CN110542812A - 电压暂降免疫度测试方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

电压暂降免疫度测试方法、装置、设备和存储介质 Download PDF

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CN110542812A
CN110542812A CN201910817663.5A CN201910817663A CN110542812A CN 110542812 A CN110542812 A CN 110542812A CN 201910817663 A CN201910817663 A CN 201910817663A CN 110542812 A CN110542812 A CN 110542812A
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周凯
莫文雄
许中
马智远
郭倩雯
饶毅
栾乐
叶石丰
张群峰
崔晓飞
覃煜
肖天为
刘田
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Guangzhou Power Supply Bureau of Guangdong Power Grid Co Ltd
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Guangzhou Power Supply Bureau Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本申请涉及一种电压暂降免疫度测试方法、装置、设备和存储介质,其中一种电压暂降免疫度测试方法,可在最大容忍持续时间较短的残余电压区域内分别获取每个残余电压对应的最大容忍持续时间,并能够避免电压容忍度曲线可能存在的“非单调”特性对测试的影响,提高了测试结果的准确性;同时,待测设备故障停机一次即可确定相应的残余电压下待测设备的最大可容忍时间,减少了测试过程中的测试点,缩减了测试周期,并降低了待测设备的损坏程度,进而能够在提高电压暂降免疫度测试的效率的同时,提高了测试结果的准确度,兼顾了高测试效率和准确的测试结果。

Description

电压暂降免疫度测试方法、装置、设备和存储介质
技术领域
本申请涉及电能质量测试和分析领域,特别是涉及一种电压暂降免疫度测试方法、装置、设备和存储介质。
背景技术
随着电力系统的发展,在诸多电能质量问题中,电压暂降问题已经上升为主要的电能质量问题。当发生电压暂降时,通常会导致设备工作失常。因此获得设备的电压暂将免疫度对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。
目前,获得设备的电压暂降免疫度主要有仿真测试和试验测试两种测试方法。其中,主要的测试方法包括自上而下方法、自左而右方法和循环方法。具体地,自上而下方法即在每次循环中将电压持续时间设为定值,逐步减小残余电压,直至设备停机的临界点,获得该电压持续时间所对应的残余电压,然后逐步减小电压持续时间并进行下一次循环。自左而右方法即在每次循环中将残余电压设为定值,逐步增大电压持续时间,知道设备停机的临界点,获得该残余电压所对应的电压持续时间,然后逐步减小残余电压并进行下一次循环。而循环方法即首先确定短时中断情况下设备所能经受的电压持续时间,然后采用自上而下的方法进行测试,当持续时间减小到短时中断对应的电压持续时间时,结束测试。
当持续时间足够长时设备的电压容忍度曲线具有一定的水平特性,表示当电网电压高于相应的残余电压时设备可以长期工作,然而,传统技术中,自上而下方法和自左而右方法都没有很好地利用这一特性,导致许多测试点冗余,测试的次数相应的增多。
同时,当电压持续时间较小时,设备的电压容忍度曲线可能存在“非单调”特性,也即随着残余电压的增大,设备电压容忍度曲线对应的电压持续时间逐渐减小,采用循环方法进行测试时很容易忽视这一关键特性,导致测试结果不准确。因此,目前的电压暂降免疫度测试方法,无法同时兼顾高测试效率与准确的测试结果。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够兼顾高测试效率与准确的测试结果的电压暂降免疫度测试方法方法、装置、计算机设备和存储介质。
为了实现上述目的,一方面,本申请实施例提供了一种电压暂降免疫度测试方法,包括以下步骤:
确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;所述测试参数包括电压暂降特征参数和所述待测设备的工况参数;
以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于所述待测设备的所述残余电压,并分别获取各所述残余电压对应的最大容忍持续时间;所述阈值电压为基于所述最大电压暂降持续时间和所述待测设备的工作状态得到;所述最大容忍持续时间为将所述残余电压施加至所述待测设备的时刻、与所述待测设备在所述残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
根据所述阈值电压、所述最大电压暂降持续时间、各所述残余电压和各所述残余电压对应的最大容忍持续时间,生成所述待测设备在所述测试参数下的电压容忍度曲线;所述电压容忍度曲线用于表征所述待测设备的电压暂降免疫度。
本申请实施例提供了一种电压暂降免疫度测试装置,包括:
测试参数提供模块,用于确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;所述测试参数包括电压暂降特征参数和所述待测设备的工况参数;
最大容忍持续时间获取模块,用于以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于所述待测设备的所述残余电压,并分别获取各所述残余电压对应的最大容忍持续时间;所述阈值电压为基于所述最大电压暂降持续时间和所述待测设备的工作状态得到;所述最大容忍持续时间为将所述残余电压施加至所述待测设备的时刻、与所述待测设备在所述残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
电压容忍度曲线生成模块,用于根据所述阈值电压、所述最大电压暂降持续时间、各所述残余电压和各所述残余电压对应的最大容忍持续时间,生成所述待测设备在所述测试参数下的电压容忍度曲线;所述电压容忍度曲线用于表征所述待测设备的电压暂降免疫度。
本申请实施例提供了一种电压暂降免疫度测试设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一实施例中电压暂将面一度测试方法的步骤。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现电压暂降免疫度测试方法的步骤。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果:
通过以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加在待测设备的残余电压,并获取每个残余电压对应的最大容忍持续时间,基于阈值电压、最大电压暂降持续时间、各个残余电压和各个残余电压所对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在对应的测试参数下的电压容忍度曲线,可在最大容忍持续时间较短的残余电压区域内分别获取每个残余电压对应的最大容忍持续时间,并能够避免电压容忍度曲线可能存在的“非单调”特性对测试的影响,提高了测试结果的准确性;同时,待测设备故障停机一次即可确定相应的残余电压下待测设备的最大可容忍时间,减少了测试过程中的测试点,缩减了测试周期,并降低了待测设备的损坏程度,进而能够在提高电压暂降免疫度测试的效率的同时,提高了测试结果的准确度,兼顾了高测试效率和准确的测试结果。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为一个实施例中电压暂降免疫度测试方法的应用环境图;
图2为一个实施例中电压暂降免疫度测试方法的示意性流程示意图;
图3为一个实施例中分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间步骤的流程示意图;
图4为一个实施例中电压容忍度曲线;
图5为一个实施例中电压暂降免疫度测试装置的结构框图;
图6为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的首选实施例。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
电压暂降是指电力系统中某点工频电压方均根值突然降低至0.1p.u.(perunit,标幺值)至0.9p.u.,并在短暂持续10毫秒至1分钟后恢复正常的现象。当发生电压暂降时,通常会使交流接触器、脱扣器、PLC、继电器、ASD和开关电源等设备工作失常,当这些设备应用在医疗、电信、半导体等行业时,将导致巨大的安全隐患和经济损失。同时有关统计调查显示,由电压暂降引起的投诉数量占到了因电能质量投诉总量的80%以上。获得设备的电压暂降免疫度对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。
目前,获得设备的电压暂降免疫度主要有仿真测试和试验测试两种方法。其中,主要的测试方法有自上而下方法、自左而右方法和循环方法。然而自伤而下方法、自左而右方法和循环方法的测试效率极低,需要做多次仿真或试验才能确定残余电压—最大容忍持续时间曲线上的一个点,确定整条电压容忍度曲线更需大量的仿真或试验次数,极大的降低了工作效率。
此外,目前的国家标准虽然给出了待测设备电压暂降测试的标准和测试相量,并提供了一系列的电压暂降—持续时间测试点,但是并未针对整个测试流程制定详细的规定。进一步地,由于待测设备在不同工况下的电压暂降免疫度差别极大,电压暂降特征参数,如电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、连续电压暂降和电压恢复率等,对待测设备的电压暂降免疫度也存在相应的差别,然而在目前的国家标准中并未完全考虑这些因素,也没有在完全考虑到上述因素的条件下,制定完善的测试方法和测试流程。
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请提供的电压暂降免疫度测试方法,可以应用于如图1所示的应用环境中。其中,电压暂降发生源用于输出特定的电压暂降波形,可快速调整电压暂降的类型、起始角、相位跳变、残余电压、持续时间、谐波含量等特征量。
待测设备的工作形态可以通过某一电学波形准确反映,例如可通过电压波形、电流波形或转速波形等准确地反映出待测设备的工作状态,从而根据待测设备的输出波形即可确定待测设备是否处于正常工作状态以及待测设备发生故障的时刻,进一步地,待测设备可以为单相设备或者三相设备。
录波器为多路输入录波器,可用于同时记录待测设备运行过程中的各项参数,如电压参数、电流参数和/或转速参数等,进一步地,录波器的输入路数可与测试内容、需要记录的波形有关。通过录波器对待测设备的各项参数进行记录,从而可后期对记录波形进行分析。
负载为待测设备的负载,通过调节负载的大小,从而可调整待测设备的负载率和工况参数。控制分析设备是对电压暂降源和路波形进行控制和分析的设备,控制分析设备通过网线连接电压暂降发生源和录波器,当在控制分析设备上进行操作,可实现电压暂降的发生和停止(即调整电压暂降参数)、待测设备波形记录的启停和/或待测设备的波形分析。
可选的,所述电压暂降源采用MX II-45可编程电源,其最大输出功率为45kVA。可实现三相/单相交流输出,相电压输出范围为0~400V,频率输出范围为16~500Hz,也可三相/单相直流输出。可以通过操作界面或试验监测电脑控制界面实现残余电压、持续时间、起始角、相位跳变、谐波含量等电压暂降特征的编辑设置,同时可按序列产生多个电压事件,还可以通过输入数据序列产生任意的电压波形,以模拟实际产生的电压暂降形式。
可选的,待测设备可以为FAT-25型模块型开关电源,输入电压AC85V(交流85伏特)至AC265V,额定功率20.95W(瓦特)。可提供相互隔离的3路输出,用于电路板的供电。测试时以+5V输出电压为基准,当输出电压低于+4.5V时判定该开关电源受到电压暂降的影响;若输出电压能保持在+4.5V至+5V之间,判定该开关电源不受电压暂降的影响,可持续正常工作。
负载可以采用63804型电力电子负载,可准确调节负载电阻的大小,从而调节开关电源的工况;录波器可以为DL850型录波器,该仪器最大可允许16通道输入、分辨率达16bit(比特)、最大采样率125kHz(千赫兹),从而可以准确记录设备工作波形,以便于后期数据处理和分析;所述控制分析设备可以为计算机设备,用于控制特定电压暂降的发生和恢复,控制录波器的启动和停止,分析和处理录波器所记录的波形。
在一个实施例中,如图2所示,提供了一种电压暂降免疫度测试方法,以该方法应用于图1中的测试控制计算机设备为例进行说明,包括以下步骤:
步骤202,确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间。
其中,测试参数包括电压暂降特征参数和待测设备的工况参数。
具体地,电压暂降特征参数包括但不局限于电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、暂降前电压、连续电压暂降和/或电压恢复率等,工况参数包括但不局限于待测设备的负载率、转速和/或器件利用率(如处理器利用率)等描述待测设备的工作状态的物理量。需要说明的是,测试参数中还可包括其他类型的参数,并不只局限于电压暂降特征参数和待测设备的工况参数。
最大电压暂降持续时间为测试过程中所研究的电压暂降持续时间的最大值,可根据待测设备的类型和测试现场的条件进行确定,在一个示例中,最大电压暂降持续时间可以为3s(秒),也可以为1s或2s等。
需要说明的是,在确定测试参数时,考虑到待测设备电压暂降免疫度测试的不同维度,如待测设备的负载率、电压暂降起始角、相位跳变、残余电压、持续时间等,设置初始测试参数,例如在设置待测设备的负载率和电压暂降的各种特征量时,可以根据待测设备的实际情况进行选取。在一个示例中,初始测试参数可以为:待测设备负载率为100%、电压暂降起始角为0°(度)、波形畸变率为0、未发生连续电压暂降和电压暂降瞬时恢复。
步骤204,以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,并分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间。
其中,阈值电压为基于最大电压暂降持续时间和待测设备的工作状态得到,在一个示例中,阈值电压可以为待测设备持续工作最大电压暂降持续时间并发生故障时所对应的残余电压。最大容忍持续时间为将残余电压施加至待测设备的时刻、与待测设备在残余电压下发生故障的时刻之间的间隔,例如,待测残余电压为额定电压的70%,于第一时刻将待测残余电压施加于待测设备,待测设备在待测残余电压下持续工作,并于第二时刻发生故障,则待测残余电压对应的最大容忍持续时间为第一时刻与第二时刻之间的时间间隔。
具体地,第一电压调整步长为相邻的两次测试中,残余电压的变化量,例如在当前测试中残余电压为电压1,第一电压调整步长为U,则下一次测试中残余电压的值为电压2,电压2等于电压1加U。通过调整第一电压调整步长,从而可实现对电压容忍度曲线精度的调整。当第一电压调整步长越小时,测试的次数越多,得到的电压容忍度曲线约精确,对待测设备的损害越大;当第一电压调整步长越大时,测试的次数越少,得到的电压容忍度曲线约粗略,对待测设备的损害越小。
进一步地,可以以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,直至残余电压为预设比例的残余电压,例如为残余电压的0%,针对每一个参与电压,分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间。
在一个示例中,第一电压调整步长可以为额定电压的5%。需要说明的是,第一电压调整步长可以根据测试精度进行调整,例如可调整为额定电压的1%或额定电压的10%等。
以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长,调整施加于待测设备的残余电压,进一步地,可按照第一电压调整步长、增减或减少施加在待测设备上的残余电压,在每次调整的过程中,第一电压调整步长可为相同或不同,即可以进行等差调整或者不等差调整。
步骤206,根据阈值电压、最大电压暂降持续时间、各残余电压和各残余电压对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在测试参数下的电压容忍度曲线;电压容忍度曲线用于表征待测设备的电压暂降免疫度。
具体地,一组残余电压与其对应的最大容忍持续时间的数据可用于确认电压容忍度曲线所经过的一个点,通过多组残余电压与其对应的最大容忍持续时间的数据,从而可确定出电压容忍度曲线经过的多个点,并基于多个点得到电压容忍度曲线。本申请中,待测设备故障停机一次即可确定一组残余电压与其对应的最大容忍持续时间的数据,即待测设备故障停机一次即可确定电压容忍度曲线的一个点。
本申请通过以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加在待测设备的残余电压,并获取每个残余电压对应的最大容忍持续时间,基于阈值电压、最大电压暂降持续时间、各个残余电压和各个残余电压所对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在对应的测试参数下的电压容忍度曲线,可在最大容忍持续时间较短的残余电压区域内分别获取每个残余电压对应的最大容忍持续时间,并能够避免电压容忍度曲线可能存在的“非单调”特性对测试的影响,提高了测试结果的准确性;同时,待测设备故障停机一次即可确定相应的残余电压下待测设备的最大可容忍时间,减少了测试过程中的测试点,缩减了测试周期,并降低了待测设备的损坏程度,进而能够在提高电压暂降免疫度测试的效率的同时,提高了测试结果的准确度,兼顾了高测试效率和准确的测试结果。
在一个实施例中,还包括步骤:
从残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,以使待测设备在各残余电压下持续工作最大电压暂降持续时间,直至待测设备发生故障;
将故障发生时对应的残余电压确认为阈值电压。
具体地,第二电压调整步长可以为相邻的量词测试中,残余电压的变化量,可以根据待测设备的种类、测试现场条件和测试精度进行选定,可以为额定电压的1%或额定电压的5%等。第一电压调整步长和第二电压调整步长可以为相同或者不同,例如第一电压调整步长可以为额定电压的5%,第二电压调整步长可以为额定电压的5%,或者额定电压的3%。在一个示例中,第一电压调整步长可以为额定电压的5%,第二电压调整步长可以为额定电压的2%。
通过调整第二电压调整步长,从而可实现对电压容忍度曲线精度的调整。当第二电压调整步长越小时,测试的次数越多,得到的电压容忍度曲线约精确,对待测设备的损害越大;当第二电压调整步长越大时,测试的次数越少,得到的电压容忍度曲线约粗略,对待测设备的损害越小。
从残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长,调整施加在待测设备的残余电压,其中,调整的方式包括但不局限于递增、递减、先增加后减小以及先减小后增加等,可根据实际情况以及设计需求,确定残余电压的调整方式。待测设备在每个残余电压下均持续工作最大电压持续暂降时间,若待测设备在残余电压下持续工作最大电压持续暂降时间后没有发生故障,则调整残余电压的值,并使得待测设备在调整后的残余电压下持续工作最大电压持续暂降时间,直到待测设备发生故障,则可停止调整残余电压,并将待测设备发生故障时所对应的残余电压确认为阈值电压。
也即,在最大电压暂降持续时间下,当残余电压大于或等于阈值电压时,待测设备可以长期工作;当残余电压小于阈值电压时,待测设备有故障停机的可能性。
例如,残余电压的调整起点为额定电压的95%,第二电压调整步长为额定电压的5%,最大电压持续暂降时间为5s,首先将额定电压的95%施加于待测设备,并使得待测设备在95%额定电压下持续工作5s。若待测设备发生故障,则将额定电压的95%确认为阈值电压;若待测设备没有发生故障,且可以正常工作,则将残余电压调整为额定电压的90%,并使得待测设备在90%额定电压下持续工作5s,依次调整直至待测设备发生故障。
本申请通过自上而下的测试方法得到对应于最大电压暂降持续时间的阈值电压,并采用自左而右的测试方法得到每个残余电压分别对应的最大容忍持续时间,从而通过结合自上而下和自左而右的测试方法,得到递进式的电压暂降免疫度测试方法,减少了大量冗余的测试点,提高了测试效率;同时,本申请还能够避免电压容忍度曲线可能存在的“非单调”特性对测试的影响,避免了只采用自上而下方法和循环方法进行测试时,不能准确表征待测设备“非单调”特性的不足,进而提高了测试结果的准确性,即本申请可同时兼顾高测试效率与准确的测试结果。
在一个实施例中,残余电压的调整起点为预设比例的额定电压;
从残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长,调整施加于待测设备的残余电压的步骤包括:
以预设比例的额定电压为残余电压的调整起点,将施加于待测设备的残余电压按照第二电压调整步长递减。
具体地,以预设比例的额定电压为残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长,逐渐降低施加在待测设备的残余电压,直至待测设备发生故障,并将故障发生时所对应的残余电压确认为阈值电压。
在一个示例中,预设比例可以为90%,即残余电压的调整起点可以为90%的额定电压。需要说明的是,残余电压的调整起点可以根据实际情况以及设计需求进行确定,并不只局限于额定电压的90%。
本申请通过对施加于待测设备的残余电压进行递减,使得待测设备仅故障停机一次即可确定相应的残余电压阈值,从而大大减少了待测设备的故障停机次数,并缩减了测试周期,对于重新启动时间较长的待测设备,极大缩短了其测试时间;同时,还降低了待测设备的损坏程度,延长了待测设备的使用寿命。
在一个实施例中,如图3所示,分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间的步骤,包括:
步骤302,确定当前残余电压、测试时间的调整起点和时间调整步长;
步骤304,从测试时间的调整起点,按照时间调整步长、调整测试时间,以使待测设备在当前残余电压下持续工作测试时间,直至待测设备发生故障;
步骤306,将故障发生时对应的测试时间确认为当前残余电压对应的最大容忍持续时间。
具体地,各个残余电压均小于阈值电压;测试时间的调整起点用于指示待测设备在起始工作时间段,例如测试时间的调整起点为1s,则待测设备在测试开始时,需要在残余电压下持续工作1s。时间调整步长为相邻两次测试中,测试时间的改变步长,可以根据测试精度进行调整。
在获取单个目标残余电压所对应的最大容忍持续时间时,确认测试时间的调整起点T0以及时间调整步长,将目标残余电压确认为当前残余电压,并将当前残余电压施加于待测设备上,使得待测设备在当前残余电压下持续工作T0时间,若待测设备发生故障,则将T0时间确认为当前残余电压所对应的最大容忍持续时间;若待测设备没有发生故障,则按照时间调整步长调整测试时间,使得待测设备在当前残余电压下持续工作调整后的测试时间,直至待测设备发生故障,将故障发生时对应的测试时间确认为当前残余电压对应的最大容忍持续时间。
例如,测试时间的调整起点为T0,时间调整步长为T1,将当前残余电压施加于待测设备上,使得待测设备在当前残余电压下持续工作T0时间,若待测设备没有发生故障,则调整测试时间,得到调整后的测试时T2,其中T2等于T0加T1,并使得待测设备在当前残余电压下持续工作T2时间,若待测设备发生故障,则将T2确认为当前残余电压所对应的最大容忍持续时间。
在一个示例中,可以从测试时间的调整起点,按照时间调整步长、逐步增加测试时间,即在测试当前残余电压所对应的最大容忍持续时间时,对测试时间进行递增,使得待测设备在当前残余电压下持续工作的测试时间逐渐增长,直到待测设备发生故障,并将故障发生时对应的测试时间确认为当前残余电压对应的最大容忍持续时间。通过对测试时间进行递进改变,使得设备仅故障停机一次即可得到任一残余电压下对应的最大容忍持续时间。待测设备故障停机一次即可确定电压容忍度曲线所经过的一个点,提高了测试精度高和测试效率。
在一个实施例中,测试时间的调整起点为10毫秒;
确定测试时间的调整起点和时间调整步长的步骤,包括:
当最大电压暂降持续时间大于或等于10毫秒且小于100毫秒时,确定时间调整步长为10毫秒;
当最大电压暂降持续时间大于或等于100毫秒且小于1000毫秒时,确定时间调整步长为100毫秒;
当最大电压暂降持续时间大于1000毫秒时,确定时间调整步长为1000毫秒。
具体地,当最大电压暂降持续时间大于或等于10毫秒且小于100毫秒时,将时间调整步长确定为10毫秒;当最大电压暂降持续时间大于或等于100毫秒且小于1000毫秒时,将时间调整步长确定为100毫秒;当最大电压暂降持续时间大于1000毫秒时,将时间调整步长确定为1000毫秒。在一个示例中,测试时间可以从10ms开始逐渐增大直至待测设备故障停机,并记录待测设备所能容忍的最大持续时间,得到最大容忍持续时间。在一个示例中,电压容忍度曲线可如图4所示,其中Uth为阈值电压,U为残余电压的任一取值,△U为第一电压调整步长,△Uth为第二电压调整步长,△T为时间调整步长,Tmax为最大电压暂降持续时间。
时间调整步长越小,获得的电压容忍度曲线越精确,但所需的测试次数越多,对待测设备造成的损失也就越大;时间调整步长越大,所获得的电压容忍度曲线越粗略,但所需的测试测试越少,对待测设备造成的损失也越小。本申请根据最大电压暂降持续时间确定时间调整步长,从而可兼顾测试效率和测试精度。
在一个实施例中,还包括步骤:
调整当前的电压暂降特征参数,并保持当前的工况参数,以获取各电压暂降特征参数分别对应的电压容忍度曲线。
具体地,调整当前的电压暂降特征参数,并保持当前的工况参数,并以调整后的电压暂降特征参数和当前的工况参数作为当前测试参数,得到当前测试参数对应的电压容忍度曲线。
在一个实施例中,还包括步骤:
调整当前的工况参数,并进入调整当前的电压暂降特征参数,并保持当前的工况参数,以获取各工况参数条件下、各电压暂降特征参数分别对应的电压容忍度曲线,直至遍历所有待测的工况参数。
具体地,调整当前的工况参数,并在调整后的当前的工况参数下,调整当前的电压暂降特征参数,即保持调整后的当前的工况参数,并调整当前的电压暂降特征参数,得到调整后的当前的工况参数对应的多组测试参数,并获取多组测试参数分别对应的电压容忍度曲线。
循环测试时,测试参数的改变顺序可以根据实际情况以及设计需求确定。以电压暂降参数作为循环内层,以待测设备的工况参数作为循环外层,通过循环内层改变电压暂降参数,如电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率等,可以通过设定电压暂降源使得输出波形满足一定的特征,便于测试的进行;通过循环外层改变设备的运行工况,如运行方向、转速、负载率等,这些测试维度需对待测设备的运行条件进行变动,不易实现,从而可减少测试的工作量,提高测试效率。
进一步地,为保证测试时待测设备的工作状态处于正常稳定状态,每两次测试之间可以间隔一定的时间。在测试完成后,可以对测试结果进行多维度的比较。
为便于理解本申请中测试参数的调整,下面通过一个具体的示例进行说明,其中,待测设备为开关电源,电压暂降特征参数包括电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、暂降前电压、连续电压暂降和/或电压恢复率等,工况参数包括但不局限于待测设备的负载率、转速和/或CUP利用率等描述待测设备的工作状态的物理量。
电压暂降起始角为电压暂降发生时参考电压的相角度,由于开关电源在不同电压暂降起始角下的免疫度可能不同,为了获得开关电源全面的电压暂降免疫度,应选取不同的电压暂降起始角进行测试。电压暂降起始角可以在0°至360°范围内均匀的选取,可根据现场测试情况进行选取。
可选地,电压暂降起始角的间隔为45°,即依次设定电压暂降起始角为0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°和315°。每次设置后,保持其他参数不变,即保持相位跳变、谐波畸变率、暂降前电压、连续电压暂降、电压恢复率和工况参数不变,以获取当前测试参数对应的电压容忍度曲线。
相位跳变是指电压暂降发生后参考电压的相位相比于电压暂降发生前相角度的变化,由于开关电源在不同相位跳变下的免疫度可能不同,为了获得开关电源全面的电压暂降免疫度,应选取不同的相位跳变进行测试。相位跳变可以在0°到90°范围内均匀的选取,可根据现场测试情况进行选取。
可选的,设置相位跳变的间隔为30°,即依次设定电压暂降起始角为0°、30°、60°和90°。每次设置后,保持其他参数不变,即保持电压暂降起始角、谐波畸变率、暂降前电压、连续电压暂降、电压恢复率和工况参数不变,以获取当前测试参数对应的电压容忍度曲线。
谐波畸变率是指电压暂降发生前后某次谐波电压含量以及某几次谐波电压含量之和。由于电网中电压存在一定的谐波,其中以3次、5次和7次谐波电压为主,而谐波电压对设备的正常工作和发生电压暂降时的动态响应有一定的影响,为了获得设备全面的电压暂降免疫度,应选取单项谐波、不同的谐波组合以及不同的谐波总含量进行测试。所述单项谐波是指电网电压中只含有某一次的电压谐波,可分别为3次、5次或7次;所述谐波组合是指电网中含有两次或两次以上的电压谐波,可为3次、5次和7次的不同组合;所述谐波总含量是指电网电压的总谐波畸变率,可为0到100%内设置。
可选的,设置谐波总畸变率为20%,其中3次谐波、5次谐波和7次谐波的组合可为(20%,0%,0%)、(0%,20%,0%)、(0%,0%,20%)、(10%,10%,0%)、(10%,0%,10%)、(0%,10%,10%)和(10%,5%,5%)等。每次设置后,保持其他参数不变,即保持电压暂降起始角、相位跳变、暂降前电压、连续电压暂降、电压恢复率和工况参数不变,以获取当前测试参数对应的电压容忍度曲线。
可选地,所述开关电源工况参数包括但不仅限于开关电源的内负载率,还可以包含多输出之间的不同负载率组合等情况。开关电源的负载率可以在0%到100%中均匀选取,可根据开关电源的实际情况和现场测试条件进行选取。
可选的,设置开关电源负载率的间隔为10%,也即选择开关电源的负载率为0%、10%、30%、30%、40%、50%、60%、70%、80%、90%和100%。每次设置后,保持其他参数不变,即保持电压暂降起始角、相位跳变、谐波总畸变率、暂降前电压、连续电压暂降和电压恢复率不变,以获取当前测试参数对应的电压容忍度曲线。
在开关电管负载率改变后,依次改变电压暂降特征参数,如电压暂降起始角、相位跳变、谐波总畸变率、暂降前电压、连续电压暂降和电压恢复率,并分别获得不同测试参数下的电压暂降免疫度曲线。
需要说明的是,测试参数选取的密度越大,得到开关电源电压暂降免疫度越精确,但进行的测试次数也就越多,对开关电源的损害也就越大;测试参数选取的密度越小,得到开关电源电压暂降免疫度越粗略,进行的测试次数也就越少,对开关电源的损害也就越小。
应该理解的是,虽然图1-4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图1-4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,如图5所示,提供了一种电压暂降免疫度测试装置,包括:
测试参数提供模块510,用于确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;测试参数包括电压暂降特征参数和待测设备的工况参数;
最大容忍持续时间获取模块520,用于以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,并分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间;阈值电压为基于最大电压暂降持续时间和待测设备的工作状态得到;最大容忍持续时间为将残余电压施加至待测设备的时刻、与待测设备在残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
电压容忍度曲线生成模块530,用于根据阈值电压、最大电压暂降持续时间、各残余电压和各残余电压对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在测试参数下的电压容忍度曲线;电压容忍度曲线用于表征待测设备的电压暂降免疫度。
在一个实施例中,电压暂降免疫度测试装置还包括:
残余电压调整模块,用于从残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,以使待测设备在各残余电压下持续工作最大电压暂降持续时间,直至待测设备发生故障;
阈值电压确定模块,用于将故障发生时对应的残余电压确认为阈值电压。
在一个实施例中,残余电压调整模块包括:
残余电压递减单元,用于以预设比例的额定电压为残余电压的调整起点,将施加于待测设备的残余电压按照第二电压调整步长递减。
在一个实施例中,最大容忍持续时间获取模块包括:
测试时间确定单元,用于确定当前残余电压、测试时间的调整起点和时间调整步长;
测试时间调整单元,用于从测试时间的调整起点,按照时间调整步长、调整测试时间,以使待测设备在当前残余电压下持续工作测试时间,直至待测设备发生故障;
最大容忍持续时间确定单元,用于将故障发生时对应的测试时间确认为当前残余电压对应的最大容忍持续时间。
在一个实施例中,测试时间的调整起点为10毫秒;
测试时间确定单元还用于当最大电压暂降持续时间大于或等于10毫秒且小于100毫秒时,确定时间调整步长为10毫秒;
当最大电压暂降持续时间大于或等于100毫秒且小于1000毫秒时,确定时间调整步长为100毫秒;
当最大电压暂降持续时间大于1000毫秒时,确定时间调整步长为1000毫秒。
在一个实施例中,电压暂降免疫度测试装置还包括:
电压暂降特征参数调整模块,用于调整当前的电压暂降特征参数,并保持当前的工况参数,以获取各电压暂降特征参数分别对应的电压容忍度曲线。
在一个实施例中,工况参数调整模块,用于调整当前的工况参数,并进入调整当前的电压暂降特征参数,并保持当前的工况参数,以获取各工况参数条件下、各电压暂降特征参数分别对应的电压容忍度曲线,直至遍历所有待测的工况参数。
关于电压暂降免疫度测试装置的具体限定可以参见上文中对于电压暂降免疫度测试方法的限定,在此不再赘述。上述电压暂降免疫度测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,提供了一种电压暂降免疫度测试设备,其内部结构图可以如图6所示。该电压暂降免疫度测试设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中,该电压暂降免疫度测试设备的处理器用于提供计算和控制能力。该电压暂降免疫度测试设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电压暂降免疫度测试方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图6中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,提供了一种电压暂降免疫度测试设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;测试参数包括电压暂降特征参数和待测设备的工况参数;
以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,并分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间;阈值电压为基于最大电压暂降持续时间和待测设备的工作状态得到;最大容忍持续时间为将残余电压施加至待测设备的时刻、与待测设备在残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
根据阈值电压、最大电压暂降持续时间、各残余电压和各残余电压对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在测试参数下的电压容忍度曲线;电压容忍度曲线用于表征待测设备的电压暂降免疫度。
在一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;测试参数包括电压暂降特征参数和待测设备的工况参数;
以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于待测设备的残余电压,并分别获取各残余电压对应的最大容忍持续时间;阈值电压为基于最大电压暂降持续时间和待测设备的工作状态得到;最大容忍持续时间为将残余电压施加至待测设备的时刻、与待测设备在残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
根据阈值电压、最大电压暂降持续时间、各残余电压和各残余电压对应的最大容忍持续时间,生成待测设备在测试参数下的电压容忍度曲线;电压容忍度曲线用于表征待测设备的电压暂降免疫度。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;所述测试参数包括电压暂降特征参数和所述待测设备的工况参数;
以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于所述待测设备的所述残余电压,并分别获取各所述残余电压对应的最大容忍持续时间;所述阈值电压为基于所述最大电压暂降持续时间和所述待测设备的工作状态得到;所述最大容忍持续时间为将所述残余电压施加至所述待测设备的时刻、与所述待测设备在所述残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
根据所述阈值电压、所述最大电压暂降持续时间、各所述残余电压和各所述残余电压对应的最大容忍持续时间,生成所述待测设备在所述测试参数下的电压容忍度曲线;所述电压容忍度曲线用于表征所述待测设备的电压暂降免疫度。
2.根据权利要求1所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,还包括步骤:
从所述残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长、调整施加于所述待测设备的所述残余电压,以使所述待测设备在各所述残余电压下持续工作所述最大电压暂降持续时间,直至所述待测设备发生故障;
将所述故障发生时对应的所述残余电压确认为所述阈值电压。
3.根据权利要求2所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,所述残余电压的调整起点为预设比例的额定电压;
从所述残余电压的调整起点,按照第二电压调整步长,调整施加于所述待测设备的所述残余电压的步骤包括:
以所述预设比例的额定电压为所述残余电压的调整起点,将施加于所述待测设备的所述残余电压按照所述第二电压调整步长递减。
4.根据权利要求1所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,分别获取各所述残余电压对应的最大容忍持续时间步骤,包括:
确定当前残余电压、测试时间的调整起点和时间调整步长;
从所述测试时间的调整起点,按照所述时间调整步长、调整所述测试时间,以使所述待测设备在所述当前残余电压下持续工作所述测试时间,直至所述待测设备发生故障;
将所述故障发生时对应的所述测试时间确认为所述当前残余电压对应的最大容忍持续时间。
5.根据权利要求4所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,所述测试时间的调整起点为10毫秒;
确定测试时间的调整起点和时间调整步长的步骤,包括:
当所述最大电压暂降持续时间大于或等于10毫秒且小于100毫秒时,确定所述时间调整步长为10毫秒;
当所述最大电压暂降持续时间大于或等于100毫秒且小于1000毫秒时,确定所述时间调整步长为100毫秒;
当所述最大电压暂降持续时间大于1000毫秒时,确定所述时间调整步长为1000毫秒。
6.根据权利要求1至5任一项所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,还包括步骤:
调整当前的所述电压暂降特征参数,并保持当前的所述工况参数,以获取各所述电压暂降特征参数分别对应的所述电压容忍度曲线。
7.根据权利要求6所述的电压暂降免疫度测试方法,其特征在于,还包括步骤:
调整当前的所述工况参数,并进入调整当前的所述电压暂降特征参数,并保持当前的所述工况参数,以获取各所述工况参数条件下、各所述电压暂降特征参数分别对应的所述电压容忍度曲线,直至遍历所有待测的所述工况参数。
8.一种电压暂降免疫度测试装置,其特征在于,包括:
测试参数提供模块,用于确定待测设备的测试参数和最大电压暂降持续时间;所述测试参数包括电压暂降特征参数和所述待测设备的工况参数;
最大容忍持续时间获取模块,用于以阈值电压为调整起点,按照第一电压调整步长、调整施加于所述待测设备的所述残余电压,并分别获取各所述残余电压对应的最大容忍持续时间;所述阈值电压为基于所述最大电压暂降持续时间和所述待测设备的工作状态得到;所述最大容忍持续时间为将所述残余电压施加至所述待测设备的时刻、与所述待测设备在所述残余电压下发生故障的时刻之间的间隔;
电压容忍度曲线生成模块,用于根据所述阈值电压、所述最大电压暂降持续时间、各所述残余电压和各所述残余电压对应的最大容忍持续时间,生成所述待测设备在所述测试参数下的电压容忍度曲线;所述电压容忍度曲线用于表征所述待测设备的电压暂降免疫度。
9.一种电压暂降免疫度测试设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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