位块44，矩形滑槽43的两侧内壁固定连接有挡块45，当滑动板19带动触片20下移时，触片20与芯片的触角相碰触，随着滑动板19继续下移一定距离，触片20在芯片触角的阻挡下滑动至矩形滑槽43中，进而能够避免滑动板19下移距离过大，导致触片20将芯片触角挤压变形。
一种安全防护型芯片检测装置的使用方法，包括以下步骤：
S1、将芯片放置在放置槽4内，启动驱动电机3驱动转动盘2转动，转动盘2带动放置槽4移动至滑动板19的下方，在转动盘2转动的过程中弧形伞齿条15首先与第一直齿条23啮合，弧形伞齿条15通过第一直齿条23和转动杆21带动第一齿轮22转动，第一齿轮22与第一直齿条23相啮合，第一齿轮22通过第一直齿条23带动滑动板19和触片20下移，第一拉簧18开始拉伸；
S2、在滑动板19下移时，此时触片20并未与芯片的触角碰触，而第一直齿条23下移率先与升降板26碰触并推动升降板26下移，第二弹簧27开始压缩，另外再转动盘2转动时，底板14转动至升降板26的下方，随着第一直齿条23推动升降板26下移，升降板26的底部与底板14的顶部碰触，升降板26通过底板14带动滑杆12和活塞10下移，第一弹簧13开始压缩，进而活塞10将空腔8内的空气向下抽入圆形槽9中，此时空腔8和通孔7内出入负压状态，进而能够将芯片吸附在密封橡胶板6上，由于密封橡胶板6内等距排布有多个通孔7，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏；
S3、在第一直齿条23下移推动升降板26和活塞10下移对芯片进行吸附后，第一齿轮22与第一直齿条23的配合带动滑动板19和触片20下移，此时触片20与芯片的触角碰触，此时转动盘2停止转动，触片20对芯片进行检测，当检测结束后，转动盘2继续转动一定角度，此时弧形伞齿条15与第一直齿条23脱离啮合，滑动板19在第一拉簧18的拉力下向上移动，升降板26在第二弹簧27的弹力作用下向上移动，进而解除活塞10对空腔8内空气的抽吸，解除对芯片的吸附；
S4、随着转动盘2的转动，转动盘2将检测结束后的芯片输送至矩形柱28的位置，此时弧形伞齿条15率先与第二伞齿轮41相啮合，第二伞齿轮41通过矩形柱28带动第二齿轮39转动，第二齿轮39通过第二直齿条40带动圆环32和横板34下移，第二拉簧31开始拉伸，圆环32在下移过程中受到滑动块36和螺旋滑槽37的配合作用，圆环32和横板34沿着螺旋滑槽37的轨迹进行移动，进而在横板34移动过程中横板34底部的真空吸盘35能够与检测结束后的芯片顶部碰触，此时转动盘2停止转动，真空吸盘35对芯片进行吸附，接着转动盘2继续转动，弧形伞齿条15与第二伞齿轮41脱离啮合，圆环32和横板34在第二拉簧31的拉力作用下向上移动，圆环32沿着螺旋滑槽37的轨迹移动，进而真空吸盘35能够将芯片输送至输送带42的上方，从而能够将芯片搬运至输送带42上输送向下移工序。
然而，如本领域技术人员所熟知的，触片20、真空吸盘35和驱动电机3的工作原理和接线方法是司空见惯的，其均属于常规手段或者公知常识，在此就不再赘述，本领域技术人员可以根据其需要或者便利进行任意的选配。
以上的仅是本发明的实施例，方案中公知的具体结构及特性等常识在此未作过多描述。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和本发明的实用性。
Claims (10)
1.一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，包括：
工作台(1)，转动连接在工作台(1)内的转动盘(2)，所述转动盘(2)的顶部设有多个放置芯片的放置槽(4)，所述工作台(1)的两侧分别设有矩形柱(28)和固定柱(16)，所述工作台(1)内固定连接有驱动电机(3)，且驱动电机(3)的输出轴与转动盘(2)的底部圆心固定连接；
吸附组件，设置在转动盘(2)内，用于对芯片进行固定；
检测组件，设置在固定柱(16)的一侧，用于自动对芯片进行检测；
转运组件，设置在矩形柱(28)的一侧，用于将芯片转移至下一工序。
2.根据权利要求1所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述吸附组件包括设置在转动盘(2)内的环形槽(5)，所述放置槽(4)的底部内壁设有多个圆孔，所述转动盘(2)内设有多个与放置槽(4)对应的空腔(8)，且圆孔与空腔(8)相连通，所述空腔(8)的底部内壁设有与环形槽(5)相连通的圆形槽(9)，所述圆形槽(9)内固定连接有第一固定板(11)，所述圆形槽(9)内密封滑动连接有活塞(10)，所述活塞(10)的底部固定连接有贯穿第一固定板(11)的滑杆(12)，所述滑杆(12)的外壁套设有与活塞(10)底部固定连接的第一弹簧(13)，且第一弹簧(13)的底端与第一固定板(11)的顶部固定连接，所述滑杆(12)的底端延伸至环形槽(5)内并固定连接有底板(14)。
3.根据权利要求1所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述检测组件包括固定连接在固定柱(16)靠近工作台(1)一侧的第二固定板(17)，所述固定柱(16)靠近工作台(1)的一侧滑动连接有滑动板(19)，所述滑动板(19)的顶部与第二固定板(17)的底部之间通过多个第一拉簧(18)弹性连接，所述滑动板(19)的底部设有多个用于对芯片进行检测的触片(20)，所述固定柱(16)靠近工作台(1)的一侧转动连接有转动杆(21)，所述转动杆(21)的一端固定连接有第一伞齿轮(24)，所述转动盘(2)的外壁固定连接有多个弧形伞齿条(15)，且弧形伞齿条(15)与第一伞齿轮(24)相啮合，所述转动杆(21)的外壁固定套设有第一齿轮(22)，所述滑动板(19)的底部固定连接有与第一齿轮(22)相啮合的第一直齿条(23)。
4.根据权利要求3所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述转运组件包括转动连接在矩形柱(28)靠近工作台(1)一侧的转轴(38)，所述转轴(38)靠近工作台(1)的一端固定连接有第二伞齿轮(41)，且第二伞齿轮(41)与弧形伞齿条(15)相啮合，所述转轴(38)的外壁固定套设有第二齿轮(39)，所述矩形柱(28)的顶端固定连接有圆形柱(29)，所述圆形柱(29)的外壁转动套设有转动环(30)，所述转动环(30)的底部固定连接有多个第二拉簧(31)，多个所述第二拉簧(31)的底端固定连接有同一个圆环(32)，且圆环(32)套设在圆形柱(29)的外壁，所述圆环(32)的底部滑动连接有与第二齿轮(39)相啮合的第二直齿条(40)，所述圆环(32)远离工作台(1)的一侧固定连接有横板(34)，所述横板(34)的底部固定连接有多个用于对芯片进行吸附的真空吸盘(35)。
5.根据权利要求1所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述放置槽(4)的底部内壁固定连接有密封橡胶板(6)，所述密封橡胶板(6)内设有多个通孔(7)，且通孔(7)与放置槽(4)底部内壁的圆孔相连通。
6.根据权利要求3所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述工作台(1)靠近固定柱(16)的一侧设有滑动槽(25)，所述滑动槽(25)内滑动连接有升降板(26)，且升降板(26)远离固定柱(16)的一侧延伸至环形槽(5)内并位于底板(14)的上方，所述滑动槽(25)的底部内壁固定连接有第二弹簧(27)，且第二弹簧(27)的顶端与升降板(26)的底部固定连接。
7.根据权利要求4所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述转动环(30)靠近工作台(1)的一侧固定连接有约束板(33)，且约束板(33)与圆环(32)滑动连接，所述圆形柱(29)的外壁设有螺旋滑槽(37)，所述圆环(32)远离工作台(1)的一侧内壁固定连接有滑动块(36)，且滑动块(36)与螺旋滑槽(37)滑动连接。
8.根据权利要求4所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述弧形伞齿条(15)与放置槽(4)的数量相对应，且弧形伞齿条(15)与放置槽(4)角度偏差在4°到6°。
9.根据权利要求3所述的一种安全防护型芯片检测装置，其特征在于，所述滑动板(19)的底部设有多个矩形滑槽(43)，且触片(20)滑动连接在矩形滑槽(43)内，所述触片(20)的两侧均固定连接有限位块(44)，所述矩形滑槽(43)的两侧内壁固定连接有挡块(45)。
10.一种安全防护型芯片检测装置的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、将芯片放置在放置槽(4)内，启动驱动电机(3)驱动转动盘(2)转动，转动盘(2)带动放置槽(4)移动至滑动板(19)的下方，在转动盘(2)转动的过程中弧形伞齿条(15)首先与第一直齿条(23)啮合，弧形伞齿条(15)通过第一直齿条(23)和转动杆(21)带动第一齿轮(22)转动，第一齿轮(22)与第一直齿条(23)相啮合，第一齿轮(22)通过第一直齿条(23)带动滑动板(19)和触片(20)下移，第一拉簧(18)开始拉伸；
S2、在滑动板(19)下移时，此时触片(20)并未与芯片的触角碰触，而第一直齿条(23)下移率先与升降板(26)碰触并推动升降板(26)下移，第二弹簧(27)开始压缩，另外再转动盘(2)转动时，底板(14)转动至升降板(26)的下方，随着第一直齿条(23)推动升降板(26)下移，升降板(26)的底部与底板(14)的顶部碰触，升降板(26)通过底板(14)带动滑杆(12)和活塞(10)下移，第一弹簧(13)开始压缩，进而活塞(10)将空腔(8)内的空气向下抽入圆形槽(9)中，此时空腔(8)和通孔(7)内出入负压状态，进而能够将芯片吸附在密封橡胶板(6)上，由于密封橡胶板(6)内等距排布有多个通孔(7)，因此芯片底部均匀受到吸力，防止芯片受力不均匀导致芯片损坏；
S3、在第一直齿条(23)下移推动升降板(26)和活塞(10)下移对芯片进行吸附后，第一齿轮(22)与第一直齿条(23)的配合带动滑动板(19)和触片(20)下移，此时触片(20)与芯片的触角碰触，此时转动盘(2)停止转动，触片(20)对芯片进行检测，当检测结束后，转动盘(2)继续转动一定角度，此时弧形伞齿条(15)与第一直齿条(23)脱离啮合，滑动板(19)在第一拉簧(18)的拉力下向上移动，升降板(26)在第二弹簧(27)的弹力作用下向上移动，进而解除活塞(10)对空腔(8)内空气的抽吸，解除对芯片的吸附；
S4、随着转动盘(2)的转动，转动盘(2)将检测结束后的芯片输送至矩形柱(28)的位置，此时弧形伞齿条(15)率先与第二伞齿轮(41)相啮合，第二伞齿轮(41)通过矩形柱(28)带动第二齿轮(39)转动，第二齿轮(39)通过第二直齿条(40)带动圆环(32)和横板(34)下移，第二拉簧(31)开始拉伸，圆环(32)在下移过程中受到滑动块(36)和螺旋滑槽(37)的配合作用，圆环(32)和横板(34)沿着螺旋滑槽(37)的轨迹进行移动，进而在横板(34)移动过程中横板(34)底部的真空吸盘(35)能够与检测结束后的芯片顶部碰触，此时转动盘(2)停止转动，真空吸盘(35)对芯片进行吸附，接着转动盘(2)继续转动，弧形伞齿条(15)与第二伞齿轮(41)脱离啮合，圆环(32)和横板(34)在第二拉簧(31)的拉力作用下向上移动，圆环(32)沿着螺旋滑槽(37)的轨迹移动，进而真空吸盘(35)能够将芯片输送至输送带(42)的上方，从而能够将芯片搬运至输送带(42)上输送向下移工序。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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