CN114686848B - 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法 - Google Patents

半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN114686848B
CN114686848B CN202011588028.3A CN202011588028A CN114686848B CN 114686848 B CN114686848 B CN 114686848B CN 202011588028 A CN202011588028 A CN 202011588028A CN 114686848 B CN114686848 B CN 114686848B
Authority
CN
China
Prior art keywords
corrosion
resistant coating
carbon
rare earth
semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011588028.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN114686848A (zh
Inventor
孙祥
段蛟
陈星建
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advanced Micro Fabrication Equipment Inc Shanghai
Original Assignee
Advanced Micro Fabrication Equipment Inc Shanghai
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Micro Fabrication Equipment Inc Shanghai filed Critical Advanced Micro Fabrication Equipment Inc Shanghai
Priority to CN202011588028.3A priority Critical patent/CN114686848B/zh
Publication of CN114686848A publication Critical patent/CN114686848A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114686848B publication Critical patent/CN114686848B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4401Means for minimising impurities, e.g. dust, moisture or residual gas, in the reaction chamber
    • C23C16/4404Coatings or surface treatment on the inside of the reaction chamber or on parts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/26Deposition of carbon only
    • C23C16/27Diamond only
    • C23C16/278Diamond only doping or introduction of a secondary phase in the diamond
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32458Vessel
    • H01J37/32477Vessel characterised by the means for protecting vessels or internal parts, e.g. coatings
    • H01J37/32495Means for protecting the vessel against plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67155Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations
    • H01L21/6719Apparatus for manufacturing or treating in a plurality of work-stations characterized by the construction of the processing chambers, e.g. modular processing chambers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

一种半导体零部件、半导体处理装置及耐腐蚀涂层的形成方法,其中,半导体零部件包括:零部件本体;耐腐蚀涂层,位于所述零部件本体的表面,其为稀土金属掺杂类金刚石涂层。所述半导体零部件的耐腐蚀性能较好。

Description

半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法
技术领域
本发明涉及半导体领域,尤其涉及一种半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法。
背景技术
铝材因其具有良好的传导特性、易于制造以及可以以合理的价格得到的特点,因而广泛用作半导体处理装置中半导体零部件的制造材料。然而,铝材本身易于和氯气等腐蚀气体反应,引起等半导体处理装置零部件自身的腐蚀,并成为反应腔内颗粒污染物源。
因此,迫切需要寻求一种耐腐蚀涂层以保护零部件本体免受损伤。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供了一种半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法,以保护零部件本体免受损伤。
为解决上述技术问题,本发明提供一种半导体零部件,包括:零部件本体;耐腐蚀涂层,位于所述零部件本体的表面,其为稀土金属掺杂类金刚石涂层。
可选的,所述耐腐蚀涂层中包括sp3碳和sp2碳,且sp3碳与sp2碳的比例为:1:5~1:1。
可选的,sp3碳与sp2碳的比例为:1:3~1:1。
可选的,所述耐腐蚀涂层中稀土元素包括:镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥或钇中的至少一种。
可选的,所述耐腐蚀涂层中稀土元素的原子百分比为:0.8%~10%。
可选的,所述耐腐蚀涂层的厚度为:0.1微米~50微米。
可选的,所述耐腐蚀涂层为非晶结构。
相应的,本发明还提供一种半导体处理装置,包括:反应腔;上述的半导体零部件,位于所述反应腔内。
可选的,所述半导体处理装置为等离子体刻蚀装置或化学气相沉积装置。
可选的,所述半导体处理装置包括:反应腔,其侧壁设置基片传输口;基片进出门板,用于密封所述基片传输口;所述半导体零部件为所述基片进出门板,所述耐腐蚀涂层朝向所述反应腔的内部。
可选的,所述半导体处理装置包括:气体输送管道,用于向反应腔内输送反应气体;真空泵,用于使反应腔内为真空环境;控制阀,用于控制所述基片进出门板密封或者打开所述基片传输口;所述半导体零部件为气体输送管道、泵和控制阀中的一种或者多种。
相应的,本发明还提供一种在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的方法,包括:提供零部件本体;在所述零部件本体的表面形成上述的耐腐蚀涂层,所述耐腐蚀涂层为稀土金属掺杂类金刚石涂层。
可选的,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材和金刚石靶材;利用第一激发装置激发出稀土元素中的稀土元素;利用所述第二激发装置激发出金刚石靶材中的sp3碳,并通入氩气形成氩等离子体,所述氩等离子轰击部分sp3碳形成sp2碳,所述稀土元素掺杂在sp3碳和sp2碳中形成所述耐腐蚀涂层。
可选的,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材;通过磁控溅射源溅射出所述稀土元素靶材中的稀土元素;向离子束源内通入CH4和C2H2气体,气体流量为:50标准毫升/分~80标准毫升/分,离子束源功率为400瓦~800瓦,电流为1安~2安;向磁控溅射源通入氩气,流量为50标准毫升/分~100标准毫升/分。
与现有技术相比,本发明实施例的技术方案具有以下有益效果:
本发明技术方案提供的半导体零部件中,所述零部件本体的表面设有耐腐蚀涂层,所述耐腐蚀涂层为稀土金属掺杂类金刚石涂层,所述类金刚石具有较好的耐腐蚀性能,因此,能够保护零部件本体免受腐蚀。另外,所述零部件本体的材料通常为金属材料,而所述耐腐蚀涂层中含有稀土元素,使所述耐腐蚀涂层内具有较低的内应力,因此,有利于提高耐腐蚀涂层与零部件本体之间的结合力,且无需额外增加过渡层来提高与零部件本体的结合力,而是直接在零部件本体的表面形成所述耐腐蚀涂层。由于所述耐腐蚀涂层与零部件本体之间的结合力较强,因此,有利于防止耐腐蚀涂层与零部件本体之间的结合力不够而发生脱落。
进一步的,所述耐腐蚀涂层中的类金刚石包括sp3碳和sp2碳,sp2碳使耐腐蚀涂层较为柔软,sp3碳使耐腐蚀涂层耐腐蚀性较好,且sp3碳与sp2碳的比例为:1:5~1:1,使得耐腐蚀涂层不仅具有较好的耐腐蚀性能,还具有较好的耐磨性能,有利于降低因运动带来的颗粒污染问题。
进一步,由于所述耐腐蚀涂层中掺杂有稀土金属,且稀土金属的含量较少,使耐腐蚀涂层具有较弱的导电性和较大的绝缘性,所述较小的导电性有利于导走半导体零部件尖端区域的电流,从而防止发生电弧放电。
附图说明
图1为本发明一种半导体处理装置的结构示意图;
图2为本发明半导体零部件的结构示意图;
图3为本发明不具有耐腐蚀涂层和具有耐腐蚀涂层的半导体零部件的耐腐蚀性的对比图;
图4为本发明在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的工艺流程图。
具体实施方式
正如背景技术所述,迫切需要在零部件本体的表面制备一种性能优异的耐腐蚀涂层以提高对零部件本体的保护作用,为此,本发明致力于提供一种半导体零部件、半导体处理装置及在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的方法,以下进行详细说明:
图1为本发明一种半导体处理装置的结构示意图。
请参考图1,半导体处理装置1包括:反应腔10;半导体零部件,位于所述反应腔10内。
所述半导体处理装置为等离子体刻蚀装置或化学气相沉积装置。所述反应腔10的侧壁设有基片传输口13,所述基片传输口13用于实现基片的进出,当所述基片被传进反应腔10内,在所述反应腔10内进行工艺处理,当基片被处理完毕时,再经基片传输口13传出反应腔10。所述半导体处理装置1还包括:基片进出门板11,在对基片进行工艺处理的过程中,所述基片进出门板11密封所述基片传输口。
另外,所述半导体处理装置还包括:气体输送管道12,所述气体输送管道12用于向反应腔10内输送反应气体,所述反应气体用于对基片的表面进行处理;真空泵15,用于使反应腔10内为真空环境;控制阀14,用于控制基片进出门板11密封或者打开所述基片传输口13。
由于在所述工艺处理过程中所用的反应气体为腐蚀性气体,所述腐蚀性气体易接触基片进出门板11、气体输送管道12、控制阀14和真空泵15等半导体零部件,易对它们造成腐蚀,为了保护这些半导体部件,迫切需要在其表面形成耐腐蚀涂层。
以下对半导体零部件进行详细说明:
请参考图2,半导体零部件包括:零部件本体20;耐腐蚀涂层21,位于所述零部件本体20的表面,其为稀土金属掺杂类金刚石涂层。
所述零部件本体20的材料包括:铝合金或不锈钢。
所述零部件本体20的表面设有耐腐蚀涂层21,所述耐腐蚀涂层21为稀土金属掺杂类金刚石涂层,所述类金刚石具有较好的耐腐蚀性能,因此,能够保护零部件本体免受腐蚀。
图3为本发明具有耐腐蚀涂层和不具有耐腐蚀涂层的半导体零部件的耐腐蚀性的对比图。
请参考图3,左图为不具有耐腐蚀涂层的半导体零部件,其呈现出腐蚀开裂状态;右图为具有耐腐蚀涂层的半导体零部件表面完整无明显裂纹。
从图3中可以看出具有耐腐蚀涂层的半导体零部件表面具有较好的耐腐蚀性能。
所述耐腐蚀涂层21中稀土元素包括:镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥或钇中的至少一种。所述耐腐蚀涂层21中稀土元素的原子百分比为:0.8~10%。选择所述耐腐蚀涂层21中稀土元素的原子百分比的意义在于:若所述稀土元素的原子百分比过小,所述耐腐蚀涂层21与零部件本体20的结合力不够,使耐腐蚀涂层21易与零部件本体20之间发生分离;若所述耐腐蚀涂层21中稀土元素的原子百分比过大,则会影响sp3和sp2杂化碳的比例,破坏类金刚石涂层的稳定性。所述sp3碳是指sp3杂化轨道,具体的指:同一原子内由1个ns轨道和3个np轨道参与的杂化称为sp3杂化,所形成的4个杂化轨道称sp3杂化轨道;所述sp2碳是指sp2杂化轨道,具体的指:同一原子内由1个ns轨道和2个np轨道参与的杂化称为sp2杂化,所形成的3个杂化轨道称为sp2杂化轨道。
在本实施例中,所述耐腐蚀涂层201的厚度为:0.1微米~50微米。选择所述耐腐蚀涂层201厚度的意义在于:若所述耐腐蚀涂层201的厚度小于0.1微米,则所述耐腐蚀涂层201对零部件的保护作用不够,使零部件本体仍易受到损伤;若所述耐腐蚀涂层201的厚度大于50微米,则所述耐腐蚀涂层501内残留的应力过大,使耐腐蚀涂层501易发生开裂,不利于提高耐腐蚀涂层对零部件本体的保护作用。
并且,所述零部件本体20的材料通常为金属材料,而所述耐腐蚀涂层21中含有稀土元素,使所述耐腐蚀涂层21内具有较低的内应力,因此,有利于提高耐腐蚀涂层21与零部件本体20之间的结合力,且无需额外增加过渡层来提高与零部件本体20的结合力,而是直接在零部件本体20的表面形成所述耐腐蚀涂层21。由于所述耐腐蚀涂层21与零部件本体20之间的结合力较强,因此,有利于防止耐腐蚀涂层21与零部件本体20之间的结合力不够而发生脱落。
另外,所述耐腐蚀涂层201为非晶结构,所述耐腐蚀涂层201中的类金刚石包括sp3碳和sp2碳,SP2碳使耐腐蚀涂层201较为柔软,sp3碳使耐腐蚀涂层201耐腐蚀性较好,在一种实施例中,sp3碳与sp2碳的原子比例为:1:5~1:1,使得耐腐蚀涂层201不仅具有较好的耐腐蚀性能,还具有较好的耐磨性能,使得在基片进出门板11、真空泵15和阀14的表面形成所述耐腐蚀涂层201,将使得所述使得在基片进出门板11、真空泵15和阀14不仅能够耐等离子体腐蚀,还能够在移动的过程中具有较好的耐摩擦性能,因此,还有利于降低因运动带来的颗粒污染问题。实际上,半导体零部件不限于所述使得在基片进出门板11、真空泵15和阀14,只要其应用环境中具有腐蚀性,且在工作的过程中需要相对移动产生摩擦的表面,则可在所述半导体零部件本体的表面形成所述耐腐蚀涂层201,所述耐腐蚀涂层201的材料为其为稀土金属掺杂类金刚石涂层,所述稀土金属掺杂类金刚石涂层包括:sp2碳,sp2碳质地较软,具有较好的耐摩擦性能。
在另一种实施例中,sp3碳与sp2碳的原子比例为:1:3~1:1,使得耐腐蚀涂层201的耐腐蚀性能更好,还具有更好的耐磨性能,使得在基片进出门板11、真空泵15和阀14的表面形成所述耐腐蚀涂层201,将使得所述使得在基片进出门板11、真空泵15和阀14不仅能够耐等离子体腐蚀,还能够在移动的过程中具有较好的耐摩擦性能,因此,还有利于降低因运动带来的颗粒污染问题。
并且,以所述气体输送管道12为例,若所述气体输送管道12的表面不设置耐腐蚀涂层201,由于是管道与反应腔体的过渡区域,气体输送管道12的尖端区域A易发生电弧放电。但是,当所述气体输送管道12的表面设有耐腐蚀涂层201之后,由于所述耐腐蚀涂层201中掺杂有稀土金属,且稀土金属的含量较少,使耐腐蚀涂层201具有较弱的导电性和较大的绝缘性,所述较小的导电性有利于导走气体输送管道12尖端区域A的电流,从而防止发生电弧放电。
以下对所述耐腐蚀涂层201的形成方法进行详细说明:
图4为本发明在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的工艺流程图。
请参考图4,步骤S1:提供零部件本体:步骤S2:在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层,所述耐腐蚀涂层为稀土金属掺杂类金刚石涂层。
在一种实施例中,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材和金刚石靶材;利用第一激发装置激发出稀土元素中的稀土元素;利用所述第二激发装置激发出金刚石靶材中的sp3碳,并通入氩气形成氩等离子体,所述氩等离子轰击部分sp3碳形成sp2碳,所述稀土元素掺杂在sp3碳和sp2碳中形成所述耐腐蚀涂层。
在另一种实施例中,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材;通过磁控溅射源溅射出所述稀土元素靶材中的稀土元素;向离子束源内通入CH4和C2H2气体,气体流量为50标准毫升/分~80标准毫升/分,离子束源功率为400瓦~800瓦,电流为1安~2安;向磁控溅射源通入氩气,流量为50标准毫升/分~100标准毫升/分。
通过上述方法在所述零部件本体的表面形成的耐腐蚀涂层为稀土金属掺杂类金刚石涂层,所述类金刚石具有较好的耐腐蚀性能,因此,能够保护零部件本体免受腐蚀。另外,所述零部件本体的材料通常为金属材料,而所述耐腐蚀涂层中含有稀土元素,有利于提高耐腐蚀涂层与零部件本体之间的结合力,防止耐腐蚀涂层与零部件本体之间的结合力不够而发生脱落。
虽然本发明披露如上,但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员,在不脱离。本发明的精神和范围内,均可作各种更动与修改,因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (13)

1.一种半导体零部件,其特征在于,包括:
零部件本体;
耐腐蚀涂层,位于所述零部件本体的表面,其为稀土金属掺杂类金刚石涂层,
所述耐腐蚀涂层中包括sp3碳和sp2碳,且sp3碳与sp2碳的比例为:1:5~1:1。
2.如权利要求1所述的半导体零部件,其特征在于,sp3碳与sp2碳原子的比例为:1:3~1:1。
3.如权利要求1所述的半导体零部件,其特征在于,所述耐腐蚀涂层中稀土元素包括:镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥或钇中的至少一种。
4.如权利要求1所述的半导体零部件,其特征在于,所述耐腐蚀涂层中稀土元素的原子百分比为:0.8%~10%。
5.如权利要求1所述的半导体零部件,其特征在于,所述耐腐蚀涂层的厚度为:0.1微米~50微米。
6.如权利要求1所述的半导体零部件,其特征在于,所述耐腐蚀涂层为非晶结构。
7.一种半导体处理装置,其特征在于,包括:
反应腔;
如权利要求1至权利要求6任一项所述的半导体零部件,位于所述反应腔内。
8.如权利要求7所述的半导体处理装置,其特征在于,所述半导体处理装置为等离子体刻蚀装置或化学气相沉积装置。
9.如权利要求8所述的半导体处理装置,其特征在于,所述半导体处理装置包括:反应腔,其侧壁设置基片传输口;基片进出门板,用于密封所述基片传输口;所述半导体零部件为所述基片进出门板,所述耐腐蚀涂层朝向所述反应腔的内部。
10.如权利要求8所述的半导体处理装置,其特征在于,所述半导体处理装置包括:反应腔,其侧壁设置基片传输口;基片进出门板,用于密封所述基片传输口;气体输送管道,用于向反应腔内输送反应气体;真空泵,用于使反应腔内为真空环境;控制阀,用于控制所述基片进出门板密封或者打开所述基片传输口;所述半导体零部件为气体输送管道、泵和控制阀中的一种或者多种。
11.一种在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的方法,其特征在于,包括:
提供零部件本体;
在所述零部件本体的表面形成如权利要求1至权利要求6任一项所述的耐腐蚀涂层,所述耐腐蚀涂层为稀土金属掺杂类金刚石涂层。
12.如权利要求11所述的在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的方法,其特征在于,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材和金刚石靶材;利用第一激发装置激发出稀土元素中的稀土元素;利用第二激发装置激发出金刚石靶材中的sp3碳,并通入氩气形成氩等离子体,所述氩等离子体轰击部分sp3碳形成sp2碳,所述稀土元素掺杂在sp3碳和sp2碳中形成所述耐腐蚀涂层。
13.如权利要求11所述的在零部件本体的表面形成耐腐蚀涂层的方法,其特征在于,所述耐腐蚀涂层的形成方法包括:提供稀土元素靶材;通过磁控溅射源溅射出所述稀土元素靶材中的稀土元素;向离子束源内通入CH4和C2H2气体,气体流量为:50标准毫升/分~80标准毫升/分,离子束源功率为400瓦~800瓦,电流为1安~2安;向磁控溅射源通入氩气,流量为50标准毫升/分~100标准毫升/分。
CN202011588028.3A 2020-12-29 2020-12-29 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法 Active CN114686848B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011588028.3A CN114686848B (zh) 2020-12-29 2020-12-29 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011588028.3A CN114686848B (zh) 2020-12-29 2020-12-29 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114686848A CN114686848A (zh) 2022-07-01
CN114686848B true CN114686848B (zh) 2024-05-14

Family

ID=82129380

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011588028.3A Active CN114686848B (zh) 2020-12-29 2020-12-29 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114686848B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06183710A (ja) * 1991-09-05 1994-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 炭素系化合物素子
US5643343A (en) * 1993-11-23 1997-07-01 Selifanov; Oleg Vladimirovich Abrasive material for precision surface treatment and a method for the manufacturing thereof
WO1997048836A1 (en) * 1996-06-17 1997-12-24 Dorfman Benjamin F Hard graphite-like material bonded by diamond-like framework
US5952060A (en) * 1996-06-14 1999-09-14 Applied Materials, Inc. Use of carbon-based films in extending the lifetime of substrate processing system components
CN1488009A (zh) * 2000-12-29 2004-04-07 ��ķ�о����޹�˾ 反应器壁上的金刚石涂层及其制造方法
CN1962927A (zh) * 2005-11-08 2007-05-16 中国科学院金属研究所 一种金属材料防护方法之三
JP2007162470A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Nissan Motor Co Ltd 硬質炭素被膜摺動部材

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10230395A1 (de) * 2002-07-05 2004-01-15 General Motors Corp., Detroit Leitfähiges Bauteil für elektrochemische Zellen sowie Verfahren zur Herstellung eines solchen Bauteils

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06183710A (ja) * 1991-09-05 1994-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 炭素系化合物素子
US5643343A (en) * 1993-11-23 1997-07-01 Selifanov; Oleg Vladimirovich Abrasive material for precision surface treatment and a method for the manufacturing thereof
US5952060A (en) * 1996-06-14 1999-09-14 Applied Materials, Inc. Use of carbon-based films in extending the lifetime of substrate processing system components
WO1997048836A1 (en) * 1996-06-17 1997-12-24 Dorfman Benjamin F Hard graphite-like material bonded by diamond-like framework
CN1488009A (zh) * 2000-12-29 2004-04-07 ��ķ�о����޹�˾ 反应器壁上的金刚石涂层及其制造方法
CN1962927A (zh) * 2005-11-08 2007-05-16 中国科学院金属研究所 一种金属材料防护方法之三
JP2007162470A (ja) * 2005-12-09 2007-06-28 Nissan Motor Co Ltd 硬質炭素被膜摺動部材

Also Published As

Publication number Publication date
CN114686848A (zh) 2022-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI328411B (en) Productivity enhancing thermal sprayed yttria-containing coating for plasma reactor
US7732056B2 (en) Corrosion-resistant aluminum component having multi-layer coating
US20030029563A1 (en) Corrosion resistant coating for semiconductor processing chamber
KR101787139B1 (ko) 가스 전달 시스템의 코팅 방법
US20060054184A1 (en) Plasma treatment for purifying copper or nickel
US20070215278A1 (en) Plasma etching apparatus and method for forming inner wall of plasma processing chamber
KR20070089772A (ko) 처리 장치
CN1620522A (zh) 具有覆盖钇铝层的部件的处理腔
CN1906026A (zh) 半导体材料加工设备中的氧化钇涂覆的陶瓷部件及该部件的制造方法
US8936702B2 (en) System and method for sputtering a tensile silicon nitride film
JP4563966B2 (ja) 半導体加工装置用部材およびその製造方法
TW504772B (en) Plasma deposition method and system
CN111441017A (zh) 一种制备钕铁硼磁体表面防腐涂层的方法
JP4512603B2 (ja) 耐ハロゲンガス性の半導体加工装置用部材
CN114686848B (zh) 半导体零部件、半导体处理装置及形成耐腐蚀涂层的方法
JP4728306B2 (ja) 静電チャック部材およびその製造方法
JP2006052435A (ja) 半導体加工装置用部材及びその製造方法
CN102400091B (zh) 铝合金的表面处理方法及由铝合金制得的壳体
KR20230068373A (ko) 내 플라즈마 코팅을 형성하는 방법, 장치, 부품 및 플라즈마 처리 장치
CN111304596A (zh) 一种钕铁硼磁体表面防腐涂层的制备方法
JP2011047052A (ja) 半導体加工装置用部材の製造方法
CN1294754A (zh) 处理绝缘层的方法
CN113594013B (zh) 零部件、其形成涂层的方法及装置和等离子体反应装置
JP3500266B2 (ja) 半導体製造プロセス用部材
JP5614873B2 (ja) 半導体加工装置用部材およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant