CN107515338B - 敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统，该方法包括：设置暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为纵轴，暂降持续时间为横轴，从设定残余电压幅值上限值，以第一残余电压幅值下降间隔测试，到出现第一受扰点，取第一受扰点及其附近不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值下降间隔，测得第二受扰点，得对应极限耐受上限值；从极限耐受上限值，以第一时间间隔测试，到出现第三受扰点，取第三受扰点及其附近不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔测试，测得第四受扰点，得对应临界受扰时间获取敏感设备的抗扰度参数。该方案的测试结果更加全面精确地反应敏感设备经历电压暂降时的抗扰特性。

Description

敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统

技术领域

本发明属于电力工程技术领域，特别是涉及一种敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统。

背景技术

近现代以来，一批新型的电力设备在工业生产和人民生活中广泛应用，但设备的精密性也决定了其更容易受到电网扰动的影响，对供电质量有着更高的要求，迫使供电企业以及电力用户更加关心电能质量问题。在诸多电能质量问题中，又以电压暂降最为突出。当发生电压暂降时，会使得接触器、变频调速装置、可编程逻辑控制器、嵌入式处理器等敏感设备工作失常，这些敏感设备大多应用在电信、半导体、汽车制造等行业，给这些行业带来巨大的经济损失。

为了降低电压暂降带来的负面影响，研究电压暂降对敏感设备的影响机理及相应治理措施具有重要意义。当前敏感设备的电压暂降抗扰度试验标准，规定了电压暂降试验相关的测试项、仪器连接和精度要求，但在相位跳变、波形畸变、多重暂降等多方面缺乏详细的测试说明及规定，另外对敏感设备电压暂降抗扰度的测试精度规定上还略显粗糙。

传统的电压暂降测试方案，难以反映不同工况下对多种电压暂降的响应特性，导致无法全面准确地测试敏感设备抗扰度。

发明内容

基于此，有必要针对传统电压暂降测试方法无法全面准确地测试敏感设备抗扰度的问题，提供一种敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统。

一种敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，包括如下步骤：

S1，设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴进行测试；

S2，设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值；

S3，从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔；

S4，根据所述极限耐受上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

一种敏感设备电压暂降抗扰度测试系统，包括：

条件设置模块，用于设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴；

第一测试模块，用于设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值；

第二测试模块，用于从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔；

抗扰度获取模块，用于根据所述极限耐受上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

上述敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统，设置测试条件暂降起始角、相位跳变、谐波含量，在所述测试条件下测试敏感设备的极限耐受上限值，根据所述极限耐受上限值测试敏感设备对应的临界受扰时间，再利用极限耐受上限值和临界受扰时间获取抗扰度参数。该方案在设置的暂降起始角、相位跳变、谐波含量测试条件下测试敏感设备的抗扰度，能够反映电压暂降的多个特征项与敏感设备的状态因素，使得测试结果更加全面精确地反映敏感设备经历电压暂降时的抗扰特性。

附图说明

图1为一种敏感设备电压暂降抗扰度测试装置图；

图2为敏感设备电压暂降抗扰度测试方法流程图；

图3为由浅到深和由深到浅两种形式二重暂降示意图；

图4为一组理想电压恢复斜率示意图；

图5为三相电压的单相暂降电压相量示意图；

图6为三相电压的相间暂降电压相量示意图；

图7为三相电压的三相暂降电压相量示意图；

图8为一个实施例的敏感设备电压暂降抗扰度测试系统示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统的具体实施方式作详细的描述。参考图1所示，图1为一种敏感设备电压暂降抗扰度测试装置图，所述敏感设备电压暂降抗扰度测试装置包括：

电压暂降发生器、控制平台、检测仪器，所述控制平台连接分别与电压暂降发生器和示波器连接，电压暂降发生器与敏感设备连接，示波器分别通过电压探头和电流探头探测通过电压暂降发生器和敏感设备之间的电压和电流，电压暂降发生器连接电源。

可选的，所述电压暂降发生器可以是MX II-45可编程电源，所述检测仪器可以是DL850示波器，所述控制平台可以是工作站。

所述控制平台控制电压暂降发生器产生设定的电压暂降波形，施加至被测的敏感设备，示波器通过电压探头和电流探头探测通过电压暂降发生器和敏感设备之间的电压和电流，记录发生暂降时的电压波形及电流波形，在不同设定条件下对敏感设备的抗扰度进行测试。

参考图2所示，图2为敏感设备电压暂降抗扰度测试方法流程图，包括如下步骤：

S1，设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴进行测试。

在此步骤中，设置敏感设备的电压暂降抗扰度测试的初始条件，包括暂降起始角、相位跳变和谐波含量，其中，所述暂降起始角、相位跳变和谐波含量的具体设定值可以根据实际情况进行调整。

在一个可选的实施例中，所述初始测试条件设定的暂降起始角为0度、相位跳变为0度和谐波含量为0。

在上述实施例中，暂降起始角为0度、相位跳变为0度和谐波含量为0，以测试敏感设备没有暂降起始角、相位跳变和谐波含量的基本情况下的设备抗扰度参数。

S2，设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值。

在此步骤中，残余电压幅值上限值、第一残余电压幅值、第二残余电压幅值可以根据实际情况进行设定，残余电压幅值上限值可以在0～100％范围内选择设定，设定的上限值只要能够向下测到对应的受扰点即可，如果设定的上限值向下测试未能测到对应的受扰点，则提高设定的上限值重新测试，第一残余电压幅值可以根据实际情况选择设定，第一残余电压幅值设定的越大，测试精度越高，相应的需要测试的次数越多，花费时间越久，可选的，第一残余电压幅值在5％～20％范围内选择设定，第二残余电压幅值可以根据实际情况选择设定，第二残余电压幅值设定的越大，测试精度越高，相应的需要测试的次数越多，花费时间越久，可选的，第二残余电压幅值在0.1％～5％范围内选择设定，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值。

可选的，设定残余电压幅值上限值为90％，在所述测试条件下，从残余电压幅值上限值90％开始，以5％的第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以1％第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值。

在此步骤中，通过先以一个较大的幅值进行粗略测试确定受扰点所在的大致区间，然后在大致区间内以一个较小的幅值精确测试再次确定受扰点，能够快速而精确的定位受扰点的位置，测得设备的极限耐受上限值。

S3，从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔。

在此步骤中，第一时间间隔、第二时间间隔可以根据实际情况进行设定，第一时间间隔设定的越大，测试精度越高，相应的需要测试的次数越多，花费时间越久，可选的，当试验时间在0～200ms范围内时，第一时间间隔可以在5ms～50ms范围内选择设定，对应的第二时间间隔可以在1ms～5ms范围内选择设定，当试验时间在200ms～1s范围内时，第一时间间隔可以在10ms～200ms范围内选择设定，对应的第二时间间隔可以在1ms～10ms范围内选择设定，下一试验点的初始试验时间可取上一试验点的数值，这样大大减少了试验次数，同时保证试验精度。

可选的，当试验时间在0～200ms范围内时，第一时间间隔可以设定为10ms，第二时间间隔可以设定为1ms，当试验时间在200ms～1s范围内时，第一时间间隔可以设定为100ms，第二时间间隔可以设定为10ms。

在此步骤中，通过先以一个较大的时间间隔进行粗略测试确定受扰点所在的大致区间，然后在大致区间内以一个较小的时间间隔精确测试再次确定受扰点，能够快速而精确的定位受扰点的位置，测得设备的临界受扰时间。

S4，根据所述极限耐受上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

在此步骤中，综合上述步骤S2和S3测得的极限耐受上限值和临界受扰时间数据，得出敏感设备在设定测试条件下的抗扰度参数。

上述敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统，设置测试条件暂降起始角、相位跳变、谐波含量，在所述测试条件下测试敏感设备的极限耐受上限值，根据所述极限耐受上限值测试敏感设备对应的临界受扰时间，再利用极限耐受上限值和临界受扰时间获取抗扰度参数。该方案在设置的暂降起始角、相位跳变、谐波含量测试条件下测试敏感设备的抗扰度，能够反映电压暂降的多个特征项与敏感设备的状态因素，使得测试结果更加全面精确地反映敏感设备经历电压暂降时的抗扰特性。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：重复步骤S2-S4的一组测试N次，其中N≥2，将N次测试测得的抗扰度参数加权平均获得平均抗扰度参数，其中，相邻两组测试之间停歇设定时间间隔。

上述技术方案，通过多次重复测试，将多次测得的抗扰度参数加权平均获得平均抗扰度参数，以保证试验所得数据真实可信。并在两组试验留有一定的停歇间隔时间，以避免设备试验过程中出现过劳现象，导致测试所得数据失真，具体停歇间隔时间应按实际需要确定。

可选的，重复次数N≥5，间隔时间≥30s。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：设置相位跳变值为0度，谐波含量为0，依次设置一组不同的暂降起始角值，每次设置暂降起始角值后重复步骤S2-S4，测得不同暂降起始角特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

上述技术方案，通过设置一组不同的暂降起始角值，每次设置暂降起始角值后重复步骤S2-S4，测得不同暂降起始角特征值对应的敏感设备的抗扰度参数，其中，暂降起始角设置值可以在0～360度范围内均匀分布选择设置一组数值，选择数值取值数越多，测得的抗扰度参数越能精确细致地反映不同暂降起始角特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设置相位跳变值为0度，谐波含量为0，依次设置0度、45度、90度、135度、180度、225度、270度和315度的暂降起始角设置值，每次设置暂降起始角值后重复步骤S2-S4，测得不同暂降起始角特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：设置暂降起始角为0度，谐波含量为0，依次设置一组不同的相位跳变值，每次设置相位跳变值后重复步骤S2-S4，测得不同相位跳变特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

上述技术方案，通过设置一组不同的相位跳变值，每次设置相位跳变值后重复步骤S2-S4，测得不同相位跳变特征值对应的敏感设备的抗扰度参数，其中，相位跳变设置值可以在0～90度范围内均匀分布选择设置一组数值，选择数值取值数越多，测得的抗扰度参数越能精确细致地反映不同暂降起始角特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设置暂降起始角为0度，谐波含量为0，依次设置0度、30度、60度和90度的相位跳变设置值，每次设置相位跳变值后重复步骤S2-S4，测得不同相位跳变特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

由于电网中存在一定的谐波，其中以3次、5次、7次谐波为主，因此需要对敏感设备分别进行单项谐波以及混合谐波暂降测试。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：设置暂降起始角为0度，相位跳变值为0度，依次设置一组单项谐波含量值，以及一组混合谐波含量设置值，每次设置谐波含量值后重复步骤S2-S4，测得不同谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数，其中，所述单项谐波为3次谐波、5次谐波或7次谐波中的任意一种，所述混合谐波包括3次谐波、5次谐波和7次谐波混合组成。

上述技术方案，通过设置一组不同的谐波含量值，每次设置谐波含量值后重复步骤S2-S4，测得不同谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数，谐波含量值可以分为单项谐波和混合谐波进行设置。

其中，所述单项谐波为3次谐波、5次谐波或7次谐波中的任意一种，测试时可分别设置3次谐波、5次谐波或7次谐波中的一种及其对应的谐波含量，谐波含量可以在0～100％范围内选择设置，选择含量值取值数越多，测得的抗扰度参数越能精确细致地反映不同单项谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设置暂降起始角为0度，相位跳变值为0度，依次设置20％含量的3次谐波、20％含量的5次谐波和20％含量的7次谐波的谐波含量设置值，每次设置谐波含量值后重复步骤S2-S4，测得不同单项谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

所述混合谐波包括3次谐波、5次谐波和7次谐波混合组成，测试时可设置3次谐波、5次谐波和7次谐波混合及其对应的一组谐波含量设置值，一组混合谐波含量中的每一种谐波的含量可以在0～100％范围内选择设置，混合谐波含量设置值取值数越多，测得的抗扰度参数越能精确细致地反映不同混合谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设置暂降起始角为0度，相位跳变值为0度，依次设置三组混合谐波含量设置值，每次设置谐波含量值后重复步骤S2-S4，测得不同单项谐波含量特征值对应的敏感设备的抗扰度参数；

其中，第一组混合谐波含量设置值为10％含量的3次谐波、5％含量的5次谐波和5％含量的7次谐波；

第二组混合谐波含量设置值为5％含量的3次谐波、10％含量的5次谐波和5％含量的7次谐波；

第三组混合谐波含量设置值为5％含量的3次谐波、5％含量的5次谐波和10％含量的7次谐波。

参考图3所示，图3为由浅到深和由深到浅两种形式二重暂降示意图，由于故障升级或者自动重合闸不成功等因素，使得普通暂降事件升级为二重暂降，为使测试能够反映二重暂降情况下敏感设备的抗扰度，分别就由浅到深和由深到浅两种不同形式二重暂降给出测试方法。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：根据第一受扰点、第二受扰点、第三受扰点和第四受扰点绘制抗扰曲线；

根据所述抗扰曲线获取对应的电压暂降幅值；

在所述电压暂降幅值设置值下，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4；

增大所述电压暂降幅值设置值，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4，测得由浅到深的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。

上述技术方案，基于已绘制的设备抗扰度曲线获取的电压暂降幅值，进行一次电压暂降测试，之后进行下一次暂降幅值较大的测试，记录相应测试数据，测得由浅到深的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。其中，两次暂降测试之间可以停歇设定间隔时间，两次暂降测试间隔时间按重合闸时间选取，可以取1.3s、0.7s或无时间间隔。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：根据第一受扰点、第二受扰点、第三受扰点和第四受扰点绘制抗扰曲线；

根据所述抗扰曲线获取对应的电压暂降幅值；

在所述电压暂降幅值设置值下，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4；

减小所述电压暂降幅值设置值，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4，测得由深到浅的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。

上述技术方案，基于已绘制的设备抗扰度曲线获取的电压暂降幅值，进行一次电压暂降测试，之后进行下一次暂降幅值较小的测试，记录相应测试数据，测得由深到浅的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。其中，两次暂降测试之间可以停歇设定间隔时间，两次暂降测试间隔时间按重合闸时间选取，可以取1.3s、0.7s或无时间间隔。

由大型感应电机启动或恢复所引起的电压暂降与由短路引起的暂降有一定差别，主要体现在暂降电压以一定斜率恢复，不存在明显的电压持续过程，为使测试能够反映不同原因引起的电压暂降相应的敏感设备的抗扰度，考虑测试不同电压恢复斜率对应的敏感设备的抗扰度参数。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：在所述初始测试条件下，设置一组不同的电压恢复斜率值，每次设置电压恢复斜率值后重复步骤S2-S4，测得不同电压恢复斜率对应的敏感设备的抗扰度参数。

上述技术方案，通过测试不同电压恢复斜率对应的敏感设备的抗扰度参数，可以反映不同原因引起的电压暂降相应的敏感设备的抗扰度。电压恢复斜率的设置值可以在0～90度范围内均匀分布选择设置一组数值，选择数值取值数越多，测得的抗扰度参数越能精确细致地反映不同电压恢复斜率特征值对应的敏感设备的抗扰度参数。

具体的，选择设置一组理想的电压恢复斜率值进行测试，参考图4所示，图4为一组理想电压恢复斜率示意图，依次设置斜率为15度、30度、45度和60度，并按照步骤S2-S4进行测试，测得不同电压恢复斜率对应的敏感设备的抗扰度参数。

设备在不同负载量情况下，由于运行状态和储能情况的差别导致设备暂降抗扰能力有较大差别，因此需对敏感设备分不同负载量情况进行电压暂降抗扰度测试。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：在所述初始测试条件下，设置一组不同的设备负载量，每次设置设备负载量后重复步骤S2-S4，测得不同设备负载量对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设备负载量可以依次设置0％负载量、30％负载量、60％负载量和100％负载量，每次设置负载量后按照步骤S2-S4进行测试，测得不同设备负载量对应的敏感设备的抗扰度参数。

设备在不同运行阶段时，由于运行状态和储能情况的差别导致设备暂降抗扰能力有较大差别，因此需对敏感设备不同运行阶段进行电压暂降抗扰度测试。

在一个可选的实施例中，步骤S4后还包括步骤：在所述初始测试条件下，设置一组不同的设备运行阶段，每次设置设备运行阶段后重复步骤S2-S4，测得不同设备运行阶段对应的敏感设备的抗扰度参数。

可选的，设备运行阶段可以设置启动初期、启动中期和启动完成并分别按照步骤S2-S4进行测试，测得不同设备运行阶段对应的敏感设备的抗扰度参数。

在一个可选的实施例中，所述敏感设备为单相供电敏感设备或三相供电敏感设备。

对于单相供电敏感设备的抗扰度测试，运用如上所述任意一个实施例的抗扰度测试方法测试所述单相供电敏感设备的单相电压暂降抗扰度参数。

对于三相供电敏感设备的抗扰度测试，运用如上所述任意一个实施例的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法测试所述三相供电敏感设备的每一相的电压暂降抗扰度参数，其中，三相电压暂降可分为单相暂降、相间暂降、三相暂降三种情形。

具体的，参考图5所示，图5为三相电压的单相暂降电压相量示意图，对于三相电压暂降中的单相暂降情况，需分别对A、B、C三相的每一相进行电压暂降抗扰度测试，暂降电压幅值数学表达式如下：

U′_k＝p·U_k

上式中，U′_k为暂降后相电压，p为暂降残余电压幅值，U_k为暂降前相电压。

参考图6所示，图6为三相电压的相间暂降电压相量示意图，对于相间暂降，以BC相相间暂降为例，其电压相量示意图如图7所示，需对B、C相的每一相进行电压暂降抗扰度测试，其暂降电压幅值数学表达式如下：

上式中，U_n为额定相电压值，U_A-N、U_B-N、U_C-N分别为相位跳变后对中性点A、B、C相的相电压；

由于相间暂降残余电压以线电压幅值为基准，故测试中电压幅值的下降将伴随一定的相位跳变，其对应相位跳变数学表达式如下：

上式中，θ_A、θ_B、θ_C为A、B、C各相暂降的相位跳变角度。

参考图7所示，图7为三相电压的三相暂降电压相量示意图，需对A、B、C三相的每一相进行电压暂降抗扰度测试，其暂降电压幅值数学表达式如下：

上式中，U′_A、U′_B、U′_C分别为A、B、C相暂降后相电压，U_A、U_B、U_C分别为A、B、C相暂降前相电压。

上述技术方案，单相供电敏感设备或三相供电敏感设备的每一相的测试都可以运用如前所述任意一个实施例的抗扰度测试方法进行测试。其中，三相测试可以根据设备受扰相数不同分为单相暂降、相间暂降及三相暂降三种情形进行测试。

综合上述各个实施例，本发明的技术方案，通过设置测试条件暂降起始角、相位跳变和谐波含量，在所述测试条件下测试敏感设备的极限耐受上限值，根据所述极限耐受上限值测试敏感设备对应的临界受扰时间，继而得出敏感设备的抗扰度参数。进而综合了电压暂降的多个特征项以及敏感设备的状态因素，在由浅到深、由深到浅两种二重暂降、不同电压恢复斜率、不同设备负载量以及不同运行阶段下在所述测试条件下进行测试，针对敏感设备的供电相数，分为单相供电和多相供电情形的测试，使得测试结果更加全面精确地反应敏感设备经历电压暂降时的抗扰特性。

参考图8所示，图8为一个实施例的敏感设备电压暂降抗扰度测试系统示意图，所述敏感设备电压暂降抗扰度测试系统包括：

条件设置模块，用于设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴；

第一测试模块，用于设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值；

第二测试模块，用于从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔；

抗扰度获取模块，用于根据所述抗扰曲线上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

上述敏感设备电压暂降抗扰度测试方法和系统，设置测试条件暂降起始角、相位跳变、谐波含量，在所述测试条件下测试敏感设备的极限耐受上限值，根据所述极限耐受上限值测试敏感设备对应的临界受扰时间，再利用极限耐受上限值和临界受扰时间获取抗扰度参数。该方案在设置的暂降起始角、相位跳变、谐波含量测试条件下测试敏感设备的抗扰度，能够反映电压暂降的多个特征项与敏感设备的状态因素，使得测试结果更加全面精确地反映敏感设备经历电压暂降时的抗扰特性。

本发明的敏感设备电压暂降抗扰度测试系统与本发明的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法一一对应，在上述敏感设备电压暂降抗扰度测试方法的实施例阐述的技术特征及其有益效果均适用于敏感设备电压暂降抗扰度测试系统的实施例中，特此声明。

在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。

计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1，设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴进行测试；

S2，设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值；

S3，从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔；

S4，根据所述极限耐受上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

2.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，所述设定的暂降起始角为0度、相位跳变为0度和谐波含量为0；

以及还包括：

重复步骤S2-S4的一组测试N次，其中N≥2，将N次测试测得的抗扰度参数加权平均获得平均抗扰度参数，其中，相邻两组测试之间停歇设定时间间隔。

3.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括如下步骤：

设置相位跳变值为0度，谐波含量为0，依次设置一组不同的暂降起始角值，每次设置暂降起始角值后重复步骤S2-S4，测得不同暂降起始角值对应的敏感设备的抗扰度参数；

设置暂降起始角为0度，谐波含量为0，依次设置一组不同的相位跳变值，每次设置相位跳变值后重复步骤S2-S4，测得不同相位跳变值对应的敏感设备的抗扰度参数；

设置暂降起始角为0度，相位跳变值为0度，依次设置一组单项谐波含量值，以及一组混合谐波含量值，每次设置谐波含量值后重复步骤S2-S4，测得不同谐波含量值对应的敏感设备的抗扰度参数，其中，所述单项谐波为3次谐波、5次谐波或7次谐波中的任意一种，所述混合谐波包括3次谐波、5次谐波和7次谐波混合组成。

4.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括步骤：

根据第一受扰点、第二受扰点、第三受扰点和第四受扰点绘制抗扰曲线；

根据所述抗扰曲线获取对应的电压暂降幅值；

在所述电压暂降幅值设置值下，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4；

增大所述电压暂降幅值设置值，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4，测得由浅到深的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。

5.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括步骤：

根据第一受扰点、第二受扰点、第三受扰点和第四受扰点绘制抗扰曲线；

根据所述抗扰曲线获取对应的电压暂降幅值；

在所述电压暂降幅值设置值下，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4；

减小所述电压暂降幅值设置值，在所述初始测试条件下，重复步骤S2-S4，测得由深到浅的二重暂降对应的敏感设备的抗扰度参数。

6.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括步骤：

在所述初始测试条件下，设置一组不同的电压恢复斜率值，每次设置电压恢复斜率值后重复步骤S2-S4，测得不同电压恢复斜率对应的敏感设备的抗扰度参数。

7.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括步骤：

在所述初始测试条件下，设置一组不同的设备负载量，每次设置设备负载量后重复步骤S2-S4，测得不同设备负载量对应的敏感设备的抗扰度参数。

8.根据权利要求1所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，还包括步骤：

在所述初始测试条件下，设置一组不同的设备运行阶段，每次设置设备运行阶段后重复步骤S2-S4，测得不同设备运行阶段对应的敏感设备的抗扰度参数。

9.根据权利要求1至8任一项所述的敏感设备电压暂降抗扰度测试方法，其特征在于，所述敏感设备为单相供电敏感设备或三相供电敏感设备。

10.一种敏感设备电压暂降抗扰度测试系统，其特征在于，包括：

条件设置模块，用于设置初始测试条件，所述测试条件包括设定的暂降起始角、相位跳变和谐波含量，以残余电压幅值为坐标轴纵轴，暂降持续时间为坐标轴横轴；

第一测试模块，用于设定残余电压幅值上限值，在所述测试条件下，从所述残余电压幅值上限值开始，以第一残余电压幅值的下降间隔进行测试，直到出现敏感设备的第一受扰点，取第一受扰点及第一受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二残余电压幅值的下降间隔进行测试，测得第二受扰点，所述第二受扰点对应的残余电压幅值为极限耐受上限值，其中，所述第二残余电压幅值小于第一残余电压幅值；

第二测试模块，用于从所述极限耐受上限值开始，在所述测试条件下，以第一时间间隔进行测试，直到出现敏感设备的第三受扰点，取第三受扰点及第三受扰点附近的不受扰点构成细化区间，从细化区间上限以第二时间间隔进行测试，测得第四受扰点，所述第四受扰点对应的暂降持续时间为临界受扰时间，其中，所述第二时间间隔小于第一时间间隔；

抗扰度获取模块，用于根据所述极限耐受上限值和临界受扰时间获取敏感设备对应的抗扰度参数。

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