CN110275076B

CN110275076B - 设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和介质

Info

Publication number: CN110275076B
Application number: CN201910560735.2A
Authority: CN
Inventors: 马智远; 陈韬; 莫文雄; 许中; 饶毅; 周凯; 王勇; 叶石丰; 栾乐; 张群峰; 叶志峰; 李情; 王荣富
Original assignee: Guangzhou Power Supply Bureau of Guangdong Power Grid Co Ltd
Current assignee: Guangzhou Power Supply Bureau of Guangdong Power Grid Co Ltd
Priority date: 2019-06-26
Filing date: 2019-06-26
Publication date: 2021-11-09
Anticipated expiration: 2039-06-26
Also published as: CN110275076A

Abstract

本申请涉及一种设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和存储介质，设置测试条件，其中，方法包括：采用二分法获取待测设备对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，再调整测试条件，获取待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，最终得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。整个过程中，通过二分法减少冗余测试点，并确保了测试结果精度，可以高效且准确实现设备电压暂降免疫度测试。

Description

设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和介质

技术领域

本申请涉及电力电网技术领域，特别是涉及一种设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着电力系统的发展，敏感负荷在电网中得到了广泛的应用，在诸多电能质量问题中，电压暂降问题显得越来越重要，已上升为主要的电能质量问题。电压暂降是指电力系统中某点工频电压方均根值突然降低至0.1p.u～0.9p.u，并在短暂持续10毫秒～1分钟后恢复正常的现象。当发生电压暂降时，通常会使交流接触器、脱扣器、PLC(ProgrammableLogic Controller，可编程逻辑控制器)、继电器、ASD(Automatic SychronizedDiscriminator，自动同步鉴别器)和交流接触器等设备工作失常，特别是当这些设备应用在医疗、电信、半导体等行业时，将导致巨大的安全隐患和经济损失。有关统计调查显示，由电压暂降引起的投诉数量占到了因电能质量投诉总量的80％以上。获得设备的电压暂降免疫度对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。

目前，获得设备的电压暂降免疫度主要有仿真测试和试验测试两种方法。仿真测试方法效率极低，需要做多次仿真或试验才能确定残余电压-持续时间平面内的一个点，确定整条电压容忍度曲线更需大量的仿真或试验次数，极大的降低了工作效率。试验测试方法中，由于设备在不同工况下的电压暂降免疫度差别极大，电压暂降特征(如电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、连续电压暂降和电压恢复率等)对设备的电压暂降免疫度也存在相应的差别，试验测试过程无法针对这些电压暂降特征全部考虑进去，导致最终试验测试方法得到的结果存在较大误差。

因此，目前急需一种高效且准确的设备电压暂降免疫度测试方案。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种高效且准确的设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种设备电压暂降免疫度测试方法，所述方法包括：

设置测试条件，所述测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值；

基于预设暂降持续时间改变步长，由所述持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值。

调整测试条件，返回所述施加电压暂降持续时间于待测设备的步骤，得到所述待测设备在不同测试条件下不同暂降持续时间对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值残余电压最小值；

根据所述待测设备在不同测试条件下不同暂降持续时间对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

在其中一个实施例中，所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

持续施加预设电压暂降最大持续时间的电压暂降于所述待测设备，在残余电压90％至0％区间内，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

在其中一个实施例中，所述基于预设暂降持续时间改变步长，由所述持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至持续时间阈值，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值包括：

基于预设暂降持续时间改变步长，由所述持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值。

在其中一个实施例中，所述根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果包括：

根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线；

根据不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，采用二分法进行多次测试，确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

在其中一个实施例中，所述待测设备工况包括设备负载率与运转方向，所述电压暂降特征包括电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、电压暂降前电压、残余电压、持续时间以及连续电压暂降。

一种设备电压暂降免疫度测试装置，所述装置包括：

条件设置模块，用于设置测试条件，所述测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

第一测试模块，用于持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值；

第二测试模块，用于基于预设暂降持续时间改变步长，由所述持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值。

循环测试模块，用于调整测试条件，控制第一测试模块和第二测试模块执行对应操作，得到所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

测试结果模块，用于根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

在其中一个实施例中，所述第二测试模块还用于基于预设暂降持续时间改变步长，由所述电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值。

一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。

上述设备电压暂降免疫度测试方法、装置、计算机设备和存储介质，设置测试条件，采用二分法获取待测设备对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，再调整测试条件，获取待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，最终得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。整个过程中，通过二分法减少冗余测试点，并确保了测试结果精度，可以高效且准确实现设备电压暂降免疫度测试。

附图说明

图1为一个实施例中设备电压暂降免疫度测试方法的应用环境图；

图2为一个实施例中设备电压暂降免疫度测试方法的流程示意图；

图3为一个二分法测试过程示意图；

图4为另一个实施例中设备电压暂降免疫度测试方法的流程示意图；

图5为具体实例中设备电压暂降免疫度试验研究的示意图；

图6为一个实施例中设备电压暂降免疫度测试装置的结构示意图；

图7为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的设备电压暂降免疫度测试方法，可以应用于如图1所示的应用环境中。其中，服务器102与待测设备104连接，操作人员在服务器102上操作，以设置本轮测试的测试条件，测试条件包括待测设备104工况和电压暂降特征，服务器102持续施加预设时间的电压暂降于待测设备104，通过二分法确定待测设备104可容忍的电压暂降残余电压阈值，服务器102再基于预设残存电压改变步长，由所述持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值，当完整本轮测试之后，服务器102记录下本轮测试对应的测试条件、可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，服务器102调整测试条件循环进行上述测试过程获取不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，进而分析得出待测设备104的电压暂降免疫度测试结果。

如图2所示，一种设备电压暂降免疫度测试方法，方法包括：

S100：设置测试条件，测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征。

测试条件包括设备的工况和电压暂降特征，设备工况可为设备的负载率、转速、CUP利用率等描述设备工作状态的物理量，电压暂降特征可为暂降起始角、谐波畸变率、相位跳变、电压恢复率、暂降前电压等描述电压暂降形式的特征量等。测试条件在每轮测试分别进行修改和调整。

S200：持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

二分法基本思想是：把函数f(x)的零点所在的区间[a，b](满足f(a)*f(b)<0)“一分为二”，得到[a，m]和[m，b]。根据“f(a)*f(m)<0”是否成立，取出零点所在的区间[a，m]或[m，b]，仍记为[a，b]。所对得的区间[a，b]重复上述步骤，直到包含零点的区间[a，b]“足够小”，则[a，b]内的数可以作为方程的近似解。对待测设备持续施加预设时间的电压暂降，检测待测设备工况，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。具体来说，电压暂降残余电压阈值属于一个临界值，在该持续施加电压暂降条件下，当残余电压低于电压暂降残余电压阈值可导致设备故障停机，当残余电压高于电压暂降残余电压阈值设备可正常工作。预设时间具体可以为电压暂降最大持续时间，该时间可以基于行业标准或者历史检测数据得到。

进一步的，针对二分法可以采用多次测试的方式，以提高测试精度。

S300：基于预设暂降持续时间改变步长，由所述电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值。

预设持续时间改变步长为每次循环测试中暂降持续时间的改变步长，根据测试精确度的需要可适当调整。一般来说，预设持续时间改变步长前期较大，后期可适当调小步长以提高精度。同样地，可以考虑增加二分法测试次数，提高最终可容忍的残余电压最小值的精度。

S400：调整测试条件，返回上述步骤S200，得到待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值。

不断调整测试条件，返回上述步骤S200，循环测试在不同测试条件下可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值。具体循环的次数可以根据实际情况的需要进行设定，例如当需要丰富全面的多个不同测试条件下待测设备对应的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，则循环较多次数，以便测试结果的全面；当需要尽快得到大概的情况或者指定条件以及小范围条件下待测设备对应的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，则仅需循环较少的次数，以便测试数据量精简，尽快得到所需结果。

S500：根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

将步骤S100-S400测试得到的待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值数据归集和分析，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。具体来说，可以基于步骤S100-S400测试得到的待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值绘制不同测试条件下电压暂降容忍度曲线，根据电压暂降容忍度曲线得到电压暂降免疫度测试结果。

上述设备电压暂降免疫度测试方法，设置测试条件，采用二分法获取待测设备对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，再调整测试条件，获取待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，最终得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。整个过程中，通过二分法减少冗余测试点，并确保了测试结果精度，可以高效且准确实现设备电压暂降免疫度测试。

在其中一个实施例中，持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

持续施加预设电压暂降最大持续时间的电压暂降于待测设备，在残余电压90％至0％区间内，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

电压暂降最大持续时间可以基于待测设备的历史性能参数介绍或者历史检测数据得到，其具体可以为1秒。可以提高“二分法”测试的次数，使得获得的残余电压阈值，满足一定的精度要求。可选的，在该实施例中，残余电压阈值的精度为额定电压的1％。具体测试过程可以参见图3。

在其中一个实施例中，基于预设持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值包括：

基于预设暂降持续时间改变步长，由预设电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值。具体测试过程可以参见图3。

预设残存电压改变步长为两次测试时残余电压的变化幅度，可以表示为所获得交流接触器电压容忍的曲线的精度。预设暂降持续时间改变步长越小，所获得的电压容忍度曲线越精确，但所需的测试次数越多，对待测设备造成的损害也就越大；预设暂降持续时间改变步长越大，所获得的电压容忍度曲线越粗略，但所需的测试测试越少，对待测设备造成的损害也就越小。可以提高“二分法”测试的次数，使得获得的最大持续时间满足一定的精度要求。可选地，可以综合考虑待测设备的实际工作状态和测试精度，设定电压暂降持续时间改变步长。以待测设备为交流接触器为例，考虑其实际工作状态和测试精度，当持续时间在10毫秒～100毫秒区间时，测试精度在1毫秒以内；当持续时间在100毫秒～1000毫秒区间时，测试精度在10毫秒以内。

如图4所示，在其中一个实施例中，步骤S500包括：

S520：根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线。

S540：根据不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

为更进一步详细解释本申请设备电压暂降免疫度测试方法的技术方案及其效果，下面将以待测设备为交流接触器为实例，详细描述上述电压暂降免疫度测试过程。

图5为上述具体实例中设备电压暂降免疫度试验研究的示意图。在该实施例中，测试平台主要包括电压暂降发生源、受试设备、负载、录波器、控制分析设备等部分。电压暂降发生源输出特定的电压波形施加到受试设备的输入端，受试设备的输出端接入一定的负载；同时，检测受试设备的输入电压电流波形、输出电压电流波形，录波器记录检测获取到的电压电流信号，以供后期的处理；控制分析设备通过网线连接电压暂降发生源和录波器，控制分析设备控制特定电压暂降的发生和恢复，控制录波器的启动和停止，并对录波器所记录的波形进行分析处理。

可选的，电压暂降源采用MX II-45可编程电源，其最大输出功率为45kVA。可实现三相/单相交流输出，相电压输出范围为0～400V，频率输出范围为16～500Hz，也可三相/单相直流输出。可以通过操作界面或试验监测电脑控制界面实现残余电压、持续时间、起始角、相位跳变、谐波含量等电压暂降特征的编辑设置，同时可按序列产生多个电压事件，还可以通过输入数据序列产生任意的电压波形，以模拟实际产生的电压暂降形式。可选的，受试设备为交流接触器，测试过程中交流接触器触头跳开而切断主电路认为交流接触器受到相应电压暂降的影响，交流接触器触头未动作认为交流接触器不受相应电压暂降的影响。负载采用63804型电力电子负载，可准确调节负载特性大小，从而调节交流接触器主电路负载的特性和大小。波形记录设备DL850型录波器，该仪器最大可允许16通道输入、分辨率达16-bit、最大采样率125kHz。可以准确记录设备工作波形，以便于后期数据处理和分析。控制分析设备为台式机，可控制特定电压暂降的发生和恢复，控制录波器的启动和停止，分析和处理录波器所记录的波形。

交流接触器的电压暂降免疫度测试流程如下所示：

S1，设定交流接触器工况和电压暂降特征。

设备工况可为交流接触器主触头的负载率和负载功率因数等，电压暂降特征为电压暂降起始角、相位跳变、波形畸变、连续电压暂降、电压恢复率等。在此过程中，考虑交流接触器电压暂降免疫度测试不同维度，设置测试初始条件，包括交流接触器的负载率以及电压暂降的各种特征量，可以根据交流接触器的实际情况进行选取。在该实施例中，测试初始条件为：交流接触器主电路为纯电阻负载、负载率为100％、电压暂降起始角为0°、波形畸变率为0、未发生连续电压暂降、电压暂降瞬时恢复。

其中S2和S3是设定测试条件后所采用的测试方法，如附图3所示。

S2，施加第一持续时间的电压暂降至交流接触器上，残余电压在90％至0％的区间内，通过“二分法”测试方法确定设备可容忍的电压暂降残余电压阈值U_th。

在该步骤中，第一持续时间T_max为测试过程中所研究的电压暂降持续时间的最大值，可根据设备的种类以及测试现场条件进行选定。可选地，在该实施例中，第一持续时间为1秒。在第一持续时间的电压暂降施加下，当残余电压低于U_th可导致交流接触器跳闸，当残余电压高于U_th交流接触器可长期工作。可以提高“二分法”测试的次数，使得获得的残余电压阈值U_th，满足一定的精度要求。可选的，在该实施例中，残余电压阈值的精度为额定电压的1％。

S3，在确定残余电压阈值U_th的基础上，以持续时间改变步长ΔT由T_max开始不断减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值T_th；针对每一电压暂降持续时间，降残余电压为0％额定电压至预设电压暂降残余电压阈值内，通过“二分法”测试方法确定交流接触器可容忍的残余电压最小值，由此得出设备在该测试条件下的电压容忍度曲线。

持续时间改变步长ΔT为两次测试时持续时间的变化幅度，可以表示为所获得交流接触器电压容忍的曲线的精度。持续时间改变步长ΔT越小，所获得的电压容忍度曲线越精确，但所需的测试次数越多，对交流接触器造成的损害也就越大；持续时间改变步长ΔT越大，所获得的电压容忍度曲线越粗略，但所需的测试测试越少，对交流接触器造成的损害也就越小。可选地，在本实施例中，综合考虑了交流接触器的实际工作状态和测试精度，当持续时间在10毫秒～100毫秒区间时，测试精度在1毫秒以内；当持续时间在100毫秒～1000毫秒区间时，测试精度在10毫秒以内。

S4，改变设备工况和电压暂降特征等测试条件重复上述步骤进行测试，得到不同测试条件下设备的电压容忍度曲线。

可选地，改变的电压暂降特征包括但不限于电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率等。在步骤S4中，电压暂降起始角为电压暂降发生时参考电压的相角度，由于交流接触器在不同电压暂降起始角下的免疫度可能不同，为了获得交流接触器全面的电压暂降免疫度，应选取不同的电压暂降起始角进行测试。电压暂降起始角可以在0°～360°范围内均匀选取，也可根据现场测试情况进行选取。选取的密度越大，得到交流接触器电压暂降免疫度越详细，但进行的测试次数也就越多，对交流接触器的损害也就越大；选取的负载率密度越小，得到交流接触器电压暂降免疫度越粗略，但进行的测试次数也就越少，对交流接触器的损害也就越小。可选的，设置电压暂降起始角的间隔为45°，即依次设定电压暂降起始角为0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°和315°。每次设置后，重复步骤S2～S3，获得不同电压暂降起始角下交流接触器的电压暂降免疫度。

在步骤S4中，相位跳变是指电压暂降发生后参考电压的相位相比于电压暂降发生前相角度的变化，由于设备在不同相位跳变下的免疫度可能不同，为了获得交流接触器全面的电压暂降免疫度，应选取不同的相位跳变进行测试。相位跳变可以在0°～90°范围内均匀选取，也可根据现场测试情况进行选取。选取的密度越大，得到交流接触器的电压暂降免疫度越详细，但进行的测试次数也就越多，对交流接触器的损害也就越大；选取的负载率密度越小，得到设备电压暂降免疫度越粗略，但进行的测试次数也就越少，对交流接触器的损害也就越小。可选的，设置相位跳变的间隔为30°，即依次设定电压暂降起始角为0°、30°、60°和90°。每次设置后，重复步骤S2～S3，获得不同相位跳变下交流接触器的电压暂降免疫度。

在步骤S4中，谐波畸变率是指电压暂降发生前后某次谐波电压含量以及某几次谐波电压含量之和。由于电网中电压存在一定的谐波，其中以3次、5次和7次谐波电压为主，而谐波电压对设备的正常工作和发生电压暂降时的动态响应有一定的影响，为了获得设备全面的电压暂降免疫度，应选取单项谐波、不同的谐波组合以及不同的谐波总含量进行测试。单项谐波是指电网电压中只含有某一次的电压谐波，可分别为3次、5次或7次；谐波组合是指电网中含有两次或两次以上的电压谐波，可为3次、5次和7次的不同组合；谐波总含量是指电网电压的总谐波畸变率，可为0～100％内设置。可选的，设置谐波总畸变率为20％，其中3次谐波、5次谐波和7次谐波的组合可为(20％，0％，0％)、(0％，20％，0％)、(0％，0％，20％)、(10％，10％，0％)、(10％，0％，10％)、(0％，10％，10％)和(10％，5％，5％)等。每次设置后，重复步骤S1～S5，获得不同谐波组合下交流接触器的电压暂降免疫度。可选地，交流接触器工况包括但不仅限于交流接触器的负载率，还可以包含其主电路负载的功率因数等。

交流接触器的负载率可以在0％～100％中均匀选取，可根据交流接触器的实际情况和现场测试条件进行选取。选取的密度越大，得到交流接触器电压暂降免疫度越详细，但进行的测试次数也就越多，对交流接触器的损害也就越大；选取的负载率密度越小，得到交流接触器电压暂降免疫度越粗略，但进行的测试次数也就越少，对交流接触器的损害也就越小。可选的，设置交流接触器负载率的间隔为20％，也即选择交流接触器的负载率为0％、20％、40％、60％、80％和100％。每次设置后，重复步骤S2～S3，获得不同负载率下交流接触器的电压暂降免疫度。交流接触器主电路的负载可为纯电阻负载、阻感性负载和阻容性负载，功率因数角可以在-90°～+90°的范围内按照一定的密度进行选取。可选地，设置交流接触器主电路负载的功率因数角为-90°、-60°、-30°、0°、30°、60°和90°。每次设置后，重复步骤S2～S3，获得不同功率因数角下交流接触器的电压暂降免疫度。

为了保证交流接触器在进行测试时处于正常稳定的工作状态，每两次测试之间应该间隔一定的时间间隔。可选的，在本实施例中，两次测试之间的时间间隔为1分钟。完成上述测试后对测试数据进行分析，得到设备在不同负载率和不同电压暂降特征下的电压容忍度曲线，进一步研究和分析探讨。

应该理解的是，虽然图2与图4的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图2与图4中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

另外，如图6所示，本申请还提供一种设备电压暂降免疫度测试装置，装置包括：

条件设置模块100，用于设置测试条件，测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

第一测试模块200，用于持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值；

第二测试模块300，基于预设暂降持续时间改变步长，由预设暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值；

循环测试模块400，用于调整测试条件，控制第一测试模块200和第二测试模块300执行对应操作，得到待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

测试结果模块500，用于根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

上述设备电压暂降免疫度测试装置，条件设置模块100设置测试条件，第一测试模块200与第二测试模块300采用二分法获取待测设备对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，循环测试模块400调整测试条件，获取待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，测试结果模块500得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。整个过程中，通过二分法减少冗余测试点，并确保了测试结果精度，可以高效且准确实现设备电压暂降免疫度测试。

在其中一个实施例中，第一测试模块200还用于持续施加预设电压暂降最大持续时间的电压暂降于待测设备，在残余电压90％至0％区间内，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

在其中一个实施例中，第二测试模块300还用于基于预设暂降持续时间改变步长，由预设持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值。

在其中一个实施例中，测试结果模块500还用于根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线；根据不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

在其中一个实施例中，第一测试模块200还用于持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，采用二分法进行多次测试，确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值。

在其中一个实施例中，待测设备工况包括设备负载率与运转方向，电压暂降特征包括电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、电压暂降前电压、残余电压、持续时间以及连续电压暂降。

关于设备电压暂降免疫度测试装置的具体限定可以参见上文中对于设备电压暂降免疫度测试方法的限定，在此不再赘述。上述设备电压暂降免疫度测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图7所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储预设测试条件相关数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种设备电压暂降免疫度测试方法。

本领域技术人员可以理解，图7中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

设置测试条件，测试条件包括待测设备工况和电压暂降特征；

基于预设暂降持续时间改变步长，由预设持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值。

调整测试条件，返回施加电压暂降持续时间于待测设备的步骤，得到待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：

基于预设暂降持续时间改变步长，由预设电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值。

根据待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线；根据不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线，得到待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

基于预设暂降持续时间改变步长，由预设持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值；

在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：

基于预设暂降持续时间改变步长，由预设持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在电压暂降残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定待测设备可容忍的残余电压最小值。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims

1.一种设备电压暂降免疫度测试方法，所述方法包括：

基于预设暂降持续时间改变步长，由电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值，预设暂降持续时间改变步长中前期的改变步长大于后期的改变步长；

调整测试条件，返回所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备的步骤，得到所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值，得到所述待测设备对应的电压暂降免疫度测试结果包括：

根据所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及残余电压最小值，绘制不同测试条件对应的电压暂降容忍度曲线；

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述持续施加预设时间的电压暂降于待测设备，通过二分法确定待测设备可容忍的电压暂降残余电压阈值包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测设备工况包括设备负载率与运转方向，所述电压暂降特征包括电压暂降起始角、相位跳变、谐波畸变率、电压暂降前电压、残余电压、持续时间以及连续电压暂降。

6.一种设备电压暂降免疫度测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第二测试模块，用于基于预设暂降持续时间改变步长，由电压暂降持续时间开始逐步减小持续时间进行测试直至暂降持续时间阈值，在残余电压为0％至预设电压暂降残余电压阈值内，通过二分法确定所述待测设备可容忍的残余电压最小值，预设暂降持续时间改变步长中前期的改变步长大于后期的改变步长；

循环测试模块，用于调整测试条件，控制所述第一测试模块和所述第二测试模块执行对应操作，得到所述待测设备在不同测试条件下对应的可容忍的电压暂降残余电压阈值以及可容忍的残余电压最小值；

7.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。