CN114161171A - 一种精密数控机床 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及机床的技术领域,尤其是一种精密数控机床,包括床身以及设置在床身底部的调试装置;所述床身的底部四角位置处设置有地脚螺栓;所述调试装置包括固定连接在床身内部的检测机构以及设置在床身底部的升降机构,所述检测机构设置在滑轨之间用于检测滑轨是否水平,所述升降机构设置有四组,四组升降机构分别设置在床身底部侧边的中间位置处,所述升降机构与检测机构电性连接。本申请具有检测机构检测到床身不水平时,控制四组升降机构工作,升降机构上升或者下降,在四组升降机构的配合下,调节床身的角度,从而使床身水平,不需要反复调试地脚螺栓,简化了工作人员的操作,提高了工作人员调平的效率和精度的效果。
Description
技术领域
本发明涉及机床的技术领域,尤其是涉及一种精密数控机床。
背景技术
机床是指制造机器的机器,亦称工作母机或工具机,习惯上简称机床。一般分为金属切削机床、锻压机床和木工机床等。精密机床是指用于加工精密零部件的数控机床,通常为五轴联动。相关技术中的精密机床在安装时需要工作人员不断调试床身底部的地脚螺栓,从而保证床身处于水平,进而保证机床的加工精度。
针对上述中的相关技术,发明人认为有缺陷:相关技术中的精密机床在安装时需要工作人员反复调试位于床身底部四角位置处的地脚螺栓,调试效率较低,调试精度也较低。
发明内容
为了提高工作人员调试床身水平的效率和精度,本申请提供一种精密数控机床。
本申请提供的一种精密数控机床,采用如下的技术方案:
一种精密数控机床,包括床身以及设置在床身底部的调试装置;
所述床身的底部四角位置处设置有地脚螺栓;
所述调试装置包括固定连接在床身内部的检测机构以及设置在床身底部的升降机构,所述检测机构设置在滑轨之间用于检测滑轨是否水平,所述升降机构设置有四组,四组升降机构分别设置在床身底部侧边的中间位置处,所述升降机构与检测机构电性连接。
通过采用上述技术方案,工作人员在安装本申请机床时,将升降机构通电,检测机构可以检测床身是否水平,当检测机构检测到床身不水平时,检测机构控制四组升降机构工作,升降机构上升或者下降,在四组升降机构的配合下,调节床身的角度,从而使床身水平,工作人员在调平本申请机床时,不需要反复调试地脚螺栓,简化了工作人员的操作,提高了工作人员调平的效率和精度。
可选的,所述地脚螺栓与升降机构平行设置,四组所述升降机构均设置在床身的承重梁上。
可选的,所述检测机构包括固定连接在床身上平行于X轴的第一检测棒和平行于Y轴的第二检测棒,所述第一检测棒和第二检测棒与两根滑轨所在的平面平行,所述第一检测棒和第二检测棒相互垂直,所述第一检测棒和第二检测棒的结构相同。
通过采用上述技术方案,第一检测棒用于检测X轴滑轨是否处于水平,第二检测棒用于检测Y轴滑轨是否处于水平,在第一检测棒和第二检测棒的配合下,检测组件可以检测机床的X轴导轨和Y轴导轨是否水平。
可选的,所述第一检测棒包括固定连接在床身上的检测管以及固定连接在检测管两端的连接件;所述检测管的内部盛有导电液体,所述导电液体未充满检测管,所述连接件设置在导电液体液面的上方,所述连接件设置有两个,两个所述连接件之间不接触,两个连接件所在的平面平行于导电液体液面,两个所述连接件均为导体。
通过采用上述技术方案,当第一检测棒处于水平时,两个连接件与导电液体不接触,升降机构的控制电路断路,升降机构不工作,当第一检测棒不水平时,第一检测棒高度较低的一侧导电液面淹没连接件,使两个连接件联通导电,从而将相应的升降机构控制电路联通,使相应的升降机构得电工作,从而将第一检测棒较低的一端抬起,从而使第一检测棒处于水平。
可选的,所述第一检测管的两端设置有密封端盖,所述连接件固定连接在密封端盖上。
通过采用上述技术方案,密封端盖可以避免第一检测管内部的导电液体漏出,提高第一检测棒的检测效果。
可选的,四组所述连接件分别设置在四组升降机构的控制电路上,所述连接件控制距离自身最近的升降机构工作。
通过采用上述技术方案,四组连接件分别设置在四组升降机构的控制电路上,当有连接件被导电液体淹没之后,连接件联通通电,四组连接件相互配合,从而驱动四组升降机构工作,进而使床身处于水平状态。
可选的,四组所述升降机构分别设置在床身底部侧面四个侧边的中间位置,所述升降机构包括固定连接床身底部上的固定件、与固定件滑动连接的升降杆以及设置在固定件底部用于驱动升降杆升降的驱动组件,所述连接件设置在驱动组件的控制电路上。
通过采用上述技术方案,当驱动组件得电之后,驱动组件驱动升降杆在固定件的内部滑动,从而改变升降机构的长度,从而调整床身的角度。
可选的,所述驱动组件包括固定连接在固定杆底部上的驱动电机以及固定连接在驱动电机上的蜗杆;所述升降杆上开设有与蜗杆啮合的齿。
通过采用上述技术方案,当驱动电机工作时,驱动电机驱动蜗杆转动,蜗杆通过齿驱动升降杆在固定件的内部滑动。
可选的,所述固定件的内部设置有滑动孔,所述升降杆插设在滑动孔的内部,所述固定件的侧面上开设有连接口,所述蜗杆通过连接口与升降杆啮合。
可选的,所述升降杆的底部螺纹连接升降螺栓。
通过采用上述技术方案,工作人员进行调平工作时,升降机构先不通电,工作人员将升降螺栓降下,将升降螺栓的底部抵接在地面上,之后工作人员在将升降机构通电,之后检测机构驱动升降机构工作,升降螺栓可以减小升降杆的行程,提高调平效率。
综上所述,本申请包括以下至少一种有益技术效果:
1.工作人员在安装本申请机床时,将升降机构通电,检测机构可以检测床身是否水平,当检测机构检测到床身不水平时,检测机构控制四组升降机构工作,升降机构上升或者下降,在四组升降机构的配合下,调节床身的角度,从而使床身水平,工作人员在调平本申请机床时,不需要反复调试地脚螺栓,简化了工作人员的操作,提高了工作人员调平的效率和精度;
2.当第一检测棒处于水平时,两个连接件与导电液体不接触,升降机构的控制电路断路,升降机构不工作,当第一检测棒不水平时,第一检测棒高度较低的一侧导电液面淹没连接件,使两个连接件联通导电,从而将相应的升降机构控制电路联通,使相应的升降机构得电工作,从而将第一检测棒较低的一端抬起,从而使第一检测棒处于水平;
3.工作人员进行调平工作时,升降机构先不通电,工作人员将升降螺栓降下,将升降螺栓的底部抵接在地面上,之后工作人员在将升降机构通电,之后检测机构驱动升降机构工作,升降螺栓可以减小升降杆的行程,提高调平效率。
附图说明
图1是本申请实施例整体结构示意图。
图2是本申请实施例整体结构的另一角度示意图。
图3是本申请实施例中第一检测棒的结构示意图。
图4是本申请实施例中升降机构的结构示意图。
附图标记说明:1、床身;11、地脚螺栓;2、调试装置;21、检测机构;211、检测管;212、连接件;213、密封端盖;22、升降机构;221、固定件;222、升降杆;223、驱动电机;224、蜗杆;225、升降螺栓。
具体实施方式
以下结合附图1-4对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种精密数控机床。参照图1,一种精密数控机床包括床身1和设置在床身1上的调试装置2。床身1的底部四角位置处设置有地脚螺栓11,床身1上安装有沿着X轴设置的X轴滑轨和沿着Y轴设置的Y轴滑轨,在滑轨上安装有工作台。调试装置2包括设置在床身1上的检测机构21和设置在床身1底部的升降机构22。
X轴滑轨和Y轴滑轨均设置有两根,检测机构21包括第一检测棒和第二检测棒,第一检测棒设置X轴滑轨中间,第一检测棒平行于X轴滑轨所在的平面,第二检测棒设置在Y轴滑轨中间,第二检测棒平行于Y轴滑轨虽在的平面。
参照图2,床身1的底部侧面为矩形,四个地脚螺栓11分别设置在床身1底部的四角。升降机构22设置四组,四组升降机构22分别设置在床身1底面侧面边缘处的中间位置,升降机构22和地脚螺栓11分别设置在床身1的承重梁上。升降机构22与第一检测棒、第二检测棒均电性连接。第一检测棒和第二检测棒相互垂直,第一检测棒和第二检测棒的端部均位于指向一组升降机构22。
参照图3,第一检测棒和第二检测棒的结构相同,第一检测棒包括粘接固定在床身1上的检测管211、使用螺栓固定在检测管211端部上的密封端盖213以及粘接固定在密封端盖213上的连接件212。在密封端盖213上开设有两个安装孔,两个连接件212分别安装在两个安装孔的内部。在连接件212和安装孔的内壁之间涂抹有密封胶,连接件212之间不接触。
在检测管211的内部盛有导电液体,导电液体可以是电解质溶液或者水银,本实施例中以水银为例进行说明。水银没有充满检测管211,检测管211两端的连接件212关于检测管211的中垂面对称,四个连接件212位于同一个平面内,位于检测管211用一端的两个连接件212所在的平面平行于水银液面。当四个连接件212所在的平面平行于水银液面时,连接件212与水银均不接触,反之高度较低的一端水银淹没连接件212。
在检测管211的内部充有水银蒸汽,水银蒸汽的压力为0.266Pa,在室温、室压条件下,检测管211中的水银蒸汽达到饱和,可以减少水银的汽化,有利于液体水银的含量。
位于检测管211同一侧的连接件212设置在距离其最近的升降机构22的控制电路上,两个连接件212形成一个常开开关。当两个连接件212被水银淹没之后,两个连接件212联通导电,其控制的升降机构22得电工作。在第一检测棒和第二检测棒的配合下,四组升降机构22相互配合,从而调节床身1的角度,使床身1水平。
参照图2和4,四组升降机构22和四个地脚螺栓11均竖直设置。升降机构22包括使用螺栓固定在床身1底部的固定件221和与固定件221滑动配合的升降杆222以及用于驱动升降杆222升降的驱动组件。在固定件221的内部开设有滑动孔,升降杆222插设在滑动孔,升降杆222在滑动孔的内部滑动。在固定件221的底部侧面外壁上焊接有安装壳,驱动组件安装在安装壳的内部。
在安装壳的底部安装有驱动电机223,在驱动电机223的动力输出轴上安装有蜗杆224,在固定件221的侧面上开设有连接口,在升降杆222的顶部开设有与蜗杆224啮合的齿,蜗杆224通过连接口与升降杆222的顶部啮合。在升降杆222的底部螺纹连接有升降螺栓225,在升降螺栓225的底部设有螺帽,工作人员可以通过螺帽转动升降螺栓225。
当驱动电机223得电工作之后,驱动电机223通过蜗杆224驱动升降杆222在固定件221的内部滑动,从而调节升降机构22的长度,从而调节床身1对应位置处的高度,进而进行调平工作。在调平工作开始之前,升降机构22不通电,工作人员转动升降杆222底部的升降螺栓225,使升降螺栓225的底部抵接在地面上。升降螺栓225可以减小升降杆222的行程,提高调平的效率。
本申请实施例一种精密数控机床的实施原理为:工作人员在进行调平之前不需要给升降机构22通电,之后将升降螺栓225降下,之后给升降机构22通电,之后检测机构21控制升降机构22工作,在四组升降机构22的配合下进行调平工作。
以上均为本申请的较佳实施例,并非依此限制本申请的保护范围,故:凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种精密数控机床,其特征在于:包括床身(1)以及设置在床身(1)底部的调试装置(2);
所述床身(1)的底部四角位置处设置有地脚螺栓(11);
所述调试装置(2)包括固定连接在床身(1)内部的检测机构(21)以及设置在床身(1)底部的升降机构(22),所述检测机构(21)设置在滑轨(11)之间用于检测床身(1)是否水平,所述升降机构(22)设置有四组,四组升降机构(22)分别设置在床身(1)底部侧边的中间位置处,所述升降机构(22)与检测机构(21)电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述地脚螺栓(11)与升降机构(22)平行设置,四组所述升降机构(22)均设置在床身(1)的承重梁上。
3.根据权利要求1所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述检测机构(21)包括固定连接在床身(1)上平行于X轴的第一检测棒和平行于Y轴的第二检测棒,所述第一检测棒和第二检测棒与工作台所在的平面平行,所述第一检测棒和第二检测棒相互垂直,所述第一检测棒和第二检测棒的结构相同。
4.根据权利要求3所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述第一检测棒包括固定连接在床身(1)上的检测管(211)以及固定连接在检测管(211)两端的连接件(212);所述检测管(211)的内部盛有导电液体,所述导电液体未充满检测管(211),所述连接件(212)设置在导电液体液面的上方,所述连接件(212)设置有两个,两个所述连接件(212)之间不接触,两个连接件(212)所在的平面平行于导电液体液面,两个所述连接件(212)均为导体。
5.根据权利要求4所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述第一检测管(211)的两端设置有密封端盖(213),所述连接件(212)固定连接在密封端盖(213)上。
6.根据权利要求5所述的一种精密数控机床,其特征在于:四组所述连接件(212)分别设置在四组升降机构(22)的控制电路上,所述连接件(212)控制距离自身最近的升降机构(22)工作。
7.根据权利要求4所述的一种精密数控机床,其特征在于:四组所述升降机构(22)分别设置在床身(1)底部侧面四个侧边的中间位置,所述升降机构(22)包括固定连接床身底部上的固定件(221)、与固定件(221)滑动连接的升降杆(222)以及设置在固定件(221)底部用于驱动升降杆(222)升降的驱动组件,所述连接件(212)设置在驱动组件的控制电路上。
8.根据权利要求7所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述驱动组件包括固定连接在固定杆(221)底部上的驱动电机(223)以及固定连接在驱动电机(223)上的蜗杆(224);所述升降杆(222)上开设有与蜗杆(224)啮合的齿。
9.根据权利要求8所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述固定件(221)的内部设置有滑动孔,所述升降杆(222)插设在滑动孔的内部,所述固定件(221)的侧面上开设有连接口,所述蜗杆(224)通过连接口与升降杆(222)啮合。
10.根据权利要求8所述的一种精密数控机床,其特征在于:所述升降杆(222)的底部螺纹连接升降螺栓(225)。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20220311 |