CN114739265A - 一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置及测量方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置及测量方法，其中，测量装置包括至少三个可调节长度的伸缩杆、固设在伸缩杆上的漏斗、固设在漏斗内的水平保持架以及设于漏斗上的灌沙机构，所述灌沙机构包括均匀分布在漏斗上的四个套管、设于套管内的压簧、插接在套管中的L形插杆、固定在L形插杆自由端的框架以及盖设在框架上的硬质盖板，每个所述套管上均旋设与L形插杆定位配合的定位螺钉。本发明还包括精确测量混凝土试件粗糙度的方法。本发明的精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，由于试件的水平放置，以及与最高点平齐的通过框架约束的多余标准砂刮除方式，使得测量精度大大增加，很好的解决了当下测量结果与实际偏差大的问题。

Description

一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置及测量方法
技术领域
本发明涉及土木工程领域,尤其涉及一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置及测量方法。
背景技术
在新老混凝土界面粘结性能研究中，需对既有的老混凝土修补面进行粗糙度处理，以保证修补材料与既有老混凝土粘结的可靠性。粗糙度常用灌沙平均深度进行表示，即在混凝土试件的凿毛的一面灌注标准砂至混凝土试件粘接面（即凿毛的面）的最高处平齐，然后测量出所用标准砂的体积，将标准砂的体积除以粘接面的截面积，即可得出灌沙平均深度。
现有技术的操作中往往是往混凝土试件粘接面添加标准砂后，用一个平板在混凝土试件粘接面用手刮，然后将混凝土试件粘接面上保留的标准砂导入量筒测量体积，这种方式得到的结果与实际存在不小的偏差。
发明内容
经过技术人员大量的研究发现，导致上述测量结果误差偏大的原因主要有两点：第一，试件本身放置的时候倾斜，导致标准砂在试件上厚薄不均匀，第二在试件粘接面刮除多余的标准砂的时候，由于缺乏标准的约束装置，刮过之后，很难保持上表面与最高点在水平方向上平齐，容易出现多刮或少刮的现象。
本发明提供一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，以解决上述提到的技术问题，本发明还提供测量方法。
一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，包括至少三个可调节长度的伸缩杆、固设在伸缩杆上的漏斗、固设在漏斗内的水平保持架以及设于漏斗上的灌沙机构，所述灌沙机构包括均匀分布在漏斗上的四个套管、设于套管内的压簧、插接在套管中的L形插杆、固定在L形插杆自由端的框架以及盖设在框架上的硬质盖板，每个所述套管上均旋设与L形插杆定位配合的定位螺钉。
优选的，所述伸缩杆包括下杆以及与下杆旋设配合的上杆。
优选的，所述水平保持架为十字形保持架，所述水平保持架的中部嵌设第一水平仪。
优选的，所述硬质盖板的顶部具有第二水平仪。
优选的，所述L形插杆包括竖杆和水平杆，所述竖杆上设置刻度。
优选的，所述硬质盖板为玻璃板。
通过上述测量装置精确测量混凝土试件粗糙度的方法，包括以下步骤：
步骤1、将测量装置放在实验台上，通过旋拧伸缩杆的下杆将水平保持架调节水平；
步骤2、将试件放入水平保持架的中心且在竖直方向上与框架正对，向下按压硬质盖板的中部，使得硬质盖板和框架一起向下运动，直到硬质盖板底面触及试件最高点，然后通过定位螺钉对框架进行定位；
步骤3、取下硬质盖板，向框架内加入标准砂，然后沿框架上表面将多余标准砂刮下，并将水平保持架上清理干净；
步骤4、将量筒放在漏斗下方，升起框架，将试件上的标准砂通过漏斗收集在量筒中测量，通过计算得出灌沙平均深度。
优选的，步骤1中，可通过第一水平仪协助水平保持架调节水平。
优选的，步骤2中，硬质盖板底面触及试件最高点后，通过竖杆上设置刻度进一步对框架进行二次水平调节。
优选的，步骤2中，通过第二水平仪协助硬质盖板二次水平调节。
本发明的精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，在使用的时候，将测量装置放在实验台上，通过旋拧伸缩杆的下杆将水平保持架调节水平；将试件放入水平保持架的中心且在竖直方向上与框架正对，向下按压硬质盖板的中部，使得硬质盖板和框架一起向下运动，直到硬质盖板底面触及试件最高点，然后通过定位螺钉对框架进行定位；取下硬质盖板，向框架内加入标准砂，然后沿框架上表面将多余标准砂刮下，并将水平保持架上清理干净；将量筒放在漏斗下方，升起框架，将试件上的标准砂通过漏斗收集在量筒中测量，通过计算得出灌沙平均深度，由于试件的水平放置，以及与最高点平齐的通过框架约束的多余标准砂刮除方式，使得测量精度大大增加。
更进一步的，水平保持架的中部嵌设第一水平仪，使得调平变得简单高效。
更进一步的，硬质盖板的顶部具有第二水平仪，当硬质盖板底面触及试件最高点后，通过第二水平仪配合竖杆上设置的刻度对硬质盖板进行二次调平，防止硬质盖板因底部仅有一个支点容易发生的倾斜，进一步消除影响结果的因素，精度更高。
更进一步的，L形插杆包括竖杆和水平杆，所述竖杆上设置刻度，方便通过竖杆上设置刻度进一步对框架进行二次水平调节。
通过测量装置精确测量混凝土试件粗糙度的方法，很好的解决了当下测量结果与实际偏差大的问题。
附图说明
图1是本发明中精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置的结构示意图。
具体实施方式
实施例1
一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，如图1所示，包括四个可调节长度的伸缩杆、固设在伸缩杆上的漏斗3、固设在漏斗内的水平保持架4以及设于漏斗上的灌沙机构，伸缩杆包括下杆1以及与下杆旋设配合的上杆2，灌沙机构包括均匀分布在漏斗上的四个套管5、设于套管内的压簧（图中未显示）、插接在套管中的L形插杆、固定在L形插杆自由端的框架9以及盖设在框架上的硬质盖板12，硬质盖板的顶部具有第二水平仪13，本实施例中，框架为硬纸板围成的矩形框架，矩形框架顶部平齐，且与试件吻合插接配合，硬质盖板采用玻璃板（图中未显示），每个套管上均旋设与L形插杆定位配合的定位螺钉6，水平保持架为十字形保持架，水平保持架的中部嵌设第一水平仪10，本实施例为了方便安放试件，水平保持架的中部扩展成一个圆形放置区，L形插杆包括竖杆7和水平杆8，竖杆7上设置刻度，水平杆8连接框架。第一水平仪和第二水平仪可以为数字水平仪或者气泡水平仪，本实施例采用气泡水平仪。
实施例2
通过上述测量装置精确测量混凝土试件粗糙度的方法，如图1所示，包括以下步骤：
步骤1、将测量装置放在实验台上，通过旋拧伸缩杆的下杆1将水平保持架4调节水平；
步骤2、将试件放入水平保持架的中心且在竖直方向上与框架9正对，向下按压硬质盖板的中部，使得硬质盖板和框架一起向下运动，直到硬质盖板底面触及试件最高点，然后通过定位螺钉对框架进行定位；
步骤3、取下硬质盖板，向框架内加入标准砂，然后沿框架上表面将多余标准砂刮下，并将水平保持架上清理干净；
步骤4、将量筒11放在漏斗下方，升起框架，将试件上的标准砂通过漏斗收集在量筒中测量，通过计算得出灌沙平均深度。
步骤1中，可通过第一水平仪协助水平保持架调节水平，步骤2中，硬质盖板底面触及试件最高点后，通过竖杆上设置刻度以及第二水平仪进一步对框架进行二次水平调节。
本发明保证了试件的水平放置，以及与最高点平齐的通过框架约束的多余标准砂刮除方式，使得测量精度大大增加，水平保持架的中部嵌设第一水平仪，使得调平变得简单高效，L形插杆包括竖杆和水平杆，所述竖杆上设置刻度，方便通过竖杆上设置刻度进一步对框架进行二次水平调节，通过测量装置精确测量混凝土试件粗糙度的方法，很好的解决了当下测量结果与实际偏差大的问题。

Claims (10)

1.一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：包括至少三个可调节长度的伸缩杆、固设在伸缩杆上的漏斗、固设在漏斗内的水平保持架以及设于漏斗上的灌沙机构，所述灌沙机构包括均匀分布在漏斗上的四个套管、设于套管内的压簧、插接在套管中的L形插杆、固定在L形插杆自由端的框架以及盖设在框架上的硬质盖板，每个所述套管上均旋设与L形插杆定位配合的定位螺钉。
2.根据权利要求1所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：所述伸缩杆包括下杆以及与下杆旋设配合的上杆。
3.根据权利要求2所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：所述水平保持架为十字形保持架，所述水平保持架的中部嵌设第一水平仪。
4.根据权利要求3所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：所述硬质盖板的顶部具有第二水平仪。
5.根据权利要求1所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：所述L形插杆包括竖杆和水平杆，所述竖杆上设置刻度。
6.根据权利要求1所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：所述硬质盖板为玻璃板。
7.根据权利要求1-6任意一项所述测量装置精确测量混凝土试件粗糙度的方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1、将测量装置放在实验台上，通过旋拧伸缩杆的下杆将水平保持架调节水平；
步骤2、将试件放入水平保持架的中心且在竖直方向上与框架正对，向下按压硬质盖板的中部，使得硬质盖板和框架一起向下运动，直到硬质盖板底面触及试件最高点，然后通过定位螺钉对框架进行定位；
步骤3、取下硬质盖板，向框架内加入标准砂，然后沿框架上表面将多余标准砂刮下，并将水平保持架上清理干净；
步骤4、将量筒放在漏斗下方，升起框架，将试件上的标准砂通过漏斗收集在量筒中测量，通过计算得出灌沙平均深度。
8.根据权利要求7所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：步骤1中，可通过第一水平仪协助水平保持架调节水平。
9.根据权利要求7所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：步骤2中，硬质盖板底面触及试件最高点后，通过竖杆上设置刻度进一步对框架进行二次水平调节。
10.根据权利要求7所述的一种精确测量混凝土试件粗糙度的测量装置，其特征在于：步骤2中，通过第二水平仪协助硬质盖板二次水平调节。
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