CN115336421B - 一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置 - Google Patents

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王智刚
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Abstract

本发明公开了一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置，包括氦气瓶(1)、氮气瓶(7)、密闭罐体(17)、氦质谱检漏仪(15)、四通A、四通B、三通A、三通B。该装置具备加压检内漏、加压真空法检外漏以及吸枪法检外漏的功能，且各功能相互独立，互不干涉；针对推力器检漏过程中容易出现的氦气吸附于推力器催化剂孔隙之中，造成的“假数据”现象，设计了氮气吹扫系统避免了氦气吸附。本发明的氦质谱检漏装置集成化程度高，可便携移动，功能完备，操作简单高效，数据真实准确。

Description

一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置
技术领域
本发明涉及一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置，该技术直接应用于单组元肼和ADN推力器的漏率检测，属单组元推力器检测领域。
背景技术
在单组元推力器及其组件的生产、装配、测试过程中，产品的漏率指标是评价产品性能的关键指标之一，在推力器研制过程中，要进行多轮次的检漏工作，漏率变化是产品性能变化的体现。因此，漏率测试数据的真实性与准确性是对检漏工作的基本要求，但如何在多轮次大量产品的检测过程中提高检测效率尤其重要。氦质谱检漏方法相比于气泡法将漏率指标量化，使测试数据更直观，可对比性更强，因此受到了广泛的关注和迅速的发展。专利CN203893999U提出了一种检测装置，涉及一种内部充压外部抽真空的检漏装置，解决了市场上该种检漏设备的技术空白，但缺点是功能比较单一；专利CN102759433提出了一种用于航天器的可控式吸枪及其检漏系统和检漏方法，该技术可自动识别被检焊缝，并引导操作人员逐个完成所有焊缝的检漏；专利CN103091052提出了一种用于航天器部组件常温真空检漏的检漏系统，该设备可以获得较高的检漏灵敏度并具备自动校准功能；专利CN204177537U发明一种容器氦质谱检漏装置，提出了先用静态升压法确定待测容器是否漏气，再根据喷吹法将漏点定位的方法；专利CN204924590U提出了一种氦质谱检漏的加压-抽真空实验装置，该装置将加压系统与抽真空系统集成一体，但该装置对气源压力的调整非常不便，系统中缺少过滤器，很容易将气源或管路中的杂质带入待测产品，引起产品功能失效。该装置虽然具备多种检漏方法的检测能力，但存在系统干涉，方法切换时必须更改部分系统管路，并不适合单组元推力器及其组件检漏测试；专利CN102721515A发明了卫星整星漏率检测装置及检测方法，提出了卫星整星的漏率检测方法，但该装置及方法并不适合单组元推力器组件的漏率检测。
目前，针对单组元推力器的漏率检测还没有一套功能完备的、可移动的专用设备，以满足推力器的高效率、高精度检测需求。
发明内容
本发明的技术解决问题是：克服现有技术的不足，发明一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置，该装置具备加压检内漏、加压真空法检外漏以及吸枪法检外漏的功能，且各功能相互独立，互不干涉；针对推力器检测过程中容易出现的氦气吸附于推力器催化剂孔隙之中，造成的“假数据”现象，设计了氮气吹扫系统避免了氦气吸附。本发明的氦质谱检漏装置集成化程度高，可便携移动，功能完备，操作简单高效，数据真实准确。
本发明的技术解决方案是：一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置，包括氦气瓶(1)、氮气瓶(7)、氦质谱检漏仪(15)和密闭罐体(17)；四通A、四通B、三通A、三通B；
所述氦气瓶(1)的出口依次经压力表A(2)、截止阀A(3)、减压器A(4)、过滤器A(5)、单向阀A(6)与三通A的第一个接口相连；
三通的第二个接口通过截止阀H(22)与KF法兰A(14)、待测单组元推力器A(20)的入口相连；三通的第三个接口与四通A的第一个接口相连；
所述氮气瓶(7)的出口依次经压力表B(8)、截止阀B(9)、减压器B(10)、过滤器B(11)、单向阀B(12)与四通A的第二个接口相连；
四通A的第三个接口经截止阀G(21)与大气相连放空；四通A的第四个接口与三通B的第一个接口相连；
三通B的第二个接口依次经截止阀C(13)、KF法兰B(24)与一待测单组元推力器B(26)的入口相连，待测单组元推力器B(26)的出口与四通B的第一个接口相连；
KF法兰C(25)与一待测单组元推力器C(27)置于密闭罐体(17)内，三通的第三个接口依次经截止阀D(16)、KF法兰C(25)与待测单组元推力器C(27)的入口相连；
四通B的第二个接口经截止阀E(18)与密闭罐体(17)的内部相连通；
四通B的第三个接口依次经截止阀F(19)与吸枪(23)入口相连，吸枪(23)的吸气口面向待测单组元推力器A(20)，并可沿待测单组元推力器A(20)四周移动；
四通B的第四个接口与氦质谱检漏仪(15)检测入口相连。
所述的氦质谱检漏装置，过滤器为筛网式过滤器，内部装填有分子筛吸附介质的容器，筛网规格为5μm。
所述的氦质谱检漏装置，罐体为圆柱形不锈钢罐体，密封方式为O型圈密封，可容纳产品尺寸为≥300mm(宽)×500mm(高)。
所述氦质谱检漏装置，具备吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏三种功能。
所述吸枪法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器A(20)入口安装于KF法兰A(14)，待测单组元推力器A(20)出口使用工装封堵；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀H(22)、截止阀F(19)，同时关闭截止阀C(13)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)，调节减压器A(4)至指定压力；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)手动扳动吸枪(23)吸气扳手，并将吸气口对准待测单组元推力器A(20)待检部位；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器A(20)待检部位外漏值；
所述加压检内漏方法如下：
a)将待测单组元推力器B(26)入口安装于KF法兰B(24)，待测单组元推力器B(26)出口通过管路与四通B相连通；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(13)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)、截止阀F(19)；c)调节减压器A(4)至指定压力；d)启动氦质谱检漏仪(15)；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器B(26)内漏值；
所述加压真空法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器C(27)入口与KF法兰C(25)相连，出口采用工装封堵，并一同置于密闭罐体(17)内；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀E(18)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀G(21)、截止阀F(19)；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)调节减压器A(4)至指定压力；e)待氦质谱检漏仪(15)面板示数稳定后，即可读取待测单组元推力器C(27)外漏值。
所述氦质谱检漏装置，具备同时进行吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏，方法如下：
将待测单组元推力器A、B、C入口分别与KF法兰A、B、C相连，待测单组元推力器A(20)出口采用工装封堵，将吸枪(23)对准待测单组元推力器A(20)待检部位；将待测单组元推力器B(26)出口与四通B相连；将待测单组元推力器C(27)出口采用工装封堵，并与KF法兰C(25)一同置于密闭罐体(17)内，启动氦质谱检漏仪(15)，依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀E(18)、截止阀F(19)，关闭截止阀G(21)，调节减压器A(4)至检测压力，此时氦质谱检漏仪(15)面板显示漏率即为待测单组元推力器A、B、C组件漏率总和；此时若漏率超标，交替关闭截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)中的一个或两个，观察氦质谱检漏仪(15)显示漏率变化，即可找出漏率超标的待测单组元推力器。
所述氦质谱检漏装置，具备残余氦气吹除功能，方法如下：
依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀H(22)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除吸枪法检外漏系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀D(13)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除内漏检测系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀C(16)，关闭截止阀G(21)、截止阀D(13)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除真空法检外漏系统残余氦气。
所述氦质谱检漏装置，具备系统放空功能，方法如下：
关闭氦气瓶(1)和/或氮气瓶(7)，打开截止阀G(21)，待压力表A(2)和/或压力表B(8)显示压力值趋于0时，关闭减压器A(4)和/或减压器B(10)，关闭截止阀A(3)、截止阀B(9)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，关闭截止阀(G)21，完成系统放空操作。
本发明与现有技术相比的有益效果为：
(1)采用本发明的氦质谱检漏装置，高度的集成化大大缩短了检测前装置搭建时间，且装置可移动，减少了对空间的占用。
(2)采用本发明的氦质谱检漏装置，解决了氦质谱检漏过程中经常出现的氦气吸附而造成的“假数据”现象，保证了检测数据的真实性与准确性。
(3)采用本发明的氦质谱检漏装置，有效的控制了多余物，避免了检测过程中高压气体、管路中的多余物带入推力器组件或阀门，造成待测产品失效。
(4)采用本发明的氦质谱检漏装置，可单独或同时进行氦质谱加压检内漏、加压真空检外漏以及吸枪法检外漏，各系统功能独立，检测效率高。
附图说明
图1为氦质谱检漏装置工艺流程图。
具体实施方式
下面对本发明的实施例作详细说明：本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
实施例1：新型氦质谱检漏装置
目前针对单组元推力器的漏率检测均是基于氦质谱检漏仪进行系统搭建而形成的检漏系统，然而，传统的氦质谱检漏装置在每次漏率检测前，均需要根据检测项目进行系统搭建工作，准备时间长，且功能单一，当外、内漏检测需求变化时，检漏系统必须随之改变。所述的氦质谱检漏装置，系统集成化程度高，具备吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏三种功能，检测效率高，如表1所示。
表1本装置与传统检漏装置检测效率对比
传统检漏装置 本装置
20件推力器产品所需检测时间 4天 1天
如图1所示，本实施例包括氦气瓶(1)、氮气瓶(7)、密闭罐体(17)和氦质谱检漏仪(15)、四通A、四通B、三通A、三通B。
所述氦气瓶(1)的出口依次经压力表A(2)、截止阀A(3)、减压器A(4)、过滤器A(5)、单向阀A(6)与三通A的第一个接口相连；
三通的第二个接口通过截止阀H(22)与KF法兰A(14)、待测单组元推力器A(20)的入口相连；三通的第三个接口与四通A的第一个接口相连；
所述氮气瓶(7)的出口依次经压力表B(8)、截止阀B(9)、减压器B(10)、过滤器B(11)、单向阀B(12)与四通A的第二个接口相连；
四通A的第三个接口经截止阀G(21)与大气相连放空；四通A的第四个接口与三通B的第一个接口相连；
三通B的第二个接口依次经截止阀C(13)、KF法兰B(24)与一待测单组元推力器B(26)的入口相连，待测单组元推力器B(26)的出口与四通B的第一个接口相连；
KF法兰C(25)与一待测单组元推力器C(27)置于密闭罐体(17)内，三通的第三个接口依次经截止阀D(16)、KF法兰C(25)与待测单组元推力器C(27)的入口相连；
四通B的第二个接口经截止阀E(18)与密闭罐体(17)的内部相连通；
四通B的第三个接口依次经截止阀F(19)与吸枪(23)入口相连，吸枪(23)的吸气口面向待测单组元推力器A(20)，并可沿待测单组元推力器A(20)四周移动；
四通B的第四个接口与氦质谱检漏仪(15)检测入口相连。
所述的氦质谱检漏装置，其特征在于：所述的罐体(17)为圆柱形不锈钢罐体，密封方式为O型圈密封，可容纳产品尺寸为≥300mm(宽)×500mm(高)。
实施例2：筛网式过滤器
针对单组元推力器性能特点，对多余物十分敏感，极易造成推力器内漏，推力器中装填多孔介质催化剂，极易吸潮，从而对催化剂性能产生影响，尤其是对首次启动加速性(t90)影响较大，如表2所示。
表2单组元肼1N推力器启动加速性对比
Figure BBM2022072001740000051
所述的氦质谱检漏装置，其特征在于：所述的过滤器为筛网式过滤器，内部装填有分子筛吸附介质，用于吸附水汽；过滤器入口和出口均安装筛网，筛网规格为5μm，用于阻隔多余物进入单组元推力器。
实施例3：新型氦质谱检漏装置测试方法
所述氦质谱检漏装置，具备吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏三种功能。
所述吸枪法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器A(20)入口安装于KF法兰A(14)，待测单组元推力器A(20)出口使用工装封堵；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀H(22)、截止阀F(19)，同时关闭截止阀C(13)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)，调节减压器A(4)至指定压力；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)手动扳动吸枪(23)吸气扳手，并将吸气口对准待测单组元推力器A(20)待检部位；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器A(20)待检部位外漏值；
所述加压检内漏方法如下：
a)将待测单组元推力器B(26)入口安装于KF法兰B(24)，待测单组元推力器B(26)出口通过管路与四通B相连通；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(13)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)、截止阀F(19)；c)调节减压器A(4)至指定压力；d)启动氦质谱检漏仪(15)；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器B(26)内漏值；
所述加压真空法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器C(27)入口与KF法兰C(25)相连，出口采用工装封堵，并一同置于密闭罐体(17)内；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀E(18)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀G(21)、截止阀F(19)；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)调节减压器A(4)至指定压力；e)待氦质谱检漏仪(15)面板示数稳定后，即可读取待测单组元推力器C(27)外漏值。
实施例4：可同时进行多个漏率检测项目
传统氦质谱检漏装置，功能单一，无法同时进行两种或两种以上检漏项目，检测效率低。所述氦质谱检漏装置，具备同时进行吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏，方法如下：
将待测单组元推力器A、B、C入口分别与KF法兰A、B、C相连，待测单组元推力器A(20)出口采用工装封堵，将吸枪(23)对准待测单组元推力器A(20)待检部位；将待测单组元推力器B(26)出口与四通B相连；将待测单组元推力器C(27)出口采用工装封堵，并与KF法兰C(25)一同置于密闭罐体(17)内，启动氦质谱检漏仪(15)，依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀E(18)、截止阀F(19)，关闭截止阀G(21)，调节减压器A(4)至检测压力，此时氦质谱检漏仪(15)面板显示漏率即为待测单组元推力器A、B、C组件漏率总和；此时若漏率超标，交替关闭截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)中的一个或两个，观察氦质谱检漏仪显示漏率变化，即可找出漏率超标的待测单组元推力器。
实施例5：新型氦质谱检漏装置残余氦气吹除方法
由于单组元推力器及催化床极易吸附残余氦气，且传统氦质谱检漏装置不具备氦气吹除装置，极易造成“假数据”现象，造成数据不准，如表1所示。所述氦质谱检漏装置，具备残余氦气吹除功能，测量数据准确，数据重复性较好，如表2所示。
表1传统氦质谱装置检漏测试结果
第一次测量结果 第二次测量结果
漏率 1.5×10<sup>-8</sup>pa·m<sup>3</sup>/s 5.0×10<sup>-6</sup>pa·m<sup>3</sup>/s
表2本发明氦质谱检漏装置测试结果
第一次测量结果 第二次测量结果
漏率 1.8×10<sup>-8</sup>pa·m<sup>3</sup>/s 2.1×10<sup>-8</sup>pa·m<sup>3</sup>/s
残余氦气吹除方法如下：
依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀H(22)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除吸枪法检外漏系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀D(13)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除内漏检测系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀C(16)，关闭截止阀G(21)、截止阀D(13)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除真空法检外漏系统残余氦气。
实施例6：新型氦质谱检漏装置系统放空方法
传统氦质谱检漏装置，依靠拆卸连接处法兰或螺纹实现放空，所述氦质谱检漏装置，具备系统放空功能，方法如下：
关闭氦气瓶(1)和/或氮气瓶(7)，打开截止阀G(21)，待压力表A(2)和/或压力表B(8)显示压力值趋于0时，关闭减压器A(4)和/或减压器B(10)，关闭截止阀A(3)、截止阀B(9)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，关闭截止阀G(21)，完成系统放空操作。
以上是本发明的较佳实施例，凡依本发明技术方案所作的改变，均属于本发明的保护范围。

Claims (4)

1.一种用于单组元推力器的氦质谱检漏装置，其特征在于：
所述的氦质谱检漏装置包括氦气瓶(1)、氮气瓶(7)、氦质谱检漏仪(15)和密闭罐体(17)；四通A、四通B、三通A、三通B；
所述氦气瓶(1)的出口依次经压力表A(2)、截止阀A(3)、减压器A(4)、过滤器A(5)、单向阀A(6)与三通A的第一个接口相连；
三通的第二个接口通过截止阀H(22)与KF法兰A(14)、待测单组元推力器A(20)的入口相连；三通的第三个接口与四通A的第一个接口相连；
所述氮气瓶(7)的出口依次经压力表B(8)、截止阀B(9)、减压器B(10)、过滤器B(11)、单向阀B(12)与四通A的第二个接口相连；
四通A的第三个接口经截止阀G(21)与大气相连放空；四通A的第四个接口与三通B的第一个接口相连；
三通B的第二个接口依次经截止阀C(13)、KF法兰B(24)与一待测单组元推力器B(26)的入口相连，待测单组元推力器B(24)的出口与四通B的第一个接口相连；
KF法兰C(25)与一待测单组元推力器C(27)置于密闭罐体(17)内，三通B的第三个接口依次经截止阀D(16)、KF法兰C(25)与待测单组元推力器C(27)的入口相连；
四通B的第二个接口经截止阀E(18)与密闭罐体(17)的内部相连通；
四通B的第三个接口依次经截止阀F(19)与吸枪(23)入口相连，吸枪(23)的吸气口面向待测单组元推力器A(20)，并可沿待测单组元推力器A(20)四周移动；
四通B的第四个接口与氦质谱检漏仪(15)检测入口相连。
2.根据权利要求1所述的氦质谱检漏装置，其特征在于：所述的过滤器为筛网式过滤器，内部装填有分子筛吸附介质的容器，筛网规格为5μm。
3.根据权利要求1所述的氦质谱检漏装置，其特征在于：所述的罐体(17)为圆柱形不锈钢罐体，密封方式为O型圈密封，可容纳产品尺寸为≥300mm宽×500mm高。
4.根据权利要求1所述的氦质谱检漏装置，其特征在于：
所述氦质谱检漏装置，具备吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏三种功能；
所述吸枪法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器A(20)入口安装于KF法兰A(14)，待测单组元推力器A(20)出口使用工装封堵；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀H(22)、截止阀F(19)，同时关闭截止阀C(13)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)，调节减压器A(4)至指定压力；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)手动扳动吸枪(23)吸气扳手，并将吸气口对准待测单组元推力器A(20)待检部位；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器A(20)待检部位外漏值；
所述加压检内漏方法如下：
a)将待测单组元推力器B(26)入口安装于KF法兰B(24)，待测单组元推力器B(26)出口通过管路与四通B相连通；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(13)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(16)、截止阀G(21)、截止阀E(18)、截止阀F(19)；c)调节减压器A(4)至指定压力；d)启动氦质谱检漏仪(15)；e)通过氦质谱检漏仪(15)面板即可读取待测单组元推力器B(26)内漏值；
所述加压真空法检外漏方法如下：
a)将待测单组元推力器C(27)入口与KF法兰C(25)相连，出口采用工装封堵，并一同置于密闭罐体(17)内；b)依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀E(18)，同时关闭截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀G(21)、截止阀F(19)；c)启动氦质谱检漏仪(15)；d)调节减压器A(4)至指定压力；e)待氦质谱检漏仪(15)面板示数稳定后，即可读取待测单组元推力器C(27)外漏值；
所述氦质谱检漏装置，具备同时进行吸枪法检外漏、加压真空法检外漏以及加压检内漏，方法如下：
将待测单组元推力器A、B、C入口分别与KF法兰A、B、C相连，待测单组元推力器A出口采用工装封堵，将吸枪(23)对准待测单组元推力器A(14)待检部位；将待测单组元推力器B(26)出口与四通B相连；将待测单组元推力器C(27)出口采用工装封堵，并与KF法兰C(25)一同置于密闭罐体(17)内，启动氦质谱检漏仪(15)，依次打开氦气瓶(1)、截止阀A(3)、截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)、截止阀E(18)、截止阀F(19)，关闭截止阀G(21)，调节减压器A(4)至检测压力，此时氦质谱检漏仪(15)面板显示漏率即为待测单组元推力器A、B、C组件漏率总和；此时若漏率超标，交替关闭截止阀C(16)、截止阀H(22)、截止阀D(13)中的一个或两个，观察氦质谱检漏仪(15)显示漏率变化，即可找出漏率超标的待测单组元推力器；
所述氦质谱检漏装置，具备残余氦气吹除功能，方法如下：
依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀H(22)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除吸枪法检外漏系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀D(13)，关闭截止阀G(21)、截止阀C(16)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除内漏检测系统残余氦气；依次打开氮气瓶(7)、截止阀B(9)、截止阀C(16)，关闭截止阀G(21)、截止阀D(13)、截止阀H(22)，调节减压器B(10)至指定压力，即可吹除真空法检外漏系统残余氦气；
所述氦质谱检漏装置，具备系统放空功能，方法如下：
关闭氦气瓶(1)和/或氮气瓶(7)，打开截止阀G(21)，待压力表A(2)和/或压力表B(8)显示压力值趋于0时，关闭减压器A(4)和/或减压器B(10)，关闭截止阀A(3)、截止阀B(9)、截止阀C(16)、截止阀D(13)，关闭截止阀G(21)，完成系统放空操作。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114210625A (zh) * 2021-11-08 2022-03-22 上海江南长兴造船有限责任公司 一种双燃料船氮气吹扫装置
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