CN104133137A - 一种便携式电缆测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种便携式电缆测试设备及测试方法，所述测试设备包括：一主测试设备和一辅助测试设备，一待测电缆的一端连接至所述主测试设备的第一接插件，所述待测电缆的另一端连接至所述辅助测试设备的第二接插件；所述主测试设备的第一接插件通过一通讯线缆与所述辅助测试设备的第二接插件相连，并且所述主测试设备、待测电缆、辅助测试设备和通讯线缆构成一第一回路，从而能够自动测试所述待测电缆的导通电阻及绝缘电阻。

Description

一种便携式电缆测试设备及测试方法

技术领域

本发明涉及电缆测试技术领域，具体的说，是一种便携式电缆测试设备及测试方法。

背景技术

目前，在现有控制系统各部件间的连接采用大量电缆，且电缆具有数量多、结构复杂、电缆接点多等特点。电缆在产品研制、生产、检验、使用、维护过程中经常需要进行导通电阻测试、绝缘电阻测试、介电强度测试，若采取人工进行电缆测试时都是手动对电缆每根芯线进行测试，在使用时需要人工手动对每根电缆进行测试电缆的导通情况和绝缘情况，对于每根电缆的检测顺序要求较高，检测过程中发生漏测或出现重复测试后需要全部重新检测一遍，工作效率较低；此外，现有电缆测试仪一般只能检测电缆的芯数较少，随着技术的发展，设备越来越复杂，而现有电缆测试仪已经不能满足需求。

有鉴于此，因此需要提供一种便携式电缆测试设备及测试方法。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种便携式电缆测试设备，其能够替代手工检测，从而避免测试过程中的失误，同时也提升测试效率。另外，本设备可以检测较多芯数的电缆，以满足市场需求。本发明的另一目的是，提供采用上述便携式电缆测试设备的一种测试方法。

为实现上述目的，本发明采用了以下技术方案。

一种便携式电缆测试设备，包括：一主测试设备和一辅助测试设备，一待测电缆的一端连接至所述主测试设备的第一接插件，所述待测电缆的另一端连接至所述辅助测试设备的第二接插件；所述主测试设备的第一接插件通过一通讯线缆与所述辅助测试设备的第二接插件相连，并且所述主测试设备、待测电缆、辅助测试设备和通讯线缆构成一第一回路，从而能够自动测试所述待测电缆的导通电阻及绝缘电阻。

作为可选的技术方案，所述第一接插件包括一第一待测电缆连接器、一第一通讯线缆连接器和一第二通讯线缆连接器；所述第一待测电缆连接器用以连接至所述待测电缆的一端；所述第一通讯线缆连接器用以连接至所述通讯线缆的一端；所述第二通讯线缆连接器用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取测试回路的附加电阻；所述第二接插件包括一第二待测电缆连接器和一第三通讯线缆连接器；所述第二待测电缆连接器用以连接至所述待测电缆的另一端；所述第三通讯线缆连接器用以连接至所述通讯线缆的另一端；其中当所述通讯线缆的两端分别连接至所述第一通讯线缆连接器和第三通讯线缆连接器时，用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取所述导通电阻与附件电阻之和；当所述通讯线缆的两端分别连接至所述第二通讯线缆连接器和第三通讯线缆连接器时，用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取测试回路的附加电阻。

作为可选的技术方案，所述主测试设备包括一主控板、一第一继电器板、一处理器、一第一接插件和一第一壳体；所述第一壳体内分别设有所述主控板、第一继电器板、处理器；在所述第一壳体表面设有所述第一接插件，第一接插件用以与所述待测电缆相连；所述主控板通过RS232接口与所述处理器相连，并且通过RS485接口与所述第一继电器板相连。

作为可选的技术方案，所述第一继电器板包括多个继电器切换阵列和一MCU控制电路；所述MCU控制电路通过RS485接口与所述主控板相连，用以接收所述主控板所发送的控制命令，以对多个继电器切换阵列中的其中一个继电器进行通断操作。

作为可选的技术方案，所述辅助测试设备包括一第二继电器板、一第二接插件和一第二机壳；在所述第二机壳内设有所述第二继电器板；在所述第二机壳的表面设有所述第二接插件，所述第二接插件用以与所述待测电缆相连。

作为可选的技术方案，在所述主控板内分别设有一恒流源电路和一导通采样调理电路；通过所述恒流源电路加载于所述导通采样调理电路，并且耦接至待测电缆，以构成一第二回路；在测试所述待测电缆的导通电阻时，所述导通采样调理电路获取所述待测电缆的导通电阻所对应的采样电压值，并且将所述采样电压值传送至与所述导通采样调理电路相连的ADC芯片，所述ADC芯片在接收到所述采样电压值后进行模数转换并传送至所述处理器，经所述处理器的处理后获得所述待测电缆的导通电阻。

作为可选的技术方案，在所述主控板内设有一包含高压源的高压电路、一绝缘采样调理电路、一第一电阻网络以及一第二电阻网络，所述绝缘采样调理电路依次连接至第二电阻网络、第一电阻网络及高压电路，并且连接至所述待测电缆，以构成一第三回路；在测试所述待测电缆的绝缘电阻时，所述绝缘采样调理电路根据电压比较法获得所述待测电缆的绝缘电阻。

为实现上述目的，本发明采用了以下技术方案。

一种便携式电缆测试方法，采用上述便携式电缆测试设备，包括以下步骤：（1）所述主测试设备接收一测试配置表；（2）选择待测电缆的多个待测点号的其中一个待测点号，其中每一所述待测点号与所述待测电缆的每一线芯对应；（3）执行导通电阻测试；（4）执行绝缘电阻测试；（5）获取测试结果，并返回执行步骤（2），直至所述待测电缆的所有待测点号均已测试。

作为可选的技术方案，所述便携式电缆测试设备的主测试设备包括一第一继电器板，所述便携式电缆测试设备的辅助测试设备包括一第二继电器板，所述步骤（3）进一步包括以下步骤：（31）使设置在所述主测试设备内的一恒流源电路和测试通路切换至所述待测电缆的一待测点号；（32）通过所述第二继电器板，使设置在所述辅助测试设备内的测试回路相应切换至所述待测电缆的所述待测点号，以形成进行测试待测电缆的导通电阻时的测试回路；（33）所述恒流源电路进行恒流源输出；（34）通过设置在所述主测试设备内的一导通采样调理电路以对所述待测电缆的导通电阻进行电阻采样；（35）判断所述待测电缆的导通电阻是否小于一第一阈值范围；（36）若是，则下调导通电阻的测试档位；否则，获得导通电阻的测试结果信息，并使导通电阻的测试档位恢复至第一阈值范围所对应的测试档位。

作为可选的技术方案，所述便携式电缆测试设备的主测试设备包括一第一继电器板，所述便携式电缆测试设备的辅助测试设备包括一第二继电器板，所述步骤（4）进一步包括以下步骤：（41）使设置在所述主测试设备内的一高压电路切换至所述待测电缆的一待测点号；（42）通过第一继电器板，使设置在所述主测试设备内的测试通路切换至所述待测电缆的其他所有待测点号，以形成进行测试待测电缆的绝缘电阻时的测试回路，其中所述其他所有待测点号为在所述待测电缆内除了所述待测点号的所有待测点号；（43）所述高压电路进行高压源输出；（44）通过设置在所述主测试设备内的一绝缘采样调理电路以对所述待测电缆的绝缘电阻进行电阻采样；（45）断开所述高压电路；（46）判断所述待测电缆的绝缘电阻是否大于一第二阈值范围；（47）若是，则上调绝缘电阻的测试档位；否则，获得绝缘电阻的测试结果信息，并使绝缘电阻的测试档位恢复至第二阈值范围所对应的测试档位。

本发明的优点在于，所述测试设备能够执行自动检测替代手工检测，从而避免测试过程中的失误，同时也提升测试效率。另外，所述测试设备可以检测较多芯数的电缆，以满足市场需求。所述测试设备结构简单、体积较小，易于市场的推广。

附图说明

图1是本发明所述便携式电缆测试设备的连接示意图。

图2A是主测试设备的外观示意图。

图2B是辅助测试设备的外观示意图。 

图2C是主测试设备的第一接插件的示意图。

图2D是辅助测试设备的第二接插件的示意图。

图2E是主控板的连接示意图。

图2F是处理器的连接示意图。

图2G是主控板所提供的12V电源的连接示意图。

图2H是第一继电器板的示意图。

图3是所述便携式电缆测试设备的工作原理示意图。

图4是电压比较法的原理图。

图5是本发明所述便携式电缆测试方法的步骤流程图。

图6是执行导通电阻测试步骤的流程图。

图7是执行绝缘电阻测试步骤的流程图。

图8A是主测试设备的主界面的示意图。

图8B是电缆表界面的示意图。

图8C是电缆表文件格式的示意图。

图8D是测试配置界面的示意图。

图8E是查看测试报表界面的示意图。

图8F是查看测试报表界面的示意图。

图8G是测试报表格式的示意图。

图8H是历史测试报表查看界面的示意图。

图8I是系统配置界面的示意图。

图8J是系统导通电阻校正测试界面的示意图。

图8K是导通测试回路线电阻测试界面的示意图。

具体实施方式

下面结合附图详细说明本发明的便携式电缆测试设备及测试方法的具体实施方式。

参见图1。一种便携式电缆测试设备包括一主测试设备110和一辅助测试设备120，可以参见图2A和2B。一待测电缆130的一端连接至所述主测试设备110的第一接插件111，所述待测电缆130的另一端连接至所述辅助测试设备120的第二接插件121；所述主测试设备110的第一接插件111通过一通讯线缆140与所述辅助测试设备120的第二接插件121相连，并且所述主测试设备110、待测电缆130、辅助测试设备120和通讯线缆140构成一第一回路，从而自动能够测试所述待测电缆130的导通电阻及绝缘电阻。与现有技术相比，其能够替代手工检测以执行自动测试，从而避免测试过程中的失误，同时也提升测试效率。

参见图2C和图2D。所述第一接插件111包括一第一待测电缆连接器1111、一第一通讯线缆连接器1112和一第二通讯线缆连接器1113；所述第一待测电缆连接器1111用以连接至所述待测电缆130的一端。所述第一通讯线缆连接器1112用以连接至所述通讯线缆140的一端，并且用以进行测试所述待测电缆130的导通电阻以获取测试回路的导通电阻和附件电阻之和的测试接口。所述第二通讯线缆连接器1113为进行测试所述待测电缆130的导通电阻以获取测试回路的附件电阻的测试接口。所述第二接插件121包括一第二待测电缆连接器1211和一第三通讯线缆连接器1212；所述第二待测电缆连接器1211用以连接至所述待测电缆130的另一端；所述第三通讯线缆连接器1212用以连接至所述通讯线缆140的另一端；其中当所述通讯线缆140的两端分别连接至所述第一通讯线缆连接器1112和第三通讯线缆连接器1212时，用于进行所述待测电缆130的导通电阻的校正测试；当所述通讯线缆140的两端分别连接至所述第二通讯线缆连接器1113和第三通讯线缆连接器1212时，用于在测试所述待测电缆130的导通电阻时，对所述回路线的电阻进行测试。其中第一待测电缆连接器1111可以为52芯矩形连接器，但在其他实施中，也可以为其他芯连接器。第一通讯线缆连接器1112例如为5芯连接器，但不限于此。第二通讯线缆连接器1113例如为5芯连接器，但不限于此。

参见图1至图2E。所述主测试设备110包括一主控板112、一第一继电器板113、一设置在CV05板114上的处理器（图中未示）、一第一接插件111和一第一壳体115；所述第一壳体115内分别设有所述主控板112、第一继电器板113、处理器。在所述第一壳体115表面设有所述第一接插件111，第一接插件111用以与所述待测电缆130相连；所述主控板112通过RS232接口与所述处理器相连，并且通过RS485接口与所述第一继电器板113相连，同时所述主控板112与62芯矩形连接器、3芯连接器和7芯连接器（图中未标注）相连。因此，主测试设备110可以检测较多芯数的电缆，进而满足市场需求。所述主控板112还与一风扇接口116相连，所述风扇接口116与一设置在所述主测试设备110内的一风扇控制电路（图中未示）相连，所述风扇控制电路采用PWM控制NMOS管控制设置在主测试设备110内的一风扇的转速。

参见图2F。所述处理器（图中未示）设置在一CV05板114上，且所述CV05板114分别与设置在主测试设备110上的多个USB接口117、网络接口118、键盘119和液晶屏1110相连，同时与设置在主测试设备110内的硬盘（图中未标注）和主控板112相连。所述CV05板114为一X86架构，作为主测试设备110的上位机。其通过RS232接口与主控板112相连，所述CV05板114通过多个USB接口（例如图中的2个USB接口117）及网络接口118延伸至所述主测试设备110的外部接口，用于外接鼠标或U盘。所述CV05板114通过PS2接口与键盘119相连，所述CV05板114通过SATA接口与硬盘相连，并提供供电信号至硬盘，所述CV05板114通过LVDS接口与液晶屏110相连，并提供背光控制信号至液晶屏110。

参见图2G。所述主测试设备110内的主控板112提供12V电源，该12V电源用于提供至CV05板电源和硬盘电源。另外，通过直流降压模块使12V电源转为5V电源，以提供至控制电路电源（图中未标注）、LLF407核心板电源（图中未标注），以及通过IF0505RT-1W(一种DC/DC隔离电源)至RS485电路电源（图中未标注）；所述12V电源通过WRB1212D-10W（一种DC/DC隔离电源）或者传送至一升压电路电源（图中未标注），或者通过LDO传送至一5V电源至AD采样电路电源（图中未标注）。

参见图2H。所述第一继电器板113包括多个继电器切换阵列1131和一MCU控制电路1132；所述多个继电器切换阵列1131可以和与主控板112相连的62芯矩形连接器及7芯连接器相连；所述MCU控制电路1132通过RS485接口和与所述主控板112相连的7芯连接器相连，用以接收所述主控板112所发送的控制命令，以对多个继电器切换阵列1131中的其中一个继电器进行通断操作。所述第一继电器板113具有地址设置功能，继电器地址编码为7位，最后一个拨码开关作为RS485总线的终端电阻使能开关。

参见图2B和图2D。所述辅助测试设备120包括一第二继电器板122（参见图3）、一第二接插件121和一第二机壳123；在所述第二机壳123内设有所述第二继电器板122。所述第二继电器板122的功能与第一继电器板113的功能相同。在所述第二机壳123的表面设有所述第二接插件121，所述第二接插件121用以与所述待测电缆130相连。

图3是所述便携式电缆测试设备的工作原理示意图。所述主测试设备110包括主控板112和第一继电器板113。所述辅助测试设备120包括第二继电器板122。所述主测试设备110分别通过待测电缆130和通讯线缆140与所述辅助测试设备120相连，并且构成一第一回路，从而能够测试所述待测电缆130的导通电阻及绝缘电阻。所述主控板112包括一含高压源的高压电路（图中未标注）、一含恒流源的恒流源电路（图中未标注）、一用于绝缘采样的绝缘采样调理电路（图中未标注）、多个电阻网络（图中未标注）、一用于导通测量的导通采样调理电路（图中未标注）及多个用于AD采样的ADC芯片（图中未标注）。上述电路及相关芯片等将在下文中具体说明。所述主控板112通过RS485接口与所述第一继电器板113相连，用以根据第一继电器板113的切换阵列的通断，以及第二继电器板122的切换阵列的通断的配合，或者通过绝缘采样调理电路及相关电路以获得待测电缆130的绝缘电阻；或者通过导通采样调理电路及相关电路以获得待测电缆130的导通电阻。其中，在测量待测电缆130的绝缘电阻时，采用比较法以获得采样电阻值。在测量待测电缆130的导通电阻时，采用开尔文四线连接、恒流法及差分采样。其中，采用开尔文四线连接时，四线必须连接至设备的航插处，否则容易引起误差。

在本发明的一实例中，通过以下方式执行待测电缆130的导通电阻的测试。

继续参见图3。在所述主控板112内分别设有一恒流源电路和一导通采样调理电路。其中，恒流源电路为测试待测电缆130的导通电阻提供一恒流源。由于测量的低阻范围较宽，为0.01-1000欧，因此，该恒流源电路设计了三种恒流值，分别为250mA，1mA，0.2mA，以满足不同的测试要求，当然本发明也不限于此。通过所述恒流源电路加载于所述导通采样调理电路，并且耦接至待测电缆130，以构成一第二回路；在测试所述待测电缆130的导通电阻时，所述导通采样调理电路获取所述待测电缆130的导通电阻所对应的采样电压值，并且将所述采样电压值传送至与所述导通采样调理电路相连的ADC芯片，所述ADC芯片在接收到所述采样电压值后进行模数转换并传送至所述处理器，经所述处理器的处理后获得所述待测电缆的导通电阻。也就是说，导通采样调理电路与恒流源电路相互配合，并且获得采样电阻两端上的差分电压值，接着将所述采样电阻的差分电压值传送至所述ADC芯片，进而获得所述待测电缆130的导通电阻。

在本发明的另一实例中，通过以下方式执行待测电缆130的绝缘电阻的测试。

继续参见图3，在所述主控板112内设有一包含高压源的高压电路、一绝缘采样调理电路、一第一电阻网络以及一第二电阻网络（第一电阻网络和第二电阻网络均为电阻网络），所述绝缘采样调理电路依次连接至第二电阻网络、第一电阻网络及高压电路，并且连接至所述待测电缆130，以构成一第三回路；在测试所述待测电缆130的绝缘电阻时，所述绝缘采样调理电路根据电压比较法获得所述待测电缆的绝缘电阻。其中，包含高压源的高压电路用于给待测电缆130的绝缘电阻的测试提供一可调的高压直流电源。该高压电路使12伏隔离电源经脉冲变压器（图中未示）的升压整流，获得一高电压，该高电压受到开关芯片（图中未示）的PWM占空比的控制，所述开关芯片的PWM占空比是由DAC芯片（图中未示）提供的参考电压控制。脉冲变压器为反激脉冲变压器，其控制开关器件选用SG2425,并采用单端反激式的变换器拓扑。另外可以采用DW-P102-10C74高压模块代替高压电路。

需注意的是，绝缘采样调理电路采用电压比较法，可以避免高压电压跌落对测量精度的影响。参见图4，所述电压比较法的原理如下：根据电路模型可以得知，未知的绝缘电阻R_X的值与V_REF/V_IN的比值有关，只需知道该比值，即可以获得待测样的绝缘性能，并且其测试精度与直流高压的精度无关，至于采样精度有关。根据图4可知，直流高压模块DC相当于上述的高压电路，高阻值标准电阻R_N相当于上述的第一电阻网络，可调精密电阻R_A相当于上述的第二电阻网络，待测绝缘电阻R_X相当于上述的待测电缆130的绝缘电阻，待采样电压V_IN相当于差分电压，已知参考电压V_REF可以预先确定。所述绝缘采样调理电路设计分为3档：100K-5M,5M-100M,100M-1000M。因此，通过高压电路、第一电阻网络、第二电阻网络和绝缘采样调理电路，可以获得待测电缆130的绝缘电阻。

参见图5。一种便携式电缆测试方法，采用上述便携式电缆测试设备，包括以下步骤：

步骤S510：述主测试设备接收一测试配置表。

步骤S520：选择待测电缆的多个待测点号的其中一个待测点号，其中每一所述待测点号与所述待测电缆的每一线芯对应。

步骤S530：执行导通电阻测试。

步骤S540：执行绝缘电阻测试。

步骤S550：获取测试结果，并返回执行步骤S520，直至所述待测电缆的所有待测点号均已测试。

在步骤S510中，所述测试配置表用以规定哪些点号需要进行测试，以及进行哪几项测试（导通测试和绝缘测试）。

在步骤S530和步骤S540的执行过程中，可以发送命令暂停或停止测试。在导通测试和绝缘测试时，程序需发送相关指令至辅助测试设备以配合测试。

参见图6。步骤S530进一步包括以下步骤：

步骤S531：使设置在所述主测试设备内的一恒流源电路和测试通路切换至所述待测电缆的一待测点号。

步骤S532：通过所述第二继电器板，使设置在所述辅助测试设备内的测试回路相应切换至所述待测电缆的所述待测点号，以形成进行测试待测电缆的导通电阻时的测试回路。

步骤S533：所述恒流源电路进行恒流源输出。

步骤S534：通过设置在所述主测试设备内的一导通采样调理电路以对所述待测电缆的导通电阻进行电阻采样。

步骤S535：判断所述待测电缆的导通电阻是否小于一第一阈值范围。

步骤S536：若是，则下调导通电阻的测试档位；否则，获得导通电阻的测试结果信息，并使导通电阻的测试档位恢复至第一阈值范围所对应的测试档位。

其中，步骤S531使设置在所述主测试设备内的一恒流源电路和测试通路切换至所述待测电缆的一待测点号，即表示主测试设备切换至相应通道。步骤S532通过所述第二继电器板，使设置在所述辅助测试设备内的测试回路相应切换至所述待测电缆的所述待测点号，以形成进行测试待测电缆的导通电阻时的测试回路，即表示辅助测试设备也相应地切换至相应通道。

需要注意的是：进行测试待测电缆的导通电阻时的测试回路是包括主测试设备内的测试通路、恒流源电路及设置在辅助测试设备内的测试回路。

在本实施中，电阻档位分为3档：200-1000 0hm，2-200 0hm，0.01-2 0hm。默认电阻档位为200-1000 0hm档。通过上述导通电阻的测试以判断待测电缆130的导通电阻是否满足要求，一般要求导通电阻越小越好。

参见图7。步骤S540进一步包括以下步骤：

步骤S541：使设置在所述主测试设备内的一高压电路切换至所述待测电缆的一待测点号。

步骤S542：通过第一继电器板，使设置在所述主测试设备内的测试通路切换至所述待测电缆的其他所有待测点号，以形成进行测试待测电缆的绝缘电阻时的测试回路，其中所述其他所有待测点号为在所述待测电缆内除了所述待测点号的所有待测点号。

步骤S543：所述高压电路进行高压源输出。

步骤S544：通过设置在所述主测试设备内的一绝缘采样调理电路以对所述待测电缆的绝缘电阻进行电阻采样。

步骤S545：断开所述高压电路。

步骤S546：判断所述待测电缆的绝缘电阻是否大于一第二阈值范围。

步骤S547：若是，则上调绝缘电阻的测试档位；否则，获得绝缘电阻的测试结果信息，并使绝缘电阻的测试档位恢复至第二阈值范围所对应的测试档位。

其中，所述的绝缘电阻是指待测电缆中一待测点号与相对于该待测点号的其他所有待测点号之间的阻值。需要注意的是：进行测试待测电缆的绝缘电阻时的测试回路是包括主测试设备内的测试通路、高压电路及电阻网路电路。另外，在步骤S545中断开高压电路，是为了避免在使用电压比较法时因需调整电阻网络且存在高压而产生危险。

在本实施例中，电阻档位分为3档：100K-5M, 5M-100M, 100M-1000M。默认电阻档位为100K-5M档。通过上述绝缘电阻的测试以判断待测电缆的绝缘电阻是否满足要求，一般要求绝缘电阻越大越好。

在执行上述导通电阻和绝缘电阻测试的过程中，在主测试设备110上会显示以下几个界面。

参见图8A。主测试设备110的主界面包含了电缆表、测试配置、历史测试报表查询、测试控制、故障列表、系统信息查询等内容。测试次序如下：

1) 点击“电缆表”按钮，进入电缆表操作界面，可以执行导入U盘电缆表、打开本地电缆表或进行手动编辑电缆表（电缆表经编辑后需保存或另存为一个新的电缆表）。在下文中会进一步说明电缆表界面。电缆表操作界面关闭后，主界面即显示当前的需测试的电缆表。

2) 点击“测试配置”，选择本次测试要进行的测试点号或测试选项（导通测试和绝缘测试），默认为全选，即所有的点号全部进行导通测试和绝缘测试。

3) 点击“开始/暂停”测试按钮，即开始进行电缆测试，界面显示进度条以及进度百分比。在测试过程中，可以按“开始/暂停”按钮暂停测试，再点击“开始/暂停”键继续测试。也可以按“停止”按钮停止本次测试。

4)在测试过程中，若产生一个新点号的测试结果，则立即取回测试结果，若测试检测到故障点，则在主界面的故障列表中显示故障点号与故障类型。

电缆表界面（参见图8B）。电缆表界面的功能包括：

“导入”按钮，可以实现从U盘导入一电缆表，导入的操作有两个动作，一个动作是将U盘的电缆表文件复制至本地一用于保存电缆表的特定目录，另一个动作是立即打开导入的电缆表，并且显示在界面中。

“打开”按钮，用以打开本地保存的电缆表，并显示在界面中。

“保存”按钮，用以保存编辑过的电缆表。

“另存为”按钮，用以将电缆表保存为一个新的电缆表。

“删除”按钮，用以将当前打开的电缆表文件从本地目录中删除。

“关闭”按钮，用以关闭电缆表界面，并将当前界面中所打开的电缆表名称作为需测试的电缆表，返回主界面时显示该电缆表名称。

电缆表文件格式（参见图8C）。电缆表文件名称以“CableTest-”开始，如CableTest-0001.txt。电缆表文件格式必须严格按照以上格式。当导入或打开电缆表时，需对其配置进行检查，检查依据为本设备的测量范围，导通电阻测量范围为0.01Ω-1000Ω，绝缘电阻的测量范围为100KΩ-1000000KΩ，高压范围为100-700V，若电缆表中的数据超出限定范围，则电缆表提示错误。

测试配置界面（参见图8D）。测试配置界面用于本次测试的测试点号和测试选项（导通测试和绝缘测试）的选择。默认为全选，即所有的点号全部进行导通测试和绝缘测试。当选择某一个点号的导通电阻测试时，则表示在测试中需进行该点号的导通测试。当选择某一个点号的绝缘电阻测试时，则表示需进行该点号相对于其它所有点号的绝缘测试。通过“确定”按键用以保存当前的测试配置并退出，通过“取消”按键用以不保存更改过的测试配置并退出。

查看测试报表界面（参见图8E和8F）。在一次测试完毕后，可以暂存一个测试报表，通过“保存测试报表”按钮用以保存本次测试数据。或通过“查件测试报表”按钮用以查看本次测试的暂存测试报表。查看测试报表包括“点号查询”和“故障查询”两种方式，“点号查询”方式用以显示本点号依据测试配置所进行的测试的所有测试数据，其中的异常数据以红色显示。“故障查询”方式用以显示测试报表中所有故障点，如图8E和图8F所示。为了方便分析测试数据，查看测试报表界面还提供“电缆表查看”和“测试配置查看”两个功能。需注意的是，测试报表格式如图8G所示。

历史测试报表查看界面（参见图8H）。每次测试完毕后，可以将测试报表保存在一特定的报表存放目录中。当需要对历史测试报表进行查询分析时，可以通过“历史测试报表查看”界面进行查询。历史测试报表查看界面提供三种查找报表方式：按测试日期查询、按电缆表查询、按电缆型号查询，点击相应的“查询”按钮后，符合条件的测试报表将显示在列表中。双击列表中的行，可以查看测试报表，或者单击一行，再点击“查看测试报表”按钮以查看测试报表。历史测试报表查看界面还提供测试报表导出功能，可选择测试报表列表中的一个或多个报表，然后点击“导出测试报表”按钮，即可以将选择的测试报表导出至U盘中。

系统配置界面（参见图8I）。系统配置界面提供了两种测试：

（1）系统导通电阻校正测试。在测试待测电缆130的导通电阻时，测试回路会包含附加电阻（例如，引线电阻、继电器接触电阻等），因此需在测试结果中减去附加电阻，参见图8J所示。连接标准电缆后，输入标准电缆阻值，通过“开始测试”按钮开始测试，测试结果显示于列表中，根据标准电缆阻值，计算得到校正阻值，再通过“设置校正值”按钮可以将校正数据下传到下位机，下位机将保存这些校正数据。“读取校正值”按钮用以从下位机读取下位机保存的校正数据，并且显示在表格中“校正阻值”这一列中，同时应将“导通电阻”和“标准电缆阻值”这两列清空，以免引起误解。

（2）导通测试回路线电阻测试。在测试待测电缆130的导通电阻时，测得的导通电阻值为待测电缆130的电阻值+测试回路的电阻值，因此需要必须获得测试回路的电阻值（参见图8K）。

另外，需要注意的是，由于本设备采用继电器切换阵列1131，而继电器的寿命可以表明本设备的寿命，因此，通过显示继电器寿命以作为本设备寿命的参考。由于本设备内部继电器较多，因此继电器寿命以切换次数最多的继电器作为本设备寿命的参考。

系统配置界面还显示一些信息，其中硬件版本号包含上位机硬件和下位机硬件版本信息，软件版本号包含上位机软件版本信息。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。    

Claims (10)

1.一种便携式电缆测试设备，其特征在于，包括：一主测试设备和一辅助测试设备，一待测电缆的一端连接至所述主测试设备的第一接插件，所述待测电缆的另一端连接至所述辅助测试设备的第二接插件；所述主测试设备的第一接插件通过一通讯线缆与所述辅助测试设备的第二接插件相连，并且所述主测试设备、待测电缆、辅助测试设备和通讯线缆构成一第一回路，从而能够自动测试所述待测电缆的导通电阻及绝缘电阻。

2.根据权利要求1所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，所述第一接插件包括一第一待测电缆连接器、一第一通讯线缆连接器和一第二通讯线缆连接器；所述第一待测电缆连接器用以连接至所述待测电缆的一端；所述第一通讯线缆连接器用以连接至所述通讯线缆的一端；所述第二通讯线缆连接器用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取测试回路的附加电阻；所述第二接插件包括一第二待测电缆连接器和一第三通讯线缆连接器；所述第二待测电缆连接器用以连接至所述待测电缆的另一端；所述第三通讯线缆连接器用以连接至所述通讯线缆的另一端；其中当所述通讯线缆的两端分别连接至所述第一通讯线缆连接器和第三通讯线缆连接器时，用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取所述导通电阻与附件电阻之和；当所述通讯线缆的两端分别连接至所述第二通讯线缆连接器和第三通讯线缆连接器时，用以进行测试所述待测电缆的导通电阻以获取测试回路的附加电阻。

3.根据权利要求2所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，所述主测试设备包括一主控板、一第一继电器板、一处理器、一第一接插件和一第一壳体；所述第一壳体内分别设有所述主控板、第一继电器板、处理器；在所述第一壳体表面设有所述第一接插件，第一接插件用以与所述待测电缆相连；所述主控板通过RS232接口与所述处理器相连，并且通过RS485接口与所述第一继电器板相连。

4.根据权利要求3所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，所述第一继电器板包括多个继电器切换阵列和一MCU控制电路；所述MCU控制电路通过RS485接口与所述主控板相连，用以接收所述主控板所发送的控制命令，以对多个继电器切换阵列中的其中一个继电器进行通断操作。

5.根据权利要求2所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，所述辅助测试设备包括一第二继电器板、一第二接插件和一第二机壳；在所述第二机壳内设有所述第二继电器板；在所述第二机壳的表面设有所述第二接插件，所述第二接插件用以与所述待测电缆相连。

6.根据权利要求3所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，在所述主控板内分别设有一恒流源电路和一导通采样调理电路；通过所述恒流源电路加载于所述导通采样调理电路，并且耦接至待测电缆，以构成一第二回路；在测试所述待测电缆的导通电阻时，所述导通采样调理电路获取所述待测电缆的导通电阻所对应的采样电压值，并且将所述采样电压值传送至与所述导通采样调理电路相连的ADC芯片，所述ADC芯片在接收到所述采样电压值后进行模数转换并传送至所述处理器，经所述处理器的处理后获得所述待测电缆的导通电阻。

7.根据权利要求3所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，在所述主控板内设有一包含高压源的高压电路、一绝缘采样调理电路、一第一电阻网络以及一第二电阻网络，所述绝缘采样调理电路依次连接至第二电阻网络、第一电阻网络及高压电路，并且连接至所述待测电缆，以构成一第三回路；在测试所述待测电缆的绝缘电阻时，所述绝缘采样调理电路根据电压比较法获得所述待测电缆的绝缘电阻。

8.一种便携式电缆测试方法，采用权利要求1所述的便携式电缆测试设备，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

（1）所述主测试设备接收一测试配置表；

（2）选择待测电缆的多个待测点号的其中一个待测点号，其中每一所述待测点号与所述待测电缆的每一线芯对应；

（3）执行导通电阻测试；

（4）执行绝缘电阻测试；

（5）获取测试结果，并返回执行步骤（2），直至所述待测电缆的所有待测点号均已测试。

9.根据权利要求8所述的便携式电缆测试方法，其特征在于，所述便携式电缆测试设备的主测试设备包括一第一继电器板，所述便携式电缆测试设备的辅助测试设备包括一第二继电器板，所述步骤（3）进一步包括以下步骤：

（31）使设置在所述主测试设备内的一恒流源电路和测试通路切换至所述待测电缆的一待测点号；

（32）通过所述第二继电器板，使设置在所述辅助测试设备内的测试回路相应切换至所述待测电缆的所述待测点号，以形成进行测试待测电缆的导通电阻时的测试回路；

（33）所述恒流源电路进行恒流源输出；

（34）通过设置在所述主测试设备内的一导通采样调理电路以对所述待测电缆的导通电阻进行电阻采样；

（35）判断所述待测电缆的导通电阻是否小于一第一阈值范围；

（36）若是，则下调导通电阻的测试档位；否则，获得导通电阻的测试结果信息，并使导通电阻的测试档位恢复至第一阈值范围所对应的测试档位。

10.根据权利要求8所述的便携式电缆测试方法，其特征在于，所述便携式电缆测试设备的主测试设备包括一第一继电器板，所述便携式电缆测试设备的辅助测试设备包括一第二继电器板，所述步骤（4）进一步包括以下步骤：

（41）使设置在所述主测试设备内的一高压电路切换至所述待测电缆的一待测点号；

（42）通过第一继电器板，使设置在所述主测试设备内的测试通路切换至所述待测电缆的其他所有待测点号，以形成进行测试待测电缆的绝缘电阻时的测试回路，其中所述其他所有待测点号为在所述待测电缆内除了所述待测点号的所有待测点号；

（43）所述高压电路进行高压源输出；

（44）通过设置在所述主测试设备内的一绝缘采样调理电路以对所述待测电缆的绝缘电阻进行电阻采样；

（45）断开所述高压电路；

（46）判断所述待测电缆的绝缘电阻是否大于一第二阈值范围；

（47）若是，则上调绝缘电阻的测试档位；否则，获得绝缘电阻的测试结果信息，并使绝缘电阻的测试档位恢复至第二阈值范围所对应的测试档位。