CN114641370B - 基板处理方法和基板处理装置 - Google Patents

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Abstract

一种基板处理方法，其针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，在基板处理装置中对进行了粗磨削的所述第1基板进行精磨削处理，其中，在所述基板处理装置中连续地处理多个重合基板，该基板处理方法包括以下步骤：测量一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布；测量另一重合基板的精磨削前的第1基板的另一厚度分布；基于所述一厚度分布和所述另一厚度分布之间的第1差值数据，确定保持所述另一重合基板的基板保持部和对所述重合基板进行精磨削的磨削部之间的相对的倾斜度；以及在以所确定的所述倾斜度保持着所述另一重合基板的状态下，对所述另一重合基板的第1基板进行精磨削。

Description

基板处理方法和基板处理装置
技术领域
本公开涉及基板处理方法和基板处理装置。
背景技术
在专利文献1中，针对将第1板状工件和第2板状工件粘贴而形成的板状工件，公开有一种磨削方法，其包括以下工序：在保持于保持台的第1板状工件的至少三处测量位置测量厚度；根据测量到的厚度调整第1板状工件的平行度；以及在平行度的调整后磨削第2板状工件。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2014-226749号公报
发明内容
发明要解决的问题
本公开的技术在于，针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，适当地提高第1基板的平坦度。
用于解决问题的方案
本公开的一技术方案是一种基板处理方法，其针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，在基板处理装置中对进行了粗磨削的所述第1基板进行精磨削处理，其中，在所述基板处理装置中连续地处理多个重合基板，该基板处理方法包括以下步骤：测量一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布；测量另一重合基板的精磨削前的第1基板的另一厚度分布；基于所述一厚度分布和所述另一厚度分布之间的第1差值数据，确定保持所述另一重合基板的基板保持部和对所述重合基板进行精磨削的磨削部之间的相对的倾斜度；以及在以所确定的所述倾斜度保持着所述另一重合基板的状态下，对所述另一重合基板的第1基板进行精磨削。
发明的效果
根据本公开，针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，能够适当地提高第1基板的平坦度。
附图说明
图1是示意性地表示以往的第1晶圆的TTV劣化的情形的说明图。
图2是表示重合晶圆的结构的一例的说明图。
图3是示意性地表示加工装置的结构的一例的俯视图。
图4是表示旋转台的结构的概略的俯视图。
图5是表示各磨削单元的结构的概略的侧视图。
图6是表示加工处理的主要的工序的一例的说明图。
图7是示意性地表示第1晶圆的TTV劣化的情形的说明图。
具体实施方式
近年来，在半导体器件的制造工序中，对于将在表面形成有多个电子电路等器件的半导体基板(以下，称为“第1基板”)和第2基板接合而成的重合基板，磨削该第1基板的背面而进行薄化。
该第1基板的薄化通过在利用基板保持部保持着第2基板的背面的状态下使磨削磨石抵接于第1基板的背面并进行磨削来进行。然而，在像这样进行第1基板的磨削的情况下，若利用基板保持部保持着的第2基板的径向上的厚度分布不均匀，则磨削后的第1基板的平坦度(TTV：Total Thickness Variation)有可能劣化。具体地说，如图1所示，在重合基板T的面内，在第2基板S的厚度较小的部分，第1基板W的厚度变大，在第2基板S的厚度较大的部分，第1基板W的厚度变小。
上述的专利文献1所记载的磨削方法是如下这样的磨削方法：用于检测该第2基板(第1板状工件)的厚度的不均匀，调整基板保持部(保持台)的倾斜，从而将第1基板(第2板状工件)磨削为均匀的厚度。在专利文献1所记载的磨削方法中，利用从设于重合基板(板状工件)的上方的非接触式的厚度测量部件发射的测量光，直接计算第2基板(第1板状工件)的厚度。另外，测量光穿过第1基板(第2板状工件)。
然而，例如，如上所述，在第1基板的表面形成有器件的情况下、即在作为金属膜的器件层介于第1基板和第2基板之间的情况下，无法适当地计算包含该金属膜的第2基板的厚度。具体地说，由于测量光(例如IR光)无法穿过作为金属膜的器件层，因此，无论从第1基板侧或第2基板侧的哪一者，都无法适当地测量包含金属膜的第2基板的厚度。而且，如此，由于无法适当地测量包含金属膜的第2基板的厚度分布，因此，无法适当地计算与第1基板抵接的磨削磨石的倾斜度、即磨削量，难以提高磨削后的第1基板的平坦度。因而，以往的用于使第1基板成为均匀的厚度的磨削方法存在改善的余地。
因此，本公开的技术在于，针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，适当地提高第1基板的平坦度。以下，参照附图对本实施方式的作为基板处理装置的加工装置和作为基板处理方法的加工方法进行说明。另外，在本说明书和附图中，对于实质上具有相同的功能结构的要素标注相同的附图标记，从而省略重复说明。
在本实施方式的后述的加工装置1中，如图2所示，对将作为第1基板的第1晶圆W和作为第2基板的第2晶圆S接合而成的作为重合基板的重合晶圆T进行处理。而且，在加工装置1中，对该第1晶圆W进行薄化。以下，在第1晶圆W中，将与第2晶圆S接合的一侧的面称为表面Wa，将与表面Wa相反的一侧的面称为背面Wb。同样地，在第2晶圆S中，将与第1晶圆W接合的一侧的面称为表面Sa，将与表面Sa相反的一侧的面称为背面Sb。
第1晶圆W例如是硅基板等半导体晶圆，在表面Wa形成有包含多个器件的器件层D。在器件层D还形成有表面膜F，借助该表面膜F与第2晶圆S接合。作为表面膜F，例如可列举氧化膜(SiO2膜、TEOS膜)、SiC膜、SiCN膜或粘接剂等。另外，预先去除第1晶圆W的周缘部，以抑制由于加工装置1的磨削处理而在该周缘部形成尖锐的形状(所谓的刀口形状)。周缘部例如是在径向上距第1晶圆W的外端部为0.5mm～3mm的范围。
第2晶圆S例如具有与第1晶圆W同样的结构，在表面Sa形成有器件层D和表面膜F。此外，第2晶圆S的周缘部进行了倒角加工，周缘部的截面朝向其前端而厚度变小。另外，第2晶圆S不需要是形成有器件层D的器件晶圆，例如也可以是用于支承第1晶圆W的支承晶圆。在该情况下，第2晶圆S作为保护第1晶圆W的表面Wa的器件层D的保护构件发挥功能。
另外，在以下的说明中，为了避免图示的烦杂，有时将器件层D和表面膜F合并地示出，将器件层和表面膜标注为“DF”。
如图3所示，加工装置1具有将送入送出站2和处理站3连接为一体的结构。送入送出站2例如在与外部之间送入送出能够容纳多个重合晶圆T的盒Ct。处理站3包括对重合晶圆T实施期望的处理的各种处理装置。
在送入送出站2设有盒载置台10。在图示的例子中，在盒载置台10，将多个、例如四个盒Ct在X轴方向上自由地载置成一列。另外，在盒载置台10载置的盒Ct的个数不限定于本实施方式，能够任意地确定。
在送入送出站2，在盒载置台10的Y轴正方向侧，与该盒载置台10相邻地设有晶圆输送区域20。在晶圆输送区域20设有构成为在沿X轴方向延伸的输送路径21上移动自如的晶圆输送装置22。晶圆输送装置22具有保持并输送重合晶圆T的输送叉23。输送叉23的前端分支为两支，用于吸附保持重合晶圆T。输送叉23例如输送磨削处理前后的重合晶圆T。而且，输送叉23构成为在水平方向上、在铅垂方向上、绕水平轴线以及绕铅垂轴线移动自如。
另外，晶圆输送装置22的结构不限定于本实施方式，能够采取任意的结构。例如，晶圆输送装置22也可以具备分别输送磨削处理前、磨削处理后的重合晶圆T的两个输送叉23。
在处理站3，对重合晶圆T进行磨削、清洗等加工处理。处理站3具有旋转台30、输送单元40、对准单元50、第1清洗单元60、第2清洗单元70、粗磨削单元80、中磨削单元90以及作为精磨削部的精磨削单元100。
旋转台30构成为利用旋转机构(未图示)旋转自如。在旋转台30上设有四个吸附保持重合晶圆T的作为基板保持部的卡盘31。卡盘31在与旋转台30相同的圆周上均等地、即每隔90度地配置。通过旋转台30旋转，四个卡盘31能够向交接位置A0和加工位置A1～A3移动。此外，四个卡盘31分别构成为能够利用旋转机构(未图示)绕铅垂轴线旋转。
如图3所示，在本实施方式中，交接位置A0是旋转台30的X轴正方向侧且Y轴负方向侧的位置，在交接位置A0的Y轴负方向侧配置有第2清洗单元70、对准单元50以及第1清洗单元60。对准单元50和第1清洗单元60从上方起按照该顺序层叠地配置。第1加工位置A1是旋转台30的X轴正方向侧且Y轴正方向侧的位置，配置有粗磨削单元80。第2加工位置A2是旋转台30的X轴负方向侧且Y轴正方向侧的位置，配置有中磨削单元90。第3加工位置A3是旋转台30的X轴负方向侧且Y轴负方向侧的位置，配置有精磨削单元100。
卡盘31例如使用多孔卡盘。卡盘31对形成重合晶圆T的第2晶圆S的背面Sb进行吸附保持。卡盘31的表面、即重合晶圆T的保持面在侧视时具有其中央部比端部突出的凸形状。另外，由于该中央部的突出是微小的，因此，在以下的说明中，省略卡盘31的凸形状的图示。
卡盘31保持于卡盘基座32。在以下的说明中，如图4所示，有时将位于加工位置A1～A3和交接位置A0的四个卡盘基座分别称为第1卡盘基座321、第2卡盘基座322、第3卡盘基座323、第4卡盘基座324。卡盘基座321～324分别保持卡盘311～314。
如图5所示，在卡盘基座32设有对卡盘31和卡盘基座32的相对于水平方向的倾斜度进行调整的倾斜调整部33。倾斜调整部33具有在卡盘基座32的下表面设置的固定轴34和多个升降轴35。各升降轴35构成为伸缩自如，用于使卡盘基座32升降。利用该倾斜调整部33，以卡盘基座32的外周部的一端部(与固定轴34相对应的位置)为基点，利用升降轴35使另一端部在铅垂方向上升降，从而能够使卡盘31和卡盘基座32倾斜。于是，由此，能够调整作为磨削面的第1晶圆W的背面Wb相对于加工位置A1～A3的各种磨削单元所具备的磨削磨石的倾斜度。
另外，倾斜调整部33的结构不限定于此，只要能够调节第1晶圆W相对于磨削磨石的相对的角度(平行度)即可，能够任意地选择。
如图3所示，输送单元40是具备多个、例如三个臂41的多关节型的机器人。三个臂41分别构成为回转自如。在前端的臂41安装有吸附保持重合晶圆T的输送盘42。此外，基端的臂41安装于使臂41在铅垂方向上升降的升降机构43。于是，具备该结构的输送单元40能够相对于交接位置A0、对准单元50、第1清洗单元60以及第2清洗单元70输送重合晶圆T。
在对准单元50，调节磨削处理前的重合晶圆T的水平方向上的朝向。例如，一边使保持于旋转卡盘(未图示)的重合晶圆T旋转，一边利用检测部(未图示)检测第1晶圆W的凹口部的位置，从而调节该凹口部的位置来调节重合晶圆T的水平方向上的朝向。
在第1清洗单元60，对磨削处理后的第1晶圆W的背面Wb进行清洗、更具体为旋转清洗。例如，一边使保持于旋转卡盘(未图示)的重合晶圆T旋转，一边从清洗液喷嘴(未图示)向第1晶圆W的背面Wb供给清洗液。于是，所供给的清洗液在背面Wb上扩散，清洗该背面Wb。
在第2清洗单元70，对在磨削处理后的重合晶圆T保持于输送盘42的状态下的第2晶圆S的背面Sb进行清洗，并且对输送盘42进行清洗。
在粗磨削单元80，对第1晶圆W的背面Wb进行粗磨削。粗磨削单元80具有粗磨削部81。如图5所示，粗磨削部81具有粗磨削轮82、安装件83、主轴84以及驱动部85。粗磨削轮82在下表面具备粗磨削磨石，具有环状形状。粗磨削轮82支承于安装件83。在安装件83隔着主轴84设有驱动部85。驱动部85例如内置有马达(未图示)，使粗磨削轮82旋转，并且使其沿着图3所示的支柱86在铅垂方向上移动。于是，在粗磨削单元80，在使保持于卡盘31的重合晶圆T的第1晶圆W和粗磨削轮82的圆弧的局部抵接着的状态下，分别使卡盘31和粗磨削轮82旋转，从而对第1晶圆W的背面Wb进行粗磨削。
在中磨削单元90，对第1晶圆W的背面Wb进行中磨削。如图3和图5所示，中磨削单元90的结构与粗磨削单元80的结构大致同样，具有中磨削部91、中粗磨削轮92、安装件93、主轴94、驱动部95以及支柱96。另外，中磨削磨石的磨粒的粒度小于粗磨削磨石的磨粒的粒度。
在精磨削单元100，对第1晶圆W的背面Wb进行精磨削。如图3和图5所示，精磨削单元100的结构与粗磨削单元80以及中磨削单元90的结构大致同样，具有精磨削部101、精磨削轮102、安装件103、主轴104、驱动部105以及支柱106。另外，精磨削磨石的磨粒的粒度小于中磨削磨石的磨粒的粒度。
此外，在处理站3分别设有对中磨削结束后的第1晶圆W的厚度和精磨削结束后的第1晶圆W的厚度分别进行测量的厚度测量部110、120。厚度测量部110例如设于加工位置A2或加工位置A3。厚度测量部120例如设于加工位置A3或交接位置A0。此外，在加工位置A1～A3设有用于分别进行加工位置中的各种磨削处理的终点检测的厚度测量机构(未图示)。当利用该厚度测量机构测量的第1晶圆W的厚度达到目标厚度时，使旋转台30旋转而使第1晶圆W移动。另外，也可以是，在加工位置A2、A3，使用上述的厚度测量部110、120作为用于进行终点检测的该厚度测量机构。
如图4所示，作为第1厚度分布测量部的厚度测量部110具有传感器111和运算部112。传感器111例如是非接触式的传感器，测量精磨削前的第1晶圆W的厚度。传感器111在第1晶圆W测量多个点的厚度。传感器111的测量结果向运算部112输出。在运算部112，根据传感器111的多个点的测量结果(第1晶圆W的厚度)，获取第1晶圆W的厚度分布。此时，还能够进一步计算第1晶圆W的TTV数据。另外，由厚度测量部110测量的第1晶圆W的厚度是第1晶圆W中的硅部分的厚度，不包括器件层D和表面膜F的厚度。
如图4所示，作为第2厚度分布测量部的厚度测量部120与厚度测量部110的结构大致同样，具有传感器121和运算部122。厚度测量部120利用传感器121获取精磨削后的第1晶圆W的厚度，并在运算部122计算TTV数据。
另外，在使用了厚度测量部110、120的第1晶圆W的厚度测量中，在第1晶圆W的径向上的多个测量点，测量第1晶圆W的厚度。此外，在径向上的各测量点，一边使重合晶圆T旋转，一边在周向上在多个点测量第1晶圆W的厚度。然后，计算在周向上的多个点测量到的厚度的移动平均值或移动中央值，能够使用计算出的值作为径向上的测量点处的第1晶圆W的厚度。
另外，也可以是，例如，测量任意的指定坐标处的第1晶圆W的厚度，将测量到的厚度作为代表值而用作第1晶圆W的厚度，来代替将多个点的移动平均值或移动中央值作为第1晶圆W的厚度。
另外，厚度测量部110、120的结构不限定于本实施方式，只要能够获取第1晶圆W的厚度分布并进一步计算TTV数据即可，能够任意地选择。
如图3所示，在以上的加工装置1设有控制部130。控制部130例如是包括CPU、存储器等的计算机，具有程序存储部(未图示)。在程序存储部存储有控制加工装置1中的重合晶圆T的处理的程序。此外，在程序存储部也存储有用于控制上述的各种处理单元、输送装置等的驱动系统的动作而实现加工装置1中的后述的加工处理的程序。另外，上述程序也可以存储于能够由计算机读取的存储介质H，并从该存储介质H加载于控制部130。
接着，对使用像以上那样构成的加工装置1进行的加工方法进行说明。另外，在本实施方式中，在加工装置1的外部的接合装置(未图示)，将第1晶圆W和第2晶圆S接合，预先形成重合晶圆T。此外，预先去除第1晶圆W的周缘部。
首先，将收纳有多个重合晶圆T的盒Ct向送入送出站2的盒载置台10载置。
接着，利用晶圆输送装置22的输送叉23取出盒Ct内的重合晶圆T，并向处理站3的对准单元50输送。
在对准单元50，如上所述，一边使保持于旋转卡盘(未图示)的重合晶圆T旋转，一边调节第1晶圆W的凹口部的位置，从而调节重合晶圆T的水平方向上的朝向。
接着，利用输送单元40将重合晶圆T从对准单元50向交接位置A0输送，向该交接位置A0的卡盘31交接。之后，使卡盘31向第1加工位置A1移动。然后，利用粗磨削单元80对第1晶圆W的背面Wb进行粗磨削。
接着，使卡盘31向第2加工位置A2移动。然后，利用中磨削单元90对第1晶圆W的背面Wb进行中磨削。
接着，使卡盘31向第3加工位置A3移动。然后，利用精磨削单元100对第1晶圆W的背面Wb进行精磨削。另外，随后叙述本实施方式的精磨削的详细的方法。
接着，使卡盘31向交接位置A0移动。在此，使用清洗液喷嘴(未图示)，利用清洗液对第1晶圆W的背面Wb进行粗清洗。在该工序中，进行使背面Wb的污物脱落至一定程度的清洗。
接着，利用输送单元40将重合晶圆T从交接位置A0向第2清洗单元70输送。然后，在第2清洗单元70，在重合晶圆T保持于输送盘42的状态下，清洗第2晶圆S的背面Sb，并进行干燥。
接着，利用输送单元40将重合晶圆T从第2清洗单元70向第1清洗单元60输送。然后，在第1清洗单元60，使用清洗液喷嘴(未图示)，利用清洗液对第1晶圆W的背面Wb进行精清洗。在该工序中，将背面Wb清洗至期望的洁净度，并进行干燥。
之后，利用晶圆输送装置22的输送叉23将实施了所有处理的重合晶圆T向盒载置台10的盒Ct输送。然后，在对盒Ct内的所有重合晶圆T进行的处理结束时，结束加工装置1中的一系列的加工处理。另外，在加工装置1中，既可以单张地进行重合晶圆T的加工处理、即在一个重合晶圆T的加工处理完成之后开始另一个重合晶圆T的加工处理，也可以连续地对多个重合晶圆T进行处理、即在加工装置1中同时进行多张重合晶圆T的处理。
如以上所述，在加工装置1中，对容纳于盒Ct的多个重合晶圆T连续地进行处理。而且，为了对各重合晶圆T均匀地进行加工装置1中的磨削处理、即为了均匀地控制精磨削后的各重合晶圆T的第1晶圆W的厚度分布，如上所述，需要考虑第2晶圆S的面内的厚度分布。以下，对加工装置1中的考虑到第2晶圆S的厚度分布的第1晶圆W的精磨削方法进行说明。
另外，在以下的说明中，在加工装置1中，有时将第n张处理的重合晶圆T分别称为“重合晶圆Tn”。同样地，有时将构成第n张处理的重合晶圆T的第1晶圆W和第2晶圆S分别称为“第1晶圆Wn”、“第2晶圆Sn”。
在实现上述磨削方法时，如图3和图4所示，加工装置1具有用于获取精磨削前的第1晶圆W的厚度分布的厚度测量部110和用于获取精磨削后的第1晶圆W的厚度分布并进一步计算TTV的厚度测量部120。厚度测量部110、120例如通过向第1晶圆W发射IR光来测量该第1晶圆W的多个点的厚度，并基于测量到的厚度获取第1晶圆W的面内厚度分布。此外，厚度测量部120基于获取到的面内厚度分布，计算精磨削处理后的第1晶圆W的TTV。IR光例如从在卡盘31保持着的重合晶圆T的上方、即第1晶圆W侧向重合晶圆T发射。另外，如上所述，也能够使用厚度测量部110计算精磨削处理前的第1晶圆W的TTV。
在本实施方式中，首先，在多个重合晶圆T中的第一张重合晶圆T1的处理中，如图6的(a)所示，利用厚度测量部110测量精磨削前的第1晶圆W1的多个点的厚度，获取作为一厚度分布的膜厚分布数据D1。获取到的膜厚分布数据D1向控制部130输出。
接着，对于重合晶圆T1，利用精磨削单元100对第1晶圆W1的背面W1b进行精磨削。
在重合晶圆T1的第1晶圆W1的精磨削中，基于膜厚分布数据D1，以使该第1晶圆W1的面内厚度成为均匀的方式、即以改善由膜厚分布数据D1检测到的第1晶圆W1的平坦度的方式，确定其面内的磨削量。具体地说，在第1晶圆W1的面内，在判断为厚度较大的位置增加精磨削量，在判断为厚度较小的位置减少精磨削量。
接着，对于重合晶圆T1，如图6的(b)所示，利用厚度测量部120测量精磨削后的第1晶圆W1的多个点的厚度，获取作为精磨削后的厚度分布的膜厚分布数据DD1。获取到的膜厚分布数据DD1向控制部130输出。
在此，对于精磨削后的第1晶圆W1，期望的是，基于由膜厚分布数据D1所确定的磨削量进行精磨削，从而提高该第1晶圆W1的平坦度，即、使第1晶圆W1的厚度在面内成为均匀。然而，例如，由于精磨削磨石的磨损、卡盘31和精磨削磨石之间的平行度、其他的装置特性，如图6的(b)所示，有时未改善第1晶圆W1的平坦度。
因此，在本实施方式的加工处理中，获取作为第1差值数据的、膜厚分布数据D1和膜厚分布数据DD1之间的差值数据a。获取到的差值数据a向控制部130输出。另外，差值数据a基于在晶圆W的面内的同一点处获取到的膜厚分布数据D1、DD1而获取。
差值数据a是精磨削单元100的精磨削前后的第1晶圆W的膜厚分布数据的差值。换言之，能够基于差值数据a，计算因精磨削单元100的装置特性而引起的平坦度的劣化倾向。于是，在本实施方式的加工处理中，在第二张以后的重合晶圆Tn(n≥2)的处理中，基于该差值数据a，以抵消因装置特性而引起的平坦度的劣化倾向的方式确定精磨削量。由此，在第二张以后的重合晶圆T的处理时，能够适当地提高第1晶圆W的平坦度。
另外，精磨削单元100的精磨削量例如通过倾斜调整部33调整卡盘基座32相对于精磨削磨石的相对的倾斜度来调整。
对于获取了膜厚分布数据DD1的重合晶圆T1，接着，如图6的(c)所示，基于获取到的差值数据a，以抵消因装置特性而引起的第1晶圆W1的平坦度的劣化倾向的方式对第1晶圆W1进行再磨削。第1晶圆W1的再磨削在精磨削单元100进行。另外，在膜厚分布数据D1和膜厚分布数据DD1之间未发现差值的情况下、即在精磨削单元100的装置特性未发现问题的情况下，能够省略该第1晶圆W1的再磨削。
之后，完成了加工处理的重合晶圆T1经由第2清洗单元70和第1清洗单元60向盒Ct输送。然后，接着，开始对第二张重合晶圆T2的加工处理。
在重合晶圆T2的处理中，如图6的(d)所示，利用厚度测量部110测量精磨削前的第1晶圆W2的多个点的厚度，获取作为一厚度分布的膜厚分布数据D2。获取到的膜厚分布数据D2向控制部130输出。
在此，对于第1晶圆W2，期望的是，基于由差值数据a所确定的磨削量来确定精磨削量，从而提高该第1晶圆W2的平坦度，即、使第1晶圆W2的厚度在面内成为均匀。然而，如图6的(a)和图6的(d)所示，在第2晶圆S1和第2晶圆S2的形状特性不同的情况下，若以同样的条件对第1晶圆W1和第1晶圆W2进行磨削，则有可能未改善第1晶圆W2的平坦度。具体地说，如图7所示，例如，在第2晶圆Sn是中凸形状且第2晶圆Sn+1是中凹形状的情况下，若以同样的条件对第1晶圆Wn和第1晶圆Wn+1进行磨削，则第1晶圆Wn+1仅外周侧被磨削，而中心部未被磨削。
因此，在本实施方式的加工处理中，获取作为第2差值数据的、膜厚分布数据D1和膜厚分布数据D2之间的差值数据A。获取到的差值数据A向控制部130输出。
差值数据A是精磨削单元100的精磨削前的第1晶圆W1和同样为精磨削前的第1晶圆W2的膜厚分布数据的差值。换言之，能够基于差值数据A，计算因第2晶圆S的形状特性而引起的平坦度的劣化倾向。于是，在本实施方式的加工处理中，在第二张重合晶圆T2的处理中，基于该差值数据A，以抵消因形状特性而引起的平坦度的劣化倾向的方式调节卡盘基座32的倾斜度，确定第1晶圆W2的面内的精磨削量。由此，在重合晶圆T2的处理时，能够适当地提高第1晶圆W2的平坦度。
如此，对于获取了膜厚分布数据D2的重合晶圆T2，利用精磨削单元100对第1晶圆W2的背面W2b进行精磨削。在第1晶圆W2的精磨削时，除了如上述那样基于差值数据a调整卡盘基座32的倾斜度以外，还基于差值数据A进一步校正卡盘基座32的倾斜度，确定精磨削量。由此，在第二张重合晶圆T2的处理时，能够适当地提高第1晶圆W2的平坦度。
接着，对于重合晶圆T2，如图6的(e)所示，利用厚度测量部120测量精磨削后的第1晶圆W2的多个点的厚度，获取作为精磨削后的厚度分布的膜厚分布数据DD2。获取到的膜厚分布数据DD2向控制部130输出。
在获取膜厚分布数据DD2时，接着，获取作为第1差值数据的、膜厚分布数据D2和膜厚分布数据DD2之间的差值数据b。获取到的差值数据b向控制部130输出。另外，差值数据b基于在晶圆W的面内的同一点处获取到的膜厚分布数据D2、DD2而获取。
差值数据b是精磨削单元100的精磨削前后的第1晶圆W2的膜厚分布数据的差值。由于精磨削单元100重复进行多个重合晶圆T的第1晶圆W的精磨削，因而，例如因精磨削磨石的磨损而引起装置特性经时地变化。此外，例如，有时也由于进行精磨削时的环境因素(例如气氛温度等)，而使装置特性经时地变化。因此，在本实施方式的磨削处理中，经时地追踪因装置特性而引起的平坦度的劣化倾向，而调整卡盘基座32的倾斜度，确定精磨削量。由此，在第三张以后的重合晶圆T的处理中，也能够适当地提高第1晶圆W的平坦度。
之后，获取了膜厚分布数据DD2的重合晶圆T2经由第2清洗单元70和第1清洗单元60向盒Ct输送。然后，接着，从盒Ct取出第三张重合晶圆T3，开始对该重合晶圆T3的加工处理。
在重合晶圆T3的处理中，如图6的(f)所示，利用厚度测量部110测量精磨削前的第1晶圆W3的多个点的厚度，获取作为一厚度分布的膜厚分布数据D3。获取的膜厚分布数据D3向控制部130输出。
此外，在重合晶圆T3的处理中，获取第2晶圆S3的形状特性即作为第2差值数据的、膜厚分布数据D1和膜厚分布数据D3之间的差值数据B。获取到的差值数据B向控制部130输出。另外，只要能够获取第2晶圆S3的形状特性即可，差值数据B也可以是膜厚分布数据D2和膜厚分布数据D3之间的差值。
对于获取了膜厚分布数据D3的重合晶圆T3，利用精磨削单元100对第1晶圆W3的背面W3b进行精磨削。在第1晶圆W3的精磨削时，基于差值数据b和差值数据B调整卡盘基座32的倾斜度，确定精磨削量。由此，在第三张重合晶圆T3的处理时，能够适当地提高第1晶圆W3的平坦度。另外，在差值数据a和差值数据b未发现差值的情况下、即在精磨削单元100的装置特性未发现变化的情况下，在该第1晶圆W3的精磨削中，也可以基于差值数据a和差值数据B调整倾斜度，即、确定精磨削量。
接着，对于重合晶圆T2，如图6的(g)所示，利用厚度测量部120测量精磨削后的第1晶圆W3的多个点的厚度，获取作为精磨削后的厚度分布的膜厚分布数据DD3。获取到的膜厚分布数据DD3向控制部130输出。
在获取膜厚分布数据DD3时，接着，获取作为第1差值数据的、膜厚分布数据D3和膜厚分布数据DD3之间的差值数据c。获取到的差值数据c向控制部130输出。另外，差值数据c基于在晶圆W的面内的同一点处获取到的膜厚分布数据D3、DD3而获取。
根据以上的实施方式，基于在加工装置1中处理的多个重合晶圆T的各个重合晶圆T获取的精磨削前的膜厚分布数据，获取各个重合晶圆T的第2晶圆S的形状特性的不同即差值数据A、B、…。于是，基于该差值数据调整(校正)卡盘基座32的倾斜度而确定第1晶圆W的精磨削量，因此，能够将第1晶圆W的成品厚度控制为均匀。即，能够适当地提高第1晶圆W的平坦度。
此时，根据本实施方式，仅通过厚度测量部110和厚度测量部120测量第1晶圆W的厚度，就能够获取第2晶圆S的形状特性。即，例如，即使在第1晶圆W的表面Wa形成有器件层D而无法测量重合晶圆T的总厚度、第2晶圆S的厚度的情况下，也能够适当地获取第2晶圆S的形状特性，提高第1晶圆W的平坦度。
另外，在本实施方式中，基于第一张重合晶圆T1的精磨削前后的膜厚分布数据，获取精磨削单元100的装置特性即差值数据a。于是，基于该差值数据a调整(校正)卡盘基座32的倾斜度而确定第1晶圆W的精磨削量，因此，能够进一步适当地将第1晶圆W的成品厚度控制为均匀。即，能够进一步适当地提高第1晶圆W的平坦度。
再另外，在本实施方式中，基于第二张以后的重合晶圆Tn的精磨削前后的膜厚分布数据，获取精磨削单元100的装置特性即差值数据b、c、…。由此，即使在精磨削单元100的装置特性由于各种因素而经时地变化的情况下，也能够追踪该装置特性的经时变化，调整(校正)卡盘基座32的倾斜度，确定第1晶圆W的精磨削量，因此，能够进一步适当地提高第1晶圆W的平坦度。
另外，在此，在第二张以后的重合晶圆Tn的精磨削中，不需要像第一张重合晶圆T1的精磨削时那样进行再磨削。这是因为，在第一张重合晶圆T1的精磨削时，已经基于差值数据a进行了因装置特性而引起的TTV调整，因此，抑制了需要进行再磨削的程度的TTV劣化的产生。于是，如此，不需要在重合晶圆T2以后进行再磨削，因此，能够适当地提高第1晶圆W的精磨削的生产率。
另外，在以上的实施方式中，在第一张重合晶圆T1的加工处理时，获取了精磨削单元100的装置特性即差值数据a，但差值数据a例如也可以通过对作为模拟的重合基板的重合晶圆T0进行磨削来预先获取。如此，使用模拟基板预先获取装置特性，从而不需要在盒Ct的第一张重合晶圆T1的加工处理中获取装置特性。即，不需要在重合晶圆T1的加工处理中进行上述的再磨削，能够提高重合晶圆T1的精磨削的生产率。
此外，在以上的实施方式中，利用倾斜调整部33使卡盘基座32倾斜，从而调整第1晶圆W的精磨削量，由此改善第1晶圆W的平坦度，但精磨削量的调整方法不限定于此。例如，也可以通过倾斜调整部33使磨削磨石倾斜来调整第1晶圆W的精磨削量。此外，例如，只要能够调整第1晶圆W的精磨削量即可，也可以不使用倾斜调整部33。
此外，在以上的实施方式中，获取第1晶圆W1的精磨削前后的膜厚分布数据，基于获取到的膜厚分布数据进行第1晶圆W1的平坦度的调节，但该平坦度的调节也可以在第1晶圆W1的粗磨削、中磨削时进行。即，也可以是，还获取粗磨削前后、中磨削前后的膜厚分布数据，基于获取到的膜厚分布数据，调节进行粗磨削、中磨削时的卡盘基座32相对于磨削磨石的相对的倾斜度。
此外，在以上的实施方式中，以由于介于第1晶圆W和第2晶圆S之间的金属膜(器件层)的影响而无法计算包含该金属膜的第2基板的厚度的情况为例进行了说明。然而，本公开的技术不限于重合晶圆T具有金属膜的情况，在无法适当地计算第2晶圆S的厚度的任意的情况下，能够适当地应用。
应该认为本次公开了的实施方式在所有方面均为例示，而不是限制性的。上述实施方式也可以在不脱离添附的权利要求书及其主旨的范围内以各种各样的方式进行省略、置换、变更。
附图标记说明
1、加工装置；100、精磨削单元；110、厚度测量部；130、控制部；W、第1晶圆；S、第2晶圆；T、重合晶圆。

Claims (10)

1.一种基板处理方法，其针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，在基板处理装置中对进行了粗磨削的所述第1基板进行精磨削处理，其中，
在所述基板处理装置中连续地处理多个重合基板，
该基板处理方法包括以下步骤：
测量一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布；
测量另一重合基板的精磨削前的第1基板的另一厚度分布；
基于所述一厚度分布和所述另一厚度分布之间的第1差值数据，确定保持所述另一重合基板的基板保持部和对所述重合基板进行精磨削的磨削部之间的相对的倾斜度；以及
在以所确定的所述倾斜度保持着所述另一重合基板的状态下，对所述另一重合基板的第1基板进行精磨削。
2.根据权利要求1所述的基板处理方法，其中，
该基板处理方法包括以下步骤：测量所述一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布，
除了基于所述第1差值数据以外，还基于所述一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布和所述一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布之间的第2差值数据，确定保持所述另一重合基板的所述基板保持部和所述磨削部之间的相对的倾斜度。
3.根据权利要求1或2所述的基板处理方法，其中，
所述一重合基板是在所述基板处理装置中在所述多个重合基板的处理之前处理的模拟的重合基板。
4.根据权利要求1或2所述的基板处理方法，其中，
所述一重合基板是所述多个重合基板中的在所述另一重合基板之前处理的重合基板。
5.根据权利要求4所述的基板处理方法，其中，
在所述一重合基板是所述多个重合基板中的在所述基板处理装置中第一张处理的重合基板的情况下，
该基板处理方法包括以下步骤：
测量所述一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布；以及
基于所述一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布和该一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布之间的第2差值数据，确定保持所述一重合基板的所述基板保持部和所述磨削部之间的相对的倾斜度，对所述一重合基板的第1基板进行再磨削。
6.一种基板处理装置，其针对将第1基板和第2基板接合而成的重合基板，对该第1基板进行磨削处理，其中，
该基板处理装置包括：
基板保持部，其保持所述重合基板；
精磨削部，其对进行了粗磨削的所述第1基板进行精磨削；
第1厚度分布测量部，其测量精磨削前的所述第1基板的厚度分布；以及
控制部，其控制所述精磨削部的动作，
所述控制部进行以下控制：
在所述基板处理装置中连续地处理多个重合基板，
基于一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布和另一重合基板的精磨削前的第1基板的另一厚度分布之间的差值即第1差值数据，确定所述另一重合基板的精磨削时的所述基板保持部和所述精磨削部之间的相对的倾斜度。
7.根据权利要求6所述的基板处理装置，其中，
该基板处理装置包括测量精磨削后的所述第1基板的厚度分布的第2厚度分布测量部，
所述控制部进行以下控制：
除了基于所述第1差值数据以外，还基于所述一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布和一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布之间的差值即第2差值数据，确定保持所述另一重合基板的所述基板保持部和所述精磨削部之间的相对的倾斜度。
8.根据权利要求6或7所述的基板处理装置，其中，
所述一重合基板是在所述基板处理装置中在所述多个重合基板的处理之前处理的模拟的重合基板。
9.根据权利要求6或7所述的基板处理装置，其中，
所述一重合基板是所述多个重合基板中的在所述另一重合基板之前处理的重合基板。
10.根据权利要求9所述的基板处理装置，其中，
该基板处理装置包括测量精磨削后的所述第1基板的厚度分布的第2厚度分布测量部，
所述控制部进行以下控制：
在所述一重合基板是所述多个重合基板中的第一张处理的重合基板的情况下，
基于所述一重合基板的精磨削前的第1基板的一厚度分布和一重合基板的精磨削后的第1基板的厚度分布之间的差值即第2差值数据，确定保持所述一重合基板的基板保持部和所述精磨削部之间的相对的倾斜度，对所述一重合基板的第1基板进行再磨削。
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