CN1151075A - 光盘类型的判别装置和方法 - Google Patents

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Abstract

一种判别光盘类型的装置和方法，包括：主轴电机；拾取器；处理拾取器的道跟踪、聚焦和滑块伺服等信号并驱动主轴电机的伺服信号处理器；将拾取器拾取的道过零信号整形的数字信号处理器；控制数字信号处理器并储存光盘类型判别基准值、当盘被装载时产生门脉冲和将道过零信号的计数值与基准值相比较来判别盘类型的控制器；以及，对在匀速度周期中的道过零信号计数的计数器。

Description

光盘类型的判别装置和方法
本发明涉及一种光盘驱动器件的盘判别装置和方法，特别是利用不同光盘的轨道间距(track pitch)不同的特点来判别已装载光盘的类型的装置和方法。
本发明的光盘判别装置和方法的基于韩国第33219/1995号申请，这里引入供参考之用。
通常，光盘重放装置指高密度盘重放器、激光盘重放器等。例如，通过光学系统再现盘上记录的数据。这类盘指高密度盘和激光盘。根据实际需要来选择合适的盘的大小。高密度盘分为直径8cm和12cm的大小的盘，激光盘分为直径20cm和30cm的大小的盘。
作为一种光盘的高密度盘的轨道间距为1.6μm。近来，随着对大容量数据存储需求的不断增长，已经开发了一种轨道间距为0.8μm或更小的高密度光盘，它的轨道间距为高密度盘轨道间距的一半或更小。
目前存在不同种类的盘。光盘重放装置应根据判别盘的类型后的已判别出的盘的类型采用一种适当的重放控制操作。
图1是一种一般光盘重放装置的框图。主轴电机4由伺服信号处理器8的控制来驱动转动盘2。光学拾取器6利用一光学系统拾取记录在盘2上的数据并提供给RF(射频)放大器10。伺服信号处理器8根据控制器16的控制和RF放大器10的输出信号来处理光学拾取器6的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块(sled)伺服等的信号，并通过数字信号处理器12的输出信号驱动主轴电机4。RF放大器10将由光学拾取器6拾取的RF信号放大。数字信号处理器12将被RF放大器10放大的RF信号整形为一逻辑波形。另外，当盘2从一停止状态加速到一第一CLV(恒定线速度)时，数字信号处理器12产生一CLV锁定信号，而当盘2从第一CLV的旋转状态减速到一第二CLV时，数字信号处理器12产生一阻尼信号。第一CLV代表能够正常再现记录在盘2上的数据的一CLV，而第二CLV代表能够停止在减速旋转状态下的盘2的一CLV。数字信号处理器12产生作为一逻辑“低”的正常帧同步(GFS)信号的一CLV锁定信号并且产生作为一逻辑“低”的信号PW64的阻尼信号。一数字至模拟转换器14将由数字信号处理器12处理的一解调信号转换成一模拟信号。控制器16控制伺服信号处理器8和数字信号处理器12的再现操作以便再现记录在盘2上的数据。
图1的结构已在1988年九月1日韩国KANAM公司发布的“图解高密盘”(“ILLUSTRATED COMPACT DISK”)的第240页中示出。要了解高密度盘重放器的详细结构和操作过程，请参考上述“图解高密盘”的文献。
图2为说明盘类型判别过程的流程图。在步骤31，控制器16检查是否盘被装载。如果是，在步骤32，控制器16通过控制伺服信号处理器8执行一聚焦操作。在步骤33，控制器16通过控制伺服信号处理器8来驱动主轴电机4以旋转盘2。在步骤34，控制器16通过控制伺服信号处理器8来执行道跟踪操作以便实现道跟踪伺服。在步骤35，控制器16通过控制伺服信号处理器8将光学拾取器6传送至盘2的最内周以便读取盘2的TOC(目录表)区域。在步骤36，控制器16检查是否检测到一滑块停止信号。如果检测到滑块停止信号，控制器16通过控制伺服信号处理器8来停止移动光学拾取器6并且通过读取盘2的TOC的区域来判别盘的类型。
在现有技术中，光盘的类型是通过读取TOC的区域来判别的。然而，由于高密度光盘在旋转速度、各种伺服电路特性和TOC的区域格式上与普通光盘不同，所以很难准确判定盘的类型。
本发明的一个目的是提供一种通过在拾取器归位到盘的内周区以读取TOC的区域时对道过零信号计数来判别盘类型的装置和方法。
本发明实施的判别光盘类型的装置包括：一主轴电机，用于根据设定的伺服控制来旋转光盘；一光学拾取器，用于利用一光学系统拾取记录在盘上的数据；一伺服信号处理器，用于根据设定的控制信号来处理光学拾取器的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块伺服等信号并且根据一数字信号处理器的一输出信号来驱动主轴电机；该数字信号处理器用于将由光学拾取器拾取的道过零信号整形为逻辑波形；一控制器，用于控制数字信号处理器的全部操作、储存光盘类型判别基准值、当盘被装载时产生一门脉冲和将道过零信号的计数值与光盘类型判别基准值相比较来判别盘的类型；以及，一计数器，用于在匀速度周期中对经数字信号处理器波形整形的道过零信号计数。
本发明实施的判别光盘类型的方法包括下列步骤：在匀速度周期中对道过零信号计数，在此过程中，在光盘被装载之后光学拾取器移向盘的最内周区；通过将被计数的道过零信号与设置的盘类型判别基准值相比较来判别盘的类型。
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，其中：
图1为一般光盘再现装置的框图；
图2为说明一常规盘类型判别控制过程的流程图；
图3为本发明的一实施例的光盘再现装置的框图；
图4为说明本发明的一实施例的盘类型判别控制过程的流程图；
图5A至5I为本发明的光盘再现装置的每个部分的工作波形图；
图6为本发明的另一个实施例的光盘再现装置的框图；
图7为说明本发明的另一个实施例的盘类型判别控制过程的流程图。
参考图3，主轴电机4由伺服信号处理器8的控制来驱动以转动盘2。光学拾取器6利用一光学系统拾取记录在盘2上的数据并提供给一RF(射频)放大器10。伺服信号处理器8根据一控制器16的控制和RF放大器10的输出信号来处理光学拾取器6的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块伺服等信号，并根据数字信号处理器12的输出信号来驱动主轴电机4。RF放大器10将由光学拾取器6拾取的RF信号放大。数字信号处理器12将被RF放大器10放大的RF信号之一的一道过零TZC信号整形为一逻辑波形。
控制器16控制伺服信号处理器8和数字信号处理器12的再现操作以再现记录在盘2上的数据，并储存用于判别盘类型的设置基准值。当盘2被装载时，控制器16产生一门脉冲并根据盘类型判别控制信号来判别盘的类型。计数器18被控制器16产生的该门信号启动并在一匀速度周期中对由数字信号处理器12波形整形的道过零TZC信号计数。逻辑比较器20将由计数器18产生的计数值与储存在控制器16中的设置基准值相比较并产生盘类型判别控制信号。上升沿检测器22检测由控制器16产生的门脉冲的上升沿以产生一上升沿检测信号。下降沿检测器23检测由控制器16产生的门脉冲的一下降沿以产生一下降沿检测信号。触发器26被该上升沿检测信号置位并将由逻辑比较器20产生的盘类型判别控制信号保持为一恒定逻辑状态。一锁存器28根据由下降沿检测器24产生的下降沿检测信号来锁存由触发器26产生的盘类型判别控制信号并将其提供给控制器16。
图4为说明一盘类型判别控制过程的流程图，图5A至5I为光盘再现装置的每个部分的工作波形图。
现在将参考图3、4和5A至5I详细描述本发明的一个优选实施例。
参照图4，在步骤41，控制器16检查是否盘被装载。如果是，在步骤42，控制器16通过控制伺服信号处理器8执行一聚焦操作。在步骤43，控制器16通过控制伺服信号处理器8来驱动主轴电机4以旋转盘2。在步骤44，控制器16通过控制伺服信号处理器8来执行道跟踪操作以便实现道跟踪伺服。在步骤45，控制器16通过控制伺服信号处理器8将光学拾取器6传送至盘2的最内周以读取盘2的TOC的区域。光学拾取器6根据当光束点通过光盘2的轨道和镜面部分时由一光电二极管接收的光量来产生一脉冲串信号。由于这两部分在由光电二极管接收的光量上不同，所以，该脉冲串信号被提供给RF放大器10。RF放大器10将这个脉冲波形的道过零TZC信号放大并把它提供给数字信号处理器12。数字信号处理器12将该道过零TZC信号波形整形以产生如图5F或5G所示的信号。
在步骤46，控制器16检查是否从光学拾取器6的移动起的一设置时间Td已到达。这就是说，是否检测到一滑块电机到达一匀速度周期。如果该设置时间Td已过去，在步骤47，控制器16在一时间Tc的匀速度周期中产生图5B所示的门脉冲并且把该门脉冲提供给计数器18。计数器18对由数字信号处理器12波形整形的道过零TZC信号计数。道过零TZC信号表示轨道间距之间的一个周期。如果在匀速周期中一常规盘的道过零TZC信号的计数值为n并且一高密度盘的道过零TZC信号的计数值为m，控制器16存储该两个计数值的一平均值m+n/2的一逻辑值。控制器16将该平均值作为基准值提供给逻辑比较器20。逻辑比较器20将道过零TZC信号的计数值与该基准值相比较。如果道过零信号TZC的计数值超过基准值，则逻辑比较器20产生逻辑“高”的盘类型判别控制信号，而若没有超过，则逻辑比较器20产生逻辑“低”的盘类型判别控制信号。
上升沿检测器22接收图5B所示的门脉冲来检测上升沿和将图5C所示的上升沿检测信号提供给触发器26的一复位端。下降沿检测器24接收图5B所示的门脉冲来检测下降沿和将图5D所示的下降沿检测信号提供给锁存器28的一时钟端。触发器26通过其时钟端接收由逻辑比较器20产生的盘类型判别控制信号的逻辑值，并保持该接收的逻辑状态值。当下降沿检测信号由下降沿检测器24产生时，锁存器28锁存由触发器26产生的盘类型判别控制信号并把它提供给控制器16。在步骤48，控制器16检查是否匀速度周期完成。如果是，在步骤49，控制器16检查是否锁存器28的输出逻辑值为逻辑“高”。如果锁存器28的输出逻辑值为逻辑“高”，则盘被判定为高密度盘，而若不是，盘被判定为常规盘。
图6示出了光盘再现装置的另一个例子。主轴电机4由伺服信号处理器8的控制来驱动以转动盘2。光学拾取器6利用一光学系统拾取记录在盘2上的数据并提供给一RF(射频)放大器10。伺服信号处理器8根据控制器16的控制和RF放大器10的输出信号来处理光学拾取器6的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块伺服等信号，并根据数字信号处理器12的输出信号来驱动主轴电机4。RF放大器10将由光学拾取器6拾取的一RF信号放大。数字信号处理器12将被RF放大器10放大的RF信号之一的一道过零TZC信号整形为一逻辑波形。控制器16控制伺服信号处理器8和数字信号处理器12的再现操作以再现记录在盘2上的数据，并储存用于判别盘类型的设置基准值。当盘2被装载时，控制器16产生一门脉冲并根据盘类型判别控制信号来判别盘的类型。计数器18被控制器16产生的该门脉冲启动并在一匀速度周期中对由数字信号处理器波形整形的道过零TZC信号计数。
图7示出了另一个盘类型判别控制过程。在步骤61，控制器16检查是否盘被装载。如果是，在步骤62，控制器16通过控制伺服信号处理器8执行一聚焦操作。在步骤63，控制器16通过控制伺服信号处理器8来驱动主轴电机4以旋转盘2。在步骤64，控制器16通过控制伺服信号处理器8来执行道跟踪操作以实现道跟踪伺服。在步骤65，控制器16通过控制伺服信号处理器8将光学拾取器6传送至盘2的最内周以便读取盘2的TOC的区域。光学拾取器6根据当光束点通过光盘2的轨道和镜面部分时由一光电二极管接收的光量来产生一脉冲串信号。由于这两部分在由光电二极管接收的光量上不同，所以，该脉冲串信号被提供给RF放大器10。RF放大器10将这个脉冲波形的道过零TZC信号放大并把它提供给数字信号处理器12。数字信号处理器12将该道过零TZC信号波形整形以产生图5F或5G所示的信号。
在步骤66，控制器16检查是否从光学拾取器6的移动起的一设置时间Td已到达。这就是说，是否检测到滑块电机到达一匀速度周期。如果该设置时间Td已过去，在步骤67，控制器16在一时间Tc的匀速度周期中产生图5B所示的门脉冲并且把该门脉冲提供给计数器18。计数器18对由数字信号处理器12波形整形的道过零TZC信号计数。如果在匀速度周期中一常规盘的道过零TZC信号的计数值为n并且一高密度盘的道过零TZC信号的计数值为m，则控制器16存储该两个计数值的一平均值m+n/2的一逻辑值。在步骤69，控制器16检查是否匀速度周期已结束。如果是，在步骤70，控制器16将道过零信号的计数值与该基准值相比较。如果它超过基准值，则该盘被判定为一高密度盘，若没有超过，则该盘被判定为一常规盘。
如上所述，当拾取器归位于盘的内周区以读取TOC时，道过零信号被计数以判别该盘的类型。因此，光盘的类型能容易地被判定。
所以，应明白本发明并不局限于这里所公开的意在作为实施本发明的最佳模式的特定实施例，但更确切地说，除了所附权利要求所规定的以外，本发明不局限于本说明书中描述的具体实施例。

Claims (8)

1、一种用于判别光盘类型的装置，包括：
一主轴电机，用于旋转所述光盘，所述主轴电机由设定的伺服控制驱动；
一光学拾取器，用于利用一光学系统拾取记录在所述盘上的数据；
一伺服信号处理器，用于根据一设定的控制信号来处理所述光学拾取器的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块伺服等信号，并且根据一数字信号处理器的一输出信号来驱动所述主轴电机；
所述数字信号处理器，用于将由所述光学拾取器拾取的道过零信号整形为逻辑波形；
控制装置，用于控制所述数字信号处理器的全部操作、储存一光盘类型判别基准值、当所述盘被装载时产生一门脉冲和将所述道过零信号的计数值与所述光盘类型判别基准值相比较来判别所述盘的类型；以及
计数装置，用于在一匀速度周期中对由所述数字信号处理器波形整形的所述道过零信号计数，所述计数装置被由所述控制装置产生的所述门脉冲启动。
2、如权利要求1所述的用于判别光盘类型的装置，其中所述光盘被判别为高密度盘和常规盘。
3、如权利要求2所述的用于判别光盘类型的装置，其中所述光盘类型判别基准值由在所述匀速度周期中的所述常规盘和所述高密度盘的道过零计数值的平均值设定。
4、一种用于判别光盘类型的装置，包括：
一主轴电机，用于旋转所述光盘，所述主轴电机由一伺服信号处理器的控制驱动；
一光学拾取器，用于利用一光学系统拾取记录在所述盘上的数据；
一射频(RF)放大装置，用于放大由所述光学拾取器拾取的RF信号；
所述伺服信号处理器，用于根据一设定的控制信号和所述RF放大装置的一输出信号来处理所述光学拾取器的道跟踪伺服、聚焦伺服、滑块伺服等等信号，并且根据一数字信号处理器的输出信号来驱动所述主轴电机；
所述数字信号处理器，用于将由所述RF放大装置放大的所述RF信号之一的一道过零信号整形为一逻辑波形；
控制装置，用于控制所述数字信号处理器的全部操作、储存一盘类型判别基准值、当所述盘被装载时产生一门脉冲和根据一盘类型判别控制信号来判别所述盘的类型；
计数装置，用于在一匀速度周期中对由所述数字信号处理器波形整形的所述道过零信号计数，所述计数装置被由所述控制装置产生的所述门脉冲启动。
盘类型判别控制信号产生装置，用于通过将所述计数装置产生的一计数值与储存在所述控制装置中的所述盘类型判别基准值相比较以产生所述盘类型判别控制信号。
5、如权利要求4所述的用于判别光盘类型的装置，其中所述盘类型判别控制信号产生装置包括：
上升沿检测装置，用于检测由所述控制装置产生的所述门脉冲的一上升沿以产生一上升沿检测信号；
下降沿检测装置，用于检测由所述控制装置产生的所述门脉冲的一下降沿以产生一下降沿检测信号；
一触发器，用于将由所述计数装置产生的所述盘类型判别控制信号保持为一恒定逻辑状态直到所述下降沿检测信号产生为止，所述触发器被所述上升沿检测信号置位；以及
锁存装置，用于根据由所述下降沿检测装置产生的所述下降沿检测信号来锁存由所述触发器产生的所述盘类型判别控制信号，并将该盘类型判别控制信号提供给所述控制装置。
6、一种用于判别光盘类型的方法，包括下列步骤：
在一匀速度周期中对一道过零信号计数，在此过程中，在所述盘被装载之后光学拾取器移向所述盘的最内周区；以及
通过将被计数的道过零信号与一设置的盘类型判别基准值相比较来判别所述盘的类型。
7、如权利要求6所述的用于判别光盘类型的方法，其中所述光盘被判别为高密度盘和常规盘。
8、如权利要求7所述的用于判别光盘类型的方法，其中所述盘类型判别基准值由在所述匀速度周期中的所述常规盘和所述高密度盘的道计数值的平均值设定。
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