CN114562962A - 一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法 - Google Patents

Abstract

本发明属于机电设备技术领域，公开了一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，包括：将激光跟踪仪设站在第一和第二轴体的相对的两轴端面之间；确定第一和第二轴体的中心轴线作为第一和第二角度特征线；确定第一角度特征线与轴端面的交点，作为第一距离特征点；确定第二角度特征线与轴端面的交点，作为第二距离特征点；确定第二轴体的中心轴线与第一轴体的轴端面的交点，作为平行特征点；确定第一和第二距离特征点的距离，作为开口大小；确定第一和第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值；确定第一距离特征点与平行特征点的距离，作为轴平行不对中值。本发明提供的同轴度测量方法能够提升校正不对中两根轴的操作精度和效率。

Description

一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法

技术领域

本发明涉及机电设备技术领域，特别涉及一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法。

背景技术

传动轴连接问题中，轴不对中是引发设备问题的重要原因。可利用振动检测技术发现设备振动的不对中特征，因此可便捷地判定传动轴的连接问题的性质；但将不对中的两根轴调整到符合装配要求的状态的操作效率低，精度差。

发明内容

本发明提供一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，旨在一定程度上达到提升校正不对中两根轴的操作精度和效率的技术效果。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，包括：

将激光跟踪仪设站在第一轴体和第二轴体的相对的两轴端面之间；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的中心轴线作为第一角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点，作为第一距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线，作为第二角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的第二角度特征线与轴端面的交点，作为第二距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线与所述第一轴体的轴端面的交点，作为平行特征点；

确定所述第一距离特征点和所述第二距离特征点的距离，作为开口大小；

确定所述第一角度特征线和所述第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值；

确定所述第一距离特征点与所述平行特征点的距离，作为轴平行不对中值。

进一步地，所述基于所述激光跟踪仪确定第一轴体的中心轴线包括：

在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点；

基于所述采样点进行圆周拟合得到圆周面；

获取于所述圆周面的圆心处垂直于所述圆周面的射线，得到第一轴体的中心轴线。

进一步地，所述在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点包括：

在所述第一轴体的周面上，按照周半径大于等于500mm设置靶球；

按照设定角度间隔转动所述第一轴体并获取一个采样点，且采样点大于等于6个。

进一步地，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第一轴体的轴端面取点，得到第一端面点位样本；

基于所述第一端面点位样本进行平面拟合，得到第一拟合平面；

沿所述第一角度特征线平移到第一轴体的轴端面的真实位置，并计算所述第一角度特征线与第一拟合平面相交点坐标。

进一步地，所述在所述第一轴体的轴端面取点包括：

在所述第一轴体的轴端面等间距取点，且取点数大于等于8个。

进一步地，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线包括：

基于所述激光跟踪仪在所述第二轴体的轴身周面上获取多个点位样本；

基于所述多个点位样本拟合出柱面；

获取所述柱面回转中心线，作为所述第二轴体的中心轴线。

进一步地，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第二轴体的轴端面取点，得到第二端面点位样本；

基于所述第二端面点位样本进行平面拟合，得到第二拟合平面；

获取所述第二拟合平面与柱面回转中心线的交点，并以所述交点做所述第二拟合平面的端面法线，作为所述第二轴体的中心轴线。

进一步地，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

获取并比较所述第二轴体的轴端面的平面度以及轴本体的圆柱度；

当所述第二轴体的轴端面的平面度小于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述柱面回转中心线作为所述第二轴体的中心轴线；

当所述第二轴体的轴端面的平面度大于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述第二拟合平面的端面法线作为所述第二轴体的中心轴线。

进一步地，所述确定所述第一角度特征线和所述第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值包括：

将所述第一角度特征线和所述第二角度特征线侧向投影至竖向面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中竖向夹角数值；

将所述第一角度特征线和所述第二角度特征线竖向投影至水平面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中俯视夹角数值。

进一步地，所述确定所述第一距离特征点与所述平行特征点的距离，作为轴平行不对中值包括：

在所述第一轴体的轴端面内，计算所述平行特征点和所述第一距离特征点水平方向偏差，作为两轴平行不对中水平方向分量；

在所述第一轴体的轴端面内，计算所述平行特征点和所述第一距离特征点垂直方向偏差，作为两轴平行不对中竖直方向分量。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本申请实施例中提供的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，基于激光跟踪仪对待检的第一轴体和第二轴体进行取样采点，而后进行轴端面，轴体进行模拟，确定两个轴体的端面的距离特征点，角度特征线以及平行特征点，并基于此分别确定开口大小，轴角度不对中值以及轴平行不对中值分别量化表征开口大小，角度不对中程度和平行不对中程度，改善检测精度不可靠，操作不便捷，低效等问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法的原理示意图；

图2为本发明实施例提供的第一轴体的距离特征点和角度特征线的获取方法示意图；

图3为本发明实施例提供的第二轴体的距离特征点和角度特征线的获取方法示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请实施例中所有方向性指示仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

下面结合附图并参考具体实施例描述本申请。

本申请实施例通过提供一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，旨在一定程度上达到提升校正不对中两根轴的操作精度和效率的技术效果。

为了更好地理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细说明，应当理解本发明实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。

参见图1、图2和图3，一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，包括：

将激光跟踪仪设站在第一轴体10和第二轴体20的相对的两轴端面之间；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体10的中心轴线作为第一角度特征线16；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体10的第一角度特征线16与轴端面的交点，作为第一距离特征点15；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体20的中心轴线，作为第二角度特征线24；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体20的第二角度特征线24与轴端面的交点，作为第二距离特征点23；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体20的中心轴线与所述第一轴体10的轴端面的交点，作为平行特征点17；

确定所述第一距离特征点15和所述第二距离特征点23的距离，作为开口大小；

确定所述第一角度特征线16和所述第二角度特征线24的夹角，作为轴角度不对中值；

确定所述第一距离特征点15与所述平行特征点17的距离，作为轴平行不对中值。

本申请实施例中提供的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，通过激光跟踪仪对待检的第一轴体和第二轴体进行取样采点，而后进行轴端面，轴体进行模拟，确定两个轴体的端面的距离特征点，角度特征线以及平行特征点，并基于此分别确定开口大小，轴角度不对中值以及轴平行不对中值分别量化表征开口大小，角度不对中程度和平行不对中程度，改善检测精度不可靠，操作不便捷，低效等问题。

下面分别将具体说明。

参见图2，所述基于所述激光跟踪仪确定第一轴体的中心轴线具体包括：

在所述第一轴体10的周面布置靶球13，并沿周面获取采样点；

基于所述采样点进行圆周拟合得到圆周面；

获取于所述圆周面的圆心处垂直于所述圆周面的射线，得到第一轴体10的中心轴线。

值得说明的是，在所述第一轴体10的周面上，按照周半径大于等于500mm设置靶球13；如果实际轴体的安置工况不满足需求，可在所述第一轴体10上沿其径向设置一延长杆11并在其端部设置强磁基座12，而后将靶球13设置在所述强磁基座12上。

按照设定角度间隔转动所述第一轴体10并获取一个采样点，且采样点大于等于6个。一般来说，可根据需要设置多个靶球13。相邻两个采样点之间的采样间隔可为30度或者30度以下的角度。

所述基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线16与轴端面的交点包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第一轴体10的轴端面取点，得到第一端面点位样本；

基于所述第一端面点位样本进行平面拟合，得到第一拟合平面；

沿所述第一角度特征线16平移到第一轴体的轴端面的真实位置，并计算所述第一角度特征线16与第一拟合平面相交点坐标。

在具体操作时，所述在所述第一轴体10的轴端面取点包括：

在所述第一轴体10的轴端面等间距取点，且取点数大于等于8个。一般来说，较多的取点能够优化拟合的结果，可根据实际需要灵活调整取点数。

参见图3，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体20的中心轴线包括：

基于所述激光跟踪仪在所述第二轴体20的轴身周面上获取多个点位样本；

基于所述多个点位样本拟合出柱面；

获取所述柱面回转中心线，作为所述第二轴体的中心轴线。

或者，可以进一步基于所述激光跟踪仪，在所述第二轴体的轴端面取点，得到第二端面点位样本；

基于所述第二端面点位样本进行平面拟合，得到第二拟合平面；

获取所述第二拟合平面与柱面回转中心线的交点，并以所述交点做所述第二拟合平面的端面法线，作为所述第二轴体的中心轴线。

还可以进一步地获取并比较所述第二轴体的轴端面的平面度以及轴本体的圆柱度；

当所述第二轴体的轴端面的平面度小于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述柱面回转中心线作为所述第二轴体的中心轴线；

当所述第二轴体的轴端面的平面度大于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述第二拟合平面的端面法线作为所述第二轴体的中心轴线。

从而能够根据需要和可操作性灵活确定所述第二轴体的中心轴线，并确保较高的精度。

值得说明的是，为了便于参照比对，确定所述第一角度特征线16和所述第二角度特征线24的夹角，可以按照竖向面和水平面两个方向进行投影量化，作为轴角度不对中值。

具体来说，将所述第一角度特征线16和所述第二角度特征线24侧向投影至竖向面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中竖向夹角数值；将所述第一角度特征线16和所述第二角度特征线24竖向投影至水平面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中俯视夹角数值。

相类似的，所述确定所述第一距离特征点15与所述平行特征点17的距离，作为轴平行不对中值具体也可分为平面和竖直面内的分量量化。具体来说：在所述第一轴体10的轴端面内，计算所述平行特征点17和所述第一距离特征点15水平方向偏差，作为两轴平行不对中水平方向分量；在所述第一轴体10的轴端面内，计算所述平行特征点17和所述第一距离特征点15垂直方向偏差，作为两轴平行不对中竖直方向分量。

本实施方案中，以目标精度指标“开口大小，角度不对中，平行不对中”作为检测的目标参数，并可将轴体分为可盘动轴和不可盘动轴两种情况。

可盘动轴通过回转中心判定空间姿态，即通过回转中心判定空间角度，通过回转中心与端面交点确定本轴与另一轴距离关系。

回转中心线获取方法：通过2～3个强磁基座，固定在轴本体上，使轴本体带动固定点回转，若回转半径不足半米，通过加长杆延长，使回转半径达到半米左右。靶球吸附于强磁基座上，通过在六个以上不同角度获取点位坐标，进一步通过圆周轨迹中法线判定被测轴回转中心姿态。

端面姿态获取方法：通过在轴端面加工面获取多个点位样本，延周向均匀获取整周点位样本，通过多点最小二乘法拟合平面，进一步延法线平移棱镜及选用基座引起的偏量，从而获取端面的真实位置。

进一步通过回转中心与端面交点，表征本轴与另一轴距离关系特征点。

对于不可盘动轴，通过轴面获取多点，实现对轴面扫描，进一步获取轴面回转中心。

通过端面获取多点，实现对端面扫描，进一步获取端面法向。

比较端面加工精度与轴面加工精度，选择加工精度较高的部分(回转中心或法线)，作为轴角度的评定依据，本文称作角度评定线。

以端面和角度评定线相交点作为平行不对中关系特征点，此特征点用于表征与另一轴距离关系。

至此，任一状态(可盘动或不可盘动)轴，获取了所有重要几何特征。

开口大小评定方法：两个轴的距离特征点间距，即为开口大小。

角度不对中评定方法：两个角度评定线在俯视和侧视关系视图中的两个夹角分量即为角度不对中的两个角度分量。

平行不对中评定方法：将移动端回转中心射线延长至固定端端面，交点与固定端距离特征点距离的水平分量和垂直分量即为平行不对中的两个方向分量。

下面介绍一种具体的实施方案。

步骤一：首先对需要做对中的两根轴工况进行评定，分为可盘动轴和不可盘动轴；

步骤二：将激光跟踪仪设站在两轴之间，使得激光跟踪仪对于两轴本体，两轴端面均具备可视条件；

步骤三：对于可盘动轴，判定周半径是否足够500mm，对于不满足条件的，加设延长杆；

步骤四：固定强磁基座，安装靶球；

步骤五：初始化仪器后，将靶球调整到极限位置(通视条件下的极限角度)取点；

步骤六：重复步骤五，每30度获取一个点位样本，样布数量不应少于6个，如果不满足要求，适当降低角度间隔；

步骤七：将靶球轨迹进行圆周最佳拟合；

步骤八：通过圆心，制作与圆周垂直的射线，至此，获取角度评定线；

步骤九：端面等间距取点，不得少于8个；

步骤十：端面点位样本进行平面最佳拟合；

步骤十一：计算靶球半径与选用磁座工装的点位偏置总和，并延平面法向平移平面，使得平面移动至端面真实位置；

步骤十二：计算角度特征线与端面平面相交点坐标，作为此轴距离特征点；

步骤十三：对于不可盘动轴，轴身扫描式获取多个点位样本；

步骤十四：将轴身多个点位样本最佳拟合出柱面，进一步获取柱面回转中心；

步骤十五：同步骤九至步骤十一，获取端面真实平面解析式，以柱面回转中心线与端面交点为起点，做端面法线；

步骤十六：比较步骤十五中端面平面度与步骤十四轴本体的圆柱度，取更小数值，认为更能反应轴本体回转中心状态的几何特征体，进一步将圆柱回转中心线或端面法线作为此轴角度特征线；

步骤十七：同步骤十二，获取此轴距离特征点；

步骤十八：确定两侧轴，固定端与移动端关系；

步骤十九：将移动端回转中心线延长，交固定端于平行特征点；

步骤二十：两端距离特征点做距离计算，获取开口大小；

步骤二十一：将两轴角度特征线侧向投影至轧制方向垂直面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中侧向夹角数值；

步骤二十二：将两轴角度特征线投影至大地水平面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中俯视夹角数值；

步骤二十三：在固定端平面内，计算平行特征点和固定端距离特征点水平方向偏差，作为两轴平行不对中水平方向分量；

步骤二十四：在固定端平面内，计算平行特征点和固定端距离特征点垂直方向偏差，作为两轴平行不对中垂直方向分量。

上述方案可针对开口大于100mm的大跨度的两轴对中评价；也可实现不必盘辊即可测量轴对中偏差；进一步界定了角度特征线，端面法线，端面距离特征点，平行关系特征点为基于激光跟踪仪测量轴对中问题，为获取最终评价指标的重要几何特征值。

同时能够精密量化计算可盘动轴以及不可盘动的几何特征值；针对半径不足轴体通过延长杆扩大棱镜回转半径，实施准确测量；还可避靶球类棱镜测量结果进行平面最佳拟合计算时，偏置量补偿计算，提升检测精度。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的普通技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，包括：

将激光跟踪仪设站在第一轴体和第二轴体的相对的两轴端面之间；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的中心轴线作为第一角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点，作为第一距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线，作为第二角度特征线；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的第二角度特征线与轴端面的交点，作为第二距离特征点；

基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线与所述第一轴体的轴端面的交点，作为平行特征点；

确定所述第一距离特征点和所述第二距离特征点的距离，作为开口大小；

确定所述第一角度特征线和所述第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值；

确定所述第一距离特征点与所述平行特征点的距离，作为轴平行不对中值。

2.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定第一轴体的中心轴线包括：

在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点；

基于所述采样点进行圆周拟合得到圆周面；

获取于所述圆周面的圆心处垂直于所述圆周面的射线，得到第一轴体的中心轴线。

3.如权利要求2所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述在所述第一轴体的周面布置靶球，并沿周面获取采样点包括：

在所述第一轴体的周面上，按照周半径大于等于500mm设置靶球；

按照设定角度间隔转动所述第一轴体并获取一个采样点，且采样点大于等于6个。

4.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第一轴体的第一角度特征线与轴端面的交点包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第一轴体的轴端面取点，得到第一端面点位样本；

基于所述第一端面点位样本进行平面拟合，得到第一拟合平面；

沿所述第一角度特征线平移到第一轴体的轴端面的真实位置，并计算所述第一角度特征线与第一拟合平面相交点坐标。

5.如权利要求4所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述在所述第一轴体的轴端面取点包括：

在所述第一轴体的轴端面等间距取点，且取点数大于等于8个。

6.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线包括：

基于所述激光跟踪仪在所述第二轴体的轴身周面上获取多个点位样本；

基于所述多个点位样本拟合出柱面；

获取所述柱面回转中心线，作为所述第二轴体的中心轴线。

7.如权利要求6所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

基于所述激光跟踪仪，在所述第二轴体的轴端面取点，得到第二端面点位样本；

基于所述第二端面点位样本进行平面拟合，得到第二拟合平面；

获取所述第二拟合平面与柱面回转中心线的交点，并以所述交点做所述第二拟合平面的端面法线，作为所述第二轴体的中心轴线。

8.如权利要求7所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述基于所述激光跟踪仪确定所述第二轴体的中心轴线还包括：

获取并比较所述第二轴体的轴端面的平面度以及轴本体的圆柱度；

当所述第二轴体的轴端面的平面度小于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述柱面回转中心线作为所述第二轴体的中心轴线；

当所述第二轴体的轴端面的平面度大于所述第二轴体的轴本体的圆柱度，所述第二拟合平面的端面法线作为所述第二轴体的中心轴线。

9.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述确定所述第一角度特征线和所述第二角度特征线的夹角，作为轴角度不对中值包括：

将所述第一角度特征线和所述第二角度特征线侧向投影至竖向面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中竖向夹角数值；

将所述第一角度特征线和所述第二角度特征线竖向投影至水平面，计算投影线角度，获得两轴角度不对中俯视夹角数值。

10.如权利要求1所述的基于激光跟踪仪的设备同轴度测量方法，其特征在于，所述确定所述第一距离特征点与所述平行特征点的距离，作为轴平行不对中值包括：

在所述第一轴体的轴端面内，计算所述平行特征点和所述第一距离特征点水平方向偏差，作为两轴平行不对中水平方向分量；

在所述第一轴体的轴端面内，计算所述平行特征点和所述第一距离特征点垂直方向偏差，作为两轴平行不对中竖直方向分量。

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