CN114578104B - 一种信号测试探棒、系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明所述的一种信号测试探棒、系统和方法，所述探棒包括：参数调节单元和探头；所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路；所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值；所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值。本申请所述的方法可以快速获得不同元器件参数对电路设计的影响，可以简化电容和电阻的调试过程，可以减少因元器件的反复拆装而造成的测试板损坏的情况。
Description
技术领域
本发明涉及信号检测技术领域，尤其是指一种信号测试探棒、系统和方法。
背景技术
在电路设计的过程中，低速信号如图1所示的I2C、SPI等总线信号质量受链路设计中电阻电容影响较大，线路中串并联电阻电容部件对信号幅值、单调性具有十分明显的影响。现有技术中，通常采用如图2所示的信号测试方式对待测设备的输出信号进行测试。如果信号幅值及单调性不能满足准确性要求，则很容易发生信号无法正常传输、服务器相关组件对信号的误判、甚至影响系统的正常运行。服务器系统中存在非常多的低速信号，如何对低速信号的质量进行判别，确保服务器系统中的低速信号满足正常的作业要求是一项非常耗时且繁琐的工作。
现有技术中，若服务器系统中某个低速信号质量无法满足准确性要求时，常用的方法是对低速信号链路进行调试并重现验证。具体地，对低速信号链路进行调试的方法通常为：基于示波器信号测试判断信号质量是否满足设计要求，如果不满足设计要求，则会基于示波器信号测试结果，结合信号计算方法反推链路中的电阻元器件和电容元器件的参数值，对链路中的电阻和电容重新焊接，之后重新用示波器进行信号测试。上述调试方法存在明显的弊端：一是电阻和电容元器件较小，不但会过多地消耗焊接时长并且极有可能会因为操作不当而增大元器件的损耗和测试板的损坏；二是，在实际的应用场景中，电阻的阻值和电容的电容值常会因为应用场景的变化而出现误差，即基于信号计算方法得到的电子元器件的值只是在理想状态下的元器件的值，而无法准确地得到在当前应用场景下的电子元器件的准确值。
因此，急需提出一种可以简化链路调试过程、基于输出信号波形快速获得元器件参数的信号测试探棒、系统和方法。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种信号测试探棒、系统和方法，可以简化链路调试过程，可以提升链路调试效率，可以基于输出信号波形快速获得元器件参数。
为实现上述目的，本申请提出第一技术方案：
一种信号测试探棒，所述探棒包括：参数调节单元和探头；所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路；所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值；所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值。
在本发明的一个实施例中，所述探头包括：缓冲放大器、电容和探头电缆；所述缓冲放大器的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述探头电缆的信号输入端串联连接于所述缓冲放大器的信号输出端；所述电容并联连接于所述缓冲放大器的信号输入端。
在本发明的一个实施例中，所述第一单刀多掷开关为单刀三掷开关；所述第二单刀双掷开关为单刀双掷开关。
在本发明的一个实施例中，所述电阻组包括第一电阻、第二电阻和连接线；所述第二电阻接地；所述第一电阻的负极连接于所述连接线。
在本发明的一个实施例中，所述单刀三掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀三掷开关的动端分别指向所述第一电阻、第二电阻和连接线。
在本发明的一个实施例中，所述电容组包括连接线和电容；所述电容接地；所述单刀双掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀双掷开关的动端分别指向所述电容和连接线。
为实现上述目的，本申请还提出第二技术方案：
一种信号测试系统，所述系统包括待测设备、示波器及探棒；所述探棒的信号输入端与所述待测设备的信号输出端连接，所述探棒的信号输出端与所述示波器的信号输入端连接。
为实现上述目的，本申请提出第三技术方案：
一种信号测试方法，应用于信号测试系统；所述方法包括：初始化所述探棒的参数值，并连接所述探棒于所述待测设备的信号输出端；获取所述待测设备的标准信号波形和实际信号波形；基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试。
在本发明的一个实施例中，所述方法还包括：比对调试的实际信号波形与所述标准信号波形，若所述调试后的实际信号波形与所述标准信号波形不一致，则基于所述探棒继续对实际信号波形进行调试，直至所述调试后的实际信号波形与所述标准信号波形一致；若所述调试后的实际信号波形与所述标准信号波形一致，则将所述调试后的实际信号波形对应的所述探棒的参数值保存至数据库。
在本发明的一个实施例中，基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试包括以下步骤：串联连接所述探棒的信号输入端于所述待测设备的信号输出端，初始化所述探棒的参数值为0，获取所述待测设备的输出电压和信号上升时间；基于所述待测设备的输出电压及信号上升时间，获取所述待测设备的电容值和电压值之间的关系，定义所述待测设备的电容值和电压值之间的关系为第一关系；调整所述探棒的参数值不为0，基于所述参数调节单元的输出电压及信号上升之间，获取参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系，定义参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系为第二关系；根据所述第一关系和所述第二关系，基于所述示波器输出的实际信号波形，获得所述待测设备的基准电压值和基准电容值。
本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：
本发明所述的一种信号测试探棒、系统和方法，所述探棒包括：参数调节单元和探头；所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路；所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值；所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值。本申请所述的探棒可以快速获得不同元器件参数对电路设计的影响，可以简化电容和电阻的调试过程，可以减少因元器件的反复拆装而造成的测试板损坏的情况。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是现有技术中I2C等效RC充电电路；
图2是现有技术中的信号测试系统的结构示意图；
图3是一个实施方式的信号测试探棒的结构图；
图4是一个实施方式中的可调电阻电路的电路图；
图5是一个实施方式中的可调电阻电路的电路图；
图6是一个实施方式中的可调电容电路的电路图；
图7是一个实施方式中的可调电容电路的电路图；
图8是一个实施方式中的信号测试系统的结构示意图；
图9是一个实施方式中的信号测试方法的流程图；
图10是一个实施方式中的信号测试系统的结构示意图；
图11是一个实施方式中的参数可调单元的结构示意图；
图12是一个实施方式中的计算机设备的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
参照图3所示，图3为实施例一的信号测试探棒的结构示意图。
本实施例的信号测试探棒，所述探棒包括：参数调节单元和探头；所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路；所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值；所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值。
在其中一个实施方式中，所述探头包括：缓冲放大器、电容和探头电缆；所述缓冲放大器的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；所述探头电缆的信号输入端串联连接于所述缓冲放大器的信号输出端；所述电容并联连接于所述缓冲放大器的信号输入端。
在其中一个实施方式中，如图4所示，即为可调电阻电路的结构示意图，所述第一单刀多掷开关为单刀三掷开关；所述电阻组包括第一电阻、第二电阻和连接线；所述第二电阻接地；所述第一电阻的负极连接于所述连接线。
在其中一个实施方式中，所述单刀三掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀三掷开关的动端分别指向所述第一电阻、第二电阻和连接线。
在其中一个实施方式中，默认所有单刀三掷开关初始状态指向连接线TPRx，即参数调节单元的电阻值为0。通过调节单刀三掷开关获得所需电阻参数，比如当SWR1指向TPR11、SWR2指向TPR22、SWR3指向TPR33、SWR4指向TPR43、SWR5指向TPR52时，获得R＝R1+(Rg3/Rg4)，其中R1串联进被测线路，(Rg3/Rg4)并联进入被测线路，即被测信号电路上的电阻值可以通过单刀三掷开关进行大小调节。此时可调电阻电路如图5所示。
在其中一个实施方式中，可调电容电路的结构示意图如图6所示。所述第二单刀双掷开关为单刀双掷开关。所述电容组包括连接线和电容；所述电容接地；所述单刀双掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀双掷开关的动端分别指向所述电容和连接线。
在其中一个实施方式中，当SWC1指向TPC1、SWC2指向TPC4、SWC3指向TPC6、SWC4指向TPC7、SWC5指向TPC9时，C＝C2/C3，被测信号电路上的电容值增大电容。此时可调电容电路如图7所示。
实施例二：
参照图8所示，图8为实施例三的系统结构图。
本实施例的信号测试系统，包括待测设备、示波器及探棒；所述探棒的信号输入端与所述待测设备的信号输出端连接，所述探棒的信号输出端与所述示波器的信号输入端连接。
实施例二：
参照图2所示，图2为实施例一的方法流程图。
本实施例的信号测试方法，应用于信号测试系统；所述方法包括以下步骤：
步骤S1、初始化所述探棒的参数值，并连接所述探棒于所述待测设备的信号输出端。
在其中一个实施方式中，示波器获得待测设备的实际信号波形即为未经过参数调节单元进行参数调节的待测设备的实际信号波形，也就是在参数调节单元的参数为0的情况下，获取得到的待测设备的实际信号波形。需要理解的是，所述示波器获取待测设备的实际信号波形可以是经过滤波模块进行谐波滤除的信号波形，也可以是不经过滤波模块进行谐波滤除的信号波形。在本申请中，无论参数调节单元的参数是否为0，获取得到的待测设备的信号波形均为经过滤波模块进行谐波滤除的。
在其中一个实施方式中，参数调节单元的生成具体包括：基于待测设备内部的电阻的电阻值和电容的电容值、以及待测设备在理想状态下应该输出的理想的信号波形，计算示波器中设置的电容和电阻对待测设备中设置的电容和电阻的影响。需要理解是，本申请所述的示波器中设置的电容和电阻并不代表实际意义上设置于示波器中的电容和电阻元器件的电阻值和电容值，只表示与在对待测设备进行信号探测的过程等价的电容值和电阻值。
具体地，如图10所示，设定待测设备中的电容为Cload、电阻为Rload，示波器中的电阻为Rt、电容为Ct。此处将不考虑电容Cload、电阻Rload情况下，获取得到的待测设备的电压值定义为Vr；将考虑电容Cload、电阻Rload情况下，获取得到的待测设备的电压值定义为Vt。在理想状态下，待测设备的输出电压为Vt＝Vr，信号波形的信号上升时间Tr＝2.2*Rt*Ct。但是在实际情况中，在实际情况中，Vt和Vr之间存在如下式所示的关系：Vt＝Rt/(Rt+Rload)*Vr，信号波形的信号上升时间Tr＝2.2*(Rt/Rload)*(Ct+Cload)。
步骤S2、；获取所述待测设备的标准信号波形和实际信号波形。
在其中一个实施方式中，基于所述参数调节单元对实际信号波形进行调试具体包括：基于待测设备的实际信号波形和实际的信号上升时间，获得待测设备中的电容Cload的电容值和电阻Rload的电阻值。
在其中一个实施方式中，应用于如图10所示的信号测试系统，所述参数可调单元如图11所示，包括第一电阻组、第二电阻组和电容组。设定第一电阻组的阻值为RS、第二电阻组的阻值为RP、电容组的容值为Cp。基于所述参数调节单元对所述实际信号波形进行调试具体包括以下步骤：
步骤S21、设置Rs＝0、Rp＝0，Cp＝0，得到：
Vt2实际1＝Vt1理论＝Vr，Tr实际1＝Tr理论＝2.2*Rload*Cload；其中，Vt2实际1即表示在在Vt2处测得实际的电压值，Vt1理论即表示在理想状态下，在Vt1处测得的电压值，Vr即表示在不考虑电容Cload和电阻Rload的情况下，待测设备的输出电压值，Tr实际1即表示待测设备输出的信号波形的信号上升时间的实际值，Tr理论即为在不考虑电容Cload和电阻Rload的情况下，待测设备的输出的信号波形的信号上升之间。
步骤S22、调节所述参数调节单元的参数值，设定Rs＝r1、Rp＝r2，Cp＝c，得到：Vt2实际2＝r2/(r2+r1+Rload)*Vr，Tr实际2＝2.2*((r1+r1)/Rload)*(c+Cload)。
步骤S23、基于步骤S21推导电容Cload的电容值和电阻Rload的电阻值，即为：Rload＝(r2*Vt2实际1)/Vt2实际2-r1-r2；Cload＝Tr实际1/(2.2*Rload)。
步骤S24、联立步骤S23和步骤S22得到的公式，基于下式，即可得到待测设备中设置的电阻的电阻值和电容的电容值：Rload＝r2/(r2+r1+Rload)；Cload＝Tr实际2/((r1+r2)/Rload)-c。
步骤S3、基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试。
在其中一个实施方式中，比对谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形，若所述谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形一致，则参数调节单元将所述谐波滤除后的实际信号波形对应的参数保存至数据库；若所述谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形不一致，则基于所述参数调节单元继续对实际信号波形进行调试，直至所述滤除谐波后的实际信号波形与所述标准信号波形一致。
在硬件低速信号测试过程中，链路电阻电容参数原因造成信号质量很差是一个常见问题。传统调试方法：测试、改版调试、重新测试，很多情况下需要不断重复此过程，流程繁琐，耗时耗力。而本实施例所述的一种技术方案可以简化电阻电容调试过程，快速获得参数不同的元器件对电路设计的影响，并将符合设计要求的元器件参数应用于电路板上，达到调试效果。
实施例四：
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图12所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储标准信号波形，和/或，参数调节单元的参数值。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种信号测试方法。
本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
步骤S1、初始化所述探棒的参数值，并连接所述探棒于所述待测设备的信号输出端；
步骤S2、获取所述待测设备的标准信号波形和实际信号波形；
步骤S3、基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：比对谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形，若所述谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形不一致，则基于所述参数调节单元继续对实际信号波形进行调试，直至所述滤除谐波后的实际信号波形与所述标准信号波形一致；若所述谐波滤除后的实际信号波形与所述标准信号波形一致，则参数调节单元将所述谐波滤除后的实际信号波形对应的元器件参数保存至数据库。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：初始化所述参数调节单元和所述滤波模块；所述参数调节单元获取所述待测设备输出的信号，并将所述待测设备输出的信号传输至所述滤波模块；所述滤波模块将所述待测设备输出的信号传输至所述示波器。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：初始化所述参数调节单元的参数值为0，基于所述待测设备的输出电压及信号上升时间，获取所述待测设备的电容值和电压值之间的关系，定义所述待测设备的电容值和电压值之间的关系为第一关系；调整所述参数调节单元的参数值不为0，基于所述参数调节单元的输出电压及信号上升之间，获取参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系，定义参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系为第二关系；根据所述第一关系和所述第二关系，基于所述示波器输出的实际信号波形，获得所述待测设备的基准电压值和基准电容值。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (2)
1.一种信号测试方法，其特征在于，应用于信号测试系统；所述信号测试系统包括待测设备、示波器及信号测试探棒；所述探棒的信号输入端与所述待测设备的信号输出端连接，所述探棒的信号输出端与所述示波器的信号输入端连接；
其中，所述探棒包括：参数调节单元和探头；
所述探头的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；
所述参数调节单元包括若干个并联连接的可调电阻电路和可调电容电路；
所述可调电阻电路包括若干个串联连接的第一单刀多掷开关和电阻组、以用于变换所述可调电阻电路的阻值；
所述可调电容电路包括若干个串联连接的第二单刀多掷开关和电容组、以用于变换所述可调电容电路的容值；
其中，所述探头包括：缓冲放大器、电容和探头电缆；
所述缓冲放大器的信号输入端连接于所述参数调节单元的信号输出端；
所述探头电缆的信号输入端串联连接于所述缓冲放大器的信号输出端；
所述电容并联连接于所述缓冲放大器的信号输入端；
其中，所述第一单刀多掷开关为单刀三掷开关；所述第二单刀多掷开关为单刀双掷开关；
其中，所述电阻组包括第一电阻、第二电阻和连接线；所述第二电阻接地；所述第一电阻的负极连接于所述连接线；
所述单刀三掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀三掷开关的动端分别指向所述第一电阻、第二电阻和连接线；
所述电容组包括连接线和电容；所述电容接地；所述单刀双掷开关的不动端与所述连接线连接；所述单刀双掷开关的动端分别指向所述电容和连接线；
所述方法包括：
初始化所述探棒的参数值，并连接所述探棒于所述待测设备的信号输出端；
获取所述待测设备的标准信号波形和实际信号波形；
基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试；
还包括：比对调试的实际信号波形与所述标准信号波形，若调试后的实际信号波形与所述标准信号波形不一致，则基于所述探棒继续对实际信号波形进行调试，直至所述调试后的实际信号波形与所述标准信号波形一致；
若所述调试后的实际信号波形与所述标准信号波形一致，则将所述调试后的实际信号波形对应的所述探棒的参数值保存至数据库；
其中，对所述待测设备的实际信号波形进行调试，具体包括：
设定第一电阻组的阻值为RS、第二电阻组的阻值为RP、电容组的容值为Cp；
步骤S21、设置Rs=0、Rp=0，Cp=0，得到：
Vt2实际1=Vt1理论=Vr，Tr实际1=Tr理论=2.2*Rload * Cload；其中，Vt2实际1即表示在在Vt2处测得实际的电压值，Vt1理论即表示在理想状态下，在Vt1处测得的电压值，Vr即表示在不考虑电容Cload和电阻Rload的情况下，待测设备的输出电压值，Tr实际1即表示待测设备输出的信号波形的信号上升时间的实际值，Tr理论即为在不考虑电容Cload和电阻Rload的情况下，待测设备的输出的信号波形的信号上升时间；
步骤S2、调节所述参数调节单元的参数值，设定Rs=r1、Rp=r2，Cp=c，得到：Vt2实际2=r2/(r2+r1+Rload)*Vr，Tr实际2=2.2*((r1+r1)/Rload)*(c+Cload)；
步骤S23、基于步骤S21推导电容Cload的电容值和电阻Rload的电阻值，即为：Rload=(r2*Vt2实际1)/Vt2实际2-r1-r2；Cload=Tr实际1/(2.2*Rload)；
步骤S24、联立步骤S23和步骤S22得到的公式，基于下式，即可得到待测设备中设置的电阻的电阻值和电容的电容值：Rload=r2/(r2+r1+Rload)；Cload=Tr实际2/（（r1+r2）/Rload）-c。
2.根据权利要求1所述的信号测试方法，其特征在于，基于所述待测设备的标准信号波形，调节所述探棒的参数值，对所述待测设备的实际信号波形进行调试包括以下步骤：
串联连接所述探棒的信号输入端于所述待测设备的信号输出端，初始化所述探棒的参数值为0，获取所述待测设备的输出电压和信号上升时间；
基于所述待测设备的输出电压及信号上升时间，获取所述待测设备的电容值和电压值之间的关系，定义所述待测设备的电容值和电压值之间的关系为第一关系；
调整所述探棒的参数值不为0，基于所述参数调节单元的输出电压及信号上升之间，获取参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系，定义参数调节单元的电阻值、电容值与所述待测设备的电阻值、电容值四者之间的关系为第二关系；
根据所述第一关系和所述第二关系，基于所述示波器输出的实际信号波形，获得所述待测设备的基准电压值和基准电容值。
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