CN109799407A - 受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 255
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 230000036039 immunity Effects 0.000 title abstract 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 21
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 12
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 claims description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 3
- 241000208340 Araliaceae Species 0.000 description 2
- 235000005035 Panax pseudoginseng ssp. pseudoginseng Nutrition 0.000 description 2
- 235000003140 Panax quinquefolius Nutrition 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 235000008434 ginseng Nutrition 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- FFEZGPKGGQWAER-UHFFFAOYSA-N bearline Natural products C1CC(OC)C2(C3C4OC)C5CC(C(C6)OC(C)=O)C(O)C5C6(O)C4(O)C2N(CC)CC31COC(=O)C1=CC=CC=C1N1C(=O)CC(C)C1=O FFEZGPKGGQWAER-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 125000000058 cyclopentadienyl group Chemical group C1(=CC=CC1)* 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 201000010099 disease Diseases 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N endo-cyclopentadiene Natural products C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000002045 lasting effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本申请提供一种受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统。所述受试设备电压暂降免疫度获取方法在一个确定的受试设备工况参数和一个确定的电压暂降特征参数下，依次提供一组不同的残余电压。获取每个残余电压下的测试波形。通过分别分析每个测试波形，得到每个所述残余电压所对应的可容忍的持续时间。根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备的电压暂降免疫度的大小。所述获取方法实验一次即可确定所述电压容忍度曲线上的一个点，大大缩减了测试周期，提高了测试效率。
Description
技术领域
本申请涉及设备电能质量测试和分析领域，特别是涉及一种受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统。
背景技术
随着电力系统的发展，敏感负荷在电网中得到了广泛的应用，在诸多电能质量问题中，电压暂降问题已上升为主要的电能质量问题。电压暂降是指电力系统中某点工频电压方均根值突然降低至0.1p.u-0.9p.u，并在短暂持续10ms-1min后恢复正常的现象。当发生电压暂降时，通常会使交流接触器、脱扣器、继电器和受试设备等设备工作失常。当这些设备应用在医疗、电信、半导体等行业时，将导致巨大的安全隐患和经济损失。有关统计调查显示，由电压暂降引起的投诉数量占到了因电能质量投诉总量的80％以上。获得设备的电压暂降免疫度对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。
目前，获得设备的电压暂降免疫度主要有仿真测试和试验测试两种方法。主要的测试方法有自上而下方法和自左而右方法。自上而下法是每次循环中保持持续时间为定值，逐步减小残余电压，直到设备停机的临界点，然后逐步减小持续时间进入下一次循环。自左而右方法是每次循环中保持残余电压为定值，逐步增大持续时间，直到设备停机的临界点，然后逐步减小残余电压进入下一次循环。但这两种测试方法效率极低，确定整条电压容忍度曲线更需大量的仿真或试验次数，极大的降低了工作效率。
发明内容
基于此，有必要针对传统方法中获得设备的电压暂降免疫度的效率低的问题，提供一种受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统。
一种受试设备电压暂降免疫度获取方法。所述方法包括：
S10，提供受试设备的工况参数；
S20，提供电压暂降特征参数，所述电压暂降特征参数中包括多个残余电压；
S30，获取每个残余电压下，所述受试设备的测试波形，所述测试波形表征所述受试设备的工作状态；
S40，分析每个残余电压下的所述测试波形，以得到每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，所述可容忍持续时间为电压暂降发生时刻和所述受试设备发生故障时刻之间的时间间隔；
S50，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表一个所述残余电压下所述受试设备的电压暂降免疫度。
在其中一个实施例中，所述电压暂降特征参数包括起始角、相位跳变和谐波含量，所述电压暂降起始角为0°，所述相位跳变为0°，所述谐波含量为0。
在其中一个实施例中，所述S30，获取每个残余电压下，所述受试设备的测试波形，所述测试波形表征所述受试设备的工作状态的步骤包括：
检测所述受试设备的输入信号和输出信号；
根据所述输入信号和所述输出信号，生成每个所述残余电压下的测试波形，所述测试波形包括输入测试波形和输入测试波形。
在其中一个实施例中，所述S50，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表一个所述残余电压下所述受试设备的电压暂降免疫度的步骤包括：
通过分析所述输入测试波形，确定电压暂降发生时刻；
通过分析所述输出测试波形，确定所述受试设备发生故障时刻；
根据所述电压暂降发生时刻和所述受试设备发生故障时刻，确定每个所述残余电压所对应的可容忍的持续时间。
在其中一个实施例中，所述输入测试波形为所述受试设备的输入电压波形、所述受试设备的输入电流波形以及所述受试设备的输入转速波形中的一种或多种；
所述输出测试波形为所述受试设备的输出电压波形、所述受试设备的输出电流波形以及所述受试设备的输出转速波形中的一种或多种。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第一工况参数；
提供第一电压暂降特征参数，所述第一电压暂降特征参数包括起始角和相位跳变；
在所述第一工况参数和所述第一电压暂降特征参数下，依次提供多个谐波含量特征值，并且每提供一个谐波含量特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个谐波含量特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第一工况参数；
提供第二电压暂降特征参数，所述第二电压暂降特征参数包括起始角和谐波含量；
在所述第一工况参数和所述第二电压暂降特征参数下，依次提供多个相位跳变特征值，并且每提供一个相位跳变特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个相位跳变特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第一工况参数；
提供第三电压暂降特征参数，所述第三电压暂降特征参数包括相位跳变和谐波含量；
在所述第一工况参数和所述第三电压暂降特征参数下，依次提供多个起始角特征值，并且每提供一个起始角特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个起始角特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第一工况参数和第四电压暂降特征参数；
在所述第一工况参数和所述第四电压暂降特征参数下，依次提供多个残余电压恢复斜率特征值，并且每提供一个残余电压恢复斜率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个残余电压恢复斜率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第四电压暂降特征参数；
提供第二工况参数，所述第二工况参数包括中央处理器利用率；
在所述第四电压暂降特征参数和所述第二工况参数下，依次提供多个负载率特征值，并且每提供一个负载率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个受试设备负载率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，还包括：
提供第四电压暂降特征参数；
提供第三工况参数，所述第三工况参数包括负载率；
在第四电压暂降特征参数和第三工况参数下，依次提供多个中央处理器利用率特征值，并且每提供一个中央处理器利用率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个中央处理器利用率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
在其中一个实施例中，所述受试设备为单相设备或三相设备中一种。
一种设备电压暂降免疫度测试系统。所述设备电压暂降免疫度测试系统包括：
第一控制器；
电压暂降发生器，与所述第一控制器电连接，并与受试设备电连接；
第二控制器，与所述受试设备电连接；以及
波形记录设备，与所述受试设备电连接。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述实施例中任一项所述方法的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中任一项所述的方法的步骤。
本申请提供一种受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统。所述受试设备电压暂降免疫度获取方法首先提供受试设备工况参数和电压暂降特征参数。在一个确定的受试设备工况参数和一个确定的电压暂降特征参数下，依次提供一组不同的残余电压。获取每个残余电压下的测试波形。所述测试波形可以表征所述受试设备的工作状态。通过分别分析每个测试波形，得到每个所述残余电压所对应的可容忍的持续时间，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备的电压暂降免疫度的大小。所述获取方法实验一次即可确定所述电压容忍度曲线上的一个点，大大缩减了测试周期，提高了测试效率。并且所述获取方法因实验导致的受试设备故障停机次数少，降低了所述受试设备的损坏程度，延长了所述受试设备的使用寿命。
附图说明
图1为本申请一个实施例提供的测试方法流程图；
图2为本申请一个实施例提供的测试波形图；
图3为本申请一个实施例提供的电压容忍度曲线图；
图4为本申请一个实施例提供的测试系统图；
图5为本申请一个实施例提供的测试系统图。
主要元件附图标号说明
设备电压暂降免疫度测试系统100
第一控制器10
电压暂降发生器20
第二控制器30
波形记录设备40
第一检测探头41
第二检测探头42
受试设备50
负载60
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
请参见图1，本申请一个实施例中提供一种受试设备电压暂降免疫度获取方法。所述方法包括：
S10，提供受试设备50的工况参数。
步骤S10中，所述受试设备50可以为单相设备。所述受试设备50还可以为三相设备。所述工况参数包括所述受试设备50的负载率和所述受试设备50的中央处理器利用率。根据所述受试设备50的不同，所述受试设备50的负载可以为机械负载或电气负载。所述受试设备50的负载率可根据所述受试设备50的实际情况和现场测试条件进行选取。所述受试设备50的负载率可以在0％-100％中均匀选取。所述中央处理器利用率可根据所述受试设备50的实际情况和现场测试条件进行选取。所述中央处理器利用率可以在0％-100％中任意选取。
S20，提供电压暂降特征参数，所述电压暂降特征参数中包括多个残余电压。
步骤S20中，所述电压暂降特征参数还包括电压暂降类型、起始角、相位跳变、谐波含量和电压暂降持续时间。所述电压暂降类型可以分为单相暂降、相间暂降或三相暂降。所述起始角为电压暂降发生时参考电压的相角度，所述起始角可以在0°-360°范围内任意的选取。所述相位跳变是指电压暂降发生后参考电压的相位相比于电压暂降发生前相角度的变化。所述相位跳变可以在0°-90°范围内任意选取。所述谐波含量是指电网电压的总谐波畸变率。所述谐波畸变率是指电压暂降发生前后某次谐波电压含量以及某几次谐波电压含量之和。所述谐波含量可以在0％-100％内设置。在某一次获取所述受试设备电压暂降免疫度的过程中，所述电压暂降类型、所述起始角、所述相位跳变、所述谐波含量和所述电压暂降持续时间均为定值。
S30，获取每个残余电压下，所述受试设备50的测试波形，所述测试波形表征所述受试设备50的工作状态。
步骤S30中，所述测试波形包括输入测试波形和输入测试波形。所述输入测试波形为所述受试设备50的输入电压波形、所述受试设备50的输入电流波形以及所述受试设备50的输入转速波形中的一种或几种。所述输出测试波形为所述受试设备50的输出电压波形、所述受试设备50的输出电流波形以及所述受试设备50的输出转速波形中的一种或几种。
S40，分析每个残余电压下的所述测试波形，以得到每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，所述可容忍持续时间为电压暂降发生时刻和所述受试设备50发生故障时刻之间的时间间隔。
步骤S40中，通过分析所述输入测试波形，可以确定电压暂降发生时刻。并且通过分析所述输出测试波形，可以确定所述受试设备50发生故障时刻。
S50，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备50电压容忍度曲线，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表一个所述残余电压下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
步骤S50中，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表在一个所述残余电压下，所述受试设备50的可容忍持续时间的大小。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备50的电压暂降免疫度的大小。
本实施例中，所述受试设备电压暂降免疫度获取方法首先提供受试设备50工况参数和电压暂降特征参数。在一个确定的受试设备50工况参数和一个确定的电压暂降特征参数下，依次提供一组不同的残余电压。获取每个残余电压下的测试波形。所述测试波形可以表征所述受试设备50的工作状态。每个所述残余电压所对应的可容忍的持续时间可以通过分析每个测试波形得到。根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备50的电压暂降免疫度的大小。所述获取方法实验一次即可确定所述电压容忍度曲线上的一个点，大大缩减了测试周期，提高了测试效率。并且所述获取方法因实验导致的受试设备50故障停机次数少，降低了所述受试设备50的损坏程度，延长了所述受试设备50的使用寿命。
请参见图2，在其中一个实施例中，所述电压暂降起始角为0°。所述相位跳变为0°。所述谐波含量为0。所述负载率为100％。所述残余电压为0％。在上述参数下，得出的所述受试设备50的测试波形如图2所示。图中上面的细黑线表示所述受试设备50的输入电压波形。图中下半部分中的粗黑线表示所述受试设备50的输出电压波形。从图2中可以看出，A点为所述电压暂将的发生时刻，B点为所述受试设备50受到所述电压暂降的影响而发生故障的时刻。因此，当所述电压暂降起始角为0°、所述相位跳变为0°、所述谐波含量为0、所述负载率为100％、所述残余电压为0％时，所述受试设备50的可容忍持续时间为158ms。请参见图3，图3为本申请一个实施例提供的通过上述方法获得的所述受试设备电压容忍度曲线。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备50的电压暂降免疫度的大小。所述受试设备50的电压暂降免疫度的大小对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。
在一个可选实施例中，所述方法还包括：
提供第一工况参数。提供第一电压暂降特征参数，所述第一电压暂降特征参数包括起始角和相位跳变。在所述第一工况参数和所述第一电压暂降特征参数下，依次提供多个谐波含量特征值。并且每提供一个谐波含量特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个谐波含量特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
由于电网中电压存在一定的谐波，而谐波电压对设备的正常工作和发生电压暂降时的动态响应有一定的影响。其中，所述谐波电压以三次谐波电压、五次谐波电压和七次谐波电压为主。为了获得设备全面的电压暂降免疫度，可以选取单项谐波、不同的谐波组合以及不同的谐波总含量进行测试。所述单项谐波是指电网电压中只含有某一次的电压谐波，可分别为所述三次谐波电压、所述五次谐波电压和所述七次谐波电压。所述谐波组合是指电网中含有两次或两次以上的电压谐波，可为所述三次谐波电压、所述五次谐波电压和所述七次谐波电压的不同组合。
可选的，所述谐波总畸变率可以设置为20％。其中，所述三次谐波电压、所述五次谐波电压和所述七次谐波电压的组合可以为(20％，0％，0％)、(0％，20％，0％)、(0％，0％，20％)、(10％，10％，0％)、(10％，0％，10％)、(0％，10％，10％)和(10％，5％，5％)等。每次设置一个谐波含量特征值后，重复步骤S30-S50，获得一条受试设备电压容忍度曲线，进而获得不同谐波组合下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
在一个可选实施例中，所述方法还包括：
提供第一工况参数。提供第二电压暂降特征参数，所述第二电压暂降特征参数包括起始角和谐波含量。在所述第一工况参数和所述第二电压暂降特征参数下，依次提供多个相位跳变特征值。并且每提供一个相位跳变特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个相位跳变特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
所述受试设备50在不同相位跳变下的免疫度可能不同。为了获得设备全面的电压暂降免疫度，可以选取不同的相位跳变进行测试。所述相位跳变可以根据现场测试情况在0°-90°范围内均匀的选取。所述相位跳变选取的密度越大，得到的所述受试设备50的电压暂降免疫度越详细。但需要进行的测试次数也就越多，对所述受试设备50的损害也就越大。所述相位跳变选取的负载率密度越小，得到的所述受试设备50的电压暂降免疫度越粗略，但进行的测试次数也就越少，对设备的损害也就越小。
可选的，所述相位跳变的间隔可以设置为30°。即所述相位跳变特征值可以依次设定为0°、30°、60°和90°。每次设置一个所述相位跳变特征值后，重复步骤S30-S50，以获得不同相位跳变下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
在一个可选实施例中，所述方法还包括：
提供第一工况参数。提供第三电压暂降特征参数，所述第三电压暂降特征参数包括相位跳变和谐波含量。在所述第一工况参数和所述第三电压暂降特征参数下，依次提供多个起始角特征值。并且每提供一个起始角特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个起始角特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
所述起始角为电压暂降发生时参考电压的相角度。所述受试设备50在不同起始角下的免疫度可能不同。为了获得所述受试设备50全面的电压暂降免疫度，可以选取不同的起始角进行测试。所述起始角根据现场测试情况可以在0°-360°范围内均匀的选取。所述起始角选取的密度越大，得到的所述受试设备50的电压暂降免疫度越详细。但进行的测试次数也就越多，对所述受试设备50的损害也就越大。所述起始角选取的负载率密度越小，得到的所述受试设备50的电压暂降免疫度越粗略。但进行的测试次数也就越少，对所述受试设备50的损害也就越小。
可选的，所述起始角的间隔可以设置为45°。即所述起始角特征值可以依次设定为0°、45°、90°、135°、180°、225°、270°和315°。每次设置一个所述起始角特征值后，重复步骤S30-S50，获得不同起始角特征值下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
在一个可选实施例中，所述方法还包括：
提供第一工况参数和第四电压暂降特征参数。在所述第一工况参数和所述第四电压暂降特征参数下，依次提供多个残余电压恢复斜率特征值。并且每提供一个残余电压恢复斜率特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个残余电压恢复斜率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
由大型感应电机启动或恢复所引起的电压暂降与由短路引起的电压暂降有一定的差别。所述差别主要体现在所述残余电压以一定斜率恢复，不存在明显的电压持续过程。为了反映不同原因引起的电压暂降免疫度，可以选取不同的残余电压恢复斜率特征值进行测试。
可选的，所述残余电压恢复斜率特征值可以依次设置为15°、30°、45°和60°。每次设置一个所述残余电压恢复斜率特征值后，重复步骤S30-S50，获得不同残余电压恢复斜率特征值下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
在一个可选实施例中，所述方法还包括：
提供第四电压暂降特征参数。提供第二工况参数，所述第二工况参数包括中央处理器利用率。在所述第四电压暂降特征参数和所述第二工况参数下，依次提供多个负载率特征值。并且每提供一个负载率特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个负载率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
所述负载率可以可根据受试设备50的实际情况和现场测试条件在0％-100％中均匀选取。所述负载率选取的密度越大，得到所述受试设备50的电压暂降免疫度越详细。所述负载率选取的密度越小，得到所述受试设备50的电压暂降免疫度越粗略。
可选的，所述负载率的间隔可以设置为10％。也即所述负载率特征值可以为0％、10％、30％、30％、40％、50％、60％、70％、80％、90％和100％。每次设置一个所述负载率特征值后，重复步骤S30-S50，以获得不同负载率特征值下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
在一个可选的实施例中，所述方法还包括：
提供第四电压暂降特征参数。提供第三工况参数，所述第三工况参数包括负载率。在第四电压暂降特征参数和第三工况参数下，依次提供多个中央处理器利用率特征值。并且每提供一个中央处理器利用率特征值后提供多个残余电压。重复步骤S30-S50，测得多个中央处理器利用率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
所述受试设备50在不同中央处理器利用率下的免疫度可能不同。为了获得所述受试设备50全面的电压暂降免疫度，可以选取不同的中央处理器利用率进行测试。所述起始角可以根据现场测试情况可以在0％-100％范围内均匀的选取。
可选的，所述中央处理器利用率特征值可以依次设置为10％、15％、20％、25％、30％、35％和40％。每次设置一个所述中央处理器利用率特征值后，重复步骤S30-S50，获得不同中央处理器利用率特征值下所述受试设备50的电压暂降免疫度。
综合上述各个实施例，通过设置所述起始角、相位跳变、谐波含量、负载率、中央处理器利用率和残余电压恢复斜率，可以得到所述受试设备50在不同工况参数和不同电压暂降特征参数下的所述受试设备电压容忍度曲线。所述受试设备电压容忍度曲线可以反映出所述受试设备50的电压暂降免疫度的大小。所述受试设备50的电压电压暂降免疫度的大小对设备的停机概率评估、设备免疫度提高以及设备与电网的兼容性评估起着至关重要的作用。
请参见图4，本申请一个实施例中提供设备电压暂降免疫度测试系统100。所述设备电压暂降免疫度测试系统100包括第一控制器10、电压暂降发生器20、第二控制器30和波形记录设备40。
所述电压暂降发生器20与所述第一控制器10电连接。并且所述电压暂降发生器20与受试设备50电连接。所述第二控制器30与所述受试设备50电连接。所述波形记录设备40与所述受试设备50电连接。
所述第一控制器10和所述第二控制器30可以为单片机或微处理器。所述第一控制器10用于控制所述电压暂降的发生和恢复。所述第二控制器30用于控制所述受试设备50的中央处理器利用率和负载率。所述电压暂降发生器20可以输出特定的电压波形并施加到所述受试设备50的输入端。所述波形记录设备40可以记录电压波形、电流波形或转速波形。所述波形记录设备40包括第一检测探头41和第二检测探头42。所述第一检测探头41与所述受试设备50的输入端连接。所述第一检测探头41用于检测所述受试设备50的输入端的所述输入波形。所述第二检测探头42与所述受试设备50的输出端连接。所述第二检测探头42用于检测所述受试设备50的输出端的所述输出波形。所述波形记录设备40还用于记录所述输入波形和所述输出波形。通过分析所述输入波形和所述输出波形，可以得到在不同残余电压下的可容忍持续时间。根据所述残余电压和与其对应的所述可容忍持续时间，可以得到受试设备电压容忍度曲线。进而通过所述受试设备电压容忍度曲线表征所述受试设备50的电压暂降免疫度。
本实施例中，所述设备电压暂降免疫度测试系统100可以通过一次实验获得不同测试参数下的受试设备电压容忍度曲线的一个点，大大缩减了测试周期，提高了测试效率。
请参见图5，在一个可选实施例中，所述电压暂降发生器20输出特定的电压波形施加到所述受试设备50的输入端。所述受试设备50的输出端接入一定的负载60。所述波形记录设备40可以为示波器。所述示波器检测所述输入波形和所述输出波形。所述第一控制器10连接所述电压暂降发生器20和所述波形记录设备40。所述第一控制器10用于控制所述电压暂降的发生和恢复。所述第一控制器10还用于控制所述示波器的启动和停止，并对所述波形记录设备40记录的波形进行分析处理。
可选的，所述电压暂降发生器20可以采用Ametek公司生产的MX II-45可编程电源。所述可编程电源最大输出功率为45kVA。所述可编程电源可实现三相交流输出或单相交流输出。所述可编程电源输出的相电压输出范围为0V-400V。所述可编程电源输出的频率输出范围为16Hz-500Hz。所述可编程电源也可以实现三相直流输出或单相直流输出。可以通过所述第一控制器10实现所述残余电压、所述持续时间、所述起始角、所述相位跳变、所述谐波含量等电压暂降特征的编辑设置。同时，可以通过所述第一控制器10按序列产生多个电压事件。还可以通过输入数据序列产生任意的电压波形，以模拟实际产生的电压暂降形式。
可选的，所述受试设备50为TransFar公司生产的FAT-25型模块型开关电源。所述开关电源的输入直流电压为85V-265V。所述开关电源的额定功率20.95W。
可选的，所述负载60采用Chroma(致茂)的63804型电力电子负载，可准确调节负载60的电阻的大小，从而调节所述负载率特征值。
可选的，所述波形记录设备40为Yokogawa(横河电机株式会社)的DL850型示波器，所述波形记录设备40最大可允许16通道输入、分辨率达16-bit、最大采样率为125kHz。所述波形记录设备40可以准确记录电压暂降发生的时刻、设备故障的时刻。通过对波形的处理，可以得到二者之间的时间间隔。
本实施例中，所述设备电压暂降免疫度测试系统100可以通过所述示波器记录的所述输入波形和所述输出波形获得可容忍持续时间。进而获得不同测试参数下的受试设备电压容忍度曲线的一个点，大大缩减了测试周期，提高了测试效率。
本申请一个实施例中还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述受试设备电压暂降免疫度获取方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (15)
1.一种受试设备电压暂降免疫度获取方法，其特征在于，包括：
S10，提供受试设备的工况参数；
S20，提供电压暂降特征参数，所述电压暂降特征参数中包括多个残余电压；
S30，获取每个残余电压下，所述受试设备的测试波形，所述测试波形表征所述受试设备的工作状态；
S40，分析每个残余电压下的所述测试波形，以得到每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，所述可容忍持续时间为电压暂降发生时刻和所述受试设备发生故障时刻之间的时间间隔；
S50，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表一个所述残余电压下所述受试设备的电压暂降免疫度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电压暂降特征参数包括起始角、相位跳变和谐波含量，所述起始角为0°，所述相位跳变为0°，所述谐波含量为0。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述S30，获取每个残余电压下，所述受试设备的测试波形，所述测试波形表征所述受试设备的工作状态的步骤包括：
检测所述受试设备的输入信号和输出信号；
根据所述输入信号和所述输出信号，生成每个所述残余电压下的测试波形，所述测试波形包括输入测试波形和输入测试波形。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S50，根据所述残余电压和每个所述残余电压所对应的可容忍持续时间，生成受试设备电压容忍度曲线，所述受试设备电压容忍度曲线上的每一个点代表一个所述残余电压下所述受试设备的电压暂降免疫度的步骤包括：
通过分析所述输入测试波形，确定电压暂降发生时刻；
通过分析所述输出测试波形，确定所述受试设备发生故障时刻；
根据所述电压暂降发生时刻和所述受试设备发生故障时刻，确定每个所述残余电压所对应的可容忍的持续时间。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述输入测试波形为所述受试设备的输入电压波形、所述受试设备的输入电流波形以及所述受试设备的输入转速波形中的一种或多种；
所述输出测试波形为所述受试设备的输出电压波形、所述受试设备的输出电流波形以及所述受试设备的输出转速波形中的一种或多种。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第一工况参数；
提供第一电压暂降特征参数，所述第一电压暂降特征参数包括起始角和相位跳变；
在所述第一工况参数和所述第一电压暂降特征参数下，依次提供多个谐波含量特征值，并且每提供一个谐波含量特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个谐波含量特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第一工况参数；
提供第二电压暂降特征参数，所述第二电压暂降特征参数包括起始角和谐波含量；
在所述第一工况参数和所述第二电压暂降特征参数下，依次提供多个相位跳变特征值，并且每提供一个相位跳变特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个相位跳变特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第一工况参数；
提供第三电压暂降特征参数，所述第三电压暂降特征参数包括相位跳变和谐波含量；
在所述第一工况参数和所述第三电压暂降特征参数下，依次提供多个起始角特征值，并且每提供一个起始角特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个起始角特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第一工况参数和第四电压暂降特征参数；
在所述第一工况参数和所述第四电压暂降特征参数下，依次提供多个残余电压恢复斜率特征值，并且每提供一个残余电压恢复斜率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个残余电压恢复斜率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第四电压暂降特征参数；
提供第二工况参数，所述第二工况参数包括中央处理器利用率；
在所述第四电压暂降特征参数和所述第二工况参数下，依次提供多个负载率特征值，并且每提供一个负载率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个受试设备负载率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
提供第四电压暂降特征参数；
提供第三工况参数，所述第三工况参数包括负载率；
在第四电压暂降特征参数和第三工况参数下，依次提供多个中央处理器利用率特征值，并且每提供一个中央处理器利用率特征值后提供多个残余电压；
重复步骤S30-S50，测得多个中央处理器利用率特征值对应的多条受试设备电压容忍度曲线。
12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述受试设备为单相设备或三相设备中一种。
13.一种设备电压暂降免疫度测试系统，其特征在于，包括：
第一控制器；
电压暂降发生器，与所述第一控制器电连接，并与受试设备电连接；
第二控制器，与所述受试设备电连接；以及
波形记录设备，与所述受试设备电连接。
14.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至12中任一项所述方法的步骤。
15.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至12中任一项所述的方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201910154941.3A CN109799407A (zh) | 2019-03-01 | 2019-03-01 | 受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统 |
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| CN201910154941.3A CN109799407A (zh) | 2019-03-01 | 2019-03-01 | 受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN109799407A true CN109799407A (zh) | 2019-05-24 |
Family
ID=66562452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201910154941.3A Pending CN109799407A (zh) | 2019-03-01 | 2019-03-01 | 受试设备电压暂降免疫度获取方法及测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN109799407A (zh) |
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