CN116400203B - 一种芯片烧录测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备，包括控制台；固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构；通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。
Description
技术领域
本发明涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备。
背景技术
随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能。
然而，目前在对芯片烧录检测时，大部分都是将芯片单个进行放置在夹具上烧录，来回操作耗时耗力，拆卸繁琐，降低了整体的工作效率，并且夹具只能对一个种类的芯片进行放置，当需要更换芯片时需要更换夹具，十分不方便，并且在烧录过程中不方便很好的对芯片散热防护，从而影响芯片烧录的质量，同时在芯片烧录时，操作夹具是直接放置在台面，操作夹具稳定性差容易松动，缺乏固定组件，从而影响正常的芯片安装，并稍有不慎容易造成线路接触不良，影响芯片的烧录检测工作。
发明内容
针对现有技术中的问题，本发明提供了一种芯片烧录测试设备。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片烧录测试设备，包括：
控制台；
放置机构，所述控制台上安装有放置机构；
固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；
闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构。
具体的，所述放置机构包括底座，所述控制台上可拆卸连接有底座，所述底座顶部安装有转盘，所述转盘顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽，所述底座底部内侧中心处可拆卸连接有电机，所述底座顶部中心处转动连接有驱动盘，所述电机输出轴与驱动盘底部连接，所述驱动盘顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣，所述转盘底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽，所述卡扣与卡槽内部卡合，所述转盘通过驱动盘与底座顶部转动连接，所述卡槽和卡扣均为“L”形结构。
具体的，所述底座顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块，所述凸块底部通过抵触弹簧与底座内部滑动连接，所述凸块顶部为半圆形结构，所述转盘底部设有多个呈环形分布的凹槽，所述凸块顶部与凹槽内部抵触。
具体的，所述放置机构上安装有抵触机构，所述抵触机构包括立柱，所述底座一侧可拆卸连接有立柱，所述立柱为“7”字形结构，所述立柱延伸至转盘顶部，所述立柱顶部一端位于放置槽顶部，所述立柱顶部一端内侧安装有连接块，所述连接块通过活动弹簧与立柱内部滑动连接，所述连接块底部延伸至立柱外侧，所述连接块底部转动连接有压轮，所述压轮位于放置槽顶部。
具体的，多个所述放置槽内部中心处分别设有顶套，所述顶套内部安装有压缩弹簧，所述顶套底部通过压缩弹簧与转盘内部滑动连接。
具体的，所述放置机构内部安装有连接机构，所述连接机构包括连通槽，所述转盘边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽，所述连通槽顶部延伸至放置槽顶部，所述连通槽底部延伸至转盘底部外侧，所述底座边缘处内部安装有集成板，所集成板通过复位弹簧与底座内部纵向滑动连接，所述集成板顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板，多个所述金属板位于多个连通槽底部，所述底座内部滑动连接有控制板，所述集成板与控制板之间连接有两个缓冲弹簧，所述集成板底部垂直连接有两个导杆，所述导杆贯穿于缓冲弹簧与控制板内部滑动连接，所述底座内部边缘处可拆卸连接有气缸，所述气缸输出轴延伸至底座内部与控制板连接。
具体的，所述抵触机构上连接有散热机构，所述散热机构包括连接管，所述立柱一侧连接有连接管，所述立柱顶部内侧设有导槽，所述导槽两端延伸至立柱外侧，所述连接管延伸至导槽一端内部，所述导槽另一端连接有进气管，所述底座内部设有导气槽，所述导气槽一端延伸至集成板一侧，所述连接管另一端延伸至导气槽另一端内部，所述立柱内部滑动连接有皮塞，所述皮塞为长方形结构，所述皮塞顶部延伸至导槽内部，所述皮塞上设有通槽，所述皮塞底部贯穿于活动弹簧与连接块顶部垂直固定连接。
具体的，所述控制台上安装有存放机构，所述存放机构包括收集盒，所述控制台内部滑动连接有收集盒，所述收集盒一端延伸至控制台外侧，所述收集盒外侧中心处设有拉槽，所述收集盒内侧安装有静电板。
具体的，所述闭锁机构包括限位杆，所述控制台一端内部安装有限位杆，所述限位杆通过挤压弹簧与控制台内部横向滑动连接，所述限位杆两端为弧形结构，所述收集盒侧壁和其中一个橡胶柱侧壁分别设有对称的锁槽，所述限位杆一端与橡胶柱侧壁抵触，所述限位杆另一端与收集盒上的锁槽内部抵触。
本发明的有益效果是：
（1）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过放置机构的作用下有利于对多个需要烧录和检测的芯片放置，通过抵触机构的安装，有利于对需要烧录和检测的芯片进行抵触防止松动。
（2）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过连接机构利于不同大小的芯片引脚插入稳定，并且方便后续与芯片引脚电性连接，实现数据传输，通过抵触机构驱动使散热机构工作，有利于散热机构对连接机构及芯片散热防护。
（3）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，使控制台不会滑动，实现更稳定的检测工作，并且方便快速的进行复位拆卸，通过存放机构的作用下，有利于对烧录或检测失败的芯片存放回收，通过固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1为本发明提供的一种芯片烧录测试设备的一种较佳实施例的整体结构示意图；
图2为本发明的底座与转盘的连接结构示意图；
图3为本发明的卡扣的结构示意图；
图4为本发明的立柱与压轮的连接结构示意图；
图5为本发明的集成板与金属板的连接结构示意图；
图6为图5所示的A部结构放大示意图；
图7为本发明的控制台与吸盘的连接结构示意图；
图8为图7所示的B部结构放大示意图。
图中：1、控制台；2、放置机构；201、底座；202、转盘；203、放置槽；204、卡扣；205、驱动盘；206、卡槽；207、电机；208、凸块；209、抵触弹簧；210、凹槽；3、抵触机构；301、立柱；302、连接块；303、活动弹簧；304、压轮；305、顶套；306、压缩弹簧；4、连接机构；401、连通槽；402、金属板；403、集成板；404、控制板；405、导杆；406、缓冲弹簧；407、复位弹簧；408、气缸；5、散热机构；501、连接管；502、进气管；503、导槽；504、皮塞；505、通槽；506、导气槽；6、固定机构；601、螺杆；602、橡胶柱；603、吸盘；604、按压弹簧；605、导流槽；7、存放机构；701、拉槽；702、收集盒；703、静电板；8、闭锁机构；801、挤压弹簧；802、限位杆；803、锁槽。
具体实施方式
为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
如图1-图8所示，本发明所述的一种芯片烧录测试设备，包括控制台1，所述控制台1上安装有放置机构2，所述放置机构2上安装有抵触机构3，所述放置机构2内部安装有连接机构4，所述抵触机构3上连接有散热机构5，所述控制台1底部安装有固定机构6，所述控制台1上安装有存放机构7，所述控制台1内部安装有闭锁机构8。
具体的，所述固定机构6包括吸盘603，所述控制台1四角内部分别安装有吸盘603，所述吸盘603通过按压弹簧604与控制台1内部滑动连接，所述吸盘603底部延伸至控制台1外侧，所述吸盘603内部中心处设有导流槽605，所述控制台1四角分别垂直螺纹连接有螺杆601，所述螺杆601底部转动连接有橡胶柱602，所述橡胶柱602与控制台1内部滑动连接，所述橡胶柱602底部位于吸盘603顶部，所述橡胶柱602底部直径小于吸盘603顶部直径，通过所述控制台1放置稳定后，通过依次转动所述螺杆601，所述螺杆601在螺纹的作用下驱动所述橡胶柱602下滑，所述橡胶柱602对所述吸盘603抵触，从而使所述吸盘603上的所述导流槽605堵塞，所述吸盘603摆脱所述按压弹簧604的作用下滑出所述控制台1，所述吸盘603与台面抵触挤压，所述吸盘603发生形变挤出空气后与台面吸附固定，使所述控制台1放置稳定不会滑动，有利于更好的烧录和检测工作，通过反向转动所述螺杆601，所述螺杆601和所述橡胶柱602复位，所述吸盘603上的所述导流槽605打开使所述吸盘603进入控制复位，方便所吸盘603与台面拆卸利于所述控制台1搬移。
具体的，所述放置机构2包括底座201，所述控制台1上可拆卸连接有底座201，所述底座201顶部安装有转盘202，所述转盘202顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽203，所述底座201底部内侧中心处可拆卸连接有电机207，所述底座201顶部中心处转动连接有驱动盘205，所述电机207输出轴与驱动盘205底部连接，所述驱动盘205顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣204，所述转盘202底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽206，所述卡扣204与卡槽206内部卡合，所述转盘202通过驱动盘205与底座201顶部转动连接，所述卡槽206和卡扣204均为“L”形结构，通过所述底座201的安装，有利于对所述转盘202支撑放置，通过所述电机207的安装，有利于使所述驱动盘205能够在所述底座201顶部转动，通过所述转盘202与所述底座201的放置，使所述卡扣204插入所述卡槽206内部，通过所述转盘202的转动，有利于所述卡槽206与所述卡扣204卡合紧密，通过所述电机207的驱动，使所述驱动盘205和所述卡扣204带动所述转盘202转动，有利于对所述放置槽203内部的芯片进行依次烧录检测工作，通过反向转动所述转盘202，所述卡槽206与所述卡扣204分离，有利于对所述转盘202拆卸维护。
具体的，所述底座201顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块208，所述凸块208底部通过抵触弹簧209与底座201内部滑动连接，所述凸块208顶部为半圆形结构，所述转盘202底部设有多个呈环形分布的凹槽210，所述凸块208顶部与凹槽210内部抵触，通过所述抵触弹簧209的作用下使所述凸块208具有伸缩性，从而使所述凸块208与所述凹槽210内部抵触，有利于对所述转盘202定位，通过所述转盘202的转动，有利于使所述凸块208收缩，所述转盘202转动一定位置后所述凸块208与所述凹槽210抵触确定转动的位置，并且使所述转盘202稳定不易松动。
具体的，所述抵触机构3包括立柱301，所述底座201一侧可拆卸连接有立柱301，所述立柱301为“7”字形结构，所述立柱301延伸至转盘202顶部，所述立柱301顶部一端位于放置槽203顶部，所述立柱301顶部一端内侧安装有连接块302，所述连接块302通过活动弹簧303与立柱301内部滑动连接，所述连接块302底部延伸至立柱301外侧，所述连接块302底部转动连接有压轮304，所述压轮304位于放置槽203顶部，通过所述立柱301的安装，有利于对所述连接块302和所述压轮304连接，并且使所述压轮304具有伸缩性，所述压轮304位于所述放置槽203顶部，通过所述转盘202转动，使放置有芯片的所放置槽203转动至所述压轮304底部时，所述芯片位于所述压轮304底部，所述压轮304在所述活动弹簧303的作用下收缩，从而对芯片碾压抵触，使所述放置槽203内部的芯片抵触紧密不会松动，方便进行后续烧录检测工作，所述转盘202再次转动时，芯片滑出所述压轮304底部，使所述压轮304下滑复位，方便对下一个芯片抵触。
具体的，多个所述放置槽203内部中心处分别设有顶套305，所述顶套305内部安装有压缩弹簧306，所述顶套305底部通过压缩弹簧306与转盘202内部滑动连接，通过所述压缩弹簧306的作用下使所述顶套305在所述放置槽203内部具有伸缩性，通过芯片放入所述放置槽203内部后有利于对芯片顶起，方便进行芯片拿取工作，通过所述压轮304对芯片的抵触，所述顶套305会被挤压收缩，同时所述顶套305对芯片抵触，使芯片放置更加稳定。
具体的，所述连接机构4包括连通槽401，所述转盘202边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽401，所述连通槽401顶部延伸至放置槽203顶部，所述连通槽401底部延伸至转盘202底部外侧，所述底座201边缘处内部安装有集成板403，所集成板403通过复位弹簧407与底座201内部纵向滑动连接，所述集成板403顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板402，多个所述金属板402位于多个连通槽401底部，所述底座201内部滑动连接有控制板404，所述集成板403与控制板404之间连接有两个缓冲弹簧406，所述集成板403底部垂直连接有两个导杆405，所述导杆405贯穿于缓冲弹簧406与控制板404内部滑动连接，所述底座201内部边缘处可拆卸连接有气缸408，所述气缸408输出轴延伸至底座201内部与控制板404连接，通过所述连通槽401的作用下有利于使所述放置槽203内部的芯片引脚能够稳定插入，使芯片放置稳定，并方便不同大小的芯片放置，通过所述集成板403的安装，有利于对多个所述金属板402连接，所述气缸408无动作时，在所述复位弹簧407的作用下，使所述集成板403和所述金属板402能够收缩在所述底座201内部，从而方便所述转盘202转动，通过所述转盘202转动一定位置后，通过所述压轮304对芯片抵触稳定后，所述连通槽401位于所述金属板402顶部，通过对所述气缸408的驱动，使所述气缸408驱动所述控制板404的滑动，所述控制板404通过所述缓冲弹簧406对所述集成板403驱动，所述集成板403带动所述金属板402滑动，所述金属板402滑入所述连通槽401内部与芯片的引脚进行抵触接触，由于所述集成板403与外部数据线电性连接，从而利于对芯片进行数据传输工作，实现芯片烧录和检测。
具体的，所述散热机构5包括连接管501，所述立柱301一侧连接有连接管501，所述立柱301顶部内侧设有导槽503，所述导槽503两端延伸至立柱301外侧，所述连接管501延伸至导槽503一端内部，所述导槽503另一端连接有进气管502，所述底座201内部设有导气槽506，所述导气槽506一端延伸至集成板403一侧，所述连接管501另一端延伸至导气槽506另一端内部，所述立柱301内部滑动连接有皮塞504，所述皮塞504为长方形结构，所述皮塞504顶部延伸至导槽503内部，所述皮塞504上设有通槽505，所述皮塞504底部贯穿于活动弹簧303与连接块302顶部垂直固定连接，通过所述进气管502的作用下有利于与外部气管连接，使外部气体进入导槽503内部，所述连接块302复位时所述皮塞504对所述导槽503堵塞使气体无法进入，通过所述转盘202转动后，所述压轮304对芯片抵触，所述压轮304带动所述连接块302上升滑动，有利于所述皮塞504上滑使所述通槽505与所述导槽503连通，有利于气体进入所述连接管501和所述导气槽506内部，通过所述导气槽506的作用下使气体对所述集成板403和芯片吹气散热，起到了防护的作用，实现更好的数据传输。
具体的，所述存放机构7包括收集盒702，所述控制台1内部滑动连接有收集盒702，所述收集盒702一端延伸至控制台1外侧，所述收集盒702外侧中心处设有拉槽701，所述收集盒702内侧安装有静电板703，通过所述收集盒702的作用下有利于对残次的芯片进行存放，通过所述拉槽701的作用下方便对所述收集盒702驱动控制，操作更加方便，在所述静电板703的作用下有利于起到防静电的作用，防止芯片被静电击穿损坏。
具体的，所述闭锁机构8包括限位杆802，所述控制台1一端内部安装有限位杆802，所述限位杆802通过挤压弹簧801与控制台1内部横向滑动连接，所述限位杆802两端为弧形结构，所述收集盒702侧壁和其中一个橡胶柱602侧壁分别设有对称的锁槽803，所述限位杆802一端与橡胶柱602侧壁抵触，所述限位杆802另一端与收集盒702上的锁槽803内部抵触，通过所述吸盘603在所述控制板404内部收纳时，所述橡胶柱602对所述限位杆802抵触，使所述限位杆802滑入所述收集盒702侧壁的所述锁槽803内部，有利于对所述收集盒702限位无法打开，使所述控制台1搬移时所述收集盒702处于闭锁状态，防止滑落，通过所述吸盘603与台面吸附固定后，所述橡胶柱602滑动，所述限位杆802在所述挤压弹簧801的作用下划入所述锁槽803内部，所述限位杆802另一端与所述收集盒702上的所述锁槽803分离，方便所述收集盒702能驱动控制，实现芯片存取。
本发明在使用时，首先通过底座201的安装，有利于对转盘202支撑放置，通过电机207的安装，有利于使驱动盘205能够在底座201顶部转动，通过转盘202与底座201的放置，使卡扣204插入卡槽206内部，通过转盘202的转动，有利于卡槽206与卡扣204卡合紧密，通过电机207的驱动，使驱动盘205和卡扣204带动转盘202转动，有利于对放置槽203内部的芯片进行依次烧录检测工作，通过反向转动转盘202，卡槽206与卡扣204分离，有利于对转盘202拆卸维护，通过抵触弹簧209的作用下使凸块208具有伸缩性，从而使凸块208与凹槽210内部抵触，有利于对转盘202定位，通过转盘202的转动，有利于使凸块208收缩，转盘202转动一定位置后凸块208与凹槽210抵触确定转动的位置，并且使转盘202稳定不易松动，通过立柱301的安装，有利于对连接块302和压轮304连接，并且使压轮304具有伸缩性，压轮304位于放置槽203顶部，通过转盘202转动，使放置有芯片的所放置槽203转动至压轮304底部时，芯片位于压轮304底部，压轮304在活动弹簧303的作用下收缩，从而对芯片碾压抵触，使放置槽203内部的芯片抵触紧密不会松动，方便进行后续烧录检测工作，所述转盘202再次转动时，芯片滑出压轮304底部，使压轮304下滑复位，方便对下一个芯片抵触，通过压缩弹簧306的作用下使顶套305在放置槽203内部具有伸缩性，通过芯片放入放置槽203内部后有利于对芯片顶起，方便进行芯片拿取工作，通过压轮304对芯片的抵触，顶套305会被挤压收缩，同时顶套305对芯片抵触，使芯片放置更加稳定，通过连通槽401的作用下有利于使放置槽203内部的芯片引脚能够稳定插入，使芯片放置稳定，并方便不同大小的芯片放置，通过集成板403的安装，有利于对多个金属板402连接，气缸408无动作时，在复位弹簧407的作用下，使集成板403和金属板402能够收缩在底座201内部，从而方便转盘202转动，通过转盘202转动一定位置后，通过压轮304对芯片抵触稳定后，连通槽401位于金属板402顶部，通过对气缸408的驱动，使气缸408驱动控制板404的滑动，控制板404通过缓冲弹簧406对集成板403驱动，集成板403带动金属板402滑动，金属板402滑入连通槽401内部与芯片的引脚进行抵触接触，由于集成板403与外部数据线电性连接，从而利于对芯片进行数据传输工作，实现芯片烧录和检测，通过进气管502的作用下有利于与外部气管连接，使外部气体进入导槽503内部，连接块302复位时皮塞504对导槽503堵塞使气体无法进入，通过转盘202转动后，压轮304对芯片抵触，压轮304带动连接块302上升滑动，有利于皮塞504上滑使通槽505与导槽503连通，有利于气体进入连接管501和导气槽506内部，通过导气槽506的作用下使气体对集成板403和芯片吹气散热，起到了防护的作用，实现更好的数据传输，通过控制台1放置稳定后，通过依次转动螺杆601，螺杆601在螺纹的作用下驱动橡胶柱602下滑，橡胶柱602对吸盘603抵触，从而使吸盘603上的导流槽605堵塞，吸盘603摆脱按压弹簧604的作用下滑出控制台1，吸盘603与台面抵触挤压，吸盘603发生形变挤出空气后与台面吸附固定，使控制台1放置稳定不会滑动，有利于更好的烧录和检测工作，通过反向转动螺杆601，螺杆601和橡胶柱602复位，吸盘603上的导流槽605打开使吸盘603进入控制复位，方便所吸盘603与台面拆卸利于控制台1搬移，通过收集盒702的作用下有利于对残次的芯片进行存放，通过拉槽701的作用下方便对收集盒702驱动控制，操作更加方便，在静电板703的作用下有利于起到防静电的作用，防止芯片被静电击穿损坏，通过吸盘603在控制板404内部收纳时，橡胶柱602对限位杆802抵触，使限位杆802滑入收集盒702侧壁的锁槽803内部，有利于对收集盒702限位无法打开，使控制台1搬移时收集盒702处于闭锁状态，防止滑落，通过吸盘603与台面吸附固定后，橡胶柱602滑动，限位杆802在挤压弹簧801的作用下划入锁槽803内部，限位杆802另一端与收集盒702上的锁槽803分离，方便收集盒702能驱动控制，实现芯片存取。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (5)
1.一种芯片烧录测试设备，其特征在于，包括：
控制台（1）；
放置机构（2），所述控制台（1）上安装有放置机构（2）；
固定机构（6），所述控制台（1）底部安装有固定机构（6），所述固定机构（6）包括吸盘（603），所述控制台（1）四角内部分别安装有吸盘（603），所述吸盘（603）通过按压弹簧（604）与控制台（1）内部滑动连接，所述吸盘（603）底部延伸至控制台（1）外侧，所述吸盘（603）内部中心处设有导流槽（605），所述控制台（1）四角分别垂直螺纹连接有螺杆（601），所述螺杆（601）底部转动连接有橡胶柱（602），所述橡胶柱（602）与控制台（1）内部滑动连接，所述橡胶柱（602）底部位于吸盘（603）顶部，所述橡胶柱（602）底部直径小于吸盘（603）顶部直径；
闭锁机构（8），所述控制台（1）内部安装有闭锁机构（8）；
所述放置机构（2）包括底座（201），所述控制台（1）上可拆卸连接有底座（201），所述底座（201）顶部安装有转盘（202），所述转盘（202）顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽（203）；
所述放置机构（2）上安装有抵触机构（3），所述抵触机构（3）包括立柱（301），所述底座（201）一侧可拆卸连接有立柱（301），所述立柱（301）为“7”字形结构，所述立柱（301）延伸至转盘（202）顶部，所述立柱（301）顶部一端位于放置槽（203）顶部，所述立柱（301）顶部一端内侧安装有连接块（302），所述连接块（302）通过活动弹簧（303）与立柱（301）内部滑动连接，所述连接块（302）底部延伸至立柱（301）外侧，所述连接块（302）底部转动连接有压轮（304），所述压轮（304）位于放置槽（203）顶部；
多个所述放置槽（203）内部中心处分别设有顶套（305），所述顶套（305）内部安装有压缩弹簧（306），所述顶套（305）底部通过压缩弹簧（306）与转盘（202）内部滑动连接；
所述放置机构（2）内部安装有连接机构（4），所述连接机构（4）包括连通槽（401），所述转盘（202）边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽（401），所述连通槽（401）顶部延伸至放置槽（203）顶部，所述连通槽（401）底部延伸至转盘（202）底部外侧，所述底座（201）边缘处内部安装有集成板（403），所述集成板（403）通过复位弹簧（407）与底座（201）内部纵向滑动连接，所述集成板（403）顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板（402），多个所述金属板（402）位于多个连通槽（401）底部，所述底座（201）内部滑动连接有控制板（404），所述集成板（403）与控制板（404）之间连接有两个缓冲弹簧（406），所述集成板（403）底部垂直连接有两个导杆（405），所述导杆（405）贯穿于缓冲弹簧（406）与控制板（404）内部滑动连接，所述底座（201）内部边缘处可拆卸连接有气缸（408），所述气缸（408）输出轴延伸至底座（201）内部与控制板（404）连接；
所述抵触机构（3）上连接有散热机构（5），所述散热机构（5）包括连接管（501），所述立柱（301）一侧连接有连接管（501），所述立柱（301）顶部内侧设有导槽（503），所述导槽（503）两端延伸至立柱（301）外侧，所述连接管（501）延伸至导槽（503）一端内部，所述导槽（503）另一端连接有进气管（502），所述底座（201）内部设有导气槽（506），所述导气槽（506）一端延伸至集成板（403）一侧，所述连接管（501）另一端延伸至导气槽（506）另一端内部，所述立柱（301）内部滑动连接有皮塞（504），所述皮塞（504）为长方形结构，所述皮塞（504）顶部延伸至导槽（503）内部，所述皮塞（504）上设有通槽（505），所述皮塞（504）底部贯穿于活动弹簧（303）与连接块（302）顶部垂直固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述底座（201）底部内侧中心处可拆卸连接有电机（207），所述底座（201）顶部中心处转动连接有驱动盘（205），所述电机（207）输出轴与驱动盘（205）底部连接，所述驱动盘（205）顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣（204），所述转盘（202）底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽（206），所述卡扣（204）与卡槽（206）内部卡合，所述转盘（202）通过驱动盘（205）与底座（201）顶部转动连接，所述卡槽（206）和卡扣（204）均为“L”形结构。
3.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述底座（201）顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块（208），所述凸块（208）底部通过抵触弹簧（209）与底座（201）内部滑动连接，所述凸块（208）顶部为半圆形结构，所述转盘（202）底部设有多个呈环形分布的凹槽（210），所述凸块（208）顶部与凹槽（210）内部抵触。
4.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述控制台（1）上安装有存放机构（7），所述存放机构（7）包括收集盒（702），所述控制台（1）内部滑动连接有收集盒（702），所述收集盒（702）一端延伸至控制台（1）外侧，所述收集盒（702）外侧中心处设有拉槽（701），所述收集盒（702）内侧安装有静电板（703）。
5.根据权利要求4所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述闭锁机构（8）包括限位杆（802），所述控制台（1）一端内部安装有限位杆（802），所述限位杆（802）通过挤压弹簧（801）与控制台（1）内部横向滑动连接，所述限位杆（802）两端为弧形结构，所述收集盒（702）侧壁和其中一个橡胶柱（602）侧壁分别设有对称的锁槽（803），所述限位杆（802）一端与橡胶柱（602）侧壁抵触，所述限位杆（802）另一端与收集盒（702）上的锁槽（803）内部抵触。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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