CN115032526B - 一种电路板测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电路板测试设备，属于电路板测试领域；包括电路板定位装置和位置可调式测试装置；电路板定位装置包括环形轨道和多个滑动安装在环形轨道上的滑动座；滑动座上安装有径向轨道，径向轨道上滑动安装有用于对电路板的相应角部进行承托及夹紧定位的定位结构；位置可调式测试装置包括下压测试机构和用于调整下压测试机构在水平面上位置的位置调整机构；下压测试机构包括设于位置调整机构上的基座、竖向滑动安装在基座上并用于对电路板上的待测试部进行测试的测试结构和安装在基座上并用于驱动测试结构上升或下降的提拉结构。本发明结构简单、通用性强；可满足多种电路板及电路板不同位置处的测试需求，可降低成本、提高测试效率。

Description

一种电路板测试设备

技术领域

本发明属于电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板测试设备。

背景技术

产线上的PCB单板标样需要预先在实验室进行测试；PCB板形态各异，且每个PCB板上的测试点位置不同，测试点数量也不同；现有的电路板测试设备通用性差，不能满足多种PCB板、不同位置测试或多测试点同步测试的测试需求；若每个PCB板都配备一套对应的测试设备，则成本高，时间长，测试效率慢，影响研发进度。

鉴于此，亟需研发一种结构简单、通用性强的电路板测试设备，可满足多种PCB板、PCB板不同位置的测试需求，有利于降低测试成本、提高测试效率。

发明内容

旨在克服上述现有技术中存在的至少之一处不足，本发明提供了一种电路板测试设备，其结构简单、通用性强，且有利于降低测试成本、提高测试效率。

为解决上述现有技术中存在的问题，本发明实施例提供了一种电路板测试设备，包括电路板定位装置和位置可调式测试装置：

所述电路板定位装置包括环形轨道和多个滑动安装在所述环形轨道上的滑动座；所述滑动座上安装有径向轨道，所述径向轨道上滑动安装有用于对电路板的相应角部进行承托及夹紧定位的定位结构；

所述位置可调式测试装置包括位置调整机构和下压测试机构，所述位置调整机构用于调整所述下压测试机构在水平面上的位置；所述下压测试机构包括设置于所述位置调整机构上的基座、竖向滑动安装在所述基座上并用于对所述电路板上的待测试部进行测试的测试结构和安装在所述基座上并用于驱动所述测试结构上升或下降的提拉结构。

进一步，所述位置调整机构包括横向轨道、横向滑动安装在所述横向轨道上的调整座以及与所述调整座纵向滑动配合的纵向轨道；所述基座设置于所述纵向轨道上；所述调整座上螺装有用于与所述横向轨道顶靠的横向锁止件和用于与所述纵向轨道顶靠的纵向锁止件。

进一步，所述提拉结构包括提拉操纵杆和铰接臂；所述提拉操纵杆的顶端与所述基座上的第一铰接座铰接，所述提拉操纵杆的拐角部与所述铰接臂的一端铰接，所述铰接臂的另一端与所述测试结构上的第二铰接座铰接。

进一步，所述铰接臂对称设置有两个，两个所述铰接臂位于所述提拉操纵杆的两侧；所述铰接臂包括由上到下依次连接的第一竖板、第一斜板、第二竖板、第二斜板和第三竖板；

所述第一斜板、所述第二竖板和所述第二斜板形成等腰梯形结构；所述第一竖板与所述提拉操纵杆的拐角部铰接；所述第三竖板与所述第二铰接座铰接。

进一步，所述测试结构包括竖向滑动安装在所述基座上的安装座及竖向滑动安装在所述安装座上的浮动缓冲座；所述浮动缓冲座与所述安装座之间设有弹性件，所述弹性件用于提供使所述浮动缓冲座具有竖直向下运动趋势的弹性力；所述浮动缓冲座上可拆卸安装有连接块，所述连接块上可拆卸安装有测试组件。

进一步，所述浮动缓冲座包括立板，所述立板上竖向间隔设置有顶板和底板；

所述顶板和所述底板之间设置有导向轴；所述导向轴与所述安装座位于所述顶板和所述底板之间的安装端滑动连接；所述底板与所述安装端之间的所述导向轴上套设有所述弹性件；所述安装端上滑动安装有防脱限位件，所述防脱限位件的一端与所述底板螺纹连接。

进一步，所述测试组件包括可拆卸安装在所述连接块上的连接座和可拆卸安装在所述连接座上的测试件。

进一步，所述环形轨道包括基体，所述基体上设有第一环形部和第二环形部，所述第一环形部和所述第二环形部之间形成与所述滑动座滑动配合的轨道槽；所述第一环形部和所述第二环形部上分别设有用于对所述滑动座进行竖向限位的环形压盖。

进一步，所述径向轨道包括本体，所述本体的底部设有两个限位块，所述第一环形部和所述第二环形部位于两个所述限位块之间；

所述本体上螺装有穿过所述滑动座与所述环形轨道顶靠的第一位置锁止件。

进一步，所述定位结构包括滑动安装在所述径向轨道上的承托座，所述承托座的滑槽内滑动安装有两个定位滑块，所述定位滑块的滑动方向与所述径向轨道的延伸方向垂直，所述定位滑块上螺装有用于与所述滑槽的槽底顶靠的第二位置锁止件；所述电路板的角部被夹紧定位于两个所述第二位置锁止件之间；所述定位滑块上螺装有用于与所述径向轨道顶靠的第三位置锁止件。

由于采用了上述技术方案，取得的有益效果如下：

本发明中的电路板测试设备，包括电路板定位装置和位置可调式测试装置：电路板定位装置包括环形轨道和多个滑动安装在环形轨道上的滑动座；滑动座上安装有径向轨道，径向轨道上滑动安装有用于对电路板的相应角部进行承托及夹紧定位的定位结构；位置可调式测试装置包括位置调整机构和下压测试机构，位置调整机构用于调整下压测试机构在水平面上的位置；下压测试机构包括设置于位置调整机构上的基座、竖向滑动安装在基座上并用于对电路板上的待测试部进行测试的测试结构和安装在基座上并用于驱动测试结构上升或下降的提拉结构。

借助环形轨道、径向轨道来调整定位结构的位置，以适配不同大小形状的电路板的定位；借助位置调整机构调节测试结构的位置，以适配不同位置处的待测试部；位置调整好后，操作提拉结构使测试结构下降至设定压力位置处，测试结构对待测试部进行测试。

综上所述，本发明结构简单、通用性强；可满足多种电路板、电路板不同位置的测试需求，有利于降低测试成本、提高测试效率。

附图说明

图1是本发明电路板测试设备的结构示意图；

图2是图1中A处结构的放大图；

图3是图1中电路板定位装置的结构示意图；

图4是图3中滑动座、径向轨道和定位结构的结构示意图；

图5是图3中环形轨道、滑动座的结构分解图；

图6是图1中位置可调式测试装置的结构示意图；

图7是图6另一视角下的结构示意图；

图8是图6中位置调整机构的结构分解图；

图9是图6中下压测试机构的结构分解图；

图中：1-工作台，2-电路板定位装置，21-环形轨道，211-基体，212-第一环形部，213-第二环形部，214-第一环形压盖，215-第二环形压盖，22-滑动座，221-滑动本体，222-凸台，23-径向轨道，231-本体，232-燕尾槽，233-第一限位块，234-第二限位块，24-定位结构，241-承托座，242-滑槽，243-定位滑块，244-第二位置锁止件，245-柔性防护套，3-位置调整机构，31-横向轨道，32-调整座，321-横向滑块，322-座体，323-纵向滑块，324-锁止块，33-纵向轨道，34-横向锁止件，35-纵向锁止件，4-下压测试机构，41-基座，411-第一铰接座，412-滑轨滑块结构，42-测试结构，421-安装座，4211-第一安装块，4212-第二安装块，4213-第二铰接座，422-浮动缓冲座，4221-立板，4222-顶板，4223-底板，4224-导向轴，4225-防脱限位螺栓，4226-弹簧，423-连接块，4231-夹持孔，4232-槽口，4233-腰形调节孔，424-测试组件，4241-连接座，4242-探针，43-提拉结构，431-提拉操纵杆，432-铰接臂，5-电路板。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

由图1至图9共同所示，本实施例公开了一种电路板测试设备，包括设置在工作台1上的电路板定位装置2和位置可调式测试装置。

其中，电路板定位装置2包括环形轨道21和多个（图中所示为四个）滑动安装在环形轨道21上的滑动座22；滑动座22上安装有径向轨道23，径向轨道23上滑动安装有用于对电路板5的相应角部进行承托及夹紧定位的定位结构24。

位置可调式测试装置包括位置调整机构3和下压测试机构4，位置调整机构3用于调整下压测试机构4在水平面上的位置；下压测试机构4包括设置于位置调整机构3上的基座41、竖向滑动安装在基座41上并用于对电路板5上的待测试部进行测试的测试结构42和安装在基座41上并用于驱动测试结构42上升或下降的提拉结构43。

本实施例中，环形轨道21包括基体211（可以是圆盘状也可以是环状，在此不做限制），基体211上设有第一环形部212和第二环形部213，第一环形部212和第二环形部213之间形成与滑动座22滑动配合的轨道槽；第一环形部212和第二环形部213上分别设有用于对滑动座22进行竖向限位的环形压盖（记为第一环形压盖214和第二环形压盖215）。其中，滑动座22包括滑动安装在轨道槽内的滑动本体221，滑动本体221上设有凸台222，凸台222与滑动本体221之间形成有限位台阶，第一环形压盖214和第二环形压盖215分别与相应侧的限位台阶抵接。第一环形部212的内周壁与第一环形压盖214的内周壁平齐，第二环形部213的外周壁与第二环形压盖215的外周壁平齐。

还有一些实施例中，环形轨道21包括轨道座，轨道座上设有环状的燕尾槽，滑动座22的底端为相适配的燕尾结构。其它环形轨道21结构也适用于本实施例，在此不一一列举。

本实施例中，径向轨道23包括本体231，本体231的顶部设有滑槽（优选具有防脱功能的燕尾槽232），底部设有两个限位块（记为第一限位块233和第二限位块234），第一环形部212和第二环形部213位于第一限位块233和第二限位块234之间，防止径向窜动。第一限位块233朝向第一环形部212的一侧面为与第一环形部212的内周壁相适配的弧形面，第二限位块234朝向第二环形部213的一侧面为与第二环形部213的外周壁相适配的弧形面。

燕尾槽232的槽底上螺装有穿过滑动座22与环形轨道21的轨道槽顶靠的第一位置锁止件（优选螺栓，图中未示出），为了避免第一位置锁止件不影响定位结构24位置的调节，本实施例中，燕尾槽232的槽底设有阶梯状的沉孔，便于螺栓头部的隐藏。

本实施例中，定位结构24包括滑动安装在径向轨道23上用于对电路板5的角部进行承托的承托座241（其底部设有与燕尾槽232相适配的燕尾结构），承托座241的滑槽242（燕尾槽结构）内滑动安装有两个定位滑块243，定位滑块243的滑动方向与径向轨道23的延伸方向在水平面内垂直，定位滑块243上螺装有用于与滑槽242的槽底顶靠的第二位置锁止件244（优选螺栓）；电路板5的角部被夹紧定位于两个第二位置锁止件244之间；为了防止电路板5的角部被损坏，第二位置锁止件244上套设有由硅胶材料制成的柔性防护套245。为了便于位置调节后的锁定操作，承托座241上螺装有用于与径向轨道23上燕尾槽232的槽底顶靠的第三位置锁止件（优选螺栓，图中未示出）。

本实施例中，位置调整机构3包括横向轨道31、横向滑动安装在横向轨道31上的调整座32以及与调整座32纵向滑动配合的纵向轨道33；下压测试机构4的基座41设置于纵向轨道33上；调整座32上螺装有用于与横向轨道31顶靠的横向锁止件34（优选螺栓）和用于与纵向轨道33顶靠的纵向锁止件35（优选螺栓）。

其中，调整座32包括与横向轨道31滑动配合的横向滑块321、固定在横向滑块321上的座体322、安装在座体322上且与纵向轨道33滑动配合的纵向滑块323；座体322的一侧设有锁止块324，锁止块324上螺装有横向锁止件34和纵向锁止件35。

下面对本实施例中的下压测试机构4进行展开描述，基座41的一侧设有第一铰接座411和位于第一铰接座411下方的第一滑轨滑块结构412。

本实施例中，测试结构42包括竖向滑动安装在基座41上的安装座421及竖向滑动安装在安装座421上的浮动缓冲座422；浮动缓冲座422与安装座421之间设有弹性件（优选弹簧4226，也可以是碟簧等其它弹性件），弹簧4226用于提供使浮动缓冲座422具有竖直向下运动趋势的弹性力；浮动缓冲座422上可拆卸安装有连接块423，连接块423上可拆卸安装有测试组件424；弹簧4226的设置可以有效避免测试组件424下降时因硬性碰撞而对电路板5造成的损伤。

其中，安装座421包括安装在第一滑轨滑块结构412的滑块上的第一安装块4211和与第一安装块4211借助螺栓固定连接的第二安装块4212，第一安装块4211顶部设有第二铰接座4213。

浮动缓冲座422与提拉结构43位于基座41的相对两侧；浮动缓冲座422包括立板4221，立板4221上竖向间隔设置有顶板4222和底板4223；顶板4222和底板4223之间设置有导向轴4224；导向轴4224与位于顶板4222和底板4223之间的第二安装块4212滑动连接；底板4223与第二安装块4212之间的导向轴4224上套设有弹簧4226；第二安装块4212上竖向滑动安装有防脱限位件（优选防脱限位螺栓4225），防脱限位螺栓4225的一端与底板4223螺纹连接。

其中，连接块423上设有腰形调节孔4233，螺纹连接件穿过腰形调节孔4233与立板4221固定连接，腰形调节孔4233的设置便于连接块423竖向安装高度的调节。测试组件424包括可拆卸安装在连接块423上的连接座4241和可拆卸安装在连接座4241上的测试件，可拆卸安装的方式便于灵活更换不同类型的测试件。

连接块423上设有形成卡箍结构的第一夹紧部和第二夹紧部，第一夹紧部和第二夹紧部之间形成有槽口4232，且第一夹紧部和第二夹紧部之间围成有与连接座4241的杆部相适配的夹持孔4231，槽口4232与夹持孔4231连通；螺纹连接件穿过第一夹紧部与第二夹紧部螺纹连接，旋拧螺纹连接件实现连接座4241的夹紧。连接座4241上设有用于夹紧测试件的卡箍结构，测试件为探针4242；为了防止测试件在安装时发生损坏，卡箍结构用于夹紧探针4242的夹紧口内设有探针套。还有一些实施例中，测试件为表笔或示波器探头。

本实施例中，提拉结构43包括提拉操纵杆431和铰接臂432；提拉操纵杆431的顶端与基座41上的第一铰接座411铰接，提拉操纵杆431的拐角部与铰接臂432的一端铰接，铰接臂432的另一端与第二铰接座4213铰接。其中，提拉操纵杆431包括呈一定角度连接的第一杆段和第二杆段，第一杆段的顶端与第一铰接座411连接，第二杆段的末端设有操作手柄；第一杆段和第二杆段的连接处为拐角部。

本实施例中的提拉结构43可便于操作人员掌控上升或下降的距离，实现测试压力的管控，满足不同电路板5压力的需求。

本实施例中，铰接臂432对称设置有两个，两个铰接臂432位于提拉操纵杆431的两侧；铰接臂432包括由上到下依次连接的第一竖板、第一斜板、第二竖板、第二斜板和第三竖板；第一斜板、第二竖板和第二斜板形成等腰梯形结构；第一竖板与提拉操纵杆431的拐角部铰接；第三竖板与第二铰接座4213铰接。

为了实现多个待测试部同时测试，本实施例中，位置可调式测试装置可根据需要设置有多个（图中所示为四个）；四个位置可调式测试装置呈矩形排布在环形轨道21的外周；还有一些实施例中，位置可调式测试装置设置有八个且呈矩形排布；每两个为一组，排布于矩形的同一边部；同组内的位置可调式测试装置可共用一个横向轨道31。

本实施例借助环形轨道21、径向轨道23来调整定位结构24的位置，以适配不同大小形状的电路板5的定位；借助位置调整机构3调节测试结构42的位置，以适配不同位置处的待测试部；位置调整好后，操作提拉结构43使测试结构42下降至设定压力位置处，测试结构42中的探针4242对待测试部进行测试。且多个位置可调式测试装置可满足多个待测试部同时测试的需求。

综上所述，本发明结构简单、通用性强；可满足多种电路板、电路板不同位置、多个位置同时测试的需求，有利于降低测试成本、提高测试效率。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种电路板测试设备，其特征在于，包括电路板定位装置和位置可调式测试装置：

所述电路板定位装置包括环形轨道和多个滑动安装在所述环形轨道上的滑动座；所述滑动座上安装有径向轨道，所述径向轨道上滑动安装有用于对电路板的相应角部进行承托及夹紧定位的定位结构；

所述位置可调式测试装置包括位置调整机构和下压测试机构，所述位置调整机构用于调整所述下压测试机构在水平面上的位置；所述下压测试机构包括设置于所述位置调整机构上的基座、竖向滑动安装在所述基座上并用于对所述电路板上的待测试部进行测试的测试结构和安装在所述基座上并用于驱动所述测试结构上升或下降的提拉结构；

所述位置调整机构包括横向轨道、横向滑动安装在所述横向轨道上的调整座以及与所述调整座纵向滑动配合的纵向轨道；所述基座设置于所述纵向轨道上；所述调整座上螺装有用于与所述横向轨道顶靠的横向锁止件和用于与所述纵向轨道顶靠的纵向锁止件；

所述定位结构包括滑动安装在所述径向轨道上的承托座，所述承托座的滑槽内滑动安装有两个定位滑块，所述定位滑块的滑动方向与所述径向轨道的延伸方向垂直，所述定位滑块上螺装有用于与所述滑槽的槽底顶靠的第二位置锁止件；所述电路板的角部被夹紧定位于两个所述第二位置锁止件之间；所述定位滑块上螺装有用于与所述径向轨道顶靠的第三位置锁止件。

2.根据权利要求1所述的电路板测试设备，其特征在于，所述提拉结构包括提拉操纵杆和铰接臂；所述提拉操纵杆的顶端与所述基座上的第一铰接座铰接，所述提拉操纵杆的拐角部与所述铰接臂的一端铰接，所述铰接臂的另一端与所述测试结构上的第二铰接座铰接。

3.根据权利要求2所述的电路板测试设备，其特征在于，所述铰接臂对称设置有两个，两个所述铰接臂位于所述提拉操纵杆的两侧；所述铰接臂包括由上到下依次连接的第一竖板、第一斜板、第二竖板、第二斜板和第三竖板；

所述第一斜板、所述第二竖板和所述第二斜板形成等腰梯形结构；所述第一竖板与所述提拉操纵杆的拐角部铰接；所述第三竖板与所述第二铰接座铰接。

4.根据权利要求1所述的电路板测试设备，其特征在于，所述测试结构包括竖向滑动安装在所述基座上的安装座及竖向滑动安装在所述安装座上的浮动缓冲座；所述浮动缓冲座与所述安装座之间设有弹性件，所述弹性件用于提供使所述浮动缓冲座具有竖直向下运动趋势的弹性力；所述浮动缓冲座上可拆卸安装有连接块，所述连接块上可拆卸安装有测试组件。

5.根据权利要求4所述的电路板测试设备，其特征在于，所述浮动缓冲座包括立板，所述立板上竖向间隔设置有顶板和底板；

所述顶板和所述底板之间设置有导向轴；所述导向轴与所述安装座位于所述顶板和所述底板之间的安装端滑动连接；所述底板与所述安装端之间的所述导向轴上套设有所述弹性件；所述安装端上滑动安装有防脱限位件，所述防脱限位件的一端与所述底板螺纹连接。

6.根据权利要求4所述的电路板测试设备，其特征在于，所述测试组件包括可拆卸安装在所述连接块上的连接座和可拆卸安装在所述连接座上的测试件。

7.根据权利要求1所述的电路板测试设备，其特征在于，所述环形轨道包括基体，所述基体上设有第一环形部和第二环形部，所述第一环形部和所述第二环形部之间形成与所述滑动座滑动配合的轨道槽；所述第一环形部和所述第二环形部上分别设有用于对所述滑动座进行竖向限位的环形压盖。

8.根据权利要求7所述的电路板测试设备，其特征在于，所述径向轨道包括本体，所述本体的底部设有两个限位块，所述第一环形部和所述第二环形部位于两个所述限位块之间；

所述本体上螺装有穿过所述滑动座与所述环形轨道顶靠的第一位置锁止件。

Images