CN114113791B - 接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种精密接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法，包括接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。所述系统和方法能够快速的完成被测接插件的绝缘电阻和导通电阻测试，效率高，不易出错，且被测接插件损坏的概率低。

Description

接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法

技术领域

本发明涉及接插件测量装置技术领域，尤其涉及一种接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法。

背景技术

通常情况下，某种接插件引脚之间的绝缘电阻和导通电阻是通过人工方式运用导通电阻测试仪和绝缘电阻测试仪测量进行的。由于接插件属于精密器件，体积小，焊盘之间的间距仅为0.2mm，引脚之间的中心距仅为2mm，通过人工的方式测试的方法慢，效率低，易出错，被测件被损坏的概率大增。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是如何提供一种测量效率高，且安全性好的接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统。

为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：一种精密接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统，其特征在于包括：

接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。

进一步的技术方案在于：所述接插件测试控制装置包括单片机核心主控板，所述主控板与测试矩阵之间双向连接，所述测试矩阵形上形成有接插件固定装置，所述接插件固定装置用于固定待测试的接插件；对外通信接口与所述主控板之间双向连接，用于实现所述接插件测试控制装置与外围设备的连接；人机交互模块与所述主控板之间双向连接，用于输入控制命令并显示输出的数据，第一电源模块与所述接插件测试控制装置中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。

进一步的技术方案在于：所述测试矩阵形包括继电器P1-继电器Pn、接口1-接口n、继电器R1-继电器R(2n)，所述继电器P1-继电器Pn中常闭触点的一端与导通电阻测试仪的测试输入端连接；

所述继电器P1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第一组固定模块与接口1的一端连接，所述接口1的另一端与继电器R1中公共触点连接，所述继电器R1中常闭触点与继电器R2中的公共触点连接，所述继电器R2中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R1-3中的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R1-4的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1-4的第二分触点与导通电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R2中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P3中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第三组固定模块与接口3的一端连接，所述接口3的另一端与继电器R5中公共触点连接，所述继电器R5中常闭触点与继电器R6中的公共触点连接，所述继电器R6中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R5中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R6中的常开触点悬空；

依次类推，

所述继电器Pn-1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n-1的一端连接，所述接口n-1的另一端与继电器R（2n-3）中公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中常闭触点与继电器R（2n-2）中的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常开触点悬空；

所述继电器Pn中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n的一端连接，所述接口n的另一端与继电器R（2n-1）中公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中常闭触点与继电器R（2n）中的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常开触点悬空。

本发明还公开了一种使用所述的测试系统进行导通电阻初测的方法，其特征在于包括如下步骤：

被测件卡在被测件引脚固定装置中，其中顶端引出被测件一侧引脚并连接于由P1~Pn构成的继电器矩阵，被测件另一侧引脚引出并连接在R1~R2n构成的继电器矩阵；

当需要进行导通电阻测量时，单片机核心主控板控制继电器R1-3处于初始状态，R1-4处于吸合状态，再控制继电器P1~Pn全部吸合，如果进行的是导通电阻初测，则：

第一步：吸合接口1对应的继电器R1，继电器R1的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口1对应的继电器R1，使其回到初始位置；

第二步：吸合接口2对应的继电器R3，电器R3的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口2对应的继电器R3，使其回到初始位置；

依次类推；

第n步：吸合接口n对应的继电器R（2n-1），电器R（2n-1）的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口n对应的继电器R（2n-1），使其回到初始位置；

直到完成所有被测件的测试。

本发明还公开了一种使用所述的测试系统进行导通电阻精测的方法，其特征在于包括如下步骤：

被测件卡在被测件引脚固定装置中，其中顶端引出被测件一侧引脚并连接于由P1~Pn构成的继电器矩阵，被测件另一侧引脚引出并连接在R1~R2n构成的继电器矩阵；

当需要进行导通电阻测量时，单片机核心主控板控制继电器R1-3处于初始状态，R1-4处于吸合状态，再控制相应的继电器P1~Pn全部吸合，如果进行的是导通电阻精测，则：

第一步：通过人机交互模块选中需要测量的接插件的相应引脚，由单片机记录下引脚信息；

第二步：当用户选择导通电阻精测选项时，依次吸合单片机记录下相应引脚接口对应的继电器，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再断开接口对应的继电器；

第三步：重复第二步直至测试完成。

本发明还公开了一种使用所述的测试系统进行绝缘电阻初测的方法，其特征在于包括如下步骤：

当需要进行绝缘电阻测量时，根据精密接插件的引脚关系，仅需测量相邻引脚间的绝缘电阻值即可，按照这个思路，单片机控制继电器R1-3和R1-4均处于不吸合状态，此时常闭触点闭合，常开触点打开，再控制继电器P1~Pn全部断开；

如果进行的是绝缘电阻初测，则：将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的继电器R1，接口3对应的继电器R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测试结果通过提示框的形式显示在显示器上。

本发明还公开了一种使用所述的测试系统进行绝缘电阻精测的方法，其特征在于包括如下步骤：

将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的R1，接口3对应的R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推，断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测量值与之前登录时设置的门限绝缘电阻进行比较，如果测量值大于门限电阻值，则说明被测件合格测量终止，并将测量结果通过提示框显示在屏幕上，如果测量值小于门限值，则需进一步确认是哪些引脚之间的绝缘电阻小于门限值，此时测量过程进入二分法查找绝缘电阻不合格的相邻引脚。

采用上述技术方案所产生的有益效果在于：所述系统和方法能够快速的完成接插件的绝缘电阻和导通电阻测试，效率高，不易出错，且被测件损坏的概率低。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

图1是本发明实施例所述测试系统的原理框图；

图2是本发明实施例所述系统中接插件测试控制装置的原理框图；

图3是本发明实施例所述系统的测试流程图；

图4是本发明实施例所述测试系统中测试矩阵形的原理框图。

具体实施方式

下面结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

如图1所示，本发明实施例公开了一种接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统，包括：接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。绝缘电阻测试仪和导通电阻测试仪均有RS232通信接口，该接口和接插件测试控制装置进行测量通信。

进一步的，如图2所示，所述接插件测试控制装置包括单片机核心主控板，所述主控板与测试矩阵之间双向连接，所述测试矩阵形上形成有接插件固定装置，所述接插件固定装置用于固定待测试的接插件；对外通信接口与所述主控板之间双向连接，用于实现所述接插件测试控制装置与外围设备的连接；人机交互模块与所述主控板之间双向连接，用于输入控制命令并显示输出的数据，第一电源模块与所述接插件测试控制装置中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。优选的，所述人机交互模块可以包括与所述单片机核心主控板的信号输入端连接的按键模块以及与所述单片机核心主控板的信号输出端连接的显示模块。

图3是本发明实施例所述系统的测量流程图；

快速灵活分组测量控制矩阵是本发明的极重要的关键点之一，该测试矩阵具有快速分组、灵活任意分组、快速测量及提高测量效率等特点。其构成原理框图如图4所示。

所述测试矩阵形包括继电器P1-继电器Pn、接口1-接口n、继电器R1-继电器R(2n)，所述继电器P1-继电器Pn中常闭触点的一端与导通电阻测试仪的测试输入端连接；

所述继电器P1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第一组固定模块与接口1的一端连接，所述接口1的另一端与继电器R1中公共触点连接，所述继电器R1中常闭触点与继电器R2中的公共触点连接，所述继电器R2中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R1-3中的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R1-4的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1-4的第二分触点与导通电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R2中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P3中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第三组固定模块与接口3的一端连接，所述接口3的另一端与继电器R5中公共触点连接，所述继电器R5中常闭触点与继电器R6中的公共触点连接，所述继电器R6中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R5中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R6中的常开触点悬空；

依次类推，

所述继电器Pn-1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n-1的一端连接，所述接口n-1的另一端与继电器R（2n-3）中公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中常闭触点与继电器R（2n-2）中的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常开触点悬空；

所述继电器Pn中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n的一端连接，所述接口n的另一端与继电器R（2n-1）中公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中常闭触点与继电器R（2n）中的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常开触点悬空。

本发明还公开了一种使用所述测试系统进行导通电阻初测的方法，包括如下步骤：

其中，被测件卡在被测件引脚固定装置中，其中顶端引出被测件一侧引脚并连接于由P1~Pn构成的继电器矩阵，被测件另一侧引脚引出并连接在R1~R2n构成的继电器矩阵；

当需要进行导通电阻测量时，单片机核心主控板控制继电器R1-3处于初始状态（即继电器的常闭触点闭合，常开触点打开状态），R1-4处于吸合状态（即继电器的常闭触点打开，常开触点闭合状态），再控制继电器P1~Pn全部吸合（即继电器P1-Pn的常闭触点打开状态），如果进行的是导通电阻初测，则：

第一步：吸合接口1对应的继电器R1，继电器R1的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口1对应的继电器R1，使其回到初始位置；

第二步：吸合接口2对应的继电器R3，电器R3的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口2对应的继电器R3，使其回到初始位置；

依次类推；

第n步：吸合接口n对应的继电器R（2n-1），电器R（2n-1）的常闭触点打开，常开触点闭合，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再控制单片机断开接口n对应的继电器R（2n-1），使其回到初始位置；

直到完成所有被测件的测试。

当使用所述测试系统进行导通电阻精测时，包括如下步骤：

被测件卡在被测件引脚固定装置中，其中顶端引出被测件一侧引脚并连接于由P1~Pn构成的继电器矩阵，被测件另一侧引脚引出并连接在R1~R2n构成的继电器矩阵；

当需要进行导通电阻测量时，单片机核心主控板控制继电器R1-3处于初始状态，R1-4处于吸合状态，再控制相应的继电器P1~Pn全部吸合，如果进行的是导通电阻精测，则：

第一步：通过人机交互模块选中需要测量的接插件的相应引脚，由单片机记录下引脚信息；

第二步：当用户选择导通电阻精测选项时，依次吸合单片机记录下相应引脚接口对应的继电器，单片机发送测量指令给导通电阻测试仪，待返回测试数据后，将测试结果显示在显示屏上，再断开接口对应的继电器；

第三步：重复第二步直至测试完成。

当使用所述测试系统进行绝缘电阻初测时，包括如下步骤：

当需要进行绝缘电阻测量时，根据精密接插件的引脚关系，仅需测量相邻引脚间的绝缘电阻值即可，按照这个思路，单片机控制继电器R1-3和R1-4均处于不吸合状态，此时常闭触点闭合，常开触点打开，再控制继电器P1~Pn全部断开；

如果进行的是绝缘电阻初测，则：将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合（或断开），即接口1对应的继电器R1，接口3对应的继电器R5，以此类推吸合（或断开）；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开（或吸合），即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推断开（或吸合）；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测试结果通过提示框的形式显示在显示器上。

当使用所述测试系统进行绝缘电阻精测时包括如下步骤：

将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合（或断开），即接口1对应的继电器R1，接口3对应的继电器R5，以此类推吸合（或断开）；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；；

接口为偶数对应的那个继电器断开（或吸合），即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推，断开（或吸合）；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测量值与之前登录时设置的门限绝缘电阻进行比较，如果测量值大于门限电阻值，则说明被测件合格测量终止，并将测量结果通过提示框显示在屏幕上，如果测量值小于门限值，则需进一步确认是哪些引脚之间的绝缘电阻小于门限值，此时测量过程进入二分法查找绝缘电阻不合格的相邻引脚。

进一步的，通过二分法查找绝缘电阻不合格的相邻引脚的方法如下：

第一步：继电器R1-3和继电器R1-4全部处于初始状态，即常闭触点闭合常开触点断开状态，然后将全部待测试接插件的引脚分为上下两个半区，上下半区的分界线为全部引脚的一半位置，例如被测接插件引脚数为80，上半区为1~40，下半区为40~80，如果被测引脚数为81，则上半区为1~41，下半区为41~81，先测上半区，再测下半区；

第二步：上半区测量时，将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的继电器R1，接口3对应的继电器R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推，断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测量值与门限绝缘电阻进行比较，如果测量值大于门限电阻值，则说明本半区引脚全部合格，不需要进一步测量，如果测量值小于门限值，则需进入第三步；

第三步：将上一步测量有问题的半区再次分为上半区和下半区，重复第二步步骤，直至找到具体相邻问题引脚为止。

所述系统和方法能够使得本发明快速、准确给出该精密接插件是否为合格产品的结果，并提供进一步精确测量，可以得到该接插件每一个引脚的导通电阻和不合格精密插件的问题引脚及相应绝缘电阻值。

Claims (3)

1.一种使用接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统进行绝缘电阻初测的方法，其特征在于：

所述测试系统包括接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源；

所述接插件测试控制装置包括单片机核心主控板，所述主控板与测试矩阵之间双向连接，所述测试矩阵上形成有接插件固定装置，所述接插件固定装置用于固定待测试的接插件；对外通信接口与所述主控板之间双向连接，用于实现所述接插件测试控制装置与外围设备的连接；人机交互模块与所述主控板之间双向连接，用于输入控制命令并显示输出的数据，第一电源模块与所述接插件测试控制装置中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源；

所述测试矩阵包括继电器P1-继电器Pn、接口1-接口n、继电器R1-继电器R(2n)，所述继电器P1-继电器Pn中常闭触点的一端与导通电阻测试仪的测试输入端连接；

所述继电器P1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第一组固定模块与接口1的一端连接，所述接口1的另一端与继电器R1中公共触点连接，所述继电器R1中常闭触点与继电器R2中的公共触点连接，所述继电器R2中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R1-3中的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R1-4的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1-4的第二分触点与导通电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R2中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P3中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第三组固定模块与接口3的一端连接，所述接口3的另一端与继电器R5中公共触点连接，所述继电器R5中常闭触点与继电器R6中的公共触点连接，所述继电器R6中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R5中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R6中的常开触点悬空；

依次类推，

所述继电器Pn-1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n-1的一端连接，所述接口n-1的另一端与继电器R（2n-3）中公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中常闭触点与继电器R（2n-2）中的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常开触点悬空；

所述继电器Pn中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n的一端连接，所述接口n的另一端与继电器R（2n-1）中公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中常闭触点与继电器R（2n）中的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常开触点悬空；所述人机交互模块包括与所述单片机核心主控板的信号输入端连接的按键模块以及与所述单片机核心主控板的信号输出端连接的显示模块；

所述方法包括如下步骤：

当需要进行绝缘电阻测量时，根据精密接插件的引脚关系，仅需测量相邻引脚间的绝缘电阻值即可，按照这个思路，单片机控制继电器R1-3和R1-4均处于不吸合状态，此时常闭触点闭合，常开触点打开，再控制继电器P1~Pn全部断开；

如果进行的是绝缘电阻初测，则：将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的继电器R1，接口3对应的继电器R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n)断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测试结果通过提示框的形式显示在显示器上。

2.一种使用接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统进行绝缘电阻精测的方法，其特征在于：

所述测试系统包括接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源；

所述接插件测试控制装置包括单片机核心主控板，所述主控板与测试矩阵之间双向连接，所述测试矩阵上形成有接插件固定装置，所述接插件固定装置用于固定待测试的接插件；对外通信接口与所述主控板之间双向连接，用于实现所述接插件测试控制装置与外围设备的连接；人机交互模块与所述主控板之间双向连接，用于输入控制命令并显示输出的数据，第一电源模块与所述接插件测试控制装置中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源；

所述测试矩阵包括继电器P1-继电器Pn、接口1-接口n、继电器R1-继电器R(2n)，所述继电器P1-继电器Pn中常闭触点的一端与导通电阻测试仪的测试输入端连接；

所述继电器P1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第一组固定模块与接口1的一端连接，所述接口1的另一端与继电器R1中公共触点连接，所述继电器R1中常闭触点与继电器R2中的公共触点连接，所述继电器R2中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R1-3中的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R1-4的常闭触点与绝缘电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R1-4的第二分触点与导通电阻测试仪的输入端连接，所述继电器R2中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P2中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口2的一端连接，所述接口2的另一端与继电器R3中公共触点连接，所述继电器R3中常闭触点与继电器R4中的公共触点连接，所述继电器R4中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R3中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R4中的常开触点悬空；

所述继电器P3中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第三组固定模块与接口3的一端连接，所述接口3的另一端与继电器R5中公共触点连接，所述继电器R5中常闭触点与继电器R6中的公共触点连接，所述继电器R6中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R5中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R6中的常开触点悬空；

依次类推，

所述继电器Pn-1中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n-1的一端连接，所述接口n-1的另一端与继电器R（2n-3）中公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中常闭触点与继电器R（2n-2）中的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-3）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n-2）中的常开触点悬空；

所述继电器Pn中常闭触点的另一端经被测件引脚固定装置中的第二组固定模块与接口n的一端连接，所述接口n的另一端与继电器R（2n-1）中公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中常闭触点与继电器R（2n）中的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常闭触点与继电器R1-3中的公共触点连接，所述继电器R（2n-1）中的常开触点与继电器R1-4的公共触点连接，所述继电器R（2n）中的常开触点悬空；所述人机交互模块包括与所述单片机核心主控板的信号输入端连接的按键模块以及与所述单片机核心主控板的信号输出端连接的显示模块；

所述方法包括如下步骤：

将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的R1，接口3对应的R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n) 断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推，断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测量值与之前登录时设置的门限绝缘电阻进行比较，如果测量值大于门限电阻值，则说明被测件合格测量终止，并将测量结果通过提示框显示在屏幕上，如果测量值小于门限值，则需进一步确认是哪些引脚之间的绝缘电阻小于门限值，此时测量过程进入二分法查找绝缘电阻不合格的相邻引脚。

3.如权利要求2所述的使用接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统进行绝缘电阻精测的方法，其特征在于：通过二分法查找绝缘电阻不合格的相邻引脚的方法如下：

第一步：继电器R1-3和继电器R1-4全部处于初始状态，即常闭触点闭合常开触点断开状态，然后将全部待测试接插件的引脚分为上下两个半区，上下半区的分界线为全部引脚的一半位置，先测上半区，再测下半区；

第二步：上半区测量时，将接口为奇数对应的那个继电器全部吸合或断开，即接口1对应的R1，接口3对应的R5，以此类推吸合或断开；继电器R2、R4、R6、R8，类推至继电器R(2n)断开或闭合，即奇数接口对应的继电器状态与偶数接口对应的继电器状态相反；

接口为偶数对应的那个继电器断开或吸合，即接口2对应的继电器R3，接口4对应的继电器R7，以此类推，断开或吸合；此时由单片机向绝缘电阻测试仪发送测试指令，等到返回结果后，将测量值与门限绝缘电阻进行比较，如果测量值大于门限电阻值，则说明本半区引脚全部合格，不需要进一步测量，如果测量值小于门限值，则需进入第三步；

第三步：将上一步测量有问题的半区再次分为上半区和下半区，重复第二步步骤，直至找到具体相邻问题引脚为止。

Images