CN114295916B - 一种器件检测设备及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及器件检测技术领域,公开一种器件检测设备及其检测方法。其包括:控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,支撑座安装在控制箱上,支撑座的上部设有360°旋转盘,旋转盘与支撑座为转动连接,旋转盘的一端连接光学相机器,旋转盘的另一端连接检测平台,检测平台与光学相机器通过光线相互配合,光学相机器用于发射光线且照射到检测平台上的检测区域,且光学相机器采集所述检测区域的图像,检测平台选用微型移动测量技术,转动支架安装在检测平台上,扫描器安装在转动支架上,转动支架用于移动扫描器的位置和定位扫描器进行扫描检测的器件。该设备可以有效地实现提高操作灵敏度、便捷操作、不易损坏器件和提高检测效率等。
Description
技术领域
本发明涉及器件检测领域,具体涉及一种器件检测设备及其检测方法。
背景技术
目前,随着科技地迅速发展,电子产品越来越多地应用到人们的生活中。电子产品都需要成千上万个大大小小的电子器件去组装该产品,这些器件会具有各式各样的功能和效果。有的器件采用集成化和一体成型,有的器件需要独立成型。无论是一体成型的器件还是独立的器件,都不是十全十美的,有时会在器件的生产加工时出现不良品的现象,有时会在封装或组装时出现不良品的现象,不良品的器件一旦误装入电子产品中,就会出现电子产品不工作或异常工作等现象。这就需要对器件进行前端的检测,以便防患于未然。目前对器件的检测设备都存在一些不足之处,检测器件的效率低,检测器件的灵敏度低,检测器件的操作繁琐和检测器件容易受损等现象。
因此,针对以上问题,现有的器件检测的设备及其方法有待进一步改进。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有的器件检测的设备及其方法的检测效率低、操作繁琐、器件容易损坏和检测灵敏度低等问题,通过对器件检测的设备及其方法进行合理设计,采用控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,可以有效地实现提高操作灵敏度、便捷操作、不易损坏器件和提高检测效率等。采用检测平台,可以灵活地取放需要检测的器件,以及精准地进行检测,可以使得检测的器件与检测探针良好地接触,避免探针损坏和检测器件的损坏;采用检测平台上的联动机构,可以依托滚动连接和滑动连接相配合,通过支撑力或重力的作用,便捷地使得检测器进行上升或下降移动,从而方便安放器件和取走器件;采用光学相机器和检测平台(带检测的器件)的中心在一条直线上,有助于精准采集检测的器件的图像,避免出现补光或漏光的不良影响现象;采用扫描器和转动平台,可以精准地读取检测的器件的标号,以便进行数据的标记;采用控制箱去智能化控制检测,使得数据精准,效率提高等。
本发明的技术方案具体如下:
一种器件检测设备,所述检测设备包括:控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,所述支撑座安装在所述控制箱上,所述支撑座的上部设有360°旋转盘,所述旋转盘与所述支撑座为转动连接,且所述旋转盘为运动或停止于任意位置,所述旋转盘的一端连接所述光学相机器,所述旋转盘的另一端连接所述检测平台,所述检测平台与所述光学相机器通过光线相互配合,所述光学相机器用于发射光线且照射到检测平台上的检测区域,且所述光学相机器采集所述检测区域的图像,所述检测平台选用微型移动测量技术,所述微型移动测量技术用于将放置的检测的器件进行空间对准VA测量或将放置的检测的器件进行安全拿取,所述检测区域的中心是通过所述微型移动测量技术与所述光学相机器的中线在同一直线上,所述转动支架安装在所述检测平台上,所述扫描器安装在所述转动支架上,所述转动支架用于移动扫描器的位置和定位扫描器进行扫描检测的器件。
进一步地,所述VA测量为伏安法测量,也称作是电压-电流测量。
如此设置,采用同一直线进行采集图像,避免出现偏光现象,影响画质效果;采用360°旋转盘及时停时走,便于检测的器件进行取放和不同位置的检测。
进一步地,所述光学相机器包括相机外壳、外壳槽口、CCD相机、相机支架、支架调钮、相机滑轨、相机滑块、光阑滑轨、光阑托架、光阑和托架旋钮,所述相机外壳设置在所述光学相机器的外部,所述相机外壳为防护和避光作用,所述相机外壳安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑轨安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑块安装在所述相机滑轨上,所述相机滑块与所述相机滑轨为滑动连接,所述支架调钮安装在所述相机滑块上,所述支架调钮用于释放或锁住所述相机滑块,所述相机支架连接在所述相机滑块上,所述CCD相机连接在所述相机支架和相机滑块上,所述光阑滑轨安装在所述旋转盘上,所述光阑托架安装在所述光阑滑轨上,且所述光阑托架与所述光阑滑轨为滑动连接,所述托架旋钮安装在所述光阑托架上,所述托架旋钮用于释放或锁住所述光阑托架,所述光阑安装在所述光阑托架上,且所述光阑的中心位于所述CCD相机的中线上,所述外壳槽口设置在所述相机外壳上,且所述外壳槽口用于观察所述相机外壳内的情况。
如此设置,采用CCD相机进行出光和采集图像,通过光阑进行消除漏光现象,通过相机滑轨和光阑滑轨,方便光路的调节,以便实现清晰的画质。
进一步地,所述相机滑轨与所述光阑滑轨均为平行设置,且所述相机滑轨设置在所述光阑滑轨的上方。
如此设置,采用平行设置,减小中心线的偏差,避免偏光现象。
进一步地,所述相机滑轨设置在所述相机滑块的内侧,所述光阑滑轨设置在所述光阑托架的内侧。
如此设置,更便于支架调钮对相机滑块的释放或锁住,和托架旋钮对光阑托架的释放或锁住。
进一步地,所述相机滑轨和所述光阑滑轨均为单轨,且所述单轨为倒梯形设置,在所述倒梯形的下底的表面上设有方形条,所述方形条用于稳固对应的相机滑块和光阑托架的滑动。
如此设置,采用倒梯形设置,可以使相机滑块和光阑托架稳定在对应滑轨上,不易脱落。
进一步地,所述检测平台包括移动平台、检测支架、联动机构、锁物机构、检测器和载物台,所述移动平台上安装所述检测支架,所述检测支架用于撑起所述联动机构的空间、所述锁物机构的空间、所述载物台的空间和所述检测器的空间,所述联动机构的一端安装在所述移动平台上,且所述联动机构与所述移动平台为滑动连接,所述联动机构的另一端连接所述检测器,所述检测器的下方设置有所述载物台,所述载物台上设置有所述锁物机构,所述锁物机构与所述检测支架为转动连接,所述检测器与所述检测支架为滑动连接。
如此设置,采用移动平台和联动机构的配合,实现空间对准;采用检测器可以对检测的器件进行VA上电检测。
进一步地,所述移动平台包括二维位移平台,所述二维位移平台选用X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆。
进一步地,所述旋转螺杆均为类千分尺螺杆。
进一步地,所述X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆均为半独立旋转螺杆,所述半独立旋转螺杆为X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆均为独立操作,或者为X方向的旋转螺杆的位移会联动Y方向的旋转螺杆的位移,所述半独立旋转螺杆用于缩短移位量程。
进一步地,所述移动平台上设有联动滑轨,所述联动滑轨与所述联动机构相互对应,所述联动机构包括转杆、第一转轴、第二转轴、联动滑块、联动旋钮、滚轮和连杆,所述转杆的一端通过所述第一转轴转动连接在所述检测支架上,所述转杆的中部通过所述第二转轴转动连接在所述联动滑块的一端上,所述联动滑块安装在所述联动滑轨上,且所述联动滑块与所述联动滑轨为滑动连接,所述联动旋钮安装在所述联动滑块上,所述联动旋钮用于释放或锁住所述联动滑块,所述滚轮转动连接在所述连杆的一端,所述连杆的另一端连接所述检测器,所述联动滑块的另一端与所述滚轮为滚动接触,且所述联动滑块的另一端驱动所述滚轮上升和/或下降运动。
如此设置,采用滚动接触,可以降低机械摩擦、卡顿和损伤,有助于检测器的空间移位。
进一步地,所述联动滑块包括高台滑块、斜坡滑块和低台滑块,所述高台滑块的一端固定连接所述斜坡滑块的高端,且所述高台滑块的顶面与所述斜坡滑块的斜面为平滑连接,所述斜坡滑块的低端与所述低台滑块的另一端连接,且所述斜坡滑块的斜面与所述低台滑块的顶面为平滑连接,所述低台滑块的一端连接所述第二转轴。
进一步地,所述高台滑块、斜坡滑块和低台滑块为一体成型的联动滑块。
如此设置,采用联动滑块,可以通过联动滑块的支撑力和检测器的重力进行检测器的上升和/或下降的运动。
进一步地,所述检测支架包括一级支架、二级支架和三级支架,所述一级支架用于连接和支撑所述联动机构的空间,所述二级支架用于连接和支撑所述载物台和锁物机构的空间,所述三级支架用于连接和支撑所述检测器的空间。
如此设置,采用三个级别的支架,且按照空间的合理化分布,有利于检测器对检测的器件进行空间对准的VA测量。
进一步地,所述三级支架包括三级支架板、三级支架滑轨和S型滑槽,所述S型滑槽设置在所述三级支架板的上部,所述三级支架滑轨设置在所述三级支架板的下部,所述检测器的上部与所述S型滑槽为滑动连接,所述检测器的下部与所述三级支架滑轨为滑动连接。
进一步地,所述检测器包括检测滑杆、检测仪和检测滑块,所述检测滑杆设置在检测仪的上部,所述检测滑杆插入所述S型滑槽中,且所述检测滑杆与所述S型滑槽为带滚动的滑动连接,所述带滚动的滑动连接为检测滑杆自转和检测滑杆与S型滑槽滑动,所述检测滑块与所述三级支架滑轨为滑动连接。
进一步地,所述三级支架板为两个,且所述三级支架板为平行相对设置,所述三级支架滑轨为两个,且所述三级支架滑轨为平行相对设置,所述S型滑槽为两个,且所述S型滑槽平行相对设置。
如此设置,采用滚动和滑动连接,可以降低检测滑杆与三级支架板之间的摩擦、卡顿和损伤。
进一步地,所述S型滑槽包括上滑槽、中滑槽和下滑槽,所述上滑槽和所述下滑槽均为相互平行的竖直槽,所述上滑槽设置在所述下滑槽之上,所述上滑槽的下端通过所述中滑槽平滑地与所述下滑槽的上端连接。
进一步地,所述三级支架滑轨均与所述S型滑槽的上滑槽和下滑槽平行设置。
进一步地,所述锁物机构包括转动件、锁物杆、磁铁和铁磁件,所述锁物杆通过转动件与所述移动平台连接,所述磁铁固定连接在所述移动平台上,所述锁物杆的一端用于锁定检测的器件,所述锁物杆的另一端连接所述铁磁件,所述铁磁件与所述磁铁为磁力连接。
进一步地,所述支撑座包括转盘连接孔、支撑座销孔和固定销,所述支撑座的上部设有所述转盘连接孔,所述转盘连接孔的四周设有所述支撑座销孔,所述支撑座销孔上设有所述固定销。
进一步地,所述旋转盘包括旋转支架、销孔和内嵌转盘,所述旋转支架的下部安装有所述检测平台,所述旋转支架的上部安装有所述光学相机器,在所述旋转支架的中部且与所述检测平台相反面上固定连接所述内嵌转盘,所述内嵌转盘的外侧转动连接在所述支撑座上的转盘连接孔上,在所述旋转支架上且与所述支撑座销孔相对应的位置处设有所述销孔,所述销孔用于插入所述固定销,且所述销孔与所述支撑座销孔和固定销配合释放或阻止所述旋转盘旋转。
进一步地,所述支撑座销孔和所述销孔均为至少4个,且首先布置在0°、90°、180°和270°上,多余的支撑座销孔和销孔可以自定义。
进一步地,所述控制箱包括控制箱外壳、信号接口、电源接口、控制电路板、操作显示面板、指示灯和开关器,所述控制箱外壳上安装有所述支撑座,所述控制箱外壳内安装有所述控制电路板,所述控制箱外壳的侧面上分别安装有信号接口、电源接口、操作显示面板、指示灯和开关器,所述电源接口外接电源,且所述电源接口通过开关器内接控制电路板的电源端,所述控制电路板的控制端分别电连接所述操作显示器、信号接口和指示灯,所述信号接口分别电连接所述光学相机器和检测平台,且所述信号接口外接计算机系统。
进一步地,所述控制电路板包括硬件系统和嵌入式软件系统,所述嵌入式软件系统嵌入进所述硬件系统中,所述硬件系统驱动所述控制箱工作,所述嵌入式软件系统和硬件系统的配合,用于控制光学相机器的光的强弱、光斑照射范围、采集检测平台的图像和分析处理检测平台的图像等,且用于控制检测平台的供电和断电、采集检测数据和分析处理检测数据等。
进一步地,所述控制电路板外接计算机系统,所述计算机系统与所述控制电路板互联互通,所述计算机系统用于显示、操作和设置控制电路板操作等。
进一步地,所述检测仪的下部设有至少2个探针。
进一步地,所述检测仪上设有三维移动平台。
进一步地,所述三维移动平台均选用螺旋钮操作。
进一步地,所述计算机系统搭载检测器件的软件,所述检测器件的软件包括系统参数设置模块、图像显示和保存模块、检测器件校准模块和检测器件数据采集模块。
进一步地,所述参数设置模块将设置的参数以数据信号的形成传输给CCD相机和检测器,检测器发射相应的指令传输给检测器件,读取检测器件的电流和/或电压数据,所述电流和/或电压数据传输给所述检测器件数据采集模块进行处理、保存和显示,CCD相机采集检测器件的形貌图像,将图像信号传输给所述图像显示和保存模块进行显示图像,并对图像的形貌进行分析、处理和保存,并将异常信号反馈给所述检测器件校准模块,进行检测器件的形貌校准。
进一步地,所述检测器件校准模块选用偏心距校准法、转角校准法、面积差值法和多次循环取值法。
进一步地,所述偏心距校准法是检测器件的中心与标准检测器件的中心之间的距离。
进一步地,所述转角校准法是检测器件的参考点的直线与标准检测器件的参考点的直线之间的角度。
进一步地,所述面积差值法是检测器件的图像点面积与标准检测器件的图像点面积之间的差异。
进一步地,所述多次循环取值法是进行多次重复检测,选取最优值或平均值或最大最小值。
进一步地,一种器件检测设备的检测方法,所述检测步骤如下:
步骤1:开启计算机电源和检测设备电源,打开计算机,连通计算机与控制电路板;
步骤2:通过计算机控制,开启CCD相机,CCD相机发出的光线通过光阑照射到检测平台上;
步骤3:将检测器件放置在载物台上,拨动锁物杆,锁物杆会在转动件上向磁铁方向转动,磁铁会将铁磁件吸住,锁物杆的另一端压住检测器件;
步骤4:调节二维位移平台的X方向旋转螺杆,会带动Y方向移动,在X方向调整到检测器件位于CCD相机的X方向中线,锁住X方向移动,调节二维位移平台的Y方向旋转螺杆,将检测器件调到CCD相机的中心处,锁住Y方向移动;
步骤5:手动配合调节CCD相机和光阑的位置,使得CCD相机拍摄到清晰的检测器件的图像,再通过计算机控制,显示出采集到的检测器件的图像;
步骤6:推起转杆,联动滑块会向支撑座一侧滑动,检测器由于重力原因,会向下滑动至检测位置,检测用的探针没有接触到检测器件,此时,调节检测器上的三维位移平台,使得探针稳定地接触检测器件;
步骤7:开启检测器,给检测器件供电,进行检测,计算机时时读取测量数据、处理数据、保存数据和显示数据;
步骤8:待检测完毕后,调回三维位移平台,拉起转杆,联动滑块会将检测器顶起,调回二维位移平台,搬开锁物杆,取下检测器件,关闭设备,关闭计算机。
有益效果
本发明通过对器件检测的设备及其方法进行合理设计,采用控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,可以有效地实现提高操作灵敏度、便捷操作、不易损坏器件和提高检测效率等。采用带有半独立旋转螺杆的二维位移平台,可以灵活地取放需要检测的器件,以及微调节旋转螺杆,可以使得检测的器件与检测探针良好地接触,避免探针损坏和检测器件的损坏;采用末端凸起且采用滚动接触的联动机构,可以依托缓斜面的滑动,通过其支撑力的作用便捷地使得检测器进行上升移动,通过检测器的重力的作用,便捷地使得检测器进行下降移动,从而方便安放器件和取走器件;采用磁铁与铁磁件的磁力作用,会稳固地夹持检测的器件,磁力具有一种缓和的作用,不会对带有铁块的转杆进行过激运作,磁铁还具有吸静电的作用,可以吸收一些载物台处的静电,避免静电对检测的器件的数据造成干扰;采用CCD相机、光阑和载物台(带检测的器件)的中心在一条直线上,有助于精准采集检测的器件的图像,避免出现补光或漏光的现象;采用扫描器和转动平台,可以精准地读取检测的器件的标号,以便进行数据的标记;采用控制箱去智能化控制检测,使得数据精准,效率提高等。
附图说明
图1为本发明一种器件检测设备结构示意图。
图2为本发明一种器件检测设备的无相机外壳的结构示意图。
图3为本发明一种器件检测设备的光路结构示意图。
图4为本发明一种器件检测设备的检测的器件结构示意图。
图5为本发明一种器件检测设备的检测平台的正视结构示意图。
图6为本发明一种器件检测设备的检测平台的侧视结构示意图。
图7为本发明一种器件检测设备的无相机外壳的侧视结构示意图。
图8为本发明一种器件检测设备的选转盘的剖面结构示意图。
图9为本发明一种器件检测设备的控制箱的结构示意图。
附图标号:1、相机外壳;2、控制箱;3、支撑座;4、扫描器;5、转动支架;6、检测平台;7、外壳槽口;11、相机滑轨;12、相机滑块;13、支架调钮;14、CCD相机;15、相机支架;16、光阑滑轨;17、光阑托架;18、托架旋钮;19、光阑;21、操作显示面板;22、开关器;23、指示灯;24、电源接口;25、信号接口;31、固定销;32、转盘连接孔;33、内嵌转盘;34、旋转支架;51、转动件;60、检测的器件;61、图案码;62、Y方向的旋转螺杆;63、X方向的旋转螺杆;64、转杆;65、第一转轴;66、第二转轴;67、联动滑块;68、联动滑轨;69、一级支架;610、二级支架;611、磁铁;612、磁铁件;613、锁物杆;614、检测仪;615、载物台;616、锁物端;617、三级支架板;618、检测滑杆。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
参阅图1-图9所示,本发明提供的一种器件检测设备及其检测方法,所述检测设备包括:控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,所述支撑座安装在所述控制箱上,所述支撑座的上部设有360°旋转盘,所述旋转盘与所述支撑座为转动连接,且所述旋转盘为运动或停止于任意位置,所述旋转盘的一端连接所述光学相机器,所述旋转盘的另一端连接所述检测平台,所述检测平台与所述光学相机器通过光线相互配合,所述光学相机器用于发射光线且照射到检测平台上的检测区域,且所述光学相机器采集所述检测区域的图像,所述检测平台选用微型移动测量技术,所述微型移动测量技术用于将放置的检测的器件进行空间对准VA测量或将放置的检测的器件进行安全拿取,所述检测区域的中心是通过所述微型移动测量技术与所述光学相机器的中线在同一直线上,所述转动支架安装在所述检测平台上,所述扫描器安装在所述转动支架上,所述转动支架用于移动扫描器的位置和定位扫描器进行扫描检测的器件;
其中,所述光学相机器包括相机外壳、外壳槽口、CCD相机、相机支架、支架调钮、相机滑轨、相机滑块、光阑滑轨、光阑托架、光阑和托架旋钮,所述相机外壳设置在所述光学相机器的外部,所述相机外壳为防护和避光作用,所述相机外壳安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑轨安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑块安装在所述相机滑轨上,所述相机滑块与所述相机滑轨为滑动连接,所述支架调钮安装在所述相机滑块上,所述支架调钮用于释放或锁住所述相机滑块,所述相机支架连接在所述相机滑块上,所述CCD相机连接在所述相机支架和相机滑块上,所述光阑滑轨安装在所述旋转盘上,所述光阑托架安装在所述光阑滑轨上,且所述光阑托架与所述光阑滑轨为滑动连接,所述托架旋钮安装在所述光阑托架上,所述托架旋钮用于释放或锁住所述光阑托架,所述光阑安装在所述光阑托架上,且所述光阑的中心位于所述CCD相机的中线上,所述外壳槽口设置在所述相机外壳上,且所述外壳槽口用于观察所述相机外壳内的情况;
其中,所述相机滑轨与所述光阑滑轨均为平行设置,且所述相机滑轨设置在所述光阑滑轨的上方;所述相机滑轨设置在所述相机滑块的内侧,所述光阑滑轨设置在所述光阑托架的内侧;所述相机滑轨和所述光阑滑轨均为单轨,且所述单轨为倒梯形设置,在所述倒梯形的下底的表面上设有方形条,所述方形条用于稳固对应的相机滑块和光阑托架的滑动。
其中,所述检测平台包括移动平台、检测支架、联动机构、锁物机构、检测器和载物台,所述移动平台上安装所述检测支架,所述检测支架用于撑起所述联动机构的空间、所述锁物机构的空间、所述载物台的空间和所述检测器的空间,所述联动机构的一端安装在所述移动平台上,且所述联动机构与所述移动平台为滑动连接,所述联动机构的另一端连接所述检测器,所述检测器的下方设置有所述载物台,所述载物台上设置有所述锁物机构,所述锁物机构与所述检测支架为转动连接,所述检测器与所述检测支架为滑动连接;
其中,所述移动平台包括二维位移平台,所述二维位移平台选用X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆,所述旋转螺杆均为类千分尺螺杆,所述X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆均为半独立旋转螺杆,所述半独立旋转螺杆为X方向的旋转螺杆和Y方向的旋转螺杆均为独立操作,或者为X方向的旋转螺杆的位移会联动Y方向的旋转螺杆的位移,所述半独立旋转螺杆用于缩短移位量程;
其中,所述移动平台上设有联动滑轨,所述联动滑轨与所述联动机构相互对应,所述联动机构包括转杆、第一转轴、第二转轴、联动滑块、联动旋钮、滚轮和连杆,所述转杆的一端通过所述第一转轴转动连接在所述检测支架上,所述转杆的中部通过所述第二转轴转动连接在所述联动滑块的一端上,所述联动滑块安装在所述联动滑轨上,且所述联动滑块与所述联动滑轨为滑动连接,所述联动旋钮安装在所述联动滑块上,所述联动旋钮用于释放或锁住所述联动滑块,所述滚轮转动连接在所述连杆的一端,所述连杆的另一端连接所述检测器,所述联动滑块的另一端与所述滚轮为滚动接触,且所述联动滑块的另一端驱动所述滚轮上升和/或下降运动;
其中,所述联动滑块包括高台滑块、斜坡滑块和低台滑块,所述高台滑块的一端固定连接所述斜坡滑块的高端,且所述高台滑块的顶面与所述斜坡滑块的斜面为平滑连接,所述斜坡滑块的低端与所述低台滑块的另一端连接,且所述斜坡滑块的斜面与所述低台滑块的顶面为平滑连接,所述低台滑块的一端连接所述第二转轴;所述高台滑块、斜坡滑块和低台滑块为一体成型的联动滑块;
其中,所述检测支架包括一级支架、二级支架和三级支架,所述一级支架用于连接和支撑所述联动机构的空间,所述二级支架用于连接和支撑所述载物台和锁物机构的空间,所述三级支架用于连接和支撑所述检测器的空间;所述三级支架包括三级支架板、三级支架滑轨和S型滑槽,所述S型滑槽设置在所述三级支架板的上部,所述三级支架滑轨设置在所述三级支架板的下部,所述检测器的上部与所述S型滑槽为滑动连接,所述检测器的下部与所述三级支架滑轨为滑动连接;
其中,所述检测器包括检测滑杆、检测仪和检测滑块,所述检测滑杆设置在检测仪的上部,所述检测滑杆插入所述S型滑槽中,且所述检测滑杆与所述S型滑槽为带滚动的滑动连接,所述带滚动的滑动连接为检测滑杆自转和检测滑杆与S型滑槽滑动,所述检测滑块与所述三级支架滑轨为滑动连接;
其中,所述三级支架板为两个,且所述三级支架板为平行相对设置,所述三级支架滑轨为两个,且所述三级支架滑轨为平行相对设置,所述S型滑槽为两个,且所述S型滑槽平行相对设置;所述S型滑槽包括上滑槽、中滑槽和下滑槽,所述上滑槽和所述下滑槽均为相互平行的竖直槽,所述上滑槽设置在所述下滑槽之上,所述上滑槽的下端通过所述中滑槽平滑地与所述下滑槽的上端连接;所述三级支架滑轨均与所述S型滑槽的上滑槽和下滑槽平行设置;
其中,所述锁物机构包括转动件、锁物杆、磁铁和铁磁件,所述锁物杆通过转动件与所述移动平台连接,所述磁铁固定连接在所述移动平台上,所述锁物杆的一端用于锁定检测的器件,所述锁物杆的另一端连接所述铁磁件,所述铁磁件与所述磁铁为磁力连接;
其中,所述支撑座包括转盘连接孔、支撑座销孔和固定销,所述支撑座的上部设有所述转盘连接孔,所述转盘连接孔的四周设有所述支撑座销孔,所述支撑座销孔上设有所述固定销;所述旋转盘包括旋转支架、销孔和内嵌转盘,所述旋转支架的下部安装有所述检测平台,所述旋转支架的上部安装有所述光学相机器,在所述旋转支架的中部且与所述检测平台相反面上固定连接所述内嵌转盘,所述内嵌转盘的外侧转动连接在所述支撑座上的转盘连接孔上,在所述旋转支架上且与所述支撑座销孔相对应的位置处设有所述销孔,所述销孔用于插入所述固定销,且所述销孔与所述支撑座销孔和固定销配合释放或阻止所述旋转盘旋转;所述支撑座销孔和所述销孔均为4个,且首先布置在0°、90°、180°和270°上;
其中,所述控制箱包括控制箱外壳、信号接口、电源接口、控制电路板、操作显示面板、指示灯和开关器,所述控制箱外壳上安装有所述支撑座,所述控制箱外壳内安装有所述控制电路板,所述控制箱外壳的侧面上分别安装有信号接口、电源接口、操作显示面板、指示灯和开关器,所述电源接口外接电源,且所述电源接口通过开关器内接控制电路板的电源端,所述控制电路板的控制端分别电连接所述操作显示器、信号接口和指示灯,所述信号接口分别电连接所述光学相机器和检测平台,且所述信号接口外接计算机系统;所述控制电路板包括硬件系统和嵌入式软件系统,所述嵌入式软件系统嵌入进所述硬件系统中,所述硬件系统驱动所述控制箱工作,所述嵌入式软件系统和硬件系统的配合,用于控制光学相机器的光的强弱、光斑照射范围、采集检测平台的图像和分析处理检测平台的图像等,且用于控制检测平台的供电和断电、采集检测数据和分析处理检测数据等;所述控制电路板外接计算机系统,所述计算机系统与所述控制电路板互联互通,所述计算机系统用于显示、操作和设置控制电路板操作等;
其中,所述检测仪的下部设有至少2个探针,所述检测仪上设有三维移动平台,所述三维移动平台均选用螺旋钮操作。
一种器件检测设备的检测方法,所述检测步骤如下:
步骤1:开启计算机电源和检测设备电源,打开计算机,连通计算机与控制电路板;
步骤2:通过计算机控制,开启CCD相机,CCD相机发出的光线通过光阑照射到检测平台上;
步骤3:将检测器件放置在载物台上,拨动锁物杆,锁物杆会在转动件上向磁铁方向转动,磁铁会将铁磁件吸住,锁物杆的另一端压住检测器件;
步骤4:调节二维位移平台的X方向旋转螺杆,会带动Y方向移动,在X方向调整到检测器件位于CCD相机的X方向中线,锁住X方向移动,调节二维位移平台的Y方向旋转螺杆,将检测器件调到CCD相机的中心处,锁住Y方向移动;
步骤5:手动配合调节CCD相机和光阑的位置,使得CCD相机拍摄到清晰的检测器件的图像,再通过计算机控制,显示出采集到的检测器件的图像;
步骤6:推起转杆,联动滑块会向支撑座一侧滑动,检测器由于重力原因,会向下滑动至检测位置,检测用的探针没有接触到检测器件,此时,调节检测器上的三维位移平台,使得探针稳定地接触检测器件;
步骤7:开启检测器,给检测器件供电,进行检测,计算机时时读取测量数据、处理数据、保存数据和显示数据;
步骤8:待检测完毕后,调回三维位移平台,拉起转杆,联动滑块会将检测器顶起,调回二维位移平台,搬开锁物杆,取下检测器件,关闭设备,关闭计算机。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种器件检测设备,其特征在于,所述检测设备包括:控制箱、支撑座、光学相机器、扫描器、转动支架和检测平台,所述支撑座安装在所述控制箱上,所述支撑座的上部设有360°旋转盘,所述旋转盘与所述支撑座为转动连接,且所述旋转盘为运动或停止于任意位置,所述旋转盘的一端连接所述光学相机器,所述旋转盘的另一端连接所述检测平台,所述检测平台与所述光学相机器通过光线相互配合,所述光学相机器用于发射光线且照射到检测平台上的检测区域,且所述光学相机器采集所述检测区域的图像,所述检测平台选用微型移动测量技术,所述微型移动测量技术用于将放置的检测的器件进行空间对准VA测量或将放置的检测的器件进行安全拿取,所述检测区域的中心是通过所述微型移动测量技术与所述光学相机器的中线在同一直线上,所述转动支架安装在所述检测平台上,所述扫描器安装在所述转动支架上,所述转动支架用于移动扫描器的位置和定位扫描器进行扫描检测的器件;
其中,所述检测平台包括移动平台、检测支架、联动机构、锁物机构、检测器和载物台,所述移动平台上安装所述检测支架,所述检测支架用于撑起所述联动机构的空间、所述锁物机构的空间、所述载物台的空间和所述检测器的空间,所述联动机构的一端安装在所述移动平台上,且所述联动机构与所述移动平台为滑动连接,所述联动机构的另一端连接所述检测器,所述检测器的下方设置有所述载物台,所述载物台上设置有所述锁物机构,所述锁物机构与所述检测支架为转动连接,所述检测器与所述检测支架为滑动连接;
其中,所述移动平台上设有联动滑轨,所述联动滑轨与所述联动机构相互对应,所述联动机构包括转杆、第一转轴、第二转轴、联动滑块、联动旋钮、滚轮和连杆,所述转杆的一端通过所述第一转轴转动连接在所述检测支架上,所述转杆的中部通过所述第二转轴转动连接在所述联动滑块的一端上,所述联动滑块安装在所述联动滑轨上,且所述联动滑块与所述联动滑轨为滑动连接,所述联动旋钮安装在所述联动滑块上,所述联动旋钮用于释放或锁住所述联动滑块,所述滚轮转动连接在所述连杆的一端,所述连杆的另一端连接所述检测器,所述联动滑块的另一端与所述滚轮为滚动接触,且所述联动滑块的另一端驱动所述滚轮上升和/或下降运动;
其中,所述联动滑块包括高台滑块、斜坡滑块和低台滑块,所述高台滑块的一端固定连接所述斜坡滑块的高端,且所述高台滑块的顶面与所述斜坡滑块的斜面为平滑连接,所述斜坡滑块的低端与所述低台滑块的另一端连接,且所述斜坡滑块的斜面与所述低台滑块的顶面为平滑连接,所述低台滑块的一端连接所述第二转轴。
2.根据权利要求1所述的一种器件检测设备,其特征在于,所述光学相机器包括相机外壳、外壳槽口、CCD相机、相机支架、支架调钮、相机滑轨、相机滑块、光阑滑轨、光阑托架、光阑和托架旋钮,所述相机外壳设置在所述光学相机器的外部,所述相机外壳为防护和避光作用,所述相机外壳安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑轨安装在所述旋转盘的上部,所述相机滑块安装在所述相机滑轨上,所述相机滑块与所述相机滑轨为滑动连接,所述支架调钮安装在所述相机滑块上,所述支架调钮用于释放或锁住所述相机滑块,所述相机支架连接在所述相机滑块上,所述CCD相机连接在所述相机支架和相机滑块上,所述光阑滑轨安装在所述旋转盘上,所述光阑托架安装在所述光阑滑轨上,且所述光阑托架与所述光阑滑轨为滑动连接,所述托架旋钮安装在所述光阑托架上,所述托架旋钮用于释放或锁住所述光阑托架,所述光阑安装在所述光阑托架上,且所述光阑的中心位于所述CCD相机的中线上,所述外壳槽口设置在所述相机外壳上,且所述外壳槽口用于观察所述相机外壳内的情况。
3.根据权利要求1所述的一种器件检测设备,其特征在于,所述检测支架包括一级支架、二级支架和三级支架,所述一级支架用于连接和支撑所述联动机构的空间,所述二级支架用于连接和支撑所述载物台和锁物机构的空间,所述三级支架用于连接和支撑所述检测器的空间。
4.根据权利要求3所述的一种器件检测设备,其特征在于,所述三级支架包括三级支架板、三级支架滑轨和S型滑槽,所述S型滑槽设置在所述三级支架板的上部,所述三级支架滑轨设置在所述三级支架板的下部,所述检测器的上部与所述S型滑槽为滑动连接,所述检测器的下部与所述三级支架滑轨为滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种器件检测设备,其特征在于,所述锁物机构包括转动件、锁物杆、磁铁和铁磁件,所述锁物杆通过转动件与所述移动平台连接,所述磁铁固定连接在所述移动平台上,所述锁物杆的一端用于锁定检测的器件,所述锁物杆的另一端连接所述铁磁件,所述铁磁件与所述磁铁为磁力连接。
6.根据权利要求1所述的一种器件检测设备,其特征在于,所述控制箱包括控制箱外壳、信号接口、电源接口、控制电路板、操作显示面板、指示灯和开关器,所述控制箱外壳上安装有所述支撑座,所述控制箱外壳内安装有所述控制电路板,所述控制箱外壳的侧面上分别安装有信号接口、电源接口、操作显示面板、指示灯和开关器,所述电源接口外接电源,且所述电源接口通过开关器内接控制电路板的电源端,所述控制电路板的控制端分别电连接所述操作显示面板、信号接口和指示灯,所述信号接口分别电连接所述光学相机器和检测平台,且所述信号接口外接计算机系统。
7.应用权利要求1所述的一种器件检测设备的检测方法,其特征在于,所述检测步骤如下:
步骤1:开启计算机电源和检测设备电源,打开计算机,连通计算机与控制电路板;
步骤2:通过计算机控制,开启CCD相机,CCD相机发出的光线通过光阑照射到检测平台上;
步骤3:将检测器件放置在载物台上,拨动锁物杆,锁物杆会在转动件上向磁铁方向转动,磁铁会将铁磁件吸住,锁物杆的另一端压住检测器件;
步骤4:调节二维位移平台的X方向旋转螺杆,会带动Y方向移动,在X方向调整到检测器件位于CCD相机的X方向中线,锁住X方向移动,调节二维位移平台的Y方向旋转螺杆,将检测器件调到CCD相机的中心处,锁住Y方向移动;
步骤5:手动配合调节CCD相机和光阑的位置,使得CCD相机拍摄到清晰的检测器件的图像,再通过计算机控制,显示出采集到的检测器件的图像;
步骤6:推起转杆,联动滑块会向支撑座一侧滑动,检测器由于重力原因,会向下滑动至检测位置,检测用的探针没有接触到检测器件,此时,调节检测器上的三维位移平台,使得探针稳定地接触检测器件;
步骤7:开启检测器,给检测器件供电,进行检测,计算机时时读取测量数据、处理数据、保存数据和显示数据;
步骤8:待检测完毕后,调回三维位移平台,拉起转杆,联动滑块会将检测器顶起,调回二维位移平台,搬开锁物杆,取下检测器件,关闭设备,关闭计算机。
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